TWI701411B - 加熱調理器 - Google Patents

Abstract

[課題]提供使依每個被加熱物而異的電場強度分布接近均一，可進行抑制被加熱物的加熱不均的加熱的加熱調理器。 　　[解決手段]由輸入手段接受有關被加熱物的資訊的輸入，按照有關被加熱物的資訊，對於被加熱物，相較於其他天線旋轉角度，為電場強度分布相對較高的天線旋轉角度之時，係以天線旋轉速度成為相對較快的速度的方式控制驅動馬達、或以成為相對較低的微波輸出的方式控制微波振盪器，對於被加熱物，為電場強度分布相對較低的天線旋轉角度之時，以成為相對較慢的速度的方式控制驅動馬達、或以成為相對較高的微波輸出的方式控制微波振盪器。

Description

加熱調理器

本發明係關於加熱調理器，尤其係關於適於藉由微波振盪器來將食品加熱的加熱調理器。

以往在作為該類具代表性加熱調理器的微波爐中，係使用磁控管作為微波振盪器，對加熱室內供給藉由磁控管所發生的微波，使加熱室內的食品吸收微波能量，藉此將食品加熱。微波爐所使用的微波係例如頻率為915MHz～2450MHz，其波長為約12～33cm，小於微波爐爐內尺寸，因此在微波爐的加熱室內係發生定波。若在加熱室內發生定波，若在加熱室內配置有食品，依食品的位置，存在電場強度高的部分與低的部分，因此在加熱後的食品發生高溫部分與低溫部分，發生加熱不均。

因此，為了控制被食品吸收的微波的分布，考慮將食品載放在載置台而在加熱室內使食品旋轉的方法、或藉由使放射微波的天線旋轉來將加熱室內的定波分布進行旋轉控制的方法。在如上所示之構成的微波爐中，係使食品本身旋轉而使加熱室內的定波分布改變、或使由天線所放射的微波以一定速度旋轉而使加熱室內的定波分布改變，藉此以被食品吸收的微波能量不會在特定位置變強的方式進行控制。

此外，在微波爐中，以感測食品狀態的感測手段而言，廣泛使用感測食品的表面溫度的紅外線感測器、或感測食品重量的重量感測器。若使用紅外線感測器，推定由食品的溫度上升值至所希望的溫度為止的加熱時間，若使用重量感測器，則由食品的重量推定加熱花費的時間，分別設定加熱時間或輸出。

此外，亦已提出一種方法係以感測器檢測被加熱物的狀態，配合該狀態來控制天線的旋轉，使微波集中在被加熱物。

在專利文獻1中係記載一種微波加熱裝置，其係被設定最大輸出，若以溫度檢測手段所檢測到的溫度為預定溫度以下，對被配置在特定位置的輕量負荷，使阻抗整合，以可將微波直接集中照射的方式，控制旋轉天線的方向。

在專利文獻2中係記載一種加熱調理器，其具備有：具有比其他部位放出更多微波的多放出部的旋轉天線，若在配置有藉由溫度感測手段所檢測到的溫度高的被加熱物的區域、或配置有溫度低的被加熱物的區域有多放出部，藉由控制被傳播至調理室的微波的輸出量，使被溫度低的被加熱物吸收的微波能量的量增加。

在專利文獻3中係記載一種加熱調理器，其具有：檢溫手段、重量檢測手段、及旋轉天線，算出位置資訊，進行旋轉天線驅動手段的旋轉控制。 [先前技術文獻] [專利文獻]

[專利文獻1]日本特開2007-227282號公報 　　[專利文獻2]日本特開2013-53795號公報 　　[專利文獻3]日本特開2004-28361號公報

(發明所欲解決之課題)

在上述習知技術中，係使放射微波的天線旋轉，使由天線所放射的微波旋轉，藉此使加熱室內的定波分布改變。但是，對於被加熱物的電場強度分布係依成為對象的被加熱物而改變，因此僅使加熱室內的定波分布旋轉，並無法緩和依每個被加熱物而異的特有的電場強度分布的偏態。

