TWI734820B - 觸碰輸入裝置 - Google Patents

Abstract

[課題]本發明，係使觸碰輸入裝置之檢測感度提升。 　　[構成]觸碰輸入裝置（T），係具備有在第1高度位置處而於X-X’方向上空出有間隔地而被作了配置的第1電極（100a）、和在第2高度位置處而於Y-Y’方向上空出有間隔地而被作了配置的第2電極（100b）、以及在第2高度位置處而各別被配置在第2電極（100b）之間之接地電極（200b）。在各第2電極（100b）處，廣寬幅部（110b）係在X-X’方向上空出有間隔地而被作配置，窄寬幅部（120b）係將相鄰之廣寬幅部（110b）間各別作連接並且各別與第1電極（100a）之第1重疊部（111a）相重疊。在各接地電極（200b）處，第1部（210b），係在相鄰之第2電極（100b）之廣寬幅部（110b）之間，各別具備有間隙地而被作配置，第2部（220b），係在相鄰之第2電極（100b）之窄寬幅部（120b）之間，各別具備有間隙地而被作配置，並且各別與第1電極（100a）之第2重疊部（112a）相重疊。

Description

觸碰輸入裝置

[0001] 本發明，係有關於觸碰輸入裝置。

[0002] 在專利文獻1中，係記載有先前技術之靜電電容型之觸碰輸入裝置。此觸碰輸入裝置，係具備有在第1高度位置處而空出有間隔地被作了配置的複數之第1電極、和在第2高度位置處而以與第1電極相交叉的方式而空出有間隔地被作了配置的複數之第2電極。第1高度位置和第2高度位置，係為相異之高度位置。 [先前技術文獻] [專利文獻] 　　[0003] [專利文獻1] US2008/0309633號公報

[發明所欲解決之課題] 　　[0004] 第1電極和第2電極，係在相互交叉的場所處而被作靜電耦合。若是手指或觸控筆等之檢測對象接近各交叉場所，則各交叉場所之靜電電容係會改變。因應於此靜電電容之變化，該交叉場所之第2電極之輸出訊號係會改變。在第2電極處，係被電性連接有檢測IC。檢測IC，係將第2電極之輸出訊號放大，並判斷該輸出訊號之值是否超過臨限值。 　　[0005] 若是為了使觸碰輸入裝置之檢測感度提昇而藉由檢測IC來將第2電極之輸出訊號作大幅度的放大，則會超過檢測IC之上限值。 　　[0006] 本發明，係為有鑑於上述事態而創作者，其目的，係在於提供一種能夠使檢測感度提昇之觸碰輸入裝置。 [用以解決課題之手段] 　　[0007] 為了解決上述課題，本發明之其中一個態樣之觸碰輸入裝置，係具備有複數之第1電極、和複數之第2電極、以及複數之接地電極。複數之第1電極，係在第1高度位置處而空出有間隔地被作了配置。第1電極，係各別具備有複數之第1重疊部、和複數之第2重疊部。第2電極，係在第2高度位置處以與第1電極相交叉的方式而在第2方向上空出有間隔地被作了配置。第2高度位置，係為與第1高度位置相異之高度位置，第2方向係與第1方向相交叉。第2電極，係各別具備有複數之廣寬幅部、和具有較廣寬幅部之第2方向之尺寸而更小的第2方向之尺寸之複數之窄寬幅部。在第2電極之各者處，廣寬幅部，係在第2高度位置處而於第1方向上空出有間隔地而被作配置，並且包含有複數組之在第1方向上而相鄰之廣寬幅部，窄寬幅部，係將在第2高度位置處而相鄰之廣寬幅部間各別作連接並且各別與第1電極之第1重疊部相重疊。第2電極，係包含有複數組之在第2方向上而相鄰之第2電極。接地電極，係各別在第2高度位置處以與第1電極相交叉的方式而被配置在第2電極之間。接地電極，係各別具備有複數之第1部以及複數之第2部。在各接地電極處，第1部，係於在第2高度位置處而相鄰之第2電極之廣寬幅部之間，各別具備有些許之間隙地而被作配置，第2部，係於在第2高度位置處而相鄰之第2電極之窄寬幅部之間，各別具備有些許之間隙地而被作配置，並且各別與第1電極之第2重疊部相重疊。 　　[0008] 此種態樣之觸碰輸入裝置，係能夠使檢測感度提升。其理由係如下所述。1）由於第2電極之窄寬幅部係各別與第1電極之第1重疊部相重疊，因此兩者之重疊面積係為小。藉由此1）之構成，由於係能夠將相交叉之第1電極和第2電極之間的各別之靜電電容值縮小，因此就算是第1、第2電極之一方的電極之輸出訊號被輸入至檢測部處並且藉由檢測部而被作了放大，也能夠將被作了放大的訊號超過檢測部之上限值的可能性降低。故而，由於係成為能夠將一方之電極的輸出訊號作大幅度的放大，因此，係成為能夠使本觸碰輸入裝置之檢測感度提昇。 　　[0009] 係可設為下述之構成：亦即是，在各接地電極處，第1部，係包含有複數組之在第1方向上而相鄰之第1部，第2部，係將相鄰之第1部間各別作了連接。接地電極，係亦可成為被作接地連接。在由此種態樣之觸碰輸入裝置所致的情況中，由於2）接地電極之第2部係在相鄰之第2電極之窄寬幅部之間而各別與第1電極之第2重疊部相重疊，因此，藉由接地電極之第2部，係能夠將從第1電極之第2重疊部和第2電極之窄寬幅部的其中一者所產生之電力線作吸收。藉由此，係亦能夠將相交叉之第1電極與第2電極之間之各別的靜電電容值縮小。 　　[0010] 上述之任一者之態樣的觸碰輸入裝置，係可設為下述之構成：亦即是，係更進而具備有周邊接地電極。係可構成為：周邊接地電極，係被配置在第2電極以及接地電極之周圍，並且被與接地電極作了連接。在由此種態樣之觸碰輸入裝置所致的情況時，係能夠經由周邊接地電極來將接地電極容易地作接地連接。 　　[0011] 係可設為下述之構成：亦即是，第1電極，係各別具備有電極本體、和複數之第1枝部。係可設為下述之構成：亦即是，電極本體，係具備有第1重疊部以及第2重疊部，並且係在第1高度位置處而朝向第2方向作了延伸。係可設為下述之構成：亦即是，第1枝部，係各別在第1高度位置處從電極本體之第1重疊部起而以會與該第1重疊部之鄰旁之第2電極之一部分作重疊的方式來作了延伸。 　　[0012] 起因於上述1）或者是上述1）以及2），係會有第1電極與第2電極之間之靜電電容值變得過小的情形。在由前述之態樣之觸碰輸入裝置所致的情況時，由於第1枝部係各別與第2電極之一部分相重疊，因此，相交叉之第1電極與第2電極之間的各別之重疊面積係變大，而能夠將該第1電極與第2電極之間之各別的靜電電容值增大。故而，係成為能夠藉由第1枝部，來將相交叉之第1電極與第2電極之間之各別的靜電電容值設定為所期望之值。 　　[0013] 係可設為下述之構成：亦即是，第1電極，係代替複數之第1枝部而具備有複數之第2枝部，或者是係更進而具備有複數之第2枝部。係可設為下述之構成：亦即是，第2枝部，係各別在第1高度位置處，從電極本體之第2重疊部起而以會各別位置在於該第2重疊部之鄰旁而在第2方向上相鄰之廣寬幅部之間的方式來作了延伸。 　　[0014] 在由此種態樣之觸碰輸入裝置所致的情況時，由於第2枝部係各別位置在相鄰之廣寬幅部之間，因此第2枝部係成為能夠各別與廣寬幅部作靜電耦合。故而，係能夠使第2枝部附近之檢測感度提昇。 　　[0015] 係可設為下述之構成：亦即是，接地電極之第2部之第1方向的尺寸，係設為較第1電極之第1方向的尺寸而更大。在由此種態樣之觸碰輸入裝置所致的情況時，具備有上述尺寸之接地電極之第2部，由於係各別與第1電極之第2重疊部相重疊，因此，從接地電極側而來之對於第1電極之電磁性的干擾係被降低。 　　[0016] 第1電極之第2枝部，係亦可各別與接地電極之第1部相重疊。於此情況，接地電極之第1部之第2方向的尺寸，係亦可設為較第1電極之第2枝部之第2方向的尺寸而更大。在由此種態樣之觸碰輸入裝置所致的情況時，具備有上述尺寸之接地電極之第1部，由於係各別與第1電極之第2枝部相重疊，因此，從接地電極側而來之對於第1電極之電磁性的干擾係被降低。 　　[0017] 係可設為下述之構成：亦即是，第1電極，係包含有複數組之在第1方向上而相鄰之第1電極。上述之任一者之態樣的觸碰輸入裝置，係可設為下述之構成：亦即是，係更進而具備有複數之假電極。係可設為下述之構成：亦即是，假電極，係在第1高度位置處，於相鄰之第1電極之間具備有間隙地而被作配置。在由此種態樣之觸碰輸入裝置所致的情況時，由於假電極係與第2電極作部分性的重疊，因此，從假電極側而來之對於第2電極之電磁性的干擾係被降低。 　　[0018] 相交叉之第1電極以及第2電極之各別的靜電電容值，係可設為0.1pF～5pF。

