TWI805746B - 鍍覆裝置 - Google Patents
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Abstract
本發明提供一種減少終端效應的鍍覆裝置。提供一種鍍覆裝置,這樣的鍍覆裝置具有:基板支架,用於保持作為鍍覆對象的基板;電接點,設置於上述基板支架以使電流流入基板;以及與上述基板支架對置配置的多個陽極,上述多個陽極分別為細長形狀,上述多個陽極分別配置為長邊方向與被保持於上述基板支架的基板的表面平行且上述陽極的每一個陽極的至少一個長邊方向的前端朝向上述基板支架的上述電接點。
Description
本發明涉及鍍覆裝置,特別是涉及電解鍍覆裝置。
以往,進行在設置於半導體晶片等基板的表面的微小的佈線用槽、孔或者抗蝕劑開口部形成佈線,或在基板的表面形成與封裝的電極等電連接的凸塊(突起狀電極)的處理。作為形成該佈線以及凸塊的方法,例如,已知有電解電鍍法、蒸鍍法、印刷法、球形凸塊法等。隨著半導體晶片的I/O數量的增加、窄間距化,多數使用能夠微細化且性能相對穩定的電解電鍍法。
在對半導體晶片等基板實施電解電鍍的情況下,有陽極為與作為鍍覆對象的基板相同的形狀,在電解液中將陽極與基板平行配置的情況。例如,有使用如下的陽極的情況:在鍍覆物件的基板為圓形的情況下,陽極也為相同程度的尺寸的圓形,在鍍覆物件的基板為四邊形的情況下,陽極也為相同程度的尺寸的四邊形。
在利用電解電鍍法形成佈線或者凸塊的情況下,在設置於基板上的佈線用槽、孔或者抗蝕劑開口部的阻擋金屬的表面形成電阻較低的種子層(供電層)。在該種子層的表面生長鍍覆膜。近年來,隨著佈線以及凸塊的微細化,使用更薄膜厚的種子層。若種子層的膜厚變薄,則種子層的電阻(薄層電阻)增加。
一般而言,待鍍覆的基板在其周邊部具有電接點。因此,在基板的中央部流動與鍍覆液的電阻值和從基板的中央部到電接點的種子層的電阻值的合成電阻對應的電流。另一方面,在基板的周邊部(電接點附近),基本上流動與鍍覆液的電阻值對應的電流。即,在基板的中央部,由於從基板的中央部到電接點的種子層的電阻值,電流難以流動。該電流集中在基板的周邊部的現象被稱為終端效應。
基板的種子層的膜厚越薄,從基板的中央部到電接點的種子層的電阻值越大。因此,基板的種子層的膜厚越薄,鍍覆時的終端效應越顯著。其結果,基板的中央部的鍍覆速度降低,基板的中央部的鍍覆膜的膜厚比基板的周邊部的鍍覆膜薄,膜厚的面內均勻性降低。
為了抑制由終端效應引起的膜厚的面內均勻性的降低,需要調節對基板施加的電場。例如,已知有在陽極與基板之間設置有用於調整陽極與基板之間的電位分佈的調整板的鍍覆裝置(參照專利文獻1)。
[先前技術文獻]
[專利文獻]
[專利文獻1]日本特開2017-115171號公報
如上述那樣,在為了減少終端效應,在陽極與基板之間配置調整板的情況下,在陽極與基板之間需要用於配置調整板的空間。另外,一般而言,陽極與基板之間的距離較大的裝置的終端效應的影響會變小。因此,若考
慮在將與作為鍍覆對象的基板相同程度的尺寸的平板狀的陽極與基板平行配置來進行電解鍍覆的情況下減少終端效應,則減小陽極與基板之間的距離具有一定的極限。基板與陽極之間的距離越大,配置它們的鍍槽的容積越大,鍍覆裝置的尺寸增大。另外,若鍍槽增大,則所需的鍍覆液的量也增大,鍍覆裝置的運行成本增大。
本申請的一個目的在於提供一種減少終端效應的鍍覆裝置。另外,本申請的一個目的在於提供一種減小基板與陽極之間的距離並且減少終端效應。
根據一個實施方式,提供一種鍍覆裝置,這樣的鍍覆裝置具有:基板支架,用於保持作為鍍覆對象的基板;電接點,設置於上述基板支架以使電流流入基板;以及與上述基板支架對置配置的多個陽極,上述多個陽極分別為細長形狀,上述多個陽極分別被配置成長邊方向與被保持於上述基板支架的基板的表面平行且上述陽極的每一個陽極的至少一個長邊方向的前端朝向上述基板支架的上述電接點。
11:基板支架
13:臂部
14:基座
15:連接器部
17:電接點
60:陽極夾
