TWI752008B

TWI752008B - 光電裝置

Info

Publication number: TWI752008B
Application number: TW106105904A
Authority: TW
Inventors: 丹尼爾伯格; 莎夏庫恩; 彼得米勒克
Original assignee: 德商維雪半導體公司
Priority date: 2016-02-23
Filing date: 2017-02-22
Publication date: 2022-01-11
Also published as: PT3408608T; JP2019512100A; TW201737639A; DK3408608T3; US20190056263A1; US10823606B2; HUE047561T2; EP3408608A1; DE102016103144A1; CN108700404B; EP3408608B1; KR20180118167A; IL261317B; CN108700404A; ES2763124T3; WO2017144540A1; IL261317A; PL3408608T3

Abstract

本發明提供一種光電裝置，其具有至少一光電發射器及至少一光電接收器。該光電裝置復具有儲存設備，其具有適用於儲存個別資料集的至少一非揮發性記憶體。復提供適用於從該儲存裝置的該非揮發性記憶體至少部份地讀出該個別資料集的資料介面。

Description

光電裝置

本發明涉及具有至少一光電發射器以及至少一光電接收器的光電裝置。光電發射器和光電接收器可以被安裝在例如光電裝置的載體設備上。

具有用於光電發射器及/或用於光電接收器的至少一個透鏡部能運置載體設備上方(即在對於光電發射器及/或接收器的垂直方向上)的透鏡元件。為了此目的，各透鏡部可以具有光束成形及/或光束偏轉特性。

這種光電裝置是以特定的配置作為光電傳感裝置以能夠光學地掃描且以電子地檢測對象物的特性。對於這樣的傳感器裝置的應用是在市售列印設備的部門，即用於藉由例如雷射列印技術或噴墨印刷技術的公知印刷技術的手段的紙的計算機輔助列印的裝置。為了允許列印機(或包括列印機的多功能設備)的操作，其盡可能的全自動和使用者友善，例如放置到列印機的接收托盤中的紙的數量或類型、所提供紙的格式、紙邊緣的相對位置等不同的操作參數經判定並在必要時監視。進而需要相應的列印結果或待掃描的紙的自動分析，以便例如檢查待掃描的紙的內容類型(圖像與文字)或參照列印結果的正確配置(例如列印機的列印元件的機械對齊)。

適配的光電裝置通常經設置用於待測量的各操作參數及經配置以比較發射的光學訊號以及檢測到(如反射)的光學訊號，以便能夠從這些光訊號差判定個別操作參數。光學訊號通常是可見或不可見波長的電磁輻射，尤其是紅外線。該裝置經常包括光電發射器和光電接收器兩者。該裝置因此可以例如作為近接傳感器。然而，變體也可以是其中具有多個發射機和接收機的光電裝置，其中，例如可判定多個操作參數、特別是同時地(例如藉由漫射和鏡反射之間區別)的裝置。光電接收器的個別接收訊號可以-在可選地的諸如類比到數位轉換的處理之後-作為光電裝置的輸出訊號而輸出。

包括零誤差及精準功能作為準則這樣的光電裝置的問題在於並不能夠在所有情況中如在每個應用狀況下，這樣的設備能夠取得保證。對於此的原因特別是在這些背後的相應光電裝置的部件的製造誘導公差。一方面，此涉及該裝置例如透鏡元件或者孔隙元件的機械部件。另一方面，該裝置的電子元件，特別是光電發送器和光電接收器，也可以從所欲規格的偏差。由於誤動作一方面取決於種類和偏差角度，另一方面取決於在光電裝置的應用情況，其通常是不可能從規格預測是否偏離而實際產生光電裝置的誤動作。例如，偏差可以只有用於對象物的偏差相對遠的裝置的應用中效果以及可以僅接著產生不可靠或完全缺陷功能的裝置。相反地靠近的對象物可以毫無問題地被檢測到。裝置的功能也尤其在特定架構中受到裝置的測量環境的影響。此外在個別情況下無論是否規格偏差如何彼此影響都是可預測的。其因此是不可能作為假設個體偏差的線性疊加的規則。相當可能從多個僅輕微的偏差所造成嚴重地效果(即非線性)。

