TWI739947B - 測試治具及具有所述測試治具的測試裝置 - Google Patents

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Abstract

一種測試治具包括蓋板模組、載盤模組和檢測機構，所述載盤模組設置於所述蓋板模組上，所述蓋板模組包括感應器，所述載盤模組用於固定待檢測的電子裝置，所述感應器用於感應載盤模組內是否有電子裝置，所述檢測機構包括驅動機構、檢測插頭、檢測器和轉接頭，當感應器感應到有待檢測的電子裝置時，所述驅動機構驅動檢測插頭插入轉接插口，推動轉接頭運動至所述轉接插頭插入電子裝置內，使得所述檢測器對電子裝置進行檢測。本發明還提供一種具有所述測試治具的測試裝置。

Description

測試治具及具有所述測試治具的測試裝置
本發明涉及一種測試裝置，尤其涉及一種具有自動檢測功能的測試治具及具有所述測試治具的測試裝置。
隨著社會的發展，勞動力成本越來越高，人們對生產製造效率也有更高的要求。在生產電子裝置的功能測試過程中，對於只需把整機放入載盤的純機構測試治具，如果為所述工站配備人力，當需要檢測的電子裝置數量很多時，將會是不小的人力需求。
有鑑於此，有必要提供一種能實現自動檢測的測試治具及具有所述測試治具的測試裝置。
一種測試治具，包括蓋板模組、載盤模組和檢測機構，所述載盤模組設置於所述蓋板模組上，所述蓋板模組包括感應器，所述載盤模組用於固定一待檢測的電子裝置，所述感應器用於感應所述載盤模組內是否有所述電子裝置，所述檢測機構包括驅動機構、檢測插頭、檢測器和轉接頭，所述驅動機構和所述感應器電連接，所述檢測插頭同所述驅動機構連接，所述轉接頭可滑動的設置於所述載盤模組上，所述轉接頭包括轉接插口和轉接插頭，當所述感 應器感應到有待檢測的所述電子裝置時，所述驅動機構驅動所述檢測插頭插入所述轉接插口，推動所述轉接頭運動至所述轉接插頭插入所述電子裝置內，使得所述檢測機構對所述電子裝置進行檢測。
一種測試裝置，包括所述測試治具。
本發明的測試治具及具有所述測試治具的測試裝置可對電子裝置進行自動檢測，提高了檢測效率，降低了檢測成本。
100:測試裝置
10:測試治具
30:搬運機構
50:傳送機構
11:箱體
13:蓋板模組
131:第一蓋板模組
132:第二蓋板模組
133:第三蓋板模組
15:載盤模組
16:合頁
17:檢測機構
18:感應器
19:定位柱
20:載盤托板
111:第一階梯
112:第二階梯
113:第三階梯
134:第一蓋板
135:第二蓋板
136:第三蓋板
151:載盤
152:夾緊機構
153:定位孔
154:容置槽
155:抓取槽
156:自鎖銷
1521:夾緊塊
1522:彈簧
1523:導向柱
171:檢測器
172:檢測插頭
173:轉接頭
174:驅動機構
1731:轉接插頭
1732:轉接插口
31:機械手
32:夾爪
圖1為本發明的測試裝置的結構示意圖。
圖2為本發明的測試治具的結構示意圖。
圖3為本發明的蓋板模組的結構示意圖。
圖4為本發明的載盤模組的正面結構示意圖。
圖5為本發明的載盤模組的背面結構示意圖。
圖6為本發明的載盤模組的裝入電子裝置後的結構示意圖。
請參閱圖1，所述測試裝置100包括測試治具10、搬運機構30、傳送機構50和控制器(圖未示)，所述傳送機構50將一電子裝置(圖未示)傳送至搬運機構30處，搬運機構30將所述電子裝置搬運至測試治具10內進行測試，並將測試完成後的所述電子裝置搬運至傳送機構50處，傳送機構50將測試完成的所述電子裝置傳送離開。所述電子裝置可以是手機、平板電腦等移動裝置。所述控制器同測試治具10、搬運機構30和傳送機構50電連接，控制測試治具10 對所述電子裝置進行檢測，搬運機構30對所述電子裝置進行搬運，傳送機構50對所述電子裝置進行傳送。
請一併參閱圖2、3和4，所述測試治具10包括箱體11、蓋板模組13、載盤模組15和檢測機構17，箱體11上設置有階梯，所述階梯數量可為一個或多個。本實施例中，所述階梯數量為三個。從所述箱體的頂部到底部依次為第一階梯111、第二階梯112和第三階梯113。所述第一階梯111、第二階梯112和第三階梯113相互平行。所述箱體11採用階梯式的結構，可充分利用測試治具10空間，達到測試治具10結構的最優化。所述蓋板模組13的數量同所述階梯的數量一致。
本實施例中，所述蓋板模組13的數量為三個。蓋板模組13包括第一蓋板模組131、第二蓋板模組132和第三蓋板模組133。所述第一蓋板模組131、第二蓋板模組132和第三蓋板模組133分別包括第一蓋板134、第二蓋板135和第三蓋板136。第一蓋板134、第二蓋板135和第三蓋板136分別設置在第一階梯111、第二階梯112和第三階梯113的水平面上。
每一蓋板的端部均設置有合頁16。所述第一蓋板134藉由合頁16可轉動的設置於所述第一階梯111遠離第二階梯112的一端。所述第二蓋板135藉由合頁16可轉動設置於所述第二階梯112靠近第一階梯111的一端，轉動方向同所述第一蓋板模組131的轉動方向一致。所述第三蓋板136藉由合頁16可轉動設置於所述第三階梯113遠離第二階梯112的一端。所述第三蓋板136藉由合頁16轉動的方向同所述第一蓋板模組131和第二蓋板模組132的轉動方向相反。所述第一蓋板模組131、第二蓋板模組132和第三蓋板模組133均還包括感應器18、定位柱19和載盤托板20。
