TWI750867B - 顯示面板 - Google Patents

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Abstract

本發明提供一種顯示面板。顯示面板包括多個畫素以及多個選擇器。所述多個畫素各包括多個子畫素。所述多個子畫素各包括發光二極體、驅動電路以及驅動數據檢測線。驅動電路產生驅動電流，並依據驅動電流驅動發光二極體。驅動數據檢測線耦接於發光二極體的陽極。驅動數據檢測線傳輸關聯於驅動電流的驅動數據。所述多個選擇器各經由畫素接收所述多個資料訊號以及經由驅動數據檢測線接收驅動數據，並反應於選擇訊號選擇驅動數據以及所述多個資料訊號的其中之一以作為受檢測訊號。

Description

顯示面板
本發明是有關於一種顯示面板，且特別是有關於一種能夠至少提供受檢測的檢測數據的顯示面板。
以目前各種形式的發光二極體（light emitting diode，LED）顯示面板（例如是有機發光二極體（Organic LED，OLED）顯示面板、微發光二極體（micro LED）顯示面板等）來說，發光二極體顯示面板的檢測數據的取得方式會沿用液晶顯示器的檢測數據的取得方式。因此，發光二極體顯示面板的子畫素的驅動數據會從資料線被取得。然而，發光二極體顯示面板是以電流驅動方式被驅動，而不是以電壓驅動方式被驅動。因此，從發光二極體顯示面板的資料線所取得到的數據並不是實際的驅動數據。
舉例來說，請參考圖1，圖1是依據先前技術所繪示的提供受檢測的檢測數據的示意圖。圖1示出了發光二極體顯示面板的子畫素SP的電路示意圖。基於掃描訊號SS、資料訊號SD以及參考高電源OVDD，子畫素SP能藉由掃描電晶體TS以及驅動電晶體TD的運行產生驅動電流ID，並依據陽極電壓以及電容器C產生感應電流ISEN。感應電流ISEN會被提供到資料線SL。因此，感應電流ISEN可經由資料線SL被取得。應注意的是，基於電容器C的耦合感應，感應電流ISEN與實際的驅動電流ID的相關性可能不明顯。檢測結果可能會發生失真。因此，基於沿用液晶顯示器的檢測數據的取得方式來取得到的感應電流ISEN並不是實際的驅動數據。如何使獲得畫素所產生的實際驅動數據以及畫素所接收到的實際訊號，是本領域技術人員努力研究的方向之一。
本發明提供一種顯示面板，能夠提供畫素所產生的實際驅動數據以及畫素所接收到的實際訊號。
本發明的顯示面板包括多個畫素以及多個選擇器。所述多個畫素各包括多個子畫素。所述多個子畫素各包括發光二極體、驅動電路以及驅動數據檢測線。驅動電路耦接於發光二極體的陽極以及參考高電源。驅動電路依據多個資料訊號的其中之一以及參考高電源產生驅動電流，並依據驅動電流驅動發光二極體。驅動數據檢測線耦接於發光二極體的陽極。驅動數據檢測線傳輸關聯於驅動電流的驅動數據。所述多個選擇器各與所述多個畫素對應耦接。所述多個選擇器各經由該些子畫素接收所述多個資料訊號，經由所述多個子畫素的多個驅動數據檢測線的至少其中之一接收至少一驅動數據，並反應於選擇訊號選擇至少一驅動數據以及所述多個資料訊號的其中之一以作為受檢測訊號。
基於上述，本發明的顯示面板的子畫素包括驅動數據檢測線。選擇器經由接收資料訊號並經由驅動數據檢測線接收驅動數據。因此，選擇器能夠接收到實際的資料訊號以及關聯於實際驅動電流的驅動數據。選擇器還能夠反應於選擇訊號選擇驅動數據以及資料訊號以作為受檢測訊號。如此一來，選擇器提供畫素所產生的驅動數據以及畫素所接收到的實際訊號。