由於前述問題，因此從其規格偏差至特定角度的部份裝置或全部裝置會被如規則所拒絕的廢棄。由於從規格的偏差可以，雖然至少通常不能完全避免在工業化大量生產的方式的框架中，裝置的有限度精度或誤動作的一定風險習慣上總是必須被接受。不論光電裝置的實際上必須被廢棄一或多個部分可以在尤其是特定的應用的測試週期的框架中自然地進行檢查。雖然該裝置可最佳地以合理地努力下用於一些應用的檢查，然而裝置的通用適用性在此失去。以剛製造的裝置，即使測試週期的潛在條件還是正確的，其在實際操作過程中會發生變化、且會因此以不可預測的方式損害裝置的功能，這也是有問題的。在裝置於列印機、氣霧劑、紙塵等的應用的事件中，例如，隨著時間收集於裝置並且因此可顯著地改變光學性質。

本發明的目的是提供其中確保精確和可靠的功能以及可以防止誤動作且尤其是能夠可追溯地簡易校正的上述類型的價廉光電裝置。然而，本發明的進一步目的在於尤其是本質上不同於潛在的規格的裝置可使用，亦即不須廢棄。

透過具有請求項1的特徵的光電裝置而滿足該目的，尤其是該光電裝置包括具有適用於儲存個別資料集的至少一個非揮發性記憶體的儲存裝置。進一步提供資料介面允許將非揮發性儲存器的存取，尤其是從該光電裝置的外部。

個別資料集可包括多個關於在其儲存設備中分別資料集所儲存的特定光電裝置的個別資料。換句話說，該資料集表示特定光電裝置或其特定的性能。其在這方面可以是特定類型的裝置。然而，各個資料集可以也只涉及裝置類型的特定例子。資料集至少一般不適用於許多裝置，例如獨立類型，而是與個別光電裝置具有特定關係。然而，不可辯駁的事實是，不同的光電裝置的個別資料集可以彼此至少部分地重合。

個別資料集可包括與裝置的操作相關的操作參數。其可從非揮發性記憶體讀出，且考量作為根據本發明裝置的操作的一部分。特別是由此可以避免光電裝置的缺陷控制。例如，可通過預定義的一個或多個限制值，特別是最大值，而排除光電元件(發射器/接收器)的過載。此外可想而知的，個別的資料集包含裝置的光電部件或其它部件的個別衍生物的資訊。例如，單獨的資料集可預定義光電發射器必須由與預定義的偏移量控制，以產生特定發射訊號。裝置的可靠性和精準度因而能整體提高。

術語“操作參數”不應被理解僅為純量數值。例如，包含多個特徵數值的操作範圍或工作範圍也可特別是本發明意義上的操作參數。例如判別作為裝置的測試週期的一部分的光電裝置校準因子，同樣可以是操作參數。因此術語“操作參數”在本發明的框架內可被廣泛地認知。

非揮發記憶體可以是例如經配置為快閃記憶體。可預期實際使用的記憶體大小可適用於個別資料集的體積或該些資料集的體積。於此目的非揮發性記憶體可以是相對較大的，例如，128位元。記憶體可因此以彈性方式紀錄不同大小的資料集，而不需要呈現記憶體大小在正常情況考慮分別資料集的定義的關聯限制。非揮發性記憶體最好可重寫的，即可以多次寫入。特別是僅由製造商的個別資料集的原始存檔後以及特別是在自我診斷或透過使用者的基礎下，所儲存的個別資料集可在此也可追溯地改變或適用。通過資料介面尤其是從外部發生非揮發性記憶體的重寫。