61:陽極夾主體
62:陽極
62a:恒定寬度部
62b:錐形部
63:臂部
64:調節板
65:連接器部
66:基座
67:佈線
69:噴嘴
100:鍍覆裝置
138:溢流槽
139:鍍槽
144:電源
145:槳葉
S1:基板
Q:鍍覆液
圖1表示一個實施方式的鍍覆裝置的整體配置的俯視圖。
圖2表示圖1所示的鍍覆處理部的鍍槽以及溢流槽的縱剖主視圖。
圖3表示一個實施方式的基板支架的俯視圖。
圖4表示圖2所示的陽極夾的俯視圖。
圖5表示圖4所示的陽極夾的立體圖。
圖6表示一個實施方式單獨陽極的立體圖。
圖7表示放大圖6所示的陽極的前端附近的立體圖。
圖8表示能夠用於一個實施方式的鍍覆裝置的基板支架的俯視圖。
圖9表示能夠與圖8所示的基板支架一起使用的陽極夾的俯視圖。
圖10表示一個實施方式的陽極夾的立體圖。
以下,基於附圖對本發明的鍍覆裝置的實施方式進行說明。在附圖中,有對於相同或者類似的要素標注相同或者類似的附圖標記,並在各實施方式的說明中省略有關相同或者類似的要素的重複的說明的情況。另外,在各實施方式中所示的特徵只要相互不矛盾也能夠應用於其他實施方式。
圖1表示一個實施方式的鍍覆裝置100的整體的配置的俯視圖。此外,如後所述,鍍覆裝置100可以構成為對方形的基板進行鍍覆處理,另外,也可以構成為對圓形的基板進行鍍覆處理。如圖1所示,該鍍覆裝置100大致分為將基板裝載至基板支架或者從基板支架卸載基板的裝載/卸載部101、對基板進行處理的處理部102以及清洗部120。處理部102還包含進行基板的前處理以及後處理的前處理/後處理部102A、以及對基板進行鍍覆處理的鍍覆處理部102B。鍍覆裝置100的裝載/卸載部101、處理部102以及清洗部120分別被各自的框架(殼體)圍起。
裝載/卸載部101具有2台的盒工作臺125以及基板裝卸機構129。盒工作臺125搭載收納有基板的盒125a。基板裝卸機構129構成為將基板裝卸於未圖示的基板支架。另外,在基板裝卸機構129的附近(例如下方)
設置用於收容基板支架的儲料器130。在這些單元125、129、130的中央,配置有在這些單元間搬運基板的搬運用機器人所構成的基板搬運裝置127。基板搬運裝置127構成為能夠通過行駛機構128行駛。
清洗部120具有清洗鍍覆處理後的基板並使其乾燥的清洗裝置120a。基板搬運裝置127構成為將鍍覆處理後的基板搬運至清洗裝置120a,並將清洗以及乾燥後的基板從清洗裝置120a中取出。
前處理/後處理部102A具有預濕槽132、預浸槽133、預沖洗槽134、鼓風槽135以及沖洗槽136。在預濕槽132中,基板被浸入純水中。在預浸槽133中,蝕刻除去形成於基板的表面的種子層等導電層的表面的氧化膜。在預沖洗槽134中,利用清洗液(純水等)將預浸泡後的基板與基板支架一起進行清洗。在鼓風槽135中,進行清洗後的基板的脫液。在沖洗槽136中,利用清洗液將鍍覆後的基板與基板支架一起進行清洗。預濕槽132、預浸槽133、預沖洗槽134、鼓風槽135、沖洗槽136以該順序被依次配置。
鍍覆處理部102B具有多個鍍槽139,該鍍槽139具備溢流槽138。各鍍槽139在內部收納一個基板,使基板浸入內部所保持的鍍覆液中來對基板的表面進行鍍銅等鍍覆。在這裡,對於鍍覆液的種類並不特別限定,可根據用途使用各種鍍覆液。
鍍覆裝置100位於這些各設備的側方,在這些各設備之間具有連通基板一起搬運基板支架的例如採用直線電機方式的基板支架搬運裝置137。該基板支架搬運裝置137構成為在基板裝卸機構129、預濕槽132、預浸槽133、預沖洗槽134、鼓風槽135、沖洗槽136以及鍍槽139之間搬運基板支架。
圖2表示圖1所示的鍍覆處理部102B的鍍槽139以及溢流槽
138的縱剖主視圖。如圖2所示,鍍槽139在內部保持鍍覆液Q。溢流槽138設置於鍍槽139的外周,以接收從鍍槽139的邊緣溢出的鍍覆液Q。具備泵P的鍍覆液供給路徑140的一端連接於溢流槽138的底部。鍍覆液供給路徑140的另一端連接於設置於鍍槽139的底部的鍍覆液供給口143。由此,積存於溢流槽138內的鍍覆液Q隨著泵P的驅動而返回到鍍槽139內。在鍍覆液供給路徑140中,在泵P的下游側設置有調節鍍覆液Q的溫度的恒溫單元141以及除去鍍覆液內的異物的篩檢程式142。
