TWI695301B - 輸入裝置 - Google Patents

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TWI695301B TW108102128A TW108102128A TWI695301B TW I695301 B TWI695301 B TW I695301B TW 108102128 A TW108102128 A TW 108102128A TW 108102128 A TW108102128 A TW 108102128A TW I695301 B TWI695301 B TW I695301B
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本西道治
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日商阿爾卑斯阿爾派股份有限公司
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Abstract

[課題] 提供一種就算是在被作了彎折的情況時，被設置於延出部處之導出配線也難以受到傷害之輸入裝置。 [解決手段] 輸入裝置(1)，係具備有：支持基材(15)；和感測器部(10)，係被設置在支持基材(15)之上，並具備有複數之電極部(第1電極(11)、第2電極(12))；和延出部(20)，係從支持基材(15)而朝向外側延出；和導出配線(41)，係沿著延出部(20)之第1主面(S1)而被設置，並與複數之電極部作導通；和可撓配線基板(8)，係於主面處具備有與導出配線(41)作導通之連接端子部(8a)，並被與延出部(20)之第1主面(S1)作對向配置，延出部(20)，係在延出端部(20E)和與支持基材(15)相連之連接基部(20B)之間，具備有對應於彎折之彎折對應部(BR0)，導出配線(41)，係在較彎折對應部(BR0)而更靠延出部(20)之延出端部(20E)側處而與連接端子部(8a)相導通，在位置於彎折對應部(BR0)處之導出配線(41)之全部之上，係被設置有被覆材(70)。

Description

輸入裝置
本發明，係有關於輸入裝置，特別是有關於具備有將手指等所作了接近的位置偵測出來之觸控感測器的輸入裝置。
作為輸入裝置而多所被利用之觸控面板，係具備有將手指等對於偵測區域而作了接近(以下，定義為在接近中為包含有接觸者)的位置檢測出來之觸控感測器。例如，在相互電容方式之觸控面板中，係被設置有驅動側之電極和輸出側之電極，並對於驅動側之電極賦予驅動脈衝，而藉由輸出側之電極來偵測出起因於手指等之接近所導致的電容變化。
在此種觸控面板中，係為了得到與檢測用之電極之間的導通，而在面板周緣部分處被設置有從支持基材起而朝向外側延出之延出部。在延出部處，係被形成有與偵測區域之電極作導通之導出配線和成為接地電位之接地用配線。又，在延出部之前端處，係被設置有用以與外部之連接器作連接之可撓配線基板。依存於設置觸控面板之製品的不同，係會有成為需要從觸控面板來使延出部一面作彎折一面作引繞而與連接器作連接的情形。在使此種延出部作了彎折的情況時，係會有在被與延出部一同作彎折的導出配線處發生碎裂或斷線等之問題之虞。
在專利文獻1中，係記載有一種輸入裝置，其係具備有：基材，係具備透光性以及可撓性；和第1電極部，係具備透光性，並在前述基材之上之檢測區域處而於第1方向上並排；和第2電極部，係具備透光性，並在前述基材之上之檢測區域處而於與前述第1方向相交叉之第2方向上並排；和複數之導出配線，係與前述複數之第1電極部以及前述複數之第2電極部之各者作導通，並從前述基材之上之前述檢測區域起而一直延伸存在至前述檢測區域之外側之周邊區域處，在前述基材之前述周邊區域處，係被設置有折曲部，前述導出配線，係具備有被設置在前述折曲部之上之可撓性導電構件，並且，係具備有以將被設置在前述折曲部之上之前述可撓性導電構件之至少一部分作覆蓋的方式所設置之被覆材。 [先前技術文獻] [專利文獻]
[專利文獻1] 國際公開第2017╱195451號
[發明所欲解決之課題]
從將導出配線之阻抗值降低的觀點來看，係會有要求將位置於折曲部處之導出配線不僅是設為於專利文獻1中所記載之可撓性導電構件而亦藉由具備有與構成位置在支持基材上之引繞圖案的材料同等之導電性之材料來構成的情形。針對此種情況，係存在有想要將對於被配置於在使用時會成為折曲部之位置處的導出配線之傷害更進一步降低的需求。
本發明之目的，係在於提供一種就算是在將位置於折曲部處之導出配線藉由與位置在基材上之引繞圖案相同的材料來構成的情況時，也能夠抑制對於被設置在延出部處之導出配線所造成的傷害之輸入裝置。 [用以解決課題之手段]
為了解決上述課題，本發明之其中一個態樣，係為一種輸入裝置，其特徵為，係具備有：支持基材；和感測器部，係被設置在前述支持基材之上，並具備有複數之電極部；和延出部，係從前述支持基材而朝向外側延出；和導出配線，係沿著前述延出部之第1主面而被設置，並與前述電極部作導通；和可撓配線基板，係於主面處具備有與前述導出配線作導通之連接端子部，並被與前述延出部之前述第1主面作對向配置，前述延出部，係在延出端部和與前述支持基材相連之連接基部之間，具備有對應於彎折之彎折對應部，前述導出配線，係在較前述彎折對應部而更靠前述延出部之前述延出端部側處而與前述連接端子部相導通，在位置於前述彎折對應部處之前述導出配線之全部之上，係被設置有被覆材。
若依據此種構成，則就算是在使彎折對應部之一部分或者是全部作了彎折的情況時，亦由於在位置於彎折對應部處之導出配線(彎折部導出配線)之全部之上均被設置有被覆材，因此，就算是在彎折部導出配線並未由可撓性導電構件所構成並例如由金屬系之導電性材料所構成的情況時，亦能夠對起因於伴隨著彎折所導致的拉張應力而造成在彎折部導出配線處發生龜裂的情形作抑制。
