TWI844136B - 具有自動調整功能的測試裝置及其測試接頭 - Google Patents
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Abstract
一種具有自動調整功能的測試裝置及其測試接頭，測試裝置包括：測試接頭以及設有對接穿孔的治具對接板。測試接頭對應對接穿孔穿插且包含：具有套接部的接頭本體、對應活動套筒的周圍圍繞的第二擋體、以及、皆套接於套接部的活動套筒和彈性元件，第二擋體受治具對接板支撐，彈性元件彈性支撐於第一、二擋體之間。當待測物件的插接件對應活動套筒插接時，測試接頭經由被插接件插接而相對於治具對接板彈性伸縮。藉此，可達成測試接頭會相應於插接件的插接而自動伸縮調整的效果。
Description
本申請與電子電路組件的測試有關，特別是指一種具有自動調整功能的測試裝置及其測試接頭。
關於測試裝置，用於測試一待測物件(例如天線模組等)，待測物件包含電路板和電性插接於電路板上的插接件。測試裝置主要在測試插接件是否與電路板上的電路連通。
現有測試裝置包括治具對接板和測試接頭，治具對接板開設有孔體，測試接頭對應孔體穿插。測試時，先將待測物件的插接腳對應測試接頭插接，再以一連接線連接於測試接頭與一測試設備之間，即可進行測試。
然而，待測物件(或測試裝置)會有打件公差問題，所稱打件公差問題包含：插接件凸出於電路板的凸出長度比標準凸出長度還更為凸出，以及測試接頭凸出於治具對接板的凸出長度比標準凸出長度還更為凸出。一旦出現此等問題，插接件對應測試接頭插接後，恐將發生爆插情形或發生導接不良情形，凡此皆不利於測試而有待加以克服。
因此，如何設計出一種可改善上述先前技術缺失的本申請，乃為本申請發明人所亟欲解決的一大課題。
本申請的目的在於提供一種具有自動調整功能的測試裝置及其測試接頭。
為了達成上述目的，本申請提供一種具有自動調整功能的測試裝置，用於測試一待測物件，所述待測物件設置有至少二插接件，該測試裝置包括：一治具對接板，開設有至少二對接穿孔；以及，至少二測試接頭，各該測試接頭對應各該對接穿孔穿插，每一該測試接頭包含：一接頭本體，具有一套接部；一活動套筒，可活動地套接於該套接部且具有一第一擋體；一第二擋體，對應圍繞於該活動套筒的周圍且受到該治具對接板的支撐；和，一彈性元件，套接於該活動套筒且彈性支撐於該第一擋體與該第二擋體之間；其中，當各所述插接件對應各該活動套筒插接時，各該測試接頭經由被各所述插接件插接而相對於該治具對接板彈性伸縮。
為了達成上述目的，本申請還提供一種測試接頭，包括：一接頭本體，具有一套接部；一活動套筒，可活動地套接於該套接部且具有一第一擋體；一第二擋體，對應圍繞於該活動套筒的周圍；以及一彈性元件，套接於該活動套筒且彈性支撐於該第一擋體與該第二擋體之間。
相較於先前技術，本申請具有以下功效：藉由測試接頭在受到來自一方向的外力時，能夠在彈性元件的彈性支撐下沿同一方向伸縮，因此在將插接件對應活動套筒插接時，測試接頭將會相應於插接件自動伸縮而具有自動調整功能，同時還能兼具有藉由彈性元件將測試接頭與插接件緊密結合以確保測試穩定的效果。
100:測試接頭
1:接頭本體
11:套接部
12:螺紋部
2:活動套筒
21:外筒
211:第一擋體
212:外壁
23:內筒
231:夾爪
2311:夾持凸部
3:擋止環
4:彈性元件
600:治具主板
6:基板
61:主穿孔
7:載板
800:治具對接板
81:對接穿孔
811:最窄階層部
8111:內壁
82:凹槽
821:槽底面
900:待測物件
91:電路板
92:插接件
921:螺紋部
C:連接線
C1:連接線接頭
D:間隙
G:間距
L:墊圈
N:螺合件
S:第二擋體
圖1 為本申請測試裝置的立體分解示意圖。
圖2 為本申請測試裝置依據圖1的大部組合圖。
圖3 為本申請測試裝置依據圖2的局部放大圖。
圖4 為本申請測試裝置中之測試接頭的立體分解圖。
圖5 為本申請測試裝置依據圖2的剖視示意圖。
圖5A 為本申請測試裝置依據圖5中的治具對接板和測試接頭的放大圖。
圖6 為本申請測試裝置於組合後的剖視示意圖。