個別資料集或其部分可直接或間接地通過資料介面從非揮發性記憶體讀出。此可以在光電裝置的動作的開始或如所需正在進行的操作期間發生，以規則的間隔及/或仰賴(in dependence on)於操作(例如，由預定義作用力所觸發)。個別資料集可特別補充或更換光電裝置的配置。資料介面可以特別是資料匯流排介面，即，根據標準化通訊協議優選地通訊的通訊匯流排的介面。

在列印機中的光電裝置的示例性應用中，例如在每次放入列印機的操作，測試訊號可以由光電發送器所發送，且其接收訊號可以由光電接收器所接收。個別資料集的一或多個操作參數可透過所接收的訊號與儲存的參考值的比較而可適用於目前測量環境和裝置的狀態。

根據實施例，個別資料集表示光電裝置的光譜靈敏度特性，即特定頻率或特定波長的特性。在此方面的靈敏度特性例如涉及光電接收器相對於入射的光訊號的光譜靈敏度。靈敏度特性可以額外地或可替代地也可是距離依存(a distance dependency)及/或角度依存(an angular dependency)。在此方面，個別資料集可以因而例如提供在光電接收器在不同距離或相對於到達光訊號的入射角的對象物的檢測過程中如何表現的資訊。

根據進一步實施例，個別資料集包括在光電裝置的生產歷史的識別資料，該識別資料包括至少一部件號碼、至少一批號、及/或產生時期的至少一片段資訊。

額外或可替代地，個別資料集包括光電裝置的生產歷史的生產過程資料，其中該生產過程資料包括在製造中使用的工具的至少一片段資訊、在製造中使用的測試設備上的至少一片段資訊、及/或在製造中使用的測試軟體的至少一片段資訊。生產過程資料允許故障或裝置其他缺陷的診斷，其中相應缺陷可以是，特別是當它是新事件或當它在不可預測方式發生時，可以回溯仰賴於生產過程資料或可以與導致此缺陷的製造誘導原因關聯。接著由於更新可以仰賴於光電裝置的個別生產歷史而選擇，當個別資料集內的光電裝置及/或特定校準資料的硬體作為更新的一部分而被更新，此資訊也可為特別重要的。其可以例如在此考慮只有硬體或必須被更新的該些光電裝置的校準資料在製造期間以特定工具加工。

根據進一步的實施例中，個別資料集包括至少一個傳遞函數，其中傳遞函數描述光電裝置中至少一第一操作參數與至少一第二操作參數之間的關係。在此方面，該傳遞函數可特別涉及作為傳感器的光電裝置(例如用於確定物體的距離)的預定義使用。當使用所儲存的傳遞函數時光電裝置的特殊應用的校準不是必需的，特別是，當相應的光電裝置經安裝於根據其預期的目的，例如在列印機中。換句話說，所需用於校準裝置的資料僅必須被確認一次，特別是裝置的製造商，資料然後被提供給客戶或直接在非揮發性記憶體中的裝置的用戶。然後客戶或用戶可接著讀出資料，並使用它們用於測量資料的特殊應用的適配。然而，傳遞函數所儲存的資料可以被更新或視需要補充。

傳遞函數可特別表示相應裝置及該裝置的特殊應用行為的個別光學及/或電子性質。例如，傳遞函數可以描述藉由光電接收器，其仰賴於由光學訊號起源的或反射的對象物的距離，所接收的光學訊號的相對強度。這樣的傳遞函數可以特別是用於作為距離傳感器的該光電裝置的使用，特別是作為在列印機中紙量傳感器。這可能從此種傳遞函數的基礎上的接收器的強度數值得出在物件距離上或紙張量的結論。由於傳遞函數涉及各個裝置，當裝置本身從預定義的規格偏離時，協作仍可以精準地發生，即該裝置仍確保所需的功能。因此，傳遞函數可用於補償該裝置的個體性或以電子方式從個別設備之間的變化，以使裝置能夠滿足預定義的均勻函數，即，函數不是個別對於裝置，同時考慮到傳遞函數。

