KR102134235B1 - 테스트 소켓 모듈 - Google Patents

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KR102134235B1
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Abstract

테스트 소켓 모듈은 테스트 보드, 테스트 소켓, 적어도 하나의 제 1 볼트 및 적어도 하나의 제 2 볼트를 포함할 수 있다. 상기 테스트 보드에는 테스트 신호가 인가될 수 있다. 상기 테스트 소켓은 상기 테스트 보드에 피검체와 함께 결합될 수 있다. 상기 제 1 볼트는 상기 테스트 소켓을 상기 테스트 보드에 고정시킬 수 있다. 상기 제 1 볼트는 제 1 나사선을 가질 수 있다. 상기 제 2 볼트는 상기 테스트 소켓에 체결되어 상기 제 1 볼트의 헤드부와 결합될 수 있다. 상기 제 2 볼트는 상기 제 1 나사선과 반대인 제 2 나사선을 가질 수 있다. 이와 같이, 제 1 및 제 2 볼트들의 체결 방향이 서로 반대이므로, 제 1 볼트와 제 2 볼트 간의 결합력이 강화될 수 있다.

Description

테스트 소켓 모듈{TEST SOCKET MODULE}
본 발명은 테스트 소켓 모듈에 관한 것으로, 보다 구체적으로는 피검체를 번인 테스트하는데 사용되는 테스트 소켓 모듈에 관한 것이다.
반도체 부품과 같은 피검체를 번인 테스트하기 위해서 테스트 보드와 테스트 소켓이 사용될 수 있다. 테스트 신호는 테스트 보드로 인가될 수 있다. 테스트 소켓은 피검체를 테스트 보드에 결합시킬 수 있다.
관련 기술들에 따르면, 볼트와 너트를 이용해서 테스트 소켓을 테스트 보드에 결합시킬 수 있다. 외부 진동에 의해서 볼트가 풀어지게 되면, 테스트 소켓이 테스트 보드로부터 분리될 수 있다. 따라서, 번인 테스트 공정에 에러가 발생될 수 있다.
또한, 리드(lead) 타입 테스트 소켓은 테스트 보드의 홀에 핀을 삽입하여, 납땜으로 테스트 보드에 조립시킬 수 있다. 테스트 소켓이 조립된 테스트 보드를 암수의 커넥터를 이용해서 메인 테스트 보드에 결합시킬 수 있다. 이러한 구조는 별도의 테스트 보드와 암수의 커넥터를 추가로 포함하게 되므로, 제조 비용이 상승하는 문제가 있을 수 있다. 또한, 암수의 커넥터는 테스트 신호의 전달 특성을 저하시키면서 전원의 손실도 유발시킬 수 있다. 이로 인하여, 번인 테스트 효율이 크게 저하될 수 있다.
본 발명은 테스트 보드와 테스트 소켓의 결합력을 강화시키면서 분리도 용이하게 하여 테스트 공정 효율을 향상시킬 수 있는 테스트 소켓 모듈을 제공한다.
본 발명의 일 견지에 따른 테스트 소켓 모듈은 테스트 보드, 테스트 소켓, 적어도 하나의 제 1 볼트 및 적어도 하나의 제 2 볼트를 포함할 수 있다. 상기 테스트 보드에는 테스트 신호가 인가될 수 있다. 상기 테스트 소켓은 상기 테스트 보드에 피검체와 함께 결합될 수 있다. 상기 제 1 볼트는 상기 테스트 소켓을 상기 테스트 보드에 고정시킬 수 있다. 상기 제 1 볼트는 제 1 나사선을 가질 수 있다. 상기 제 2 볼트는 상기 테스트 소켓에 체결되어 상기 제 1 볼트의 헤드부와 결합될 수 있다. 상기 제 2 볼트는 상기 제 1 나사선과 반대인 제 2 나사선을 가질 수 있다.
예시적인 실시예들에 있어서, 상기 제 1 나사선은 오른나사이고, 상기 제 2 나사선은 왼나사일 수 있다.
예시적인 실시예들에 있어서, 상기 제 1 볼트와 상기 제 2 볼트는 상기 테스트 소켓의 4 모서리들에 삽입될 수 있다.