在鍍槽139中,收納保持有基板S1的基板支架11。基板支架11配置於鍍槽139內,以使基板S1以垂直狀態浸入鍍覆液Q。在鍍槽139內的與基板S1對置的位置,配置有被保持於陽極夾60的陽極62。有關本實施方式中的陽極62的詳細結構以及配置會在之後敘述,多個細長的形狀的陽極62被配置於陽極夾60。在陽極夾60的前面側(與基板S1對置的一側),安裝有向基板S1的方向突出的調節板64。調節板64設置為包圍多個陽極62的整體的周圍。調節板64由電介質材料形成。調節板64調整陽極62與基板S1之間的電場的方向。調節板64可以固定於陽極夾60,也可以構成為通過螺釘等安裝部件可簡易地裝卸。基板S1和陽極62經由鍍覆電源144電連接,在基板S1與陽極62之間流動電流,從而在基板S1的表面形成鍍覆膜(例如銅膜)。
在基板S1與陽極62之間,配置與基板S1的表面平行地往復移動來攪拌鍍覆液Q的槳葉145。通過利用槳葉145攪拌鍍覆液Q,能夠向基板S1的表面均勻地供給充分的銅離子。
圖3表示基板支架11的俯視圖。圖3的基板支架11構成為保持方形的基板。如圖3所示,基板支架11例如具有由氯乙烯製成且為平板狀
的基板支架主體12以及與基板支架主體12連結的臂部13。臂部13具有一對基座14,通過在圖1所示的各處理槽的周壁上表面設置基座14,基板支架11被垂直地懸掛支承。另外,在臂部13設置有連接器部15,該連接器部15構成為在鍍槽139的周壁上表面設置有基座14時,與設置於鍍槽139的電接點接觸。由此,基板支架11與圖2所示的鍍覆電源144電連接,對保持於基板支架11的基板S1施加電壓及電流。
基板支架11以圖3所示的方形基板S1的待鍍覆面露出的方式保持方形基板S1。換言之,基板支架11具有邊緣部16,該邊緣部16形成用於使所保持的方形基板S1露出的方形開口。基板支架11具有與方形基板S1的表面接觸的電接點17(在圖3中用虛線表示)。在圖示的實施方式中,在基板支架11保持有方形基板S1時,該電接點17沿著方形基板S1的對置的二邊與方形基板S1的表面接觸。此外,方形基板S1的形狀為正方形或者長方形。長方形的方形基板的情況下,電接點17構成為與長方形的角型基板的長邊或者短邊的任意的對置的二邊接觸。在圖3的實施方式中,電接點17構成為與方形基板S1的長邊接觸。基板支架11的電接點17通過佈線19與連接器部15連接。
圖4是與圖3所示的方形的基板用的基板支架11一起使用的陽極夾60的俯視圖。如圖4所示,陽極夾60具有平板狀的陽極夾主體61以及與陽極夾主體61連結的臂部63。臂部63具有一對基座66,通過在圖1所示的鍍槽139的周壁上表面設置基座66,陽極夾60被垂直地懸掛支承。
圖5是圖4所示的陽極夾60的立體圖。其中,在圖5中,為了圖示的簡明,僅顯示出了陽極夾60的陽極夾主體61、陽極62以及調節板64,
省略了臂部63等。如圖示,在陽極夾主體61平行地配置有多個細長的形狀的陽極62。在圖示的實施方式中,多個陽極62以等間隔配置。陽極62的數量是任意的。也可以根據作為鍍覆物件的方形基板S1的形狀等,變更陽極62的數量、配置。在圖示的實施方式的陽極夾60中,調節板64被設置為從平板狀的陽極夾主體61的表面突出。調節板64是較薄的壁狀的電介質(絕緣體)的部件,並構成為包圍多個陽極62的整體。換言之,在壁狀的調節板64所包圍的區域的內部配置有陽極62。此外,被調節板64圍起的區域的面積與作為鍍覆對象的基板S1的面積幾乎相同。如圖2所示,調節板64配置為在與基板支架11一起配置於鍍槽139內時,從陽極夾主體61向基板S1的方向突出。在圖示的實施方式中,調節板64的與陽極夾主體61的平面垂直的方向(圖5的z方向)的高度構成為比陽極62的高度H高。調節板64用於調整陽極62與基板S1之間的電場的方向。關於調節板64,若不需要也可以沒有。在一個實施方式中,也可以將調節板64與陽極夾60以及基板支架11獨立地設置於陽極夾60以及基板支架11之間。