應當理解，相應的關聯的傳遞函數可提供用於相應的工作點或操作點、或用於裝置的工作範圍或操作範圍。因此，傳遞函數可以同時是在意義上的裝置的應用模式中的特殊應用(例如，作為紙量傳感器)和在意義上的裝置的操作條件或操作模式中的特殊應用(例如，環境光度或對象物距離範圍)。此外，如放大係數的操作參數的特定值可以是預定義用於光電發射器或接收器，用於相應的傳遞函數。

傳遞函數的第一操作參數可特別地對應光電接收器的接收訊號至光電發射器的發射訊號的比率。第一操作參數，因此不必是具有光電器件的直接測量尺寸是相同的，而是可以是由其衍生的大小或多個度量的尺寸及/或操作參數的組合。優選地透過光電接收器的光敏元件的電壓或電流測量第一操作參數，其經測量的電壓或經測量的電流、與藉由經控制的光電發送器以傳送相應發射訊號的電流或電壓相關聯。

傳遞函數不僅要描述兩個操作參數之間的關係。傳遞函數也可以包括兩個以上的函數變量。例如，其可以是具有帶有更高階操作參數的關係的二維傳遞函數(例如對象物類型或列印機類型)中的參數函數。

如同在列印機中的光電裝置的使用的一部分，操作參數可以特別是在列印機中配置的紙的紙張邊緣的相對位置。紙張的(正確的)位置可透過光電接收器接收的偵測訊號的相對強度的基礎上所確定。例如，其可以監測紙張的前緣是否採用預定義位置與否。個別資料集可以包括適用於此的切換點或可允許的切換點到傳遞函數的適配，其切換點判別從假設的採用預定義位置的紙張的邊緣的所接收訊號的強度。以往，這類切換點被固定地程式化獨立於電子裝置的實際傳遞函數或必須在客戶或用戶的校準過程的框架內以大量工作來確定。

根據實施例，個別資料集具有用於描述至少一個傳遞函數的查找表及/或用於表徵多項式函數的多項式參數。查找表是用於至少一操作參數(作為參考值或輸入值)的兩維或多維查找表，以根據需要能透過內插來確定的中間值，提供至少一操作參數(作為輸出值)。多項式函數描述至少一個第一操作參數(作為參考值或輸入值)的第二操作參數(作為輸出值)的依存。個別資料集的多項式參數可以表徵定義多項式函數或固定多個不同的多項式函數中的一個切表徵它們。查找表或用於多項式函數的多項式參數的優點包括較少記憶體空間要求。操作參數數值是進一步快速適合的，因為他們不需要分開計算，或可以只用一點點的工作來計算。傳遞函數的追溯適應以簡單方式的進一步可行的，特別是當它是由例如藉由改寫一或多個參數的多項式來表示。

根據優選實施例中，裝置具有特殊應用積體電路(ASIC)，及儲存設備經連接至特殊應用積體電路或整合在特殊應用積體電路。

ASIC的使用提供許多優勢。優點是，光電發送器和接收器可通過(區域)ASIC直接控制。相較於外部或遠程，例如透過已連接的微控制器的直接控制的情況，由此可實現光電裝置的較佳信噪比(SNR)，從而使光電裝置可有效地且更高的精度和可靠性的操作。況且ASIC可具有非常簡單和便宜的結構。此ASIC芯片尤其是適用於大數量的優勢成本。

光電裝置可配備有由以往不可能有的關於製造成本的ASIC的情報。非揮發性記憶體已被證明是在這方面特別優勢，因為ASIC允許，尤其是理想的操作中，對於超越僅是ASIC的特殊應用電路設計的個別裝置所量身訂做。所提供用於讀出記憶體的資料介面優選地整合於ASIC中，使得ASIC可以藉由例如透過在ASIC及更高階外部控制單元(例如微控制器)之間的ASIC的匯流模組傳遞相應資料。也可想到提供用於記憶體的獨立資料介面使得資料可以從ASIC寫入記憶體或可以從中讀出。此自然也是在沒有提供ASIC時的狀況。

