TW201830724A - 發光二極體晶片的製造方法及發光二極體晶片 - Google Patents
發光二極體晶片的製造方法及發光二極體晶片 Download PDFInfo
- Publication number
- TW201830724A TW201830724A TW106133665A TW106133665A TW201830724A TW 201830724 A TW201830724 A TW 201830724A TW 106133665 A TW106133665 A TW 106133665A TW 106133665 A TW106133665 A TW 106133665A TW 201830724 A TW201830724 A TW 201830724A
- Authority
- TW
- Taiwan
- Prior art keywords
- wafer
- emitting diode
- transparent substrate
- light
- transparent
- Prior art date
Links
- 238000000034 method Methods 0.000 title claims abstract description 17
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 title claims abstract description 13
- 239000000758 substrate Substances 0.000 claims abstract description 82
- 238000005520 cutting process Methods 0.000 claims abstract description 23
- 230000010354 integration Effects 0.000 claims abstract description 11
- 239000013078 crystal Substances 0.000 claims abstract description 9
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 claims abstract description 8
- 238000002360 preparation method Methods 0.000 claims abstract description 4
- 229910052594 sapphire Inorganic materials 0.000 claims description 11
- 239000010980 sapphire Substances 0.000 claims description 11
- 239000005304 optical glass Substances 0.000 claims description 4
- 239000011347 resin Substances 0.000 claims description 4
- 229920005989 resin Polymers 0.000 claims description 4
- 239000000853 adhesive Substances 0.000 claims description 3
- 230000001070 adhesive effect Effects 0.000 claims description 3
- 239000000919 ceramic Substances 0.000 claims description 3
- 238000005488 sandblasting Methods 0.000 claims description 3
- 238000005530 etching Methods 0.000 claims description 2
- 239000003795 chemical substances by application Substances 0.000 claims 1
- 235000012431 wafers Nutrition 0.000 description 78
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 description 8
- JMASRVWKEDWRBT-UHFFFAOYSA-N Gallium nitride Chemical compound [Ga]#N JMASRVWKEDWRBT-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 5
- 238000001816 cooling Methods 0.000 description 3
- 229910002601 GaN Inorganic materials 0.000 description 2
- PXHVJJICTQNCMI-UHFFFAOYSA-N Nickel Chemical compound [Ni] PXHVJJICTQNCMI-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 238000002679 ablation Methods 0.000 description 2
- 238000010030 laminating Methods 0.000 description 2
