TWI781200B - 用於高功率光纖照明源之光譜濾波器 - Google Patents

用於高功率光纖照明源之光譜濾波器 Download PDF

Info

Publication number
TWI781200B
TWI781200B TW107125977A TW107125977A TWI781200B TW I781200 B TWI781200 B TW I781200B TW 107125977 A TW107125977 A TW 107125977A TW 107125977 A TW107125977 A TW 107125977A TW I781200 B TWI781200 B TW I781200B
Authority
TW
Taiwan
Prior art keywords
spectrum
optical fiber
concave surface
filtered
spectral filter
Prior art date
Application number
TW107125977A
Other languages
English (en)
Other versions
TW201918734A (zh
Inventor
安卓 V 希爾
歐哈德 貝洽爾
艾維 亞伯瑞穆
阿農 馬那森
Original Assignee
美商克萊譚克公司
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by 美商克萊譚克公司 filed Critical 美商克萊譚克公司
Publication of TW201918734A publication Critical patent/TW201918734A/zh
Application granted granted Critical
Publication of TWI781200B publication Critical patent/TWI781200B/zh

Links

Images

Classifications

    • GPHYSICS
    • G02OPTICS
    • G02BOPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
    • G02B5/00Optical elements other than lenses
    • G02B5/20Filters
    • G02B5/204Filters in which spectral selection is performed by means of a conductive grid or array, e.g. frequency selective surfaces
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01JMEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
    • G01J1/00Photometry, e.g. photographic exposure meter
    • G01J1/02Details
    • G01J1/04Optical or mechanical part supplementary adjustable parts
    • G01J1/0407Optical elements not provided otherwise, e.g. manifolds, windows, holograms, gratings
    • G01J1/0451Optical elements not provided otherwise, e.g. manifolds, windows, holograms, gratings using means for illuminating a slit efficiently, e.g. entrance slit of a photometer or entrance face of fiber
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01JMEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
    • G01J1/00Photometry, e.g. photographic exposure meter
    • G01J1/02Details
    • G01J1/04Optical or mechanical part supplementary adjustable parts
    • G01J1/0488Optical or mechanical part supplementary adjustable parts with spectral filtering
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01JMEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
    • G01J1/00Photometry, e.g. photographic exposure meter
    • G01J1/02Details
    • G01J1/08Arrangements of light sources specially adapted for photometry standard sources, also using luminescent or radioactive material
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01JMEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
    • G01J3/00Spectrometry; Spectrophotometry; Monochromators; Measuring colours
    • G01J3/02Details
    • G01J3/0205Optical elements not provided otherwise, e.g. optical manifolds, diffusers, windows
    • G01J3/0208Optical elements not provided otherwise, e.g. optical manifolds, diffusers, windows using focussing or collimating elements, e.g. lenses or mirrors; performing aberration correction
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01JMEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
    • G01J3/00Spectrometry; Spectrophotometry; Monochromators; Measuring colours
    • G01J3/02Details
    • G01J3/0205Optical elements not provided otherwise, e.g. optical manifolds, diffusers, windows
    • G01J3/0218Optical elements not provided otherwise, e.g. optical manifolds, diffusers, windows using optical fibers
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01JMEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
    • G01J3/00Spectrometry; Spectrophotometry; Monochromators; Measuring colours
    • G01J3/02Details
    • G01J3/0205Optical elements not provided otherwise, e.g. optical manifolds, diffusers, windows
    • G01J3/024Optical elements not provided otherwise, e.g. optical manifolds, diffusers, windows using means for illuminating a slit efficiently (e.g. entrance slit of a spectrometer or entrance face of fiber)
    • GPHYSICS
    • G02OPTICS
    • G02BOPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
    • G02B5/00Optical elements other than lenses
    • G02B5/20Filters
    • G02B5/208Filters for use with infrared or ultraviolet radiation, e.g. for separating visible light from infrared and/or ultraviolet radiation
    • GPHYSICS
    • G02OPTICS
    • G02BOPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
    • G02B5/00Optical elements other than lenses
    • G02B5/20Filters
    • G02B5/26Reflecting filters
    • GPHYSICS
    • G02OPTICS
    • G02BOPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
    • G02B5/00Optical elements other than lenses
    • G02B5/20Filters
    • G02B5/28Interference filters
    • G02B5/281Interference filters designed for the infrared light
    • G02B5/282Interference filters designed for the infrared light reflecting for infrared and transparent for visible light, e.g. heat reflectors, laser protection
    • GPHYSICS
    • G02OPTICS
    • G02BOPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
    • G02B5/00Optical elements other than lenses
    • G02B5/20Filters
    • G02B5/28Interference filters
    • G02B5/285Interference filters comprising deposited thin solid films
    • GPHYSICS
    • G02OPTICS
    • G02BOPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
    • G02B6/00Light guides; Structural details of arrangements comprising light guides and other optical elements, e.g. couplings
    • G02B6/0001Light guides; Structural details of arrangements comprising light guides and other optical elements, e.g. couplings specially adapted for lighting devices or systems
    • G02B6/0005Light guides; Structural details of arrangements comprising light guides and other optical elements, e.g. couplings specially adapted for lighting devices or systems the light guides being of the fibre type
    • G02B6/0008Light guides; Structural details of arrangements comprising light guides and other optical elements, e.g. couplings specially adapted for lighting devices or systems the light guides being of the fibre type the light being emitted at the end of the fibre
    • GPHYSICS
    • G02OPTICS
    • G02BOPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
    • G02B6/00Light guides; Structural details of arrangements comprising light guides and other optical elements, e.g. couplings
    • G02B6/24Coupling light guides
    • G02B6/26Optical coupling means
    • G02B6/28Optical coupling means having data bus means, i.e. plural waveguides interconnected and providing an inherently bidirectional system by mixing and splitting signals
    • G02B6/293Optical coupling means having data bus means, i.e. plural waveguides interconnected and providing an inherently bidirectional system by mixing and splitting signals with wavelength selective means
    • G02B6/29346Optical coupling means having data bus means, i.e. plural waveguides interconnected and providing an inherently bidirectional system by mixing and splitting signals with wavelength selective means operating by wave or beam interference
    • G02B6/29361Interference filters, e.g. multilayer coatings, thin film filters, dichroic splitters or mirrors based on multilayers, WDM filters
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01JMEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
    • G01J3/00Spectrometry; Spectrophotometry; Monochromators; Measuring colours
    • G01J3/12Generating the spectrum; Monochromators
    • G01J2003/1213Filters in general, e.g. dichroic, band

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Spectroscopy & Molecular Physics (AREA)
  • Optics & Photonics (AREA)
  • Health & Medical Sciences (AREA)
  • Toxicology (AREA)
  • Optical Couplings Of Light Guides (AREA)
  • Optical Filters (AREA)
  • Spinning Methods And Devices For Manufacturing Artificial Fibers (AREA)
  • Endoscopes (AREA)
  • Multicomponent Fibers (AREA)

Abstract

本發明揭示一種光譜濾波器,其包含一彎曲濾波元件,該彎曲濾波元件包含形成一球體之一部分之一凹面。該凹面可經定位以接收自經定位於接近對應於該凹面之該球體之一中心之一第一位置處之一光纖之一輸出面所發散的光。該凹面可透射該光之一光譜之一第一部分。該凹面可進一步將該光譜之一第二部分反射且聚焦至接近該球體之該中心之一第二位置。該光譜濾波器可進一步包含用以引導該光譜之該第二部分遠離該光纖之該輸出面之一集光器。