較理想，係構成為：前述導出配線和前述連接端子部，係藉由導電性接合構件而被可導通地作接合，用以形成前述導電性接合構件之接合構件，係被延伸設置於前述彎折對應部之上，基於該接合構件所成之構件，係構成前述被覆材之至少一部分。構成被覆材之材料，只要是能夠將彎折部導出配線之全部作覆蓋，則係並不被特別作限定。只要使用以形成導電性接合構件之構件被延伸設置於彎折對應部之上並構成被覆材之至少一部分，則由於就算是當延出部之彎折對應部為從在可撓配線基板之配線基板處的連接基部側之端部起而起始的情況時，被覆材亦能夠將彎折導出配線適當地作覆蓋，因此係能夠抑制彎折導出配線之龜裂。導電性接合構件，係可藉由使向異性導電接著劑在加壓狀態下而硬化，來得到之。係可藉由使此向異性導電接著劑例如將加壓之程度降低而使其硬化，來得到能夠作為被覆材而起作用之非導電性硬化物。
係亦可構成為：前述可撓配線基板，係具備有較前述連接端子部而更延出至前述感測器部側之延伸存在基板部，前述延伸存在基板部，係構成前述被覆材之一部分。在可撓配線基板為具備有延伸存在基板部的情況時，此延伸存在基板部係成為位置在彎折導出配線之上方處。其結果，彎折導出配線，係成為被包夾於此延伸存在基板部與支持基材之間，在被作了彎折時，彎折導出配線係位置於厚度方向之中立面的近旁處。因此，在作了彎折時，係成為難以在彎折導出配線處產生強的拉張應力。故而，就算是在延出部之彎折的程度為大的情況時，也難以在彎折導出配線處產生龜裂。
係亦可構成為：係更進而具備有被設置在前述支持基材之上之功能層，前述功能層，係被延伸設置於前述彎折對應部之上，並構成前述被覆材之一部分。作為上述功能層之其中一例，係可列舉出保護層。係會有被設置有用以將位置於感測器部之支持基材之上的電極部和與電極部作導通之引繞圖案作物理性、化學性保護之保護層的情況。若是此保護層一直被延伸設置至延出部之彎折對應部處，則彎折導出配線，係成為被包夾於此保護層與支持基材之間，在被作了彎折時，彎折導出配線係位置於厚度方向之中立面的近旁處，在彎折導出配線處係成為難以產生強的拉張應力。故而，就算是在延出部之彎折的程度為大的情況時，也難以在彎折導出配線處產生龜裂。上述之保護層，係可具有單層構造，亦可具有層積構造。
前述功能層，係亦可包含有前述光學層。作為光學層之具體例，係可列舉出偏光板。
在上述輸入裝置中，係亦可構成為：位置於前述彎折對應部處之前述導出配線，係具備有在從前述第1主面之法線方向作觀察時為蛇行的蛇行部。就算是在延出部以將延出方向作為周方向的方式而被作彎折並在彎折導出配線所位置之側之面處產生有拉張應力的情況時，藉由具備有此種蛇行部，因應於相對於延出部之延出方向的蛇行部之傾斜，施加在彎折導出配線處之拉張應力亦會有所衰減。故而，就算是在延出部之彎折的程度為大的情況時，也難以在彎折導出配線處產生龜裂。
在上述輸入裝置中，係亦可構成為：前述支持基材以及前述延出部，係由包含有環烯系聚合物之透光性材料所成。環烯烴聚合物(COP)、環烯烴共聚物(COC)等之將環烯烴作為單體之至少一部分而包含的聚合物(在本說明書中，係亦將此聚合物稱作「環烯烴系聚合物」)，從光等向性為高並且在耐熱性上亦為優良的觀點來看，係適合作為支持基材以及延出部之構成材料。然而，包含環烯烴系聚合物之薄膜，例如相較於聚酯系之薄膜，其可撓性係為低。因此，在並未被設置有覆蓋彎折導出配線之被覆材的情況時，若是對於構成延出部之包含有環烯烴系聚合物之薄膜而施加有彎折力，則在厚度方向上之中立面係會位置於構成延出部之薄膜內。因此，係並無法藉由位置於彎折部處之薄膜構成材料的伸長或壓縮來完全吸收內部應力，而會有在構成延出部之薄膜處產生碎裂之虞。若是在此薄膜處產生有碎裂，則在被形成於其之上的導出配線係特別會產生強的拉張應力。然而，在如同上述一般之於導出配線之上被設置有被覆材的情況時，導出配線係成為被延出部和被覆材所包夾的狀態，彎折導出配線係成為在厚度方向上而位置於中立面的近旁處。因此，就算是在彎折對應部被作了彎折的情況時，在導出配線處產生強的拉張應力的可能性亦係被抑制。又，係亦能夠設為使中立面不會位置在構成延出部之薄膜內，於此情況，由於在薄膜之厚度方向上的應力變化係變少，因此，就算是在構成延出部之薄膜為包含有環烯烴系聚合物的情況時，在彎折部處亦成為難以於延出部處產生碎裂。
在上述輸入裝置中，係亦可構成為：前述複數之電極部和前述導出配線，係藉由被設置在前述支持基材之上之引繞圖案而被作電性連接，位置於前述彎折對應部處之前述導出配線，係由構成前述引繞圖案之材料所構成。藉由將構成引繞圖案之材料和構成彎折導出配線之材料共通化，係成為易於將位置於感測器部處之複數之電極部與可撓配線基板之連接端子部之間之配線的阻抗降低。
在上述輸入裝置中，較理想係構成為：在前述支持基材處之位置於與位置在和前述延出部之前述第1主面相同側處的基材第1主面相反側處的基材第2主面，係位置於前述輸入裝置之操作面側。於此種構成的情況時，通常，在使用時，係以使延出部位置於外側並使被設置在其之第1主面處的彎折導出配線成為內側的方式而被作彎折。在此種彎折的情況時，由於係難以在被作了彎折的導出配線處產生拉張應力，因此係難以在導出配線處產生碎裂。當輸入裝置為更進而具備有被與前述基材第2主面作對向配置之面板部的情況時，由於以上述一般之彎折方式(相較於延出部而彎折導出配線為位置於更內側處一般的彎折方式)而被作使用的可能性係提高，因此係為理想。 [發明之效果]
係提供一種就算是在將位置於折曲部處之導出配線藉由與位置在基材上之引繞圖案相同的材料來構成的情況時，也能夠抑制對於被設置在延出部處之導出配線所造成的傷害之輸入裝置。