- 239000006061 abrasive grain Substances 0.000 description 1
- NIXOWILDQLNWCW-UHFFFAOYSA-N acrylic acid group Chemical group C(C=C)(=O)O NIXOWILDQLNWCW-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000002173 cutting fluid Substances 0.000 description 1
- 229910003460 diamond Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000010432 diamond Substances 0.000 description 1
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
- 229910052759 nickel Inorganic materials 0.000 description 1
- 238000001020 plasma etching Methods 0.000 description 1
- 238000007747 plating Methods 0.000 description 1
- 229920000515 polycarbonate Polymers 0.000 description 1
- 239000004417 polycarbonate Substances 0.000 description 1
- 238000002407 reforming Methods 0.000 description 1
- 238000001039 wet etching Methods 0.000 description 1
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L33/00—Semiconductor devices having potential barriers specially adapted for light emission; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof
- H01L33/005—Processes
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L33/00—Semiconductor devices having potential barriers specially adapted for light emission; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof
- H01L33/48—Semiconductor devices having potential barriers specially adapted for light emission; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof characterised by the semiconductor body packages
- H01L33/58—Optical field-shaping elements
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L21/00—Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
- H01L21/70—Manufacture or treatment of devices consisting of a plurality of solid state components formed in or on a common substrate or of parts thereof; Manufacture of integrated circuit devices or of parts thereof
- H01L21/71—Manufacture of specific parts of devices defined in group H01L21/70
- H01L21/76—Making of isolation regions between components
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L21/00—Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
- H01L21/70—Manufacture or treatment of devices consisting of a plurality of solid state components formed in or on a common substrate or of parts thereof; Manufacture of integrated circuit devices or of parts thereof
- H01L21/77—Manufacture or treatment of devices consisting of a plurality of solid state components or integrated circuits formed in, or on, a common substrate