예시적인 실시예들에 있어서, 상기 제 1 볼트와 상기 제 2 볼트는 서로 다른 열팽창계수들을 가질 수 있다.
예시적인 실시예들에 있어서, 상기 테스트 소켓은 상기 테스트 보드의 상부에 결합될 수 있다.
예시적인 실시예들에 있어서, 상기 테스트 소켓 모듈은 상기 테스트 보드의 하부에 배치된 보강판을 더 포함할 수 있다.
예시적인 실시예들에 있어서, 상기 테스트 소켓 모듈은 상기 보강판과 상기 테스트 보드 사이에 개재된 절연판을 더 포함할 수 있다.
예시적인 실시예들에 있어서, 상기 제 1 볼트는 상기 절연판과 상기 보강판에 체결될 수 있다.
예시적인 실시예들에 있어서, 상기 테스트 보드는 번인 테스트 공정에 사용될 수 있다.
본 발명의 다른 견지에 따른 테스트 소켓 모듈은 테스트 보드, 테스트 소켓, 절연판, 보강판, 오른나사 볼트 및 왼나사 볼트를 포함할 수 있다. 상기 테스트 보드에는 테스트 신호가 인가될 수 있다. 상기 테스트 소켓은 상기 테스트 보드의 상부에 피검체와 함께 결합될 수 있다. 상기 절연판은 상기 테스트 보드의 하부면에 배치될 수 있다. 상기 보강판은 상기 절연판의 하부면에 배치될 수 있다. 상기 오른나사 볼트는 상기 테스트 소켓, 상기 절연판 및 상기 보강판에 체결될 수 있다. 상기 왼나사 볼트는 상기 테스트 소켓에 체결되어 상기 오른나사 볼트의 헤드부와 결합될 수 있다.
예시적인 실시예들에 있어서, 상기 오른나사 볼트와 상기 왼나사 볼트는 상기 테스트 소켓의 4 모서리들에 삽입될 수 있다.
예시적인 실시예들에 있어서, 상기 오른나사 볼트와 상기 왼나사 볼트는 서로 다른 열팽창계수들을 가질 수 있다.
본 발명에 따르면, 제 1 나사선을 갖는 제 1 볼트가 테스트 소켓을 테스트 보드에 결합시키고, 제 1 나사선의 반대인 제 2 나사선을 갖는 제 2 볼트가 테스트 소켓에 체결되어 제 1 볼트의 헤드부에 결합될 수 있다. 이와 같이, 제 1 및 제 2 볼트들의 체결 방향이 서로 반대이므로, 제 1 볼트와 제 2 볼트 간의 결합력이 강화될 수 있다. 또한, 제 1 볼트와 제 2 볼트가 서로 다른 열팽창계수들을 가지므로, 제 1 볼트와 제 2 볼트 간의 결합력이 더욱 향상될 수 있다. 따라서, 외부 진동으로 인한 테스트 소켓과 테스트 보드 간의 분리를 억제시킬 수 있다.
아울러, 제 1 볼트와 제 2 볼트의 사용에 의해서 테스트 소켓과 테스트 보드 간의 결합 및 분리가 매우 용이해질 수 있다. 따라서, 별도의 테스트 보드와 암수 커넥터를 이용하지 않고도 테스트 소켓의 핀이 테스트 보드에 정확하게 접촉될 수가 있게 되어, 테스트 신호의 전달 특성이 향상되고 전원의 손실도 줄일 수가 있게 된다.
도 1은 본 발명의 실시예에 따른 테스트 소켓 모듈을 나타낸 단면도이다.
도 2는 도 1에 도시된 테스트 소켓 모듈의 제 1 및 제 2 볼트의 결합 구조를 나타낸 단면도이다.
도 3은 도 1에 도시된 테스트 소켓 모듈의 테스트 소켓을 나타낸 평면도이다.