以下，根據圖面，對於本發明之實施形態作說明。另外，在以下之說明中，對於相同之構件，係附加相同之元件符號，針對已作過說明的構件，係適宜省略其說明。
(適用有輸入裝置之介面裝置) 圖1，係為對於被適用有本發明之第1實施形態的輸入裝置1之介面裝置100作例示之分解立體圖。圖2(a)，係為圖1之A-A線剖面圖。圖2(b)，係為將圖2(a)之折曲部BR近旁作了擴大之部分剖面圖。圖2(c)，係為將在圖2(b)中所示之輸入裝置1處的被作彎折前之狀態之延出部20以及被附加設置於此處之構件作了擴大的剖面圖。在圖2(c)中，針對被設置在支持基材15之上的透明接著層5和面板部3b等，係將圖示作省略。
如同圖1以及圖2中所示一般，被適用有本發明之第1實施形態的輸入裝置1之介面裝置100，係具備有框體3。框體3，係藉由本體箱部3a和面板部3b之組合而被構成。另外，為了方便說明，本體箱部3a係僅在圖2(a)中以虛線來作標示。本體箱部3a，例如係藉由合成樹脂材料而被形成。本體箱部3a，係被形成為使上方開口之箱形狀。面板部3b，係以覆蓋本體箱部3a之開口部的方式而被作配置。面板部3b之外側(Z1-Z2方向之Z2側)之面，係成為介面裝置100之操作面OS。
面板部3b，係藉由玻璃或聚碳酸酯樹脂或丙烯酸樹脂等之透明性樹脂材料所形成。另外，在本說明書中，所謂「透光性」以及「透明」，係指可視光線透射率為50%以上(較理想為80%以上)的狀態。
在面板部3b之內側處，係被配置有輸入裝置1。輸入裝置1，係具備有：支持基材15；和感測器部10，係被設置在支持基材15之上，並具備有複數之電極部(第1電極11、第2電極12)；和延出部20，係從支持基材15而朝向外側(X1-X2方向之X2側)延出；和導出配線41，係沿著延出部20之第1主面S1而被設置，並與複數之電極部(第1電極11、第2電極12)作導通；和可撓配線基板8，係於主面(第2主面S2)處具備有與導出配線41作導通之連接端子部8a，並被與延出部20之第1主面S1作對向配置。在圖1中，係將可撓配線基板8之標示省略。
輸入裝置1，例如係為觸控面板。輸入裝置1，係可被安裝在液晶顯示面板、電致發光顯示面板等之顯示裝置7之上，亦可被安裝在裝飾部(未圖示)之上。感測器部10，例如係為靜電電容式之觸碰感測器，並根據當手指等接近了偵測區域SA處的情況時之靜電電容之變化，而進行位置檢測。感測器部10，係被配置在15之上，具體而言，係被配置在Z1-Z2方向之Z2側之主面(基材第1主面S0)之上。支持基材15，係藉由由PET(Polyethylene Terephthalate)等之聚酯系樹脂薄膜、COP(環烯烴聚合物)、COC(環烯烴共聚物)等之環烯烴系聚合物之薄膜等的透光性材料所成之可撓性薄膜、丙烯酸樹脂、聚碳酸酯樹脂等之透光性板材等，而被形成。支持基材15，係在面板部3b之內面處，藉由由透明接著劑(OCA：Optically Clear Adhesive)所成之透明接著層5而被作接著。
在支持基材15處之偵測區域SA中，係具備有身為透光性之電極部的第1電極11以及第2電極12。第1電極11，係在沿著支持基材15之表面的其中一個方向(例如，X方向)上而延伸存在，第2電極12，係在沿著支持基材15之表面的與其中一個方向相正交之方向(例如，Y方向)上而延伸存在。第1電極11以及第2電極12，係相互被絕緣。在本實施形態中，係於Y方向上以特定之節距而被配置有複數之第1電極11，並於X方向上以特定之節距而被配置有複數之第2電極12。
構成第1電極11以及第2電極12的電極之圖案，係存在有各種圖案，但是，在本實施形態中，第1電極11以及第2電極12之各者，係具備有複數之島狀電極部。各島狀電極部，例如係具備有接近於菱形之形狀。在第1電極11以及第2電極12處，係使用有透光性導電材料(ITO(Indium Tin Oxide)、SnO2 、ZnO、導電性奈米材料、被形成為網格狀之金属材料等)。
在支持基材15之身為偵測區域SA之外側的周邊區域處，係延伸存在有將第1電極11以及第2電極12作導通之導出圖案150。如同圖2(b)中所示一般，導出圖案150，係藉由與導出配線41作導通，而將對應於第1電極11以及第2電極12之導通線從周邊區域起來一直延伸至延出部20之前端部處。
延出部20，係為從支持基材15之緣部分起來朝向外側(具體而言，X1-X2方向之X2側)延出而被作設置之部分，而能夠與支持基材15成為一體，亦能夠作為相獨立之部分而被與支持基材15作連接。在延出部20處，係使用有PET等之聚酯系薄膜、包含有COP、COC等之環烯烴系聚合物之薄膜等的具備有可撓性之薄膜材料。在本實施形態之輸入裝置1中，延出部20和支持基材15係成為一體，在支持基材15處之身為被設置有第1電極11以及第2電極12之側的主面之基材第1主面S0處，係亦被設置有引繞圖案150。
在延出部20之第1主面S1處，與第1電極11以及第2電極12作導通之複數之導出配線41，係相互平行地而被作設置。在本實施形態之輸入裝置1中，各導出配線41，係沿著延出部20之第1主面S1，來從支持基材15側起朝向前端而延伸存在，在延出端部20E側處，係被設置有電極墊42。在本實施形態之輸入裝置1中，第1主面S1，係為與基材第1主面S0相連續之主面。導出配線41，係由導電性材料所構成。作為導出配線41之具體性的構成例，係可列舉出由非金屬導電材料(例如ITO)所成之層、由金屬等(例如Cu、Cu-Ni合金)所成之層、由金屬(例如Cu)所成之層與由合金(例如Cu-Ni合金)所成之層之層積體、由金屬等(例如Cu、Cu-Ni合金)所成之層與由非金屬導電材料(例如ITO)所成之層之層積體等。