Description

用於高功率光纖照明源之光譜濾波器
本申請案大體上係關於光譜濾波器之領域且更特定言之,係關於用於高功率寬頻光纖雷射之光譜濾波器之領域。
高功率寬頻照明源可跨廣泛範圍之波長提供高光譜功率。然而,由一寬頻照明源發射之一些波長對於一特定應用可係非所要或損害性的。例如,高功率紅外照明可由光學元件或光學膠合劑吸收,從而導致劣化及損害。此外,基於高功率光纖之照明源(諸如(但不限於)超連續譜雷射)可歸因於出射一光纖之輸出面之光之高發散角而提出關於光譜濾波之特定挑戰。例如,垂直於一發散光束放置之平面光譜濾波器可將不需要的波長重新導引返回至光纖之輸出面,潛在地加熱光纖且導致失真或損害。與一發散光束成一角度放置一平面光譜濾波器可藉由將像差(例如,色像差、像散及類似者)引入至反射光或透射光而不利地影響光束品質且因此影響光束亮度。此外,此一組態可非所要地增加光纖輸出面與一準直透鏡之間之分離距離且因此可非所要地增加準直光束大小且因此增加後續光學組件之所需大小。因此,可期望解決上文識別之缺點之一系統及方法。
根據本發明之一或多項闡釋性實施例,揭示一種光譜濾波器。在一項闡釋性實施例中,該光譜濾波器包含一彎曲濾波元件,該彎曲濾波元件包含形成一球體之一部分之一凹面。在另一闡釋性實施例中,該凹面經定位以接收自定位於接近該球體之一中心之一第一位置處之一光纖之一輸出面發散之光。在另一闡釋性實施例中,該凹面透射該光之一光譜之一第一部分。在另一闡釋性實施例中,該凹面將該光譜之一第二部分反射且聚焦至接近該球體之該中心之一第二位置。在另一闡釋性實施例中,該光譜濾波器包含用以引導該光譜之該第二部分遠離該光纖之該輸出面之一集光器。
根據本發明之一或多項闡釋性實施例,揭示一種濾波光纖照明源。在一項闡釋性實施例中,該濾波光纖照明源包含用以提供自一光纖之一輸出面發散之照明之一光纖照明源。在另一闡釋性實施例中,該濾波光纖照明源包含一彎曲濾波元件,該彎曲濾波元件包含形成一球體之一部分之一凹面。在另一闡釋性實施例中,該凹面經定位以接收自該光纖之該輸出面發散之照明。在另一闡釋性實施例中,該光纖之該輸出面定位於接近該球體之一中心之一第一位置處。在另一闡釋性實施例中,該凹面透射該照明之一光譜之一第一部分。在另一闡釋性實施例中,該凹面將該光譜之一第二部分反射且聚焦至接近該球體之該中心之一第二位置。在另一闡釋性實施例中,該濾波光纖照明源包含用以引導該光譜之該第二部分遠離該光纖之該輸出面之一集光器。
根據本發明之一或多項闡釋性實施例,揭示一種用於對來自一光纖之照明濾波之方法。在一項闡釋性實施例中,該方法包含使用包含形成一球體之一部分之一凹面之一彎曲濾波元件自一光纖之一輸出面接收照明。在另一闡釋性實施例中,該凹面經定位以接收自定位於接近該球體之一中心之一第一位置處之一光纖之一輸出面發散之光。在另一闡釋性實施例中,該方法包含使用該凹面透射該光之一光譜之一第一部分。在另一闡釋性實施例中,該方法包含使用該凹面反射該光譜之一第二部分。在另一闡釋性實施例中,該方法包含使用該凹面將該光譜之該第二部分聚焦至接近該球體之該中心之一第二位置。在另一闡釋性實施例中,該方法包含使用一集光器引導該光譜之該第二部分遠離該光纖之該輸出面。
應理解,上文概述及以下詳細描述兩者僅係例示性及說明性的且未必限制如主張之本發明。併入本說明書中且構成本說明書之一部分之隨附圖式繪示本發明之實施例且與一般描述一起用於解釋本發明之原理。
相關申請案之交叉參考 本申請案根據35 U.S.C. § 119(e)規定主張2017年7月31日申請之標題為HIGH POWER FIBER SPECTRAL FILTER之指定Andrew Hill、Ohad Bachar、Avi Abramov及Amnon Manassen為發明者之美國臨時申請案第62/539,543號的權利,該案之全文係以引用的方式併入本文中。
現將詳細參考在隨附圖式中繪示之所揭示標的物。已關於某些實施例及其等之特定特徵特別展示且描述本發明。將本文中闡述之實施例視為闡釋性而非限制性。一般技術者將容易瞭解,可做出形式及細節之多種改變及修改而不脫離本發明之精神及範疇。
本發明之實施例係關於一種用於基於光纖之光源之亮度保持光譜濾波器,其中一凹球面(例如,對應於一球體之一部分之一彎曲表面)接收自接近該球體之一中心定位之一光纖之一輸出面發散之光,透射經接收光之光譜之一第一部分,且將該光譜之一第二部分反射至處於接近該球體之中心之一第二位置處之一焦點。凹球面可保持輸出光束(包含光譜之經透射第一部分或光譜之經反射及經聚焦第二部分)中之亮度。相應地,(經透射穿過凹面之)第一光譜或第二光譜(由凹面反射之光)之任何組合可被提供為光譜濾波器之輸出光束。
額外實施例係關於具有一亮度保持光譜濾波器之一基於光纖之光源。在一些應用(諸如(但不限於)涉及高功率照明之彼等應用)中,可期望在光照射於外部光學元件上之前對來自一照明源之輸出之不需要波長濾波。例如,紅外波長可由許多光學組件(例如,矽石、石英、硼矽玻璃及類似者)或光學黏著劑(例如,膠合劑、環氧樹脂及類似者)有效地吸收且因此可引發加熱、膨脹、翹曲或損害。舉另一實例而言,紫外波長(例如,極紫外波長)可被吸收且可透過形成色彩中心、曝曬作用或類似者而引發損害。在此方面,一集光器可引導來自一輸入光束之經濾波光(例如,光譜之經反射第二部分)遠離光纖之輸出面以防止對光纖以及任何外部光學元件之損害。相應地,具有亮度保持光譜濾波器之一基於光纖之光源可提供適用於一特定應用之經濾波照明。此外,具有一亮度保持光譜濾波器之一基於光纖之光源可適合作為一第一光學元件以與來自一寬頻照明源之照明相互作用。在此方面,光譜濾波器可將額外光學元件與由照明源產生之不需要波長隔離而未不利地影響來自照明源之光束之光束品質及/或聚焦特性。
進一步實施例係關於一種光譜濾波器,該光譜濾波器另外包含用以引導光譜之第二部分遠離提供待濾波之光之光纖之輸出面之一集光器。凹面可將入射光之光譜之第二部分反射至在光纖之輸出面附近(但不與該輸出面重疊)之一焦點。因此,集光器可經定位以接收光譜之第二部分且重新導引該第二部分遠離光纖以保護光纖及/或提供光譜之第二部分作為一經濾波輸出光束。例如,集光器可包含一額外光纖,該額外光纖經定位以接收光譜之經聚焦第二部分且提供經濾波照明作為一輸出光束。舉另一實例而言,集光器可包含用以將光譜之第二部分重新導引至額外光學元件(例如,用以安全地摒棄光譜之第二部分之一光束捕集器、用以提供一經準直輸出光束之一準直光學元件或類似者)之一鏡。
一亮度保持光譜濾波器可併入適用於將來自光纖之發散光透射至凹面之任何類型之材料。本發明之一些實施例係關於一種光譜濾波器,其中來自光纖之發散光傳播穿過氣體(例如,大氣、氬氣、一低真空或類似者)以到達凹面。例如,凹面可係一彎曲光學元件之一第一表面。在此方面,由凹面透射之光譜之第一部分可傳播穿過彎曲光學元件且經由一出射表面出射彎曲光學元件。額外實施例係關於一種包含一固體材料(例如,玻璃)之光譜濾波器,該固體材料經熔合或以其他方式耦合至光纖之輸出面,使得來自光纖之發散光傳播穿過固體材料至凹面,該凹面可操作為光譜之第一部分之一出射表面。本文中認知,熔合或以其他方式耦合至一光纖之輸出面之一光譜濾波器可提供該光譜濾波器之一高度穩健對準。