此外，若從加熱最初即有電場強度分布的偏態時，即使使用各種感測器來感測被加熱物的狀態，例如冷凍肉解凍時，若一度發生加熱不均而形成溶解的部分時，因微波的介電特性，微波加熱會集中在溶解的部分，因此加熱不均更加擴大。

以下參照專利文獻1～3所記載之裝置，說明課題。 　　(1)專利文獻1所記載之微波利用裝置係朝向旋轉天線的微波的放射指向性強的部位，進行停止、往返運動、旋轉速度降低控制的控制方法，若欲使冷凍肉解凍等使被加熱物在0℃附近加熱結束時，使微波集中者。專利文獻1所記載之微波利用裝置反而冷凍肉變成過度加熱而煮熟，無法使對於被加熱物的電場強度分布接近均一，因此無法抑制加熱不均。 　　(2)專利文獻2所記載之加熱調理器係具備有感測複數被加熱物的溫度差的溫度感測部，在配置有溫度高的被加熱物的區域、及配置有溫度低的被加熱物的區域，改變微波輸出來控制加熱的構造，雖然為使用紅外線感測器的檢測值來縮小複數被加熱物的溫度差的構造，但是仍然無法使對於被加熱物的電場強度分布接近均一，因此無法抑制加熱不均。 　　(3)專利文獻3所記載之加熱調理器係由檢溫手段與重量檢測手段進行旋轉天線驅動手段的旋轉控制的構造，但是沒有意識到使對於被加熱物的電場強度分布接近均一，無法抑制加熱不均。 　　如上所示，在該等先前技術之例中，例如冷凍肉解凍等欲抑制被加熱物的不均來進行加熱時，有難以抑制加熱不均，例如欲解凍的冷凍肉的一部分保持結凍，另一方面，一部分變得過度加熱而煮熟的課題。

本發明之目的在提供對於依每個被加熱物而異的電場強度分布，接近均一，可進行抑制被加熱物的加熱不均的加熱的加熱調理器。 (解決課題之手段)

為達成上述目的，在本發明中，構成為一種高頻加熱裝置，其係具備有：收納食品的加熱室；發生微波的微波振盪器；控制加熱室內的微波分布之可旋轉的旋轉天線；驅動前述旋轉天線的驅動馬達；及輸入有關被加熱物的資訊的輸入手段，其由前述輸入手段接受有關前述被加熱物的資訊的輸入，按照有關前述被加熱物的資訊，對於前述被加熱物，相較於其他天線旋轉角度，為電場強度分布相對較高的天線旋轉角度之時，係以天線旋轉速度成為相對較快的速度的方式控制前述驅動馬達，對於前述被加熱物，為電場強度分布相對較低的天線旋轉角度之時，以成為相對較慢的速度的方式控制前述驅動馬達。

或者，構成為：由前述輸入手段接受有關前述被加熱物的資訊的輸入，按照有關前述被加熱物的資訊，對於前述被加熱物，以電場強度分布相對較高的天線角度進行逆轉，以不會通過電場強度分布相對較高的天線角度的方式控制前述驅動馬達。 (發明之效果)

藉由本發明，配合各個被加熱物，調整旋轉天線的旋轉速度而使對於被加熱物的平均電場強度接近均一，因此可進行抑制被加熱物的加熱不均的加熱。

以下參照圖示，詳加說明本發明之實施例。 [實施例1]

使用圖1至圖5，說明實施例1的構造。

圖1係由前面側觀看實施例1的加熱調理器的斜視圖，圖2係由前面側觀看實施例1的加熱調理器的剖面圖。圖3係由跟前上方觀看加熱調理器的分解斜視圖。圖4係將圖2所記載之加熱調理器的微波傳送路徑構造放大的部分剖面圖。圖5係由上方觀看加熱調理器的加熱室3的底面的上面圖。