如同圖1以及圖2中所示一般，在使用時，延出部20係成為作了折曲的狀態，在延出部20之延出端部20E和延出部20之與支持基材15相連的連接基部20B之間，係具備有折曲部BR。位置於此種折曲部BR處的導出配線41，由於係容易受到傷害，因此，輸入裝置1係在延出端部20E與連接基部20B之間，具備有對應於彎折之彎折對應部BR0。關於彎折對應部BR0之構成的詳細內容，係於後再述。
在框體3之內部，係被收容有被與延出部20作接合之可撓配線基板8。可撓配線基板8之基板，例如係由聚醯亞胺薄膜所構成。可撓配線基板8，係於主面(第2主面S2)處具備有與配線基板41相導通之連接端子部8a，並被與延出部20之第1主面S1作對向配置。又，在框體3之內部，係被收容有液晶顯示面板或電致發光顯示面板等之顯示裝置7。顯示裝置7之顯示畫像，係能夠透過支持基材15以及面板部3b而從外側(操作面OS側)作目視。
導出配線41，係在較彎折對應部BR0而更靠延出部20之延出端部20E側處、具體而言係在被設置於導出配線41之延出端部20E側之端部處的電極墊42處，被與連接端子部8a作導通。如同圖2(b)中所示一般，電極墊42與連接端子部8a之間，係藉由導電性接合構件61而被作導通。具體而言，導電性接合構件61，係由向異導電性接著劑之加壓硬化物所成，此加壓硬化物，係為使向異導電性接著劑在電極墊42與連接端子部8a之間於被作了加壓的狀態下而硬化者，並沿著加壓方向而實現有朝向圖2(b)中之X1-X2方向的向異導電性。彎折對應部BR0之延出端部20E側之端部(在圖2(c)中係為X1-X2方向之X2側之端部)，係為與導出配線41之電極墊42之間之連接部。
在導出配線41中之位置於此彎折對應部BR0之部分(在本說明書中，係亦將此部分稱作「彎折導出配線41B」)的全部之上，係被設置有被覆材70。在本實施形態之輸入裝置1中，可撓配線基板8係具備有延伸設置至連接基部20B側處之延伸存在基板部8E，並構成被覆材70之一部分。彎折對應部BR0之連接基部20B側之端部(在圖2(c)中係為X1-X2方向之X1側之端部)，係為延伸存在基板部8E之前端(連接基部20B側之端部)。
在延伸存在基板部8E之與第1主面S1相對向之主面S2處，用以形成導電性接合構件61之接合構件(向異性導電性接着劑)係被延伸設置至彎折對應部BR0之上，並覆蓋彎折導出配線41B之全體。此接合構件，係藉由較在形成導電性接合構件61時而更弱之加壓或者是無加壓而被硬化，並作為並不具備有向異導電性之非導電性硬化物62而固著於彎折導出配線41B處，並且構成被覆材70之一部分。如此這般，由延伸存在基板部8E和非導電性硬化物62之層積構造體所成之被覆材70，係被設置在彎折導出配線41B之全部之上。
作為向異性導電接著劑之具體例，係如同在圖2(b)中所示一般，可列舉出在硬化性樹脂系材料中分散有導電性粒子(作為具體例，係可列舉出直徑5μm程度之Ni粒子)者。藉由一面進行加壓一面使其硬化，係可得到使朝向厚度方向之導電性被特異性地作了提高的硬化物(導電性接合構件61)。另一方面，若是並不進行加壓地或者是以弱的加壓力來使其硬化，則係成為並不特別具備有導電性之非導電性之硬化物(非導電性硬化物62)。故而，就算是將非導電性硬化物62作為被覆材70之一部分而直接性地設置在彎折導出配線41B之上，在配線間也不會有短路的情形。
就算是在使彎折對應部BR0之一部分或者是全部(在圖1或圖2中，彎折對應部BR0之一部分係被作彎折並成為折曲部BR)作了彎折的情況時，亦由於在彎折導出配線41B之全部之上均被設置有被覆材70，因此，起因於伴隨著彎折所導致的拉張應力而造成在彎折導出配線41B處發生龜裂的情形係被作抑制。針對此點，使用圖3來作詳細之說明。
圖3(a)，係為對於先前技術之輸入裝置的折曲部BR之狀態作說明之部分剖面圖。圖3(b)，係為對於第1實施形態之輸入裝置1的折曲部BR之狀態作說明之部分剖面圖。如同圖3(a)中所示一般，在使延出部20與導出配線41被作了層積之構成的情況中，通常，延出部20之厚度係為數十μm，相對於此，由於導出配線41係為1μm以下，因此，厚度方向之中立面CS0係位置於延出部20之內部。在較中立面CS0而更內側處，係產生有壓縮應力σ-，在較中立面CS0而更外側處，係產生有拉張應力σ+。在中立面CS0處，面內方向之應力係相互抵消。
在圖3(a)所示之構成中，由於導出配線41係位置在從中立面CS0而離開的最外側處，因此在導出配線41處係產生有高的拉張應力σ+。故而，起因於被作彎折一事，導出配線41係容易受到傷害。又，如同上述一般，由於中立面CS0係位置於延出部20之內部，因此，構成延出部20之材料的在厚度方向上之應力變化係容易變大。故而，在延出部20為藉由包含環烯烴系聚合物之薄膜所構成的情況時，係會有薄膜無法耐住此應力變化並發生碎裂等的問題之虞。
相對於此，在第1實施形態之輸入裝置1中，於彎折對應部BR0處，如同圖3(b)中所示一般，被設置在延出部20之第1主面S1之上的導出配線41(彎折導出配線41B)，係藉由由延伸存在基板部8E以及非導電性硬化物62所成之層積構造體而被作覆蓋。因此，厚度方向之中立面CS1，係位置於彎折導出配線41B之內部。故而，就算是延出部20被作彎折，在彎折導出配線41B處也不會產生高的拉張應力σ+，彎折導出配線41B係難以受到傷害。
又，在圖3(b)所示之構成中，延出部20由於其之全體係均位置在較中立面CS1而更內側處，因此在延出部20處係僅會產生壓縮應力σ-。故而，相較於在圖3(a)中所示之構成，構成延出部20之材料的在厚度方向上之應力變化係為少。故而，就算是延出部20為藉由包含環烯烴系聚合物之薄膜所構成，也難以發生碎裂等的問題。
在圖1以及圖2中所示之輸入裝置1中，雖然被覆材70係由延伸存在基板部8E以及非導電性硬化物62所構成，但是，係並不被限定於此。被覆材70，係可由非導電性硬化物62所構成，亦可並非為以向異性導電接著劑而是以通常之接著性材料之硬化物來構成被覆材70。針對其他之例子，使用圖4來作說明。