- H01L21/78—Manufacture or treatment of devices consisting of a plurality of solid state components or integrated circuits formed in, or on, a common substrate with subsequent division of the substrate into plural individual devices
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L33/00—Semiconductor devices having potential barriers specially adapted for light emission; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof
- H01L33/02—Semiconductor devices having potential barriers specially adapted for light emission; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof characterised by the semiconductor bodies
- H01L33/20—Semiconductor devices having potential barriers specially adapted for light emission; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof characterised by the semiconductor bodies with a particular shape, e.g. curved or truncated substrate
- H01L33/22—Roughened surfaces, e.g. at the interface between epitaxial layers
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2933/00—Details relating to devices covered by the group H01L33/00 but not provided for in its subgroups
- H01L2933/0008—Processes
- H01L2933/0033—Processes relating to semiconductor body packages
- H01L2933/0058—Processes relating to semiconductor body packages relating to optical field-shaping elements
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
- Computer Hardware Design (AREA)
- Power Engineering (AREA)
- Manufacturing & Machinery (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- Condensed Matter Physics & Semiconductors (AREA)
- Led Devices (AREA)
- Dicing (AREA)
- Led Device Packages (AREA)
- Laser Beam Processing (AREA)
- Container, Conveyance, Adherence, Positioning, Of Wafer (AREA)
Abstract
[課題]提供一種可得到充分的亮度的發光二極體晶片的製造方法及發光二極體晶片。 [解決手段]一種發光二極體晶片的製造方法,其特徵在於具備有晶圓準備步驟、透明基板加工步驟、一體化步驟、及分割步驟;該晶圓準備步驟是準備晶圓,該晶圓是在結晶成長用之透明基板上具有積層體層,並於該積層體層的正面以相互交叉之複數條分割預定線所區劃出之各區域中各自形成有LED電路,其中該積層體層形成有包含發光層的複數層半導體層,該透明基板加工步驟是在於內部形成有複數個氣泡的透明基板的背面對應該晶圓的各LED電路來形成複數個凹陷,該一體化步驟是實施該透明基板加工步驟後,將該透明基板的正面貼附於該晶圓的背面以形成一體化晶圓,該分割步驟是沿著該分割預定線將該晶圓和該透明基板一起切斷以將該一體化晶圓分割成一個個的發光二極體晶片。
Description
發明領域 本發明是有關於一種發光二極體晶片的製造方法及發光二極體晶片。
發明背景 在藍寶石基板、GaN基板、SiC基板等的結晶成長用基板的正面上形成有將n型半導體層、發光層、p型半導體層積層複數層而成的積層體層,並且在此積層體層上藉由交叉的複數條分割預定線所區劃出的區域中形成有複數個LED(發光二極體(Light Emitting Diode))等之發光元件的晶圓,是沿著分割預定線切斷而分割成一個個的發光元件晶片,已分割的發光元件晶片可廣泛地應用在手機、個人電腦、照明機器等的各種電氣機器上。
由於從發光元件晶片的發光層射出的光具有各向同性,所以即使被照射到結晶成長用基板的內部也會使光從基板的背面及側面射出。然而,由於已被照射到基板之內部的光之中在與空氣層之間的界面上的入射角為臨界角以上的光會在界面上進行全反射而被封閉在基板內部,並不會有從基板射出到外部之情形,所以會有導致發光元件晶片的亮度降低的問題。
