TWI753282B - 基於多普勒效應原理的微波探測器及抗輻射干擾方法 - Google Patents

基於多普勒效應原理的微波探測器及抗輻射干擾方法 Download PDF

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Abstract

本發明提供一種基於多普勒效應原理的微波探測器及抗輻射干擾方法，其中通過動態調節所述微波探測器的頻率參數的方式，所述微波探測器所發射的電磁波的頻率被維持動態，降低了所述微波探測器所發射的電磁波頻率、該電磁波的奇次、偶次諧波頻率以及倍頻頻率之任一電磁輻射頻率與其它無線電設備的工作頻率同頻的概率，即降低了所述微波探測器對其它無線電設備造成干擾的概率。同時，所述微波探測器能夠接收的電磁波的頻率被維持動態，降低了所述微波探測器能夠接收的電磁波的頻率與同頻段的電磁輻射持續同頻的概率，即降低了所述微波探測器被同頻段的其它電磁輻射干擾的概率。

Description

基於多普勒效應原理的微波探測器及抗輻射干擾方法
本發明涉及微波探測領域，特別涉及基於多普勒效應原理的微波探測器及抗輻射干擾方法。
隨著物聯網的發展和普及，如物聯網在人工智能和智能家居領域的應用，其中無線電技術，包括基於多普勒效應原理的微波探測技術作為人與物，物與物之間相聯的重要樞紐被越來越廣泛地使用，ISM(Industrial Scicntific Medical)Band是由ITU-R(ITU Radiocommunication Sector，國際通信聯盟無線電通信局)定義的供開放給諸如工業、科學和醫學等機構使用的無需授權許可的頻段，在ITU-R開放的這些頻段中被應用于微波探測的頻段主要有2.4Ghz、5.8Ghz、10.525Ghz、24.125Gh等頻段，相應的微波探測器在使用這些頻段時需要遵守一定的發射功率(一般發射功率低於1W)以減小對其他無線電設備的干擾，雖然不同頻段的定義和許可能夠規範無線電的使用頻段而減小不同頻段的無線電設備之間相互干擾的概率，然而在有限的頻段資源許可下，隨著相鄰頻段或相同頻段的無線電使用覆蓋率的提升，相鄰或相同頻段的無線電之間相互干擾的問題卻日益嚴重。
此外，由於無線電技術同時作為通信領域中信息傳遞的樞紐，其抗干擾能力關乎經濟和國防安全，因此，國際上以及不同國家和地區還對無線電技術的抗干擾能力提出了相應的認證標準，如歐盟的RED認證、美國的FCC認證。也就是說，即便是基於多普勒效應原理使用無需授權許可的頻段的微波探測器，其在面對日益嚴重的相互干擾的問題的同時，還需要面對國際以及相應國家和地區的認證標準。特別是目前隨著5G高速通信的發展，高頻率的通信網絡的覆蓋率及相應的通信設備的普及率越來越高，勢必導致5.8Ghz頻段的相鄰頻段的擁堵，則目前較為普及的使用5.8Ghz的所述微波探測器將面臨更為嚴重的電磁輻射干擾，同時對使用5.8Ghz頻段的所述微波探測器的認證標準也更加嚴格，如目前的依IEC(International Electrical Commission，國際電工委員會)標準的RS(Radiated Susceptibility，輻射抗擾度)測試頻率點的上限也相應地被提高至6Ghz。
如圖1所示，傳統的使用5.8Ghz頻段的所述微波探測器的結構框圖被圖示說明，其中所述微波探測器包括一天線回路10P，一振盪器20P，一混頻檢波單元30P，其中所述微波探測器的振盪器20P由於採用自激振盪的方式，其振盪頻率難以在製造過程中被精確控制並固定處於5.8Ghz頻段(5.725-5.875Ghz)中的某一頻點，同時具有一定的頻寬，所述天線回路10P被所述振盪器20P激發而發射所述振盪器20P的頻點的電磁波信號並接收相應的回波信號，所述混頻檢波單元30P同時連接於所述振盪器20P與所述天線回路10P以檢測發射的電磁波信號與接收的回波信號之間的頻率差，其中基於多普勒效應原理，在所述微波探測器的探測區域存在運動的物體時，所述微波探測器發射的電磁波信號與接收的回波信號之間存在頻率差而使得所述混頻檢波單元30P能 夠輸出多普勒信號。可以理解的是，當所述探測區域內存在與所述微波探測器的具有一定頻寬的頻點相對應的頻率的其他電磁波信號時，所述天線回路10P同樣能夠接收該電磁波信號而被干擾，也就是說，當5.8Ghz頻段及相鄰頻段的電磁波覆蓋率越來越高時，所述微波探測器被干擾的概率也將越來越大，並在RS測試中，由於採用調幅信號通過逐漸增加測試信號的頻率的方式對所述微波探測器進行抗干擾測試，則使用5.8Ghz頻段的任何所述微波探測器，由於所述振盪器20P的頻率固定處於5.8Ghz頻段中的某一頻點，以致所述微波探測器在RS測試中一定會被某一頻率的測試信號或由測試信號頻率產生的奇次、偶次諧波或倍頻信號竄入而被干擾。
因此，目前基於多普勒效應原理的所述微波探測器，特別是使用5.8Ghz頻段的所述微波探測器，其所面臨的相互干擾問題將會愈加嚴重，並無法在面向市場前通過RS測試。
本發明的一目的在於提供一基於多普勒效應原理的微波探測器及抗輻射干擾方法，其中通過動態調節所述微波探測器的頻率參數的方式，允許所述微波探測器所發射的電磁波的頻率被維持動態，則所述微波探測器所發射的電磁波頻率，該電磁波的奇次、偶次諧波頻率以及倍頻頻率之任一電磁輻射頻率與其它無線電設備的工作頻率同頻的概率被降低，即降低了所述微波探測器對其它無線電設備造成干擾的概率。
本發明的另一目的在於提供一基於多普勒效應原理的微波探測器及抗輻射干擾方法，其中通過動態調節所述微波探測器的頻率參數的方式， 允許所述微波探測器能夠接收的電磁波的頻率被維持動態，降低了所述微波探測器能夠接收的電磁波的頻率與同頻段的電磁輻射持續同頻的概率，即降低了所述微波探測器被同頻段的其它電磁輻射干擾的概率，有利於提高所述微波探測器的穩定性。
本發明的另一目的在於提供一基於多普勒效應原理的微波探測器及抗輻射干擾方法，其中通過動態調節所述微波探測器的頻率參數的方式，既降低了所述微波探測器對其它無線電設備造成干擾的概率，也降低了所述微波探測器被同頻段的電磁輻射干擾的概率，即提高了所述微波探測器的抗輻射干擾能力。
本發明的另一目的在於提供一基於多普勒效應原理的微波探測器及抗輻射干擾方法，其中所述微波探測器基於多普勒效應原理對一探測區域發射電磁波並接收對應的回波而在發射的電磁波與對應的回波之間存在特徵參數的差異時生成一差異信號，則所述差異信號為對所述探測區域的物體的運動的響應。
本發明的另一目的在於提供一基於多普勒效應原理的微波探測器及抗輻射干擾方法，其中所述差異信號為依發射的電磁波與接收的回波之間的頻率差異生成的一頻差信號，以依所述頻差信號的特徵參數判斷所述探測區域內的物體的運動狀態，如所述探測區域內物體的移動或微動狀態。
本發明的另一目的在於提供一基於多普勒效應原理的微波探測器及抗輻射干擾方法，其中所述差異信號為依發射的電磁波與接收的回波之間的相位差異生成的一相差信號，以依所述相差信號的特徵參數判斷所述探測區域內的物體的運動狀態，如所述探測區域內物體的移動或微動狀態。
本發明的另一目的在於提供一基於多普勒效應原理的微波探測器及抗輻射干擾方法，其中所述微波探測器基於多普勒效應原理生成所述頻差信號或所述相差信號，並由於所述探測區域內物體的運動速度遠小於基於光速的電磁波傳輸速率，即所述微波探測器發射的所述電磁波從被發射到被反射形成相應的所述回波並被接收的瞬間，所述微波探測器的頻率參數允許被認為沒有發生變化，則對所述微波探測器的頻率參數的動態調節難以對所述頻差信號或所述相差信號造成干擾而能夠維持所述差異信號對所述探測區域內物體的運動的反饋的準確性。
本發明的另一目的在於提供一基於多普勒效應原理的微波探測器及抗輻射干擾方法，其中所述微波探測器的頻率參數被維持動態而能夠避免所述微波探測器在RS測試中被某一頻率的測試信號或由測試信號頻率的奇次、偶次諧波或倍頻信號竄入而被干擾，則所述微波探測器能夠通過RS測試。
本發明的另一目的在於提供一基於多普勒效應原理的微波探測器及抗輻射干擾方法，其中所述微波探測器基於多普勒效應原理生成所述差異信號，通過對所述差異信號的進一步處理，如對所述頻差信號進行幅度和/或頻率的限制過濾，則對所述微波探測器頻率參數的動態調節以及所述探測區域內同頻段的其它電磁輻射不會對所述頻差信號造成干擾而能夠維持所述頻差信號對所述探測區域內物體的運動的反饋的準確性。