為讓本發明的上述特徵和優點能更明顯易懂，下文特舉實施例，並配合所附圖式作詳細說明如下。
本發明的部份實施例接下來將會配合附圖來詳細描述，以下的描述所引用的元件符號，當不同附圖出現相同的元件符號將視為相同或相似的元件。這些實施例只是本發明的一部份，並未揭示所有本發明的可實施方式。更確切的說，這些實施例只是本發明的專利申請範圍中的裝置與方法的範例。
請參考圖2，圖2是依據本發明第一實施例所繪示的顯示面板的部分示意圖。在本實施例中，顯示面板100包括多個畫素以及多個選擇器。為了便於說明，本實施例2個畫素P1、P2以及2個選擇器110_1、110_2來示例。本發明的畫素的數量以及選擇器的數量並不以本實施例為限。以畫素P1為例，畫素P1各包括子畫素SP1~SP3。子畫素SP1包括發光二極體L1、驅動電路D1以及驅動數據檢測線LK1。子畫素SP2包括發光二極體L2、驅動電路D2以及驅動數據檢測線LK2。子畫素SP3包括發光二極體L3、驅動電路D3以及驅動數據檢測線LK3。畫素P2的配置可相似於畫素P1的配置，因此恕不重述。在本實施例中，發光二極體L1~L3例如是有機發光二極體（Organic LED，OLED）顯示面板或微發光二極體（micro LED）。
在本實施例的子畫素SP1中，驅動電路D1耦接於發光二極體L1的陽極以及參考高電源OVDD。驅動電路D1依據資料訊號SD1以及參考高電源OVDD產生驅動電流ID1，並依據驅動電流ID1驅動發光二極體L1。驅動數據檢測線LK1耦接於發光二極體L1的陽極。驅動數據檢測線LK1傳輸關聯於驅動電流ID1的驅動數據DD1。本實施例中，驅動數據DD1可以是驅動電流ID1中的分支電流或是位於發光二極體L1的陽極的電荷。因此，驅動數據DD1與驅動電流ID1具有較高的正相關性。
在子畫素SP2中，驅動電路D2耦接於發光二極體L2的陽極以及參考高電源OVDD。驅動電路D2依據資料訊號SD2以及參考高電源OVDD產生驅動電流ID2，並依據驅動電流ID2驅動發光二極體L2。驅動數據檢測線LK2耦接於發光二極體L2的陽極。驅動數據檢測線LK2傳輸關聯於驅動電流ID2的驅動數據DD2。相似地，在子畫素SP3中，驅動電路D3耦接於發光二極體L3的陽極以及參考高電源OVDD。驅動電路D3依據資料訊號SD3以及參考高電源OVDD產生驅動電流ID3，並依據驅動電流ID3驅動發光二極體L3。驅動數據檢測線LK3耦接於發光二極體L3的陽極。驅動數據檢測線LK3傳輸關聯於驅動電流ID3的驅動數據DD3。驅動數據DD2、DD3分別與驅動電流ID2、ID3具有較高的正相關性。
在本實施例中，選擇器110_1、110_2各與畫素P1、P2對應耦接。舉例來說，選擇器110_1耦接於畫素P1。選擇器110_2於畫素P2。在本實施例中，選擇器110_1、110_2對應地經由畫素P1、P2接收資料訊號以及驅動數據。以選擇器110_1為例，選擇器110_1會經由畫素P1中的子畫素SP1~SP3接收資料訊號SD1~SD3，並經由子畫素SP1~SP3的驅動數據檢測線LK1~LK3接收驅動數據DD1~DD3。舉例來說，選擇器110_1包括3個第一輸入端以及3個第二輸入端。第一輸入端分別接收來自於畫素P1的資料訊號SD1~SD3。第二輸入端分別耦接於驅動數據檢測線LK1~LK3接收來自於畫素P1的資料訊號SD1~SD3以接收驅動數據DD1~DD3。此外，選擇器110_1還會接收選擇訊號SA1，並反應於選擇訊號SA1選擇驅動數據DD1~DD3以及資料訊號SD1~SD3的其中之一以作為受檢測訊號SB1。選擇器110_1還包括輸出端。選擇器110_1會經由輸出端輸出受檢測訊號SB1。在本實施例中，選擇器110_1可例如是反應於選擇訊號SA1以分時方式依序地選擇驅動數據DD1~DD3以及資料訊號SD1~SD3的其中之一以作為受檢測訊號SB1。
