TWI719214B - 發光二極體晶片的製造方法 - Google Patents
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Abstract
為提供一種能夠得到充分的亮度的發光二極體晶片的製造方法及發光二極體晶片。
一種發光二極體晶片的製造方法,其特徵在於具備有晶圓準備步驟、透明基板加工步驟、一體化步驟、及分割步驟。該晶圓準備步驟是準備晶圓,該晶圓具有在結晶成長用之透明基板上形成有包含發光層的複數層半導體層之積層體層,並於該積層體層的正面以相互交叉之複數條分割預定線所區劃出之各區域中各自形成有LED電路,該透明基板加工步驟是在透明基板的背面對應該晶圓的各LED電路來形成複數個凹陷,該一體化步驟是實施該透明基板加工步驟後,將該透明基板的正面貼附於該晶圓的背面以形成一體化晶圓,該分割步驟是沿著該分割預定線將該晶圓和該透明基板一起切斷以將該一體化晶圓分割成一個個的發光二極體晶片。
Description
本發明是有關於一種發光二極體晶片的製造方法及發光二極體晶片。
在藍寶石基板、GaN基板、SiC基板等的結晶成長用基板的正面上形成有將n型半導體層、發光層、p型半導體層積層複數層而成的積層體層,並且在此積層體層上藉由交叉的複數條分割預定線所區劃出的區域中形成有複數個LED(發光二極體(Light Emitting Diode))等之發光元件的晶圓,是沿著分割預定線切斷而分割成一個個的發光元件晶片,並且已分割的發光元件晶片是廣泛地應用在手機、個人電腦、照明機器等的各種電氣機器上。
由於從發光元件晶片的發光層射出的光具有各向同性,所以即使被照射到結晶成長用基板的內部也會使光從基板的背面及側面射出。然而,由於已被照射到基板之內部的光之中在與空氣層之間的界面上的入射角為臨界角以上的光會在界面上進行全反射而被封閉在基板內部,並不會有從基板射出到外部之情形,所以會有導致發光元件晶片的亮度降低的問題。
為了解決此問題,在日本專利特開2014-175354號公報中已記載有下述之發光二極體(LED):為了抑制從發光層射出的光被封閉在基板的內部,而形成為在基板的背面貼附透明構件來謀求亮度的提升。
專利文獻1:日本專利特開2014-175354號公報
然而,在專利文獻1所揭示的發光二極體中,雖然可藉由在基板的背面貼附透明構件而稍微提升亮度,但是仍有無法得到充分的亮度的問題。
本發明是有鑒於像這樣的點而作成的發明,其目的在於提供一種能夠得到充分的亮度的發光二極體晶片的製造方法及發光二極體晶片。
依據請求項1記載的發明,可提供一種發光二極體晶片的製造方法,該發光二極體晶片的製造方法之特徵在於具備有:晶圓準備步驟,準備晶圓,該晶圓是在結晶成長用之透明基板上具有積層體層,並於該積層體層的正面以相互
交叉之複數條分割預定線所區劃出之各區域中各自形成有LED電路,該積層體層形成有包含發光層的複數層半導體層;透明基板加工步驟,在透明基板的背面對應該晶圓的各LED電路來形成複數個凹陷;一體化步驟,在實施該透明基板加工步驟後,將該透明基板的正面貼附在該晶圓的背面以形成一體化晶圓;及分割步驟,沿著該分割預定線將該晶圓和該透明基板一起切斷以將該一體化晶圓分割成一個個的發光二極體晶片。
較理想的是,在透明基板加工步驟中所形成之凹陷的截面形狀為三角形、四角形、或圓形的任一者。較理想的是,在透明基板加工步驟中所形成的凹陷是藉由蝕刻、噴砂、雷射的任一種方式而形成。
較理想的是,該透明基板是以透明陶瓷、光學玻璃、藍寶石、透明樹脂的任一種所形成,並且在該一體化步驟中該透明基板是利用透明接著劑來接著於晶圓。
依據請求項5記載的發明,可提供一種發光二極體晶片,該發光二極體晶片具備:於正面形成有LED電路的發光二極體、及貼附在該發光二極體之背面的透明構件,且在該透明構件之與該發光二極體的貼附面的相反側之面上形成有凹陷。
由於本發明的發光二極體晶片是在貼附於
LED的背面之透明構件的背面形成有凹陷,所以除了會使透明構件的表面積增大之外,也會使從LED的發光層照射而從透明構件射出的光在凹陷部分複雜地折射,因而會使從透明構件射出時在透明構件與空氣層之間的界面上之入射角為臨界角以上之光的比例減少,而使從透明構件射出之光的量增大並使發光二極體晶片的亮度提升。