本實施例之加熱調理器係具備有利用微波來將食品加熱的微波爐加熱功能，並未具備供食品旋轉的載置台之無旋轉平台式單功能微波爐(以下為微波爐)，惟本實施例亦可適用於具備有藉由加熱器所致之烤箱加熱功能的烤箱微波爐。此外，本實施例之加熱調理器係具備有磁控管7作為微波振盪器，但是本實施例亦可適用於具備有由半導體元件所構成的微波振盪器的烤箱微波爐。

[全體構成] 　　首先，說明微波爐(加熱調理器)之本體1的構造。如圖1與圖2所示，微波爐的本體1係具備有：前方形成開口的加熱室3、可在加熱室3的開口進行開閉的門2、及在加熱室3的下方的機械室4。門2係可藉由以上下方向旋動，來進行開閉。此外，以箱櫃10覆蓋加熱室3及機械室4，藉此構成微波爐的本體1。

在加熱室3的底面係配置有3個重量感測器40，且配置有在重量感測器40之上載置食品的載置台亦即平台板31。亦即，可藉由3個重量感測器40來計測載置於平台板31上的被加熱物9的總重量。此外，因配置有3個重量感測器40，可由重量感測器40的檢測值的比，來檢測被加熱物9的重心位置，亦即被加熱物9的配置位置。

在加熱室3的上面配置有紅外線感測器41。可藉由紅外線感測器41來檢測被載置於平台板31上的被加熱物9的表面溫度。在本體1係配置水槽11，藉由將被貯留在該水槽11的水加熱，對加熱室3供給蒸氣。

在此，若紅外線感測器41為具備有複數檢測元件、或具備有可掃描溫度檢測位置的驅動手段(未圖示)的感測器，可檢測平台板31上的複數位置的溫度，且檢測每個位置的表面溫度。此外，由於檢測溫度的面積變小，因此可測定表面積更小的被加熱物9的溫度。因此，利用此，可測定/掌握由紅外線感測器41的位置所觀看的食品的形狀、或每個部位的溫度。食品形狀或溫度的檢測精度係依檢測元件的數量或驅動方法而異，但是若為例如驅動8元件的感測器，且以感測器的掃描方向進行15分割來檢測溫度的構造，係可進行將平台板全體進行8×15=120分割的溫度檢測。

如圖3與圖4所示，在平台板31的下方的加熱室3的底面，係配置有天線收納部30及在其內部的旋轉天線5，此外在天線收納部30係透過導波管8而連接有磁控管7。在磁控管7所發生的微波係透過導波管8而由旋轉天線5朝加熱室3的方向被照射的構造。

平台板31係由陶瓷或玻璃等微波吸收量小而容易透過的材料所構成，若在平台板31上載置有食品等被加熱物9，可藉由從旋轉天線5被照射而透過平台板31的微波來將被加熱物9加熱。此外，平台板31係與加熱室3的底面為大致相同形狀，因此可將加熱室3的容積以最大限度寬廣使用。

在圖1及圖2中，輸入手段25係設在門2的前面下側的操作面板24，由以下構成：用以輸入被加熱物條件或微波加熱等加熱手段、加熱的時間等調理條件的操作部25b、及顯示由操作部25b被輸入的內容或加熱的進行狀態的顯示部25a。

將食品加熱調理時，首先，在平台板31之上載置被加熱物(食品)9，關閉門2，在操作面板24上指示加熱調理。按照所設定的加熱方法，對導波管8供給以磁控管7所被輸出的微波，且傳送至天線收納部30內部的旋轉天線5。被傳送至旋轉天線5的微波係通過平台板31而被放射至加熱室3內，被載置於平台板31上的被加熱物(食品)9吸收，因被轉換成熱能量，被加熱物(食品)9的溫度會上升。如以上所示，進行被加熱物(食品)9的加熱調理。