圖4(a)，係為用以對於在第1實施形態之輸入裝置1之其他例中的被作彎折前之狀態之延出部20以及被附加設置於此處之構件(於本說明書中，係亦稱作「延出部等」)的構成作說明之圖。圖4(b)，係為用以對於第1實施形態之輸入裝置1的其他例之延出部等之構成作說明之圖。在圖4所示之各圖中，針對被設置在支持基材15之上的透明接著層5和面板部3b等，係將圖示作省略。
在圖4(a)以及圖4(b)中所示之延出部等之基本性的構成，係與圖1以及圖2中所示之輸入裝置1之延出部等共通，但是，在圖4(a)以及圖4(b)中所示之延出部等，係使從感測器部10側起而延伸存在於延出部20之上的功能層43構成被覆材70之一部分，於此點上，係為相異。作為功能層43之具體例，係可列舉出用以防止引繞圖案150和導出配線41被腐蝕的保護層、用以保護第1電極11以及第2電極12免於被腐蝕的保護層、位置於感測器部10和面板部3b之間之偏光板等之光學層。功能層43，係亦可具備有將此些之複數之層作了層積的構造。
在圖4(a)所示之例中，被覆材70，係由位置在彎折導出配線41B之上之由保護層所成之功能層43和非導電性硬化物62以及延伸存在基板部8E所成。在圖4(b)所示之例中，被覆材70，係由位置在彎折導出配線41B之上之由光學層所成之功能層43和非導電性硬化物62以及延伸存在基板部8E所成。構成功能層43之光學層，係可使其自身具備有用以實現對於其他之層之固定的層，亦可如同圖4(b)中所示之例一般地而另外設置接著層431。在圖4(b)所示之例中，由光學層所成之功能層43，係在彎折導出配線41B之上，藉由由透明接著劑所成之接著層431而作附著。
藉由如此這般地使被覆材70由包含有功能層43和非導電性硬化物62以及延伸存在基板部8E之層積體所構成，係成為易於使在作了彎折時容易受到傷害的彎折導出配線41B位置在厚度方向之中立面CS1之近旁或者是中立面CS1之內側。故而，就算是在使彎折對應部BR0以會使延出部20成為內側的方式來作了彎折的情況時，在拉張應力σ+會成為最大的最外側處，係存在有延伸存在基板部8E，而難以在彎折導出配線41B處產生破斷等之問題。
圖4(c)，係為用以對於在圖4(b)中所展示之延出部等之變形例的構成作說明之圖。如同圖4(c)中所示一般，在本例之構成中，彎折對應部BR0，係於延出部20之延出方向(X1-X2方向)上具備有相異之複數之構造。在延出端部20E側(X1-X2方向之X2側)處，位置於彎折導出配線41B之上的被覆材70，係由非導電性硬化物62以及延伸存在基板部8E所構成。在連接基部20B側(X1-X2方向之X1側)處，位置於彎折導出配線41B之上的被覆材70，係由由光學層所成之功能層43以及接著層431所構成。構成接著層431之材料，係可為透明接著劑，亦可為構成非導電性硬化物62之材料。在圖4(c)中，係作為具體例，而展示有接著層431為由亦在圖4(b)所示之延出部等處而有所使用的透明接著劑所構成的情況。而，在圖4(c)中之被標示為重複部分OL的部份處，被覆材70，係由從延出端部20E側(X1-X2方向之X2側)起而延伸的延伸存在基板部8E和從連接基部20B側(X1-X2方向之X1側)起而延伸的功能層43以及接著層431所構成。如此這般，被覆材70，係亦可在延出方向上具備有相異之構成。就算是在此種情況時，亦只要將彎折導出配線41B之全體藉由被覆材70來作覆蓋即可。
圖4(d)，係為用以對於第1實施形態之輸入裝置的又一其他例之延出部等之構成作說明之圖。在圖4(d)所示之構成中，位置於彎折對應部BR0處之彎折導出配線41B之至少一部分，係並非為由構成引繞圖案150之材料所構成，而是由可撓性導電構件13所構成。可撓性導電構件13之具體性之構成的其中一例，係如同在專利文獻1中所示一般，為由第1非晶質ITO層和導電層以及第2非晶質ITO層之層積體所成。在圖4(d)中，可撓性導電構件13，係在延出端部20E側(X1-X2方向之X2側)處以與和電極墊42作導通之彎折導出配線41B相重疊的方式而被作設置，並對於彎折導出配線41B而被作電性連接，又，係在連接基部20B側(X1-X2方向之X1側)處以與和引繞圖案150作導通之彎折導出配線41B(故而，位置在較彎折對應部BR0而更靠X1-X2方向之X1側的部份，係成為導出配線41)相重疊的方式而被作設置，並對於彎折導出配線41B而被作電性連接。
又，當係具備有被與位置於感測器部10處之複數之電極部(第1電極11、第2電極12)作電性絕緣並相互交叉之交叉部，並且此交叉部亦係由上述之可撓性導電構件13所構成的情況時，由於係能夠藉由用以形成具備有複數之電極部(第1電極11、第2電極12)之感測器部10的製造製程來形成位置於彎折導出配線41B處之可撓性導電構件13，因此係為理想。另外，在如此這般地藉由與交叉部相同之製程來形成可撓性導電構件13的情況時，如同在圖4(d)中所示一般，係會有先在延出端部20E之第1主面S1上形成絕緣層131，之後再形成可撓性導電構件13的情況。於此情況，絕緣層131，係以使身為彎折導出配線41B之可撓性導電構件13從彎折對應部BR0之厚度方向之中立面而遠離的方式而起作用。
圖5，係為對於被適用有本發明之第2實施形態的輸入裝置之介面裝置作例示之分解立體圖。圖6(a)，係為圖5之B-B線剖面圖。圖6(b)，係為將圖6(a)之折曲部BR近旁作了擴大之部分剖面圖。圖6(c)，係為對於第2實施形態之輸入裝置的折曲部BR之狀態作說明之部分剖面圖。