本發明的另一目的在於提供一基於多普勒效應原理的微波探測器及抗輻射干擾方法，其中由於對所述微波探測器的頻率參數的動態調節不會對所述差異信號造成影響，如於特定頻率範圍對所述微波探測器的頻率參數進行無級調節或採用跳頻技術對所述微波探測器的頻率參數進行分級調節，因此 對所述微波探測器的頻率參數的動態調節能夠避免解碼器及相關解碼算法的使用而區別於通信領域的頻率動態調節技術，則所述微波探測器的抗輻射干擾方法實現簡單，相應的所述微波探測器結構簡單，成本低廉。
本發明的另一目的在於提供一基於多普勒效應原理的微波探測器及抗輻射干擾方法，其中在不需要解碼器和相關解碼算法的前提下，對所述微波探測器的頻率參數的動態調節更加靈活簡單，如在通信領域的跳頻技術的基礎上，不限定跳頻方式並避免解碼器和相關解碼算法的使用即可實現對所述微波探測器的頻率參數的動態調節，便於實施且成本低廉。
本發明的另一目的在於提供一基於多普勒效應原理的微波探測器及抗輻射干擾方法，其中對所述微波探測器的頻率參數調節採用按頻率高低順序跳頻、按設定規則跳頻以及隨機跳頻之任一跳頻調節方式而不需要解碼器和相關解碼算法，因而簡單易行且成本低廉。
本發明的另一目的在於提供一基於多普勒效應原理的微波探測器及抗輻射干擾方法，其中通過檢測所述探測區域內同頻段的電磁輻射頻率點，對所述微波探測器的頻率參數調節能夠採用主動規避的動態調節方式，以進一步提高所述微波探測器的抗輻射干擾性能。
本發明的另一目的在於提供一基於多普勒效應原理的微波探測器及抗輻射干擾方法，其中在所述探測區域內的物體被維持靜態時，所述微波探測器以動態頻率發射至少兩種不同頻率的電磁波，和根據所述差異信號判斷所述探測區域存在微波干擾源，以基於所述微波探測器發射的電磁波頻率識別出所述探測區域的微波干擾源的頻率，並以發射不同于所述微波干擾源的頻率的電磁波至所述探測區域的方式主動規避地動態調節所述微波探測器的頻率參 數，進而排除所述微波干擾源對所述微波探測器的干擾，有利於提高所述微波探測器的穩定性。
本發明的另一目的在於提供一基於多普勒效應原理的微波探測器及抗輻射干擾方法，其中所述微波探測器以動態頻率發射至少兩種不同頻率的電磁波和基於所述微波探測器發射的電磁波頻率識別出所述探測區域的微波干擾源的頻率，並發射不同于所述微波干擾源的頻率的電磁波至所述探測區域，以避免所述微波探測器所發射的電磁波頻率與其它無線電設備的工作頻率同頻，即避免了所述微波探測器所發射的電磁波影響其他無線電設備的正常工作。
本發明的另一目的在於提供一基於多普勒效應原理的微波探測器及抗輻射干擾方法，其中所述微波探測器基於所述差異信號反饋調節所述微波探測器發射的電磁波的頻率，以在所述微波探測器連續發射的其中至少一頻率的電磁波不存在對應的所述差異信號時判斷所述探測區域存在微波干擾源，有利於提高所述差異信號對所述探測區域內物體的運動的反饋的準確性。
本發明的另一目的在於提供一基於多普勒效應原理的微波探測器及抗輻射干擾方法，其中通過對所述微波探測器的一振盪器輸入一頻變控制電壓/電流的反饋調整方式，動態調節所述微波探測器的頻率參數，以允許所述微波探測器以動態頻率發射電磁波，和允許所述微波探測器能夠接收的電磁波的頻率被維持動態。
本發明的另一目的在於提供一基於多普勒效應原理的微波探測器及抗輻射干擾方法，其中通過輸出一階梯電壓的方式調整對所述振盪器的反 饋工作電壓/電流，以通過跳頻的方式分級動態調節所述微波探測器的頻率參數。
本發明的另一目的在於提供一基於多普勒效應原理的微波探測器及抗輻射干擾方法，其中通過輸出一線性模擬電壓的方式調整對所述振盪器的反饋工作電壓/電流，以通過無級頻變的方式無級動態調節所述微波探測器的頻率參數。
本發明的另一目的在於提供一基於多普勒效應原理的微波探測器及抗輻射干擾方法，其中通過輸出一脈衝積分電壓的方式調整對所述振盪器的反饋工作電壓/電流，以通過無級頻變的方式無級動態調節所述微波探測器的頻率參數。
本發明的另一目的在於提供一基於多普勒效應原理的微波探測器及抗輻射干擾方法，其中所述微波探測器不需要改變傳統微波探測器的結構，也不需要昂貴複雜設備，從而本發明為所述微波探測器的抗輻射干擾提供一種經濟、有效的解決方案。
本發明的另一目的在於提供一基於多普勒效應原理的微波探測器及抗輻射干擾方法，其中所述微波探測器的天線回路為低阻抗天線，通過降低阻抗的方式使得所述微波探測器的頻寬變窄，有利於避免所述微波探測器接收或產生的微波信號被相鄰頻段的電磁輻射干擾。
本發明的另一目的在於提供一基於多普勒效應原理的微波探測器及抗輻射干擾方法，其中通過晶振或標準頻率源為所述微波探測器提供基礎的窄頻振盪頻率，則所述微波探測器的頻寬變窄，有利於提高所述微波探測器的抗輻射干擾性能。
本發明的另一目的在於提供一基於多普勒效應原理的微波探測器及抗輻射干擾方法，其中基於現有的自動頻率控制電路(AFC)、鎖相環(PLL)、直接數字式頻率合成器(DDS)、壓控振盪器(VCO)、分頻器、倍頻器之任一電路模組及組合，所述微波探測器的頻點可控，以實現對所述微波探測器的頻率參數的跳頻調節，因而簡單易行。
本發明的另一目的在於提供一基於多普勒效應原理的微波探測器及抗輻射干擾方法，其中所述微波探測器的頻寬變窄，則在固定的頻段內，如5.8Ghz頻段內，所述微波探測器的可跳頻點增多，進而有利於降低被跳頻調節的所述微波探測器被同頻段的電磁輻射干擾的概率，即有利於通過跳頻調節所述微波探測器的頻率參數的方式提高所述微波探測器的抗輻射干擾性能。
本發明的另一目的在於提供一基於多普勒效應原理的微波探測器及抗輻射干擾方法，其中所述微波探測器以動態頻率連續發射不同頻點的電磁波，使得不同頻點的電磁波的諧波(二次諧波、三次諧波等)趨於平緩，有利於降低所述微波探測器的諧波干擾。
依本發明的一個方面，本發明提供一基於多普勒效應原理的微波探測器的抗輻射干擾方法，其中所述抗輻射干擾方法包括如下步驟：在一頻段內以動態頻率發射至少一檢測波束而形成至少一探測區域；接收所述檢測波束在所述探測區域內被至少一物體反射而形成的一回波；以及依所述檢測波束與所述回波之間的特徵參數差異輸出一差異信號，則所述差異信號為對所述探測區域內的所述物體的運動的響應； 其中，在所述步驟(a)被執行的期間，所述步驟(b)和所述步驟(c)被執行。
在一實施例中，其中根據所述步驟(a)，所述頻段是頻率範圍為5.725-5.875Ghz的5.8Ghz頻段。
在一實施例中，其中在所述步驟(c)中，所述差異信號為依所述檢測波束與相應的所述回波之間的頻率差異生成的頻差信號。
在一實施例中，其中在所述步驟(c)中，所述差異信號為依所述檢測波束與相應的所述回波之間的相位差異生成的相差信號。
在一實施例中，其中在所述步驟(a)中，檢測所述差異信號，並在所述差異信號存在波動時跳頻發射所述檢測波束。
在一實施例中，其中在所述步驟(a)中，檢測所述差異信號，並在所述差異信號存在波動時至少一次跳頻發射所述檢測波束，並在後續，固定維持所述檢測波束的發射頻率。
在一實施例中，其中在所述步驟(a)中，檢測所述探測區域內同頻段的電磁輻射頻率點，並在所述探測區域存在同頻段的電磁輻射頻率點時，以未被檢測到的頻率點跳頻發射所述檢測波束。
在一實施例中，其中在所述步驟(a)中，藉由晶振或標準頻率源提供基礎的窄頻振盪頻率，並於所述頻段內，以所述窄頻振盪頻率的不同倍頻級數的頻率跳頻發射所述檢測波束，從而實現以動態頻率發射所述檢測波束。
在一實施例中，其中在所述步驟(a)中，藉由現有的自動頻率控制電路(AFC)、鎖相環(PLL)、直接數字式頻率合成器(DDS)、壓控 振盪器(VCO)、分頻器、倍頻器之任一電路模組及組合生成所述窄頻振盪頻率的不同倍頻級數的頻率而跳頻發射所述檢測波束。
在一實施例中，其中在所述步驟(c)之後進一步包括步驟：通過限制所述差異信號的波動幅度的方式對所述差異信號過濾，以避免所述檢測波束的發射頻率的變化對所述差異信號的干擾而能夠維持所述差異信號對所述探測區域內物體的運動的反饋的準確性。
在一實施例中，其中在所述步驟(a)中，藉由一振盪器提供振盪頻率，並於所述頻段內，以傳輸一頻變控制信號至所述振盪器的方式控制一天線回路以動態頻率發射所述檢測波束。
在一實施例中，其中在所述步驟(a)中，所述頻變控制信號為一階梯電壓，以在所述頻段內以跳頻發射所述檢測波束。