圖1A係根據本發明之一或多項實施例之一光譜濾波器100之一概念視圖。在一項實施例中,光譜濾波器100包含一彎曲濾波元件102,該彎曲濾波元件102具有用於對自一光纖110之一輸出面108發散之一輸入光束106濾波之一凹面104。凹面104可將輸入光束106濾波成包含輸入光束106之一光譜之一第一部分之一經透射經濾波光束112,及包含輸入光束106之光譜之一第二部分之一經反射經濾波光束114。此外,凹面104可透射經透射經濾波光束112,且反射經反射經濾波光束114,使得經透射經濾波光束112及經反射經濾波光束114係空間分離的。在另一實施例中,光譜濾波器100包含用以接收經反射經濾波光束114且引導經反射經濾波光束114遠離光纖110之輸出面108之一集光器116 (例如,一光纖、一鏡或類似者)。相應地,包含輸入光束106之光譜之第一部分之經透射經濾波光束112或包含該光譜之第二部分之經反射經濾波光束114的任何組合可被提供為經濾波輸出光束。
光譜濾波器100可經組態以自適用於提供具有一大範圍之波長之一輸入光束106之任何類型的寬頻照明源接受輸入光束106。在一項實施例中,寬頻照明源係一雷射源。例如,寬頻照明源可包含(但不限於)一寬頻雷射源、一超連續譜雷射源、一白光雷射源或類似者。在此方面,寬頻照明源可提供具有高相干性(例如,高空間相干性及/或時間相干性)之一輸入光束106。在另一實施例中,寬頻照明源包含一雷射維持電漿(LSP)源。例如,寬頻照明源可包含(但不限於)適用於容納一或多個元素之一LSP燈、一LSP燈泡或一LSP腔室,該一或多個元素在由一雷射源激發成一電漿狀態時,可發射寬頻照明。在另一實施例中,寬頻照明源包含一燈源。例如,寬頻照明源可包含(但不限於)一弧光燈、一放電燈、一無電極燈或類似者。在此方面,寬頻照明源可提供具有低相干性(例如,低空間相干性及/或時間相干性)之一輸入光束106。
寬頻照明源可進一步產生具有任何時間輪廓之寬頻照明。例如,寬頻照明源可產生一連續輸入光束106、一脈衝輸入光束106或一調變輸入光束106。
在另一實施例中,凹面104係一凹球面。例如,凹面104可包含經拋光或以其他方式塑形以對應於一球體之一部分之一表面。本文中認知,許多光學表面(諸如(但不限於)透鏡)經形成為球面且球面可以一高精確度及製造準確度製造以最小化表面引發像差。相應地,一凹球面104可以一對應精確度及準確度製造以提供濾波而不將表面引發像差引入經透射經濾波光束112或經反射經濾波光束114中。
在另一實施例中,光譜濾波器100經組態以接近界定凹面104之曲率之球體之曲率中心118定位光纖110之輸出面108。相應地,凹面104可接收發散輸入光束106且將經反射經濾波光束114聚焦至接近曲率中心118且與輸出面108分離之一對應焦點120。例如,來自經定位在一特定方向上距曲率中心118一特定距離之一輸出面108之發散輸入光束106之 一部分可經反射且聚焦至經定位距曲率中心118相同距離(但在相反方向上)之一光點。此外,凹面104可將經反射經濾波光束114聚焦至與光纖110之核心之直徑近似相同大小之一光點。
集光器116可係適用於自凹面104接收經反射經濾波光束114且引導經反射經濾波光束114遠離光纖110之任何光學元件或光學元件之組合。在此方面,集光器116可防止經反射經濾波光束114之部分命中光纖110,此可加熱光纖及/或任何周圍安裝件,引發輸入光束106之源之不穩定性(例如,由復歸反射輻射引起之雷射發光不穩定性)或損害輸出面108。此外,重新導引之經反射經濾波光束114可由一外部系統用作一經濾波輸出光束。在一項實施例中,如圖1A中繪示,集光器116包含經組態以與經反射經濾波光束114耦合且接收經反射經濾波光束114之一額外光纖。
圖1B係根據本發明之一或多項實施例之具有一集光器鏡之一光譜濾波器100之一概念視圖。在一項實施例中,集光器116包含經定位以重新導引經反射經濾波光束114遠離光纖110之輸出面108之一反射表面122。集光器116可定位於適用於重新導引經反射經濾波光束114遠離輸出面108之任何位置處。例如,集光器116可經定位以將反射表面122定位於經反射經濾波光束114之焦點處。在此方面,反射表面122僅需要匹配或超過焦點之大小。舉另一實例而言,集光器116可經定位以將反射表面122定位於經反射經濾波光束114之焦點附近(例如,在經反射經濾波光束114之焦點之任一側上)。在此方面,可基於反射表面122上之經反射經濾波光束114之一較大光點大小而減小輻照度(例如,單位面積能量)。相應地,相對於將反射表面122定位於經反射經濾波光束114之焦點處,將反射表面122遠離經反射經濾波光束114之焦點定位可減小與反射表面122相關聯之損害臨限值要求。
反射表面122可係任何形狀。在一項實施例中,反射表面122係一平坦表面,如圖1B中繪示。在另一實施例(未展示)中,反射表面122係一彎曲表面。在此方面,彎曲反射表面122可至少部分準直經反射經濾波光束114。相應地,可減小對於額外準直光學元件之要求,使得可獲得一所要光束大小。
光纖110之輸出面108 (輸入光束106自其出射光纖110)可放置於適用於提供輸出面108與經反射經濾波光束114之焦點120之間之實體分離之曲率中心118附近之任何位置處。
在一項實施例中,光纖110之一邊緣定位於曲率中心118處以減輕由輸出面108 (輸入光束106自其出射光纖110)自曲率中心118之一偏移引發之偏軸像差。本文中認知,光纖可經製造具有廣泛範圍之包覆層/塗層組態。例如,一光纖通常可包含(但不要求包含)一核心及一包覆層,其中核心具有高於包覆層之一折射率,使得光纖可支援一或多個傳播模式。光纖可(但不需要)包含適用於保護核心及/或包覆層免於損害(例如,機械損害、來自水分之損害及類似者)之進一步塗層或保護罩。相應地,光纖110之一邊緣可包含(但不限於)核心之一外徑、一包覆層或一塗層。
此外,光纖可經製造具有廣泛範圍之大小之構成組件。例如,一單模光纖可包含(但不要求包含)具有在5至15微米之範圍中之一直徑之一核心及具有近似125微米之一直徑之一包覆層。舉另一實例而言,一多模光纖可包含(但不要求包含)具有在25至90微米之範圍中之一直徑之一核心及具有近似125微米之一直徑之一包覆層。
圖2係根據本發明之一或多項實施例之具有經組態以與用於提供輸入光束106之一光纖100具有一相同幾何形狀之一集光器116之一光譜濾波器100之一輪廓視圖。在一項實施例中,光纖110及光纖集光器116包含一核心202及一包覆層204。例如,可剝離額外塗層(若存在)。光纖110之核心202之中心可定位於距曲率中心118之一距離206 (等於光纖110之半徑)處。相應地,凹面104可將經反射經濾波光束114聚焦至定位於在相反方向上距曲率中心118之一對應距離206處之一焦點120。因此,集光器116 (諸如(但不限於)一光纖集光器116,如圖1A及圖2中繪示)可經定位以接收經反射經濾波光束114。