[微波傳送路徑構成] 　　接著，說明微波傳送路徑的詳細構造。如圖4與圖5所示，在加熱室3的底面係配置有被載置於3個重量感測器40上的平台板31，在平台板31的下方係連接有天線收納部30，而且在天線收納部30的下方係連接有導波管8，在天線收納部30內部係配置有旋轉天線5。此外，在導波管8與天線收納部30之間係設有作為開口部的導波管開口部80，貫穿至導波管開口部80而具備有天線軸51，在導波管8的下壁面之外具備有步進馬達6，在導波管8內部具備有馬達軸61。

旋轉天線5與天線軸51係分別由金屬材料構成，電性導通而相連接。馬達軸61係由樹脂等非金屬材料構成，旋轉天線5及天線軸51與導波管8的壁面並未作電性連接。因此，天線軸51與導波管開口部80係構成同軸傳送線路，微波直接在天線軸51及旋轉天線5流通，藉此將導波管8內部的微波傳送至天線收納部30的構造。被傳送至天線收納部30的微波係由旋轉天線5被放射至上方，透過平台板31而供給至加熱室3內。

馬達軸61與天線軸51係可連動地相連接，藉由將步進馬達6旋轉驅動，馬達軸61與和其相連接的天線軸51及旋轉天線5即旋轉。因此，藉由將步進馬達6旋轉驅動，可使旋轉天線5旋轉。

在本實施例中，驅動旋轉天線5的馬達係可控制旋轉速度與旋轉方向的步進馬達6，但是驅動馬達若可控制旋轉速度與旋轉方向，則馬達種類不拘。例如，若為DC馬達，可藉由以可使輸入電壓為可變的控制電路或相位控制進行驅動，來控制旋轉速度，若為AC馬達，可藉由以可使輸入頻率為可變的控制電路進行驅動，來調整旋轉速度。此外，在步進馬達6中係可以馬達單體感測現在的旋轉天線5的角度位置，但是藉由設置感測旋轉角度的感測器或開關，無論DC馬達或AC馬達，均可感測旋轉天線5的角度位置。

在此，若旋轉天線5為以特定方向放射微波之指向性高的天線形狀，可藉由旋轉天線5的旋轉角度，控制加熱室3內部的定波分布。亦即可移動電場強度高的高電場強度區域。例如，以圖5所示之旋轉天線5的方向，如圖5上對於被加熱物的高電場強度區域32所示，在加熱室3背面側(圖5上方向)，發生對於被加熱物9的電場強度高的定波(圖5中，旋轉天線5的角度為225度。以下，將位於高電場強度區域32的旋轉天線5的角度稱為高電場強度區域天線角度)。如圖6所示，該高電場強度區域32係藉由改變旋轉天線5的角度，位置會移動(圖6中，旋轉天線5的角度為315度)，此外，如圖7所示，若使旋轉天線5的位置更加旋轉，變得不具有對於被加熱物的電場強度高的高電場強度區域32。

[控制方法] 　　使用圖5與圖6，說明旋轉天線5的控制方法。圖6係由圖5的狀態使旋轉天線5朝右旋轉90度時的上面圖。

如圖6所示，若由圖5的狀態使旋轉天線5朝右旋轉90度，發生對於被加熱物9為電場強度高的定波，高電場強度區域32進行旋轉移動。但是，另外如圖7所示，若使旋轉天線5的位置更加旋轉，變得不具有對於被加熱物9的電場強度高的高電場強度區域32。因此，使其快速通過、或不通過對於被加熱物9為電場強度高的旋轉天線角度，藉此抑制對於被加熱物9的高電場強度區域32對被加熱物的影響，可進行抑制被加熱物9的加熱不均的加熱。

對於被加熱物9的高電場強度區域32係依固形的冷凍絞肉、或液體牛奶等被加熱物9的狀態而異。因此，在輸入手段25記錄各個產生對於被加熱物的高電場強度區域32的天線角度。接著，在由輸入手段25被輸入之對應被加熱物9的天線角度中，將旋轉數加速而使旋轉天線5進行動作。