如同圖5以及圖6(a)中所示一般，第2實施形態的輸入裝置1A，係與圖1以及圖2等中所示之第1實施形態之輸入裝置1之基本性的構成共通，但是，在介面裝置100處之配置上係為相異。具體而言，第1實施形態之輸入裝置1，係以使位置於與延出部20之第1主面S1相同之側的基材第1主面S0會位置在操作面OS側(Z1-Z2方向之Z2側)的方式而被作配置，但是，第2實施形態之輸入裝置1A，係以使身為與基材第1主面相反側之主面的基材第2主面S3會位置在操作面OS側(Z1-Z2方向之Z2側)的方式而被作配置。
因此，如同圖6(b)中所示一般，在第2實施形態之輸入裝置1A之折曲部BR處，以使延出部20係位置於外側並且延伸存在基板部8E係位置於內側的方式，延出部20係被作彎折。在如此這般地而使延出部20彎折的情況時，起因於延出部20相對性而言為較厚而延伸存在基板部8E相對性而言為較薄等的理由，就算是中立面CS1為位置於延出部20之內部，亦如同圖6(c)中所示一般，彎折導出配線41B係成為會位置在較中立面CS1而更內側處。故而，起因於彎折而在彎折導出配線41B處所產生的應力，係成為壓縮(壓縮應力σ-)，在彎折導出配線41B處係難以產生碎裂等的問題。
圖7，係為用以對於本發明之第3實施形態之輸入裝置1B的延出部等之構成作說明之圖。在圖7中，基於易於理解的觀點，係僅展示有感測器部10及引繞圖案150和延出部20及導出配線41(包含彎折導出配線41B以及電極墊42)。
圖7中所示之輸入裝置1B之延出部等之基本性的構成，係與在圖1～圖4(c)中所示之輸入裝置1之延出部等共通，但是，在從第1主面S1之法線方向(Z1-Z2方向)來作觀察時，彎折導出配線41B係具備有蛇行部41W，在此點上，係為相異。蛇行部41W，係身為使彎折導出配線41B在延出部20上之X-Y面內而具備有從Y1-Y2方向起來朝向X1-X2方向之X1側傾斜之部分和從Y1-Y2方向起來朝向X1-X2方向之X2側傾斜之部分的部分。就算是在延出部20之第1主面S1被作彎折並在彎折導出配線41B處產生有拉張應力σ+的情況時，因應於相對於延出部20之延出方向(Y1-Y2方向)的蛇行部41W之傾斜，施加在彎折導出配線41B處之拉張應力σ+亦會有所衰減。故而，就算是在延出部20之彎折的程度為大的情況時，也難以在彎折導出配線41B處產生碎裂等的問題。如此這般，由於輸入裝置1B之彎折導出配線41B的對於彎折之耐性係為強，因此，輸入裝置1B，在介面裝置100處，係能夠以使基材第1主面S0位置在操作面OS側的方式來作配置，亦能夠以使基材第2主面S3位置在操作面OS側的方式來作配置。
(適用例) 圖8，係為對於本發明之其中一個實施形態的輸入裝置1、1A、1B之適用例作展示之示意圖。在圖8中，係對於將本實施形態之輸入裝置1對於汽車等之移動體V之儀表面板P以及中央控制台箱(floor console)F作了適用的例子作展示。在圖7所示之例中，介面裝置100，係連續於儀表面板P以及中央控制台箱F地而被連續配置，在儀表面板P和中央控制台箱F之各者處係被設置有輸入裝置1。
例如，在儀表面板P處，係存在有並未被設置有裝飾薄膜200之裝飾層22的部分(非形成區域22b)，輸入裝置1之偵測區域SA，係以包含有非形成區域22b的方式而被作設置，並作為觸控面板而起作用。在儀表面板P或中央控制台箱F處，係亦可被設置有由裝飾層22所致之按鍵顯示部221。藉由此，係能夠藉由對於裝飾層22之按鍵顯示部221作觸碰，來進行各種之操作。
輸入裝置1之偵測區域SA，係可如同上述一般地而被分割成儀表面板P之部分和中央控制台箱F之部分，亦可從儀表面板P起一直涵蓋至中央控制台箱F地而被連續設置。
如同以上所作了說明一般，若依據本實施形態，則係成為能夠提供一種就算是在使延出部20作了彎折的情況時也能夠抑制對於被設置在延出部20處之彎折導出配線41B所造成的傷害之輸入裝置1。
另外，雖係於上而對於本實施形態作了說明，但是，本發明係並非為被限定於此些之例者。例如，雖係針對延出部20之寬幅為較支持基材15之寬幅而更窄之例作了展示，但是，係亦可為與支持基材15同等之寬幅。同業者所對於前述之各實施形態而適宜進行了構成要素之追加、削除、設計變更者，或者是將各實施形態之特徵作了適宜組合者，只要是具備有本發明之要旨內容，則係亦被包含於本發明之範圍內。例如，面板部3b係亦可身為輸入裝置1之一部分。於此情況，在對應於第1實施形態之構成中，面板部3b係被與支持基材15之基材第1主面S0作對向配置，在對應於第2實施形態之構成中，面板部3b係被與支持基材15之基材第2主面S3作對向配置。 [實施例]
以下，根據實施例等來對本發明作更進一步之具體性說明，但是，本發明係並不被此些之實施例等所限定。
(實施例1) 準備了從延出部20側起而於厚度方向(Z1-Z2方向之Z2側)上具備有表1中所示之層積構造的延出部等之輸入裝置1。構成延出部等之各層的詳細內容，係如下所述。在表1中所示之第1保護層、第2保護層、非導電性硬化物62以及延伸存在基板部8E，係身為能夠成為被覆材70之構成要素的構件。
・延出部20：厚度43μm之環烯烴聚合物之薄膜 ・彎折導出配線41B之其中一種(第1連接材料)：厚度178nm之層積導電體(厚度28nm之ITO層和厚度15nm之CuNi合金層和厚度120nm之Cu層以及厚度15nm之CuNi合金層之層積體) ・彎折導出配線41B之其中一種(第2連接材料)：厚度45nm之可撓性導電構件(厚度15nm之非晶質ITO層和厚度15nm之Au層以及厚度15nm之非晶質ITO層之層積體) ・作為保護層之功能層43之其中一種(第1保護層)：用以保護引繞圖案150的厚度1.5μm之阻劑硬化物層(丙烯酸系樹脂) ・作為保護層之功能層43之另外一種(第2保護層)：用以保護位置於偵測區域SA處之構件的厚度8μm之乾薄膜阻劑硬化物層(丙烯酸系樹脂) ・非導電性硬化物62：將分散有直徑10μm程度之Ni珠的向異性導電接著劑(丙烯酸系樹脂)以較弱的壓力來作加壓並使其硬化所成的厚度10μm之硬化物層(丙烯酸系樹脂) ・延伸存在基板部8E：厚度12.5μm之聚醯亞胺薄膜
