TWM428486U - LED strip inspection platform - Google Patents

LED strip inspection platform Download PDF

Info

Publication number
TWM428486U
TWM428486U TW101200230U TW101200230U TWM428486U TW M428486 U TWM428486 U TW M428486U TW 101200230 U TW101200230 U TW 101200230U TW 101200230 U TW101200230 U TW 101200230U TW M428486 U TWM428486 U TW M428486U
Authority
TW
Taiwan
Prior art keywords
light
emitting diode
platform
detection platform
strip
Prior art date
Application number
TW101200230U
Other languages
English (en)
Inventor
si-yong Luo
Original Assignee
Chang Yu Technology Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Chang Yu Technology Co Ltd filed Critical Chang Yu Technology Co Ltd
Priority to TW101200230U priority Critical patent/TWM428486U/zh
Publication of TWM428486U publication Critical patent/TWM428486U/zh

Links

Landscapes

  • Fastening Of Light Sources Or Lamp Holders (AREA)
  • Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)

Description

M428486 五、新型說明: 【新型所屬之技術領域】 一種發光二極體燈條檢測平台,本創作尤指一種端 緣成形有開放式態樣之定位槽’適合於具有溫度的熱測 式環境中進行使用的發光二極體燈條檢測平台。 【先前技術】 按’為確保發光二極體燈條製成後,具一定品質, 現有製程大多進行有檢測的程序,透過檢測確保品質, 又,現有檢測程序實施時,係將發光二極體燈條置放於 一燈條檢測平台1〇之中,請搭配參閱「第丨圖」,圖中 所示係為現有的燈條檢測平台,如圖,其係成形有數個 容置槽101並具有一電源供應裝置102,端緣成形有數個 定位部103,供與一承載平台(本圖未示)組設,實施時, 一發光二極體燈條11係置於容置槽1〇1之中,發光二極 體燈條11藉一具適當黏度的膠體12,以固設於容置槽 1〇1之中,然而,此種固設方式雖可獲得短暫的限位效 果,但檢測過程中,發光二極體燈條u背板容易活附部 伤膠體12,使發光一極體燈條π需在檢測後,進行背板 清潔的動作,.又,膠體12多次黏附後,亦會產生黏性降 低,而無法有效將發光二極體燈條u固設於容置槽ι〇ι 之中,再請搭配參閱「第2圖」,圖巾所示係為現有檢測 平台的實施示意圖,承上述,檢測時,燈條檢測平台..1〇 置於承載平台13之上,藉承载平台13的作動,連動燈 3 條檢測平台10產生位移,作動產生前,承載平台13需 與燈條檢測平台10預先組設,透過承載平台13上的一 相對定位部13卜以將兩平台〇〇、13)限位,然而,發光 二極體燈條11在檢測過程中,可能會經過溫差檢測,如 高溫檢測等,如此,燈條檢測平台1〇便受溫度影響,而 產生熱脹冷縮的形變,導致燈條檢測平台1〇的定位部1〇3 或承載平台13上的㈣定位部131其中之—產生些微形 變’使燈條檢測平纟1〇與承載平台13之間無法快速組 設或定位,it,若能針對上述問題進行適度修改,必能 改善現有實施過程中所產生之問題。 