例如若為在圖5至圖6的天線角度中具有高電場強度區域32的冷凍絞肉，以1周24秒(2.5轉/分鐘)使旋轉天線5旋轉，結果圖5至圖6為了使其快速通過，僅以該角度形成為1周12秒(5轉/分鐘)，以倍速使其旋轉，藉此抑制對於被加熱物9的高電場強度區域32的影響，加熱不均受到抑制。

[加熱方法] 　　使用圖8，說明以使用本實施例的構造的加熱調理器實際將被加熱物(食品)9加熱時的控制方法。圖8係本實施例之控制演算法。

首先，在步驟S1中，在將被加熱物(食品)9載置於平台板31上而將門2關閉的狀態下，由輸入手段25被輸入被加熱物資訊。若被輸入被加熱物資訊，在步驟S2中，由預先設定之各個對於被加熱物9的高電場強度區域天線角度，決定對應所被輸入的被加熱物9的高電場強度區域天線角度。在此，若由輸入手段25被輸入的被加熱物資訊為冷凍絞肉，高電場強度區域天線角度係角度225度～315度。

此外，若由輸入手段25被輸入的被加熱物資訊為液體牛奶，高電場強度區域天線角度係角度45度～120度。

若由輸入手段25被輸入的被加熱物資訊為冷凍披薩，高電場強度區域天線角度係角度90度～135度。

若由輸入手段25被輸入的被加熱物資訊為冷藏燒賣，高電場強度區域天線角度係角度0度～75度。

如上所示之對於被加熱物9的高電場強度區域天線角度係預先被記憶在記憶裝置，每逢由輸入手段25被輸入被加熱物資訊時，即由記憶裝置讀出，藉此取得高電場強度區域天線角度。

接著，在步驟S3中，在所決定的高電場強度區域天線角度中，對於其他角度，以成為倍速1周12秒(5轉/分鐘)的方式決定旋轉速度。換言之，在所決定的高電場強度區域天線角度以外的角度中，係以成為平常速度1周24秒(2.5轉/分鐘)的方式決定旋轉速度。

其中，亦可在高電場強度區域天線角度中，以成為平常速度1周24秒(2.5轉/分鐘)的方式決定旋轉速度，在所決定的高電場強度區域天線角度以外的角度中，以成為平常速度的一半1周48秒(1.25轉/分鐘)的方式決定旋轉速度。

在此，亦可按照被加熱物資訊是否為冷凍絞肉、液體牛奶、冷凍披薩、冷藏燒賣，將各個將高電場強度區域天線角度中的旋轉速度決定為1周12秒(5轉/分鐘)(冷凍絞肉)、1周20秒(3轉/分鐘)(液體牛奶)、1周10秒(6轉/分鐘)(冷凍披薩)、1周30秒(2轉/分鐘)(冷藏燒賣)。

接著，在步驟S11中檢測出被加熱物(食品)9的重量與初期溫度(例如，可以重量感測器40來檢測被加熱物(食品)9的重量。此外，可以紅外線感測器41來檢測被加熱物(食品)9的表面溫度)，因此，在步驟S4中，判別被加熱物(食品)9的重量與初期溫度，來判別被加熱物(食品)9的狀態(冷凍或冷藏等)。此外，由於可檢測被加熱物(食品)9的平面面積，因此配合被加熱物(食品)9的重量，推定食品的高度。

若可檢測被加熱物(食品)9的重量與初期溫度，根據步驟S4的判別，在步驟S5中，按照食品重量與所指示的加熱種類，設定磁控管7的輸出及加熱時間，以所設定的輸出驅動磁控管7，藉此開始加熱。藉由磁控管7所振盪的微波係透過導波管8而被傳送至天線收納部30，由旋轉天線5以加熱室3的方向被照射。由旋轉天線5被照射的微波係通過平台板31而被載置於平台板31上的食品吸收。