[0020] 以下，參考圖1A～圖3，針對包含本發明之實施例1的複數之實施例之靜電電容型觸碰輸入裝置T（以下，亦單純稱作觸碰輸入裝置T）作說明。另外，在圖1A～圖2B中，係對於實施例1之觸碰輸入裝置T作展示。在圖3中，係對於實施例1之觸碰輸入裝置T的設計變形例作展示。另外，在圖1A以及圖2A～圖2B中，係針對身為觸碰輸入裝置T之第1電極100a之配列方向並且相當於申請專利範圍中之第1方向的X-X’方向作展示。X-X’方向中之X方向，係相當於第1方向之一方，X’方向係相當於第1方向之另一方。在圖1A～圖2B中，係針對身為觸碰輸入裝置T之第2電極100b之配列方向並且相當於申請專利範圍中之第2方向的Y-Y’方向作展示。Y-Y’方向，係與X-X’方向相交叉，或者是如同圖1A～圖2B中所示一般地而相正交。在圖1B以及圖1C中，係針對身為觸碰輸入裝置T之厚度方向的Z-Z’方向作展示。Z-Z’方向，係與X-X’方向以及Y-Y’方向相正交。 　　[0021] 觸碰輸入裝置T，係可配置在畫像顯示裝置D之Z方向側（光之照射側）處。觸碰輸入裝置T，係具備有複數之第1電極100a、和複數之第2電極100b、以及複數之接地電極200b。第1電極100a以及第2電極100b之一方係為驅動電極（Rx電極），另一方係為檢測電極（Tx電極）。在圖1A～圖3中，第1電極100a係為檢測電極（Rx電極），第2電極100b係為驅動電極（Tx電極）。另外，在圖1A～圖2B中，雖係對於第1電極100a、第2電極100b以及接地電極200b附加有點狀圖案以成為易於作區別，但是，請注意到，實際上，係並未對於第1電極100a、第2電極100b以及接地電極200b附加有點狀圖案。 　　[0022] 第1電極100a、第2電極100b以及接地電極200b，係為透明導電膜或導體。前述透明導電膜，例如，係可藉由ITO（氧化銦＋氧化錫）、CNT（碳奈米管）、IZO（氧化銦＋氧化鋅）、AZO（摻雜有AI之氧化鋅）或者是導電性高分子（PEDOT或PSS）等來構成。前述導體，例如，係可設為感光性銀、銀奈米墨水、銀奈米線、蒸鍍銅、壓延銅或銅奈米墨水等。 　　[0023] 第1電極100a，係在第1高度位置處而於X-X’方向上空出有間隔地被作了配置。第1電極100a，係包含有複數組之在X-X’方向上而相鄰之第1電極100a。第2電極100b，係在第2高度位置處以與第1電極100a相交叉的方式而在Y-Y’方向上空出有間隔地被作配置。第2電極100b，係包含有複數組之在Y-Y’方向上而相鄰之第2電極100b。接地電極200b，係在第2高度位置處以與第1電極100a相交叉的方式而在第2電極100b之間各別具備有些許之間隙地而被作配置。第1高度位置和第2高度位置，係可設為在Z-Z’方向上而互為相異之高度位置。在圖1B～圖1C中，第1高度位置雖係相較於第2高度位置而位置在更靠Z方向側，但是，係並不被限定於此。 　　[0024] 為了實現第1電極100a、第2電極100b以及接地電極200b之上述配置，觸碰輸入裝置T，係可採用以下之1）～3）之任一者的構成。 　　[0025] 1）觸碰輸入裝置T，係可如同圖1B～圖1C中所示一般，設為更進而具備有第1基材300a以及第2基材300b之構成。第1基材300a以及第2基材300b，係為玻璃基板或樹脂薄膜。第1基材300a以及第2基材300b，係具備有能夠通過第1基材300a以及第2基材300b而對於畫像顯示裝置D之顯示作視覺辨認的程度之透明性。第1基材300a以及第2基材300b，係可為部分性透明，亦可為全體性透明。第1電極100a，係如同圖2A中所示一般，在第1基材300a之第1面上，於X-X’方向上空出有間隔地而被作配置。第2電極100b，係如同圖2B中所示一般，在第2基材300b之第1面上，於Y-Y’方向上空出有間隔地而被作配置。接地電極200b，係在第2基材300b之第1面上，於第2電極100b之間具備有些許之間隙地而被作配置。第1基材300a之第2面和第2基材300b之第1面，係藉由黏著層700而被作貼合。藉由此，第1電極100a和第2電極100b以及接地電極200b係相交叉。於此情況，第1基材300a之第1面的平面位置，係位置在第1高度位置上，第2基材300b之第1面之平面位置，係位置在第2高度位置上。另外，在第1基材300a之第1面上，係亦能夠以覆蓋第1電極100a的方式而藉由其他之黏著層700來貼附有覆蓋面板P。 　　[0026] 2）觸碰輸入裝置T，係可設為更進而具備有第1基材300a之構成。第1基材300a以及第1電極100a，係如同上述1）中所述一般。第2電極100b，係以與第1電極100a相交叉的方式，而在第1基材300a之第2面上，於Y-Y’方向上空出有間隔地而被作配置。接地電極200b，係以與第1電極100a相交叉的方式，而在第1基材300a之第2面上，於第2電極100b之間具備有些許之間隙地而被作配置。於此情況，第1基材300a之第1面的平面位置，係位置在第1高度位置上，第1基材300a之第2面之平面位置，係位置在第2高度位置上。另外，在第1基材300a之第1面上，係亦能夠以覆蓋第1電極100a的方式而藉由其他之黏著層700來貼附有覆蓋面板P。 　　[0027] 3）觸碰輸入裝置T，係可設為更進而具備有第2基材300b以及未圖示之絕緣層之構成。第2基材300b、第2電極100b以及接地電極200b，係如同上述1）中所述一般。絕緣層，係以覆蓋第2電極100b以及接地電極200b的方式而被設置在第2基材300b之第1面上。第1電極100a，係以與第2電極100b以及接地電極200b相交叉的方式，而在絕緣層之Z方向之面上，於X-X’方向上空出有間隔地而被作配置。於此情況，絕緣層之Z方向之面的平面位置，係位置在第1高度位置上，第2基材300b之第1面之平面位置，係位置在第2高度位置上。另外，在第2基材300b之第1面上，係亦能夠以覆蓋第1電極100a、第2電極100b、接地電極200b以及絕緣層的方式而藉由其他之黏著層700來貼附有覆蓋面板P。另外，上述之覆蓋面板P係亦可作省略。 　　[0028] 第1電極100a，係各別具備有在Y-Y’方向上作了延伸的電極本體110a。電極本體110a，係可設為帶狀。電極本體110a，係各別具備有複數之第1重疊部111a、和位置在第1重疊部111a之間的複數之第2重疊部112a。 　　[0029] 第2電極100b，係各別具備有複數之廣寬幅部110b、和具有較此廣寬幅部110b之Y-Y’方向之尺寸而更小的Y-Y’方向之尺寸之複數之窄寬幅部120b。廣寬幅部110b之外形係為任意，但是，例如，係可設為多角形（在圖1A～圖3中，係為矩形）或者是圓形。在第2電極100b之各者處，廣寬幅部110b，係在第2高度位置處各別於X-X’方向上空出有間隔地而被作配置，並且包含有複數組之在X-X’方向上而相鄰之廣寬幅部110b。此廣寬幅部110b，係各別在Z-Z’方向上而並不與電極本體110a相重疊。 　　[0030] 在各第2電極100b處，窄寬幅部120b，係在第2高度位置上而將相鄰之廣寬幅部110b間各別作連接，並且在Z-Z’方向上而各別與第1電極100a之電極本體110a之第1重疊部111a相重疊。藉由使窄寬幅部120b各別與第1重疊部111a相重疊，兩者係各別成為能夠進行靜電耦合，但是，由於第1重疊部111a與窄寬幅部120b之間的各別之重疊面積係變小，因此，相交叉之第1電極100a與第2電極100b之間之各別的靜電電容值係變小。