TWM305081U - Magnetically secured retaining ring - Google Patents
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Description
M305081 捌、新型說明: 【新型所屬之技術領域】 本創作係有關於基材的化學機械研磨。 【先前技術】 積體電路通常是以連續沈積導體、半導體或絕緣層於 矽基材上的方式形成。其中一種製造方法包括將瑱充層沈 積在非平坦表面上’並平坦化該填充層直至暴露出非平坦 表面。例如,導電性填充層便可沈積在經圖案化的絕緣層 上,以填充絕緣層中的溝渠或孔洞。填充層並接著研磨至 暴露出絕緣層的凸起圖案。在平坦化之後,殘留在絕緣層 凸起圖案之間導體層的部分會形成介層洞、插塞及金屬 線’以形成基材上薄層電路間的導電路徑。此外,製程亦 需要平坦化以提供可續行微影的平坦化基材表面。 化學機械研磨(CMP)即為可接受的平坦化方法之一。 此平坦化方法通常需將基材放置在CMP設備的承載或研 磨頭上’並使基材的暴露表面靠抵旋轉的研磨碟狀襯墊或 V狀襯塾。研磨塾可為「標準」襯墊或固定式研磨襯墊。 標準襯墊有雙層粗糙表面,而固定式研磨襯墊則在圍阻媒 介(containment media)上固定研磨粒子。承載頭能提供可 控制的負載於基材上,以將之壓抵於研磨墊,並供應研磨 液體(例如具有研磨微粒的漿體)至研磨墊表面。 【新型内容】 5
M305081 本創作所描述之定位環具有一底部,其可與定 上部分離。該定位環的兩個或多個部分並彼此以磁十 本創作之一態樣係關於定位環,該定位環具有 形的上部及大致環形的下部,其中該上部有一上表 配置接附於承載頭;該下部亦具有一上表面,經配 部的下表面接觸。上部及下部的至少一者包括一 料,且上部及下部的另一者包括一可吸附該磁性材 料。 本創作的實施方式可包括下列一或多種特徵。 具有一或多個自下表面延伸的校準件,例如校準銷 可具有一或多個對應該校準件的承接凹槽。然校準 位於下部中,並使凹槽設於上部。上部可包括磁性巧 例如鐵素體(ferritic)不鏽鋼。磁性材料可為永久磁 磁化的材料。下部可較上部不具剛性,例如下 PPS(聚苯硫醚)形成。亦可將磁鐵嵌入PPS中。 本創作另一態樣係關於製造定位環的方法。該 括形成大致環狀的定位環下部。磁性材料的一或多 可嵌入下部中。定位環大致環狀的上部則設計使其 下表面包括能吸附至磁性材料的材料。 該方法更可包括使下部與上部對準,讓校準件 件的承接槽對齊。磁性材料有一部份可為致動的 料。上部可與承載頭對齊,使下部的下表面垂直承 中心軸。 本創作又一態樣係關於製造定位環的方法。該 位環的 t固定。 大致環 面,經 置與上 磁性材 料的材 上部可 。下部 銷亦可 :鐘鋼, 鐵或可 部可由 方法包 個部分 至少一 與校準 磁性材 載頭的 方法包 6 M305081 括形成大致環狀的定位環下部。能吸附至磁性材料的材料 則可接附至下部的上表面。定位環大致環狀的上部係成形 使磁性材料的一或多個部分嵌入上部中。 本創作又一態樣係關於將定位環吸附至承載頭的方 法。該方法包括將定位環的上部固定至承載頭,其中上部 包括可吸附至下表面磁性材料的材料。定位環的下部可與 上部接觸,其中下部中磁性材料的一或多個部分可與下部 彼此固定。
本創作再一態樣係關於化學機械研磨基材的系統。該 系統包括承載頭及固定至該承載頭的定位環。定位環包括 大致環形的上部及大致環形的下部,其中該上部係經配置 以接附該承載頭;而下部具有一上表面,並配置與上部的 下表面接觸。上部及下部的至少一者包括一磁性材料,而 上部及下部的另一者則包括可吸附磁性材料的材料。 本創作可能包括下列潛在多項優點。定位環的套用部 (wearable portion)可簡單更換。更明確而言,下部可與定 位環的上部單獨移除並替換。故可降低維護承載頭的所需 時間。定位環的上部也可重複使用。因僅下部需要替換, 故可僅替換定位環經使用的部分,而非換掉整個定位環。 本創作一或多個實施例的細節以載列於下文實施方式 及附加圖示。