Figure 02_image001
在彎折導出配線41B為由第2連接材料所構成的情況時，如同圖4(d)一般，係成為下述一般之構成：亦即是，第1保護層係作為絕緣層131而被形成於延出部20之第1主面S1上，於其上係被形成有第2連接材料。
在表1中，作為彎折導出配線41B之平面觀察(Z1-Z2方向觀察)時的形狀，係亦針對是身為沿著延出方向(X1-X2方向)的直線狀或者是身為具備有蛇行部41W之形狀一事作了標示。
於表1中，係標示有在關連於各樣本編號之構成中的延出部等之總厚度(單位：μm)以及彎折導出配線41B之延出部20側之面與中立面之間之距離(單位：μm)。另外，上述之距離，係將從延出部20而離開之側作為正的值。故而，針對上述距離，若是正的值為越大，則在以延出部20作為內側而作了彎折的情況時，於彎折導出配線41B處係會產生有越高的拉張應力σ+。
又，係各製造出30個的關連於各樣本編號之輸入裝置1，並進行了電性檢查(導通性之確認)，將其結果展示於表1中。在表1中所示之數值，係為電性檢查之結果的良品數量。故而，若是越接近30，則係代表越難以產生彎折導出配線41B之不良。
如同表1中所示一般，若是與中立面之間之距離為正的值且為越小，則電性檢查之結果係成為越良好。可以確認到，此一傾向係並不會起因於構成彎折導出配線41B之材料而有所改變。另外，在樣本編號4～樣本編號6之輸入裝置1中，由於第1保護層係如同上述一般地而位置在第2連接材料與延出部20之間，因此係並未作為被覆材70而起作用。故而，樣本編號4之輸入裝置1，係身為並不存在有被覆材70之狀態，不良品之數量係為多。又，樣本編號5之輸入裝置1，其被覆材70係由非導電性硬化物62和延伸存在基板部8E所成，並且彎折導出配線41B係由可撓性導電構件13所成且亦具備有蛇行部，但是，其之不良品的數量係較彎折導出配線41B為由相對性而言可撓性為較低之第1連接材料所成的樣本編號2之輸入裝置1而更多。在樣本編號4之輸入裝置1中，第1保護層係位置在第2連接材料與延出部20之間，並使彎折導出配線41B與中立面之間的距離增大，係會有受到此事之影響的可能性。
(實施例2) 針對在實施例1中得到了良好的結果之樣本編號1～3、5以及6的輸入裝置1，基於在JIS K5600-5-5：1999中所規定的圓筒形心軸(MANDREL)法，來使用直徑1mm(半徑R：0.5mm)之心軸而進行了耐折曲性之評價。關於彎折方向，係進行了基於第1實施形態之方向的彎折(以延出部20作為內側之彎折、以下亦稱作「面朝上」)和基於第2實施形態之方向的彎折(以延出部20作為外側之彎折、以下亦稱作「面朝下」)。針對各樣本編號之輸入裝置1，而以2水準(N=2)來進行了評價。但是，在樣本編號1之輸入裝置1的面朝上中，係為1水準之評價。將在面朝上時的結果展示於表2中，並將在面朝下時的結果展示於表3中。於表2以及表3中，「A」係代表在彎折試驗後之評價中於彎折導出配線41B處並未發生有碎裂，B」係代表在彎折試驗後之評價中於彎折導出配線41B處係發生有碎裂。在各彎折試驗中，當於彎折導出配線41B處係發生了碎裂的情況時，係將彎折試驗結束。
Figure 02_image003
Figure 02_image005
如同表2中所示一般，在面朝上時，當彎折導出配線41B為由第2連接材料所成的情況時(樣本編號5以及樣本編號6之輸入裝置1)，係於1次的彎折中而在彎折導出配線41B處發生了碎裂。相對於此，如同表3中所示一般，在面朝下時，就算是在彎折導出配線41B為由第2連接材料所成的情況時，直到3次的彎折為止，係並未在彎折導出配線41B處發生碎裂。故而，作為彎折條件，係確認到，相較於面朝下，面朝上係為更加嚴酷的條件。
又，就算是在面朝上時，當彎折導出配線41B為由第1連接材料所成的情況時(樣本編號1～樣本編號3之輸入裝置1)，係直到3次的彎折為止而並未在彎折導出配線41B處發生碎裂。故而，此係代表作為構成彎折導出配線41B之材料係以第1連接材料為理想。
進而，在彎折導出配線41B為由第1連接材料所構成並且係具備有蛇行部41W的情況時(樣本編號1以及樣本編號2之輸入裝置1)，係就算是進行10次的彎折也並未在彎折導出配線41B處發生碎裂。故而，此係代表彎折導出配線41B係以具備有蛇行部41W為理想。
1、1A、1B‧‧‧輸入裝置 3‧‧‧框體 3a‧‧‧本體箱體部 3b‧‧‧面板部 5‧‧‧透明接著層 7‧‧‧顯示裝置 8‧‧‧可撓配線基板 8E‧‧‧延伸存在基板部 8a‧‧‧連接端子部 10‧‧‧感測器部 11‧‧‧第1電極 12‧‧‧第2電極 13‧‧‧可撓性導電構件 15‧‧‧支持基材 20‧‧‧延出部 20B‧‧‧連接基部 20E‧‧‧延出端部 22‧‧‧裝飾層 22b‧‧‧非形成區域 41‧‧‧導出配線 41B‧‧‧彎折導出配線 41W‧‧‧蛇行部 42‧‧‧電極墊 43‧‧‧功能層 431、131‧‧‧絕緣層 61‧‧‧導電性接合構件 62‧‧‧非導電性硬化物 70‧‧‧被覆材 100‧‧‧介面裝置 150‧‧‧引繞圖案 200‧‧‧裝飾薄膜 221‧‧‧按鍵顯示部 BR‧‧‧折曲部 BR0‧‧‧彎折對應部 CS0、CS1‧‧‧中立面 F‧‧‧中央控制台箱 OL‧‧‧重複部分 OS‧‧‧操作面 P‧‧‧儀表面板 S0‧‧‧基材第1主面 S1‧‧‧第1主面 S2‧‧‧第2主面 S3‧‧‧基材第2主面 SA‧‧‧偵測區域 V‧‧‧移動體