窄寬幅部120b之X-X’方向的尺寸，係可設為較第1電極100a之電極本體110a之X-X’方向的尺寸而更大。例如，窄寬幅部120b之X-X’方向的尺寸，係可設為較電極本體110a之X-X’方向的尺寸而更增大30μm以上。 　　[0031] 又，係可構成為：在第2電極100b之各者處，廣寬幅部110b，係包含複數之第1廣寬幅部111b、和複數之第2廣寬幅部112b，第1廣寬幅部111b以及第2廣寬幅部112b，係在第2高度位置處而於X-X’方向上空出有間隔地被作交互配置，並且在Y-Y’方向上被作交錯配置。更具體而言，係如同下述一般。第1廣寬幅部111b，係各別具備有Y方向側之第1區域、和Y’方向側之第2區域，第2廣寬幅部112b，係各別具備有Y’方向側之第1區域、和Y方向側之第2區域。若是構成為：在各第2電極100b之各者處，第1廣寬幅部111b之第2區域和第2廣寬幅部112b之第2區域，係於X-X’方向上而相重疊，並且，窄寬幅部120b，係在第2高度位置處，將第1廣寬幅部110b之第2區域和第2廣寬幅部112b之第2區域之間各別作連接，則為理想。上述相鄰之第2電極100b，係亦可各別包含有一方之第2電極100b以及另一方之第2電極100b。亦可構成為：一方之第2電極100b之第1廣寬幅部111b之第1區域和另一方之第2電極100b之第2廣寬幅部112b之第1區域，係在X-X’方向上而相互重疊。另外，係可構成為：廣寬幅部110b，係並不包含第1廣寬幅部111b以及第2廣寬幅部112b。亦即是，係亦可構成為：在第2電極100b之各者處，廣寬幅部110b，係於X-X’方向上以直線狀來空出有間隔地而並排為一列。 　　[0032] 在上述相鄰之第2電極100b之間，係各別被設置有複數之第1空白區域α1以及複數之第2空白區域α2。第1空白區域α1，係藉由上述相鄰之第2電極100b之廣寬幅部110b（在Y-Y’方向上而相鄰之2個的廣寬幅部110b）而各別被作區劃。第2空白區域α2，係如同下述i）或ii）一般地被作區劃，並被配置在第1電極100a之電極本體110a之第2重疊部112a的Z’方向側處。i）第2空白區域α2，係藉由上述相鄰之第2電極100b之窄寬幅部120b（在Y-Y’方向上而相鄰之2個的窄寬幅部120b）而各別被作區劃。ii）第2空白區域α2，係藉由前述2個的窄寬幅部120b、和X方向側之2個的廣寬幅部110b、以及X’方向側之2個的廣寬幅部110b，而各別被作區劃。X方向側之2個的廣寬幅部110b，係相對於前述2個的窄寬幅部120b而各別位置在X方向側處，X’方向側之2個的廣寬幅部110b，係相對於前述2個的窄寬幅部120b而各別位置在X’方向側處。以下，亦將X方向側之2個的廣寬幅部110b以及X’方向側之2個的廣寬幅部110b，總稱為4個的廣寬幅部110b。 　　[0033] 各第2空白區域α2周圍之4個的廣寬幅部110b，係各別具備有被與窄寬幅部120b作連接之中間部、和較中間部而更靠Y方向側之第1端部、以及較中間部而更靠Y’方向側之第2端部。若是構成為：4個的廣寬幅部110b中之X方向側之2個的廣寬幅部110b，係包含Y方向側之廣寬幅部110b和Y’方向側之廣寬幅部110b，Y方向側之廣寬幅部110b之第2端部以及Y’方向側之廣寬幅部110b之第1端部，係在所對應之第2空白區域α2之Z方向側的第1電極100a之第2重畳部112a之X方向側之鄰旁，而沿著該第2重疊部112a來各別朝向Y-Y’方向延伸，則為理想。於此情況，Y方向側之廣寬幅部110b之第2端部以及Y’方向側之廣寬幅部110b之第1端部，係成為能夠與所對應之第2重疊部112a作靜電耦合。若是構成為：4個的廣寬幅部110b中之X’方向側之2個的廣寬幅部110b，係包含Y方向側之廣寬幅部110b和Y’方向側之廣寬幅部110b，Y方向側之廣寬幅部110b之第2端部以及Y’方向側之廣寬幅部110b之第1端部，係在所對應之第2空白區域α2之Z方向側的第1電極100a之第2重畳部112a之X’方向側之鄰旁，而沿著該第2重疊部112a來各別朝向Y-Y’方向延伸，則為理想。於此情況，Y方向側之廣寬幅部110b之第2端部以及Y’方向側之廣寬幅部110b之第1端部，係成為能夠與所對應之第2重疊部112a作靜電耦合。 　　[0034] 接地電極200b，係各別具備有複數之第1部210b以及複數之第2部220b。在各接地電極200b處，第1部210b，係在第2高度位置處而各別被配置在第1空白區域α1中，第2部220b，係在第2高度位置處而各別被配置在第2空白區域α2中並且各別與第1電極100a之電極本體110a之第2重疊部112a相重疊。第1部210b，係相對於第1空白區域α1之Y方向之廣寬幅部110b以及第1空白區域α1之Y’方向之廣寬幅部110b，各別具備有些許之間隙地而被作配置。 　　[0035] 當第2空白區域α2為i）之構成的情況時，第2部220b，係相對於上述2個的窄寬幅部120b而各別具備有些許之間隙地而被作配置。當第2空白區域α2為下述ii）之構成的情況時，第2部220b，係相對於上述2個的窄寬幅部120b以及上述4個的廣寬幅部110b而各別具備有些許之間隙地而被作配置。 　　[0036] 係可設為下述之構成：亦即是，在各接地電極200b處，第1部210b，係包含有複數組之在X-X’方向上而相鄰之第1部210b，並且，第2部220b，係將相鄰之第1部210b間各別作連接。於此情況，接地電極200b若是各別被作接地連接，則為理想，但是，係並不被限定於此。亦即是，接地電極200b係亦可作電性浮動。 　　[0037] 當接地電極200b為被作接地連接，第2部220b係在第2空白區域α2中對於上述2個的窄寬幅部120b而各別具備有些許之間隙地被作配置，並且第2部220b係各別與第2重疊部112a相重疊的情況時，第2部220b，係能夠將從第2重疊部112a和上述2個的窄寬幅部120b之其中一者所產生之電力線分別作吸收。或者是，當接地電極200b為被作接地連接，第2部220b係在第2空白區域α2中對於上述2個的窄寬幅部120b以及上述4個的廣寬幅部110b而各別具備有些許之間隙地被作配置，並且第2部220b係各別與第2重疊部112a相重疊的情況時，第2部220b，係能夠將從第2重疊部112a和上述2個的窄寬幅部120b以及上述4個的廣寬幅部110b之其中一者所產生之電力線分別作吸收。不論是在何者的情況時，均同樣的，相交叉之第1電極100a與第2電極100b之間之各別的靜電電容值係會變小。 　　[0038] 第1部210b和相鄰之第2電極100b之廣寬幅部110b之間的間隙，若是設為10μm～100μm，則為理想，但是，係並不被限定於此。若是第2部220b和上述2個的窄寬幅部120b之間的各間隙，係設為10μm～100μm，第2部220b和上述4個的廣寬幅部110b之間的各間隙，係設為10μm～100μm，則為理想，但是，係並不被限定於此。 　　[0039] 第2電極100b以及接地電極200b所被作配置的第2高度位置之第2電極區域之面積之中，第2電極100b以及接地電極200b所佔據的面積，若是設為90％～99％，則為理想。換言之，第2高度位置之第2電極區域之面積之中，第2電極100b和接地電極200b之間之上述間隙所佔據之面積，若是設為10％～1％，則為理想。另外，第2電極區域，係可設為藉由Y方向之最靠端部的第2電極100b和Y’方向之最靠端部的第2電極100b和第2電極100b之X方向之端以及第2電極100b之X’方向之端來作區劃，但是，此係僅為其中一例，第2電極區域係可任意作區劃。 　　