本創作其他特徵、目的及優點在參閱實施方 式、圖示及申請專利範圍後當可更輕易領會。 【實施方式】 7 M305081 定位環1 00大致為環狀環,其可固定至CMP設備的承 載頭。適用的CMP設備已描述於美國專利第5,73 8,:574號 案’而適用的承載頭則描述於美國專利第6,251,215號案 以及美國專利公開第2005-02 1 1 377A1號中,其等全文均 合併於此以供參考。定位環100適配於一負載杯(loadcup) 中以進行定位、集中並將基材維持在CMP設備的傳送站。 適用的負載杯係描述於美國專利第6,7 1 6,0 8 6號案中,其 全文係合併於此以供參考。
參照第1圖,一或多片基材1 〇將以化學機械研磨設備 2 0進行研磨。 各研磨站25a-25c包括一旋轉台3〇,其上並放置研磨 墊32。若基材1〇為直徑八吋(200毫米)或12吋(3〇〇毫米) 的盤體,則旋轉台3 0及研磨墊3 2直徑可分別約為2 〇或 3 〇英吋。旋轉台3 0可接至機械底座2 2内的旋轉台驅動馬 達(未示出)。對大多數研磨製程而言,平台驅動馬達是以 每分鐘三十直雨千轉的速度旋轉該旋轉台3 〇,然亦玎使用 較低或較高的轉速。各研磨站25 a-25c更可包括相連的研 磨墊調整設備4〇 ’以維持研磨墊的研磨狀況。 研磨液5〇 <以化合的研磨漿/潤濕臂52供應i研磨塾 3 2表面。研磨浪5 〇可包括研磨粒(例如用於氧化物研磨的 二氧化矽)。〆般而吕’需提供充分的研磨漿以覆蓋娘濕潤 整個研磨墊32。研磨漿/潤濕臂52包括數個噴灑嘴(未示 出),以於各所磨勢及調整循環的終點處高壓潤濕研磨塾 32 〇 8 M305081 包括-旋轉支撐板66及蓋體68的可旋轉多頭轉組6〇 係設在下機械底座22的上方。旋轉支撐板“是以中央桿 62支撐,並以旋轉馬達組件(位於機械底座22内)繞 車由64旋轉於其上。多頭轉組6〇包括四個安裝在旋轉支樓 板66上的承載頭系統7〇a、7〇b、7〇c及7〇d,並繞轉軸= 以等角相隔。三個承載頭系統可接收並維持基材,並藉由 將基材壓抵研磨站25a-25c之研磨墊的方式予以研磨。胃該 等承載頭系統之一者可自基材傳送站27接收並傳遞基 材。旋轉馬達可將承載頭系統7 〇 a _ 7 〇 d,以及與之接附的 基材繞旋轉軸6 4旋轉於研磨站及傳送站之間。 各承載頭系統70a-70d包括研磨或承載頭100。各承 載頭1 00各自繞其軸旋轉,並各自在旋轉支撐板66的徑向 槽72中橫向擺動。承載驅動軸74延伸過徑向槽72以將承 載頭旋轉馬達7 6 (圖示移除四分之一蓋體6 8 )連接承載頭 1 00。各承載頭均具有一承載驅動軸及馬達。各馬達及驅動 轴可支撐在一滑動件(未示出)上,其可沿該徑向槽以徑向 •動馬達線性驅動,以橫向擺動承載頭。 於實際研磨期間,三個研磨頭(例如承載頭系統 7〇a-7〇c)係訂位且位在各自的研磨站25a_25c上。各承载頭 100可將基材下降以接觸研磨墊32。一般而言,承载頭1〇〇 可將基材維持在靠抵研磨墊的位置,並壓迫基材整個背 面。承载頭也可將力矩自驅動軸傳遞至基材。 參照第2圖,承載投1 〇 〇包括一外蓋8 0及一連接定位 壤105的底座8 7。定位環105可利用,例如,可釋放的固 M305081 定機構8 5 (如螺釘、螺栓或夾鉗)固定在底座8 7上。定位 環可包括一凹槽或孔徑125以承接固定機構85(如第4圖 所示)。基材承接槽1 5 0位在定位環1 0 5内,其於研磨期間 可固持基材。研磨期間基材承接槽1 50内的膜狀物90可接 觸基材底部。