【新型内容】 有繁於上述問題’本創作者係以多年來從事相關產 業之經驗,針對現有的發光二極體燈條檢測平台之結構 及實施方式,進行相關的研究與改良,期能設計出解決 上述問題之結構’緣此’本創作主要目的在於提供一種 於熱測試環境中,仍可維持快速具精準定位的發光二極 體燈條檢測平台。 上述目$ ’本創作所稱的發光二極體燈條檢測 平台’平台上成形有—個以上的待測區域,待測區域由 個以上的今置槽及一電源供應裝置所組成,各容置槽 成形有一個以上的限位件,以將待測發光二極體燈條: 限位而置於谷置槽之中,又,平台周緣成形有數個呈開 放式且寬度呈漸縮狀的定位槽,分別與一相對定位件組 設,以藉相對定位件與一承載平台所組設,且,定位槽 寬度呈漸縮狀的設計’使本創作在熱測試環境應用時, 無礙本;|j作的精準定位,進而解決現有檢測平台於熱測 %境中所產生無法快速定位及組設的問題。 以上關於本創作内容之說明及以下之實施方式之說 明,係用以示範與解釋本創作之精神與原理,並且提供 本創作之專利範圍更進一步解釋。 【實施方式】 凊參閱「第.3圖」,圖中所示係為本創作之構件示意 圖’如圖所示,本創作所稱的發光二極體燈條檢測平台 20,具有一平台201,平台201上則具有一待測區域 2011,待測區域2011由數個容置槽2012及一電源供應 裝置2013所組成’其中,各容置槽2012分別成形於平 台201之上’並可呈陣列的態樣,各容置槽2〇12分別於 端緣成形有一限位件2 014,供一發光二極體燈條21組裝 後可受到定位,所述的限位件2014係可藉組設一限位 件,以達成相同之功效,又,容置槽2 012所成形的態樣 係可依所欲檢測之發光二極體燈條的態樣適度調整,容 置槽2012中所成形的限位件2014亦可因.現實情況進行 適度調整,並不以本圖所示為限,又,電源供應裝置2013 係設置於平台201鄰近各容置槽2012的位置,具一個以 上的電源引接部2015,以將電源分送給置放於各容置槽 2012之中的發光二極體燈條21,又,所述的電源供應裝 置2013可呈一電子基板的態樣;如「第3圖」所示平 台201的周緣成形有數個定位槽2016,可提供定位之功 用,所述的各定位槽2016係呈開放式、且兩側寬度呈漸 縮狀,較佳的形狀為梯形狀。 請參閱「第4圖」’圖中所示係為本創作之實施示意 圖(一),承上述,發光二極體燈條檢測平台2〇實施時, 需預先將一發光二極體燈條21置於平台2〇1上的各容置 槽2012之中,放置時,發光二極體燈條21略呈一角度, 置入谷置槽2012之中,使發光 限位件2014端緣,再將發光二極體燈條21平置於容置 槽2012之中’使發光二極體燈條21兩端緣分受限位件 201「4以及容置槽2〇12 一端的限位’而組設完成的態樣係 如「第4圖」中所示的A ;承上,請搭配參閱「第5圖」, 圖中所示係為本創作之實施示意圖(二),f各容置槽 2012分別置放有發光二極體燈條21後,便可進行檢測; 如圖,所稱的發光二極體燈條檢測平台20檢測時,係搭 配承载较置22實施,承上,發光二極體燈條檢測平台 2〇係放置於承載裝置22的上緣,而㈣裝置22所具: 的-相對定值件m ’則與平台201上的定位槽2〇16組 設,並請搭配參閱「第6圖」,目中所示係為本創作之實 施示意圖(三),因定位槽2016呈開放式、且兩侧寬度呈 漸縮狀(如圖中的距離D1係大於圖中的距離Μ),;施 時,因為距離Di較大,且呈開放式,相對定㈣221可 較輕易的對後且卡設入定位槽2〇16之中,進而頂靠於距 離D2,頂靠的位置則如圖中所示的b、c,藉此,在熱測 試環境中欲進行檢測時,因所述之定位槽2〇16呈開放 式、且兩側寬度呈漸縮狀的設計,即使平台2〇1、或定位 槽2016因冷縮熱脹產生些微形變,定位槽2〇16與帶動 相對定位件221之間仍會呈同一中心軸,依此,本創作 實施時,即可不受熱測試環境中的溫度之影響,有效解 決因溫度而產生的冷縮熱脹的問題。 请參閱「第7圖」,圖中所示係為本創作之另一實施 例(一),上述實施例中,僅以單一待測區域進行舉例, 實際應用時,平台201上可成形有一個以上的待測區域, 如圖中所示的2011、2011’ ,各待測區域(2〇11、2011,) 之間,組譟有一間隔件2017,間隔件2017可於兩待測區 域(2011、2011’ )之間進行適當位移,藉以調整每一待 測區域(2011或201 Γ )所能檢測發光二極體燈條之長度 尺寸’除此之外,間隔件2017更可提供發光二極體燈條 檢測時一支撐力。 