TWI723486B - 電路板編輯測試系統 - Google Patents
電路板編輯測試系統 Download PDFInfo
- Publication number
- TWI723486B TWI723486B TW108127851A TW108127851A TWI723486B TW I723486 B TWI723486 B TW I723486B TW 108127851 A TW108127851 A TW 108127851A TW 108127851 A TW108127851 A TW 108127851A TW I723486 B TWI723486 B TW I723486B
- Authority
- TW
- Taiwan
- Prior art keywords
- circuit board
- digital
- pins
- component
- editing device
- Prior art date
Links
Images
Landscapes
- Tests Of Electronic Circuits (AREA)
- Supply And Installment Of Electrical Components (AREA)
Abstract
本發明為一種電路板編輯測試系統:包含一測試機台,包含一機械手臂;一電路板編輯裝置,與該測試機台電性連接,其中該電路板編輯裝置內建複數數位電子元件,每一數位電子元件包含一數位元件類別、一元件外觀及複數基礎接腳,該電路板編輯裝置根據一數位電路板產生一操作檔;本發明透過該電路板編輯裝置產生各種不同的元件類型及其腳位,並輸入該測試機台,能讓該測試機台準確且快速地觸碰每一元件之接腳處,減少時間成本及提高電路板的品質。
Description
本發明為一種電路板測試系統,尤其是指一種利用電路板編輯裝置將待測電路板數位化,讓測試機台能根據數位化的電路板準確對接腳下針測試的電路板編輯測試系統。
隨著科技的發展,電子產品的使用愈見頻繁,手機、平板、筆記型電腦、桌上型電腦等產品的使用量與日俱增。而市場的需求漸漸導向複合型的產品為主,以智慧型手機而言,在體積及重量不顯著地增加的條件下,消費者越來越希望能持有越多種功能的手機,從以前只具撥打電話的功能,到現在能透過臉部辨識或是虹膜解鎖等高科技防盜功能,使得電子產品內的電路愈趨複雜,但為盡量維持體積,只能縮小元件與元件之間的距離,或是導線與導線的間距來容納更多元件與導線。
而在設計新的一種電子產品內各種電路及元件時,必須對導線的電性連接點進行測量,確保每一條線路皆為有效地連接,減少因短路或斷路所造成訊號問題。
現階段的接點測試為先利用感光耦合元件拍攝新設計出來的一待測電路板上所有元件位置及其接點位置,輸入一飛針機測試機台後利用該飛針機測試機台對待測電路板的各接點處進行觸碰並通電,確認該接點的電壓及電流皆為正常值,但拍攝的資料可能會有誤差,使得飛針機測試機台無法精準地觸碰到每一接腳。
另外,為節省成本,使用者一般都會先將待測電路板複製另一塊新的電路板,由複製出來的電路板進行測試,但一塊電路板上可能具有幾萬顆電子元件,重新複製一塊新的電路板往往需要兩周以上的時間,如此一來無法即時得知該待測電路板的品質,實有使用上的缺陷。
為能及時對待測電路板進行測試,本發明提出一種電路板編輯測試系統,藉由電路板編輯裝置產生操作檔,讓測試機台的機械手臂能根據該操作檔中各個元件之接腳,精準且快速地測試,以減少時間成本。
為達上述目的,本發明一種電路板編輯測試系統,包含:一編輯主機,包含:一電路板編輯裝置,與一測試機台電性連接,該電路板編輯裝置根據一數位電路板產生一操作檔;一元件資料庫,內建複數數位電子元件,每一數位電子元件包含一數位元件類別、一元件外觀及複數基礎接腳;一顯示器,與該編輯主機電性連接,該顯示器能顯示由該電路板編輯裝置提供之一操作介面;其中,該數位電路板為利用一感光耦合元件拍攝該待測電路板所得到,該數位電路板以圖像化的方式儲存該複數電子元件的形狀及相對地位於該待測電路板上的位置;該電路板編輯裝置接收來自該操作介面的一腳位選擇指令,以座標的方式建立出每一數位電子元件的該元件外觀及該複數基礎接腳;該電路板編輯裝置將該操作檔輸入該測試機台,以控制該測試機台的一機械手臂對該待測電路板進行測試。
藉由上述步驟,能減少該待測電路板之操作檔的建置時間,且每個數位電子元件接腳的位置、數量皆有明確地顯示在該數位電路板上,輸入
該飛針機後,該飛針機的機械手臂能精確且快速地對每一接腳下針,可減少誤判的機率;同時,該數位電路板的建置只需要約2~3小時,比起以往實際建置一塊新的電路板需要的2周以上,時間成本大幅減少。
10:測試機台
20:編輯主機
21:電路板編輯裝置
23:元件資料庫
30,30A,30B,30C,30D,30E:數位電子元件
31,31A,31B,31C:第一基礎接腳
32,32A,32B,32C:第二基礎接腳
33,33A,33B,33C:第三基礎接腳
34A:第四基礎接腳
50:顯示器
51:操作介面