提供用於光電發送器的控制訊號的預處理可由ASIC所替代。由光電接收機接收到的光學訊號的預處理是進一步可想到的。根據優選的實施例，ASIC可以在此方面用於所儲存的個別資料集以及可以例如考慮個別擴大因數。進一步可想到的，ASIC決定個別資料集的更新需求且與此溝通至作為常規測試週期的部份的控制單元及/或根據裝置的更高階控制單元。

根據實施例，特殊應用積體電路可透過資料介面或匯流模組適於處理(例如，數位化)光學接受器的已接收訊號以及以處理過得形式輸出這些以作為光電裝置的輸出信號，其中特殊應用積體電路可進而透過資料介面適用於從非揮發性記憶體讀出個別資料集或其部份並且輸出這些(除了處理過的接收訊號)。根據優選的實施例，特殊應用積體電路是，雖然，在此方面不適用於處理仰賴於已儲存的個別資料集的光電接收器的已接收訊號。此相對複雜計算工作可以由在大部分應用中總是具有的外部訊號處理單元(微控制器)所進行。在光電裝置的此實施例中，得以能夠提供具有低的處理能力的相對簡單地設計的ASIC。

根據進一步的實施例中，光電裝置包括溫度傳感器。藉由溫度傳感器的手段，光電裝置內或直接環境的所測得溫度，可因此被視為操作參數，使得在裝置的溫度依存函數(a temperature-dependent function)的情況中，其仍然可以根據規格操作。溫度依存測量偏差(a temperature-dependent measurement deviation)可以，例如，直接補償，特別是藉由連接至裝置的外部微控制器。為此所需的知識可被儲存在儲存裝置的非揮發性記憶體中的個別資料集以及在從資料集讀出後可用於例如控制單元或裝置的微控制器。

本發明復涉及一種製造根據前述實施例的變體的光電裝置的方法，其中，判別光電裝置的光譜靈敏度特性、距離依存靈敏度特性、及/或角度依存靈敏度特性。個別資料集寫入仰賴於測量結果的儲存裝置的非揮發性記憶體，其中個別資料集表示所判定的靈敏度特性。靈敏度特性的判斷或檢查可以特別作為在裝置的製造商(此為生產過程的一部分)、且/或在裝置的用戶或顧客(例如在在列印機的製造商)，的光電裝置測試週期的一部分。

本發明更涉及一種製造根據上述任一實施例的變體的光電裝置的方法，其中根據製造過程所製造和測試的光電裝置，且其中仰賴於製造過程，個別資料集寫入儲存設備的非揮發性記憶體中，其包含在製造中使用的工具上至少一片段的資訊、在製造中使用的測試裝置上至少一片段的資訊、及/或在製造中使用的測試軟體上至少一片段的資訊。所儲存的資料特別直接提供給該設備的客戶或用戶，並且可以通常用作該裝置的“電子ID”或用於所發生裝置故障的診斷。設備的終端用戶也可以從所儲存的資料，例如在所需的更新不需要手動定位，但反而是自動在個別資料集的基礎上執行。

本發明更涉及一種從根據上述任一實施例的變體的光電裝置讀出個別資料集的方法，其中個別資料集至少部分地、直接或間接地，透過光電裝置的資料介面讀出裝置的儲存設備的非揮發記憶體。個別資料集可以特別是為了(個別)裝置的可靠和精確的操作藉由硬體讀出。

本發明更涉及一種操作根據上述任一實施例的變體的光電裝置的方法，其中光電裝置的個別資料透過光電裝置的資料界面從儲存設備的非揮發性記憶體讀出，且其中光電裝置仰賴於所讀出個別資料集而操作。