相似地，選擇器110_2會經由畫素P1接收資料訊號以及驅動數據，並反應於選擇訊號SA2選擇驅動數據以及資料訊號的其中之一以作為受檢測訊號SB2。在本實施例中，選擇器110_2可例如是反應於選擇訊號SA2以分時方式依序地選擇驅動數據以及資料訊號的其中之一以作為受檢測訊號SB2。
在本實施例中，選擇器110_1、110_2可例如是由多工器（multiplexer）來實現。在本實施例中，選擇器110_1、110_2可以被設置在畫素P1、P2的外圍。也就是說，選擇器110_1、110_2可以被設置在顯示區的外圍。在本實施例中，選擇器110_1、110_2可以被設置在畫素P1、P2之間。也就是說，選擇器110_1、110_2可以被設置在顯示區的內部。
在一些實施例中，以選擇器110_1為例，選擇器110_1會接收資料訊號SD1~SD3，並經由驅動數據檢測線LK1~LK3中的部分驅動數據檢測線接收驅動數據。舉例來說，選擇器110_1會接收資料訊號SD1~SD3，並僅經由驅動數據檢測線LK1接收驅動數據DD1。本發明的選擇器可接收對應畫素中的至少一驅動數據，並不以本實施例為限。
在此值得一提的是，以選擇器110_1為例，選擇器110_1經由子畫素SP1~SP3接收資料訊號SD1~SD3，並經由驅動數據檢測線LK1~LK3接收驅動數據DD1~DD3。因此，選擇器110_1能夠接收到實際的資料訊號SD1~SD3以及關聯於實際的驅動電流ID1~ID3的驅動數據DD1~DD3。如此一來，本實施例能夠由驅動數據DD1~DD3獲知實際的驅動電流ID1~ID3以及子畫素SP1~SP3所實際接收到的資料訊號SD1~SD3。
在本實施例中，由於選擇器110_1、110_2的輸出端的總數明顯小於畫素P1、P2所能提供的檢測數據（資料訊號SD1~SD3、驅動數據DD1~DD3）的數量。在進行顯示面板100的分割（cutting）作業時，圖2所示的元件中選擇器110_1、110_2的輸出端被切割到。因此，在進行顯示面板100的分割作業時可降低金屬碎屑或間隙的產生，藉以降低製程上的汙染。
在本實施例中，選擇器110_1、110_2以及畫素P1、P2被設置於同一基板（例如是玻璃基板，本發明並不以此為限）上。因此，在顯示面板製程中，例如在形成顯示面板陣列（Array）的階段或將顯示面板陣列分割成單一顯示面板（Cell）的階段，本實施例能夠由選擇器110_1、110_2所輸出的驅動數據DD1~DD3獲知實際的驅動電流ID1~ID3。如此一來，選擇器110_1、110_2可適用於顯示面板陣列的階段的測試（Array Test，AT）以及將顯示面板陣列分割成單一顯示面板的階段的測試（Cell Test，CT）。
