CN113205768A - 显示面板 - Google Patents

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Abstract

本发明提供一种显示面板。显示面板包括多个像素以及多个选择器。所述多个像素各包括多个子像素。所述多个子像素各包括发光二极管、驱动电路以及驱动数据检测线。驱动电路产生驱动电流，并依据驱动电流驱动发光二极管。驱动数据检测线耦接于发光二极管的阳极。驱动数据检测线传输关联于驱动电流的驱动数据。所述多个选择器各经由像素接收所述多个数据信号以及经由驱动数据检测线接收驱动数据，并反应于选择信号选择驱动数据以及所述多个数据信号的其中之一以作为受检测信号。

Description

显示面板
技术领域
本发明涉及一种显示面板，且特别涉及一种能够至少提供受检测的检测数据的显示面板。
背景技术
以目前各种形式的发光二极管(light emitting diode，LED)显示面板(例如是有机发光二极管(Organic LED，OLED)显示面板、微发光二极管(micro LED)显示面板等)来说，发光二极管显示面板的检测数据的取得方式会沿用液晶显示器的检测数据的取得方式。因此，发光二极管显示面板的子像素的驱动数据会从数据线被取得。然而，发光二极管显示面板是以电流驱动方式被驱动，而不是以电压驱动方式被驱动。因此，从发光二极管显示面板的数据线所取得到的数据并不是实际的驱动数据。
举例来说，请参考图1，图1是依据现有技术所示出的提供受检测的检测数据的示意图。图1示出了发光二极管显示面板的子像素SP的电路示意图。基于扫描信号SS、数据信号SD以及参考高电源OVDD，子像素SP能通过扫描晶体管TS以及驱动晶体管TD的运行产生驱动电流ID，并依据阳极电压以及电容器C产生感应电流ISEN。感应电流ISEN会被提供到数据线SL。因此，感应电流ISEN可经由数据线SL被取得。应注意的是，基于电容器C的耦合感应，感应电流ISEN与实际的驱动电流ID的相关性可能不明显。检测结果可能会发生失真。因此，基于沿用液晶显示器的检测数据的取得方式来取得到的感应电流ISEN并不是实际的驱动数据。如何使获得像素所产生的实际驱动数据以及像素所接收到的实际信号，是本领域技术人员努力研究的方向之一。
发明内容
本发明提供一种显示面板，能够提供像素所产生的实际驱动数据以及像素所接收到的实际信号。
本发明的显示面板包括多个像素以及多个选择器。所述多个像素各包括多个子像素。所述多个子像素各包括发光二极管、驱动电路以及驱动数据检测线。驱动电路耦接于发光二极管的阳极以及参考高电源。驱动电路依据多个数据信号的其中之一以及参考高电源产生驱动电流，并依据驱动电流驱动发光二极管。驱动数据检测线耦接于发光二极管的阳极。驱动数据检测线传输关联于驱动电流的驱动数据。所述多个选择器各与所述多个像素对应耦接。所述多个选择器各经由该些子像素接收所述多个数据信号，经由所述多个子像素的多个驱动数据检测线的至少其中之一接收至少一驱动数据，并反应于选择信号选择至少一驱动数据以及所述多个数据信号的其中之一以作为受检测信号。
基于上述，本发明的显示面板的子像素包括驱动数据检测线。选择器经由接收数据信号并经由驱动数据检测线接收驱动数据。因此，选择器能够接收到实际的数据信号以及关联于实际驱动电流的驱动数据。选择器还能够反应于选择信号选择驱动数据以及数据信号以作为受检测信号。如此一来，选择器提供像素所产生的驱动数据以及像素所接收到的实际信号。
为让本发明的上述特征和优点能更明显易懂，下文特举实施例，并配合说明书附图作详细说明如下。
附图说明
图1是依据现有技术所示出的提供受检测的检测数据的示意图。
图2是依据本发明第一实施例所示出的显示面板的部分示意图。
图3是依据本发明一实施例所示出的子像素的示意图。
图4是依据本发明另一实施例所示出的子像素的示意图。
图5A～5E分别是依据本发明一实施例所示出的选择器的示意图。