有關本申請的詳細說明和技術內容，配合圖式說明如下，然而所附圖式僅提供參考與說明用，非用以限制本申請。
本申請提供一種具有自動調整功能的測試裝置及其測試接頭，如圖1所示，具有自動調整功能的測試裝置(以下簡稱測試裝置)用於對一待測物件(例如天線模組等)900進行測試，待測物件900包含一電路板91以及至少二插接件92，各插接件92插接於電路板91，且插接件92具有一螺紋部921。所述測試例如是在測試插接件92是否與電路板91上的電路導通。
如圖1、圖2、圖5和圖5A所示，本申請測試裝置包括：至少二測試接頭100以及一治具對接板800，詳細而言還包括有一治具主板600。
治具主板600包含一基板6和一載板7，載板7設置且定位於基板6上。載板7用於承載待測物件900。載板7開設有至少二連通部(未標示元件符號)，基板6開設有至少二主穿孔61。待測物件900的各插接件92係經由各連通部對應伸入各主穿孔61內。其中，各連通部對應於各主穿孔61。
治具對接板800開設有至少二對接穿孔81，各對接穿孔81對應於各主穿孔61。其中，對接穿孔81內係具有一階層部，這階層部例如可以是後述的最窄階層部811，但本申請不限於此。
需說明的是，本申請測試裝置定義有彼此垂直且皆未標示元件符號的一第一方向和一第二方向。參考圖1、圖2和圖5所示，其中，插接件92插接於測試接頭100的方向為一插接方向(如圖5所示的虛線箭頭)，第一方向平行於插接方向。
如圖3和圖4並搭配圖1所示，各測試接頭100對應各對接穿孔81穿插。每一測試接頭100包含：一接頭本體1、一活動套筒2、一第二擋體S以及一彈性元件4，詳細而言還包含有一螺合件N和一墊圈L。
接頭本體1區分成一套接部11和一螺紋部12。螺紋部12用於螺接螺合件N，墊圈L也大致套接於此。其中，墊圈L可為具有卡掣效果的金屬墊圈，其墊圈孔的內緣如圖4所示係環具有多數卡掣齒(未標示元件符號)，卡掣齒能如圖5A所示卡掣於螺紋部12的螺紋。
活動套筒2係可活動地套接於套接部11，且活動套筒2沿前述第二方向凸出有一第一擋體211，具體而言，第一擋體211係在活動套筒2的一筒口(未標示元件符號)的周緣沿第二方向凸出。
第二擋體S對應圍繞於活動套筒2的周圍且受到治具對接板800的支撐，使第二擋體S與第一擋體211彼此間隔相對。彈性元件4亦套接於活動套筒2，並使彈性元件4彈性支撐於第二擋體S的一面與第一擋體211之間。
如圖1至圖5A所示，組裝時，先將測試接頭100沿前述插接方向穿插於對接穿孔81，使第二擋體S的另一面被治具對接板800所支撐；接著沿相反於插接方向的方向，將螺合件N搭配前述墊圈L螺接於接頭本體1的螺紋部12，
以使墊圈L和第二擋體S共同夾置在前述階層部(例如最窄階層部811)，進而讓測試接頭100得以藉此而固定於治具對接板800。
在測試接頭100中，只有接頭本體1和活動套筒2彼此緊配組合成一整體構件，至於擋止環3、彈性元件4、螺合件N和墊圈L則為能相對於整體構件(接頭本體1和活動套筒2)活動的活動件。
藉此，如圖5至圖6所示，由於測試接頭100在受到來自第一方向的外力時，能夠沿同一方向(第一方向)相對於治具對接板800伸縮，所以即使待測物件900的插接件92因為某些因素而比標準凸出長度更為凸出於電路板91，但在彈性元件4的彈性支撐下，比標準凸出長度更為凸出的插接件92將會在對應活動套筒2插接時，經由抵接並推動接頭本體1而使測試接頭100的一端部沿第一方向自動地相對於治具對接板800相應收縮(朝插接方向收縮)，相對的，測試接頭100的另一端部將會相對於治具對接板800相應凸伸，使原本貼接在前述階層部(例如最窄階層部811)一面的墊圈L跟著位移而出現如圖6所示的一間距G。換言之，本申請具有自動調整功能，同時也能藉由彈性元件4將測試接頭100與插接件92緊密結合，進而確保測試穩定。
需說明的是，測試接頭100若不包含螺合件N，甚或還不包含墊圈L時，亦能以彈性元件4直接或間接被治具對接板800所支撐，進而維持測試接頭100穿插在對接穿孔81內的狀態，且在此等狀態下仍能將待測物件900的插接件92插接於測試接頭100，被插接件92插接的測試接頭100仍能具有上述自動調整功能。