參照第3及第4圖,定位環1 0 5具有兩個部分,即上 部1 4 0及下部1 3 0。上部1 4 0的下表面係接觸下部1 3 0的 上表面 2 8 0。上部及下部的表面大致無需黏著材料。上部 及下部是由可將兩部分固定在一起以形成定位環1 0 5的材 料所製成。 下部1 3 0的本體是由對CMP程化學惰性的材料製成。 此外,下部1 3 0應具充分彈性,使基材邊緣靠抵定位環的 接觸不會使基材有缺口或裂痕。然而,下部不應過於彈性 到當承載頭下壓在定位環1 〇 5時突入基材承接槽1 5 0中。 定位環下部1 3 0也應耐用且具有低磨損率,然替換下部1 3 0 亦為可接受的方式之一。例如,定位環的下部1 3 0可由塑 膠製成,例如聚苯硫醚(PPS)、聚乙烯對苯二甲酸酯(PET)、 聚醚醚酮(PEEK)、聚對苯二曱酸二丁酯(PBT)、聚四氟乙 烯(PTFE)、聚苯並咪唑(PBI)、聚醚醯亞胺(PEI)、聚酰胺-硫亞氨(PAI)或複合材料。 下部130具有一底表面110,接觸研磨表面。底表面 1 1 0可為平坦或可包括數個溝槽1 6 0,以於研磨期間使研磨 液可自定位環1 0 5外流進槽1 5 0中。 參照第5圖,定位環1 0 5的下部1 3 0可包括磁鐵1 7 0, 10 M305081 設在或靠近下部130上表面280處。磁鐵170可由金屬或 陶瓷材料形成。前述金屬可包括鐵或婦土金屬,例如鈥、 鈥-鐵·硼、釤-鈷、鋁-鎳-鈷以及陶瓷(例如鐵氧體、锶及陶 鐵磁體)。磁鐵可為永久磁鐵’例如鐵磁性物質或可為電磁 性物質。凹槽可形成在下部1 3 0的上表面中,而磁鐵1 7 〇 可固定在凹槽中,例如藉由嵌合(press fitting)或結合方式 ……π %狀或盤 狀。於另一實施例中’磁鐵1 7 0可為矩开彡。
狖杲些實施例 中,磁鐵各大致具有相同尺寸。於其他竇尬丄 也例中,磁鐵17〇
彼此有不同尺寸。於一實施例中,該等磁钟 /U 兹鐵係暴露於大务 環境下。 大軋 參照第6圖’於一實施例中該等凹槽 多個共 中心槽的形式。各溝槽可填以環狀磁鐵丨 除了磁鐵170外,上表面也包括一式 '"夕個校準孔, 如定位銷孔1 8 0 ( d 〇 w e 1 p i n h ο 1 e s)以接收々 ’例 疋位銷〇於且古夕 個定位銷孔1 8 0的定位環中,定位銷孔】8 ” ’夕 8〇可、繞定位環以
等角分隔。 & W 參照第7圖’上部14 0較硬且係由( 吸 因此,磁 40可包括一 鎳、或前述合 體不鏽鋼(如 僅有上部140 '匕括)可充八 附於磁鐵1 7 0的材料所形成,以固持下部丨3 〇 刀 鐵170可將下部130固定至上部140。上部夏 種材料,例如以磁鐵17 0吸附的金屬,如鐵、 金。合適作上部1 4 〇的材料可包括,例如鐵素 4 00系列的不鏽鋼)的金屬。於一實施例中, 的下段包括可與磁鐵相吸的材料。 11
M305081 上部1 4 0包括定位銷1 9 0。定位銷可由與上 同的材料形成。定位銷1 9 0可與上部一體成形、 1 4 0的主體形成後固定至上部1 4 0。定位銷1 9 0係 140上,以使定位銷190與下部130上表面中形 銷孔1 8 0對齊。定位銷1 9 0在上下部1 3 0,1 4 0彼 相互對齊,並在研磨期間的剪力靠抵定位環1 0 5 個部分的對齊。 上部1 4 0的上表面2 8 0可包括數個承接固定> 釘或螺栓)的孔洞,以將上部1 40固定製成載頭。 參照第8圖,於一替代實施例中,上部14 0 非磁性材料形成,且有一磁鐵部2 0 0内嵌其中(内 部2 0 0以虛線表示)。該磁鐵部2 0 0可由一或多個 成,並採間距繞環體設置。於一實施例中,磁鐵 形成在上部1 4 0底部中央環形區域中。於另一實 磁鐵部200可形成上部140的整個底表面。 上部1 3 0可具有一吸附部2 1 0 (亦即,一包括 相吸的部分)沿上表面成形。該吸附部2 1 0可形成 或磁性吸附材料的一層或獨立本體。吸附材料及 係,例如,以喪合或黏附結合的方式彼此固定。 參照第9圖,磁鐵部200可嵌至定位環1 05 1 嵌的磁鐵部2 0 0以虛線表示)。定位環1 0 5的其他 一吸附部2 1 0形成其上或集成其中。 形成具有内嵌磁鐵部的定位環可包括形成一 及於本體中形成一或多個凹槽,例如以鑽孔方式 部1 4 0相 或在上部 位在上部 成的定位 此接觸時 時維持兩 牛(例如螺 係由大致 嵌的磁鐵 磁鐵體形 部2 00係 施例中, 可與磁鐵 磁性材料 彈性材料 印分中(内 部分具有 環狀本體 。磁鐵接 12