在圖示的實施方式中,多個陽極62為細長的形狀,長邊方向相互平行地配置於陽極夾主體61。另外,在將陽極夾60以及基板支架11配置於鍍槽139的狀態下,陽極62的長邊方向與基板S1的表面平行。圖6表示一個實施方式單獨陽極62的立體圖。如圖示,陽極62具備具有恒定的寬度W的恒定寬度部62a以及寬度W朝向前端變小的錐形部62b。在圖4~圖6的實施方式中,在恒定寬度部62a的兩方的端部設置有錐形部62b,構成為陽極62的兩端部的尖端變細。在圖示的實施方式中,在以與長邊方向相垂直的平面切割陽極62的情況下,剖面大致為長方形。此外,長方形包含正方形。另外,
陽極62的剖面的長方形的角部也可以磨圓地形成。在其它實施方式中,剖面形狀也可以不是長方形,例如也可以使用剖面形狀為橢圓形或者圓形的陽極。陽極62的寬度W是與長邊方向以及高度方向正交的方向的尺寸。此外,在圖5中,陽極62的寬度W為x方向的尺寸,高度H為z方向的尺寸,長度L表示為y方向的尺寸。在將陽極夾60以及基板支架11配置於鍍槽139的狀態下,陽極62的長邊方向的前端被配置為朝向基板支架11的電接點17的方向。在一個實施方式中,如圖3所示,電接點17也沿著方形基板S1的長邊的方式配置,陽極62的長邊方向與方形基板S1的短邊平行地配置。換言之,基板支架11的電接點17的長邊方向與陽極62的長邊方向垂直。此外,在圖示的實施方式中,陽極62的長度L比方形基板S1的短邊短。在一個實施方式中,陽極62的恒定寬度部62a和錐形部62b也可以形成為一體的部件。另外,在一個實施方式中,陽極62的恒定寬度部62a和錐形部62b也可以在形成為分立的部件之後,再相互結合。通過形成尺寸不同的多個恒定寬度部62a以及尺寸不同的多個錐形部62b並組合,能夠作為整體簡單地形成各種尺寸的陽極62。例如,通過形成長度不同的多個恒定寬度部62a以及錐形部62b,能夠使用與作為鍍覆物件的方形基板S1的尺寸相應的尺寸的陽極62。
陽極62能夠根據鍍覆處理的目的由各種材料形成。在一個實施方式中,陽極62能夠為不溶解性的陽極。在一個實施方式中,陽極62能夠由含有鈦以及白金的合金、或者含有鈦以及氧化銥的合金來形成。在一個實施方式中,陽極62能夠形成為實心的部件。另外,在一個實施方式中,陽極62也可以貼合較薄的金屬性的板來形成,並形成為中空。陽極62也可以是以不改變x方向以及y方向的尺寸的方式對表面實施塗層而成的含磷銅等溶解性的陽
極。
圖7表示放大圖6所示的陽極62的前端附近的立體圖。陽極62的尺寸能夠為任意的尺寸。在一個實施方式中,對於陽極62的各尺寸而言,將陽極62的高度設為H、將恒定寬度部62a的寬度設為W2、將錐形部62b的前端的寬度設為W1時,滿足W1<W2<H的條件。另外,在一個實施方式中,對於陽極62的各尺寸而言,滿足如下條件:2×W1<W210×W1,以及10×W1<H30×W1。另外,在一個實施方式中,W1能夠為1mm以上。這些條件是為了對基板均勻地鍍覆並且減小陽極與基板之間的距離而優選的條件。
如圖4所示,在臂部63設置連接器部65,該連接器部65構成為在將基座66設置於鍍槽139的周壁上表面時,與設置於鍍槽139的電接點接觸。如圖4所示,各陽極62通過佈線67與連接器部65連接。由此,陽極夾60與圖2所示的鍍覆電源144電連接,而對陽極62施加電壓/電流。如圖4所示,各陽極62在長邊方向的中心與佈線67連接。在一個實施方式中,能夠構成為各陽極62電並聯配置,並從相同的電源144對各陽極62賦予相同的電位。在一個實施方式中,能夠構成為在多個陽極62的全部、或一部分中,賦予相互獨立的不同的電位。例如,在圖4所示的陽極62的配置中,也可以構成為能夠與對其它陽極62賦予的電位獨立地控制對配置於上下方向的端部的2個陽極62賦予的電位。通過這樣的配置,能夠與在基板的中央部分流動的電流相獨立地控制容易產生鍍覆的膜厚的變化的基板S1的端部附近的電流。