為了解決此問題,在日本專利特開2014-175354號公報中已記載有下述之發光二極體(LED):為了抑制從發光層射出的光被封閉在基板的內部,而形成為在基板的背面貼附透明構件來謀求亮度的提升。 先前技術文獻 專利文獻
專利文獻1:日本專利特開2014-175354號公報
發明概要 發明欲解決之課題 然而,在專利文獻1所揭示的發光二極體中,雖然可藉由在基板的背面貼附透明構件而使亮度稍微提升,但是仍有無法得到充分的亮度的問題。
本發明是有鑒於像這樣的點而作成的發明,其目的在於提供一種能夠得到充分的亮度的發光二極體晶片的製造方法及發光二極體晶片。 用以解決課題之手段
依據請求項1記載的發明,可提供一種發光二極體晶片的製造方法,該發光二極體晶片的製造方法之特徵在於具備有: 晶圓準備步驟,準備晶圓,該晶圓是在結晶成長用之透明基板上具有積層體層,並於該積層體層的正面以相互交叉之複數條分割預定線所區劃出之各區域中各自形成有LED電路,該積層體層形成有包含發光層的複數層半導體層; 透明基板加工步驟,在透明基板的背面對應該晶圓的各LED電路來形成複數個凹陷,且該透明基板於內部形成有複數個氣泡; 一體化步驟,在實施該透明基板加工步驟後,將該透明基板的正面貼附到該晶圓的背面以形成一體化晶圓;及 分割步驟,沿著該分割預定線將該晶圓和該透明基板一起切斷以將該一體化晶圓分割成一個個的發光二極體晶片。
較理想的是,在透明基板加工步驟中所形成之凹陷的截面形狀為三角形、四角形、或圓形的任一種。較理想的是,在透明基板加工步驟中所形成的凹陷是藉由蝕刻、噴砂、雷射的任一種方式而形成。
較理想的是,該透明基板是以透明陶瓷、光學玻璃、藍寶石、透明樹脂的任一種所形成,並且在該一體化步驟中該透明基板是利用透明接著劑來接著於晶圓。
依據請求項5記載的發明,可提供一種發光二極體晶片,該發光二極體晶片具備:於正面形成有LED電路的發光二極體、及貼附在該發光二極體的背面的透明構件,該透明構件於內部形成有複數個氣泡,且在該透明構件之與該發光二極體的貼附面的相反側之面上形成有凹陷。 發明效果
由於本發明的發光二極體晶片是在貼附於LED的背面之於內部具有複數個氣泡的透明構件的背面形成有凹陷,所以除了會使透明構件的表面積增大之外,也會使從LED的發光層照射而從透明構件射出之光在凹陷部分複雜地折射,因而會使從透明構件射出時在透明構件與空氣層之間的界面上之入射角為臨界角以上之光的比例減少,而使從透明構件射出之光的量增大並使發光二極體晶片的亮度提升。
用以實施發明之形態 以下,參照圖式詳細地說明本發明的實施形態。參照圖1,所示為光元件晶圓(以下,有時會簡稱為晶圓)11的正面側立體圖。
光元件晶圓11是在藍寶石基板13上積層氮化鎵(GaN)等的晶膜層層(epitaxial layer)(積層體層)15而構成的。光元件晶圓11具有積層有晶膜層15的正面11a、和露出藍寶石基板13的背面11b。
在此,在本實施形態的光元件晶圓11中,雖然是採用藍寶石基板13作為結晶成長用基板,但是也可以採用GaN基板或SiC基板等來替代藍寶石基板13。
積層體層(晶膜層)15是藉由依序使電子成為多數載子(carrier)的n型半導體層(例如n型GaN層)、成為發光層的半導體層(例如InGaN層)、電洞成為多數載子的p型半導體層(例如p型GaN層)進行晶膜生長而形成。
藍寶石基板13具有例如100μm的厚度,且積層體層15具有例如5μm的厚度。於積層體層15上以形成為格子狀的複數條分割預定線17來區劃而形成有複數個LED電路19。晶圓11具有形成有LED電路19的正面11a、和露出了藍寶石基板13的背面11b。
依據本發明實施形態的發光二極體晶片的製造方法,首先會實施準備如圖1所示的光元件晶圓11的晶圓準備步驟。然後,實施透明基板加工步驟,該透明基板加工步驟是在要貼附於晶圓11的背面11b之透明基板21的背面21b對應於LED電路19來形成複數個凹陷,其中該透明基板21於內部具有複數個氣泡29。
在該透明基板加工步驟中,是例如圖2(A)所示,使用具有對應於晶圓11之LED電路19的複數個孔4的遮罩2。如圖2(B)所示,使遮罩2的孔4對應於晶圓11之各LED電路19來貼附於透明基板21的背面21b。
然後,藉由濕蝕刻(wet etching)或電漿蝕刻(plasma etching)在透明基板21的背面21b形成如圖2(C)所示,對應於遮罩2的孔4之形狀的三角形的凹陷(凹部)5。
亦可作成:藉由將遮罩2的孔4之形狀變更成四角形、或圓形,而在透明基板21的背面21b形成如圖2(D)所示的四角形的凹陷5A,或如圖2(E)所示的在透明基板21的背面21b形成圓形的凹陷5B。
透明基板21是由透明樹脂、光學玻璃、藍寶石、透明陶瓷的任一種所形成。在本實施形態中,是由比光學玻璃更有耐久性之聚碳酸酯、丙烯酸等之透明樹脂來形成透明基板21。
作為本實施形態的變形例,亦可作成:藉由將遮罩2貼附在透明基板21的背面21b之後,實施噴砂加工,而在透明基板21的背面21b形成如圖2(C)所示的三角形的凹陷5、或如圖2(D)所示的四角形的凹陷5A、或如圖2(E)所示的圓形的凹陷5B。
亦可作成將雷射加工裝置利用於在透明基板21的背面21b形成對應於LED電路19的複數個凹陷上,其中該透明基板21於內部具有複數個氣泡29。在藉由雷射加工進行之實施形態中,如圖3(A)所示,是一邊將對透明基板21具有吸收性之波長(例如266nm)的雷射光束間歇性地從聚光器(雷射頭)24照射在透明基板21的背面21b,一邊使已保持有透明基板21之圖未示的工作夾台朝箭頭X1方向加工進給,藉此以燒蝕(ablation)在透明基板21的背面21b形成對應於晶圓11之LED電路19的複數個凹陷9。