M305081 著置放在凹槽中。磁鐵可固定在凹槽中,例 何凹槽開口部的插塞,並填以可在應用後固^ 合材料)的方式為之。本體内的凹槽具有一深 量的材料留在凹槽的底部,避免凹槽中的磁 磁鐵相吸鄰近處時發生變形或突起。同時, 材料以讓磁鐵的磁性強度不會因材料厚度而 若磁鐵嵌在上部4 0及下部3 0兩者中時,磁 磁鐵彼此吸附,而非在兩部分接觸時(即,一 北極面對另一部份中磁鐵的南極)相互排斥。 定位環係係備供下述方式使用。定位環 分分別形成適當磁性部及吸附部,如前文所 接著與上部1 4 0對齊,使定位消與定位銷孔 可對齊磁鐵,以讓上部及下部1 4 0,1 3 0彼此 此排斥。下部1 3 0與上部1 40接觸且兩部分| 上部1 40係以螺入方式接附至承載頭。或者 在環部的下部1 3 0固定至上部1 40之前接附 上部或下部中的磁鐵為永久磁鐵,磁鐵1 7 0 105相固定。 參照第1 0 -1 3圖,定位環的替代實施方 本體及磁鐵有不同配置。參照第1 0圖,磁鐵 上部1 4 0中而吸附部2 1 0嵌至定位環1 0 5的 磁鐵部2 0 0及吸附部以虛線表示)。上部及下 的磁鐵部2 0 0及吸附部2 1 0係對齊以讓該等 接。參照第1 1圖,磁鐵部200係嵌入上部 如形成適於任 1匕的材料(如結 .度,以使足夠 鐵在位於一與 移除足夠量的 減弱。此外, 鐵係對齊以使 部份中磁鐵的 1 0 5的兩個部 述。下部 1 3 0 對齊。此方式 吸附,而非彼 έ此磁性固定。 ,上部1 4 0可 至承載頭。若 便可與定位環 式包括使環狀 部2 00係嵌至 下部1 3 0 (内嵌 部 140,130 中 部分可彼此連 1 4 0而吸附部 13
M305081 2 1 0則固定至下部1 3 Ο (内嵌磁鐵部2 Ο 0以虛線表示 部2 0 0及吸附部2 1 0的位置可與第1 Ο -1 1圖所示顛 照第1 2圖,上部1 4 0是由一與磁鐵相吸的材料形居 部1 3 0具有環狀磁鐵部2 0 0内嵌其中,以使磁鐵部 近下部1 3 0的上表面處(内嵌磁鐵部2 0 0以虛線表: 照第1 3圖,定位環1 0 5在結構上與第1 2圖所示定 似,然而,亦可使多個非環形磁鐵部2 0 0内嵌於下 中(内嵌磁鐵部2 0 0以虛線表示)。 於某些實施例中,磁鐵(或吸附部)可開啟或關 形成定位環,磁鐵可以供應電源至一金屬線纏繞適 的方式啟動磁鐵。於此實施例中,電源供應器係電 位環的磁性部電性連接。 定位環可接著用於基材的研磨製程中。當使用 1 0 5時,定位環1 0 5的底部1 1 0會磨耗。下部1 3 0 自上部1 40移除下部1 3 0的方式替換,例如藉由將7 自上部1 4 0移開的方式為之。新的下部1 3 0可取代 下部1 40且承載頭將再次備妥以研磨基材。 前述定位環具有易於更換的下部。當下部磨損 適於研磨基材(下部在底表面磨損小於0.1英吋時可 充分發揮研磨效果)時,磨損部可移除並更換。前述 實施例不需將上部自承載頭移除。當整個定位環由 移除時,替換定位環可確保定位環底表面垂直承載 軸。因為上部140不需移除去更換下部13 0,故不 校準定位環 1 0 5。如此可降低更換的所需時間,讓 )。磁鐵 倒。參 ,,且下 200鄰 和)。參 位環類 部 1 3 0 閉。為 合金屬 性與定 定位環 可藉由 「部 1 3 0 耗損的 而不再 能無法 定位環 承載頭 頭中心 需再次 承載頭 14
M305081 的停機時間更短。此外,更換下部1 3 0也不需要 定位環 1 0 5的操作人員,如此定位環便可平行 面。而將磁鐵嵌入非磁性材料中,可使得上下部 者成為對研磨環境有較單磁鐵更具抗化學性的材 此外,因僅有定位環1 05的下部1 3 0需由承1 需替換磨耗部分的材料會少於整個定位環移除時 此上部140不需要更換。 本創作多種實施態樣已揭示如上。然而.,應 各種潤飾均可在不悖離創作精神及範圍下提出。 位銷可形成在下部,而定位銷孔形成在上部。又 鐵可形成在上部,而下部則可包括能吸附磁鐵的 此,各種其他實施態樣應由下文申請專利範圍而 【圖式簡單說明】 第1圖為化學機械研磨設備之一分解概要圖 第2圖為承載頭的截面圖。 第3圖為定位環的概要圖。 第4圖為定位環的截面圖。 第5圖為定位環下部的平面圖。 第6圖為定位環下部另一實施方式的平面圖 第7圖為定位環上部的仰視圖。 第8圖為定位環一實施例的分解側視圖。 第9圖為嵌有磁鐵之定位環的截面圖。 第1 0-1 3圖表示本創作替代實施例。 熟稔連接 於研磨表 一者或兩 料。 篆頭移除, 的量。因 理解的是 例如,定 例如,磁 材料。因 定。 15 M305081 不同圖示中均以相同參考號標示相同元件。