在如上述的使用多個細長的陽極62的鍍覆裝置的實施方式中,根據所使用的陽極62形狀、數量、配置,形成於陽極62與基板S1之間的電場的方向以及大小不同。因此,能夠根據所使用的陽極62的形狀、數量、配
置,調整形成於陽極62與基板S1之間的電場的方向以及大小。特別是,通過配置為前端較細的陽極62的前端朝向基板S1的電接點17,能夠減少終端效應的影響。如上所述,作為鍍覆對象的基板的電接點的附近的電流比基板的中央部大。通過配置為前端較細的陽極62的前端朝向基板S1的電接點17,在從陽極62觀察基板S1的情況下,朝向基板S1上的陽極62的投影面積在陽極62的前端附近,即基板S1的電接點的附近變小。因此,與未較細地形成前端而使用恒定的寬度的陽極的情況相比,能夠減小在基板S1的電接點的附近流動的電流,其結果為能夠抵消終端效應的影響。另外,在上述的實施方式中,由於能夠根據陽極62的形狀,減小終端效應的影響,所以與以往相比能夠減小陽極與基板S1之間的距離。通過減小陽極與基板S1之間的距離,能夠減小鍍槽,並能夠使所需的鍍覆液的量比以往。另外,在上述的實施方式中,由於能夠根據陽極62的形狀,減小終端效應的影響,所以也可以不像以往那樣,在陽極與基板之間配置調整板。但是,本申請發明並未排除調整板的使用。
在上述的實施方式中,對方形基板S1實施鍍覆處理的基板支架11以及陽極62的鍍覆裝置進行說明,但具備相同或者類似的特徵的陽極也能夠應用於用於對圓形基板實施鍍覆處理的鍍覆裝置。
圖8是能夠用於一個實施方式的鍍覆裝置(例如,圖1、圖2所示的鍍覆裝置)的基板支架11的俯視圖。圖8所示的基板支架11與圖3所示的基板支架11不同,構成為保持圓形的基板S1。基板支架11具有邊緣部16,該邊緣部16形成用於使所保持的圓形基板S1露出的圓形開口。圖8所示的基板支架11設置有與圓形基板S1的外周部的表面接觸的電接點17。在圖8所示的基板支架11中,電接點17被設置為與圓形基板S1的外周的整體接觸,
但也可以構成為電接點17僅與圓形基板S1的外周的一部分接觸。圖8所示的基板支架11除了是保持圓形基板S1的結構以及電接點17的配置根據圓形基板S1而不同以外,與對圖3所示的保持方形基板S1的基板支架11進行說明的結構為相同的結構。
圖9表示能夠與圖8所示的基板支架11一起使用的陽極夾60的俯視圖。圖9所示的陽極夾60與圖4所示的陽極夾60相同,具有平板狀的陽極夾主體61以及與陽極夾主體61連結的臂部63。臂部63具有一對基座66,通過在圖1所示的鍍槽139的周壁上表面設置基座66,陽極夾60被垂直地懸掛支承。在圖9的陽極夾60中,調節板64被設置為從平板狀的陽極夾主體61的表面突出。調節板64是較薄的壁狀的電介質(絕緣體)的部件,整體形成為環狀。環狀的調節板64的內側的面積與作為鍍覆對象的圓形基板S1的面積幾乎相同。在環狀的調節板64的內側的區域配置有多個陽極62。
在圖9所示的實施方式中配置為多個陽極62為細長的形狀且長邊方向從被環狀的調節板64圍起的圓形的區域的中心附近朝向外側。另外,在鍍槽139配置有陽極夾60以及基板支架11的狀態下,陽極62的長邊方向與基板S1的表面平行。圖9所示的陽極62具備具有恒定的寬度W的恒定寬度部62a和寬度W朝向前端變小的錐形部62b。圖9所示的陽極62僅在恒定寬度部62a的一個端部設置有錐形部62b。在鍍槽139中配置有圖9的陽極夾60以及圖8的基板支架11的狀態下,陽極62的錐形部62b的前端被配置為朝向基板支架11的電接點17的方向。如圖8所示,電接點17沿著圓形基板S1的外周而配置,陽極62的長邊方向朝向圓形基板S1的外周配置。換言之,圖8的基板支架11的電接點17與圖9的陽極62的長邊方向垂直。此外,在
圖示的實施方式中,陽極62的長度L比圓形基板S1的半徑短。