2:遮罩
4:孔
5、5A、5B、9:凹陷
10:切削單元
11:光元件晶圓(晶圓)
11a、21a:正面
11b、21b:背面
12:主軸殼體
13:藍寶石基板
13A:LED
14:切削刀
15:積層體層
16:刀片罩
17:分割預定線
18:冷卻噴嘴
19:LED電路
20:工作夾台
21:透明基板
21A:透明構件
24:聚光器(雷射頭)
25:一體化晶圓
27:切斷溝
31:發光二極體晶片
R、X1:箭頭
T:切割膠帶
F:環狀框架
X、Y、Z:方向
圖1是光元件晶圓的正面側立體圖。
圖2(A)是顯示將對應於光元件晶圓的各LED電路而具有複數個孔的遮罩貼附到透明基板之背面的情形的立體圖,圖2(B)是已將遮罩貼附在透明基板之背面的狀態之立體圖,圖2(C)~圖2(E)是顯示形成在透明基板之背面的凹陷之形狀的局部立體圖。
圖3(A)是顯示藉由雷射光束的照射而在透明基板之背面對應於LED電路形成複數個凹陷的情形的立體圖,圖3(B)是顯示凹陷之形狀的局部立體圖。
圖4(A)是顯示將於背面具有複數個凹陷之透明基板貼附到晶圓之背面而形成一體化之一體化步驟的立體圖,圖4(B)是一體化晶圓的立體圖。
圖5是顯示透過切割膠帶而以環狀框架支撐一體化晶圓的支撐步驟的立體圖。
圖6是顯示將一體化晶圓分割成發光二極體晶片的分割步驟的立體圖。
圖7是分割步驟結束後之一體化晶圓的立體圖。
圖8是本發明實施形態之發光二極體晶片的立體圖。
以下,參照圖式詳細地說明本發明的實施形態。參照圖1,所示為光元件晶圓(以下,有時會簡稱為晶圓)11的正面側立體圖。
光元件晶圓11是在藍寶石基板13上積層氮化鎵(GaN)等的晶膜層(epitaxial layer)(積層體層)15而構成的。光元件晶圓11具有積層有晶膜層15的正面11a、和露出藍寶石基板13的背面11b。
在此,在本實施形態的光元件晶圓11中,雖然是採用藍寶石基板13作為結晶成長用基板,但是也可以採用GaN基板或SiC基板等來替代藍寶石基板13。
積層體層(晶膜層)15是藉由依序使電子成為多數載子(carrier)的n型半導體層(例如n型GaN層)、成為發光層的半導體層(例如InGaN層)、電洞成為多數載子的p型半導體層(例如p型GaN層)進行晶膜生長而形成。
藍寶石基板13具有例如100μm的厚度,且積層體層15具有例如5μm的厚度。於積層體層15上以形成為格子狀的複數條分割預定線17來區劃而形成有複數個LED電路19。晶圓11具有形成有LED電路19的正面11a、和露出了藍寶石基板13的背面11b。
依據本發明實施形態的發光二極體晶片的製造方法,首先會實施準備如圖1所示的光元件晶圓11的
晶圓準備步驟。然後,實施透明基板加工步驟,該透明基板加工步驟是在要貼附於晶圓11的背面11b之透明基板21的背面21b對應於LED電路19而形成複數個凹陷。
在該透明基板加工步驟中,是例如圖2(A)所示,使用具有對應於晶圓11之LED電路19的複數個孔4的遮罩2。如圖2(B)所示,使遮罩2的孔4對應於晶圓11之各LED電路19來貼附於透明基板21的背面21b。
然後,藉由濕蝕刻(wet etching)或電漿蝕刻(plasma etching)在透明基板21的背面21b形成對應於如圖2(C)所示,遮罩2的孔4之形狀的三角形的凹陷(凹部)5。
亦可作成:藉由將遮罩2的孔4之形狀變更成四角形、或圓形,而在透明基板21的背面21b形成如圖2(D)所示的四角形的凹陷5A,或如圖2(E)所示的在透明基板21的背面21b形成圓形的凹陷5B。
透明基板21是由透明樹脂、光學玻璃、藍寶石、透明陶瓷的任一種所形成。在本實施形態中,是由比光學玻璃更有耐久性之聚碳酸酯、丙烯酸等之透明樹脂來形成透明基板21。
作為本實施形態的變形例,亦可作成:藉由將遮罩2貼附在透明基板21的背面21b之後,實施噴砂加工,而在透明基板21的背面21b形成如圖2(C)所示的三角形的凹陷5、或如圖2(D)所示的四角形的凹陷5A、或如圖2(E)所示的圓形的凹陷5B。