[0040] 第1部210b，係亦可如同圖1A以及圖2B中所示一般，在廣寬幅部110b之間而於X-X’方向上各別作延伸。第2部220b，係亦可在窄寬幅部120b之間而於Y-Y’方向上各別作延伸。換言之，係亦可沿著第1電極100a之電極本體110a之第2重疊部112a而各別作延伸。又，第2部220b之Y-Y’方向之尺寸，若是較第1部210b之Y-Y’方向之尺寸而更大，則為理想，但是，係並不被限定於此。第2部220b之X-X’方向的尺寸，係可設為較第1電極100a之電極本體110a之X-X’方向的尺寸而更大。例如，第2部220b之X-X’方向的尺寸，係可設為較電極本體110a之X-X’方向的尺寸而更增大30μm以上。 　　[0041] 係可設為下述之構成：亦即是，第1電極100a，係各別更進而具備有複數之第1枝部120a以及複數之第2枝部130a的至少其中一者。第1枝部120a，係在第1高度位置處，從電極本體110a之第1重疊部111a之X方向之端以及X’方向之端的至少其中一者起而各別朝向X-X’方向作延伸。以下，為了方便說明，係將從第1重疊部111a之X方向之端起而作了延伸的X方向上之第1枝部120a，稱作X方向側之第1枝部120a，並將從第1重疊部111a之X’方向之端起而朝向X’方向作了延伸的第1枝部120a，稱作X’方向側之第1枝部120a。 　　[0042] X方向側之第1枝部120a，係各別在Z-Z’方向上而與所對應的第1重疊部111a之X方向之鄰旁的第2電極100b之一部分相重疊。此第2電極100b之一部分，係為所對應之第1重疊部111a所重疊之窄寬幅部120b的較第1重疊部111a而更靠X方向之部分、或者是如同圖1A中所示一般之該窄寬幅部120b之較第1重疊部111a而更靠X方向之部分以及被與此作了連接的X方向側之廣寬幅部110b。X’方向側之第1枝部120a，係各別在Z-Z’方向上而與所對應的第1重疊部111a之X’方向之鄰旁的第2電極100b之一部分相重疊。此第2電極100b之一部分，係為所對應之第1重疊部111a所重疊之窄寬幅部120b的較第1重疊部111a而更靠X’方向之部分、或者是如同圖1A中所示一般之該窄寬幅部120b之較第1重疊部111a而更靠X’方向之部分以及被與此作了連接的X’方向側之廣寬幅部110b。 　　[0043] 若是將第1枝部120a之各別的長度（在圖1A以及圖2A中，係為X-X’方向之尺寸）及／或寬幅（在圖1A以及圖2A中，係為Y-Y’方向之尺寸）增大，則和第1電極100a及與此相交叉之第2電極100b之間之各別的重疊面積係變大，因應於此，和第1電極100a及與此相交叉之第2電極100b之間之各別的靜電電容值係變大。另一方面，若是將第1枝部120a之各別的長度及／或寬幅縮小，則和第1電極100a及與此相交叉之第2電極100b之間之各別的重疊面積係變小，因應於此，和第1電極100a及與此相交叉之第2電極100b之間之各別的靜電電容值係變小。藉由對於第1枝部120a之各別的長度及／或寬幅進行調整、設定，係能夠對於與所交叉的第1電極100a以及第2電極100b之間之各別的靜電電容值作調整，並設定為所期望之值（例如，0.1pF～5pF）。 　　[0044] 第2枝部130a，係在第1高度位置處，從電極本體110a之第2重疊部112a之X方向之端以及X’方向之端的至少其中一者起而各別朝向X-X’方向作延伸。以下，為了方便說明，係將從第2重疊部112a之X方向之端起而朝向X方向作了延伸的第2枝部130a，稱作X方向側之第2枝部130a，並將從第2重疊部112a之X’方向之端起而朝向X’方向作了延伸的第2枝部130a，稱作X’方向側之第2枝部130a。 　　[0045] X方向側之第2枝部130a，係位置在廣寬幅部110b中之相對於該第2枝部130a所被作了連接的電極本體110a而位置在X方向側之鄰旁並且在Y-Y’方向上而相鄰之2個的廣寬幅部110b之間。X’方向側之第2枝部130a，係位置在廣寬幅部110b中之相對於該第2枝部130a所被作了連接的電極本體110a而位置在X’方向側之鄰旁並且在Y-Y’方向上而相鄰之2個的廣寬幅部110b之間。不論是何者之第2枝部130a，均係與所對應之2個的廣寬幅部110b之間之接地電極200b的第1部210b相重疊。 　　[0046] 第2枝部130a，由於係各別位置在所對應之2個的廣寬幅部110b之間，因此第2枝部130a係成為能夠各別與所對應之廣寬幅部110b作靜電耦合。若是將第2枝部130a之各別的長度（在圖1A以及圖2B中，係為X-X’方向之尺寸）及／或寬幅（在圖1A以及圖2B中，係為Y-Y’方向之尺寸）增大，則和與第2枝部130a相對應之2個的廣寬幅部110b之間之距離係變近，其之靜電耦合係變強。若是將第2枝部130a之各別的長度及／或寬幅縮小，則和與第2枝部130a相對應之2個的廣寬幅部110b之間之距離係變遠，其之靜電耦合係變弱。如此這般，藉由對於第2枝部130a之各別的長度及／或寬幅作調整、設定，係能夠使第2枝部130a附近之檢測感度提昇。另外，上述之第1枝部120a及／或第2枝部130a，係可作省略。 　　[0047] 在第1電極100a各別具備有第2枝部130a的情況時，接地電極200b之第1部210b之Y-Y’方向的尺寸，係可設為較第2枝部130a之Y-Y’方向的尺寸而更大。例如，第1部210b之Y-Y’方向的尺寸，係可設為較第2枝部130a之Y-Y’方向的尺寸而更增大30μm以上。 　　[0048] 係可構成為：觸碰輸入裝置T，係更進而具備有複數之第1導出線400a以及複數之第2導出線400b。第1導出線400a，係各別在第1高度位置處而被與第1電極100a之電極本體110a作連接。當第1電極100a係身為上述1）或2）之構成的情況時，第1導出線400a，若是被設置在第1基材300a之第1面上，則為理想。當第1電極100a係身為上述3）之構成的情況時，第1導出線400a，若是被設置在絕緣層之Z方向之面上，則為理想。第2導出線400b，係各別在第2高度位置處而被與第2電極100b作連接。當第2電極100b係身為上述1）或3）之構成的情況時，第2導出線400b，若是被設置在第2基材300b之第1面上，則為理想。當第2電極100b係身為上述2）之構成的情況時，第2導出線400b，若是被設置在第1基材300a之第2面上，則為理想。 　　[0049] 第1導出線400a以及第2導出線400b，係可採用：a）被與檢測部10（例如，檢測IC等）直接作連接之構成、或者是b）經由外部連接部20來被間接性地作連接之構成。外部連接部20，例如，係為可撓性基板等。外部連接部20，係具備有能夠各別與第1導出線400a作連接的複數之第1連接線、和能夠各別與第2導出線400b作連接的複數之第2連接線。第1連接線以及第2連接線，係被與檢測部10作連接。 　　[0050] 檢測部10，係對於驅動電極依序供給驅動脈衝，並將因應於此而從檢測電極所依序得到的輸出訊號（電壓或電流）作放大，再判斷放大後的訊號（以下，稱作放大訊號）是否超過檢測部10之記憶體內的臨限值。若是手指或觸控筆等之檢測對象對於上述之第1電極100a與第2電極100b之間之複數之靜電耦合場所作接近（包含觸碰），則該交叉場所之靜電電容係會改變，具有該場所之檢測電極的輸出訊號係會改變。