在一實施例中，其中在所述步驟(a)中，其中所述階梯電壓基於高電平、低電平和高阻狀態之間的切換形成。
在一實施例中，其中在所述步驟(a)中，其中所述階梯電壓為基於高電平到低電平之間的分段電壓變化。
在一實施例中，其中在所述步驟(a)中，所述頻變控制信號為一線性模擬電壓，以在所述頻段內以線性變化的動態頻率發射所述檢測波束。
在一實施例中，其中在所述步驟(a)中，所述頻變控制信號為一脈衝積分電壓，其中所述脈衝積分電壓為脈衝寬度調節並積分處理後的直流電壓。
在一實施例中，其中在所述步驟(a)中，檢測所述差異信號，並在所述差異信號存在波動時傳輸所述頻變控制信號至所述振盪器。
依本發明的另一個方面，本發明還提供一基於多普勒效應原理的微波探測器，其中所述微波探測器包括：一跳頻振盪元，其中所述跳頻振盪元能夠在一頻段內跳頻輸出一激勵信號；一天線回路，其中所述天線回路電性連接於所述跳頻振盪元，以能夠被所述激勵信號激勵而發射與所述激勵信號同頻的至少一檢測波束，繼而形成至少一探測區域，並接收所述檢測波束在所述探測區域內被至少一物體反射而形成的一回波；以及一混頻檢波單元，其中所述混頻檢波單元被電性連接於所述跳頻振盪元和所述天線回路，以在所述天線回路接收所述回波時，所述天線回路能夠將接收到的所述回波以回波信號的形式輸送至所述混頻檢波單元，其中所述混頻檢波單元被設置以接收所述激勵信號和所述回波信號並依所述激勵信號和所述回波信號之間的特徵參數差異輸出一差異信號，則所述差異信號為對所述探測區域內的所述物體的運動的響應。
在一實施例中，其中所述混頻檢波單元被設置依所述激勵信號和所述回波信號之間的頻率參數差異輸出所述差異信號。
在一實施例中，其中所述混頻檢波單元被設置依所述激勵信號和所述回波信號之間的相位參數差異輸出所述差異信號。
在一實施例中，其中所述跳頻振盪元進一步被設置為能夠藉由與所述混頻檢波單元之間的電性連接檢測所述差異信號，並在所述差異信號存在波動時跳頻輸出所述激勵信號，以允許所述天線回路在所述差異信號存在波動時跳頻發射所述檢測波束。
在一實施例中，其中在所述差異信號存在波動時，所述跳頻振盪元至少一次跳頻輸出所述激勵信號，並在後續，固定維持所述激勵信號的輸出頻率，以允許所述天線回路所發射的所述檢測波束在所述差異信號存在波動時發生至少一次頻變，並在後續被維持於固定的頻率。
在一實施例中，其中所述跳頻振盪元被設置以晶振或標準頻率源提供基礎的窄頻振盪頻率，以允許所述跳頻振盪元以所述窄頻振盪頻率的不同倍頻級數的頻率跳頻輸出所述激勵信號。
在一實施例中，其中所述跳頻振盪元進一步包括自動頻率控制電路(AFC)、鎖相環(PLL)、直接數字式頻率合成器(DDS)、壓控振盪器(VCO)、分頻器、倍頻器之任一電路模組及組合，以基於所述晶振或所述標準頻率源提供的所述窄頻振盪頻率生成的不同倍頻級數的頻率而跳頻輸出所述激勵信號。
在一實施例中，其中所述跳頻振盪元被設置為鎖相環並以所述晶振提供基礎的窄頻振盪頻率，以使得所述跳頻振盪元能夠被跳頻調控信號控制而以所述窄頻振盪頻率的不同倍頻級數的頻率跳頻輸出所述激勵信號。
在一實施例中，其中被設置為鎖相環的所述跳頻振盪元包括所述晶振，一鑒相器，一低通濾波以及所述壓控振盪器，其中所述晶振，所述鑒相器，所述低通濾波以及所述壓控振盪器順序相連且所述鑒相器與所述壓控振盪器相連，其中所述壓控振盪器同時被連接於所述天線回路和所述混頻檢波單元，以能夠通過跳頻調控信號控制所述壓控振盪器的方式使得所述跳頻振盪元以所述窄頻振盪頻率的不同倍頻級數的頻率跳頻輸出所述激勵信號。
在一實施例中，其中所述跳頻振盪元被設置為自動頻率控制電路並以所述標準頻率源提供基礎的窄頻振盪，以使得所述跳頻振盪元能夠被控制以所述窄頻振盪頻率的不同倍頻級數的頻率跳頻輸出所述激勵信號。
在一實施例中，其中被設置為自動頻率控制電路的所述跳頻振盪元包括所述標準頻率源，一鑒頻器，一控制單元以及所述壓控振盪器，其中所述鑒頻器分別被連接於所述標準頻率源、所述控制單元以及所述壓控振盪器，其中所述控制單元同時被連接於所述壓控振盪器，其中所述壓控振盪器同時被連接於所述天線回路和所述混頻檢波單元，以能夠通過所述控制單元控制所述壓控振盪器的方式以所述窄頻振盪頻率的不同倍頻級數的頻率跳頻輸出所述激勵信號。
在一實施例中，其中所述跳頻振盪元被設置以所述晶振提供基礎的窄頻振盪，並通過對所述直接數字式頻率合成器的跳頻信號設置而以所述窄頻振盪頻率的不同倍頻級數的頻率跳頻輸出所述激勵信號。
在一實施例中，其中所述跳頻振盪元包括所述晶振和與所述晶振相連的所述直接數字式頻率合成器，其中所述直接數字式頻率合成器同時被連接於所述天線回路和所述混頻檢波單元，如此以通過對所述直接數字式頻率合成器進行跳頻信號設置的方式跳頻輸出所述激勵信號。
在一實施例中，其中所述跳頻振盪元被設置為鎖相環而以所述晶振提供基礎的窄頻振盪，並通過對所述直接數字式頻率合成器進行跳頻信號設置而以所述窄頻振盪頻率的不同倍頻級數的頻率跳頻輸出所述激勵信號。
在一實施例中，其中所述跳頻振盪元包括順序相連的所述晶振、所述倍頻器、所述直接數字式頻率合成器、一低通濾波、一鑒相器、另一 所述低通濾波以及所述壓控振盪器，其中所述壓控振盪器同時還被連接於所述鑒相器、所述天線回路以及所述混頻檢波單元，以通過對所述直接數字式頻率合成器進行跳頻信號設置的方式跳頻輸出所述激勵信號。
在一實施例中，其中所述跳頻振盪元被設置為以自激勵振盪的方式輸出所述激勵信號的一振盪器，和與所述振盪器電性相連的一頻變設置模組，其中所述頻變設置模組被設置以輸出一頻變控制信號至所述振盪器的方式控制所述振盪器以動態頻率輸出所述激勵信號。
在一實施例中，其中所述頻變設置模組被設置以當所述差異信號存在波動時輸出所述頻變控制信號至所述振盪器。
在一實施例中，其中所述頻變設置模組輸出的所述頻變控制信號為一階梯電壓。
在一實施例中，其中所述階梯電壓為基於高電平、低電平和高阻狀態之間的切換。
在一實施例中，其中所述階梯電壓為基於高電平到低電平之間的分段電壓變化。
在一實施例中，其中所述頻變設置模組輸出的所述頻變控制信號為一線性模擬電壓。
在一實施例中，其中所述頻變設置模組輸出的所述頻變控制信號為一脈衝積分電壓，其中所述脈衝積分電壓為脈衝寬度調節並積分處理後的直流電壓。
在一實施例中，其中所述微波探測器進一步包括一放大單元，其中所述放大單元電性連接於所述混頻檢波單元，其中所述放大單元放大所述差異信號。
通過對隨後的描述和附圖的理解，本發明進一步的目的和優勢將得以充分體現。
本發明的這些和其它目的、特點和優勢，通過下述的詳細說明，附圖和權利要求得以充分體現。
10:天線回路
101:天線發射回路
102:天線接收回路
20:跳頻振盪元
20A:振盪器
201:晶振
202:鑒相器
203:低通濾波
204:壓控振盪器(VCO)
205:標準頻率源
206:鑒頻器
207:控制單元
208:直接數字式頻率合成器
209:倍頻器
210:分頻器
30:混頻檢波單元
40:控制模組
41:頻變設置模組
42:干擾識別模組
43:放大單元
100:天線電路
200:振盪電路
300:混頻檢波電路
圖1為現有的使用5.8Ghz頻段的一微波探測器的結構框圖。
圖2為現有的使用5.8Ghz頻段的所述微波探測器的頻點分佈示意圖。
圖3為依本發明的使用5.8Ghz頻段的一微波探測器的頻點分佈示意圖。
圖4為依本發明的基於鎖相環實現跳頻處理的一實施例的一微波探測器的結構框圖。
圖5為依本發明的基於自動頻率控制電路實現跳頻處理的一實施例的一微波探測器的結構框圖。
圖6為依本發明的基於直接數字式頻率合成器實現跳頻處理的一實施例的一微波探測器的結構框圖。
圖7為依本發明的基於鎖相環和直接數字式頻率合成器結合實現跳頻處理的一實施例的一微波探測器的結構框圖。
圖8為依本發明的基於現有微波探測器的結構實現頻率參數動態調節的一實施例的一微波探測器的整體結構框架示意圖。
圖9為依本發明的上述實施例的所述微波探測器的系統框架示意圖。
圖10為依本發明的上述實施例的所述微波探測器的另一可選實施方式的整體結構框架示意圖。
圖11為依本發明的上述實施例的所述微波探測器的另一可選實施方式的整體結構框架示意圖。
圖12A為依本發明的上述實施例的所述微波探測器的一個等效電路實施示意圖。
圖12B為依本發明的上述實施例的所述微波探測器的另一等效電路實施示意圖。
圖12C為依本發明的上述實施例的所述微波探測器的另一等效電路實施示意圖。