亦可作成將雷射加工裝置利用於:在透明基
板21的背面21b形成對應於LED電路19的複數個凹陷上。在藉由雷射加工進行之實施形態中,如圖3(A)所示,是一邊將對透明基板21具有吸收性之波長(例如266nm)的雷射光束間歇性地從聚光器(雷射頭)24照射在透明基板21的背面21b,一邊使已保持有透明基板21之圖未示的工作夾台朝箭頭X1方向加工進給,藉此以燒蝕(ablation)在透明基板21的背面21b形成對應於晶圓11之LED電路19的複數個凹陷9。
將透明基板21朝與箭頭X1方向正交的方向按晶圓11的分割預定線17的每個間距來分度進給,並且對透明基板21的背面21b進行燒蝕加工,以逐次地形成複數個凹陷9。凹陷9的截面形狀,通常是成為與雷射光束之光斑形狀相對應之如圖3(B)所示的圓形。
實施透明基板加工步驟之後,實施一體化步驟,該一體化步驟是將透明基板21的正面21a貼附在晶圓11的背面11b以形成一體化晶圓25。在此一體化步驟中,是如圖4(A)所示,藉由透明接著劑將晶圓11的背面11b接著於已在背面21b形成有對應於晶圓11的LED電路19的複數個凹陷9之透明基板21的正面21a,以如圖4(B)所示,將晶圓11與透明基板21一體化而形成一體化晶圓25。
實施一體化步驟後,實施支撐步驟,該支撐步驟是如圖5所示,將一體化晶圓25的透明基板21貼附到外周部已貼附於環狀框架F上之切割膠帶T來形成框架單元,以透過切割膠帶T以環狀框架F支撐一體化晶圓25。
實施支撐步驟之後,實施分割步驟,該分割步驟是將框架單元投入切削裝置,並且利用切削裝置來將一體化晶圓25切削以分割成一個個的發光二極體晶片。參照圖6來說明此分割步驟。
如圖6所示,切削裝置的切削單元10包含有主軸殼體12、可旋轉地插入主軸殼體12中的圖未示的主軸、及裝設在主軸的前端的切削刀14。
切削刀14的切割刃是以例如用鍍鎳方式(Nickel plating)來將鑽石磨粒固定而成的電鑄磨石所形成,且其前端形狀是作成三角形、四角形、或半圓形。
切削刀14的大致上半部分是以刀片罩(blade cover)(輪罩(wheel cover))16來覆蓋,在刀片罩16上配設有於切削刀14的裏側及近前側水平地伸長的一對(圖中僅顯示1個)冷卻噴嘴18。
在分割步驟中,是隔著框架單元的切割膠帶T而在切削裝置的工作夾台20上吸引保持一體化晶圓25,而環狀框架F是以圖未示的夾具夾持來固定。
然後,一邊使切削刀14朝箭頭R方向高速旋轉一邊切入晶圓11的分割預定線17直到切削刀14的前端到達切割膠帶T為止,並且從冷卻噴嘴18朝向切削刀14及晶圓11的加工點供給著切削液來將一體化晶圓25朝箭頭X1方向加工進給,藉此形成沿著晶圓11的分割預定線17切斷晶圓11及透明基板21的切斷溝27。
將切削單元10在Y軸方向上分度進給,並且
沿著朝第1方向伸長的分割預定線17逐次地形成同樣的切斷溝27。其次,將工作夾台20旋轉90。之後,沿著於與第1方向正交的第2方向上伸長之全部的分割預定線17形成同樣的切斷溝27,以形成圖7所示之狀態,藉此將一體化晶圓25分割成如圖8所示的發光二極體晶片31。
在上述之實施形態中,雖然是將切削裝置使用在將一體化晶圓25分割成一個個的發光二極體晶片31上,但是也可以作成:將對晶圓11及透明基板21具有穿透性之波長的雷射光束沿著分割預定線13朝晶圓11照射,並且在晶圓11及透明基板21的內部於厚度方向上形成複數層的改質層,接著,對一體化晶圓25賦與外力,來以改質層為分割起點將一體化晶圓25分割成一個個的發光二極體晶片31。
圖8所示的發光二極體晶片31是在正面具有LED電路19之LED13A的背面貼附有透明構件21A。此外,在透明構件21A的背面形成有凹陷5、5A、5B或凹陷9。
因此,在圖8所示之發光二極體晶片31上,由於在透明構件21A的背面形成有凹陷,所以會使透明構件21A的表面積增大。此外,由於透明構件21A的背面形成有凹陷,因此會於從透明構件21A朝外部折射而射出之時,使在透明構件21A與空氣層之間的界面上之入射角成為臨界角以上之光的比例減少,而使從透明構件21A射出之光的量增大,並使發光二極體晶片31的亮度提升。
13A:LED