檢測部10，係將檢測電極之輸出訊號放大，當判斷放大訊號係超過了臨限值時，將檢測對象對於供給了驅動脈衝之驅動電極與輸出了輸出訊號之檢測電極之間的靜電耦合場所作了接近一事檢測出來。檢測部10，當對於驅動電極而依序供給驅動脈衝時，若是成為將並未供給驅動脈衝（並未進行驅動）之驅動電極設定為與接地相同準位，則為理想。另外，在檢測部10之記憶體中，係設定有放大訊號之上限值，當放大訊號超過上限值的情況時，檢測部10係成為飽和狀態。 　　[0051] 係可構成為：觸碰輸入裝置T，係更進而具備有至少1個的周邊接地電極500a及／或至少1個的周邊接地電極500b。另外，周邊接地電極500b，係相當於申請專利範圍之周邊接地電極。另外，在圖1A中，為了方便作圖示，係將周邊接地電極500a以及周邊接地電極500b作省略，但是，在圖2A中，係對於周邊接地電極500a有所圖示，並且，在圖2B中，係對於周邊接地電極500b有所圖示。另外，雖係在圖2A中對於周邊接地電極500a附加有點狀圖案，並在圖2B中對於周邊接地電極500b附加有點狀圖案，但是，請注意到，實際上，係並未對於周邊接地電極500a以及周邊接地電極500b附加有點狀圖案。 　　[0052] 如同在圖2A中而最為清楚地展示一般，至少1個的周邊接地電極500a，若是在第1高度位置處而被配置在第1電極100a之周圍，則為理想。當第1電極100a係身為上述1）或2）之構成的情況時，至少1個的周邊接地電極500a，若是被設置在第1基材300a之第1面上，則為理想。當第1電極100a係身為上述3）之構成的情況時，至少1個的周邊接地電極500a，若是被設置在絕緣層之Z方向之面上，則為理想。若是在至少1個的周邊接地電極500a與第1電極100a之間被設置有第1導出線400a，則為理想。至少1個的周邊接地電極500a，係亦能夠以在Z-Z’方向上而與第2導出線400b之至少一部分相重疊的方式而被作配置。另外，在圖1A以及圖2A中，周邊接地電極500a係為複數。 　　[0053] 如同在圖2B中而最為清楚地展示一般，至少1個的周邊接地電極500b，若是在第2高度位置處而被配置在第2電極100b以及接地電極200b之周圍，並且被與接地電極200b作連接，則為理想。於此情況，至少1個的周邊接地電極500b以及接地電極200b，係藉由上述之1個的透明導電膜或導體所構成。當第2電極100b以及接地電極200b係身為上述1）或3）之構成的情況時，至少1個的周邊接地電極500b，若是被設置在第2基材300b之第1面上，則為理想。當第2電極100b以及接地電極200b係身為上述2）之構成的情況時，至少1個的周邊接地電極500b，若是被設置在第1基材300a之第2面上，則為理想。若是在至少1個的周邊接地電極500b與第2電極100b之間被設置有第2導出線400b，則為理想。至少1個的周邊接地電極500b，係亦能夠以在Z-Z’方向上而與第1導出線400a之至少一部分相重疊的方式而被作配置。另外，在圖1A以及圖2B中，周邊接地電極500b係為複數。另外，周邊接地電極500a及／或周邊接地電極500b，係可作省略。 　　[0054] 係可構成為：觸碰輸入裝置T，係更進而具備有至少1個的第3導出線600a及／或至少1個的第4導出線600b。至少1個的第3導出線600a，若是被與至少1個的周邊接地電極500a作連接，則為理想。當至少1個的周邊接地電極500a係被設置在第1基材300a之第1面上的情況時，若是至少1個的第3導出線600a亦係被設置在第1基材300a之第1面上，則為理想。當至少1個的周邊接地電極500a係被設置在絕緣層之Z方向之面上的情況時，若是至少1個的第3導出線600a亦係被設置在絕緣層之Z方向之面上，則為理想。 　　[0055] 至少1個的第4導出線600b，若是被與至少1個的周邊接地電極500b作連接，則為理想。當至少1個的周邊接地電極500b係被設置在第2基材300b之第1面上的情況時，若是至少1個的第4導出線600b亦係被設置在第2基材300b之第1面上，則為理想。當至少1個的周邊接地電極500b係被設置在第1基材300a之第2面上的情況時，若是至少1個的第4導出線600b亦係被設置在第1基材300a之第2面上，則為理想。第3導出線600a以及第4導出線600b，亦係可被與檢測部10直接性地作連接或者是經由外部連接部20來間接性地作連接。另外，周邊接地電極500a及／或周邊接地電極500b，係可作省略。 　　[0056] 在觸碰輸入裝置T之其他態樣中，係如同圖3中所示一般，亦可構成為更進而具備有複數之假電極200a。另外，在圖3中，雖係對於第1電極100a、假電極200a以及周邊接地電極500a附加有點狀圖案以成為易於作區別，但是，請注意到，實際上，係並未對於第1電極100a、假電極200a以及周邊接地電極500a附加有點狀圖案。 　　[0057] 假電極200a，係在第1高度位置處而於相鄰之第1電極100a之間空出有些許之間隔地而被作配置。假電極200a，係相對於相鄰之第1電極100a而各別具備有些許之間隔。當第1電極100a係身為上述1）或2）之構成的情況時，假電極200a，若是被設置在第1基材300a之第1面上，則為理想。當第1電極100a係身為上述3）之構成的情況時，假電極200a，若是被設置在絕緣層之Z方向之面上，則為理想。 　　[0058] 第1電極100a以及假電極200a所被作配置的第1高度位置之第1電極區域之面積之中，第1電極100a以及假電極200a所佔據的面積，若是設為80％～99％，則為理想。換言之，第1電極區域之面積之中，第1電極100a和假電極200a之間之間隙以及假電極200a之間之間隙所佔據的面積，若是設為20％～1％，則為理想。另外，第1電極區域，係可設為藉由第1電極100a之Y方向之最靠端部、和第1電極100a之Y’方向之最靠端部、和最靠向X方向之端之假電極200a、和最靠向X’方向之端之假電極200a，來作區劃，但是，此係僅為其中一例，第1電極區域係可任意作區劃。另外，假電極200a係可作省略。 　　[0059] 在由上述一般之觸碰輸入裝置T所致的情況中，係可發揮以下之技術性特徵以及效果。第1，係能夠使觸碰輸入裝置T之檢測感度提升。其理由係如下所述。1）由於第2電極100b之窄寬幅部120b係各別與第1電極100a之第1重疊部111a相重疊，因此兩者之重疊面積係為小。並且，當接地電極200b為被作接地連接的情況時，係成為如同2-1）或2-2）一般。2-1）接地電極200b之第2部220b之各者，係在第2空白區域α2內對於上述2個的窄寬幅部120b而各別具備有些許之間隙地被作配置，並且各別與第2重疊部112a相重疊。於此情況，藉由各第2部220b，從第1電極100a之第2重疊部112a和上述2個的窄寬幅部120b之其中一者所產生之電力線係被作吸收。2-2）接地電極200b之第2部220b之各者，係在第2空白區域α2內對於上述2個的窄寬幅部120b以及上述4個的廣寬幅部110b而各別具備有些許之間隙地被作配置，並且各別與第2重疊部112a相重疊。於此情況，藉由各第2部220b，從第1電極100a之第2重疊部112a和上述2個的窄寬幅部120b之其中一者所產生之電力線係被作吸收，並且，從第1電極100a之第2重疊部112a和上述4個的廣寬幅部110b之其中一者所產生之電力線係被作吸收。藉由此1）、1）以及2-1）、或者是1）以及2-2），由於係能夠將相交叉之第1電極100a和第2電極100b之間的各別之靜電電容值縮小，因此，就算是第1、第2電極100a、100b之一方的電極之輸出訊號被輸入至檢測部10處並且藉由檢測部10而被作了放大，也能夠將被作了放大的訊號超過檢測部10之上限值的可能性降低。