CN101231307B - 可防止电磁干扰的测试治具及其测试方法 - Google Patents
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Abstract
本发明公开一种可防止电磁干扰的测试治具及其测试方法。该可防止电磁干扰的测试治具设置于自动测试机台,该测试治具主要包含壳体、电磁屏蔽材以及测试装置,该壳体具有底板、盖板及多个侧板,该盖板具有测试孔,该侧板具有第一表面及第二表面,该侧板设置于该底板的上表面上以形成容置空间,该盖板覆盖于该容置空间上,该电磁屏蔽材至少形成于该侧板的该第二表面,该测试装置设置于该容置空间内。由于该壳体为密闭装置且在该壳体内形成有该电磁屏蔽材,故放置于该测试装置内的电子元件可受到该壳体的保护,以阻隔测试时的外来电磁干扰,且由于该测试治具设置于该自动测试机台,取代已知人工测试,具有降低生产成本及提高产能的功效。
Description
技术领域
本发明涉及一种测试治具,特别涉及一种可防止电磁干扰的测试治具。
背景技术
已知自动机台上的测试装置并非密闭装置,因此遇到R/F(RadioFrequency)产品时,为了避免电子元件受外来电磁的干扰,必须改用人工测试方法来进行测试,其造成生产成本的增加且使得产能无法提升。
发明内容
本发明的主要目的在于提供一种可防止电磁干扰的测试治具,其可设置于自动测试机台,该测试治具包含壳体、电磁屏蔽材以及测试装置,该壳体具有底板、盖板及多个侧板,该底板具有第一上表面及第一下表面,该盖板具有第二上表面、第二下表面以及贯穿该第二上表面与该第二下表面的测试孔,该侧板具有第一表面及第二表面,其设置于该底板的该第一上表面上以形成容置空间,该盖板覆盖于该容置空间上,该电磁屏蔽材至少形成于该侧板的该第二表面,该测试装置设置于该容置空间内,该测试装置具有线路载板及插座,该插座电性连接该线路载板。通过该形成有该电磁屏蔽材的该壳体的保护,可防止放置于该测试装置内的电子元件于测试时受到外来电磁的干扰且该测试治具设置于该自动测试机台,取代已知人工测试以降低生产成本及提高产能。
依本发明的一种可防止电磁干扰的测试治具主要包含壳体、电磁屏蔽材以及测试装置,该壳体具有底板、盖板及多个侧板,该底板具有第一上表面及第一下表面,该盖板具有第二上表面、第二下表面及测试孔,该测试孔贯穿该第二上表面与该第二下表面,该侧板具有第一表面及第二表面,该侧板设置于该底板的该第一上表面上以形成容置空间,该盖板覆盖于该容置空间上,该电磁屏蔽材至少形成于该侧板的该第二表面,该测试装置设置于该容置空间内,该测试装置具有线路载板及插座,该插座电性连接该线路载板,且该盖板的该测试孔显露出该插座。
附图说明
图1为本发明一具体实施例的一种可防止电磁干扰的测试治具的立体分解图。
图2为本发明一具体实施例的该可防止电磁干扰的测试治具的立体图。
图3为本发明的一具体实施例的该可防止电磁干扰的测试治具的剖面图。
附图标记说明
100可防止电磁干扰的测试治具 110框架
111容置槽 120壳体
121底板 121a第一上表面
121b第一下表面 122盖板
122a第二上表面 122b第二下表面
122c测试孔 122d凹槽
123侧板 123a第一表面
123b第二表面 123c第一开口
130电磁屏蔽材 140测试装置
141线路载板 142插座
150连接座 151第二开口
160测试压板 161压触元件
170底座 180支撑座
S容置空间
具体实施方式
请参阅第1至3图,依据本发明的一具体实施例揭示一种可防止电磁干扰的测试治具100,其包含框架110、壳体120、电磁屏蔽材130以及测试装置140,在本实施例中,该框架110设置于自动测试机台(图未绘出)上,该框架110具有容置槽111,该壳体120位于该容置槽111内,该壳体120具有底板121、盖板122及多个侧板123,该底板121具有第一上表面121a及第一下表面121b,该盖板122具有第二上表面122a、第二下表面122b及测试孔122c,该测试孔122c贯穿该第二上表面122a与该第二下表面122b,在本实施例中,该盖板122的该第二上表面122a形成有凹槽122d,该测试孔122c位于该凹槽122d内,该侧板123具有第一表面123a及第二表面123b,该侧板123设置于该底板121的该第一上表面121a上以形成容置空间S,该电磁屏蔽材130至少形成于该第二表面123b,优选地,该电磁屏蔽材130亦形成于该盖板122的该第二下表面122b及该底板121的该第一上表面121a,以使该容置空间S完全被该电磁屏蔽材130包围,该电磁屏蔽材130的材料选自于纳米材料、平面六角铁氧体、非晶磁性纤维、颗粒膜等,该电磁屏蔽材130可以喷涂、印刷涂布或铺设的方法形成,该测试装置140设置于该容置空间S内,该测试装置140具有线路载板141及插座142,该插座142电性连接该线路载板141,该插座142用以测试待测电子元件(图未绘出),在本实施例中,至少一侧板123具有第一开口123c,该第一开口123c用以设置连接器(图未绘出),此外,该测试治具100另包含有连接座150、测试压板160、底座170及支撑座180,该连接座150具有第二开口151,该第二开口151对应该侧板123的该第一开口123c以固定该连接器,该测试压板160具有压触元件161,该压触元件161可通过该测试孔122c将该待测电子元件放置于该插座142内并压触该待测电子元件,以确保该待测电子元件与该插座142电性连接,该底座170设置于该容置空间S内,该测试装置140设置于该底座170上,该底座170用以增加该测试装置140的高度,以使该压触元件161顺利将该待测电子元件放置于该插座142内并压触至该待测电子元件,该支撑座180设置于该测试装置140与该底座170之间,该支撑座180用以保护该测试装置140的该线路载板141上的线路且分散该测试压板160下压时所产生的应力。