本領域技術人員應理解的是，在本發明的揭露中，術語“縱向”、“橫向”、“上”、“下”、“前”、“後”、“左”、“右”、“豎直”、“水平”、“頂”、“底”“內”、“外”等指示的方位或位置關係是基於附圖所示的方位或位置關係，其僅是為了便於描述本發明和簡化描述，而不是指示或暗示所指的裝置或元件必須具有特定的方位、以特定的方位構造和操作，因此上述術語不能理解為對本發明的限制。
可以理解的是，術語“一”應理解為“至少一”或“一個或多個”，即在一個實施例中，一個元件的數量可以為一個，而在另外的實施例中，所述元件的數量可以為多個，術語“一”不能理解為對數量的限制。
本發明提供一基於多普勒效應原理的抗輻射干擾方法，其中通過動態調節所述微波探測器的頻率參數的方式，所述微波探測器所發射的電磁波的頻率被維持動態，降低了所述微波探測器所發射的電磁波頻率、該電磁波的奇次、偶次諧波頻率以及倍頻頻率之任一電磁輻射頻率與其它無線電設備的工作頻率同頻的概率，即降低了所述微波探測器對其它無線電設備造成干擾的概率。同時，所述微波探測器能夠接收的電磁波的頻率被維持動態，降低了所述微波探測器能夠接收的電磁波的頻率與同頻段的電磁輻射持續同頻的概率，即降低了所述微波探測器被同頻段的其它電磁輻射干擾的概率。
具體地，本發明的基於多普勒效應原理的抗輻射干擾方法包括以下步驟：在一頻段內以動態頻率發射至少一檢測波束而形成至少一探測區域；接收所述檢測波束在所述探測區域內被至少一物體反射而形成的一回波；以及依所述檢測波束與所述回波之間的特徵參數差異輸出一差異信號，則所述差異信號為對所述探測區域內的所述物體的運動的響應。
值得一提的是，所述檢測波束的傳輸速度基於光速，在所述步驟(a)中對所述檢測波束的發射動作，所述步驟(b)中對相應的所述回波的接收動作，以及所述步驟(c)中對所述差異信號的輸出動作在一定的時間期 間內被認為同時進行，如所述步驟(b)和所述步驟(c)在所述步驟(a)被執行的期間被執行，而在本發明的一些實施例中，所述步驟(b)和所述步驟(c)也可以在所述步驟(a)中所述檢測波束的頻率變化的期間不被執行，故可以理解的是，本發明的基於多普勒效應原理的所述抗輻射干擾方法的描述並不構成對所述步驟(a)，所述步驟(b)以及所述步驟(c)的順序的限制，包括所述步驟(a)，所述步驟(b)以及所述步驟(c)即視為本發明的基於多普勒效應原理的所述抗輻射干擾方法。
特別地，其中在所述步驟(c)中，所述差異信號為依所述檢測波束與相應的所述回波之間的頻率差異生成的頻差信號，或依所述檢測波束與相應的所述回波之間的相位差異生成的相差信號，以依所述頻差信號或所述相差信號的特徵參數判斷所述探測區域的物體的運動狀態。
可以理解的是，由於所述探測區域內物體的運動速度遠小於基於光速的電磁波傳輸速率，在本發明的基於多普勒效應原理的所述抗輻射干擾方法中，所述步驟(a)中被發射的所述檢測波束從被發射到被反射形成相應的所述回波並被接收的瞬間耗時遠遠小於所述步驟(a)中的所述檢測波束的發射頻率發生變化的期間耗時，則在所述步驟(a)中被發射的所述檢測波束從被發射到被反射形成相應的所述回波並被接收的瞬間，所述步驟(a)中發射的所述檢測波束的頻率允許被認為沒有發生變化，即在所述步驟(a)中以動態頻率發射所述檢測波束難以對所述步驟(c)中輸出的所述差異信號造成干擾，從而能夠維持所述差異信號對所述探測區域內物體的運動的反饋的準確性。
由於在所述步驟(a)中發射的所述檢測波束的頻率的變化難以對所述步驟(c)中的所述差異信號造成干擾，則本發明的基於多普勒效應原理的所述抗輻射干擾方法的所述步驟(a)中，對所述檢測波束的發射頻率的動態調整適合採用跳頻技術並能夠避免解碼器和相關解碼算法的使用而區別於通信領域的跳頻處理技術，因此本發明的基於多普勒效應原理的所述抗輻射干擾方法實現簡單。
具體地，在本發明的一個優選實施例中，其中在所述步驟(a)中，藉由晶振或標準頻率源提供基礎的窄頻振盪頻率，並於所述頻段內，如頻率範圍為5.725-5.875Ghz的5.8Ghz頻段內，以所述窄頻振盪頻率的不同倍頻級數的頻率跳頻發射所述檢測波束，從而形成對所述檢測波束的發射頻率的動態調整。
值得一提的是，本發明的基於多普勒效應原理的所述抗輻射干擾方法採用晶振或標準頻率源提供基礎的窄頻振盪頻率，並在所述步驟(a)中以所述窄頻振盪頻率的倍頻跳頻發射所述檢測波束，其中由於晶振或標準頻率源的窄頻振盪的頻寬較窄，則在固定的頻段內，如5.8Ghz的頻段內，在所述步驟(a)中跳頻發射所述檢測波束的可跳頻點增多，有利於降低所述檢測波束與同頻段的電磁輻射同頻的概率。
進一步地，在所述步驟(a)中，藉由現有的自動頻率控制電路(AFC)、鎖相環(PLL)、直接數字式頻率合成器(DDS)之任一電路模組及組合生成所述窄頻振盪頻率的不同倍頻級數的頻率而跳頻發射所述檢測波束，因此本發明的基於多普勒效應原理的所述抗輻射干擾方法實現簡單。
示例地，在本發明的一個優選實施例中，其中在所述步驟(a)中，以晶振提供基礎的窄頻振盪頻率，並通過跳頻調控信號控制鎖相環的方式生成所述窄頻振盪頻率的不同倍頻級數的頻率而生成不同的工作頻率點，從而跳頻發射所述檢測波束。
示例地，在本發明的另一個優選實施例中，其中在所述步驟(a)中，以標準頻率源提供基礎的窄頻振盪頻率，並通過控制自動頻率控制電路的方式生成所述窄頻振盪頻率的不同倍頻級數的頻率而生成不同的工作頻率點，從而跳頻發射所述檢測波束。
示例地，在本發明的另一個優選實施例中，其中在所述步驟(a)中，以晶振提供基礎的窄頻振盪頻率，並通過對直接數字式頻率合成器的跳頻信號設置的方式生成所述窄頻振盪頻率的不同倍頻級數的頻率而生成不同的工作頻率點，從而跳頻發射所述檢測波束。
示例地，在本發明的另一個優選實施例中，其中在所述步驟(a)中，以晶振提供基礎的窄頻振盪頻率，並於鎖相環通過對直接數字式頻率合成器的跳頻信號設置的方式生成所述窄頻振盪頻率的不同倍頻級數的頻率而生成不同的工作頻率點，從而跳頻發射所述檢測波束。
特別地，在本發明的一個優選實施例中，其中在所述步驟(a)中，以一振盪器提供振盪頻率輸出，並通過對所述振盪器輸入一頻變控制電壓/電流的反饋調整方式改變所述振盪器的輸出頻率，從而以動態頻率發射所述檢測波束。
因此，在本發明的基於多普勒效應原理的所述抗輻射干擾方法中，其中根據所述步驟(a)，對所述檢測波束的跳頻發射的實現方式並不構 成對本發明的所述抗輻射干擾方法限制，例如但不限於基於現有的自動頻率控制電路(AFC)、鎖相環(PLL)、直接數字式頻率合成器(DDS)之任一電路模組及組合生成不同的工作頻點而以跳頻發射所述檢測波束，或通過對所述振盪器輸入一頻變控制電壓/電流的反饋調整方式改變所述振盪器的輸出頻率而以動態頻率發射所述檢測波束。
特別地，本發明的基於多普勒效應原理的所述抗輻射干擾方法由於對所述檢測波束的發射頻率的動態調整適合採用跳頻技術並能夠避免解碼器和相關解碼算法的使用，則在所述步驟(a)中，對所述檢測波束的發射頻率的動態變化規則並不限制，例如但不限於以頻率高低順序規則跳頻發射所述檢測波束，或以設定規則跳頻發射所述檢測波束，或以隨即規則跳頻發射所述檢測波束。
進一步地，在本發明的一個優選實施例中，其中在所述步驟(a)中，以主動規避的方式跳頻發射所述檢測波束，具體地，在所述步驟(a)中，檢測所述差異信號，並在所述差異信號存在波動時跳頻發射所述檢測波束。
可以理解的是，基於多普勒效應原理，在所述步驟(c)中輸出的所述差異信號為對所述探測區域內的所述物體的運動的響應，即在所述探測區域的所述物體運動時，所述檢測波束與所述回波之間由於存在頻率和/或相位的特徵參數差值，其中所述檢測波束與所述回波之間的頻率和/或相位的特徵參數差值在所述差異信號中表現為波動變化，如作為電信號的所述差異信號的電壓大小或頻率的波動變化，也就是說，在所述差異信號中的波動變化對應於所述檢測波束與所述回波之間存在的頻率和/或相位的特徵參數差值變化。
然而，在所述步驟(b)中，當所述探測區域存在與所述檢測波束同頻的電磁輻射干擾時，同頻的電磁輻射能夠與所述檢測波束的回波同時被接收，也就是說，所述步驟(c)中輸出的所述差異信號中的波動變化還可能對應所述檢測波束與所述探測區域的電磁干擾輻射之間存在的頻率和/或相位的特徵參數差值變化。
