TWI732282B - 複合式基板製造方法 - Google Patents
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Abstract
一種複合式基板製造方法,尤指銅箔與陶瓷基板以共晶反應鍵合之複合式基板的製造方法,係先將銅箔的表面進行清洗,去除表面油汙或汙垢;再以PH小於3的藥水對銅箔表面進行處理,讓銅箔表面受藥水蝕刻粗糙化以及於銅箔表面形成有碎石狀微觀結構之有機金屬複合物的氧化銅膜層;續將銅箔之氧化銅膜層與陶瓷基板表面貼合,並將銅箔加熱至共晶溫度,使銅箔與其表面之氧化銅膜層產生共晶反應,進而鍵合銅箔與陶瓷基板。
Description
一種複合式基板製造方法,尤指銅箔與陶瓷基板以共晶反應鍵合之複合式基板的製造方法。
銅箔與陶瓷形成複合式基板的方式為直接銅接合技術(簡稱DCB,Direct Copper Bonding或簡稱DBC,Direct Bonding Copper),早期為使用乾式製程,係將銅箔至於真空爐中,使銅箔在氧元素氣氛下表面生成氧化銅,接著將含有氧化銅層的銅箔貼合於具氧化物表層的陶瓷基板表面,在1065〜1083°C溫度下於真空爐中共晶燒結,銅箔將直接鍵合於陶瓷基板表面,此種作法銅箔兩面都會形成氧化銅,不利銅箔單面與陶瓷基板共晶鍵合。再者,亦有相關業者利用鹼性藥水讓銅箔表面長出由氧化銅與氧化亞銅所組成的黑色絨毛所構成,讓銅箔能單面形成氧化銅層,但此種作法有下列缺失:
1、由於氧化銅膜層是直接由銅箔表面長成,因此銅箔表面的粗糙度不足,必須在進行氧化銅膜層製作前,需先將銅箔表面粗糙化,增加共晶反應時的結合力,導致製程複雜。
2、氧化銅膜層的黑色絨毛長成的速度慢,容易斷裂脫落,除了製成時間增長外,共晶反應時之結合力也會大幅下降,且銅箔置於空氣中,氧化銅膜層會持續增生,導致其厚度不易控制。
3、鹼性藥水使用後所產生的廢水,較不符合環保,且廢水的處理成本較高。
4、氧化銅膜層內會形成許多細小的空隙,在共晶燒結時會因共晶液相的流動能力較差,使空隙中的氣體無法排出,造成複合式基板製成後,銅箔與陶瓷之間夾雜許多氣隙,除了會使熱傳導能力下降外,也會使結合強度降低。
是以,要如何解決上述習知之問題與缺失,即為相關業者所亟欲研發之課題所在。
本發明之主要目的乃在於,利用PH小於3的藥水對銅箔表面進行處理,讓銅箔表面粗糙化以及生成碎石狀微觀結構之機金屬複合物的氧化銅膜層,提高銅箔與陶瓷基板之結合力,且氧化銅膜層厚度容易控制,並可降低成本增加生產速度。
本發明之次要目的在於,利用銅箔表面所設置之遮蔽區,讓
形成於銅箔表面之氧化銅膜層內形成有逃氣空間,俾使銅箔單面與陶瓷基板共晶鍵合時,增加共晶液相的流動能力,降低複合式基板製成時,銅箔與陶瓷之間所夾雜之氣隙數量,大幅提升複合式基板之熱傳導能力以及結合強度。
為達上述目的,本發明之複合式基板製造方法於實施時,係先將銅箔的表面進行清洗,去除表面油汙或汙垢;再以PH小於3的藥水對銅箔表面進行處理,讓銅箔表面受藥水蝕刻粗糙化以及於銅箔表面形成有碎石狀微觀結構之有機金屬複合物的氧化銅膜層;續將銅箔之氧化銅膜層與陶瓷基板表面貼合,並將銅箔加熱至共晶溫度,使銅箔與其表面之氧化銅膜層產生共晶反應,進而鍵合銅箔與陶瓷基板。
前述之複合式基板製造方法,其中該藥水至少包含有含量介於2%~20%重量比之過氧化氫、2%~20%重量比之硫酸以及0.5%~5%重量比之含氮雜環化合物的促進劑,促進劑係用以增強氧化銅膜層結合力。
前述之複合式基板製造方法,其中該促進劑係為烷基、苯基、氨基或羥基。
前述之複合式基板製造方法,其中該陶瓷基板為氮化鋁陶瓷基板、氧化鋁陶瓷基板或氮化矽陶瓷基板。
前述之複合式基板製造方法,其中該銅箔的表面進行清洗完畢後,係先於銅箔表面設置有遮蔽區,再以PH小於3的藥水對銅箔表面進行處理,俾使氧化銅膜層不會形成於遮蔽區,使氧化銅膜層內形成有逃氣空間。
前述之複合式基板製造方法,其中該銅箔表面之遮蔽區為複數設置。
請參閱第一圖與第二圖所示,由圖中可清楚看出,本發明第一實施例之複合式基板10製造方法於實施時,係依照下列步驟進行:
(A)準備銅箔1與陶瓷基板2,陶瓷基板1可為氮化鋁陶瓷基板、氧化鋁陶瓷基板或氮化矽陶瓷基板。
(B)將銅箔1進行清洗,以去除銅箔1表面之髒污或汙垢。
(C)以PH小於3的藥水對銅箔表面進行處理,該藥水包含有含量介於2%~20%重量比之過氧化氫、2%~20%重量比之硫酸以及0.5%~5%重量比之含氮雜環化合物的促進劑,促進劑係可為烷基、苯基、氨基或羥基;而藥水與銅箔1表面會同時產生兩個反應,分別為蝕刻反應以及膜成型反應,蝕刻反應會於銅箔1表面產生蝕刻(etching),使銅箔1表面粗糙化,膜成型反應會於銅箔1表面形成有碎石狀微觀結構且結構緊密之有機金屬複合物的氧化銅膜層3,藉由銅箔1表面粗糙化,讓氧化銅膜層3與銅箔1表面產生良好的結合力,且藉由促進劑之作用,增強氧化銅膜層3結合力。