為了進行測試，如圖1和圖6所示，會將至少二連接線C的連接線接頭C1分別螺接於至少二測試接頭100的螺紋部12上，以讓待測物件900經由各測試接頭100和各連接線C而連接到一測試設備(圖中未示)。
需說明的是，前述第二擋體S可為任何能夠對應圍繞於活動套筒2周圍且受到治具對接板800支撐的擋止物件，本申請對此並不限定。第二擋體S例如可為如圖4所示的擋止環3，擋止環3可活動地套接於活動套筒2，彈性元件4彈性支撐於第一擋體211與擋止環3的一面之間，當測試接頭100插接於對接穿孔81時，擋止環3的另一面將會受到治具對接板800的擋止；或者，第二擋體S也可以設置或形成於治具對接板800上(圖中未示)，所以此時的第二擋體S能受到治具對接板800的支撐，其中，當第二擋體S以形成於治具對接板800上為例時，第二擋體S即為治具對接板800的一部分，彈性元件4彈性支撐於第一擋體211與治具對接板800的一部分之間。擋止環3的前述一面和前述另一面彼此相對。
為了對擋止環3限位，如圖1、圖3和圖5A所示，在一實施例中，治具對接板800上還可設置有一凹槽82，凹槽82對應連通於對接穿孔81且具有一槽底面821，擋止環3則容置於凹槽82內，使擋止環3受到凹槽82的限位。需說明的是，此時擋止環3的另一面將會受到槽底面821的擋止。
為了讓插接件92在插接於活動套筒2內時能夠可插拔地彼此固定，如圖2至圖5A所示，在一實施例中，活動套筒2還可包含彼此套接的一外筒21和一內筒23。其中，外筒21具有前述第一擋體211，內筒23則具有彼此環繞的多數夾爪231，每一夾爪231具有一夾持凸部2311，內筒23即以多數夾爪231的夾持凸部2311共同夾持住插接件92的螺紋部921。
為了讓本申請測試裝置還能兼具有自動導正的功能，如圖1至圖6所示，在一實施例中，每一對接穿孔81具有一內壁8111，每一測試接頭100(具體而言則是其外筒21)具有一外壁212，各內壁8111與各外壁212之間形成有如圖5A所示的一間隙D。
藉此，即使待測物件900的至少二插接件92中有任一者的位置與標準位置之間存在誤差，或是即使治具對接板800的至少二對接穿孔81中有任一
者的位置與標準位置之間存在誤差，但在此等增設有間隙D的情況下，無論是插接件92的位置或對接穿孔81的位置出現誤差，只要插接件92對應活動套筒2插接，測試接頭100就能沿前述第二方向在間隙D內相對於治具對接板800浮動偏移。換言之，本申請還能兼具有自動導正功能。
需說明的是，本申請並不限定間隙D的形成方式，可以是以擴孔方式擴大各對接穿孔81的孔徑，也可以改薄活動套筒2的筒壁厚度(例如讓外筒21的筒壁厚度變薄)。
此外，對接穿孔81還可以是多階層結構而具有多數階層部。這些階層部的孔徑相異，其中包含有孔徑最小、最窄的一最窄階層部811，最窄階層部811具有前述內壁8111。
綜上所述，本申請具有自動調整功能的測試裝置及其測試接頭，確可達到預期的使用目的，並解決現有技術的缺失，完全符合發明專利申請要件，爰依專利法提出申請，敬請詳查並賜准本案專利，以保障本申請發明人之權利。
以上所述者，僅為本申請之較佳可行實施例而已，非因此即侷限本申請之專利範圍，舉凡運用本申請說明書及圖式內容所為之等效結構變化，均理同包含於本申請之權利範圍內，合予陳明。
100:測試接頭
1:接頭本體
11:套接部
12:螺紋部
2:活動套筒
21:外筒
211:第一擋體
212:外壁
23:內筒
231:夾爪
2311:夾持凸部
3:擋止環
4:彈性元件
L:墊圈
N:螺合件
S:第二擋體
Claims (15)
- 一種測試接頭，包括：一接頭本體，具有一套接部；一活動套筒，可活動地套接於該套接部且具有一第一擋體；一第二擋體，對應圍繞於該活動套筒的周圍；以及一彈性元件，套接於該活動套筒且彈性支撐於該第一擋體與該第二擋體之間。
- 如請求項1所述之測試接頭，其中該活動套筒包含彼此套接的一內筒和一外筒，該外筒具有該第一擋體，該內筒具有彼此環繞的多數夾爪。
- 如請求項1所述之測試接頭，還包括一螺合件，該接頭本體還具有一螺紋部，該螺合件螺接於該接頭本體的該螺紋部。
- 如請求項3所述之測試接頭，還包括一墊圈，該墊圈套接於該接頭本體，該墊圈位於該第二擋體與該螺合件之間。