图6是依据本发明第二实施例所示出的显示面板的示意图。
附图标记说明：
100、200：显示面板
110_1～110_7：选择器
C：电容器
D1～D5：驱动电路
DD、DD1～DD3：驱动数据
ID、ID1～ID3：驱动电流
L、L1～L5：发光二极管
LK、LK1～LK3：驱动数据检测线
N1_1、N1_2：第一端
N2_1、N2_2：第二端
OVDD：参考高电源
OVSS：参考低电源
P1、P2：像素
PT1_1～PT1_4：第一输入端
PT2：第二输入端
PT3：第三输入端
PT4：第四输入端
PTO：输出端
SA、SA1、SA2：选择信号
SB、SB1、SB2：受检测信号
SC：控制信号
SD、SD1～SD4：数据信号
SP、SP1～SP5：子像素
SS：扫描信号
TC：控制晶体管
TD：驱动晶体管
TL1、TL2：测试走线
TS：扫描晶体管
具体实施方式
本发明的部分实施例接下来将会配合附图来详细描述，以下的描述所引用的元件符号，当不同附图出现相同的元件符号将视为相同或相似的元件。这些实施例只是本发明的一部分，并未公开所有本发明的可实施方式。更确切的说，这些实施例只是本发明的专利申请范围中的装置与方法的范例。
请参考图2，图2是依据本发明第一实施例所示出的显示面板的部分示意图。在本实施例中，显示面板100包括多个像素以及多个选择器。为了便于说明，本实施例2个像素P1、P2以及2个选择器110_1、110_2来示例。本发明的像素的数量以及选择器的数量并不以本实施例为限。以像素P1为例，像素P1各包括子像素SP1～SP3。子像素SP1包括发光二极管L1、驱动电路D1以及驱动数据检测线LK1。子像素SP2包括发光二极管L2、驱动电路D2以及驱动数据检测线LK2。子像素SP3包括发光二极管L3、驱动电路D3以及驱动数据检测线LK3。像素P2的配置可相似于像素P1的配置，因此恕不重述。在本实施例中，发光二极管L1～L3例如是有机发光二极管(Organic LED，OLED)显示面板或微发光二极管(micro LED)。
在本实施例的子像素SP1中，驱动电路D1耦接于发光二极管L1的阳极以及参考高电源OVDD。驱动电路D1依据数据信号SD1以及参考高电源OVDD产生驱动电流ID1，并依据驱动电流ID1驱动发光二极管L1。驱动数据检测线LK1耦接于发光二极管L1的阳极。驱动数据检测线LK1传输关联于驱动电流ID1的驱动数据DD1。本实施例中，驱动数据DD1可以是驱动电流ID1中的分支电流或是位于发光二极管L1的阳极的电荷。因此，驱动数据DD1与驱动电流ID1具有较高的正相关性。
在子像素SP2中，驱动电路D2耦接于发光二极管L2的阳极以及参考高电源OVDD。驱动电路D2依据数据信号SD2以及参考高电源OVDD产生驱动电流ID2，并依据驱动电流ID2驱动发光二极管L2。驱动数据检测线LK2耦接于发光二极管L2的阳极。驱动数据检测线LK2传输关联于驱动电流ID2的驱动数据DD2。相似地，在子像素SP3中，驱动电路D3耦接于发光二极管L3的阳极以及参考高电源OVDD。驱动电路D3依据数据信号SD3以及参考高电源OVDD产生驱动电流ID3，并依据驱动电流ID3驱动发光二极管L3。驱动数据检测线LK3耦接于发光二极管L3的阳极。驱动数据检测线LK3传输关联于驱动电流ID3的驱动数据DD3。驱动数据DD2、DD3分别与驱动电流ID2、ID3具有较高的正相关性。