請參閱「第8圖」’圖中所示係為本創作之另一實施 例(二),如圖所示’上述所稱的限位件2014,可進一步 依據發光二極體燈條尺寸進行位置調整,如圖,倘若發 光二極體燈條尺寸較原先限位件2014所設定的尺寸大 時’限位件2014可依現實情況進行適度的調整,以供不 同尺寸之發光二極體燈條組設,又,所述的限位件2〇14 之則端係可具有適度彈性,以使組設後的發光二極體燈 條文到有效限位;承上,本實施例僅以較大尺寸進行舉 M428486 例,但並不以此為限。 請參閱「第9圖」,圖中所示係為本創作之另一實施 例(三),如圖所示,為使本創作實施時,具較佳的收納 性,平台201上可成形有一個以上透孔2〇18,透孔2〇18 則可組設有一墊高件2〇 19,當另一發光二極體燈條檢測 平台20’亦成形有一個以上的透孔2〇18,時,兩發光二 極體燈條檢測平台(2〇、2〇,)便可進行堆疊組設,因發 光二極體燈條檢測平台2〇,上設有墊高件2〇19,使得發 光一極體燈條檢測平台2〇與另一發光二極體燈條檢測平 台20’組設時,產生有一間隙,此間隙可避免兩發光二 極體燈條檢測平台(20、2〇,)於堆疊置放時,傷即組設 於其中的發光二極體燈條21。 請參閱「第10圖」,圖中所示係為本創作之另一實. 施例(四),如圖所示的發光二極體燈條檢測平台2〇,其 中的限位件301(即原創作中所指的限位件2〇14),係呈 一連動式的作動,如圖,所述的限位件3〇1係有多個, 且分別活動組設於各容置槽2012之中,且各限位件3〇ι 係分別與埋設於容置槽2012下方的一連桿3〇2呈相組 設,當連桿302呈線性位移時,可同步帶動各限位件3〇ι 於容置槽2012中產生位移;再請參閱圊中所示,連桿3〇2 的一端係組設有一撥動桿303,操作者可藉由操作撥動桿 303,達到使各限位件301同步產生位移;請再參閱圖中 所示,當操作撥動桿303後,可使限位件3〇〗產生位移, 並抵靠於待受靡發光二極㈣條21,使其被緊緊抵靠 8 以完成限位;又,所述的限位件301之末端係成型為斜 面狀,以能符合多種發光二極體燈條21之尺寸。 综上所述,本創作所稱的發光二極體燈條檢測平 台’主要係藉由平台側邊端緣成形有數個呈開放式、且 兩側寬度呈漸縮狀定位槽’使本創作在熱測試環境中實 施時,可避免因溫度變化所產生的冷縮熱脹所導致的形 變問題’藉此’本創作其據以實施以後,確實可達到提 供具一種於熱測試環境中,仍可維持快速具精準定位的 發光二極體燈條檢測平台的目的。。 唯’以上所述者’僅為本創作之較佳之實施例而已, 並非用以限定本創作實施之範圍;任何熟習此技藝者, 在不脫離本創作之精神與範圍下所作之均等變化與修 飾,皆應涵蓋於本創作之專利範圍内。 綜上所述,本創作之功效,係具有新型之「產業可 利用性」、「新穎性」與「進步性」等專利要件;申請人 爰依專利法之規定,向鈞局提起新型專利之申請。 M428486 【圖式簡單說明】 第1圖,係為現有的燈條檢測平台。 第2圖,係為現有檢測平台的實施示意圖。 第3圖,係為本創作之構件示意圖。 第4圖,係為本創作之實施示意圖(一)。 第5圖,係為本創作之實施示意圖(二)。 第6圖,係為本創作之實施示意圖(三)。 第7圖,係為本創作之另一實施例(一)。 第8圖,係為本創作之另一實施例(二)。 第9圖,係為本創作之另一實施例(三)。 第10圖,係為本創作之另一實施例(四)。 【主要元件符號說明】 10 燈條檢測平台 101 容置槽 102 電源供應裝置 103 定位部 11 發光二極體燈條 12 膠體 13 承載平台 131 相對定位部 20 發光二極體燈條檢測平台 20, 發光二極體燈條檢測平台 201 平台 2011 待測區域 10 M428486
2011’ 待測區域 2012 容置槽 2013 電源供應裝置 2014 限位件 2015 電源引接部 2016 定位槽 2017 間隔件 2018 透孔 2018’ 透孔 2019 墊高件 21 發光二極體燈條 22 221 301 限位件 302 連桿 303 撥動桿
A 組設完成之態樣 B C 位置 D1 距離 D2 承載裝置 相對定位件 位置 距離 11