因此，在本發明的這個優選實施例中，在所述步驟(a)中，檢測所述差異信號，並在所述差異信號存在波動時跳頻發射所述檢測波束，即以至少一次頻率變化的方式跳頻發射所述檢測波束，以通過主動規避的方式降低所述探測區域內與所述檢測波束同頻的電磁輻射對所述差異信號的干擾，從而提高所述差異信號對所述探測區域內的物體的運動的反饋的準確性。
值得一提的是，基於本發明的這個優選實施例通過主動規避的方式跳頻發射所述檢測波束，在本發明的這個優選實施例的一些變形實施例中，其中在所述步驟(a)中，檢測所述差異信號，並在所述差異信號存在波動時至少一次跳頻發射所述檢測波束，以允許所述檢測波束在所述差異信號存在波動時發生至少一次頻變，並在後續，固定維持所述檢測波束的發射頻率，同樣能夠提高所述差異信號對所述探測區域內的物體的運動的反饋的準確性。
在本發明的這個優選實施例的另一些變形實施例中，其中在所述步驟(a)中，檢測所述探測區域內同頻段的電磁輻射頻率點，並在所述探測區域存在同頻段的電磁輻射頻率點時，以未被檢測到的頻率點跳頻發射所述檢測波束。
也就是說，在本發明的基於多普勒效應原理的所述抗輻射干擾方法中，其中在所述步驟(a)中的動態頻率應理解為所述檢測波束的發射頻 率發生了至少一次變化，如至少一次跳頻而形成所述檢測波束的發射頻率的至少一次變化，即以至少一次頻率變化的方式發射所述檢測波束，即構成所述步驟(a)，且包括所述步驟(a)，所述步驟(b)以及所述步驟(c)即視為本發明的基於多普勒效應原理的所述抗輻射干擾方法，而不限定所述步驟(a)中，所述檢測波束的發射頻率變化規則，包括所述檢測波束的發射頻率變化的觸發條件和次數，如跳頻的觸發條件和跳頻的次數。
進一步地，在所述步驟(c)之後進一步包括步驟：以限制所述差異信號的波動幅度的方式對所述差異信號過濾，以避免所述檢測波束的發射頻率的變化對所述差異信號的干擾而能夠維持所述差異信號對所述探測區域內物體的運動的反饋的準確性。
特別地，為進一步揭露本發明，本發明進一步提供基於所述抗輻射干擾方法的一微波探測器，其中通過動態調節所述微波探測器的頻率參數的方式，所述微波探測器所發射的電磁波的頻率被維持動態，參考本發明的說明書附圖之圖4至圖7所示，本發明的所述微波探測器的結構原理被圖示說明，其中所述微波探測器包括一天線回路10，一跳頻振盪元20以及一混頻檢波單元30，其中所述跳頻振盪元20能夠在一頻段內跳頻輸出一激勵信號，其中所述天線回路10電性連接於所述跳頻振盪元20，以能夠被所述激勵信號激勵而發射與所述激勵信號同頻的至少一檢測波束，繼而形成至少一探測區域，並接收所述檢測波束在所述探測區域內被至少一物體反射而形成的一回波，其中所述混頻檢波單元30被電性連接於所述跳頻振盪元20和所述天線回路10，以在所述天線回路10接收所述回波時，所述天線回路10能夠將接收到的所述回波以回波信號的形式輸送至所述混頻檢波單元30，其中所述混頻檢波單元30接收所述激勵信 號和所述回波信號並依所述激勵信號和所述回波信號之間的特徵參數差異輸出一差異信號，則所述差異信號為對所述探測區域內的所述物體的運動的響應。
具體地，所述跳頻振盪元20被設置以一晶振201或一標準頻率源205提供基礎的窄頻振盪頻率，以使得所述微波探測器的頻率參數能夠以所述窄頻振盪頻率的倍頻被動態調節，並允許所述跳頻振盪元20跳頻輸出所述激勵信號。
值得一提的是，參考本發明的說明書附圖之圖3所示，以5.8Ghz頻段的所述頻段為例，圖3示意了本發明的所述微波探測器的頻點分佈，結合圖2中示意的傳統的採用5.8Ghz頻段的微波探測器的頻點分佈，其中傳統的採用5.8Ghz頻段的微波探測器由於採用自激振盪的方式，其振盪頻率難以在製造過程中被精確控制並固定處於5.8Ghz頻段(5.725-5.875Ghz)中的某一頻點，同時具有一定的頻寬，則在同頻段的電磁波覆概率越來越高時，傳統的採用5.8Ghz頻段的微波探測器與同頻段的電磁輻射同頻的而被干擾的概率也將越來越大，並且由於其頻點的頻寬較寬，增大了傳統的採用5.8Ghz頻段的微波探測器與同頻段的電磁輻射同頻的概率而更易受到干擾，同時較寬的頻率帶寬還使得傳統的採用5.8Ghz頻段的微波探測器具有更大的概率與同頻段的其它無線電設備的工作頻率同頻而對同頻段的其它無線電設備造成干擾。
而本發明的所述微波探測器通過所述跳頻振盪元20以所述晶振201或所述標準頻率源205提供基礎的窄頻振盪頻率，並以所述窄頻振盪頻率的倍頻跳頻輸出所述激勵信號，其中由於所述晶振201或所述標準頻率源205的窄頻振盪的頻寬較窄，則在固定的頻段內，如5.8Ghz的頻段內，所述跳頻振盪元20跳頻輸出所述激勵信號的可跳頻點增多，即對應的所述天線回路10發射的所 述檢測波束的可跳頻點增多，有利於降低所述檢測波束的頻率、所述檢測波束的奇次、偶次諧波頻率以及倍頻頻率之任一電磁輻射頻率與其它無線電設備的工作頻率同頻的概率，即降低了所述微波探測器對其它無線電設備造成干擾的概率，同時有利於降低所述天線回路10能夠接收的電磁波的頻率與同頻段的電磁輻射持續同頻的概率，即降低了所述微波探測器被同頻段的其它電磁輻射干擾的概率。
進一步地，所述跳頻振盪元20包括自動頻率控制電路(AFC)、鎖相環(PLL)、直接數字式頻率合成器(DDS)之任一電路模組及組合，以基於所述晶振201或所述標準頻率源205提供基礎的窄頻振盪頻率生成的不同倍頻級數的頻率而跳頻輸出所述激勵信號。
示例地，參考本發明的說明書附圖之圖4所示，所述跳頻振盪元20被設置為一鎖相環並以一晶振201提供基礎的窄頻振盪，以使得所述跳頻振盪元20的振盪頻率點能夠通過跳頻調控信號控制而跳頻輸出所述激勵信號。具體地，被設置為鎖相環的所述跳頻振盪元20包括所述晶振201，一鑒相器202，一低通濾波203、一分頻器210以及一壓控振盪器(VCO)204，其中所述晶振201，所述鑒相器202，所述低通濾波203以及所述壓控振盪器204順序相連且所述鑒相器202經所述分頻器210與所述混頻檢波單元30相連，其中所述壓控振盪器204同時被連接於所述天線回路10和所述混頻檢波單元30，如此以通過跳頻調控信號控制所述壓控振盪器204的方式使得所述跳頻振盪元20能夠跳頻輸出所述激勵信號。
值得一提的是，在本發明的這個實施例中，所述晶振201，所述鑒相器202，所述低通濾波203、所述壓控振盪器204以及所述分頻器210被集成 設計而形成所述跳頻振盪元20，而在本發明的一些實施例中，所述跳頻振盪元20的所述晶振201，所述鑒相器202，所述低通濾波203、所述壓控振盪器204以及所述分頻器210的其中一個或多個能夠採用集成化設計，並能夠進一步與所述混頻檢波單元30一體集成，本發明對此不做限制。
示例地，如圖5所示，所述跳頻振盪元20被設置為自動頻率控制電路並以一標準頻率源205提供基礎的窄頻振盪，以使得所述跳頻振盪元20的振盪頻率能夠被控制而跳頻輸出所述激勵信號。具體地，被設置為自動頻率控制電路的所述跳頻振盪元20包括所述標準頻率源205，一鑒頻器206，一控制單元207以及所述壓控振盪器204，其中所述鑒頻器206分別被連接於所述標準頻率源205、所述控制單元207以及所述壓控振盪器204，其中所述控制單元207還被連接於所述壓控振盪器204，其中所述壓控振盪器204同時被連接於所述天線回路10和所述混檢波單元30，如此以通過所述控制單元207控制所述壓控振盪器204的方式於一定頻寬範圍內對所述跳頻振盪元20進行跳頻設置，則所述跳頻振盪元20得以跳頻輸出所述激勵信號。
同樣的，在本發明的這個實施例中，所述標準頻率源205，所述鑒頻器206，所述控制單元207以及所述壓控振盪器204被集成設計而形成所述跳頻振盪元20，而在本發明的一些實施例中，所述跳頻振盪元20的所述標準頻率源205，所述鑒頻器206，所述控制單元207以及所述壓控振盪器204的其中一個或多個能夠採用集成化設計，並能夠進一步與所述混頻檢波單元30一體集成，本發明對此不做限制。
示例地，如圖6所示，所述跳頻振盪元20被設置以所述晶振201提供基礎的窄頻振盪，並通過對一直接數字式頻率合成器208的跳頻信號設置 以使得所述跳頻振盪元20的振盪頻率能夠被控制而跳頻輸出所述激勵信號。具體地，所述跳頻振盪元20包括所述晶振201和與所述晶振201相連的所述直接數字式頻率合成器208，其中所述直接數字式頻率合成器208同時被連接於所述天線回路10和所述混頻檢波單元30，如此以通過對所述直接數字式頻率合成器208進行跳頻信號設置的方式使得所述跳頻振盪元20能夠跳頻輸出所述激勵信號。