然而,應理解,如圖2中繪示且在上文之相關聯段落中描述之光纖110及集光器116之幾何形狀僅係為了闡釋性目的提供且不應解譯為限制性。光譜濾波器100可包含適用於將經反射經濾波光束114與光纖110之輸出面108實體分離之光纖110及集光器116之任何組態。在一項實施例中,輸出面108之中心與曲率中心118之間之距離等於光纖110上之一或多個塗層之外徑。在另一實施例中,輸出面108之中心與曲率中心118之間之距離大於光纖110之總外徑。在此方面,光纖110與集光器116之間之一實體間隙可促進光譜濾波器100之對準。在另一實施例中,一光纖集光器116具有與光纖110不同之一幾何形狀(例如,核心直徑、包覆層直徑或類似者)。例如,一光纖集光器116可具有小於光纖110之一直徑,使得輸出面108之中心與曲率中心118之間之距離可小於光纖110之總外徑。此外,在一非光纖集光器116 (例如,如圖1B中繪示之一鏡)之情況中,光譜濾波器100可包含光纖110及集光器116之廣泛範圍之組態。
本文中認知,如本文中描述之具有一凹面104之一光譜濾波器100可保持經透射經濾波光束112及/或經反射經濾波光束114中之輸入光束106之亮度。例如,將輸出面108定位於曲率中心118附近(例如,相距大約光纖110之半徑之一距離)可減輕與輸出面108相對於曲率中心118之偏軸對準相關聯之像差,使得經反射經濾波光束114可與輸入光束106具有實質上相同之光束品質及/或聚焦特性。
舉另一實例而言,凹面104可提供經透射經濾波光束112及/或經反射經濾波光束114而不引入與類似地定位於輸出面108附近以對發散輸入光束106濾波之一傾斜平面光譜濾波器相關聯之像差(例如,色像差、像散及類似者)。例如,一傾斜平面光譜濾波器可在經透射光束或經反射光束兩者中引入色點偏移,將像散引入一經透射光束中或引入可劣化光束品質及/或聚焦特性,使得所得經濾波光束可具有經減弱亮度且可不依與輸入光束106相同之特性聚焦之類似者。
在另一實施例中,光譜濾波器100之一或多個額外表面經塑形以校正或以其他方式減輕由凹面104引發之像差,使得經透射經濾波光束112可與輸入光束106具有相同或實質上相同光束品質及/或聚焦特性。例如,如圖1A及圖1B中繪示之彎曲濾波元件102之一出射表面124可經塑形以減輕由凹面104引發之像差。舉另一實例而言,光譜濾波器100可包含一或多個額外光學元件(未展示)以修改經透射經濾波光束112之波前以減輕由凹面104引發之像差。
凹面104可使用適用於提供包含輸入光束106之光譜之第一部分之經透射經濾波光束112及包含該光譜之第二部分之經反射經濾波光束114之任何技術對入射輸入光束106濾波。例如,凹面104可包含適用於根據一所要分佈對輸入光束106濾波之一或多個介電質及/或金屬材料層。
在一項實施例中,凹面104操作為一「冷鏡」(例如,一反射低通濾波器),使得由凹面104透射之經透射經濾波光束112包含高於一選定截止波長之波長且由凹面104反射之經反射經濾波光束114包含低於該選定截止波長之波長。在另一實施例中,凹面104操作為一「熱鏡」(例如,一反射高通濾波器),使得由凹面104透射之經透射經濾波光束112包含低於一選定截止波長之波長且由凹面104反射之經反射經濾波光束114包含高於該選定截止波長之波長。
在一些應用中,光譜濾波器100可包含用以自輸入光束106之光譜安全地摒棄不需要的波長之一光束捕集器。圖3A係根據本發明之一或多項實施例之經組態為具有在經透射經濾波光束112之路徑中之一光束捕集器302之光譜濾波器100之一概念視圖。相應地,經反射經濾波光束114可被提供為一經濾波輸出光束。例如,一或多個準直透鏡304可準直由集光器116提供之經反射經濾波光束114以提供一經濾波輸出光束。圖3B係根據本發明之一或多項實施例之經組態為具有在經反射經濾波光束114之路徑中之一光束捕集器302之光譜濾波器100之一概念視圖。相應地,經透射經濾波光束112可被提供為一經濾波輸出光束。例如,一或多個準直透鏡304可準直來自彎曲濾波元件102之經透射經濾波光束112以提供一經濾波輸出光束。
光譜濾波器100可包含在經透射經濾波光束112或經反射經濾波光束114任一者之路徑中之一光束捕集器。此外,一光束捕集器302可與經組態為一「冷鏡」或一「熱鏡」之凹面104組合使用。在此方面,光譜濾波器100之多個組態可獲得相同或實質上類似結果。例如,光譜濾波器100可經組態以藉由包含在經透射經濾波光束112之路徑中之一光束捕集器302與經組態為具有定義經反射經濾波光束114中之所要光譜之最大所要波長之一選定截止波長之一「冷鏡」之凹面104而自輸入光束106之光譜移除不需要的IR輻射。舉另一實例而言,光譜濾波器100可經組態以藉由包含在經反射經濾波光束114之路徑中之一光束捕集器302與經組態為具有定義經透射經濾波光束112中之所要光譜之最大所要波長之一選定截止波長之一「熱鏡」之凹面104而自輸入光束106之光譜移除不需要的IR輻射。
彎曲濾波元件102可使用適用於提供一凹面104以自輸出面108接收發散輸入光束106且產生經透射經濾波光束112及經反射經濾波光束114之材料及安裝結構之任何組合實施。此外,發撒輸入光束106可傳播穿過光纖110之輸出面108與凹面104之間之任何材料或材料之組合。例如,發散輸入光束106可傳播穿過大氣、一受控氣體環境(例如,氬氣或類似者)、一真空(例如,由一真空腔室定界之一低大氣壓環境)或一固體材料(例如,一透明光學材料)。
在一項實施例中,如至少圖1A中繪示,彎曲濾波元件102經形成為經放置為與光纖110相距一距離之一離散光學元件。例如,彎曲濾波元件102可包含作為經對準以接收發散輸入光束106之一輸入表面之凹面104且可進一步包含一出射表面124。相應地,經透射經濾波光束112可傳播穿過彎曲濾波元件102且透過出射表面124出射彎曲濾波元件102,而經反射經濾波光束114可經反射離開入射凹面104。因此,在此方面組態之一彎曲濾波元件102可由諸如(但不限於)矽石、石英或硼矽玻璃之一光學基板(例如,對經透射經濾波光束112之至少一部分透明之一基板)形成。
此外,光譜濾波器100可包含適用於使集光器116及/或光纖110相對於凹面104之曲率中心118對準的一或多個對準結構。例如,光譜濾波器100可包含用以將輸出面108及/或一光纖集光器116的面安裝於相對於曲率中心118之一所要及可能固定位置處的光纖安裝件。舉另一實例而言,光譜濾波器100可包含用以將一鏡像集光器116之反射表面122定位於相對於曲率中心118之一所要及可能固定位置處之一鏡安裝件。此外,光纖安裝件及/或鏡安裝件可與用於彎曲濾波元件102之一安裝件整合,以提供一整合平台。