【主要元件符號說明】 10 基材 20 化學機械研磨設備 25a- 25c 研磨站 30 旋轉台 32 研磨墊 22 機械底座 40 研磨墊調整設備 50 研磨液 52 研磨漿/潤濕 臂 60 多頭轉組 62 中央桿 64 轉軸 66 支撐板 68 蓋體 70a- 70d 承載頭 系統 76 馬達 80 外蓋 85 固定機構 87 底座 90 膜狀物 100 承載頭 105 定位環 128 凹槽/孔徑 130 下部 140 上部 150 承接槽 170 磁鐵 180 定位銷孔 190 定位銷 200 磁鐵部 210 吸附部 280 上表面
Claims (1)
- M305081第專利案年 玖、申請專利範圍: 1. 一種定位環,其至少包含: 一大致環形之上部,其具有一適於接附一承載頭的上 ^ 表面;以及 一大致環形之下部,具有一上表面,其適於接觸該上 部之一下表面; 其中上部及下部之至少一者包括一磁性材料;且 Φ 該上部及下部之另一者包括一可吸附至該磁性材料的 材料。 2.如申請專利範圍第1項所述之定位環,其中: 該上部包括一或多個自一下表面延伸之校準件;以及 該下部包括一或多個對應該一或多個校準件的承接 槽。3 .如申請專利範圍第1項所述之定位環,其中: 該下部包括一或多個自一下表面延伸之校準件;以及 該上部包括一或多個對應該一或多個校準件的承接 槽。 4.如申請專利範圍第1項所述之定位環,其中該上部包括 鐵素體不鏽鋼(ferritic stainless steel)。 17M305081 5 .如申請專利範圍第1項所述之定位環,其中該磁鐵材料 為一永久磁鐵。 6.如申請專利範圍第1項所述之定位環,其中該下部硬度 較上部為低。7.如申請專利範圍第1項所述之定位環,其中可吸附至一 磁性材料的材料係充分與該磁性材料的一或多個部分 吸附,以穩固該上部及下部兩者。 8 .如申請專利範圍第1項所述之定位環,其中該下部是由 聚苯硫醚(PPS)所形成。 9.如申請專利範圍第8項所述之定位環,其中該下部具有 内嵌至PPS的磁鐵。1 0. —種用於化學機械研磨一基材之系統,其至少包含: 一承載頭;以及 一定位環,固定至該承載頭,其至少包含: 一大致環形之上部,具有一適於接附該承載頭的上 表面;以及 18 M305081 一大致環形之下部,具有一上表面,其適於接觸該 上部之一下表面; 其中上部及下部之至少一者包括一磁性材料;且 該上部及下部之另一者包括一可吸附至該磁性材 料的材料。19
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Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
TWI397454B (zh) * | 2006-03-31 | 2013-06-01 | Ebara Corp | 基板固持裝置、拋光裝置及拋光方法 |
Families Citing this family (14)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR20080031870A (ko) * | 2005-05-24 | 2008-04-11 | 엔테그리스, 아이엔씨. | Cmp 리테이닝 링 |
JP2008062355A (ja) * | 2006-09-08 | 2008-03-21 | Fujitsu Ltd | 研磨装置及び電子装置の製造方法 |