同樣的，在本發明的這個實施例中，所述晶振201和所述直接數字式頻率合成器208被集成設計而形成所述跳頻振盪元20，而在本發明的一些實施例中，所述跳頻振盪元20的所述晶振201和所述直接數字式頻率合成器208的其中一個或全部能夠採用集成化設計，並能夠進一步與所述混頻檢波單元30一體集成，本發明對此不做限制。
示例地，如圖7所示，所述跳頻振盪元20被設置為鎖相環並以所述晶振201提供基礎的窄頻振盪，以通過對所述直接數字式頻率合成器208進行跳頻信號設置使得所述跳頻振盪元20的振盪頻率能夠被控制而跳頻輸出所述激勵信號。具體地，所述跳頻振盪元20包括所述分頻器210和順序相連的所述晶振201、一倍頻器209、所述直接數字式頻率合成器208、所述低通濾波203之一、所述鑒相器202、所述低通濾波203之另一以及所述壓控振盪器204，其中所述鑒相器202經所述分頻器210與所述混頻檢波單元30相連，其中所述壓控振盪器204同時還被連接於所述天線回路10和所述混頻檢波單元30，如此以通過對所述直接數字式頻率合成器208進行跳頻信號設置的方式控制所述跳頻振盪元20的振盪頻率而使得所述跳頻振盪元20能夠跳頻輸出所述激勵信號。
同樣的，在本發明的這個實施例中，所述分頻器210、所述晶振201、所述倍頻器209、所述直接數字式頻率合成器208、兩所述低通濾波203、所述鑒相器202以及所述壓控振盪器204被集成設計而形成所述跳頻振盪元20，而在本發明的一些實施例中，所述跳頻振盪元20的所述分頻器210、所述晶振201、所述倍頻器209、所述直接數字式頻率合成器208、兩所述低通濾波203、所述鑒相器202以及所述壓控振盪器204的其中一個或多個能夠採用集成化設計，並能夠進一步與所述混頻檢波單元30一體集成，本發明對此不做限制。
本領域技術人員應當理解，對所述激勵信號的跳頻輸出的實現方式多樣，即所述跳頻振盪元20的結構多樣，本發明對此並不限制，例如但不限於上述示例中，採用自動頻率控制電路(AFC)、鎖相環(PLL)、直接數字式頻率合成器(DDS)之任一電路模組及組合，以基於所述晶振201或所述標準頻率源205提供基礎的窄頻振盪頻率生成的不同倍頻級數的頻率而跳頻輸出所述激勵信號。
可以理解的是，所述差異信號為依所述檢測波束與相應的所述回波之間的頻率差異生成的頻差信號，或依所述檢測波束與相應的所述回波之間的相位差異生成的相差信號，以依所述頻差信號或所述相差信號的特徵參數判斷所述探測區域的物體的運動狀態。
具體地，在所述探測區域的所述物體運動時，所述檢測波束與所述回波之間由於存在頻率和/或相位的特徵參數差值，其中所述檢測波束與所述回波之間的頻率和/或相位的特徵參數差值在所述差異信號中表現為波動變化，如作為電信號的所述差異信號的電流大小或頻率的波動變化，也就是 說，在所述差異信號中的波動變化對應於所述檢測波束與所述回波之間存在的頻率和/或相位的特徵參數差值變化。
然而，當所述探測區域存在與所述檢測波束同頻的電磁輻射干擾時，同頻的電磁輻射能夠與所述檢測波束的回波同時被所述天線回路10接收，也就是說，所述混頻檢波單元30輸出的所述差異信號中的波動變化還可能對應所述檢測波束與所述探測區域的電磁干擾輻射之間存在的頻率和/或相位的特徵參數差值變化。
因此，在本發明的一個優選實施例中，藉由所述跳頻振盪元20與所述混頻檢波單元30之間的電性連接，所述跳頻振盪元20進一步被設置為能夠檢測所述混頻檢波單元30所輸出的所述差異信號，並在所述差異信號存在波動時跳頻輸出所述激勵信號，即以至少一次頻率變化的方式輸出所述激勵信號，以允許所述天線回路10跳頻發射所述檢測波束，從而通過在所述差異信號存在波動時跳頻發射所述檢測波束的方式主動規避所述探測區域內與所述檢測波束同頻的電磁輻射對所述差異信號的干擾，從而提高所述差異信號對所述探測區域內的物體的運動的反饋的準確性。
值得一提的是，基於本發明的這個優選實施例的一些變形實施例中，藉由所述跳頻振盪元20與所述混頻檢波單元30之間的電性連接，所述跳頻振盪元20被設置為能夠檢測所述混頻檢波單元30所輸出的所述差異信號，並在所述差異信號存在波動時至少一次跳頻輸出所述激勵信號，並在後續，固定維持所述激勵信號的輸出頻率，同樣能夠提高所述差異信號對所述探測區域內的物體的運動的反饋的準確性。
也就是說，本發明的所述微波探測器的所述跳頻振盪元20對所述激勵信號的跳頻輸出應理解為以至少一次頻率變化的方式輸出所述激勵信號，從而允許所述天線回路10所發射的所述檢測波束發生至少一次頻變，而不限定所述跳頻振盪元20對所述激勵信號的跳頻輸出規則，包括所述跳頻振盪元20跳頻輸出所述激勵信號的跳頻觸發條件和跳頻次數。
進一步參考本發明的說明書附圖之圖8至圖11所示，依本發明的基於現有微波探測器的結構實現頻率參數動態調節的不同實施方式的所述微波探測器被圖示說明，其中所述微波探測器包括一天線回路10，一振盪器20A，一混頻檢波單元30以及一控制模組40，其中所述振盪器20A採用自激勵的振盪方式而在一頻段內以輸出一激勵信號提供振盪頻率，其中所述控制模組40電性連接於所述振盪器20A並能夠以對所述振盪器20A輸入一頻變控制電壓/電流的反饋調整方式控制所述振盪器20A以動態頻率輸出所述激勵信號，其中所述天線回路10電性連接於所述振盪器20A，以能夠被所述激勵信號激勵而發射與所述激勵信號同頻的至少一檢測波束，繼而形成至少一探測區域，並接收所述檢測波束在所述探測區域內被至少一物體反射而形成的一回波，其中所述混頻檢波單元30被電性連接於所述振盪器20A和所述天線回路10，以在所述天線回路10接收所述回波時，所述天線回路10能夠將接收到的所述回波以回波信號的形式輸送至所述混頻檢波單元30，其中所述混頻檢波單元30接收所述激勵信號和所述回波信號並依所述激勵信號和所述回波信號之間的特徵參數差異輸出一差異信號，則所述差異信號為對所述探測區域內的所述物體的運動的響應。
也就是說，相較於前述包括所述跳頻振盪元20的所述微波探測器，依本發明的基於現有微波探測器的結構實現頻率參數動態調節的不同實施 方式的所述微波探測器的所述振盪器20A與所述控制模組40的組合等效對應於所述跳頻振盪元20，並不限制所述激勵信號的頻率變化方式，如無級頻變和跳頻的頻率變化方式。
優選地，所述控制模組40電性連接於所述混頻檢波單元30，即所述天線回路10，所述振盪器20A，所述混頻檢波單元30以及所述控制模組40通信地連接，而形成一閉環的探測系統，其中所述控制模組40以反饋的方式控制所述天線回路10發射不同頻率範圍的所述檢測波束。也就是說，當所述微波探測器的所述控制模組40基於所述混頻檢波單元30得到的所述差異信號時，所述控制模組40反饋所述頻變控制電壓/電流至所述振盪器20A，以控制所述振盪器20A以動態頻率輸出所述激勵信號，即控制所述天線回路10以動態頻率發射所述檢測波束，以便所述控制模組40在頻變後判斷所述差異信號是否為干擾信號，如在所述微波探測器連續發射的其中至少一頻率的所述檢測波束對應的所述差異信號不存在波動時判斷所述差異信號為干擾信號，即所述探測區域存在微波干擾源，有利於提高所述差異信號對所述探測區域內物體的運動的反饋的準確性。
可選地，所述控制模組40以主動調節的方式控制所述控制模組10發射不同頻率範圍的所述探測微波。也就是說，所述微波探測器的所述控制模組40間歇地或實時地傳輸所述頻變控制電壓/電流至所述振盪器20A，以控制所述天線回路10以動態頻率發射至少兩種不同頻率的所述檢測波束，以便所述控制模組40基於所述混頻檢波單元30在頻變前後得到的所述差異信號判斷所述差異信號是否為干擾信號。如在所述探測區域內的物體被維持靜態時，所述控制模組40控制所述天線回路10以動態頻率發射至少兩種不同頻率的所述檢測波 束，和根據所述差異信號判斷所述探測區域存在微波干擾源，以使得所述控制模組40能夠基於所述微波探測器發射的所述檢測波束的頻率識別出所述探測區域的微波干擾源的頻率，並控制所述天線回路10以發射不同于所述微波干擾源的頻率的所述檢測波束至所述探測區域的方式主動規避地動態調節所述微波探測器的頻率參數，進而排除所述微波干擾源對所述微波探測器的干擾，並避免所述微波探測器所發射的檢測波束的頻率與其它無線電設備的工作頻率同頻，有利於提高所述微波探測器的穩定性，同時避免了所述微波探測器所發射的檢測波束影響其他無線電設備的正常工作。