在另一實施例中,彎曲濾波元件102經形成為經組態以與輸出面108及/或集光器116耦合之一光學元件。圖4係根據本發明之一或多項實施例之包含經耦合至提供輸入光束106之光纖110且經耦合至一光纖集光器116之一彎曲濾波元件102之一光譜濾波器100之一概念視圖。在一項實施例中,彎曲濾波元件102係由經組態以自光纖110之輸出面108延伸至凹面104之一透明材料形成。例如,彎曲濾波元件102可包含一輸入耦合面402,該輸入耦合面402用於與光纖110之輸出面108光學耦合,使得發散輸入光束106可傳播穿過彎曲濾波元件102之體積至凹面104。相應地,凹面104可操作為經透射經濾波光束112之一出射表面。舉另一實例而言,彎曲濾波元件102可包含一集光器耦合面404,該集光器耦合面404用於與集光器116光學耦合,使得經反射經濾波光束114可穿過集光器耦合面404至集光器116。因此,就此組態之一彎曲濾波元件102可係由諸如(但不限於)矽石、石英或硼矽玻璃之一光學材料(例如,對輸入光束106及經反射經濾波光束114透明之一材料體積)形成。
在另一實施例中,輸入耦合面402或集光器耦合面404之至少一者經組態以被熔合至一光纖及/或一光纖安裝件。在此方面,光纖110及/或一光纖集光器116可係與彎曲濾波元件102實體接合。本文中應認知,將一光纖及/或一光纖安裝件與彎曲濾波元件102熔合可促進光譜濾波器100相對於輸入光束106之一穩健對準。
應理解,在圖4中以及上文之相關聯描述中提供之光譜濾波器100之特定組態僅係為了闡釋性目的提供且不應解譯為限制性。例如,輸入耦合面402及集光器耦合面404可形成為一單一面(其可係平坦或彎曲的),如圖4中繪示。舉另一實例而言,輸入耦合面402及集光器耦合面404可相對於彼此成角度以促進耦合。此外,彎曲濾波元件102可具有適用於與光纖110及/或集光器116耦合之任何形狀及/或任何數目之面。例如,彎曲濾波元件102可包含一經拋光集光器耦合面404,經反射經濾波光束114可穿過該經拋光集光器耦合面404傳播至一離散集光器116 (例如,一鏡像集光器116)。
本文中認知,一亮度保持光譜濾波器100可被提供為一單獨裝置(例如,未耦合至任何輸入照明源)或可整合至外部系統中。在一項實施例中,光譜濾波器100與一基於光纖之照明源耦合以提供經光譜濾波寬頻照明。相應地,透過其提供輸入光束106之一照明源以及光纖110可經實體封裝及/或耦合至光譜濾波器100之一或多個組件。在另一實施例中,將光譜濾波器100整合至用於將經光譜濾波光引導至一樣本之一系統中。
圖5係根據本發明之一或多項實施例之包含用於將經光譜濾波寬頻照明提供至一樣本之一亮度保持光譜濾波器100之一度量衡系統500之一概念視圖。在一項實施例中,度量衡系統500包含用以基於一樣本之一或多個影像之產生而量測對準資料之一基於影像之度量衡工具。在另一實施例中,度量衡系統500包含用以基於來自樣本之光之散射(反射、繞射、漫散射或類似者)而量測度量衡資料之一基於散射量測之度量衡工具。
在一項實施例中,度量衡系統500包含經組態以提供一基於光纖之照明源502之光譜濾波之一光譜濾波器100,如本文中先前描述。度量衡系統500可經由一照明路徑508將至少一個經濾波輸出光束(例如,來自光譜濾波器100之經透射經濾波光束112及/或經反射經濾波光束114)作為一照明光束504引導至一樣本506。照明路徑508可包含適用於修改及/或調節照明光束504之一或多個透鏡510或額外光學組件512。例如,一或多個光學組件512可包含(但不限於)一或多個偏光器、一或多個濾波器、一或多個光束分離器、一或多個擴散器、一或多個均質器、一或多個變跡器或一或多個光束塑形器。在另一實施例中,光譜濾波器100包含用以將照明光束504聚焦至樣本506上之一物鏡514。
在另一實施例中,樣本506安置於一樣本載物台516上。樣本載物台516可包含適用於在度量衡系統500內定位樣本506之任何裝置。例如,樣本載物台516可包含線性平移載物台、旋轉載物台、翻轉/傾斜載物台或類似者之任何組合。
在另一實施例中,度量衡系統500包含經組態以擷取透過一集光路徑520自樣本506發出之輻射之一偵測器518。例如,集光路徑520可包含(但不要求包含)一集光透鏡(例如,物鏡514或一或多個額外集光路徑透鏡522)。舉另一實例而言,一偵測器518可接收自樣本506反射或散射(例如,經由鏡面反射、擴散反射及類似者)之輻射。舉另一實例而言,一偵測器518可接收由樣本506產生之輻射(例如,與照明光束504之吸收相關聯之發光或類似者)。
偵測器518可包含此項技術中已知之適用於量測自樣本506接收之照明之任何類型之光學偵測器。例如,一偵測器518可包含(但不限於)一CCD偵測器、一TDI偵測器、一光電倍增管(PMT)、一突崩光電二極體(APD)或類似者。在另一實施例中,一偵測器518可包含適用於識別自樣本506發出之輻射之波長之一光譜偵測器。在另一實施例中,度量衡系統500可包含用以促進藉由度量衡系統500之多個度量衡量測(例如,多個度量衡工具)之多個偵測器518 (例如,與藉由一或多個光束分離器產生之多個光束路徑相關聯)。
集光路徑520可進一步包含用以引導及/或修改由物鏡514收集之照明之任何數目個光學元件,包含(但不限於)一或多個集光路徑透鏡522、一或多個濾波器、一或多個偏光器或一或多個光束擋塊。
在一項實施例中,如圖5中繪示,度量衡系統500包含經定向使得物鏡514可同時將照明光束504引導至樣本506且收集自樣本506發出之輻射之一光束分離器524。在此方面,度量衡系統500可以一落射照明模式組態。
在另一實施例中,度量衡系統500包含一控制器526。在另一實施例中,控制器526包含經組態以執行維持於一記憶體媒體530上之程式指令之一或多個處理器528。在此方面,控制器526之一或多個處理器528可執行貫穿本發明描述之各種程序步驟之任何者。此外,控制器526可經組態以接收資料,該資料包含(但不限於)度量衡資料(例如,對準量測結果、目標之影像、光瞳影像及類似者)或度量衡度量(例如,精確度、工具引發之偏移、敏感度、繞射效率及類似者)。
一控制器526之一或多個處理器528可包含此項技術中已知之任何處理元件。在此意義上,一或多個處理器528可包含經組態以執行演算法及/或指令之任何微處理器類型裝置。在一項實施例中,一或多個處理器528可由一桌上型電腦、主機電腦系統、工作站、影像電腦、平行處理器或經組態以執行經組態以操作度量衡系統500之一程式之任何其他電腦系統(例如,網路電腦)組成,如貫穿本發明所描述。應進一步認知,術語「處理器」可經廣泛定義以涵蓋具有執行來自一非暫時性記憶體媒體530之程式指令之一或多個處理元件之任何裝置。此外,貫穿本發明描述之步驟可藉由一單一控制器526或替代地多個控制器實行。另外,控制器526可包含容置於一共同外殼中或多個外殼內之一或多個控制器。以此方式,任何控制器或控制器之組合可分開封裝為適用於整合至度量衡系統500中之一模組。此外,控制器526可分析自偵測器518接收之資料且將資料饋送至度量衡系統500內或度量衡系統500外部之額外組件。