所述載盤托板20大致呈L形，每一蓋板上載盤托板20數量可為一個或多個。本實施例中，所述測試治具10上的載盤托板20的數量為六個，每兩 個一組的分別設置於所述第一蓋板134、第二蓋板135和第三蓋板136上，所述六個載盤托板20相互平行。所述定位柱19和感應器18設置於所述每一載盤托板20上。每一載盤托板20上的定位柱19數量為三個，感應器18的數量為兩個。所述定位柱19對所述載盤模組15進行定位，所述感應器18對所述電子裝置進行感應。所述感應器18可為光感測器或力感測器，感應器18用於感應是否有所述電子裝置容置在載盤托板20上。
請一併參閱圖4、圖5和圖6，所述載盤模組15包括載盤151和夾緊機構152，所述載盤模組15的數量同所述載盤托板20的數量一致。所述載盤151上開有定位孔153和容置槽154，所述容置槽154的槽面的面積略大於所述電子裝置的面積，用於容置所述電子裝置。所述定位孔153對應於所述定位柱19，數量同所述定位柱19的數量一致，所述載盤151的形狀和大小同所述載盤托板20的形狀和大小相似。當載盤151放置於載盤托板20上時，藉由定位柱19和定位孔153配合，對載盤151進行定位。每一載盤模組15的夾緊機構152的數量為二，對稱設置於容置槽154的兩側，用於夾緊固定載盤151內的所述電子裝置。
所述夾緊機構152包括夾緊塊1521、彈簧1522和導向柱1523，所述導向柱1523的一端固定於載盤151上，另一端穿過夾緊塊1521，使得夾緊塊1521可沿導向柱1523運動。所述彈簧1522設置於夾緊塊1521和載盤151之間，所述彈簧1522的一端固定於載盤151的周壁上，另一端連接於夾緊塊1521。當將電子裝置放入容置槽154後，兩側的彈簧1522被壓縮，電子裝置在彈簧1522的彈力作用下被夾緊固定；當取出所述電子裝置後，彈簧1522重定，夾緊塊1521在彈簧1522的作用下回到原位。所述載盤151的外周壁上設置有抓取槽155，載盤151的頂面上設置有自鎖銷156。
請一併參閱圖3-5，所述檢測機構17包括檢測器171、檢測插頭172、轉接頭173和驅動機構174。所述檢測機構17的數量同所述載盤151的數量 一致。所述檢測器171同檢測插頭172電連接。所述轉接頭173包括轉接插頭1731和轉接插口1732，所述檢測插頭172可插入轉接頭173的轉接插口1732。所述轉接頭173的轉接插頭1731可插入電子裝置內，從而對電子裝置進行性能檢測。所述驅動機構174每兩個一組分別設置於第一蓋板134、第二蓋板135和第三蓋板136上，對應於所述每一載盤151。所述驅動機構174可為氣缸驅動機構或電機驅動機構，本實施例中，所述驅動機構174為氣缸驅動機構。所述檢測插頭172設置於每一氣缸驅動機構的活塞上，被氣缸驅動機構驅動朝所述載盤151運動。轉接頭173分別設置於所述每一載盤151上。所述轉接頭173的底部開設有導向槽(圖未示)，所述導向槽呈U形，所述自鎖銷156與導向槽配合，沿導向槽內滑動，使得轉接頭173相對載盤151滑動。
檢測機構17對電子裝置檢測時，檢測插頭172在氣缸驅動機構的驅動下插入轉接頭173的轉接插口1732，推動轉接頭173運動至轉接插頭1731插入電子裝置內，所述檢測器171對電子裝置進行檢測。此時，所述自鎖銷156運動至導向槽的端部，阻止所述轉接頭173繼續朝載盤151運動，從而對電子裝置進行保護。
所述傳送機構50設置於測試治具10的一側，所述傳送機構50可為帶傳送機構、鏈傳送機構或其他具有傳送功能的機構，本實施例中，所述傳送機構50為帶傳送機構。所述傳送機構50將未檢測的電子裝置傳送至搬運機構30處，並將檢測完成的電子裝置傳送離開。
所述搬運機構30設置於測試治具10和傳送機構50的上方，用於將未檢測的電子裝置從傳送帶上搬運至測試治具10上進行測試和將檢測完成的電子裝置從測試治具10上搬運至傳送帶上。所述搬運機構30包括機械手31和夾爪32，所述機械手31可沿X、Y、Z三個方向運動，所述夾爪32設置於機械手31的底部，藉由夾住所述載盤151上的抓取槽155來對電子裝置進行夾取。
下面進一步介紹所述測試裝置100的工作過程。
首先，將多個電子裝置分別固定於多個載盤模組15內，將載盤模組15依次放置於傳送帶上，傳送至所述機械手31處。所述機械手31帶動夾爪32機構夾取載盤模組15，接著機械手31運動至測試治具10處。夾爪32機構將載盤模組15固定於蓋板上，感應器18感應到電子裝置，從而發送感測信號至控制器。所述控制器控制氣缸驅動機構驅動檢測插頭172運動，所述檢測插頭172插入轉接頭173內，進而推動轉接頭173插入電子裝置內，所述檢測器171對電子裝置進行檢測。檢測完成後，所述夾爪32夾緊載盤模組15，放置於傳送機構50上，所述傳送機構50將電子裝置傳送至下一工位。
綜上所述，本創作符合發明專利要件，爰依法提出專利申請。惟，以上所述者僅為本創作之較佳實施例，本創作之範圍並不以上述實施例為限，舉凡熟習本案技藝之人士爰依本創作之精神所作之等效修飾或變化，皆應涵蓋於以下申請專利範圍內。
11:箱體
131:第一蓋板模組
132:第二蓋板模組
133:第三蓋板模組
17:檢測機構
111:第一階梯
112:第二階梯
113:第三階梯
134:第一蓋板
135:第二蓋板
136:第三蓋板