圖1:本發明之電路方塊圖。
圖2:本發明之步驟流程圖。
圖3:本發明之第一實施例示意圖。
圖4:本發明之第二實施例示意圖。
圖5A:本發明之第三實施例示意圖。
圖5B:本發明之第四實施例示意圖。
圖6A~6D:本發明不同接腳數之球格陣列封裝電子元件示意圖。
請參見圖1,本發明電路板編輯測試系統包含:一測試機台10、一編輯主機20及一顯示器50。
該測試機台10可為一飛針機,且包含一機械手臂,該機械手臂能對一待測電路板上各個元件的接腳進行測試,例如短路測試,其中該待測電路板上通常製作有不同的複數電子元件。
該編輯主機20具有一電路板編輯裝置21及一元件資料庫23。該編輯主機20分別與該測試機台10及該顯示器50以有線或無線的方式電性連接。該電路板編輯裝置21能在該顯示器50上顯示一操作介面51;該電路板編輯裝置21能接收到一數位電路板,並根據該操作介面51所接收到的各項指令對該數位電路板進行編輯操作,編輯結束後,該電路板編輯裝置21可將該數位電路板轉換成一操作檔,並將該操作檔輸入該測試機台10讓該機械手臂對該待測電路板
進行測試,其中該數位電路板為利用一感光耦合元件(Charge-coupled Device,CCD)拍攝該待測電路板所得到,該數位電路板以圖像化的方式儲存該複數電子元件的外觀及各元件於該待測電路板上的相對位置,該操作檔可為該飛針機所能讀取且運作的檔案,在一較佳實施例中,該操作檔為一正文檔案(TXT files)或是一.INI格式檔案(.INI files)。
該元件資料庫23內建複數種的數位元件模型,每一種數位元件模型具有對應的一元件類別、一元件外觀、複數基礎接腳。
該元件資料庫23內建的數位元件模型種類可包含但不限於:以非標準封裝(SPIC)製作的電子元件;以小尺寸封裝(small outline,SOIC)製作的電子元件,此類電子元件的外形多為長方形;以塑膠晶粒承載封裝(plastic leaded chip carrier,PLCC)製作的電子元件,此類電子元件的外形多為梯形;以球格陣列封裝(ball grid array,BGA)製作的電子元件,此類電子元件的外形多為矩形。
藉由上述的測試機台10及電路板編輯裝置21,可執行本發明的電路板編輯測試方法,該測試方法的流程如下:
建立一數位電路板(S101):利用一感光耦合元件(Charge-coupled Device,CCD)拍攝該待測電路板,以產生該待測電路板的數位電路板,並將該數位電路板儲存至該電路板編輯裝置21,其中該待測電路板上製作有不同的複數電子元件;該數位電路板以圖像化的方式紀錄該複數電子元件的形狀及各元件位於該待測電路板上的相對位置;該元件資料庫23內建複數數位元件模型,每一種數位元件模型具有對應的一元件類別、一元件外觀、複數基礎接腳。
指定元件類別(S102):根據該數位電路板上的該複數電子元件,該電路板編輯裝置21接收來自該操作介面51的一元件選擇指令,使該電路
板編輯裝置21讀取該元件資料庫23的其中一數位元件模型之元件類別及元件外觀。
接收接腳選擇指令建立元件腳位(S103):該電路板編輯裝置21接收來自該操作介面51的一腳位選擇指令,以座標的方式建立出該元件外觀及該複數基礎接腳,一般而言,該複數基礎接腳可分為三個基礎接腳的形態及四個基礎接腳的型態,其中三個基礎接腳分別為一第一基礎接腳、一第二基礎接腳、一第三基礎接腳,四個基礎接腳的型態分別為一第一基礎接腳、一第二基礎接腳、一第三基礎接腳、一第四基礎接腳;接著在各基礎接腳的位置會依序接收一接腳選擇指令,該接腳選擇指令設定每一基礎接腳在該數位電路板上的一座標位置,進而設定每一數位元件模型的大小及在該數位電路板上的該座標位置,其中對三個基礎接腳的數位元件模型而言,該第一基礎接腳與該第二基礎接腳的距離為該數位元件模型的長邊,該第二基礎接腳與該第三基礎接腳的距離為該數位元件模型的短邊;其中對四個基礎接腳的數位元件模型而言,該第一基礎接腳與該第二基礎接腳的距離為該數位元件模型的長邊,該第三基礎接腳與該第四基礎接腳的距離為該數位元件模型的短邊;接著該電路板編輯裝置21接收來自該操作介面51的一接腳數量指令,該接腳數量指令包含該數位元件模型至少一邊的接腳數量,以建立出該數位元件模型的長邊及短邊上所有的非基礎接腳之該座標位置,並將所有接腳賦予編號。
建立操作檔(104):將該數位電路板上所有數位元件模型之接腳的該座標位置建立完畢後,該電路板編輯裝置21將該數位電路板上所有的該座標位置彙整成一可供對應一測試機台執行的操作檔,並將該操作檔輸入該測試機台10中,讓該測試機台10的機械手臂依據該操作檔中各接腳的該座標位置及編號依序下針,以準確接觸到該待測電路板上每一電子元件之每一接腳;其中
該操作檔包含所有接腳的該座標位置及能控制該機械手臂動作的一動作指令;在一較佳實施例中,該測試機台10為一飛針機。
藉由上述的測試方法,本發明可配合之電子元件種類如以下所述:
1.以非標準封裝(SPIC)製作的電子元件;此類元件包含積體電路(IC)、電阻、電感、電容、電晶體,該電路板編輯裝置21接收到該元件選擇指令後先選擇出對應的該數位元件類別,接著建立出該元件外觀及所有基礎接腳,在本實施例中使用的元件為具有兩接腳、三接腳或三隻以上的接腳。