(D)將銅箔1之氧化銅膜層3與陶瓷基板2表面貼合,並將銅箔1加熱至共晶溫度,使銅箔1與其表面之氧化銅膜3層產生共晶反應,進而鍵合銅箔1與陶瓷基板2製成複合式基板10。
請參閱第三圖至第七圖所示,本發明之第二實施例與前述之第一實施例之差異在於,該銅箔1表面進行清洗完畢後,係先於銅箔1表面設置出複數個遮蔽區4,再以PH小於3的藥水對銅箔1表面進行處理,於藥水處理完畢後去除銅箔1表面之遮蔽區4,俾使氧化銅膜層3於銅箔1未受遮蔽區4遮蔽之表面形成氧化銅膜層3,,而讓氧化銅膜層3內形成有逃氣空間5,藉此,當將銅箔1之氧化銅膜層3與陶瓷基板2表面貼合,並將銅箔1加熱至共晶溫度時,增加氧化銅膜層3共晶液相的流動能力,降低氣隙的產生,讓複合式基板10於製程時,降低複合式基板製成時,銅箔1與陶瓷基板2之間所夾雜之氣隙數量,大幅提升複合式基板之熱傳導能力以及結合強度。再者,在本實施例中遮蔽區4之設置為多數個圓形設置,但不因此侷限本專利,遮蔽區4之設置可依據氧化銅膜層3厚度、銅箔面積…等因素,調整遮蔽區4之形狀與數量。
10:複合式基板
1:銅箔
2:陶瓷基板
3:氧化銅膜層
4:遮蔽區
5:逃氣空間
第一圖為本發明第一實施例之流程圖。
第二圖為本發明第一實施例之流程示意圖。
第三圖為本發明第二實施例銅箔表面設置遮蔽區之示意圖。
第四圖為本發明第二實施例銅箔表面形成氧化銅膜層之示意圖。
第五圖為本發明第二實施例銅箔表面形成氧化銅膜層之剖面圖。
第六圖為本發明第二實施例銅箔表面形成氧化銅膜層之局部剖面圖。
第七圖為本發明第二實施例銅箔與陶瓷基板共晶鍵合之示意圖。
10:複合式基板
1:銅箔
2:陶瓷基板
3:氧化銅膜層
Claims (6)
- 一種複合式基板製造方法,尤指銅箔與陶瓷基板以共晶反應接合之複合式基板的製造方法,係包含有下列步驟: 將銅箔的表面進行清洗,去除表面油汙或汙垢; 以PH小於3的藥水對銅箔表面進行處理,讓銅箔表面受藥水蝕刻粗糙化以及於銅箔表面形成有碎石狀微觀結構之有機金屬複合物的氧化銅膜層; 將銅箔之氧化銅膜層與陶瓷基板表面貼合,並將銅箔加熱至共晶溫度,使銅箔與其表面之氧化銅膜層產生共晶反應,進而鍵合銅箔與陶瓷基板。
- 如請求項1所述之複合式基板製造方法,其中該藥水至少包含有含量介於2%~20%重量比之過氧化氫、2%~20%重量比之硫酸以及0.5%~5%重量比之含氮雜環化合物的促進劑,促進劑係用以增強氧化銅膜層結合力。
- 如請求項2所述之複合式基板製造方法,其中該促進劑係為烷基、苯基、氨基或羥基。
- 如請求項1所述之複合式基板製造方法,其中該陶瓷基板為氮化鋁陶瓷基板、氧化鋁陶瓷基板或氮化矽陶瓷基板。
- 如請求項1所述之複合式基板製造方法,其中該銅箔的表面進行清洗完畢後,係先於銅箔表面設置有遮蔽區,再以PH小於3的藥水對銅箔表面進行處理,俾使氧化銅膜層不會形成於遮蔽區,使氧化銅膜層內形成有逃氣空間。
- 如請求項5所述之複合式基板製造方法,其中該銅箔表面之遮蔽區為複數設置。
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Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
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Publications (2)
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CN114727504A (zh) * | 2022-03-16 | 2022-07-08 | 景旺电子科技(龙川)有限公司 | 金属陶瓷复合基板及其制作方法 |
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---|---|---|---|---|
DE10221876A1 (de) * | 2002-05-15 | 2003-11-27 | Juergen Schulz-Harder | Verfahren zum Herstellen eines Keramik-Kupfer-Verbundsubstrats |
CN107546132A (zh) * | 2016-08-24 | 2018-01-05 | 浙江德汇电子陶瓷有限公司 | 金属‑陶瓷复合衬底的制造方法及其制造的复合衬底 |
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