本发明的该测试治具100的该壳体120为密闭装置且形成有该电磁屏蔽材130,故放置于该测试装置140内的电子元件可受到该壳体120的保护,以阻隔测试时的外来电磁干扰,再者,由于该测试治具100设置于该自动测试机台,因此可自动进行测试,具有降低生产成本及提高产能的功效。
本发明的测试方法首先为提供自动测试机台(图未绘出),该自动测试机台设置有一种可防止电磁干扰的测试治具100,该可防止电磁干扰的测试治具100包含有框架110、壳体120、电磁屏蔽材130、测试装置140、连接座150及测试压板160,该壳体120设置于该框架110的容置槽111内,该壳体120具有底板121、盖板122及多个侧板123,其余元件的细部特征如上所述,在此不多作赘述,接着,放置待测电子元件(图未绘出)于该测试装置140的插座142内,在本实施例中,该测试压板160的压触元件161通过该盖板122的测试孔122c将该待测电子元件放置于该插座142内并压触该待测电子元件,以确保该待测电子元件与该插座142电性连接,其中至少一侧板123具有第一开口123c,该第一开口123c用以设置连接器(图未绘出),该连接座150具有第二开口151,该第二开口151对应该侧板123的该第一开口123c以固定该连接器,最后,通过该连接器与该自动测试机台连接以自动进行测试。
本发明的保护范围当视后附的权利要求所界定的为准,本领域技术人员在不脱离本发明的精神和范围内所作的任何变化与修改,均属于本发明的保护范围。
Claims (11)
1.一种可防止电磁干扰的测试治具,其至少包含:
壳体,其具有底板、盖板及多个侧板,该底板具有第一上表面及第一下表面,该盖板具有第二上表面、第二下表面及测试孔,该测试孔贯穿该第二上表面与该第二下表面,该侧板具有第一表面及第二表面,该侧板设置于该底板的该第一上表面上以形成容置空间,该盖板覆盖于该容置空间上;
电磁屏蔽材,其至少形成于该侧板的该第二表面;以及
测试装置,其设置于该容置空间内,该测试装置具有线路载板及插座,该插座电性连接该线路载板,且该盖板的该测试孔显露出该插座;
至少一侧板具有第一开口,该第一开口用以设置连接器;
所述测试治具还包含有连接座,该连接座具有第二开口,该第二开口对应该侧板的该第一开口并用以固定该连接器。
2.如权利要求1所述的可防止电磁干扰的测试治具,其另包含有框架,该框架具有容置槽,该壳体位于该容置槽内。
3.如权利要求1所述的可防止电磁干扰的测试治具,其另包含有测试压板,该测试压板具有压触元件,该压触元件可通过该测试孔。
4.如权利要求1所述的可防止电磁干扰的测试治具,其另包含有底座,该底座设置于该容置空间内,该测试装置设置于该底座上。
5.如权利要求4所述的可防止电磁干扰的测试治具,其另包含有支撑座,该支撑座设置于该测试装置与该底座之间。
6.如权利要求1所述的可防止电磁干扰的测试治具,其中该电磁屏蔽材形成于该盖板的该第二下表面及该底板的该第一上表面。
7.一种可防止电磁干扰的测试方法,其包含下列步骤:
提供自动测试机台,该自动测试机台设置有可防止电磁干扰的测试治具,该可防止电磁干扰的测试治具包含:
壳体,其具有底板、盖板及多个侧板,该底板具有第一上表面及第一下表面,该盖板具有第二上表面、第二下表面及测试孔,该测试孔贯穿该第二上表面与该第二下表面,该侧板具有第一表面及第二表面,该侧板设置于该底板的该第一上表面上以形成容置空间,该盖板覆盖于该容置空间上;
电磁屏蔽材,其至少形成于该侧板的该第二表面;以及
测试装置,其设置于该容置空间内,该测试装置具有线路载板及插座,该插座电性连接该线路载板,且该盖板的该测试孔显露出该插座;以及
将待测电子元件放置于该测试装置的该插座内,以进行测试;
至少一侧板具有第一开口,该第一开口用以设置连接器;
所述测试方法还包含有连接座,该连接座具有第二开口,该第二开口对应该第一开口并用以固定该连接器。
8.如权利要求7所述的可防止电磁干扰的测试方法,其另包含有框架,该框架具有容置槽,该壳体位于该容置槽内。
9.如权利要求7所述的可防止电磁干扰的测试方法,其另包含有测试压板,该测试压板具有压触元件,该压触元件通过该测试孔。
10.如权利要求7所述的可防止电磁干扰的测试方法,其中该电磁屏蔽材形成于该盖板的该第二下表面及该底板的该第一上表面。
11.如权利要求7所述的可防止电磁干扰的测试方法,其另包含有:利用测试压板通过该测试孔以压触该待测电子元件。
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