將透明基板21朝與箭頭X1方向正交的方向按晶圓11的分割預定線17的每個間距來分度進給,並且對透明基板21的背面21b進行燒蝕加工,以逐次地形成複數個凹陷9。凹陷9的截面形狀,通常是成為與雷射光束之光斑形狀相對應之如圖3(B)所示的圓形。
實施透明基板加工步驟之後,實施一體化步驟,該一體化步驟是將透明基板21的正面21a貼附到晶圓11的背面11b以形成一體化晶圓25。在此一體化步驟中,是如圖4(A)所示,藉由透明接著劑將晶圓11的背面11b接著於已在背面21b形成有對應於晶圓11的LED電路19的複數個凹陷9之透明基板21的正面21a,以如圖4(B)所示,將晶圓11與透明基板21一體化而形成一體化晶圓25。
實施一體化步驟後,實施支撐步驟,該支撐步驟是如圖5所示,將一體化晶圓25的透明基板21貼附到外周部已貼附於環狀框架F上之切割膠帶T來形成框架單元,並透過切割膠帶T以環狀框架F支撐一體化晶圓25。
實施支撐步驟之後,實施分割步驟,該分割步驟是將框架單元投入切削裝置,並且利用切削裝置來將一體化晶圓25切削並分割成一個個的發光二極體晶片。參照圖6來說明此分割步驟。
如圖6所示,切削裝置的切削單元10包含有主軸殼體12、可旋轉地插入主軸殼體12中的圖未示的主軸、及裝設在主軸的前端的切削刀14。
切削刀14的切割刃是以例如用鍍鎳方式來將鑽石磨粒固定而成的電鑄磨石所形成,且其前端形狀是做成三角形、四角形、或半圓形。
切削刀14的大致上半部分是以刀片罩(blade cover)(輪罩(wheel cover))16來覆蓋,在刀片罩16上配設有於切削刀14的裏側及近前側水平地伸長的一對(圖中僅顯示1條)冷卻噴嘴18。
在分割步驟中,是隔著框架單元的切割膠帶T而在切削裝置的工作夾台20上吸引保持一體化晶圓25,而環狀框架F是以圖未示的夾具夾持並固定。
然後,使切削刀14一邊朝箭頭R方向高速旋轉一邊切入晶圓11的分割預定線17直到切削刀14的前端到達切割膠帶T為止,並且從冷卻噴嘴18朝向切削刀14及晶圓11的加工點一邊供給切削液一邊將一體化晶圓25朝箭頭X1方向加工進給,藉此形成沿著晶圓11的分割預定線17切斷晶圓11及透明基板21的切斷溝27。
將切削單元10在Y軸方向上分度進給,並且沿著朝第1方向伸長的分割預定線17逐次地形成同樣的切斷溝27。其次,將工作夾台20旋轉90°之後,沿著於與第1方向正交的第2方向上伸長之全部的分割預定線17形成同樣的切斷溝27,以形成圖7所示之狀態,藉此將一體化晶圓25分割成如圖8所示的發光二極體晶片31。
在上述之實施形態中,雖然是將切削裝置使用在將一體化晶圓25分割成一個個的發光二極體晶片31上,但是也可以作成:將對晶圓11及透明基板21具有穿透性之波長的雷射光束沿著分割預定線13朝晶圓11照射,並且在晶圓11及透明基板21的內部於厚度方向上形成複數層的改質層,接著,對一體化晶圓25賦與外力,來以改質層為分割起點將一體化晶圓25分割成一個個的發光二極體晶片31。
圖8所示的發光二極體晶片31是在正面具有LED電路19之LED13A的背面貼附有透明構件21A,且該透明構件21A於內部形成有複數個氣泡29。此外,在透明構件21A的背面形成有凹陷5、5A、5B或凹陷9。
因此,在圖8所示之發光二極體晶片31上,由於在透明構件21A的背面形成有凹陷,所以會使透明構件21A的表面積增大。此外,由於透明構件21A的背面形成有凹陷,因此會於光從透明構件21A朝外部折射而射出之時,使在透明構件21A與空氣層之間的界面上之入射角成為臨界角以上之光的比例減少,而使從透明構件21A射出之光的量增大,並使發光二極體晶片31的亮度提升。
2‧‧‧遮罩
4‧‧‧孔
5、5A、5B、9‧‧‧凹陷
10‧‧‧切削單元
11‧‧‧光元件晶圓(晶圓)
11a、21a‧‧‧正面
11b、21b‧‧‧背面
12‧‧‧主軸殼體
13‧‧‧藍寶石基板
13A‧‧‧LED
14‧‧‧切削刀
15‧‧‧積層體層
16‧‧‧刀片罩
17‧‧‧分割預定線
18‧‧‧冷卻噴嘴
19‧‧‧LED電路
20‧‧‧工作夾台
21‧‧‧透明基板
21A‧‧‧透明構件
24‧‧‧聚光器(雷射頭)
25‧‧‧一體化晶圓
27‧‧‧切斷溝
29‧‧‧氣泡
31‧‧‧發光二極體晶片
R、X1‧‧‧箭頭
T‧‧‧切割膠帶
F‧‧‧環狀框架
X、Y、Z‧‧‧方向
圖1是光元件晶圓的正面側立體圖。 圖2(A)是顯示將對應於光元件晶圓的各LED電路而具有複數個孔的遮罩貼附到透明基板之背面的情形的立體圖,圖2(B)是已將遮罩貼附在透明基板之背面的狀態之立體圖,圖2(C)~圖2(E)是顯示形成在透明基板之背面的凹陷之形狀的局部立體圖。 圖3(A)是顯示藉由雷射光束的照射而在透明基板之背面對應於LED電路形成複數個凹陷的情形的立體圖,圖3(B)是顯示凹陷之形狀的局部立體圖。 圖4(A)是顯示將於背面具有複數個凹陷之透明基板貼附到晶圓之背面而形成一體化之一體化步驟的立體圖,圖4(B)是一體化晶圓的立體圖。 圖5是顯示透過切割膠帶而以環狀框架支撐一體化晶圓的支撐步驟的立體圖。 圖6是顯示將一體化晶圓分割成發光二極體晶片的分割步驟的立體圖。 圖7是分割步驟結束後之一體化晶圓的立體圖。 圖8是本發明實施形態之發光二極體晶片的立體圖。
Claims (5)
- 一種發光二極體晶片的製造方法,該發光二極體晶片的製造方法之特徵在於具備有: 晶圓準備步驟,準備晶圓,該晶圓是在結晶成長用之透明基板上具有積層體層,並於該積層體層的正面以相互交叉之複數條分割預定線所區劃出之各區域中各自形成有LED電路,該積層體層形成有包含發光層的複數層半導體層; 透明基板加工步驟,在透明基板的背面對應該晶圓的各LED電路來形成複數個凹陷,且該透明基板於內部形成有複數個氣泡; 一體化步驟,在實施該透明基板加工步驟後,將該透明基板的正面貼附到該晶圓的背面以形成一體化晶圓;及 分割步驟,沿著該分割預定線將該晶圓和該透明基板一起切斷以將該一體化晶圓分割成一個個的發光二極體晶片。