[圖1] 係為對於被適用有本發明之第1實施形態的輸入裝置之介面裝置作例示之分解立體圖。 [圖2] (a)係為圖1之A-A線剖面圖，(b)係為將圖2(a)之折曲部BR近旁作了擴大的部分剖面圖，(c)係為將在圖2(b)中所示之輸入裝置處的被作彎折前之狀態之延出部以及被附加設置於此處之構件作了擴大的剖面圖。 [圖3] (a)係為對於先前技術之輸入裝置的折曲部之狀態作說明之部分剖面圖，(b)係為對於第1實施形態之輸入裝置之折曲部BR之狀態作說明之部分剖面圖。 [圖4] (a)係為用以對於第1實施形態之輸入裝置的其他例之延出部等的構成作說明之圖，(b)係為用以對於第1實施形態之輸入裝置的另外之例之延出部等的構成作說明之圖，(c)係為用以對於圖4(b)中所示之延出部等的變形例之構成作說明之圖，(d)係為用以對於第1實施形態之輸入裝置的又一其他例之延出部等的構成作說明之圖。 [圖5] 係為對於被適用有本發明之第2實施形態的輸入裝置之介面裝置作例示之分解立體圖。 [圖6] (a)係為圖1之B-B線剖面圖，(b)係為將圖2(a)之折曲部BR近旁作了擴大之部分剖面圖，(c)係為對於第2實施形態之輸入裝置之折曲部BR之狀態作說明之部分剖面圖。 [圖7] 係為用以對於本發明之第3實施形態之輸入裝置的延出部等之構成作說明之圖。 [圖8] 係為對於輸入裝置之適用例作展示之示意圖。
1‧‧‧輸入裝置
3‧‧‧框體
3a‧‧‧本體箱體部
3b‧‧‧面板部
5‧‧‧透明接著層
7‧‧‧顯示裝置
8‧‧‧可撓配線基板
8E‧‧‧延伸存在基板部
8a‧‧‧連接端子部
10‧‧‧感測器部
15‧‧‧支持基材
20‧‧‧延出部
20B‧‧‧連接基部
20E‧‧‧延出端部
41‧‧‧導出配線
41B‧‧‧彎折導出配線
42‧‧‧電極墊
61‧‧‧導電性接合構件
62‧‧‧非導電性硬化物
70‧‧‧被覆材
100‧‧‧介面裝置
150‧‧‧引繞圖案
BR‧‧‧折曲部
BR0‧‧‧彎折對應部
OS‧‧‧操作面
S0‧‧‧基材第1主面
S1‧‧‧第1主面
S2‧‧‧第2主面

Claims (12)

  1. 一種輸入裝置，其特徵為，係具備有：支持基材；和感測器部，係被設置在前述支持基材之上，並具備有複數之電極部；和延出部，係從前述支持基材而朝向外側延出；和導出配線，係沿著前述延出部之第1主面而被設置，並與前述複數之電極部作導通；和可撓配線基板，係於主面處具備有與前述導出配線作導通之連接端子部，並被與前述延出部之前述第1主面作對向配置，前述延出部，係在延出端部和與前述支持基材相連之連接基部之間，具備有對應於彎折之彎折對應部，前述導出配線，係在較前述彎折對應部而更靠前述延出部之前述延出端部側處而與前述連接端子部相導通，在位置於前述彎折對應部處之前述導出配線之全部之上，係被設置有被覆材，前述導出配線和前述連接端子部，係藉由導電性接合構件而被可導通地作接合，用以形成前述導電性接合構件之接合構件，係被延伸設置於前述彎折對應部之上，基於該接合構件所成之構件，係構成前述被覆材之至少一部分。
  2. 一種輸入裝置，其特徵為，係具備有：支持基材；和感測器部，係被設置在前述支持基材之上，並具備有複數之電極部；和延出部，係從前述支持基材而朝向外側延出；和導出配線，係沿著前述延出部之第1主面而被設置，並與前述複數之電極部作導通；和可撓配線基板，係於主面處具備有與前述導出配線作導通之連接端子部，並被與前述延出部之前述第1主面作對向配置，前述延出部，係在延出端部和與前述支持基材相連之連接基部之間，具備有對應於彎折之彎折對應部，前述導出配線，係在較前述彎折對應部而更靠前述延出部之前述延出端部側處而與前述連接端子部相導通，在位置於前述彎折對應部處之前述導出配線之全部之上，係被設置有被覆材，前述可撓配線基板，係具備有較前述連接端子部而更延出至前述感測器部側之延伸存在基板部，前述延伸存在基板部，係構成前述被覆材之一部分。
  3. 如申請專利範圍第2項所記載之輸入裝置，其中，前述導出配線和前述連接端子部，係藉由導電性接合構件而被可導通地作接合，用以形成前述導電性接合構件之接合構件，係被延伸設置於前述彎折對應部之上，基於 該接合構件所成之構件，係構成前述被覆材之至少一部分。
  4. 如申請專利範圍第1項或第3項所記載之輸入裝置，其中，前述導電性接合構件，係由向異性導電接著劑之硬化物所成。
  5. 如申請專利範圍第1項或第2項所記載之輸入裝置，其中，係更進而具備有被設置在前述支持基材之上之功能層，前述功能層，係被延伸設置於前述彎折對應部之上，並構成前述被覆材之一部分。
  6. 如申請專利範圍第5項所記載之輸入裝置，其中，前述功能層，係包含有保護前述感測器部之保護層。
  7. 如申請專利範圍第5項所記載之輸入裝置，其中，前述功能層，係包含有光學層。
  8. 如申請專利範圍第1項或第2項所記載之輸入裝置，其中，位置於前述彎折對應部處之前述導出配線，係具備有在從前述第1主面之法線方向作觀察時為蛇行的蛇行部。
  9. 如申請專利範圍第1項或第2項所記載之輸入裝置，其中，前述支持基材以及前述延出部，係由包含有環烯烴系聚合物之透光性材料所成。
  10. 如申請專利範圍第1項或第2項所記載之輸入裝置，其中，前述複數之電極部和前述導出配線，係藉由被設置在前述支持基材之上之引繞圖案而被作電性連接，位置於前述彎折對應部處之前述導出配線，係由構成前述引繞圖案之材料所構成。
  11. 如申請專利範圍第1項或第2項所記載之輸入裝置，其中，在前述支持基材處之位置於與前述延出部之前述第1主面相反側處的基材第2主面，係位置於前述輸入裝置之操作面側。
  12. 如申請專利範圍第11項所記載之輸入裝置，其中，係更進而具備有被與前述基材第2主面作對向配置之面板部。
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