舉例來說明子畫素的實施細節。請參考圖3，圖3是依據本發明一實施例所繪示的子畫素的示意圖。本實施例的子畫素SP4可適用於圖2所示的子畫素SP1~SP3中的任一個。在本實施例中，子畫素SP4包括發光二極體L4、驅動電路D4以及驅動數據檢測線LK。在本實施例中，驅動電路D4包括驅動電晶體TD以及掃描電晶體TS。驅動電晶體TD的第一端耦接於參考高電源OVDD。驅動電晶體TD的第二端耦接於發光二極體L4的陽極。掃描電晶體TS的第一端用以接收資料訊號SD。掃描電晶體TS的第二端耦接至驅動電晶體TD的控制端。掃描電晶體TS的控制端用以接收掃描訊號SS。發光二極體L4的陰極耦接於參考低電源OVSS。驅動數據檢測線LK耦接於發光二極體L4的陽極。在本實施例中，驅動電路D4還包括電容器C。電容器C耦接於掃描電晶體TS的第二端以及發光二極體L4的陽極之間。本實施例的子畫素SP4是以2T1C的驅動架構為例。然本發明並不以此為限。本發明的驅動架構可以是2T1C、3T1C、3T2C、4T1C、4T2C、5T1C、5T2C、6T1C、6T2C、7T1C的驅動架構或是任何可能的驅動架構。在本實施例中，驅動電晶體TD以及掃描電晶體TS分別可以是由任意型式的薄膜電晶體（Thin-Film Transistor，TFT）來實現。
在本實施例中，驅動數據檢測線LK能夠傳輸產生於發光二極體L4的陽極的驅動數據DD。因此，選擇器（如圖2所示的選擇器110_1、110_2）可經由驅動數據檢測線LK接收驅動數據DD。在選擇器將驅動數據DD作為受檢測訊號的情況下，驅動數據DD可以被讀出。由於驅動數據DD與驅動電流ID具有高相關性。因此，驅動數據DD可藉由演算方式獲知實際的驅動電流ID。
另舉例來說明子畫素的實施細節。請參考圖4，圖4是依據本發明另一實施例所繪示的子畫素的示意圖。本實施例的子畫素SP5可適用於圖2所示的子畫素SP1~SP3中的任一個。與圖3的子畫素SP4的驅動電路D4不同的是，子畫素SP5的驅動電路D5還包括控制電晶體TC。控制電晶體TC的第一端耦接於發光二極體L5的陽極。控制電晶體TC的第二端耦接於驅動數據檢測線LK。控制電晶體TC的控制端用以接收控制訊號SC。驅動電路D5會反應於控制訊號SC以控制發光二極體L5與驅動數據檢測線LK之間的導通或斷開。舉例來說，驅動電路D5會反應於具有第一邏輯準位（例如是高邏輯準位）的控制訊號SC以導通發光二極體L5與驅動數據檢測線LK之間的連接。使得驅動數據檢測線LK能夠傳輸產生於發光二極體L5的陽極的驅動數據DD。另舉例來說，驅動電路D5會反應於具有第二邏輯準位（例如是低邏輯準位）的控制訊號SC以斷開發光二極體L5與驅動數據檢測線LK之間的連接。使得驅動數據檢測線LK無法傳輸驅動數據DD。在本實施例中，控制電晶體TC可以是由任意型式的薄膜電晶體（Thin-Film Transistor，TFT）來實現。
接下來由多個實施例舉例說明選擇器的多個實施細節。首先，請參考圖5A，圖5A是依據本發明一實施例所繪示的選擇器的示意圖。在本實施例中，選擇器110_3包括3個第一輸入端PT1_1~PT1_3、第二輸入端PT2以及輸出端PTO。第一輸入端PT1_1用以接收資料訊號SD1。第一輸入端PT1_2用以接收資料訊號SD2。第一輸入端PT1_3用以接收資料訊號SD3。資料訊號SD1~SD3可以分別是對應於不同顏色（如，紅色、藍色、綠色、白色、黃色等等，本發明並不以此為限）的資料訊號。第二輸入端PT2耦接於多個子畫素中的一特定子畫素的驅動數據檢測線。第二輸入端PT2用以經由特定子畫素的驅動數據檢測線來接收驅動數據DD。驅動數據DD可以是圖2的驅動數據DD1~DD3中的其中一者。選擇器110_3會反應於選擇訊號SA將資料訊號SD1~SD3以及驅動數據DD的其中一者作為受檢測訊號SB，並經由輸出端PTO輸出受檢測訊號SB。