記憶體媒體530可包含此項技術中已知之適用於儲存可由相關聯之一或多個處理器528執行之程式指令之任何儲存媒體。例如,記憶體媒體530可包含一非暫時性記憶體媒體。舉另一實例而言,記憶體媒體530可包含(但不限於)一唯讀記憶體、一隨機存取記憶體、一磁性或光學記憶體裝置(例如,磁碟)、一磁帶、一固態磁碟及類似者。應進一步注意,記憶體媒體530可與一或多個處理器528一起容置於一共同控制器外殼中。在一項實施例中,記憶體媒體530可相對於一或多個處理器528及控制器526之實體位置遠端定位。例如,控制器526之一或多個處理器528可存取可透過一網路(例如,網際網路、內部網路及類似者)存取之一遠端記憶體(例如,伺服器)。因此,不應將上文描述解譯為對本發明之一限制而僅為一圖解。
在另一實施例中,控制器526通信地耦合至度量衡系統500之一或多個元件以提供與使用來自光譜濾波器100之經光譜濾波照明對樣本506進行照明相關聯之度量衡資料。
圖6係繪示根據本發明之一或多項實施例之在用於對來自一光纖之照明光譜濾波之一方法600中執行之步驟之一流程圖。申請者應注意,本文中先前在光譜濾波器100之背景內容中描述之實施例及賦能技術應解譯為擴展至方法600。然而,應進一步注意,方法600不限於光譜濾波器100之架構。
在一項實施例中,方法600包含使用包含形成一球體之一部分之一凹面之一彎曲濾波元件自一光纖之一輸出面接收照明之一步驟602,其中該凹面經定位以接收自定位於接近該球體之一中心之一第一位置處之一光纖之一輸出面發散之光。例如,凹面可經塑形為對應於一球體之一部分之一球形光學元件。因此,來自處於接近球體之中心之一位置處之一光纖之發散光可由彎曲濾波元件之凹面收集。彎曲濾波元件可包含與光纖分離之一離散光學元件或可直接耦合至光纖以提供穩健對準。
在一項實施例中,方法600包含使用凹面透射光之一光譜之一第一部分之一步驟604。在一項實施例中,方法600包含使用凹面反射光譜之一第二部分之一步驟606。例如,凹面可包含一波長選擇塗層,該波長選擇塗層適用於分離自光纖之輸出面發散之光之光譜,使得發散光之光譜之一第一部分經透射穿過凹面且光譜之一第二部分經反射。凹面可包含適用於提供波長選擇濾波之任何數目個材料層(例如,介電層、金屬層或類似者)。此外,凹面可操作為任何類型之濾波器。在一個例項中,彎曲表面可藉由反射低於一選定截止波長之波長且透射高於選定截止波長之波長而操作為一「冷鏡」。在另一例項中,彎曲表面可藉由透射低於一選定截止波長之波長且反射高於選定截止波長之波長而操作為一「熱鏡」。
在一項實施例中,方法600包含使用凹面將光譜之第二部分聚焦至接近球體之中心之一第二位置之一步驟608。一凹球面可將來自定位於接近球體之中心之一第一位置處之光纖之輸出面之光反射至接近球體之中心之一第二位置。例如,將光纖之核心實體上接近球體之中心(例如,在約等於光纖之中心之半徑之一距離處)定位可促進光譜之第二部分之嚴格聚焦,使得與光譜之第二部分相關聯之經濾波光束可與入射於凹面上之輸入光具有相同或實質上相同之亮度。
在一項實施例中,方法600包含使用一集光器引導光譜之第二部分遠離光纖之輸出面之一步驟610。一集光器可包含適用於收集光譜之第二部分且引導光譜之此第二部分遠離光纖之輸出面之任何類型之元件。例如,集光器可包含(但不限於)具有在第二位置(例如,與步驟608相關聯之聚焦位置)處之一輸出面之一額外光纖或經定位以重新導引光譜之第二部分之一反射表面。在此方面,可自自光纖發散之光濾除光譜之第二部分而不損害光纖或任何外部光學元件。
此外,方法600可包含提供光譜之第一部分及/或光譜之第二部分作為適合由外部系統使用之經濾波輸出光束。
本文中描述之標的物有時繪示其他組件內含有或與其他組件連接之不同組件。應理解,此等所描繪之架構僅僅係例示性,且事實上可實施達成相同功能性之許多其他架構。在一概念意義上,用以達成相同功能性之組件之任何配置有效「相關聯」,使得達成所要功能性。因此,在本文中組合以達成一特定功能性之任何兩個組件可被視為彼此「相關聯」,使得達成所要功能性而不考慮架構或中間組件。同樣地,如此相關聯之任何兩個組件亦可被視為彼此「連接」或「耦合」以達成所要功能性,且能夠如此相關聯之任何兩個組件亦可被視為彼此「可耦合」以達成所要功能性。可耦合之特定實例包含(但不限於)可實體相互作用及/或實體相互作用組件及/或可無線相互作用及/或無線相互作用組件及/或可邏輯相互作用及/或邏輯相互作用組件。
據信本發明及許多其伴隨優點將藉由前述描述理解,且將明白,可對組件之形式、構造及配置做出多種改變而不脫離所揭示之標的物或不犧牲全部其重大優點。所描述之形式僅僅係解釋性,且以下發明申請專利範圍之意圖係涵蓋且包含此等改變。此外,應理解,本發明由隨附發明申請專利範圍界定。
100‧‧‧光譜濾波器102‧‧‧彎曲濾波元件104‧‧‧凹面106‧‧‧輸入光束108‧‧‧輸出面110‧‧‧光纖112‧‧‧經透射經濾波光束114‧‧‧經反射經濾波光束116‧‧‧集光器118‧‧‧曲率中心120‧‧‧焦點122‧‧‧反射表面124‧‧‧出射表面202‧‧‧核心204‧‧‧包覆層206‧‧‧距離302‧‧‧光束捕集器304‧‧‧準直透鏡402‧‧‧輸入耦合面404‧‧‧集光器耦合面500‧‧‧度量衡系統502‧‧‧基於光纖之照明源504‧‧‧照明光束506‧‧‧樣本508‧‧‧照明路徑510‧‧‧透鏡512‧‧‧額外光學組件514‧‧‧物鏡516‧‧‧樣本載物台518‧‧‧偵測器520‧‧‧集光路徑522‧‧‧額外集光路徑透鏡524‧‧‧光束分離器526‧‧‧控制器528‧‧‧處理器530‧‧‧記憶體媒體600‧‧‧方法602‧‧‧步驟604‧‧‧步驟606‧‧‧步驟608‧‧‧步驟610‧‧‧步驟
熟習此項技術者藉由參考附圖可更佳理解本發明之若干優點,其中: 圖1A係根據本發明之一或多項實施例之一光譜濾波器之一概念視圖。 圖1B係根據本發明之一或多項實施例之具有一集光器鏡之一光譜濾波器之一概念視圖。 圖2係根據本發明之一或多項實施例之具有經組態以與用於提供輸入光束之一光纖具有一相同幾何形狀之一集光器之一光譜濾波器之一輪廓視圖。 圖3A係根據本發明之一或多項實施例之經組態為具有在經透射經濾波光束之路徑中之一光束捕集器之一光譜濾波器之一概念視圖。 圖3B係根據本發明之一或多項實施例之經組態為具有在經反射經濾波光束之路徑中之一光束捕集器之一光譜濾波器之一概念視圖。 圖4係根據本發明之一或多項實施例之包含耦合至提供輸入光束之光纖且耦合至一光纖集光器之一彎曲濾波元件之一光譜濾波器之一概念視圖。 圖5係根據本發明之一或多項實施例之包含用於將經光譜濾波寬頻照明提供至一樣本之一亮度保持光譜濾波器之一度量衡系統之一概念視圖。 圖6係繪示根據本發明之一或多項實施例之在用於對來自一光纖之照明光譜濾波之一方法中執行之步驟之一流程圖。
100‧‧‧光譜濾波器
102‧‧‧彎曲濾波元件
104‧‧‧凹面
106‧‧‧輸入光束
108‧‧‧輸出面
110‧‧‧光纖
112‧‧‧經透射經濾波光束
114‧‧‧經反射經濾波光束
116‧‧‧集光器
118‧‧‧曲率中心
120‧‧‧焦點
124‧‧‧出射表面