在本实施例中，选择器110_1、110_2各与像素P1、P2对应耦接。举例来说，选择器110_1耦接于像素P1。选择器110_2于像素P2。在本实施例中，选择器110_1、110_2对应地经由像素P1、P2接收数据信号以及驱动数据。以选择器110_1为例，选择器110_1会经由像素P1中的子像素SP1～SP3接收数据信号SD1～SD3，并经由子像素SP1～SP3的驱动数据检测线LK1～LK3接收驱动数据DD1～DD3。举例来说，选择器110_1包括3个第一输入端以及3个第二输入端。第一输入端分别接收来自于像素P1的数据信号SD1～SD3。第二输入端分别耦接于驱动数据检测线LK1～LK3接收来自于像素P1的数据信号SD1～SD3以接收驱动数据DD1～DD3。此外，选择器110_1还会接收选择信号SA1，并反应于选择信号SA1选择驱动数据DD1～DD3以及数据信号SD1～SD3的其中之一以作为受检测信号SB1。选择器110_1还包括输出端。选择器110_1会经由输出端输出受检测信号SB1。在本实施例中，选择器110_1可例如是反应于选择信号SA1以分时方式按序地选择驱动数据DD1～DD3以及数据信号SD1～SD3的其中之一以作为受检测信号SB1。
相似地，选择器110_2会经由像素P1接收数据信号以及驱动数据，并反应于选择信号SA2选择驱动数据以及数据信号的其中之一以作为受检测信号SB2。在本实施例中，选择器110_2可例如是反应于选择信号SA2以分时方式按序地选择驱动数据以及数据信号的其中之一以作为受检测信号SB2。
在本实施例中，选择器110_1、110_2可例如是由多工器(multiplexer)来实现。在本实施例中，选择器110_1、110_2可以被设置在像素P1、P2的外围。也就是说，选择器110_1、110_2可以被设置在显示区的外围。在本实施例中，选择器110_1、110_2可以被设置在像素P1、P2之间。也就是说，选择器110_1、110_2可以被设置在显示区的内部。
在一些实施例中，以选择器110_1为例，选择器110_1会接收数据信号SD1～SD3，并经由驱动数据检测线LK1～LK3中的部分驱动数据检测线接收驱动数据。举例来说，选择器110_1会接收数据信号SD1～SD3，并仅经由驱动数据检测线LK1接收驱动数据DD1。本发明的选择器可接收对应像素中的至少一驱动数据，并不以本实施例为限。
在此值得一提的是，以选择器110_1为例，选择器110_1经由子像素SP1～SP3接收数据信号SD1～SD3，并经由驱动数据检测线LK1～LK3接收驱动数据DD1～DD3。因此，选择器110_1能够接收到实际的数据信号SD1～SD3以及关联于实际的驱动电流ID1～ID3的驱动数据DD1～DD3。如此一来，本实施例能够由驱动数据DD1～DD3获知实际的驱动电流ID1～ID3以及子像素SP1～SP3所实际接收到的数据信号SD1～SD3。
在本实施例中，由于选择器110_1、110_2的输出端的总数明显小于像素P1、P2所能提供的检测数据(数据信号SD1～SD3、驱动数据DD1～DD3)的数量。在进行显示面板100的分割(cutting)作业时，图2所示的元件中选择器110_1、110_2的输出端被切割到。因此，在进行显示面板100的分割作业时可降低金属碎屑或间隙的产生，借此降低工艺上的污染。
在本实施例中，选择器110_1、110_2以及像素P1、P2被设置于同一基板(例如是玻璃基板，本发明并不以此为限)上。因此，在显示面板工艺中，例如在形成显示面板阵列(Array)的阶段或将显示面板阵列分割成单一显示面板(Cell)的阶段，本实施例能够由选择器110_1、110_2所输出的驱动数据DD1～DD3获知实际的驱动电流ID1～ID3。如此一来，选择器110_1、110_2可适用于显示面板阵列的阶段的测试(Array Test，AT)以及将显示面板阵列分割成单一显示面板的阶段的测试(Cell Test，CT)。