- 一種具有自動調整功能的測試裝置，用於測試一待測物件，所述待測物件設置有至少二插接件，該測試裝置包括：一治具對接板，開設有至少二對接穿孔；以及至少二如請求項1至2中任一項所述之測試接頭，各該測試接頭對應各該對接穿孔穿插，且該第二擋體受到該治具對接板的支撐；其中，當各所述插接件對應各該活動套筒插接時，各該測試接頭經由被各所述插接件插接而相對於該治具對接板彈性伸縮。
- 如請求項5所述之具有自動調整功能的測試裝置，其中該對接穿孔內具有一階層部，該測試接頭還包含一螺合件，該接頭本體還具有一螺紋部，該螺合件螺接於該螺紋部，該螺合件和該第二擋體共同夾置於該階層部。
- 如請求項6所述之具有自動調整功能的測試裝置，其中該測試接頭還包含一墊圈，該墊圈套接於該接頭本體，該墊圈位於該第二擋體與該螺合件之間，該螺合件隔著該墊圈而與該第二擋體共同夾置於該階層部。
- 如請求項5所述之具有自動調整功能的測試裝置，其中該第二擋體為一擋止環，該擋止環可活動地套接於該活動套筒，該彈性元件彈性支撐於該第一擋體與該擋止環的一面之間且該擋止環的另一面還受到該治具對接板的擋止。
- 如請求項8所述之具有自動調整功能的測試裝置，其中該治具對接板設置有一凹槽，該凹槽具有一槽底面，該擋止環容置於該凹槽內，且該擋止環的該另一面受到該槽底面的擋止。
- 如請求項5所述之具有自動調整功能的測試裝置，其中該第二擋體設置或形成於該治具對接板上，該彈性元件彈性支撐於該第一擋體與該治具對接板之間。
- 如請求項5所述之具有自動調整功能的測試裝置，定義有彼此垂直的一第一方向和一第二方向，該第一方向平行於所述插接件插接該測試接頭的一插接方向，各該測試接頭沿該第一方向相對於該治具對接板伸縮。
- 如請求項11所述之具有自動調整功能的測試裝置，其中每一該對接穿孔具有一內壁，每一該測試接頭具有一外壁，各該內壁與各該外壁之間形成有一間隙，各該測試接頭經由被各所述插接件插接而沿該第二方向在各該間隙內相對於該治具對接板偏移。
- 如請求項12所述之具有自動調整功能的測試裝置，其中每一該對接穿孔具有一最窄階層部，該最窄階層部具有該內壁。
- 如請求項5所述之具有自動調整功能的測試裝置，還包括一治具主板，該治具主板開設有至少二主穿孔，各該主穿孔供各所述插接件對應伸入。
- 如請求項14所述之具有自動調整功能的測試裝置，其中該治具主板包含一基板和一載板，該載板設置於該基板上，該基板開設有該至少二主穿孔，該載板承載所述待測物件。
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| TW202415955A TW202415955A (zh) | 2024-04-16 |
| TWI844136B true TWI844136B (zh) | 2024-06-01 |
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Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO2018142170A1 (en) | 2017-02-02 | 2018-08-09 | Equip-Test Kft. | Contacting device, head unit for the same, and methods for manufacturing a contacting device and a head unit |
Patent Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO2018142170A1 (en) | 2017-02-02 | 2018-08-09 | Equip-Test Kft. | Contacting device, head unit for the same, and methods for manufacturing a contacting device and a head unit |
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