在此，按照重量感測器40與紅外線感測器41的檢測值、及按照所輸入的被加熱物9所設定的高電場強度區域天線角度，使天線旋轉速度變更，係在習知構造中並不存在之本實施例的特徵。首先，步進馬達6係感測加熱開始時的旋轉天線5的角度，與加熱開始同時，一邊將旋轉天線5藉由步進馬達6旋轉驅動一邊進行加熱，但是按照所被輸入的被加熱物9，按每個天線角度，將步進馬達6的旋轉速度調整為適當的旋轉速度。藉由如上所示進行控制，可使對於被加熱物9的電場強度平均化，抑制加熱不均。

一邊驅動磁控管7來進行加熱，一邊在步驟S6中，感測被加熱物(食品)9的溫度等。其感測結果係形成為步驟S21來記憶溫度。在步驟S7中，根據所被記憶的被加熱物(食品)9的溫度等，感測被加熱物(食品)9的狀態。若被加熱物(食品)9的狀態與假想不同，如在步驟S31中，藉由調整加熱時間來繼續磁控管7的驅動而持續加熱所示，而返回至步驟S6。另一方面，若食品狀態如假想所示，在步驟S8中，停止磁控管7的驅動而結束加熱。

其中，在本實施例中，在所決定的高電場強度區域天線角度中，對於其他角度，以成為倍速5轉/分鐘的方式決定旋轉速度，在其他天線角度中，係以成為平常速度2.5轉/分鐘的方式決定旋轉速度，但是以替代而言，高電場強度區域天線角度與其他角度之任一者均形成為平常速度2.5轉/分鐘，在高電場強度區域天線角度中，將磁控管7的輸出減半，在其他天線角度中係形成為平常輸出(在步驟S4的判別中所求出的磁控管的輸出)，藉此使依每個被加熱物而異的電場強度分布接近均一，可抑制被加熱物的加熱不均。 [實施例2]

接著，說明實施例2。在實施例2中，僅說明與實施例1不同的部分。因此，被省略說明的部分係與實施例1相同。使用圖9，說明實施例2。圖9係實施例2的控制演算法。本實施例之加熱調理器之特徵為將圖8的步驟S3置換成圖9的步驟S3-A，以不通過所決定的高電場強度區域天線角度的方式，以當已來到所決定的高電場強度區域天線角度時即進行逆轉的方式，決定天線旋轉方向變更角度，此點與實施例1不同。 [實施例3]

接著，說明實施例3。在實施例3中，僅說明與實施例1及實施例2不同的部分。旋轉天線5係周期進行旋轉，在第1周中，係在高電場強度區域天線角度中，對於其他角度，以成為倍速5轉/分鐘的方式決定旋轉速度，在其他天線角度中，係以成為平常速度2.5轉/分鐘的方式決定旋轉速度。在第2周中，高電場強度區域天線角度與其他角度之任一者均以成為平常速度2.5轉/分鐘的方式決定旋轉速度。在第3周中，係在高電場強度區域天線角度中，對於其他角度，以成為倍速5轉/分鐘的方式決定旋轉速度，在其他天線角度中，係以成為平常速度2.5轉/分鐘的方式決定旋轉速度。如上所示，在第奇數周，係以高電場強度區域天線角度使其進行倍速旋轉5轉/分鐘，在第偶數周，不需要倍速旋轉5轉/分鐘而全周形成為平常速度2.5轉/分鐘。

1‧‧‧本體2‧‧‧門3‧‧‧加熱室4‧‧‧機械室5‧‧‧旋轉天線6‧‧‧步進馬達7‧‧‧磁控管8‧‧‧導波管9‧‧‧被加熱物(食品)10‧‧‧箱櫃11‧‧‧水槽18‧‧‧外部排氣導管21‧‧‧玻璃窗22‧‧‧把手23‧‧‧外部排氣口24‧‧‧操作面板25‧‧‧輸入手段25a‧‧‧顯示部25b‧‧‧操作部30‧‧‧天線收納部31‧‧‧平台板32‧‧‧高電場強度區域40‧‧‧重量感測器41‧‧‧紅外線感測器51‧‧‧天線軸53‧‧‧旋轉軸61‧‧‧馬達軸80‧‧‧導波管開口部