2.以小尺寸封裝(small outline,SOIC)製作的電子元件;請參見圖3,此類的電子元件多為長方形,且接腳對稱分布於其中兩側邊,根據本實施例的該數位電子元件30,該電路板編輯裝置21接收該元件選擇指令後選擇對應該電子零件的該數位元件模型,該電路板編輯裝置21會在該數位電子元件上產生該第一基礎接腳31、該第二基礎接腳32及該第三基礎接腳33,其中該第一基礎接腳31及該第二基礎接腳32分別位於該數位電子元件30之對應兩側邊,以建立出該數位電子元件30之寬邊,該第三基礎接腳33與該第二基礎接腳32同側,以建立出該數位電子元件30之長邊;該電路板編輯裝置21接收腳位選擇指令後,依序設定出該第一基礎接腳31、該第二基礎接腳32及該第三基礎接腳33的位置,接著該電路板編輯裝置21接收該接腳數量指令,以本實施例為例,由於本實施例的接腳對稱分布於兩側邊,當該接腳數量指令設定為7隻時,該電路板編輯裝置21會自動設定該數位電子元件30包含14之接腳(2*7=14),代表本實施例所使用到的元件總共有14隻接腳,該電路板編輯裝置21即能自動建立該數位電子元件30的14隻接腳的該位置座標,並將所有接腳賦予編號。
3.以塑膠晶粒承載封裝(plastic leaded chip carrier,PLCC)製作的電子元件;請參見圖4,此類的電子元件接腳分布於所有側邊,根據本實施例
的該數位電子元件30A以該電路板編輯裝置21選擇對應該電子零件的該數位元件類別後,該電路板編輯裝置21產生該第一基礎接腳31A、該第二基礎接腳32A、該第三基礎接腳33A及該第四基礎接腳34A,其中該第一基礎接腳31A及該第二基礎接腳32A設定於該數位電子元件30A之同一側邊,以建立出該數位電子元件30A的長邊;該第三基礎接腳33A及該第四基礎接腳34A設定於該數位電子元件30A之另一側邊,以建立出該數位電子元件30A的短邊;該數位電子元件30A的長邊及短邊互相垂直;該電路板編輯裝置21接收該腳位選擇指令後,依序設定出該第一基礎接腳31A、該第二基礎接腳32A、該第三基礎接腳33A及該第四基礎接腳34A的位置,接著該電路板編輯裝置21接收該接腳數量指令,以本實施例為例,該數位電子元件30A的長邊及短邊各有5隻接腳,則其中一該接腳數量指令為5隻接腳,另一接腳數量指令同樣為5隻接腳,該電路板編輯裝置21根據此兩接腳數量指令計算出該數位電子元件30A共有20隻接腳(5*2+5*2=20),代表本實施例所使用到的元件總共有20隻接腳,該電路板編輯裝置21,即能建立該數位電子元件30A所有接腳的該座標位置,並將所有接腳賦予編號。
4.以球格陣列封裝(ball grid array,BGA)製作的電子元件;請參見圖5A,此類的電子元件多為矩形,且接腳分布於該電子元件中央;根據本實施例的該數位電子元件30B以該電路板編輯裝置21選擇對應該電子零件的該數位元件類別後,該電路板編輯裝置21產生該第一基礎接腳31B、該第二基礎接腳32B及該第三基礎接腳33B;該電路板編輯裝置21接收該接腳選擇指令後,將該第一基礎接腳31B、該第二基礎接腳32B及該第三基礎接腳33B設定於該數位電子元件30B之三個角落之接腳上,其中該第一基礎接腳31B及該第二基礎接腳32B能建立出該數位電子元件30B的長邊,以及在長邊中的所有接腳數量及位置;該第二基礎接腳32B及該第三基礎接腳33B能建立出該數位電子元件30B的
短邊,以及在短邊中的所有接腳數量及該座標位置;本實施例中,該數位電子元件30B的長邊及短邊相等且互相垂直,且該數位電子元件30B長邊與短邊的接腳數量相同,在另一較佳實施例中,該數位電子元件30B的長邊及短邊具不同的長度,且長邊與短邊的接腳數量不相同。
如圖5A所示,在該第一基礎接腳31B及該第二基礎接腳32B之間有14個接腳(包含該第一基礎接腳31B及該第二基礎接腳32B),而該第二基礎接腳32B及該第三基礎接腳33B之間有14個接腳(包含該第二基礎接腳32B及該第三基礎接腳33B),則該數位電子元件30B能產生196個接腳。又如圖5B所示,在該第一基礎接腳31C及該第二基礎接腳32C之間有16個接腳(包含該第一基礎接腳31C及該第二基礎接腳32C),而該第二基礎接腳32C及該第三基礎接腳33C之間有16個接腳(包含該第二基礎接腳32C及該第三基礎接腳33C),當該接腳數量指令設定為16隻接腳時,該電路板編輯裝置21能自動計算出該數位電子元件30C具有256隻接腳(16*16=256),該電路板編輯裝置21即建立所有接腳的該座標位置。最後將所有接腳賦予編號。
本實施例中,由於該數位電子元件30B、30C、30D、30E僅部分區域形成接腳,如圖6A~6D所示,該電路板編輯裝置21能進一步透過一刪除指令刪除多餘接腳的該座標位置,以圖6A的數位電子元件30C為例,該刪除指令能刪除該數位電子元件30C中央的9*9=81根接腳;而以圖6C的數位電子元件30D為例,該刪除指令能刪除該數位電子元件30D中央的12*12=144根接腳;刪除後,該電路板編輯裝置21會根據接收到的一排列指令自動重新排列所有接腳的編號。