具體地，如圖9所示，所述控制模組40包括一頻變設置模組41和一干擾識別模組42，其中所述頻變設置模組41通信地連接於所述振盪器20A，所述頻變設置模組41能夠輸出一頻變控制信號至所述振盪器20A，以控制所述振盪器20A的所輸出的所述激勵信號的頻率，從而改變所述所述天線回路10所發射的所述檢測波束的頻率，其中所述頻變設置模組41所輸出的所述頻變控制信號可以但不限於電壓信號、電流信號等電信號。所述干擾識別模組42基於至少兩種不同頻率的所述檢測波束對應的所述差異信號是否存在波動識別判斷所述探測區域是否存在微波干擾源，如在所述微波探測器連續發射的其中至少一頻率的所述檢測波束對應的所述差異信號不存在波動時判斷所述差異信號為干擾信號，即所述探測區域存在微波干擾源；如在所述探測區域內的物體被維持靜態時，所述控制模組40控制所述天線回路10以動態頻率發射至少兩種不同頻率的所述檢測波束，和根據所述差異信號判斷所述探測區域存在微波干擾源。
特別地，所述控制模組40的所述頻變設置模組41和所述干擾識別模組42被一體地集成，比如所述控制模組40可以但不限於一MCU、DSP、FPGA、以及外部高精度ADC集成晶片。
值得一提的是，如圖8和圖9所示，所述控制模組40優選地進一步包括一放大單元43，其中所述放大單元43與所述混頻檢波單元30電性相連並被設置為能夠對所述差異信號進行放大處理，以允許所述控制模組40的所述頻變設置模組41和所述干擾識別模組42能夠基於放大後的所述差異信號分別控制所述振盪器20A的所輸出的所述激勵信號的頻率和識別判斷所述探測區域是否存在微波干擾源。可以理解的是，所述放大單元43可獨立於所述控制模組40被設置，也可被一體集成於所述控制模組40，本發明對此不作限制。
進一步地，對應本發明的說明書附圖之圖10所示的所述微波探測器的實施方式，所述天線回路10進一步包括至少一天線發射回路101和至少一天線接收回路102，其中所述天線發射回路101電連接於所述振盪器20A，其中所述天線發射回路101基於所述振盪器20A的所述激勵信號發射與所述振盪器20A同頻的所述檢測波束。所述天線接收回路102接收所述檢測波束發射後的相應回波，和將所述回波信號傳輸至所述混頻檢波單元30，所述混頻檢波單元30基於所述振盪器20A產生的所述激勵信號和所述天線接收回路102的所述回波信號得出所述差異信號。
本領域技術人員可以理解的是，所述天線回路10的所述天線發射回路101可以但不限於一發射天線，其中所述天線接收回路102可以但不限於一接收天線。優選地，如圖11所示的所述微波探測器的實施方式，所述天線發射回路101和所述天線接收回路102為同一天線裝置，即所述天線回路10作為一 天線裝置被所述振盪器20A激勵發射同頻的所述檢測波束，和接收所述檢測波束的相應回波至所述混頻檢波單元30。可選地，所述天線接收回路102和所述天線發射回路101為不同的電路或天線裝置。
圖12A至圖12C示出了所述微波探測器的不同等效電路實施示意圖，以等效電路的方式示出了基於現有微波探測器的結構實現頻率參數動態調節的的電路原理，其中圖12A所示為基於傳統的微波探測器的結構實現頻率參數動態調節的的電路原理，其中圖12B和圖12C所示為基於低阻抗的微波探測器的結構實現頻率參數動態調節的的電路原理。可以理解的是，在本發明中所述微波探測器的等效電路的實施方式僅作為示例而不構成對本發明的限制。
如圖12A所示，所述微波探測器的所述等效電路包括一天線電路100、一振盪電路200以及一混頻檢波電路300，其中所述天線電路100對應於所述天線回路10，其中所述振盪電路200對應於所述振盪器20A，其中所述混頻檢波電路300對應於所述混頻檢波單元30，其中可以理解的是，基於圖10A所示的電路原理圖中，所述振盪電路200採用傳統的電容三點式振盪電路並於所述振盪電路200的三極管的集電極輸出所述激勵信號至所述混頻檢波電路300和激勵所述天線電路100，其中通過調節所述振盪電路200的三極管的基極的電壓/電流的方式，如傳輸所述頻變控制電壓/電流至所述振盪電路200的三極管的基極以形成所述三極管的基極的電壓/電流的變化，所述振盪電路200的三極管的集電極輸出所述激勵信號的頻率能夠被調節而使得所述天線回路100以動態頻率發射所述檢測波束。
如圖12B和12C所示，對應的所述等效電路同樣包括所述天線電路100、所述振盪電路200以及所述混頻檢波電路300，區別於圖12A所示的所述 等效電路所對應的所述微波探測器，其中圖12B和12C所示的所述等效電路所對應的所述微波探測器為低阻抗的所述微波探測器。具體的，圖12B和12C所示的所述等效電路所對應的所述微波探測器的輻射源被接地，對應的所述等效電路的所述天線電路100具有能夠被所述振盪電路200饋電激勵的一饋電點的同時還具有一接地點。同樣地，通過調節所述振盪電路200的三極管的基極的電壓/電流的方式，如通過所述控制模組40輸出所述頻變控制電壓/電流至所述振盪電路200的三極管的基極以調整所述三極管的基極和集電極之間以及基極和發射極之間的電阻的方式形成所述三極管的基極的電壓/電流的變化，所述振盪電路200所輸出的激勵信號的頻率能夠被調節而使得所述天線電路100以動態頻率發射所述檢測波束。
具體地，所述控制模組40被設置於所述混頻檢波電路300和所述振盪電路200之間，並基於所述混頻檢波電路300輸出有所述差異信號時反饋所述頻變控制電壓/電流至所述振盪電路200，進而以反饋的方式控制所述天線電路100以動態頻率發射所述檢測波束。
值得一提的是，所述頻變設置模組41可通過輸出模擬電壓或偏置電壓至所述振盪器20A，其中所述振盪器20A基於所述模擬電壓或所述偏置電壓調整對應調整所述激勵信號的頻率，從而改變所述天線回路10所發射的所述檢測波束的頻率。
示例地，所述頻變設置模組41以輸出階梯電壓的方式輸出所述頻變控制信號至所述振盪器20A而控制所述激勵信號的頻率以階躍的方式跳躍，從而控制所述天線回路10所發射的所述檢測波束的頻率以階躍的方式跳躍，其中當所述頻變設置模組41以輸出階梯電壓的方式控制所述天線回路10所 發射的所述檢測波束的頻率以階躍的方式跳躍時，所述控制模組40、所述天線回路10以及所述振盪器20A可形成一閉環控制的回路。也就是說，當所述控制模組40的所述干擾識別模組42識別所述差異信號存在波動時，所述頻變設置模組41輸出所述頻變控制信號至所述振盪器20A，以調整所述天線回路10所發射的所述檢測波束的頻率。在調整所述檢測波束的頻率後，藉由所述干擾識別模組42識別所述差異信號中的波動存在與否，以判斷存在的所述差異信號是否為干擾信號。
優選地，在本發明的該優選實施例中，所述階梯電壓基於高電平、低電平和高阻狀態之間的切換形成；或者所述階梯電壓為基於高電平到低電平之間的分段電壓變化。
示例地，所述頻變設置模組41以輸出線性模擬電壓至所述振盪器20A的方式控制所述振盪器20A的所輸出的所述激勵信號的頻率以線性連續的方式變化，其中所述振盪器20A激勵所述天線回路10發射的所述檢測波束也呈同樣的變化方式。可以理解的是，所述頻變設置模組41可通過輸出線性模擬電壓的方式控制所述天線回路10持續地輸出不同頻率的所述檢測波束。
示例地，所述頻變設置模組41以輸出脈衝積分電壓至所述振盪器20A的方式控制所述振盪器20A的所輸出的所述激勵信號的頻率連續的變化，其中所述振盪器20A激勵所述天線回路10發射的所述檢測波束也呈同樣的變化方式。優選地，所述脈衝積分電壓為脈衝寬度調節並積分處理後的直流電壓。
值得一提的是，當所述天線回路10連續地輸出兩個或兩個以上的頻率範圍相近的所述檢測波束時，不同頻率的所述檢測波束所產生的諧波， 比如二次諧波、三次諧波，之間會相互地干涉，以使得所述檢測波束的諧波趨於平緩，從而避免所述檢測波束的諧波的能量集中，減小所述微波探測器在探測過程中產生的諧波對其它電器設備的干擾。
特別地，以採用5.8Ghz頻段的所述微波探測器為例，本發明的基於多普勒效應原理的所述微波探測器及所述抗輻射干擾方法被揭露，本領域技術人員應當理解，5.8Ghz頻段並不構成本發明的基於多普勒效應原理的所述微波探測器及所述抗輻射干擾方法的限制，本發明的基於多普勒效應原理的所述微波探測器及所述抗輻射干擾方法適用於各頻段的基於多普勒效應原理的所述微波探測器。