举例来说明子像素的实施细节。请参考图3，图3是依据本发明一实施例所示出的子像素的示意图。本实施例的子像素SP4可适用于图2所示的子像素SP1～SP3中的任一个。在本实施例中，子像素SP4包括发光二极管L4、驱动电路D4以及驱动数据检测线LK。在本实施例中，驱动电路D4包括驱动晶体管TD以及扫描晶体管TS。驱动晶体管TD的第一端耦接于参考高电源OVDD。驱动晶体管TD的第二端耦接于发光二极管L4的阳极。扫描晶体管TS的第一端用以接收数据信号SD。扫描晶体管TS的第二端耦接至驱动晶体管TD的控制端。扫描晶体管TS的控制端用以接收扫描信号SS。发光二极管L4的阴极耦接于参考低电源OVSS。驱动数据检测线LK耦接于发光二极管L4的阳极。在本实施例中，驱动电路D4还包括电容器C。电容器C耦接于扫描晶体管TS的第二端以及发光二极管L4的阳极之间。本实施例的子像素SP4是以2T1C的驱动架构为例。然本发明并不以此为限。本发明的驱动架构可以是2T1C、3T1C、3T2C、4T1C、4T2C、5T1C、5T2C、6T1C、6T2C、7T1C的驱动架构或是任何可能的驱动架构。在本实施例中，驱动晶体管TD以及扫描晶体管TS分别可以是由任意形式的薄膜晶体管(Thin-Film Transistor，TFT)来实现。
在本实施例中，驱动数据检测线LK能够传输产生于发光二极管L4的阳极的驱动数据DD。因此，选择器(如图2所示的选择器110_1、110_2)可经由驱动数据检测线LK接收驱动数据DD。在选择器将驱动数据DD作为受检测信号的情况下，驱动数据DD可以被读出。由于驱动数据DD与驱动电流ID具有高相关性。因此，驱动数据DD可通过演算方式获知实际的驱动电流ID。
另举例来说明子像素的实施细节。请参考图4，图4是依据本发明另一实施例所示出的子像素的示意图。本实施例的子像素SP5可适用于图2所示的子像素SP1～SP3中的任一个。与图3的子像素SP4的驱动电路D4不同的是，子像素SP5的驱动电路D5还包括控制晶体管TC。控制晶体管TC的第一端耦接于发光二极管L5的阳极。控制晶体管TC的第二端耦接于驱动数据检测线LK。控制晶体管TC的控制端用以接收控制信号SC。驱动电路D5会反应于控制信号SC以控制发光二极管L5与驱动数据检测线LK之间的导通或断开。举例来说，驱动电路D5会反应于具有第一逻辑电平(例如是高逻辑电平)的控制信号SC以导通发光二极管L5与驱动数据检测线LK之间的连接。使得驱动数据检测线LK能够传输产生于发光二极管L5的阳极的驱动数据DD。另举例来说，驱动电路D5会反应于具有第二逻辑电平(例如是低逻辑电平)的控制信号SC以断开发光二极管L5与驱动数据检测线LK之间的连接。使得驱动数据检测线LK无法传输驱动数据DD。在本实施例中，控制晶体管TC可以是由任意形式的薄膜晶体管(Thin-Film Transistor，TFT)来实现。
接下来由多个实施例举例说明选择器的多个实施细节。首先，请参考图5A，图5A是依据本发明一实施例所示出的选择器的示意图。在本实施例中，选择器110_3包括3个第一输入端PT1_1～PT1_3、第二输入端PT2以及输出端PTO。第一输入端PT1_1用以接收数据信号SD1。第一输入端PT1_2用以接收数据信号SD2。第一输入端PT1_3用以接收数据信号SD3。数据信号SD1～SD3可以分别是对应于不同颜色(如，红色、蓝色、绿色、白色、黄色等等，本发明并不以此为限)的数据信号。第二输入端PT2耦接于多个子像素中的一特定子像素的驱动数据检测线。第二输入端PT2用以经由特定子像素的驱动数据检测线来接收驱动数据DD。驱动数据DD可以是图2的驱动数据DD1～DD3中的其中一者。选择器110_3会反应于选择信号SA将数据信号SD1～SD3以及驱动数据DD的其中一者作为受检测信号SB，并经由输出端PTO输出受检测信号SB。
请参考图5B，图5B是依据本发明一实施例所示出的选择器的示意图。在本实施例中，选择器110_4包括4个第一输入端PT1_1～PT1_4、第二输入端PT2以及输出端PTO。第一输入端PT1_1用以接收数据信号SD1。第一输入端PT1_2用以接收数据信号SD2。第一输入端PT1_3用以接收数据信号SD3。第一输入端PT1_4用以接收数据信号SD4。第二输入端PT2用以接收驱动数据DD。选择器110_4会反应于选择信号SA将数据信号SD1～SD4以及驱动数据DD的其中一者作为受检测信号SB，并经由输出端PTO输出受检测信号SB。