본 발명의 이점 및 특징, 그리고 그것들을 달성하는 방법은 첨부되는 도면과 함께 상세하게 후술되어 있는 실시 예들을 참조하면 명확해질 것이다. 그러나 본 발명은 이하에서 개시되는 실시 예들에 한정되는 것이 아니라 서로 다른 다양한 형태로 구현될 것이며, 단지 본 실시 예들은 본 발명의 개시가 완전하도록 하며, 본 발명이 속하는 기술분야에서 통상의 지식을 가진 자에게 발명의 범주를 완전하게 알려주기 위해 제공되는 것이며, 본 발명은 청구항의 범주에 의해 정의될 뿐이다. 도면에서 층 및 영역들의 크기 및 상대적인 크기는 설명의 명료성을 위해 과장된 것일 수 있다. 명세서 전체에 걸쳐 동일 참조 부호는 동일 구성 요소를 지칭한다.
도 1은 본 발명의 실시예에 따른 테스트 소켓 모듈을 나타낸 단면도이고, 도 2는 도 1에 도시된 테스트 소켓 모듈의 제 1 및 제 2 볼트의 결합 구조를 나타낸 단면도이며, 도 3은 도 1에 도시된 테스트 소켓 모듈의 테스트 소켓을 나타낸 평면도이다.
도 1 내지 도 3을 참조하면, 본 실시예에 따른 테스트 소켓 모듈은 테스트 보드(110), 절연판(120), 보강판(130), 테스트 소켓(140), 제 1 볼트(150) 및 제 2 볼트(160)를 포함할 수 있다.
테스트 보드(110)는 반도체 부품과 같은 피검체를 테스트하기 위한 테스트 신호를 수신할 수 있다. 예를 들어서, 테스트 보드(110)는 피검체를 번인 테스트하기 위한 번인 테스트 신호를 수신할 수 있다. 테스트 보드(110)는 인쇄회로기판(PCB)을 포함할 수 있다.
절연판(120)은 테스트 보드(110)의 하부면에 배치될 수 있다. 절연판(120)은 테스트 보드(110)를 절연시킬 수 있다. 보강판(130)은 절연판(120)의 하부면에 배치될 수 있다. 보강판(130)은 테스트 보드(110)의 강성을 보강시킬 수 있다.
테스트 소켓(140)은 테스트 보드(110)의 상부에 배치될 수 있다. 테스트 소켓(140)은 피검체를 테스트 보드(110)의 상부에 선택적으로 결합될 수 있다. 테스트 보드(140)는 피검체를 테스트 보드(110)에 전기적으로 연결시키는 테스트 핀들을 포함할 수 있다.
적어도 하나의 제 1 체결공(154)이 테스트 소켓(140), 테스트 보드(110), 절연판(120) 및 보강판(130)에 수직 방향을 따라 형성될 수 있다. 제 1 체결공(154)은 테스트 소켓(140)의 하부면으로부터 상부면 이전까지 형성될 수 있다. 따라서, 제 1 체결공(154)은 테스트 소켓(140)의 상부면을 통해 노출되지 않을 수 있다.
본 실시예에서, 제 1 체결공(154)은 제 1 나사선을 가질 수 있다. 예를 들어서, 제 1 체결공(154)은 오른 나사선을 가질 수 있다. 그러나, 제 1 체결공(154)은 왼 나사선을 가질 수도 있다.
적어도 하나의 제 2 체결공(164)이 테스트 소켓(140)의 상부면으로부터 제 1 체결공(154)까지 형성될 수 있다. 즉, 제 2 체결공(164)은 제 1 체결공(154)과 연통될 수 있다. 또한, 제 2 체결공(164)은 제 1 체결공(154)의 직경보다 긴 직경을 가질 수 있다.
본 실시예에서, 제 2 체결공(164)은 제 1 나사선의 반대인 제 2 나사선을 가질 수 있다. 따라서, 제 1 체결공(154)이 오른 나사선을 갖는 경우, 제 2 체결공(164)은 왼 나사선을 가질 수 있다.
또한, 도 3에 도시된 바와 같이, 제 1 체결공(154)과 제 2 체결공(164)은 테스트 소켓(140)의 4 모서리들에 형성된 4개로 이루어질 수 있다. 이러한 경우, 제 1 체결공(154)은 테스트 보드(110), 절연판(120) 및 보강판(130)의 4 모서리들에 형성될 수 있다. 다른 실시예로서, 제 1 체결공(154)과 제 2 체결공(164)은 1개 내지 3개 또는 5개 이상일 수도 있다.