故而，由於係成為能夠將一方之電極的輸出訊號作大幅度的放大，因此，係成為能夠使觸碰輸入裝置T之檢測感度提昇。 　　[0060] 第2，由於各接地電極200b之第1部210b，係各別被配置在相鄰之第2電極100b之廣寬幅部110b之間，因此，係能夠將相鄰之第2電極100b之廣寬幅部110b之靜電耦合降低。 　　[0061] 第3，起因於上述第1技術特徵之1）、1）以及2-1）或者是1）以及2-2），係會有相交叉之第1電極100a與第2電極100b之間之各別的靜電電容值變得過小的情形。但是，當第1電極100a為各別具備有複數之第1枝部120a的情況時，藉由對於第1枝部120a之各別的長度及／或寬幅進行調整、設定，係能夠將與所交叉的第1電極100a以及第2電極100b之間之各別的重疊面積增大，而能夠使第1電極100a和第2電極100b之間之各別的靜電電容值增加。故而，係成為能夠將相交叉之第1電極100a與第2電極100b之間之各別的靜電電容值設定為所期望之值。 　　[0062] 第4，起因於上述第1技術特徵之2-2），當上述4個的廣寬幅部110b和與其相對應之第2重疊部112a之其中一者的電力線被第2部220b所吸收的情況時，此部份的感度，係會有成為較第2電極100b之窄寬幅部120b和第1電極100a之第1重疊部111a之間的部分（交叉部）之感度而更低的情形。但是，當第1電極100a係各別具備有複數之第2枝部130a的情況時，由於第2枝部130a係與4個的廣寬幅部110b中之至少2個的廣寬幅部110b作靜電耦合，因此，係能夠使第2枝部130a周邊之感度提昇。藉由對於第2枝部130a之各別的長度及／或寬幅作調整、設定，係能夠將第2枝部130a周邊之感度和前述交叉部之感度設為略相同。 　　[0063] 第5，當接地電極200b為被與周邊接地電極500b作連接的情況時，係成為不需要設置用以將接地電極200b作接地連接的配線。故而，第2導出線400b之配線的自由度係提昇。 　　[0064] 第6，係能夠將相對於觸碰輸入裝置T之從Z’方向而來的電磁性干擾（例如，從畫像顯示裝置D所產生的雜訊等之干擾）降低。其理由係如下所述。當第2電極100b之窄寬幅部120b的X-X’方向之尺寸以及接地電極200b之第2部220b的X-X’方向之尺寸為較第1電極100a之電極本體110a的X-X’方向之尺寸而更大的情況時，第2電極100b之窄寬幅部120b以及接地電極200b之第2部220b係會從Z’方向而覆蓋電極本體110a。藉由此第2電極100b之窄寬幅部120b以及接地電極200b之第2部220b，係能夠將相對於第1電極100a之電極本體110a的從Z’方向而來之電磁性干擾降低。又，在第1電極100a為具備有第2枝部130a的情況時，係能夠將接地電極200b之第1部210b之Y-Y’方向的尺寸設為較第1電極100a之第2枝部130a之Y-Y’方向的尺寸而更大，而使接地電極200b之第1部210b從Z’方向側來覆蓋第1電極100a之第2枝部130a。於此情況，藉由接地電極200b之第1部210b，係能夠將相對於第2枝部130a的從Z’方向而來之電磁性干擾降低。又，當將第2高度位置之第2電極區域之面積中的第2電極100b以及接地電極200b所佔據的面積設為90％～99％的情況時，第2電極區域之幾乎全部的區域，係成為被第2電極100b以及接地電極200b所佔據。於此情況，藉由第2電極100b以及接地電極200b，係能夠將相對於第1電極100a之從Z’方向而來之電磁性干擾降低。另外，藉由如同上述一般地來藉由檢測部10而將並未被作驅動的第2電極100b設為與接地相同之準位，此第6之技術性特徵以及效果係提昇。 　　[0065] 第7，係能夠將在第2電極100b以及接地電極200b所被作設置的基材處而產生變形的可能性降低。其理由係如下所述。在未圖示之比較例之觸碰輸入裝置中，當在基材上而電極為被設置為短籤狀（條帶線狀）的情況時，於基材處係交互存在有並未被設置有電極之區域和被設置有電極之區域。因此，於基材之被設置有電極之區域和基材之並未被設置有電極之區域處，係會產生熱膨脹及／或熱收縮量之差，而會有基材因應於電極之形狀而產生變形的情形。但是，觸碰輸入裝置T，由於係使第2電極100b具備有複數之廣寬幅部110b以及複數之窄寬幅部120b，並且係在上述相鄰之第2電極100b之間設置有接地電極200b，因此，係成為難以在第2電極100b以及接地電極200b所被作設置的基材處產生變形。又，若是將第2電極區域之面積的90％～99％設為被第2電極100b以及接地電極200b所佔據，則由於係幾乎不會有並未被第2電極100b以及接地電極200b所佔據的區域，因此，在第2電極100b以及接地電極200b所被作設置的基材處，係成為更加難以產生變形。另外，與第2電極區域相同的，當將第1電極區域之面積的80％～99％藉由第1電極100a以及假電極200a來作了佔據的情況時，在第1電極100a以及假電極200a所被作設置的基材處，係成為難以產生變形。 　　[0066] 第8，當觸碰輸入裝置T係具備有假電極200a的情況時，係能夠將相對於觸碰輸入裝置T之從Z方向而來的電磁性干擾（從觸碰輸入裝置T之外部機器而來的電磁性干擾）降低。當將第1電極區域之面積的80％～99％藉由第1電極100a以及假電極200a來作了佔據的情況時，此第8技術性特徵以及效果係會提昇。 　　[0067] 另外，上述之觸碰輸入裝置，係並不被限定於上述實施例，在申請專利範圍之記載範圍內，係可作任意之設計變更。以下，詳細作敘述。 　　[0068] 在本發明之第1基材與第2基材之間，係亦可設置至少1個的第3基材。 　　[0069] 本發明之第1導出線，係亦可設置在與第1高度位置相異之高度位置處。於此情況，第1導出線，係亦可各別經由基材之通孔電極等的第1連接手段，來被與第1電極作連接。本發明之第2導出線，係亦可設置在與第2高度位置相異之高度位置處。於此情況，第2導出線，係亦可各別經由基材之通孔電極等的第2連接手段，來被與第2電極作連接。又，在本發明中，係亦可代替第1導出線及／或第2導出線，而使銷或纜線等之其他的連接手段被與第1電極及／或第2電極作連接。另外，本發明之第3導出線及／或第4導出線，係亦能夠與本發明之第1導出線等同樣的而作設計變更。 　　[0070] 當本發明之觸碰輸入裝置係至少部分性地彎曲成曲面狀的情況時，本發明之第1高度位置，係能夠設為至少部分性地彎曲為曲面狀的第1基材300a之第1面或者是絕緣層之Z方向之面上的位置，本發明之第2高度位置，係能夠設為至少部分性地彎曲為曲面狀的第2基材300b之第1面或者是第1基材300a之第2面上的位置。 　　[0071] 另外，構成上述實施例之各態樣以及設計變形例中之觸碰輸入裝置之各構成要素的素材、形狀、尺寸、數量以及配置等，係僅為對於其中一例作說明者，只要是能夠實現同樣的功能，則係能夠任意地進行設計變更。上述之實施例的各態樣以及設計變更例，只要是不會相互矛盾，則係能夠相互作組合。另外，本發明之第1方向，只要是身為本發明之第1電極之配列方向，則係可任意作設定。本發明之第2方向，只要是與第1方向相交叉，則係可任意作設定。本發明之Z-Z’方向（第3方向），只要是與第1方向以及第2方向相交叉並且並非位置於第1方向以及第2方向所位置的平面上，則係可任意作設定。