JP2008177248A (ja) * | 2007-01-16 | 2008-07-31 | Tokyo Seimitsu Co Ltd | 研磨ヘッド用リテーナリング |
JP6057196B2 (ja) * | 2012-06-05 | 2017-01-11 | アプライド マテリアルズ インコーポレイテッドApplied Materials,Incorporated | 連動特徴を有する2つの部分からなる保持リング |
TWI622458B (zh) | 2013-03-15 | 2018-05-01 | 美商應用材料股份有限公司 | 具有前側壓力控制的拋光系統 |
SG10201601379WA (en) | 2015-03-19 | 2016-10-28 | Applied Materials Inc | Retaining ring for lower wafer defects |
US9744640B2 (en) * | 2015-10-16 | 2017-08-29 | Applied Materials, Inc. | Corrosion resistant retaining rings |
CN105500186A (zh) * | 2016-01-21 | 2016-04-20 | 苏州新美光纳米科技有限公司 | 晶片抛光用抛光垫及抛光垫的自吸附方法 |
JP7074607B2 (ja) * | 2018-08-02 | 2022-05-24 | 株式会社荏原製作所 | 研磨装置用の治具 |
CN112548848B (zh) * | 2019-09-26 | 2022-09-23 | 清华大学 | 一种承载头和化学机械抛光设备 |
CN110802507A (zh) * | 2019-11-11 | 2020-02-18 | 上海华力微电子有限公司 | 研磨头和化学机械研磨设备 |
CN114473862B (zh) * | 2020-10-26 | 2023-01-24 | 昆明物理研究所 | 一种适用于碲镉汞外延薄膜表面的抛光夹具 |
JP2022103604A (ja) * | 2020-12-28 | 2022-07-08 | 株式会社荏原製作所 | リテーナ、トップリング、および基板処理装置 |
US20220410340A1 (en) * | 2021-06-25 | 2022-12-29 | Globalwafers Co., Ltd. | Polishing head assembly having recess and cap |
Family Cites Families (10)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US6282053B1 (en) * | 1994-08-05 | 2001-08-28 | Seagate Technology, Inc. | Adhesiveless disc drive spindle assembly |
US5738574A (en) * | 1995-10-27 | 1998-04-14 | Applied Materials, Inc. | Continuous processing system for chemical mechanical polishing |
US6036587A (en) * | 1996-10-10 | 2000-03-14 | Applied Materials, Inc. | Carrier head with layer of conformable material for a chemical mechanical polishing system |
US6251215B1 (en) * | 1998-06-03 | 2001-06-26 | Applied Materials, Inc. | Carrier head with a multilayer retaining ring for chemical mechanical polishing |