圖1係由前面側觀看實施例1的加熱調理器本體的斜視圖。 　　圖2係由前面側觀看實施例1的加熱調理器本體的剖面圖。 　　圖3係由跟前上方觀看圖2所記載之加熱調理器的分解斜視圖。 　　圖4係將圖2所記載之加熱調理器的微波傳送路徑構造放大的部分剖面圖。 　　圖5係圖2所記載之加熱調理器的加熱室底面的上面圖。 　　圖6係由圖5所記載的上面圖，使旋轉天線朝右旋轉90度時的加熱室底面的上面圖。 　　圖7係顯示在圖5所記載的上面圖中，使旋轉天線進行1旋轉時的平均電場強度分布高的區域的模式圖。 　　圖8係使用圖1所記載之加熱調理器來將食品加熱調理時的演算法。 　　圖9係將實施例2之食品加熱調理時的演算法。

1‧‧‧本體

2‧‧‧門

10‧‧‧箱櫃

11‧‧‧水槽

18‧‧‧外部排氣導管

21‧‧‧玻璃窗

22‧‧‧把手

23‧‧‧外部排氣口

24‧‧‧操作面板

25‧‧‧輸入手段

25a‧‧‧顯示部

25b‧‧‧操作部

Claims (5)

1. 一種加熱調理器，其係具備有：收納食品的加熱室；發生微波的微波振盪器；控制加熱室內的微波分布之可旋轉的旋轉天線；驅動前述旋轉天線的驅動馬達；及輸入有關被加熱物的資訊的輸入手段，該加熱調理器之特徵為：另外具備有：預先記憶有對於前述被加熱物的高電場強度區域天線角度的記憶裝置，每逢由前述輸入手段被輸入有關前述被加熱物的資訊時，由前述記憶裝置讀出，藉此取得前述高電場強度區域天線角度，由前述輸入手段接受有關前述被加熱物的資訊的輸入，決定前述高電場強度區域天線角度，按照有關前述被加熱物的資訊，對於前述被加熱物，相較於其他天線旋轉角度，為電場強度分布相對較高的天線旋轉角度之時，係以天線旋轉速度成為相對較快的速度的方式控制前述驅動馬達，對於前述被加熱物，為電場強度分布相對較低的天線旋轉角度之時，以成為相對較慢的速度的方式控制前述驅動馬達。
2. 如申請專利範圍第1項之加熱調理器，其中，按照有 關前述被加熱物的資訊，決定將天線旋轉速度形成為相對較快的速度而開始的天線旋轉角度、及結束的天線旋轉角度。
3. 如申請專利範圍第1項之加熱調理器，其中，前述天線旋轉速度相對較慢的速度係比平常速度為更慢的速度。
4. 如申請專利範圍第1項之加熱調理器，其中，將前述天線旋轉速度相對加速係以預定周期進行。
5. 一種加熱調理器，其係具備有：收納食品的加熱室；發生微波的微波振盪器；控制加熱室內的微波分布之可旋轉的旋轉天線；驅動前述旋轉天線的驅動馬達；及輸入有關被加熱物的資訊的輸入手段，該加熱調理器之特徵為：另外具備有：預先記憶有對於前述被加熱物的高電場強度區域天線角度的記憶裝置，每逢由前述輸入手段被輸入有關前述被加熱物的資訊時，由前述記憶裝置讀出，藉此取得前述高電場強度區域天線角度，由前述輸入手段接受有關前述被加熱物的資訊的輸入，決定前述高電場強度區域天線角度，按照有關前述被 加熱物的資訊，對於前述被加熱物，以電場強度分布相對較高的天線角度進行逆轉，以不會通過電場強度分布相對較高的天線角度的方式控制前述驅動馬達。

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