如圖9所示,在臂部63設置連接器部65,該連接器部65構成為在鍍槽139的周壁上表面設置有基座66時,與設置於鍍槽139的電接點接觸。如圖9所示,連接器部65和各陽極62通過佈線67連接。由此,陽極夾60與圖2所示的鍍覆電源144電連接,對陽極62施加電壓/電流。如圖9所示,各陽極62在陽極62的恒定寬度部62a的端部與佈線67連接。在一個實施方式中,能夠構成為各陽極62電並聯配置,從相同的電源144對各陽極62賦予相同的電位。在一個實施方式中,能夠構成為在多個陽極62的全部或一部分中,賦予相互獨立的不同的電位。在圖9所示的陽極夾60中,其它部分也可以採用基於圖4~圖7說明的陽極夾60以及陽極62的特徵。
基於圖8以及圖9說明的用於對圓形基板S1進行鍍覆處理的基板支架11以及陽極62也起到與用於對方形基板S1進行鍍覆處理的基板支架11以及陽極62相同的效果。
圖10是一個實施方式的陽極夾60的立體圖。其中,在圖10中,與圖5相同,為了圖示的簡明,僅表示出陽極夾60的陽極夾主體61、陽極62以及調節板64,省略了臂部63等。如圖所示,圖10所示的陽極夾60在陽極夾主體61平行地配置有多個細長的形狀的陽極62。在圖示的實施方式中,多個陽極62以等間隔配置。陽極62的數量是任意的。如圖10所示的陽極夾60,在平行配置的陽極62之間的區域配置噴嘴69。噴嘴69構成為與鍍覆液的供給源連接,將鍍覆液排出至鍍槽139內。例如,噴嘴69也可以構成為排出處於圖2所示的溢流槽138的鍍覆液,也可以構成為供給新的鍍覆液。圖10所示的陽極夾60除了設置有噴嘴69以外也可以具備與基於圖5說明的陽極夾
60相同的特徵,另外,也可以具備不同的任意的特徵。
由於圖10所示的實施方式的陽極夾60具備排出鍍覆液的噴嘴69,所以在鍍覆處理中從噴嘴69排出鍍覆液,從而能夠攪拌鍍槽139內的鍍覆液。在一個實施方式中,通過使用圖10所示的陽極夾60,能夠省略圖2所示的攪拌鍍覆液Q的槳葉145。如上述那樣,在通過本說明書公開的具備陽極62的鍍覆裝置中,能夠減小陽極與基板之間的距離,通過省略槳葉145,能夠進一步減小陽極與基板之間的距離。但是,也可以使用圖10所示的陽極夾60和圖2所示的槳葉145雙方。此外,圖10表示出在對方形基板進行鍍覆時所使用的保持陽極的陽極夾,但也可以為設置在對圓形基板鍍覆時的保持陽極的陽極夾。例如,在圖9所示的陽極夾60中,能夠在所配置的多個陽極62之間的空間或者任意的場所設置排出鍍覆液的噴嘴69。
根據上述的實施方式至少能夠把握以下的技術思想。
〔方式1〕根據方式1,提供一種鍍覆裝置,這樣的鍍覆裝置具有:基板支架,用於保持作為鍍覆對象的基板;電接點,設置於上述基板支架以使電流流入基板;以及與上述基板支架對置配置的多個陽極,上述多個陽極分別為細長形狀,上述多個陽極分別被配置為長邊方向與被保持於上述基板支架的基板的表面平行且上述陽極的每一個陽極的至少一個長邊方向的前端朝向上述基板支架的上述電接點。
〔方式2〕根據方式2,在方式1的鍍覆裝置中,上述多個陽極的分別形成為在長邊方向的前端附近比其它部分細。
〔方式3〕根據方式3,在方式2的鍍覆裝置中,上述多個陽極分別具備越朝向前端則寬度越小的錐形部和具有恒定的寬度的恒定寬度部,上
述錐形部構成為能夠相對於上述恒定寬度部裝卸。
〔方式4〕根據方式4,在方式1~方式3中的任意一個方式的鍍覆裝置中,在以與長邊方向正交的平面切割上述多個陽極的每一個的情況下,剖面為大致長方形。
〔方式5〕根據方式5,在方式1~方式4中的任意一個方式的鍍覆裝置中,上述基板支架構成為保持四邊形的基板,上述電接點構成為與四邊形的基板的對置的2個邊接觸,在從上述陽極側觀察基板的情況下,上述多個陽極配置為上述陽極的長邊方向與上述電接點所接觸的2個邊垂直。
〔方式6〕根據方式6,在方式1~方式4中的任意一個方式的鍍覆裝置中,上述基板支架構成為保持圓形的基板,上述電接點構成為與圓形的基板的外周部接觸,在從上述陽極側觀察基板的情況下,上述多個陽極配置為上述陽極的長邊方向的前端朝向上述電接點所接觸的外周部。