請參考圖5B，圖5B是依據本發明一實施例所繪示的選擇器的示意圖。在本實施例中，選擇器110_4包括4個第一輸入端PT1_1~PT1_4、第二輸入端PT2以及輸出端PTO。第一輸入端PT1_1用以接收資料訊號SD1。第一輸入端PT1_2用以接收資料訊號SD2。第一輸入端PT1_3用以接收資料訊號SD3。第一輸入端PT1_4用以接收資料訊號SD4。第二輸入端PT2用以接收驅動數據DD。選擇器110_4會反應於選擇訊號SA將資料訊號SD1~SD4以及驅動數據DD的其中一者作為受檢測訊號SB，並經由輸出端PTO輸出受檢測訊號SB。
基於圖5A、5B的教示，應能理解的是，本發明的選擇器所接收到的資料訊號可以是多個。
請參考圖5C，圖5C是依據本發明一實施例所繪示的選擇器的示意圖。在本實施例中，選擇器110_5包括3個第一輸入端PT1_1~PT1_3、第二輸入端PT2、第三輸入端PT3以及輸出端PTO。第一輸入端PT1_1~PT1_3分別用以接收資料訊號SD1~SD3。第二輸入端PT2用以接收驅動數據DD。第三輸入端PT3用以接收參考高電源OVDD。選擇器110_5會反應於選擇訊號SA將資料訊號SD1~SD3、驅動數據DD以及參考高電源OVDD的其中一者作為受檢測訊號SB，並經由輸出端PTO輸出受檢測訊號SB。相較於圖5A、5B的實施例，本實施例的選擇器110_5可被操作以輸出參考高電源OVDD。因此，在本實施例中，參考高電源OVDD可以被檢測。
請參考圖5D，圖5D是依據本發明一實施例所繪示的選擇器的示意圖。在本實施例中，選擇器110_6包括3個第一輸入端PT1_1~PT1_3、第二輸入端PT2、第三輸入端PT3、第四輸入端PT4以及輸出端PTO。第一輸入端PT1_1~PT1_3分別用以接收資料訊號SD1~SD3。第二輸入端PT2用以接收驅動數據DD。第三輸入端PT3用以接收參考高電源OVDD。第四輸入端PT4用以接收控制訊號SC。選擇器110_6會反應於選擇訊號SA將資料訊號SD1~SD3、驅動數據DD、參考高電源OVDD以及控制訊號SC的其中一者作為受檢測訊號SB，並經由輸出端PTO輸出受檢測訊號SB。相較於圖5C的實施例，本實施例的選擇器110_6可被操作以輸出控制訊號SC。因此，在本實施例中，控制訊號SC可以被檢測。
請參考圖5E，圖5E是依據本發明一實施例所繪示的選擇器的示意圖。在本實施例中，選擇器110_7包括3個第一輸入端PT1_1~PT1_3、第二輸入端PT2、第四輸入端PT4以及輸出端PTO。選擇器110_7會反應於選擇訊號SA將資料訊號SD1~SD3、驅動數據DD以及控制訊號SC的其中一者作為受檢測訊號SB，並經由輸出端PTO輸出受檢測訊號SB。
請參考圖6，圖6是依據本發明第二實施例所繪示的顯示面板的示意圖。相較於圖二的第一實施例的顯示面板100，本實施例的顯示面板200還包括測試走線TL1、TL2。在本實施例中，測試走線TL1具有第一端N1_1以及第二端N2_1。測試走線TL1的第一端N1_1耦接於選擇器110_1的輸出端。測試走線TL1可經由選擇器110_1的輸出端接收受檢測訊號SB1，並將受檢測訊號SB1傳輸到第二端N2_1。因此，受檢測訊號SB1可以在第二端N2_1被讀出並且被檢測。