- 如請求項1之發光二極體晶片的製造方法,其中在該透明基板加工步驟中所形成之前述凹陷的截面形狀為三角形、四角形、圓形的任一種。
- 如請求項1之發光二極體晶片的製造方法,其中在該透明基板加工步驟中,前述凹陷是藉由蝕刻、噴砂、雷射的任一種方式而形成。
- 如請求項1之發光二極體晶片的製造方法,其中該透明基板是以透明陶瓷、光學玻璃、藍寶石、透明樹脂的任一種所形成,並且在該一體化步驟中該透明基板是使用透明接著劑來貼附於該晶圓。
- 一種發光二極體晶片,具備: 於正面形成有LED電路的發光二極體、及貼附在該發光二極體的背面之透明構件,該透明構件於內部形成有複數個氣泡, 且在該透明構件之與該發光二極體的貼附面的相反側之面上形成有凹陷。
Applications Claiming Priority (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2016-216396 | 2016-11-04 | ||
JP2016216396A JP2018074110A (ja) | 2016-11-04 | 2016-11-04 | 発光ダイオードチップの製造方法及び発光ダイオードチップ |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
TW201830724A true TW201830724A (zh) | 2018-08-16 |
Family
ID=62079561
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
TW106133665A TW201830724A (zh) | 2016-11-04 | 2017-09-29 | 發光二極體晶片的製造方法及發光二極體晶片 |
Country Status (4)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP2018074110A (zh) |
KR (1) | KR102270094B1 (zh) |
CN (1) | CN108023012A (zh) |
TW (1) | TW201830724A (zh) |
Family Cites Families (24)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP4232585B2 (ja) * | 2003-09-17 | 2009-03-04 | 豊田合成株式会社 | 発光装置 |
JP4857596B2 (ja) * | 2004-06-24 | 2012-01-18 | 豊田合成株式会社 | 発光素子の製造方法 |
JP4812369B2 (ja) * | 2004-08-27 | 2011-11-09 | 京セラ株式会社 | 発光素子の製造方法 |
JP2006278751A (ja) * | 2005-03-29 | 2006-10-12 | Mitsubishi Cable Ind Ltd | GaN系半導体発光素子 |
KR20070000952A (ko) * | 2005-06-27 | 2007-01-03 | 주식회사 엘지화학 | 열방출이 개선된 전면발광형 발광다이오드 소자의 제조방법 |
JP5187610B2 (ja) * | 2006-03-29 | 2013-04-24 | スタンレー電気株式会社 | 窒化物半導体ウエハないし窒化物半導体装置及びその製造方法 |
WO2009017035A1 (ja) * | 2007-07-27 | 2009-02-05 | Asahi Glass Co., Ltd. | 透光性基板、その製造方法、有機led素子及びその製造方法 |
JP5495876B2 (ja) * | 2010-03-23 | 2014-05-21 | 株式会社ディスコ | 光デバイスウエーハの加工方法 |
JP2012038889A (ja) * | 2010-08-06 | 2012-02-23 | Koito Mfg Co Ltd | 蛍光部材および発光モジュール |
KR101726807B1 (ko) * | 2010-11-01 | 2017-04-14 | 삼성전자주식회사 | 반도체 발광소자 |
KR20120107271A (ko) * | 2011-03-21 | 2012-10-02 | 삼성전자주식회사 | 발광소자 패키지 및 그 제조 방법 |
CN104160520A (zh) * | 2012-02-01 | 2014-11-19 | 松下电器产业株式会社 | 半导体发光元件、其制造方法和光源装置 |
JP5941306B2 (ja) | 2012-03-19 | 2016-06-29 | スタンレー電気株式会社 | 発光装置およびその製造方法 |
TWI581458B (zh) * | 2012-12-07 | 2017-05-01 | 晶元光電股份有限公司 | 發光元件 |
JP2014138176A (ja) * | 2013-01-18 | 2014-07-28 | Stanley Electric Co Ltd | 半導体発光装置 |
JP2014175354A (ja) | 2013-03-06 | 2014-09-22 | Disco Abrasive Syst Ltd | 発光ダイオード |