제 1 볼트(150)가 제 2 체결공(164)을 통해서 제 1 체결공(154)으로 진입하여, 제 1 체결공(154)에 체결될 수 있다. 제 1 볼트(150)는 제 1 나사선을 가질 수 있다. 제 1 체결공(154)이 오른 나사인 경우, 제 1 볼트(150)는 오른나사 볼트일 수 있다. 즉, 도 2에 도시된 화살표 A1과 같이, 제 1 볼트(150)를 시계방향으로 회전시키는 것에 의해서, 제 1 볼트(150)를 제 1 체결공(154)에 체결할 수 있다. 따라서, 제 1 체결공(154)에 체결된 제 1 볼트(150)에 의해서 테스트 소켓(140)이 테스트 보드(110), 절연판(120) 및 보강판(130)에 고정될 수 있다. 제 1 볼트(150)는 보강판(130)의 하부면과 동일 평면 또는 낮게 위치하는 하단을 가질 수 있다. 제 1 체결공(154)에 삽입된 제 1 볼트(150)는 제 1 체결공(154)의 상부면에 안치된 헤드부(152)를 가질 수 있다.
제 2 볼트(160)가 제 2 체결공(164)에 체결될 수 있다. 제 2 볼트(160)는 제 1 볼트(150)의 제 1 나사선의 반대인 제 2 나사선을 가질 수 있다. 제 2 체결공(164)이 왼 나사인 경우, 제 2 볼트(160)는 왼나사 볼트일 수 있다. 즉, 도 2에 도시된 화살표 A2와 같이, 제 2 볼트(160)를 시계반대방향으로 회전시키는 것에 의해서, 제 2 볼트(160)를 제 2 체결공(164)에 체결할 수 있다. 제 2 체결공(164)에 체결된 제 2 볼트(160)의 하단은 제 1 볼트(150)의 헤드부(152)에 밀착 결합될 수 있다. 본 실시예에서, 제 2 볼트(160)는 스터드 볼트를 포함할 수 있다. 이러한 스터드 구조의 제 2 볼트(160)는 테스트 소켓(140)의 상부면과 동일 평면 또는 낮게 위치하는 상단을 가질 수 있다.
이와 같이, 테스트 소켓(140)은 제 1 볼트(150)에 의한 1차 고정 및 제 2 볼트(160)에 의한 2차 고정에 의해서 테스트 보드(110), 절연판(120) 및 보강판(130)에 견고하게 고정될 수 있다. 특히, 제 1 볼트(150)와 제 2 볼트(160)의 체결 방향들이 서로 다르므로, 제 1 볼트(150)와 제 2 볼트(160) 사이의 결합력이 강화될 수 있다.
본 실시예에서, 제 1 볼트(150)와 제 2 볼트(160)는 서로 다른 열팽창계수들을 가질 수 있다. 즉, 제 1 볼트(150)와 제 2 볼트(160)는 서로 다른 재질들을 포함할 수 있다. 제 1 볼트(150)와 제 2 볼트(160)는 서로 다른 열팽창계수들을 갖는다는 전제 하에서 특정 물질들로 국한되지 않을 수 있다. 따라서, 피검체를 고온에서 테스트하는 경우, 서로 다른 열팽창계수들을 갖는 제 1 볼트(150)와 제 2 볼트(160) 사이의 결합력이 더욱 강화될 수 있다.
또한, 제 1 볼트(150)와 제 2 볼트(160)는 테스트 소켓(140)와 테스트 보드(110) 간의 결합 및 분리를 매우 용이해지게 할 수 있다. 따라서, 별도의 테스트 보드와 암수 커넥터를 이용하지 않고도 테스트 소켓(140)의 테스트 핀들이 테스트 보드(110)에 정확하게 접촉될 수가 있게 되어, 테스트 신호의 전달 특성이 향상되고 전원의 손실도 줄일 수가 있게 된다.