相似地，測試走線TL2具有第一端N1_2以及第二端N2_2。測試走線TL2的第一端N1_2耦接於選擇器110_2的輸出端。測試走線TL2可經由選擇器110_2的輸出端接收受檢測訊號SB2，並將受檢測訊號SB2傳輸到第二端N2_2。因此，受檢測訊號SB2可以在第二端N2_2被讀出並且被檢測。第二端N2_1、N2_2可以是用於測試的接觸腳墊（pad）。
在本實施例中，由於測試走線TL1、TL2的總數以及選擇器110_1、110_2的輸出端的總數明顯小於畫素P1、P2所能提供的檢測數據（資料訊號SD1~SD3、驅動數據DD1~DD3）的數量。在進行顯示面板200的分割作業時，圖6所示的元件中僅有測試走線TL1、TL2被切割到。因此，在進行顯示面板的分割作業時可降低金屬碎屑或間隙的產生，藉以降低製程上的汙染。
綜上所述，本發明的顯示面板的子畫素包括驅動數據檢測線。選擇器經由接收資料訊號並經由驅動數據檢測線接收驅動數據。選擇器能夠至少接收到子畫素所接收到的資料訊號以及關聯於實際驅動電流的驅動數據。如此一來，本發明能夠提供畫素所產生的實際驅動數據以及畫素所接收到的實際訊號。如此一來，選擇器也能夠將畫素所產生的驅動數據以及畫素所接收到的實際訊號的其中之一作為受檢測訊號。
雖然本發明已以實施例揭露如上，然其並非用以限定本發明，任何所屬技術領域中具有通常知識者，在不脫離本發明的精神和範圍內，當可作些許的更動與潤飾，故本發明的保護範圍當視後附的申請專利範圍所界定者為準。
100、200:顯示面板 110_1~110_7:選擇器 C:電容器 D1~D5:驅動電路 DD、DD1~DD3:驅動數據 ID、ID1~ID3:驅動電流 L、L1~L5:發光二極體 LK、LK1~LK3:驅動數據檢測線 N1_1、N1_2:第一端 N2_1、N2_2:第二端 OVDD:參考高電源 OVSS:參考低電源 P1、P2:畫素 PT1_1~PT1_4:第一輸入端 PT2:第二輸入端 PT3:第三輸入端 PT4:第四輸入端 PTO:輸出端 SA、SA1、SA2:選擇訊號 SB、SB1、SB2:受檢測訊號 SC:控制訊號 SD、SD1~SD4:資料訊號 SP、SP1~SP5:子畫素 SS:掃描訊號 TC:控制電晶體 TD:驅動電晶體 TL1、TL2:測試走線 TS:掃描電晶體
圖1是依據先前技術所繪示的提供受檢測的檢測數據的示意圖。 圖2是依據本發明第一實施例所繪示的顯示面板的部分示意圖。 圖3是依據本發明一實施例所繪示的子畫素的示意圖。 圖4是依據本發明另一實施例所繪示的子畫素的示意圖。 圖5A~5E分別是依據本發明一實施例所繪示的選擇器的示意圖。 圖6是依據本發明第二實施例所繪示的顯示面板的示意圖。
100:顯示面板
110_1、110_2:選擇器
D1~D3:驅動電路
DD1~DD3:驅動數據
ID1~ID3:驅動電流
L1~L3:發光二極體
LK1~LK3:驅動數據檢測線
P1、P2:畫素
SA1、SA2:選擇訊號
SB1、SB2:受檢測訊號
SD1~SD3:資料訊號
SP1~SP3:子畫素

Claims (10)

  1. 一種顯示面板，包括：多個畫素，各包括多個子畫素，其中該些子畫素各包括：一發光二極體；一驅動電路，耦接於該發光二極體的陽極、一參考高電源，經配置以依據多個資料訊號的其中之一以及該參考高電源產生一驅動電流，並依據該驅動電流驅動該發光二極體；以及一驅動數據檢測線，耦接於該發光二極體的陽極，經配置以傳輸關聯於該驅動電流的一驅動數據；多個測試走線；以及多個選擇器，各與該些畫素以及該些測試走線對應耦接，各經配置以經由該些子畫素接收該些資料訊號，經由該些子畫素的多個驅動數據檢測線的至少其中之一接收至少一驅動數據，並反應於一選擇訊號選擇該至少一驅動數據以及該些資料訊號的其中之一以作為一受檢測訊號，並將該受檢測訊號輸出至對應的測試走線。