基于图5A、5B的启示，应能理解的是，本发明的选择器所接收到的数据信号可以是多个。
请参考图5C，图5C是依据本发明一实施例所示出的选择器的示意图。在本实施例中，选择器110_5包括3个第一输入端PT1_1～PT1_3、第二输入端PT2、第三输入端PT3以及输出端PTO。第一输入端PT1_1～PT1_3分别用以接收数据信号SD1～SD3。第二输入端PT2用以接收驱动数据DD。第三输入端PT3用以接收参考高电源OVDD。选择器110_5会反应于选择信号SA将数据信号SD1～SD3、驱动数据DD以及参考高电源OVDD的其中一者作为受检测信号SB，并经由输出端PTO输出受检测信号SB。相较于图5A、5B的实施例，本实施例的选择器110_5可被操作以输出参考高电源OVDD。因此，在本实施例中，参考高电源OVDD可以被检测。
请参考图5D，图5D是依据本发明一实施例所示出的选择器的示意图。在本实施例中，选择器110_6包括3个第一输入端PT1_1～PT1_3、第二输入端PT2、第三输入端PT3、第四输入端PT4以及输出端PTO。第一输入端PT1_1～PT1_3分别用以接收数据信号SD1～SD3。第二输入端PT2用以接收驱动数据DD。第三输入端PT3用以接收参考高电源OVDD。第四输入端PT4用以接收控制信号SC。选择器110_6会反应于选择信号SA将数据信号SD1～SD3、驱动数据DD、参考高电源OVDD以及控制信号SC的其中一者作为受检测信号SB，并经由输出端PTO输出受检测信号SB。相较于图5C的实施例，本实施例的选择器110_6可被操作以输出控制信号SC。因此，在本实施例中，控制信号SC可以被检测。
请参考图5E，图5E是依据本发明一实施例所示出的选择器的示意图。在本实施例中，选择器110_7包括3个第一输入端PT1_1～PT1_3、第二输入端PT2、第四输入端PT4以及输出端PTO。选择器110_7会反应于选择信号SA将数据信号SD1～SD3、驱动数据DD以及控制信号SC的其中一者作为受检测信号SB，并经由输出端PTO输出受检测信号SB。
请参考图6，图6是依据本发明第二实施例所示出的显示面板的示意图。相较于图2的第一实施例的显示面板100，本实施例的显示面板200还包括测试走线TL1、TL2。在本实施例中，测试走线TL1具有第一端N1_1以及第二端N2_1。测试走线TL1的第一端N1_1耦接于选择器110_1的输出端。测试走线TL1可经由选择器110_1的输出端接收受检测信号SB1，并将受检测信号SB1传输到第二端N2_1。因此，受检测信号SB1可以在第二端N2_1被读出并且被检测。
相似地，测试走线TL2具有第一端N1_2以及第二端N2_2。测试走线TL2的第一端N1_2耦接于选择器110_2的输出端。测试走线TL2可经由选择器110_2的输出端接收受检测信号SB2，并将受检测信号SB2传输到第二端N2_2。因此，受检测信号SB2可以在第二端N2_2被读出并且被检测。第二端N2_1、N2_2可以是用于测试的接触脚垫(pad)。
在本实施例中，由于测试走线TL1、TL2的总数以及选择器110_1、110_2的输出端的总数明显小于像素P1、P2所能提供的检测数据(数据信号SD1～SD3、驱动数据DD1～DD3)的数量。在进行显示面板200的分割作业时，图6所示的元件中仅有测试走线TL1、TL2被切割到。因此，在进行显示面板的分割作业时可降低金属碎屑或间隙的产生，借此降低工艺上的污染。
综上所述，本发明的显示面板的子像素包括驱动数据检测线。选择器经由接收数据信号并经由驱动数据检测线接收驱动数据。选择器能够至少接收到子像素所接收到的数据信号以及关联于实际驱动电流的驱动数据。如此一来，本发明能够提供像素所产生的实际驱动数据以及像素所接收到的实际信号。如此一来，选择器也能够将像素所产生的驱动数据以及像素所接收到的实际信号的其中之一作为受检测信号。
虽然本发明已以实施例公开如上，然其并非用以限定本发明，任何所属技术领域中技术人员，在不脱离本发明的构思和范围内，当可作些许的变动与润饰，故本发明的保护范围当视权利要求所界定者为准。