10:測試機台
20:編輯主機
21:電路板編輯裝置
23:元件資料庫
50:顯示器
51:操作介面
Claims (2)
- 一種電路板編輯測試系統,包含:一編輯主機,包含:一電路板編輯裝置,與一測試機台電性連接,該電路板編輯裝置根據一數位電路板產生一操作檔;一元件資料庫,內建複數數位電子元件,每一數位電子元件包含一數位元件類別、一元件外觀及複數基礎接腳;一顯示器,與該編輯主機電性連接,該顯示器能顯示由該電路板編輯裝置提供之一操作介面;其中,該數位電路板為利用一感光耦合元件拍攝該待測電路板所得到,該數位電路板以圖像化的方式儲存該複數電子元件的形狀及相對地位於該待測電路板上的位置;該電路板編輯裝置接收來自該操作介面的一腳位選擇指令,以座標的方式建立出每一數位電子元件的該元件外觀及該複數基礎接腳;該電路板編輯裝置將該操作檔輸入該測試機台,以控制該測試機台的一機械手臂對該待測電路板進行測試。
- 如請求項1所述之電路板編輯測試系統,其中該電路板編輯裝置內建的該數位電子元件更包含:以非標準封裝製作的電子元件;以小尺寸封裝製作的電子元件;以塑膠晶粒承載封裝製作的電子元件;以球格陣列封裝製作的電子元件。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
TW108127851A TWI723486B (zh) | 2018-10-03 | 2018-10-03 | 電路板編輯測試系統 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
TW108127851A TWI723486B (zh) | 2018-10-03 | 2018-10-03 | 電路板編輯測試系統 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
TW202014721A TW202014721A (zh) | 2020-04-16 |
TWI723486B true TWI723486B (zh) | 2021-04-01 |
Family
ID=71130748
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
TW108127851A TWI723486B (zh) | 2018-10-03 | 2018-10-03 | 電路板編輯測試系統 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
TW (1) | TWI723486B (zh) |
Families Citing this family (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
TWI781791B (zh) * | 2021-10-15 | 2022-10-21 | 緯穎科技服務股份有限公司 | 偵測裝置及其偵測方法 |
Citations (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
TWI244359B (en) * | 2002-10-09 | 2005-11-21 | Wei Kuang Mechanical Eng Co Lt | Automatic optical detecting system for defect components on printed circuit board |
TW200801543A (en) * | 2006-06-13 | 2008-01-01 | Advanced Semiconductor Eng | Controlling method and system for testing the integrated circuits |
TW201043980A (en) * | 2009-06-01 | 2010-12-16 | Hon Hai Prec Ind Co Ltd | System and method for testing a printed circuit board |
TW201327243A (zh) * | 2011-12-20 | 2013-07-01 | Inventec Corp | 自動判別零件正確性的方法 |
-
2018
- 2018-10-03 TW TW108127851A patent/TWI723486B/zh active
Patent Citations (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
TWI244359B (en) * | 2002-10-09 | 2005-11-21 | Wei Kuang Mechanical Eng Co Lt | Automatic optical detecting system for defect components on printed circuit board |