19:LED電路
21A:透明構件
31:發光二極體晶片
Claims (4)
- 一種發光二極體晶片的製造方法,該發光二極體晶片的製造方法之特徵在於具備有:晶圓準備步驟,準備晶圓,該晶圓是在結晶成長用之透明基板上具有積層體層,並於在該積層體層的正面以相互交叉之複數條分割預定線所區劃出之各區域中各自形成有LED電路,該積層體層形成有包含發光層的複數層半導體層;透明基板加工步驟,在透明基板的背面對應該晶圓的各LED電路來形成複數個凹陷;一體化步驟,在實施該透明基板加工步驟後,將該透明基板的正面貼附在該晶圓的背面上以形成一體化晶圓;及分割步驟,沿著該分割預定線將該晶圓和該透明基板一起切斷以將該一體化晶圓分割成一個個的發光二極體晶片。
- 如請求項1的發光二極體晶片的製造方法,其中在該透明基板加工步驟中所形成之前述凹陷的截面形狀為三角形、四角形、圓形的任一種。
- 如請求項1的發光二極體晶片的製造方法,其中在該透明基板加工步驟中,前述凹陷是藉由蝕刻、噴砂、雷射的任一種方式而形成。
- 如請求項1的發光二極體晶片的製造方法,其中該透明基板是以透明陶瓷、光學玻璃、藍寶石、 透明樹脂的任一種所形成,並且在該一體化步驟中該透明基板是使用透明接著劑來貼附於該晶圓。
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Citations (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2006093686A (ja) * | 2004-08-27 | 2006-04-06 | Kyocera Corp | 発光素子およびその製造方法ならびにその発光素子を用いた照明装置 |
TW201023392A (en) * | 2008-12-05 | 2010-06-16 | Univ Chung Yuan Christian | Light emitting device and fabrication thereof |
TW201133717A (en) * | 2010-03-23 | 2011-10-01 | Disco Corp | Processing method of wafer for optical devices |
CN102479885A (zh) * | 2010-11-22 | 2012-05-30 | 威控自动化机械股份有限公司 | 半导体元件的制造方法 |
TW201338204A (zh) * | 2012-01-26 | 2013-09-16 | Epistar Corp | 發光裝置之製造方法 |
TW201440252A (zh) * | 2013-04-08 | 2014-10-16 | Epistar Corp | 發光二極體及其製造方法 |
Family Cites Families (16)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP4305102B2 (ja) * | 2003-09-03 | 2009-07-29 | 豊田合成株式会社 | 半導体発光素子用複合基板及びその製造方法、並びに半導体発光素子の製造方法 |
KR20070000952A (ko) * | 2005-06-27 | 2007-01-03 | 주식회사 엘지화학 | 열방출이 개선된 전면발광형 발광다이오드 소자의 제조방법 |
JP2009200522A (ja) * | 2009-05-15 | 2009-09-03 | Mitsubishi Chemicals Corp | GaN系半導体発光素子 |
JP2012038889A (ja) * | 2010-08-06 | 2012-02-23 | Koito Mfg Co Ltd | 蛍光部材および発光モジュール |
JP2012079524A (ja) * | 2010-09-30 | 2012-04-19 | Harison Toshiba Lighting Corp | 発光装置 |