US6121142A (en) * | 1998-09-14 | 2000-09-19 | Lucent Technologies Inc. | Magnetic frictionless gimbal for a polishing apparatus |
US6059638A (en) * | 1999-01-25 | 2000-05-09 | Lucent Technologies Inc. | Magnetic force carrier and ring for a polishing apparatus |
US6716086B1 (en) * | 1999-06-14 | 2004-04-06 | Applied Materials Inc. | Edge contact loadcup |
US6354928B1 (en) * | 2000-04-21 | 2002-03-12 | Agere Systems Guardian Corp. | Polishing apparatus with carrier ring and carrier head employing like polarities |
US20050095964A1 (en) * | 2003-10-09 | 2005-05-05 | Hengel Raymond J.Jr. | Method and apparatus for two-part CMP retaining ring |
US7255771B2 (en) * | 2004-03-26 | 2007-08-14 | Applied Materials, Inc. | Multiple zone carrier head with flexible membrane |
-
2005
- 2005-12-21 US US11/316,413 patent/US7134948B2/en not_active Expired - Fee Related
-
2006
- 2006-01-13 TW TW095200876U patent/TWM305081U/zh not_active IP Right Cessation
- 2006-01-16 CN CNU2006200010269U patent/CN2868552Y/zh not_active Expired - Fee Related
- 2006-05-18 JP JP2006003748U patent/JP3123851U/ja not_active Expired - Fee Related
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
TWI397454B (zh) * | 2006-03-31 | 2013-06-01 | Ebara Corp | 基板固持裝置、拋光裝置及拋光方法 |
US8485866B2 (en) | 2006-03-31 | 2013-07-16 | Ebara Corporation | Substrate holding apparatus, polishing apparatus, and polishing method |
TWI617389B (zh) * | 2006-03-31 | 2018-03-11 | 荏原製作所股份有限公司 | 下環構件 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
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US7134948B2 (en) | 2006-11-14 |
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US20060160474A1 (en) | 2006-07-20 |
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