[0072]T‧‧‧觸碰輸入裝置100a‧‧‧第1電極110a‧‧‧電極本體111a‧‧‧第1重疊部112a‧‧‧第2重疊部120a‧‧‧第1枝部130a‧‧‧第2枝部100b‧‧‧第2電極110b‧‧‧廣寬幅部111b‧‧‧第1廣寬幅部112b‧‧‧第2廣寬幅部120b‧‧‧窄寬幅部200a‧‧‧假電極200b‧‧‧接地電極210b‧‧‧第1部220b‧‧‧第2部300a‧‧‧第1基材300b‧‧‧第2基材400a‧‧‧第1導出線400b‧‧‧第2導出線500a‧‧‧周邊接地電極500b‧‧‧周邊接地電極600a‧‧‧第3導出線600b‧‧‧第4導出線700‧‧‧黏著層P‧‧‧覆蓋面板10‧‧‧檢測部20‧‧‧外部連接部D‧‧‧畫像顯示裝置

[0019] 　　[圖1A]係為本發明之實施例1之觸碰輸入裝置的概略性擴大平面圖，並為將周邊接地電極作了除去之圖。 　　[圖1B]係為前述實施例1之觸碰輸入裝置之圖1A中的1B-1B擴大剖面圖，並為用以對於該觸碰輸入裝置以及畫像顯示裝置之間的位置關係作說明之圖。 　　[圖1C]係為前述實施例1之觸碰輸入裝置之圖1A中的1C-1C擴大剖面圖，並為用以對於該觸碰輸入裝置以及畫像顯示裝置之間的位置關係作說明之圖。 　　[圖2A]係為前述實施例1之觸碰輸入裝置的第1基材之概略性擴大平面圖，並為用以對於第1基材上之複數之第1電極、複數之第1導出線以及周邊接地電極的位置關係作說明之圖。 　　[圖2B]係為前述實施例1之觸碰輸入裝置的第2基材之概略性擴大平面圖，並為用以對於第2基材上之複數之第2電極、複數之接地電極、複數之第2導出線以及周邊接地電極的位置關係作說明之說明圖。 　　[圖3]係為前述實施例1之觸碰輸入裝置的設計變形例之對應於圖2A之圖，並為用以對於第1基材上之複數之第1電極、複數之第1導出線、假電極以及周邊接地電極的位置關係作說明之說明圖。