〔方式7〕根據方式7,在方式1~方式6中的任意一個方式的鍍覆裝置中,在上述多個陽極的每一個中,在將與垂直於基板的表面的方向相平行的尺寸設為高度H,將與長邊方向以及高度方向垂直的方向的尺寸設為寬度W時,上述陽極具備越朝向前端寬度W越小的錐形部和具有恒定的寬度W2的恒定寬度部,上述錐形部和上述恒定寬度部具備相同的高度H,在將錐形部的前端的寬度設為W1時,滿足W1<W2<H的條件。
〔方式8〕根據方式8,在方式1~方式6中的任意一個方式的鍍覆裝置中,在上述多個陽極的每一個中,在將與垂直於基板的表面的方向相平行的尺寸設為高度H,將與長邊方向以及高度方向垂直的方向的尺寸設為寬度W時,上述陽極具備越朝向前端則寬度W越小的錐形部和具有恒定的寬度
W2的恒定寬度部,上述錐形部和上述恒定寬度部具備相同的高度H,在將錐形部的前端的寬度設為W1時,滿足如下條件:2×W1<W210×W1,以及10×W1<H30×W1。
〔方式9〕根據方式9,在方式1~方式8中的任意一個方式的鍍覆裝置中,上述多個陽極分別是不溶解性的陽極並且包含含有鈦以及白金的合金、或者含有鈦以及氧化銥的合金。
〔方式10〕根據方式10,在方式1~方式9中的任意一個方式的鍍覆裝置中,具有陽極夾,上述陽極夾構成為保持上述多個陽極,上述陽極夾具有用於噴出鍍覆液的噴嘴。
60:陽極夾
61:陽極夾主體
62:陽極
63:臂部
64:調節板
65:連接器部
66:基座
67:佈線
Claims (9)
- 一種鍍覆裝置,具有:基板支架,用於保持作為鍍覆對象的基板;電接點,設置於上述基板支架以使電流流入基板;以及與上述基板支架對置配置的多個陽極,上述多個陽極分別為細長形狀,上述多個陽極分別被配置成長邊方向與被保持於上述基板支架的基板的表面平行且上述陽極的每一個陽極的至少一個長邊方向的前端朝向上述基板支架的上述電接點;上述基板支架構成為保持四邊形的基板,上述電接點構成為與四邊形的基板的對置的2個邊接觸;在從上述陽極側觀察基板的情況下,上述多個陽極配置為上述陽極的長邊方向與上述電接點所接觸的2個邊垂直。
- 一種鍍覆裝置,具有:基板支架,用於保持作為鍍覆對象的基板;電接點,設置於上述基板支架以使電流流入基板;以及與上述基板支架對置配置的多個陽極,上述多個陽極分別為細長形狀,上述多個陽極分別被配置成長邊方向與被保持於上述基板支架的基板的表面平行且上述陽極的每一個陽極的至少一個長邊方向的前端朝向上述基板支架的上述電接點;上述基板支架構成為保持圓形的基板,上述電接點構成為與圓形的基板的外周部接觸;在從上述陽極側觀察基板的情況下,上述多個陽極配置為上述陽極的長邊方向的前端朝向上述電接點所接觸的外周部。
- 根據申請專利範圍第1項或第2項所述的鍍覆裝置,其中:上述多個陽極分別形成為在長邊方向的前端附近比其它部分細。
- 根據申請專利範圍第3項所述的鍍覆裝置,其中:上述多個陽極分別具備越朝向前端則寬度越小的錐形部和具有恒定的寬度的恒定寬度部,上述錐形部構成為能夠相對於上述恒定寬度部裝卸。
- 根據申請專利範圍第1項或第2項所述的鍍覆裝置,其中:在與長邊方向正交的平面切割上述多個陽極的每一個的情況下,剖面大致為長方形。
- 根據申請專利範圍第1項或第2項所述的鍍覆裝置,其中:在上述多個陽極的每一個中,在將與垂直於基板的表面的方向平行的尺寸設為高度H,將與長邊方向以及高度方向垂直的方向的尺寸設為寬度W時,上述陽極具備越朝向前端則寬度W越小的錐形部、和具有恒定的寬度W2的恒定寬度部,上述錐形部和上述恒定寬度部具備相同的高度H,在將錐形部的前端的寬度設為W1時,滿足如下條件:W1<W2<H。
- 根據申請專利範圍第1項或第2項所述的鍍覆裝置,其中:上述多個陽極分別是不溶解性的陽極且包含含有鈦以及白金的合金或者含有鈦以及氧化銥的合金。
- 根據申請專利範圍第1項或第2項所述的鍍覆裝置,其中:具有陽極夾,上述陽極夾構成為保持上述多個陽極;上述陽極夾具有用於噴出鍍覆液的噴嘴。
Applications Claiming Priority (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2018-089347 | 2018-05-07 | ||