所讀出個別資料集可包括描述在至少一第一操作參數和至少一第二操作參數的關係的至少一傳遞函數，其中傳遞函數優選地關聯於光電裝置的預定義使用以作為傳感器。

根據該方法的實施例中，所讀出個別資料集經檢查以用於更新需求。若儲存在儲存設備的非揮發性記憶體中的個別資料集的更新需求被找到，據此透過光電裝置的資料界面更新。

10‧‧‧光電裝置

12‧‧‧載體裝置

14‧‧‧光圈元件

16‧‧‧透鏡元件

18‧‧‧下部件

20‧‧‧上部件

22a、22b‧‧‧光電發射器

24a、24b‧‧‧光電接收器

26‧‧‧特殊應用積體電路、ASIC

28‧‧‧邏輯計算單元

30‧‧‧非揮發性記憶體

32‧‧‧電壓調節

34‧‧‧電源

36‧‧‧匯流排模組

38‧‧‧溫度傳感器

40‧‧‧訊號放大器

42‧‧‧類比-數位轉換器

44‧‧‧對象物

46a、46b、46c、46d、46e、46f、46g‧‧‧傳遞函數

48‧‧‧函數數值

49‧‧‧曲線

50‧‧‧相對強度

52‧‧‧對象物距離

本發明藉由引用圖示作為實例的方式說明，其中：第1圖是光電裝置的分解圖；第2圖是第1圖的裝置在組裝狀態下的表示圖；第3圖是光電裝置的電子電路的示意圖；第4圖示意光電裝置的傳遞函數；第5圖示意第4圖的傳遞函數以及光電設備的另一傳遞函數；第6圖示意光電裝置的兩個另外的傳遞函數；以及第7圖示意的光電裝置的三個另外的傳遞函數。

在附圖中，相同或相似的元件以相同的參考數字標記。

一種光電裝置10包括載體設備12、光圈元件14、透鏡元件16、以及包括下部件18和上部件20的保持裝置。所有這些組件都從第1圖上方傾斜地示意，即，視角傾斜地指向組件的相應上方側。組件12、14、16、18和20以夾層結構(a sandwich arrangement)加以組裝，使得產生第2圖所示的裝置10的狀態。

一個光電發射器22和兩個光電接收器24例如安裝在載體設備12上。特殊應用積體電路(ASIC)26進一步安裝於載體設備12上。

第3圖所示的簡化電路圖示意ASIC 26的細節。ASIC 26包括邏輯處理單元28及具有非揮發性記憶體30的儲存裝置。ASIC 26還包括電壓調節32、電源34、匯流排模組36(例如內部整合電路(I²C)、溫度傳感器38、訊號放大器40、以及類比-數位轉換器42。匯流排模組提供例如每秒1兆位元(Mbit)速度的介面。優選地，電源34是雙向的且具有例如10位元的解析度。電源34可進一步對於從+/-25mA高至+/-200mA的四個輸出電流範圍程式化，使得有效地產生12位元電源。該類比-數位轉換器42可依據裝置10的相應使用，而相對於其仰賴於其解析度和速度而而選擇性地設定。因此，有可能在多個設定階段中於低解析度中的快速版本(例如10毫秒(μs)及6位元)及在高解析度中的慢速版本(例如12.8毫秒及16位元)之間選擇。ASIC 26優選地與DC電流操作，使得相應裝置10特別適用於掃描應用或時間臨界(快速)的應用。

在此示意實施例中的ASIC是連接至經配置作為相應發光二極體的二個光電發射器22a、22b以及經配置作為相應光電二極體的二個光電接收器24a、24b。不同於第1圖的載體裝置12，兩個相應的發射器22和接收器24因此安裝於第3圖的ASIC 26下方的載體裝置12上。發射器22和接收器24可相對於相應放大係數而選擇性地設定。