T‧‧‧觸碰輸入裝置

10‧‧‧檢測部

20‧‧‧外部連接部

100a‧‧‧第1電極

100b‧‧‧第2電極

110a‧‧‧電極本體

110b‧‧‧廣寬幅部

111a‧‧‧第1重疊部

112a‧‧‧第2重疊部

120a‧‧‧第1枝部

120b‧‧‧窄寬幅部

130a‧‧‧第2枝部

200b‧‧‧接地電極

210b‧‧‧第1部

220b‧‧‧第2部

400a‧‧‧第1導出線

400b‧‧‧第2導出線

Claims (16)

1. 一種觸碰輸入裝置，其特徵為，係具備有：複數之第1電極，係在第1高度位置處，於第1方向上空出有間隔地而被作配置；和複數之第2電極，係在與前述第1高度位置相異之第2高度位置處，以與前述第1電極相交叉的方式而於與前述第1方向相交叉之第2方向上空出有間隔地而被作配置；和複數之第1接地電極，係在前述第2高度位置處，各別以與前述第1電極相交叉的方式而被配置在前述第2電極之間，前述第1電極，係各別具備有複數之第1重疊部、和複數之第2重疊部，前述第2電極，係各別具備有複數之廣寬幅部、和具有較前述廣寬幅部之前述第2方向之尺寸而更小的前述第2方向之尺寸之複數之窄寬幅部，在前述第2電極之各者處，前述廣寬幅部，係包含有複數組之在前述第2高度位置處而於前述第1方向上空出有間隔地而被作配置並且在前述第1方向上而相鄰之廣寬幅部，前述窄寬幅部，係在前述第2高度位置處而將前述相鄰之廣寬幅部間各別作連接，並且各別與前述第1電極之前述第1重疊部相重疊，前述第2電極，係包含有複數組之在前述第2方向上而相鄰之第2電極，前述第1接地電極，係各別具備有： 複數之第1部，係在前述第2高度位置處，於前述相鄰之第2電極之前述廣寬幅部之間各別具備有些許之間隙地而被作了配置；和複數之第2部，係在前述第2高度位置處，於前述相鄰之第2電極之前述窄寬幅部之間各別具備有些許之間隙地而被作配置，並且各別與前述第1電極之前述第2重疊部相重疊，在前述第2電極之各者處，前述廣寬幅部，係於前述第2方向上被作交錯配置，在前述接地電極之各者處，前述第1部，係在前述第2方向上被作交錯配置，前述第1部，係包含複數組之在前述第1方向上而相鄰之第1部，前述第2部，係各別將前述相鄰之第1部之間作連接。
2. 如申請專利範圍第1項所記載之觸碰輸入裝置，其中，在前述第1接地電極之各者處，前述第1部，係包含複數組之在前述第1方向上而相鄰之第1部，前述第2部，係各別將前述相鄰之第1部之間作連接，前述第1接地電極，係被作接地連接。
3. 如申請專利範圍第2項所記載之觸碰輸入裝置，其中，係更進而具備有：第2接地電極，係被配置在前述第2電極以及前述第1 接地電極之周圍，並且被與前述第1接地電極作了連接。
4. 如申請專利範圍第1項或第2項所記載之觸碰輸入裝置，其中，前述第1電極，係各別具備有：電極本體，係具備有前述第1重疊部以及前述第2重疊部，並且在前述第1高度位置處而朝向前述第2方向作了延伸。
5. 如申請專利範圍第4項所記載之觸碰輸入裝置，其中，前述第1電極，係各別更進而具備有：複數之第1枝部，係在前述第1高度位置處，從前述電極本體之前述第1重疊部起而以會與該第1重疊部之鄰旁之前述第2電極之一部分各別作重疊的方式來作了延伸。
6. 如申請專利範圍第4項所記載之觸碰輸入裝置，其中，前述第1電極，係各別更進而具備有：複數之第2枝部，係在前述第1高度位置處，從前述電極本體之前述第2重疊部起而以會各別位置於在該第2重疊部之鄰旁而在前述第2方向上相鄰之前述廣寬幅部之間的方式來作了延伸。
7. 如申請專利範圍第1~3項中之任一項所記載之觸碰輸 入裝置，其中，前述第1接地電極之前述第2部之前述第1方向的尺寸，係較前述第1電極之前述第1方向的尺寸而更大。
8. 如申請專利範圍第1項所記載之觸碰輸入裝置，其中，前述第1電極，係包含有複數組之在前述第1方向上而相鄰之第1電極，前述觸碰輸入裝置，係更進而具備有複數之假電極，前述複數之假電極，係具備有各別包含複數之假電極之複數組，各組之前述複數之假電極，係在前述第1高度位置處，在前述相鄰之第1電極間具有間隙地而被作配置。
9. 如申請專利範圍第1項所記載之觸碰輸入裝置，其中，相交叉之前述第1電極以及前述第2電極之各別的靜電電容值，係為0.1pF~5pF。
10. 如申請專利範圍第5項所記載之觸碰輸入裝置，其中，前述第1枝部，係包含有從前述電極本體之前述第1重疊部起而朝向前述第1方向之其中一方延伸之複數之第1枝部、和從前述電極本體之前述第1重疊部起而朝向前述第1 方向之另外一方延伸之複數之第1枝部。
11. 如申請專利範圍第6項所記載之觸碰輸入裝置，其中，前述第2枝部，係包含有從前述電極本體之前述第2重疊部起而朝向前述第1方向之其中一方延伸之複數之第2枝部、和從前述電極本體之前述第2重疊部起而朝向前述第1方向之另外一方延伸之複數之第2枝部。
12. 一種觸碰輸入裝置，其特徵為，係具備有：複數之第1電極，係在第1高度位置處，於第1方向上空出有間隔地而被作配置；和複數之第2電極，係在與前述第1高度位置相異之第2高度位置處，以與前述第1電極相交叉的方式而於與前述第1方向相交叉之第2方向上空出有間隔地而被作配置；和複數之第1接地電極，係在前述第2高度位置處，各別以與前述第1電極相交叉的方式而被配置在前述第2電極之間，前述第1電極，係各別具備有複數之第1重疊部、和複數之第2重疊部，前述第2電極，係各別具備有複數之廣寬幅部、和具有較前述廣寬幅部之前述第2方向之尺寸而更小的前述第2方向之尺寸之複數之窄寬幅部，在前述第2電極之各者處，前述廣寬幅部，係包含有複數組之在前述第2高度位 置處而於前述第1方向上空出有間隔地而被作配置並且在前述第1方向上而相鄰之廣寬幅部，前述窄寬幅部，係在前述第2高度位置處而將前述相鄰之廣寬幅部間各別作連接，並且各別與前述第1電極之前述第1重疊部相重疊，前述第2電極，係包含有複數組之在前述第2方向上而相鄰之第2電極，前述第1接地電極，係各別具備有：複數之第1部，係在前述第2高度位置處，於前述相鄰之第2電極之前述廣寬幅部之間各別具備有些許之間隙地而被作了配置；和複數之第2部，係在前述第2高度位置處，於前述相鄰之第2電極之前述窄寬幅部之間各別具備有些許之間隙地而被作配置，並且各別與前述第1電極之前述第2重疊部相重疊，前述第1電極，係各別具備有：電極本體，係具備有前述第1重疊部以及前述第2重疊部，並且在前述第1高度位置處而朝向前述第2方向作了延伸；和複數之第2枝部，係在前述第1高度位置處，從前述電極本體之前述第2重疊部起而以會各別位置於在該第2重疊部之鄰旁而在前述第2方向上相鄰之前述廣寬幅部之間的方式來作了延伸，前述第1電極之前述第2枝部係分別與前述第1接地電極之前述第1部重疊， 前述第1接地電極之前述第1部之前述第2方向的尺寸，係較前述第1電極之前述第2枝部之前述第2方向的尺寸而更大。
13. 如申請專利範圍第12項所記載之觸碰輸入裝置，其中，前述第2枝部，係包含有從前述電極本體之前述第2重疊部起而朝向前述第1方向之其中一方延伸之複數之第2枝部、和從前述電極本體之前述第2重疊部起而朝向前述第1方向之另外一方延伸之複數之第2枝部。
14. 一種觸碰輸入裝置，其特徵為，係具備有：複數之第1電極，係在第1高度位置處，於第1方向上空出有間隔地而被作配置；和複數之第2電極，係在與前述第1高度位置相異之第2高度位置處，以與前述第1電極相交叉的方式而於與前述第1方向相交叉之第2方向上空出有間隔地而被作配置；和複數之第1接地電極，係在前述第2高度位置處，各別以與前述第1電極相交叉的方式而被配置在前述第2電極之間，前述第1電極，係各別具備有複數之第1重疊部、和複數之第2重疊部，前述第2電極，係各別具備有複數之廣寬幅部、和具有較前述廣寬幅部之前述第2方向之尺寸而更小的前述第2 方向之尺寸之複數之窄寬幅部，在前述第2電極之各者處，前述廣寬幅部，係包含有複數組之在前述第2高度位置處而於前述第1方向上空出有間隔地而被作配置並且在前述第1方向上而相鄰之廣寬幅部，前述窄寬幅部，係在前述第2高度位置處而將前述相鄰之廣寬幅部間各別作連接，並且各別與前述第1電極之前述第1重疊部相重疊，前述第2電極，係包含有複數組之在前述第2方向上而相鄰之第2電極，前述第1接地電極，係各別具備有：複數之第1部，係在前述第2高度位置處，於前述相鄰之第2電極之前述廣寬幅部之間各別具備有些許之間隙地而被作了配置；和複數之第2部，係在前述第2高度位置處，於前述相鄰之第2電極之前述窄寬幅部之間各別具備有些許之間隙地而被作配置，並且各別與前述第1電極之前述第2重疊部相重疊，前述第1電極，係各別具備有：電極本體，係具備有前述第1重疊部以及前述第2重疊部，並且在前述第1高度位置處而朝向前述第2方向作了延伸；和複數之第1枝部，係在前述第1高度位置處，從前述電極本體之前述第1重疊部起而以會與該第1重疊部之鄰旁之前述第2電極之一部分相重疊的方式來作了延伸，前述第1枝部，係各別與被和該第1枝部作了連接的前 述第1重疊部所重疊之前述第2電極之前述窄寬幅部之一部分相重疊。
15. 一種觸碰輸入裝置，其特徵為，係具備有：複數之第1電極，係在第1高度位置處，於第1方向上空出有間隔地而被作配置；和複數之第2電極，係在與前述第1高度位置相異之第2高度位置處，以與前述第1電極相交叉的方式而於與前述第1方向相交叉之第2方向上空出有間隔地而被作配置；和複數之第1接地電極，係在前述第2高度位置處，各別以與前述第1電極相交叉的方式而被配置在前述第2電極之間，前述第1電極，係各別具備有複數之第1重疊部、和複數之第2重疊部，前述第2電極，係各別具備有複數之廣寬幅部、和具有較前述廣寬幅部之前述第2方向之尺寸而更小的前述第2方向之尺寸之複數之窄寬幅部，在前述第2電極之各者處，前述廣寬幅部，係包含有複數組之在前述第2高度位置處而於前述第1方向上空出有間隔地而被作配置並且在前述第1方向上而相鄰之廣寬幅部，前述窄寬幅部，係在前述第2高度位置處而將前述相鄰之廣寬幅部間各別作連接，並且各別與前述第1電極之前述第1重疊部相重疊，前述第2電極，係包含有複數組之在前述第2方向上而相鄰之第2電極， 前述第1接地電極，係各別具備有：複數之第1部，係在前述第2高度位置處，於前述相鄰之第2電極之前述廣寬幅部之間各別具備有些許之間隙地而被作了配置；和複數之第2部，係在前述第2高度位置處，於前述相鄰之第2電極之前述窄寬幅部之間各別具備有些許之間隙地而被作配置，並且各別與前述第1電極之前述第2重疊部相重疊，前述第1電極，係各別具備有：電極本體，係具備有前述第1重疊部以及前述第2重疊部，並且在前述第1高度位置處而朝向前述第2方向作了延伸；和複數之第1枝部，係在前述第1高度位置處，從前述電極本體之前述第1重疊部起而以會與該第1重疊部之鄰旁之前述第2電極之一部分相重疊的方式來作了延伸，前述第1枝部，係各別與被和該第1枝部作了連接的前述第1重疊部所重疊之前述第2電極之前述窄寬幅部以及與此作了連接的前述廣寬幅部之一部分相重疊。
16. 如申請專利範圍第14項或第15項所記載之觸碰輸入裝置，其中，前述第1枝部，係包含有從前述電極本體之前述第1重疊部起而朝向前述第1方向之其中一方延伸之複數之第1枝部、和從前述電極本體之前述第1重疊部起而朝向前述第1 方向之另外一方延伸之複數之第1枝部。

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