JP2018089347A JP6993288B2 (ja) | 2018-05-07 | 2018-05-07 | めっき装置 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
TW201947686A TW201947686A (zh) | 2019-12-16 |
TWI805746B true TWI805746B (zh) | 2023-06-21 |
Family
ID=68383787
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
TW108114289A TWI805746B (zh) | 2018-05-07 | 2019-04-24 | 鍍覆裝置 |
Country Status (5)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US10982348B2 (zh) |
JP (1) | JP6993288B2 (zh) |
KR (1) | KR20190128114A (zh) |
CN (1) | CN110453272A (zh) |
TW (1) | TWI805746B (zh) |
Families Citing this family (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
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JP6226229B2 (ja) | 2013-08-19 | 2017-11-08 | 株式会社山本鍍金試験器 | めっき装置及びこれを用いたセンサ装置 |
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JP7182911B2 (ja) * | 2018-06-21 | 2022-12-05 | 株式会社荏原製作所 | めっき装置、及びめっき方法 |
-
2018
- 2018-05-07 JP JP2018089347A patent/JP6993288B2/ja active Active
-
2019
- 2019-04-24 TW TW108114289A patent/TWI805746B/zh active
- 2019-04-24 US US16/393,381 patent/US10982348B2/en active Active
- 2019-04-26 CN CN201910343909.XA patent/CN110453272A/zh active Pending
- 2019-05-03 KR KR1020190052005A patent/KR20190128114A/ko active IP Right Grant
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Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP2019196505A (ja) | 2019-11-14 |
KR20190128114A (ko) | 2019-11-15 |
JP6993288B2 (ja) | 2022-01-13 |
CN110453272A (zh) | 2019-11-15 |
US10982348B2 (en) | 2021-04-20 |
US20190338438A1 (en) | 2019-11-07 |
TW201947686A (zh) | 2019-12-16 |
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