Claims (1)

  1. M428486 、申請專利範圍: 1. 一種發光二極體燈條檢測平台,其包含: 一平台,表面成型有一容置槽,供一待測的發光二 極體燈條組設,該容置槽組設有一限位件,使該待測的 發光二極體燈條組設後,受到該限位件限位; 一電源供應裝置,鄰近組設於該容置槽周邊,電性 連接於該待測的發光二極體燈條,以供應進行檢測時的 電源;以及 一個以上呈開放式、且兩侧寬度呈漸縮狀的定位 槽’成形於該平台的側部端緣。 2. 如申請專利範圍第丨項所述之發光二極體燈條檢測平 台’其中,該定位槽呈梯形狀。 3·如申請專利範圍第1項所述之發光二極體燈條檢測平 台,其中’該容置槽的該限位件可進行位置調整。 4·如申請專利範圍第丨項所述之發光二極體燈條檢測平 台’其中’該容置槽的該限位件具有彈性。 5·如申請專利範圍第1項所述之發光二極體燈條檢測平 台’其中,該平台上成形有一個以上透孔,而該透孔可 組設一墊高件。 6. 如申請專利範圍第1項所述之發光二極體燈條檢測平 台’其中’該電源供應裝置具有一個以上的電源引接部。 7. 如申請專利範圍第1項所述之發光二極體燈條檢測平 台’其中’該電源供應裝置呈一電子基板的態樣。 8. 如申請專利範圍第1項所述之發光二極體燈條檢測平 12 M428486
    台,其中,該限位件與一連桿呈相組設,該連桿的—端 並組設有一撥動桿,當該撥動桿受撥動後,可使該連桿 連動該限位件產生位移,以壓制該發光二極體燈條。 9 ·如申請專利範圍笛 利*图第1項所述之發光二極體燈條檢測平 台,其中,該限值钍★丄 牛之末端係成型為斜面狀。 13
TW101200230U 2012-01-05 2012-01-05 LED strip inspection platform TWM428486U (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
TW101200230U TWM428486U (en) 2012-01-05 2012-01-05 LED strip inspection platform

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
TW101200230U TWM428486U (en) 2012-01-05 2012-01-05 LED strip inspection platform

Publications (1)

Publication Number Publication Date
TWM428486U true TWM428486U (en) 2012-05-01

Family

ID=46549673

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
TW101200230U TWM428486U (en) 2012-01-05 2012-01-05 LED strip inspection platform

Country Status (1)

Country Link
TW (1) TWM428486U (zh)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN108279389A (zh) * 2018-03-28 2018-07-13 江苏鸿佳电子科技有限公司 一种led灯条插接测试工装

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN108279389A (zh) * 2018-03-28 2018-07-13 江苏鸿佳电子科技有限公司 一种led灯条插接测试工装
CN108279389B (zh) * 2018-03-28 2024-06-04 江苏鸿佳电子科技有限公司 一种led灯条插接测试工装

Similar Documents

Publication Publication Date Title
TWI436075B (zh) Semiconductor measuring device
KR101310359B1 (ko) Led 칩 검사 장치
ES2583167T3 (es) Módulo de LED y luminaria que comprende dicho módulo
EP2023388A3 (en) Semiconductor package
EP2787798A3 (en) Lighting device
JP2010529293A5 (zh)
TW201339595A (zh) 發光二極體燈條測試治具
TWM428486U (en) LED strip inspection platform
TWI434046B (zh) Probe device and manufacturing method thereof
TWI472770B (zh) 用於薄膜封裝測試之探針卡
KR20130013456A (ko) 발광 모듈의 휘도 측정 장치
WO2017004888A1 (zh) 一种背光模组及液晶显示装置
CN101750521A (zh) 发光二极管承载片及其电性测试平台
CN105185722A (zh) 晶圆固持装置
JP2009283959A (ja) 集合プリント配線基板
JP5538707B2 (ja) 照明装置
JP5147777B2 (ja) 発光デバイスの検査治具
EP2343736A3 (en) Heat sink and method for fixing heat sink
US20130199768A1 (en) Apparatus for secure device to edge of plate
KR102077062B1 (ko) 프로브 카드 및 이를 포함하는 프로빙 장치
TWI413774B (zh) 光源檢測裝置
US20110095773A1 (en) cooling structure for a test device, and a method for testing a device
CN204789626U (zh) Pcb飞针测试保护边条和pcb飞针测试装置
CN202058721U (zh) 一种散热装置的固定结构
TW201209324A (en) LED lamp

Legal Events

Date Code Title Description
MM4K Annulment or lapse of a utility model due to non-payment of fees