JP2014175362A (ja) * | 2013-03-06 | 2014-09-22 | Toshiba Corp | 半導体発光素子及びその製造方法 |
KR101426433B1 (ko) | 2013-04-30 | 2014-08-06 | 주식회사 세미콘라이트 | 반도체 발광소자를 제조하는 방법 |
CN108198918B (zh) * | 2013-05-15 | 2020-10-02 | 皇家飞利浦有限公司 | 具有衬底中的散射特征的led |
JP2014239123A (ja) * | 2013-06-06 | 2014-12-18 | 株式会社ディスコ | 加工方法 |
US9577164B2 (en) * | 2013-08-30 | 2017-02-21 | Asahi Kasei E-Materials Corporation | Semiconductor light emitting device and optical film |
KR20150092213A (ko) * | 2013-12-26 | 2015-08-12 | 신에쯔 세끼에이 가부시키가이샤 | 파장 변환용 석영 유리 부재 및 그 제조 방법 |
JP6255255B2 (ja) * | 2014-01-27 | 2017-12-27 | 株式会社ディスコ | 光デバイスの加工方法 |
JP2015192100A (ja) * | 2014-03-28 | 2015-11-02 | 豊田合成株式会社 | 発光素子および発光素子の製造方法 |
-
2016
- 2016-11-04 JP JP2016216396A patent/JP2018074110A/ja active Pending
-
2017
- 2017-09-29 TW TW106133665A patent/TW201830724A/zh unknown
- 2017-10-25 CN CN201711005653.9A patent/CN108023012A/zh active Pending
- 2017-11-01 KR KR1020170144554A patent/KR102270094B1/ko active IP Right Grant
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
CN108023012A (zh) | 2018-05-11 |
JP2018074110A (ja) | 2018-05-10 |
KR20180050231A (ko) | 2018-05-14 |
KR102270094B1 (ko) | 2021-06-25 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
TW201813127A (zh) | 發光二極體晶片的製造方法及發光二極體晶片 | |
TWI732047B (zh) | 發光二極體晶片的製造方法及發光二極體晶片 | |
JP2018148094A (ja) | 発光ダイオードチップの製造方法及び発光ダイオードチップ | |
JP2018186171A (ja) | 発光ダイオードチップの製造方法及び発光ダイオードチップ | |
TWI719214B (zh) | 發光二極體晶片的製造方法 | |
TWI742238B (zh) | 發光二極體晶片的製造方法及發光二極體晶片 | |
TWI739999B (zh) | 發光二極體晶片的製造方法 | |
TW201824592A (zh) | 發光二極體晶片的製造方法及發光二極體晶片 | |
TWI736738B (zh) | 發光二極體晶片的製造方法及發光二極體晶片 | |
JP6752524B2 (ja) | 発光ダイオードチップの製造方法及び発光ダイオードチップ | |
TW201830724A (zh) | 發光二極體晶片的製造方法及發光二極體晶片 | |
TW201830725A (zh) | 發光二極體晶片的製造方法 | |
TW201820654A (zh) | 發光二極體晶片的製造方法及發光二極體晶片 | |
TW201813149A (zh) | 發光二極體晶片的製造方法及發光二極體晶片 | |
JP2018186167A (ja) | 発光ダイオードチップの製造方法及び発光ダイオードチップ | |
JP2018186169A (ja) | 発光ダイオードチップの製造方法及び発光ダイオードチップ | |
JP2018186166A (ja) | 発光ダイオードチップの製造方法及び発光ダイオードチップ | |
JP2018186165A (ja) | 発光ダイオードチップの製造方法及び発光ダイオードチップ | |
TW201814199A (zh) | 發光二極體晶片的製造方法及發光二極體晶片 | |
JP2018186168A (ja) | 発光ダイオードチップの製造方法及び発光ダイオードチップ | |
JP2018148096A (ja) | 発光ダイオードチップの製造方法及び発光ダイオードチップ | |
JP2018148093A (ja) | 発光ダイオードチップの製造方法及び発光ダイオードチップ | |
JP2018148095A (ja) | 発光ダイオードチップの製造方法及び発光ダイオードチップ | |
JP2018186170A (ja) | 発光ダイオードチップの製造方法及び発光ダイオードチップ | |
JP2018129371A (ja) | 発光ダイオードチップの製造方法及び発光ダイオードチップ |