TW200801543A (en) * | 2006-06-13 | 2008-01-01 | Advanced Semiconductor Eng | Controlling method and system for testing the integrated circuits |
TW201043980A (en) * | 2009-06-01 | 2010-12-16 | Hon Hai Prec Ind Co Ltd | System and method for testing a printed circuit board |
TW201327243A (zh) * | 2011-12-20 | 2013-07-01 | Inventec Corp | 自動判別零件正確性的方法 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
TW202014721A (zh) | 2020-04-16 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
TWI423057B (zh) | 佈局對原理圖錯誤系統及方法 | |
US20060218516A1 (en) | Design rule report utility | |
US20130290834A1 (en) | Synchronized three-dimensional display of connected documents | |
US10268787B2 (en) | Hybrid timing analysis method and associated system and non-transitory computer readable medium | |
WO2020186851A1 (zh) | 光学基准点的选取方法、系统、计算机存储介质及设备 | |
CN111881051B (zh) | 测试用例的生成方法、装置、终端及存储介质 | |
JPH0618635A (ja) | モデルのパターンマッチングに基づくプリント回路基板のための機能テストの生成方法 | |
US20030101425A1 (en) | Systems and methods for linking a graphical display and an n-dimensional data structure in a graphical user interface | |
TW200421134A (en) | A method of IC design and integration | |
TWI723486B (zh) | 電路板編輯測試系統 | |
CN116011394B (zh) | 一种异常检测方法、装置、设备及存储介质 | |
US20070245274A1 (en) | Integrated circuit design apparatus and method thereof | |
JP2006253187A (ja) | 電源解析方法および電源解析を実行するプログラム | |
TWI678542B (zh) | 電路板編輯測試方法 | |
US20160246293A1 (en) | Computer-readable recording medium having recorded therein component arrangement program, method of arranging components, and information processing apparatus | |
US11067598B2 (en) | Inspection data output device, display system, and inspection data output method | |
TWI528200B (zh) | 電路佈局調整方法 | |
CN103440391A (zh) | 一种基于数值选择函数的半导体工艺角扫描仿真方法 | |
KR20140042326A (ko) | Pcb 전기검사 시스템 및 그 방법 | |
CN111044877A (zh) | 电路板编辑测试系统及方法 | |
CN109884502A (zh) | 芯片测试方法及装置、系统、控制设备及存储介质 | |
CN103454570B (zh) | 电路布局的短路检测方法与电路布局的短路检测装置 | |
TWI799024B (zh) | 自動量測訊號的控制系統與方法 | |
CN104701217A (zh) | 布线基板导通孔配置确定装置及方法 | |
US20240302428A1 (en) | Testing device and testing method thereof |