본 실시예들에 따르면, 제 1 나사선을 갖는 제 1 볼트가 테스트 소켓을 테스트 보드에 결합시키고, 제 1 나사선의 반대인 제 2 나사선을 갖는 제 2 볼트가 테스트 소켓에 체결되어 제 1 볼트의 헤드부에 결합될 수 있다. 이와 같이, 제 1 및 제 2 볼트들의 체결 방향이 서로 반대이므로, 제 1 볼트와 제 2 볼트 간의 결합력이 강화될 수 있다. 또한, 제 1 볼트와 제 2 볼트가 서로 다른 열팽창계수들을 가지므로, 제 1 볼트와 제 2 볼트 간의 결합력이 더욱 향상될 수 있다. 따라서, 외부 진동으로 인한 테스트 소켓과 테스트 보드 간의 분리를 억제시킬 수 있다.
이와 같이, 본 발명이 속하는 기술분야의 당업자는 본 발명이 그 기술적 사상이나 필수적 특징을 변경하지 않고서 다른 구체적인 형태로 실시될 수 있다는 것을 이해할 수 있을 것이다. 그러므로 이상에서 기술한 실시예들은 모든 면에서 예시적인 것이며 한정적인 것이 아닌 것으로서 이해해야만 한다. 본 발명의 범위는 상기 상세한 설명보다는 후술하는 특허청구범위에 의하여 나타내어지며, 특허청구범위의 의미 및 범위 그리고 그 등가개념으로부터 도출되는 모든 변경 또는 변형된 형태가 본 발명의 범위에 포함되는 것으로 해석되어야 한다.
110 ; 테스트 보드 120 ; 절연판
130 ; 보강판 140 ; 테스트 소켓
150 ; 제 1 볼트 152 ; 헤드부
154 ; 제 1 체결공 160 ; 제 2 볼트
164 ; 제 2 체결공

Claims (12)

  1. 번인 테스트 공정에서 테스트 신호가 인가되는 테스트 보드;
    상기 테스트 보드에 피검체와 함께 결합되는 테스트 소켓;
    상기 테스트 소켓을 상기 테스트 보드에 고정시키고, 제 1 나사선을 갖는 적어도 하나의 제 1 볼트; 및
    상기 테스트 소켓에 체결되어 상기 제 1 볼트의 헤드부와 결합되고, 상기 제 1 나사선과 반대인 제 2 나사선을 갖는 적어도 하나의 제 2 볼트를 포함하고,
    상기 제 1 볼트와 상기 제 2 볼트는 서로 다른 열팽창계수들을 갖는 테스트 소켓 모듈.
  2. 제 1 항에 있어서, 상기 제 1 나사선은 오른나사이고, 상기 제 2 나사선은 왼나사인 테스트 소켓 모듈.
  3. 제 1 항에 있어서, 상기 제 1 볼트와 상기 제 2 볼트는 상기 테스트 소켓의 4 모서리들에 삽입된 테스트 소켓 모듈.
  4. 삭제
  5. 제 1 항에 있어서, 상기 테스트 소켓은 상기 테스트 보드의 상부에 결합되는 테스트 소켓 모듈.
  6. 제 5 항에 있어서, 상기 테스트 보드의 하부에 배치된 보강판을 더 포함하는 테스트 소켓 모듈.
  7. 제 6 항에 있어서, 상기 보강판과 상기 테스트 보드 사이에 개재된 절연판을 더 포함하는 테스트 소켓 모듈.
  8. 제 7 항에 있어서, 상기 제 1 볼트는 상기 절연판과 상기 보강판에 체결된 테스트 소켓 모듈.
  9. 삭제
  10. 번인 테스트 공정에서 테스트 신호가 인가되는 테스트 보드;
    상기 테스트 보드의 상부에 피검체와 함께 결합되는 테스트 소켓;
    상기 테스트 보드의 하부면에 배치된 절연판;
    상기 절연판의 하부면에 배치된 보강판;
    상기 테스트 소켓, 상기 절연판 및 상기 보강판에 체결된 오른나사 볼트; 및
    상기 테스트 소켓에 체결되어 상기 오른나사 볼트의 헤드부와 결합되는 왼나사 볼트를 포함하고,
    상기 오른나사 볼트와 상기 왼나사 볼트는 서로 다른 열팽창계수들을 갖는 테스트 소켓 모듈.
  11. 제 10 항에 있어서, 상기 오른나사 볼트와 상기 왼나사 볼트는 상기 테스트 소켓의 4 모서리들에 삽입된 테스트 소켓 모듈.

  12. 삭제
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