電壓調節32連接至直流電壓源(“VCC 3.3V”)及接地(“GND”)。匯流排模組36連接到資料線(“SDA”)及時脈線(“SCL”)。匯流排模組36作為裝置10的資料界面，使得裝置10可例如連接至(未示出)外部微控制器。光電裝置10的輸出訊號可以經由藉由匯流排模組36所形成的介面輸出(依據光電接收器24a、24b的接收訊號)。此外，還可能透過此界面從外部存取非揮發性記憶體30。非揮發性記憶體30經由單獨的電壓輸入(“VPRG”)允許額外的程式設計功能。邏輯單元28復連接至用於將所謂的中斷請求(“IRQ”)特別傳輸至經命名的微控制器的線。

個別資料集是儲存於ASIC 26的非揮發性記憶體30中，並且包括光電裝置10的至少一傳遞函數，其中個別資料集涉及搭載具有個別資料集的記憶體30的特定光電裝置10。個別資料集的傳遞函數藉由光電接收器24a與光電發射器22a表徵對象物44(例如一張紙)的偵測。個別資料集的進一步傳遞函數可藉由光電接收器24b與光電發射器22b表徵進一步對象物(未示出)的偵測。個別資料集可全部或部分地(例如，僅一個傳遞函數)讀出記憶體30，使得光電裝置10可以在考量到個別資料集時可靠地作為根據統一規格的傳感器而操作。

傳遞函數46a的細節包括如第4圖所示的多個函數數值48。傳遞函數46a僅可以包括幾個函數數值48(如所示)、或位於所示的內插曲線49上且可以例如通過基於多個函數數值48的內插值所獲取的更大數目的函數數值48。傳遞函數46a也可以包括曲線49的完整數學描述。傳遞函數46a描述由光電接收器24所接收的光學訊號的相對強度50(“Y軸”)以及從光學訊號所反射的對象物44的間隔50(“X軸”)之間的關聯。在此方面，相對強度50表示第一操作參數，而對象物距離52表示裝置10的第二操作參數。

第5圖示意第1圖的傳遞函數46a以及不同於傳遞函數46a的進一步傳遞函數46b。傳遞函數46b涉及與傳遞函數46a基本相同的傳感器應用，但對象物(未示出)略微不同以及在稍微不同範圍的物體距離內。取決於裝置10的可能應用，裝置10可基於根據裝置10的基本規格的二個傳遞函數46a、46b之中的一個而操作。

第6圖示意用於裝置10的進一步傳感器應用的二個進一步傳遞函數46c和46c。傳遞函數46c、46d基本上彼此不同，使得裝置10可以在考量到傳遞函數46c、46d時非常不同地操作。例如用於藉由光電接收器24所接收的訊號的放大因數的操作參數可以簡單地設定仰賴於相應的所選擇傳遞函數46d、46d，使得可以補償特殊應用及特定裝置的差異。

三個進一步的傳遞函數46e、46f及46g顯示於第7圖，其中傳遞函數46e、46f及46g分別關聯於不同對象物44的偵測。由於傳遞函數46e、46f及46g各者在相對強度50的相應偏移彼此不同，因此僅將傳遞函數46e、46f、46g中之一者及計算規則儲存在記憶體30中是有利的，其中，該計算規則用於確定裝置10。在需要時，相關聯的傳遞函數46e、46f或46g可以仰賴於相應對象物44而簡單且有效地確認。此特別是發生於儲存在記憶體30中的查找表的手段。可替換地，多項式函數也可用於描述一或多個傳遞函數46e、46f、46g。

應當理解，光電裝置10的另一進一步個別資料，特別是通常描述在儲存於記憶體30之上的那種資料；例如涉及相應裝置10的生產歷史的資訊。因此個別資料集可以通過在顯著製造公差的事件中或很大不同的應用中可以可靠地和精確地操作裝置10以提供該裝置10全面的“電子ID”。若雖然故障發生於在個別狀況中，它們可以個別資料集的幫助而診斷且可藉由裝置10的個別更新可選地進行監視。