Claims (34)

  1. 一種光譜濾波器,其包括:一彎曲濾波元件,其包含形成一球體之一部分之一凹面,該凹面經形成作為一經拋光之光學表面,該凹面經定位以接收自經定位於接近該球體之一中心之一第一位置處之一光纖之一輸出面所發散的光,該凹面進一步包含一波長選擇塗層,其經組態以透射該光之一光譜之一第一部分及反射該光之該光譜之一第二部分,其中該光譜之該第一部分及該第二部分提供由一選定截止波長所分離之一寬頻光譜範圍,使得該波長選擇塗層係相對於該選定截止波長之一高通或一低通光譜濾波器之一者,該凹面進一步經組態以將該光譜之該第二部分反射且聚焦至接近該球體之該中心之一第二位置;及一集光器,其經組態以引導該光譜之該第二部分遠離該光纖之該輸出面。
  2. 如請求項1之光譜濾波器,其中該集光器包括:一額外光纖,其具有處於該第二位置處以接收該光譜之該第二部分之一輸入面。
  3. 如請求項1之光譜濾波器,其中該集光器包括:一鏡,其係定位於接近該球體之該中心之該第二位置處,且經定向以引導該光譜之該第二部分遠離該光纖之該輸出面。
  4. 如請求項1之光譜濾波器,其中該彎曲濾波元件進一步包含經定位以自該凹面接收該光譜之該第一部分之一出射表面,其中該光譜之該第一部分透過該出射表面出射該彎曲濾波元件。
  5. 如請求項4之光譜濾波器,其中該出射表面經塑形以減輕由該凹面引發之像差。
  6. 如請求項1之光譜濾波器,其中該彎曲濾波元件進一步包含經耦合至該光纖之該輸出面以接收自該光纖之該輸出面發散之該光之一輸入表面,其中該光譜之該第一部分透過該凹面出射該彎曲濾波元件。
  7. 如請求項6之光譜濾波器,其中該彎曲濾波元件進一步包含經定位於該第二位置處之一出射表面,其中該光譜之該第二部分透過該出射表面出射該彎曲濾波元件。
  8. 如請求項7之光譜濾波器,其中該集光器包括:一額外光纖,其具有經耦合至該出射表面以接收該光譜之該第二部分之一輸入面。
  9. 如請求項1之光譜濾波器,進一步包括:一準直光學元件,其經定位以準直經透射穿過該凹面之該光譜之該第一部分。
  10. 如請求項1之光譜濾波器,進一步包括:一準直光學元件,其經定位以準直藉由該集光器引導遠離該光纖之該輸出面之該光譜之該第二部分。
  11. 如請求項1之光譜濾波器,進一步包括:一光束捕集器,其經定位以接收經透射穿過該凹面之該光譜之該第一部分或藉由該集光器引導遠離該光纖之該輸出面之該光譜之該第二部分之一者。
  12. 如請求項1之光譜濾波器,其中該彎曲表面包含具有一選定截止波長之一高通反射濾波器,其中該光譜之該第一部分包含低於該選定截止波長之波長,其中該光譜之該第二部分包含高於該選定截止波長之波長。
  13. 如請求項12之光譜濾波器,其中該選定截止波長係處於一紅外光譜區域中。
  14. 如請求項1之光譜濾波器,其中該彎曲表面包括:一低通反射濾波器,其具有一選定截止波長,其中該光譜之該第一部分包含高於該選定截止波長之波長,其中該光譜之該第二部分包含低於該選定截止波長之波長。
  15. 如請求項14之光譜濾波器,其中該選定截止波長係處於一紅外光譜區域中。
  16. 如請求項1之光譜濾波器,其中該波長選擇塗層包括:一或多個介電層。
  17. 如請求項1之光譜濾波器,其中該波長選擇塗層包括:一或多個金屬層。
  18. 一種濾波光纖照明源,其包括:一光纖照明源,其經組態以提供自一光纖之一輸出面發散之寬頻照明;一彎曲濾波元件,其包含形成一球體之一部分之一凹面,該凹面經形成作為一經拋光之光學表面,該凹面經定位以接收自該光纖之該輸出面發散之該寬頻照明,該光纖之該輸出面係定位於接近該球體之一中心之一第一位置處,該凹面進一步包含一波長選擇塗層,其經組態以透射該寬頻照明之一光譜之一第一部分及反射該寬頻照明之該光譜之一第二部分,其中該光譜之該第一部分及該第二部分提供由一選定截止波長所分離之一寬頻光譜範圍,使得該波長選擇塗層係相對於該選定截止波長之一高通或一低通光譜濾波器之一者,該凹面進一步經組態以將該光譜之該第二部分反射且聚焦至接近該球體之該中心之一第二位置;及一集光器,其經組態以引導該光譜之該第二部分遠離該光纖之該輸出面。
  19. 如請求項18之濾波光纖照明源,其中該光纖照明源包括:一超連續譜雷射源。
  20. 如請求項18之濾波光纖照明源,其中該集光器包括:一額外光纖,其具有處於該第二位置處以接收該光譜之該第二部分之一輸入面。
  21. 如請求項18之濾波光纖照明源,其中該集光器包括:一鏡,其係定位於接近該球體之該中心之該第二位置處,且經定向以引導該光譜之該第二部分遠離該光纖之該輸出面。
  22. 如請求項18之濾波光纖照明源,其中該彎曲濾波元件進一步包含經定位以自該凹面接收該光譜之該第一部分之一出射表面,其中該光譜之該第一部分透過該出射表面出射該彎曲濾波元件。
  23. 如請求項18之濾波光纖照明源,其中該彎曲濾波元件進一步包含經耦合至該光纖之該輸出面以接收自該光纖之該輸出面發散之該光之一輸入表面。
  24. 如請求項23之濾波光纖照明源,其中該彎曲濾波元件進一步包含經定位於該第二位置處之一出射表面,其中該光譜之該第二部分透過該出射表面出射該彎曲濾波元件。
  25. 如請求項24之濾波光纖照明源,其中該集光器包括:一額外光纖,其具有經耦合至該出射表面以接收該光譜之該第二部分之一輸入面。
  26. 如請求項18之濾波光纖照明源,進一步包括:一準直光學元件,其經定位以準直經透射穿過該凹面之該光譜之該第一部分。
  27. 如請求項18之濾波光纖照明源,進一步包括:一準直光學元件,其經定位以準直藉由該集光器引導遠離該光纖之該輸出面之該光譜之該第二部分。
  28. 如請求項18之濾波光纖照明源,進一步包括:一光束捕集器,其經定位以接收經透射穿過該凹面之該光譜之該第一部分或藉由該集光器引導遠離該光纖之該輸出面之該光譜之該第二部分之一者。
  29. 如請求項18之濾波光纖照明源,其中該波長選擇塗層係具有該選定截止波長之一高通反射濾波器。
  30. 如請求項29之濾波光纖照明源,其中該選定截止波長係處於一紅外光譜區域中。
  31. 如請求項18之濾波光纖照明源,其中該彎曲表面係具有該選定截止波長之一低通反射濾波器。
  32. 如請求項31之濾波光纖照明源,其中該選定截止波長係處於一紅外光譜區域中。
  33. 如請求項18之濾波光纖照明源,其中該波長選擇塗層包括:一或多個介電層或一或多個金屬層之至少一者。
  34. 一種用於對來自一光纖之照明濾波之方法,其包括:使用包含形成一球體之一部分之一凹面之一彎曲濾波元件自一光纖之一輸出面接收照明,該凹面經形成作為一經拋光之光學表面,該凹面經定位以接收自經定位於接近該球體之一中心之一第一位置處之一光纖之一輸出面所發散的光;使用該凹面上之一波長選擇塗層來透射該照明之一光譜之一第一部分;使用該凹面上之該波長選擇塗層來反射該光譜之一第二部分,其中該光譜之該第一部分及該第二部分提供由一選定截止波長所分離之一寬頻光譜範圍,使得該波長選擇塗層係相對於該選定截止波長之一高通或一低通光譜濾波器之一者;使用該凹面將該光譜之該第二部分聚焦至接近該球體之該中心之一第二位置;及使用一集光器來引導該光譜之該第二部分遠離該光纖之該輸出面。
TW107125977A 2017-07-31 2018-07-27 用於高功率光纖照明源之光譜濾波器 TWI781200B (zh)