Claims (8)

  1. 一種測試治具，包括蓋板模組、載盤模組和檢測機構，所述載盤模組設置於所述蓋板模組上，所述蓋板模組包括感應器，所述載盤模組用於固定一待檢測的電子裝置，所述感應器用於感應所述載盤模組內是否有所述電子裝置，其改良在於：所述檢測機構包括驅動機構、檢測插頭、檢測器和轉接頭，所述驅動機構和所述感應器電連接，所述檢測插頭同所述驅動機構連接，所述轉接頭可滑動的設置於所述載盤模組上，所述轉接頭包括轉接插口和轉接插頭，當所述感應器感應到有待檢測的所述電子裝置時，所述驅動機構驅動所述檢測插頭插入所述轉接插口，推動所述轉接頭運動至所述轉接插頭插入所述電子裝置內，使得所述檢測器對所述電子裝置進行檢測；所述蓋板模組還包括蓋板、載盤托板和定位柱，所述驅動機構和所述載盤托板設置於所述蓋板上，所述感應器和所述定位柱設置於所述載盤托板上；所述載盤模組包括載盤，所述載盤上開有定位孔和容置槽，所述定位柱插入所述定位孔內，以將所述載盤固定於所述載盤托板上，所述容置槽用於容置待檢測的所述電子裝置。
  2. 如請求項1所述的測試治具，其中：所述轉接頭設置於所述載盤上，所述轉接頭的底部開設有導向槽，所述載盤上設置有自鎖銷，所述自鎖銷與所述導向槽配合沿所述導向槽運動，使得所述轉接頭相對所述載盤移動。
  3. 如請求項2所述的測試治具，其中：所述載盤模組還包括夾緊機構，所述夾緊機構的數量為二，對稱設置於所述容置槽的兩側，每一所述夾緊機構包括夾緊塊和導向柱，所述導向柱固定於所述載盤的內壁並穿過所述夾緊塊，使所述夾緊塊沿所述導向柱運動，所述彈簧連接於所述載盤的內壁和所述夾緊塊。
  4. 如請求項3所述的測試治具，其中：所述夾緊機構還包括彈簧，所述彈簧的一端設置於所述載盤的內壁，另一端設置於所述夾緊塊上，當所述電子裝置放入所述容置槽內時，所述彈簧被壓縮，所述夾緊塊在所述彈簧彈力的作用下夾緊所述電子裝置，當取出所述電子裝置時，所述夾緊塊在所述彈簧彈力的作用下回到原位。
  5. 如請求項1所述的測試治具，其中，所述測試治具還包括箱體，所述箱體設置有若干階梯，所述蓋板的數量同所述階梯的數量一致，每一所述蓋板設置於每一階梯處，相對所述箱體旋轉或固定。
  6. 一種測試裝置，包括請求項1-5任意一項所述測試治具。
  7. 如請求項6所述的測試裝置，其中，所述測試裝置還包括搬運機構，所述搬運機構包括機械手和夾爪，所述夾爪設置於所述機械手的底部，跟隨所述機械手運動，以抓取一電子裝置。
  8. 如請求項7所述的測試裝置，其中，所述測試裝置還包括傳送機構，用於將待檢測的所述電子裝置傳送至所述搬運機構處和將檢測完成的所述電子裝置傳送離開。
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