CN102157654B (zh) * | 2011-03-30 | 2013-09-25 | 重庆大学 | 基于双面凹孔衬底及组分渐变缓冲层的倒装led芯片 |
JP5953198B2 (ja) * | 2011-09-28 | 2016-07-20 | 株式会社リプス・ワークス | 極短パルスレーザによる多次元パターン形成装置及び形成方法 |
CN104160520A (zh) * | 2012-02-01 | 2014-11-19 | 松下电器产业株式会社 | 半导体发光元件、其制造方法和光源装置 |
KR20140036404A (ko) * | 2012-09-13 | 2014-03-26 | 포항공과대학교 산학협력단 | 발광다이오드 및 그 제조방법 |
JP2014175354A (ja) | 2013-03-06 | 2014-09-22 | Disco Abrasive Syst Ltd | 発光ダイオード |
JP2014175362A (ja) * | 2013-03-06 | 2014-09-22 | Toshiba Corp | 半導体発光素子及びその製造方法 |
KR101426433B1 (ko) | 2013-04-30 | 2014-08-06 | 주식회사 세미콘라이트 | 반도체 발광소자를 제조하는 방법 |
JP2014239123A (ja) * | 2013-06-06 | 2014-12-18 | 株式会社ディスコ | 加工方法 |
WO2015030237A1 (ja) * | 2013-08-30 | 2015-03-05 | 旭化成イーマテリアルズ株式会社 | 半導体発光素子及び光学フィルム |
JP6255255B2 (ja) * | 2014-01-27 | 2017-12-27 | 株式会社ディスコ | 光デバイスの加工方法 |
KR102345751B1 (ko) * | 2015-01-05 | 2022-01-03 | 삼성전자주식회사 | 반도체 발광소자 패키지 및 그 제조 방법 |
-
2016
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2017
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- 2017-07-06 CN CN201710545598.6A patent/CN107611086A/zh active Pending
Patent Citations (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2006093686A (ja) * | 2004-08-27 | 2006-04-06 | Kyocera Corp | 発光素子およびその製造方法ならびにその発光素子を用いた照明装置 |
TW201023392A (en) * | 2008-12-05 | 2010-06-16 | Univ Chung Yuan Christian | Light emitting device and fabrication thereof |
TW201133717A (en) * | 2010-03-23 | 2011-10-01 | Disco Corp | Processing method of wafer for optical devices |
CN102479885A (zh) * | 2010-11-22 | 2012-05-30 | 威控自动化机械股份有限公司 | 半导体元件的制造方法 |
TW201338204A (zh) * | 2012-01-26 | 2013-09-16 | Epistar Corp | 發光裝置之製造方法 |
TW201440252A (zh) * | 2013-04-08 | 2014-10-16 | Epistar Corp | 發光二極體及其製造方法 |
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