  2. 如請求項1所述的顯示面板，其中該些選擇器以及該些畫素被設置於同一基板上。
  3. 如請求項1所述的顯示面板，其中：該些選擇器的各一包括多個第一輸入端、一第二輸入端以及一輸出端，該些第一輸入端各經配置以接收該些資料訊號， 該第二輸入端耦接於該些子畫素中的一第一子畫素的一第一驅動數據檢測線，經配置以接收該第一子畫素的一第一驅動數據，並且該些選擇器經配置以反應於該選擇訊號將該第一驅動數據以及該些資料訊號的其中之一作為該受檢測訊號，並經由該輸出端輸出該受檢測訊號。
  4. 如請求項3所述的顯示面板，其中：該些選擇器中的各一還包括一第三輸入端，該第三輸入端經由該些子畫素的其中之一接收該參考高電源，並且該些選擇器經配置以反應於該選擇訊號將該第一驅動數據、該些資料訊號以及該參考高電源的其中之一作為該受檢測訊號，並經由該輸出端輸出該受檢測訊號。
  5. 如請求項1所述的顯示面板，其中該驅動電路包括：一驅動電晶體，該驅動電晶體的第一端耦接於該參考高電源，該驅動電晶體的第二端耦接於該發光二極體的陽極；以及一掃描電晶體，該掃描電晶體的第一端用以接收該些資料訊號的其中之一，該掃描電晶體的第二端耦接至該驅動電晶體的控制端，該掃描電晶體的控制端用以接收一掃描訊號。
  6. 如請求項5所述的顯示面板，其中該驅動電路包括：一控制電晶體，該控制電晶體的第一端耦接於該發光二極體的陽極，該控制電晶體的第二端耦接於該驅動數據檢測線，該控 制電晶體的控制端耦接於接收一控制訊號，其中該驅動電路還反應於該控制訊號以控制該發光二極體與驅動數據檢測線之間的導通或斷開。
  7. 如請求項6所述的顯示面板，其中：該些選擇器的各一包括多個第一輸入端、一第二輸入端、一第四輸入端以及一輸出端，該些第一輸入端各經配置以接收該些資料訊號，該第二輸入端耦接於該些子畫素中的一第一子畫素的一第一驅動數據檢測線，經配置以接收該第一子畫素的一第一驅動數據，該第四輸入端經由該些子畫素的其中之一接收該控制訊號，並且該些選擇器經配置以反應於該選擇訊號將該第一驅動數據、該些資料訊號以及該控制訊號的其中之一作為該受檢測訊號，並經由該輸出端輸出該受檢測訊號。
  8. 如請求項6所述的顯示面板，其中該些選擇器經配置以反應於該選擇訊號將該第一驅動數據、該些資料訊號、該參考高電源以及該控制訊號的其中之一作為該受檢測訊號，並經由該輸出端輸出該受檢測訊號。
  9. 如請求項1所述的顯示面板，其中：該些選擇器的各一包括多個第一輸入端、多個第二輸入端以及一輸出端，該些第一輸入端各經配置以接收該些資料訊號，並且 該些第二輸入端分別耦接於該些驅動數據檢測線，經配置以接收該些驅動數據，並且該些選擇器經配置以反應於該選擇訊號將該些驅動數據以及該些資料訊號的其中之一作為一受檢測訊號，並經由該輸出端輸出該受檢測訊號。
  10. 如請求項1所述的顯示面板，其中：各該些測試走線具有一第一端以及一第二端，該些測試走線的多個第一端分別耦接於該些選擇器的輸出端，並且該受檢測訊號經由該第二端被讀出。
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