特別地，由於5.8Ghz頻段位於RS測試的頻率區間內，當本發明的基於多普勒效應原理的所述微波探測器及所述抗輻射干擾方法被應用於5.8Ghz頻段時，所述微波探測器的頻率被維持動態而能夠避免所述微波探測器在RS測試中與同頻段的調幅信號維持同頻而被干擾以致失效，即所述微波探測器能夠通過RS測試並由於其相對於其它頻段的所述微波探測器具有較高的普及率和較低的成本，則本發明的基於多普勒效應原理的所述微波探測器及所述抗輻射干擾方法於5.8Ghz頻段的應用具有更高的適用性和重要的商業價值。
本領域的技術人員可以理解的是，以上實施例僅為舉例，其中不同實施例的特徵可以相互組合，以得到根據本發明揭露的內容很容易想到但是在附圖中沒有明確指出的實施方式。
本領域的技術人員應理解，上述描述及附圖中所示的本發明的實施例只作為舉例而並不限制本發明。本發明的目的已經完整並有效地實現。 本發明的功能及結構原理已在實施例中展示和說明，在沒有背離所述原理下，本發明的實施方式可以有任何變形或修改。
10:天線回路
20A:振盪器
30:混頻檢波單元
40:控制模組
43:放大單元

Claims (23)

  1. 一種基於多普勒效應原理的微波探測器，其特徵在於，所述微波探測器包括：一跳頻振盪元，其中所述跳頻振盪元能夠在一頻段內跳頻輸出一激勵信號；一天線回路，其中所述天線回路電性連接於所述跳頻振盪元，以能夠被所述激勵信號激勵而發射與所述激勵信號同頻的至少一檢測波束，繼而形成至少一探測區域，並接收所述檢測波束在所述探測區域內被至少一物體反射而形成的一回波；以及一混頻檢波單元，其中所述混頻檢波單元被電性連接於所述跳頻振盪元和所述天線回路，以在所述天線回路接收所述回波時，所述天線回路能夠將接收到的所述回波以回波信號的形式輸送至所述混頻檢波單元，其中所述混頻檢波單元被設置以接收所述激勵信號和所述回波信號並依所述激勵信號和所述回波信號之間的特徵參數差異輸出一差異信號，則所述差異信號為對所述探測區域內的所述物體的運動的響應，其中所述跳頻振盪元被設置為以自激勵振盪的方式輸出所述激勵信號的一振盪器，和與所述振盪器電性相連的一頻變設置模組，其中所述頻變設置模組被設置以輸出一頻變控制信號至所述振盪器的方式控制所述振盪器以動態頻率輸出所述激勵信號。
  2. 根據申請專利範圍第1項所述的微波探測器，其中所述混頻檢波單元被設置依所述激勵信號和所述回波信號之間的頻率參數差異輸出所述差異信號。
  3. 根據申請專利範圍第1項所述的微波探測器，其中所述混頻檢波單元被設置依所述激勵信號和所述回波信號之間的相位參數差異輸出所述差異信號。
  4. 根據申請專利範圍第2項所述的微波探測器，其中所述跳頻振盪元進一步被設置為能夠藉由與所述混頻檢波單元之間的電性連接檢測所述差異信號，並在所述差異信號存在波動時跳頻輸出所述激勵信號，以允許所述天線回路在所述差異信號存在波動時跳頻發射所述檢測波束。
  5. 根據申請專利範圍第3項所述的微波探測器，其中所述跳頻振盪元進一步被設置為能夠藉由與所述混頻檢波單元之間的電性連接檢測所述差異信號，並在所述差異信號存在波動時跳頻輸出所述激勵信號，以允許所述天線回路在所述差異信號存在波動時跳頻發射所述檢測波束。
  6. 根據申請專利範圍第4項或第5項所述的微波探測器，其中在所述差異信號存在波動時，所述跳頻振盪元至少一次跳頻輸出所述激勵信號，並在後續，固定維持所述激勵信號的輸出頻率，以允許所述天線回路所發射的所述檢測波束在所述差異信號存在波動時發生至少一次頻變，並在後續被維持於固定的頻率。
  7. 根據申請專利範圍第1-5項中任一項所述的微波探測器，其中所述跳頻振盪元被設置以晶振或標準頻率源提供基礎的窄頻振盪頻率，以允許所述跳頻振盪元以所述窄頻振盪頻率的不同倍頻級數的頻率跳頻輸出所述激勵信號。
  8. 根據申請專利範圍第7項所述的微波探測器，其中所述跳頻振盪元進一步包括自動頻率控制電路(AFC)、鎖相環(PLL)、直接數字式頻 率合成器(DDS)、壓控振盪器(VCO)、分頻器、倍頻器之任一電路模組及組合，以基於所述晶振或所述標準頻率源提供的所述窄頻振盪頻率生成的不同倍頻級數的頻率而跳頻輸出所述激勵信號。
  9. 根據申請專利範圍第8項所述的微波探測器，其中所述跳頻振盪元被設置為鎖相環並以所述晶振提供基礎的窄頻振盪頻率，以使得所述跳頻振盪元能夠被跳頻調控信號控制而以所述窄頻振盪頻率的不同倍頻級數的頻率跳頻輸出所述激勵信號。
  10. 根據申請專利範圍第9項所述的微波探測器，其中被設置為鎖相環的所述跳頻振盪元包括所述晶振，一鑒相器，一低通濾波以及所述壓控振盪器，其中所述晶振，所述鑒相器，所述低通濾波以及所述壓控振盪器順序相連且所述鑒相器與所述壓控振盪器相連，其中所述壓控振盪器同時被連接於所述天線回路和所述混頻檢波單元，以能夠通過跳頻調控信號控制所述壓控振盪器的方式使得所述跳頻振盪元以所述窄頻振盪頻率的不同倍頻跳頻輸出所述激勵信號。
  11. 根據申請專利範圍第8項所述的微波探測器，其中所述跳頻振盪元被設置為自動頻率控制電路並以所述標準頻率源提供基礎的窄頻振盪頻率，以使得所述跳頻振盪元能夠被控制以所述窄頻振盪頻率的不同倍頻級數的頻率跳頻輸出所述激勵信號。
  12. 根據申請專利範圍第11項所述的微波探測器，其中被設置為自動頻率控制電路的所述跳頻振盪元包括所述標準頻率源，一鑒頻器，一控制單元以及所述壓控振盪器，其中所述鑒頻器分別被連接於所述標準頻率源、所述控制單元以及所述壓控振盪器，其中所述控制單元同時被連接於所述壓控振 盪器，其中所述壓控振盪器同時被連接於所述天線回路和所述混頻檢波單元，以能夠通過所述控制單元控制所述壓控振盪器的方式以所述窄頻振盪頻率的不同倍頻級數的頻率跳頻輸出所述激勵信號。
  13. 根據申請專利範圍第8項所述的微波探測器，其中所述跳頻振盪元被設置以所述晶振提供基礎的窄頻振盪，並通過對所述直接數字式頻率合成器的跳頻信號設置而以所述窄頻振盪頻率的不同倍頻級數的頻率跳頻輸出所述激勵信號。
  14. 根據申請專利範圍第13項所述的微波探測器，其中所述跳頻振盪元包括所述晶振和與所述晶振相連的所述直接數字式頻率合成器，其中所述直接數字式頻率合成器同時被連接於所述天線回路和所述混頻檢波單元，如此以通過對所述直接數字式頻率合成器進行跳頻信號設置的方式以所述窄頻振盪頻率的不同倍頻級數的頻率跳頻輸出所述激勵信號。
  15. 根據申請專利範圍第8項所述的微波探測器，其中所述跳頻振盪元被設置為鎖相環而以所述晶振提供基礎的窄頻振盪，並通過對所述直接數字式頻率合成器進行跳頻信號設置而以所述窄頻振盪頻率的不同倍頻級數的頻率跳頻輸出所述激勵信號。
  16. 根據申請專利範圍第15項所述的微波探測器，其中所述跳頻振盪元包括順序相連的所述晶振、所述倍頻器、所述直接數字式頻率合成器、一低通濾波、一鑒相器、另一所述低通濾波以及所述壓控振盪器，其中所述壓控振盪器同時還被連接於所述鑒相器、所述天線回路以及所述混頻檢波單元，以通過對所述直接數字式頻率合成器進行跳頻信號設置的方式以所述窄頻振盪頻率的不同倍頻級數的頻率跳頻輸出所述激勵信號。
  17. 根據申請專利範圍第1項所述的微波探測器，其中所述頻變設置模組被設置以當所述差異信號存在波動時輸出所述頻變控制信號至所述振盪器。
  18. 根據申請專利範圍第17項所述的微波探測器，其中所述頻變設置模組輸出的所述頻變控制信號為一階梯電壓。
  19. 根據申請專利範圍第18項所述的微波探測器，其中所述階梯電壓為基於高電平、低電平和高阻狀態之間的切換。
  20. 根據申請專利範圍第18項所述的微波探測器，其中所述階梯電壓為基於高電平到低電平之間的分段電壓變化。
  21. 根據申請專利範圍第17項所述的微波探測器，其中所述頻變設置模組輸出的所述頻變控制信號為一線性模擬電壓。
  22. 根據申請專利範圍第17項所述的微波探測器，其中所述頻變設置模組輸出的所述頻變控制信號為一脈衝積分電壓，其中所述脈衝積分電壓為脈衝寬度調節並積分處理後的直流電壓。
  23. 根據申請專利範圍第1項所述的微波探測器，其中所述微波探測器進一步包括一放大單元，其中所述放大單元電性連接於所述混頻檢波單元，其中所述放大單元放大所述差異信號。
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