Claims (10)

1.一种显示面板，包括：
多个像素，各包括多个子像素，其中该些子像素各包括：
一发光二极管；
一驱动电路，耦接于该发光二极管的阳极、一参考高电源，经配置以依据多个数据信号的其中之一以及该参考高电源产生一驱动电流，并依据该驱动电流驱动该发光二极管；以及
一驱动数据检测线，耦接于该发光二极管的阳极，经配置以传输关联于该驱动电流的一驱动数据；以及
多个选择器，各与该些像素对应耦接，各经配置以经由该些子像素接收该些数据信号，经由该些子像素的多个驱动数据检测线的至少其中之一接收至少一驱动数据，并反应于一选择信号选择该至少一驱动数据以及该些数据信号的其中之一以作为一受检测信号。
2.如权利要求1所述的显示面板，其中该些选择器以及该些像素被设置于同一基板上。
3.如权利要求1所述的显示面板，其中：
该些选择器的各一包括多个第一输入端、一第二输入端以及一输出端，
该些第一输入端各经配置以接收该些数据信号，
该第二输入端耦接于该些子像素中的一第一子像素的一第一驱动数据检测线，经配置以接收该第一子像素的一第一驱动数据，并且
该些选择器经配置以反应于该选择信号将该第一驱动数据以及该些数据信号的其中之一作为该受检测信号，并经由该输出端输出该受检测信号。
4.如权利要求3所述的显示面板，其中：
该些选择器中的各一还包括一第三输入端，
该第三输入端经由该些子像素的其中之一接收该参考高电源，并且
该些选择器经配置以反应于该选择信号将该第一驱动数据、该些数据信号以及该参考高电源的其中之一作为该受检测信号，并经由该输出端输出该受检测信号。
5.如权利要求1所述的显示面板，其中该驱动电路包括：
一驱动晶体管，该驱动晶体管的第一端耦接于该参考高电源，该驱动晶体管的第二端耦接于该发光二极管的阳极；以及
一扫描晶体管，该扫描晶体管的第一端用以接收该些数据信号的其中之一，该扫描晶体管的第二端耦接至该驱动晶体管的控制端，该扫描晶体管的控制端用以接收一扫描信号。
6.如权利要求5所述的显示面板，其中该驱动电路包括：
一控制晶体管，该控制晶体管的第一端耦接于该发光二极管的阳极，该控制晶体管的第二端耦接于该驱动数据检测线，该控制晶体管的控制端耦接于接收一控制信号，
其中该驱动电路还反应于该控制信号以控制该发光二极管与驱动数据检测线之间的导通或断开。
7.如权利要求6所述的显示面板，其中：
该些选择器的各一包括多个第一输入端、一第二输入端、一第四输入端以及一输出端，
该些第一输入端各经配置以接收该些数据信号，
该第二输入端耦接于该些子像素中的一第一子像素的一第一驱动数据检测线，经配置以接收该第一子像素的一第一驱动数据，
该第四输入端经由该些子像素的其中之一接收该控制信号，并且
该些选择器经配置以反应于该选择信号将该第一驱动数据、该些数据信号以及该控制信号的其中之一作为该受检测信号，并经由该输出端输出该受检测信号。
8.如权利要求6所述的显示面板，其中该些选择器经配置以反应于该选择信号将该第一驱动数据、该些数据信号、该参考高电源以及该控制信号的其中之一作为该受检测信号，并经由该输出端输出该受检测信号。
9.如权利要求1所述的显示面板，其中：
该些选择器的各一包括多个第一输入端、多个第二输入端以及一输出端，
该些第一输入端各经配置以接收该些数据信号，并且
该些第二输入端分别耦接于该些驱动数据检测线，经配置以接收该些驱动数据，并且
该些选择器经配置以反应于该选择信号将该些驱动数据以及该些数据信号的其中之一作为一受检测信号，并经由该输出端输出该受检测信号。
10.如权利要求1所述的显示面板，其中：
该显示面板还包括多个测试走线，
各该些测试走线具有一第一端以及一第二端，
该些测试走线的多个第一端分别耦接于该些选择器的输出端，并且
该受检测信号经由该第二端被读出。
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