Applications Claiming Priority (4)

Application Number Priority Date Filing Date Title
US201762539543P 2017-07-31 2017-07-31
US62/539,543 2017-07-31
US15/665,911 2017-08-01
US15/665,911 US11187838B2 (en) 2017-07-31 2017-08-01 Spectral filter for high-power fiber illumination sources

Publications (2)

Publication Number Publication Date
TW201918734A TW201918734A (zh) 2019-05-16
TWI781200B true TWI781200B (zh) 2022-10-21

Family

ID=65137902

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
TW107125977A TWI781200B (zh) 2017-07-31 2018-07-27 用於高功率光纖照明源之光譜濾波器

Country Status (7)

Country Link
US (1) US11187838B2 (zh)
EP (1) EP3635453A4 (zh)
JP (1) JP7296940B2 (zh)
KR (1) KR102616532B1 (zh)
CN (1) CN110869823A (zh)
TW (1) TWI781200B (zh)
WO (1) WO2019027705A1 (zh)

Families Citing this family (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
SE541966C2 (en) * 2017-10-17 2020-01-14 Optoskand Ab Optoelectronic assembly for separating wavelengths in optical fibers
EP4250010A1 (en) * 2022-03-25 2023-09-27 ASML Netherlands B.V. Apparatus and methods for filtering measurement radiation
IL314698A (en) * 2022-03-01 2024-10-01 Asml Netherlands Bv Device and methods for filtering radiation measurement

Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5285362A (en) * 1991-09-09 1994-02-08 Nissan Motor Co., Ltd. Discharge lamp having interference filter
US6494606B1 (en) * 1999-12-21 2002-12-17 Wavien, Inc. Color correction for fiber optic illumination systems
US20060227557A1 (en) * 2001-02-21 2006-10-12 Li Kenneth K Illumination system using filament lamps
US20070230871A1 (en) * 2006-03-31 2007-10-04 Serge Bidnyk Planar lightwave filter with mixed diffraction elements
CN206348480U (zh) * 2017-01-06 2017-07-21 福建海创光电有限公司 一种可调谐滤波器

Family Cites Families (22)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS57212414A (en) * 1981-06-25 1982-12-27 Fujitsu Ltd Wavelength selection type optical distributor
JPS61172107A (ja) * 1984-07-30 1986-08-02 カプトロン・インコ−ポ−レテツド 光フアイバ−通信装置
JP3100481B2 (ja) * 1992-11-10 2000-10-16 松下電器産業株式会社 光受動モジュール
JP3175814B2 (ja) * 1995-10-09 2001-06-11 日本電信電話株式会社 導波形光素子及びその製造方法
JP3374029B2 (ja) * 1996-12-16 2003-02-04 アルプス電気株式会社 光カプラ
JPH1168164A (ja) * 1997-08-26 1999-03-09 Rohm Co Ltd 双方向光通信用モジュール
US7937878B2 (en) * 1997-12-08 2011-05-10 Horus Vision Llc Apparatus and method for calculating aiming point information
US6125223A (en) 1998-08-31 2000-09-26 Oriel Corporation Spectrally resolved light
US6879441B1 (en) 2000-03-16 2005-04-12 Thomas Mossberg Holographic spectral filter
JP3438140B2 (ja) 2000-12-28 2003-08-18 学校法人慶應義塾 光信号処理回路及びその製造方法
US7412849B2 (en) * 2002-05-28 2008-08-19 Schott Ag Device for blank pressing optical glass bodies
JP2007114484A (ja) * 2005-10-20 2007-05-10 Canon Inc 光走査装置及びそれを用いた画像形成装置
US20080137032A1 (en) * 2006-12-06 2008-06-12 General Electric Company Optical lens and method of manufacturing
JP2008151897A (ja) * 2006-12-15 2008-07-03 Topcon Corp 光分波装置
US7400794B1 (en) * 2007-06-29 2008-07-15 Coherent, Inc. Transport optical fiber for Q-switched lasers
JP2010282142A (ja) * 2009-06-08 2010-12-16 Sony Corp 分波器
KR101227182B1 (ko) * 2011-07-26 2013-01-28 주식회사 피엔에스 코팅된 오목면을 갖는 렌즈를 이용한 광모듈
JP6188711B2 (ja) * 2011-12-01 2017-08-30 ザ ユニバーシティ オブ ユタ リサーチ ファウンデイション 平坦および湾曲する基板上のフォトニック素子およびその製造方法
EP2914648A1 (en) * 2012-10-31 2015-09-09 Dow Global Technologies LLC Nanocomposites of copolymers and dielectric materials
US9512985B2 (en) * 2013-02-22 2016-12-06 Kla-Tencor Corporation Systems for providing illumination in optical metrology
US9903711B2 (en) * 2015-04-06 2018-02-27 KLA—Tencor Corporation Feed forward of metrology data in a metrology system
JP2017067804A (ja) * 2015-09-28 2017-04-06 国立大学法人名古屋大学 スーパーコンティニュアム光源

Patent Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5285362A (en) * 1991-09-09 1994-02-08 Nissan Motor Co., Ltd. Discharge lamp having interference filter
US6494606B1 (en) * 1999-12-21 2002-12-17 Wavien, Inc. Color correction for fiber optic illumination systems
US20060227557A1 (en) * 2001-02-21 2006-10-12 Li Kenneth K Illumination system using filament lamps
US20070230871A1 (en) * 2006-03-31 2007-10-04 Serge Bidnyk Planar lightwave filter with mixed diffraction elements
CN206348480U (zh) * 2017-01-06 2017-07-21 福建海创光电有限公司 一种可调谐滤波器

Also Published As

Publication number Publication date
US11187838B2 (en) 2021-11-30
US20190033501A1 (en) 2019-01-31
EP3635453A4 (en) 2021-03-31
JP2020529628A (ja) 2020-10-08
CN110869823A (zh) 2020-03-06
JP7296940B2 (ja) 2023-06-23
WO2019027705A1 (en) 2019-02-07
TW201918734A (zh) 2019-05-16
KR20200027562A (ko) 2020-03-12
KR102616532B1 (ko) 2023-12-20
EP3635453A1 (en) 2020-04-15

Similar Documents

Publication Publication Date Title
TWI781200B (zh) 用於高功率光纖照明源之光譜濾波器
US7528967B2 (en) Optical characteristic measuring apparatus and measuring method using light reflected from object to be measured
TWI571180B (zh) 用於監視雷射束的裝置及方法
JPH08234109A (ja) ライトバルブ均等照射装置
JP2006520491A5 (zh)
CN112840176B (zh) 用于确定至少一个对象的位置的检测器
US11579452B2 (en) Compact polarized illuminators using reflective polarizers
JP2004126588A (ja) 透過および反射光ファイバ部品に使用される対称的両非球状レンズ
WO2020102266A1 (en) Radial polarizer for particle detection
US10976562B2 (en) Nano-structured non-polarizing beamsplitter
TW202321673A (zh) 利用空間變化極化轉子及極化器之敏感性粒子偵測
JPS58202421A (ja) 光学要素
KR100763974B1 (ko) 중적외선 파면센서의 광축정렬 장치 및 그 방법
JP6843746B2 (ja) レーザ加工機のための加工ヘッドおよびレーザ加工機
JP7064606B2 (ja) レーザ加工システムの焦点位置を特定する装置、それを備えたレーザ加工システム、および、レーザ加工システムの焦点位置の特定方法
TW202204970A (zh) 用於最佳化對比度以與模糊成像系統一起使用的方法及裝置
EP3376613A1 (fr) Dispositif lumineux avec moyen mobile de balayage et fibre optique
EP1231497A2 (fr) Télescope astronomique
US7773278B2 (en) Reflective optical scanning system having minimized aberration
TWI857089B (zh) 用於實施一雷射維持電漿寬頻光源之系統及方法
US20240113488A1 (en) Suppression of undesired wavelengths in laser light
JP2002328259A (ja) 光学素子
KR960025433A (ko) 광디스크 기록장치용 빔정형프리즘
JPWO2021183387A5 (zh)

Legal Events

Date Code Title Description
GD4A Issue of patent certificate for granted invention patent