TWI686600B - 用於檢測物體速度及位置的光學檢測系統、光學感測系統以及在系統內之光學檢測方法 - Google Patents

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Abstract

一種光學檢測系統包括具有第一光源和第一光檢測器的第一裝置，以及具有第二光源和第二光檢測器的第二裝置。該第一裝置和該第二裝置被配置為分別基於第一和第二控制訊號周期性地打開和關閉該第一和該第二光源。該第一和該第二光源被配置為不同時發光。該第一和該第二光源以重疊的波長範圍發射光。該光學檢測系統還具有這樣的特徵，即當該第一光源開啟時，從該第一光源傳遞到該第二光檢測器的輻射功率至少是從該第一光源傳遞到該第一光檢測器的輻射功率的25%。

Description

用於檢測物體速度及位置的光學檢測系統、光學感測系統以及在系統內之光學檢測方法
本發明係與光學檢測器相關，尤其係與對多個光學檢測器提供同步的系統及方法相關。
發光二極體(LED)已被廣泛地用於鄰近感測。特別的是，LED已與光電二極體配對於光學感測系統之中。例如，光學感測系統可以驅動LED發射特定波長範圍的光。這個發射出的光在通過介質或被表面反射之後被光電二極體接收。該光電二極體將接收到的輻射能量轉換成電流，該電流被進一步處理以用於檢測，例如移動物體的存在。
光學感測系統可以包括多對LED和光電二極體以形成用於檢測物體的位置、移動速度和移動方向的感測網路。例如，感測網路可以沿著物體移動所通過的軌跡 安裝。檢測分辨率和精準度可能需要多對LED和光電二極體彼此靠近放置。不幸的是，除了光電二極體所配對的LED之外，該光電二極體也可能會捕獲來自附近LED的輻射功率(干擾之輻射功率)，從而導致檢測錯誤。例如，該干擾之輻射功率可能錯誤地觸發該光電二極體的檢測閾值並降低系統感測分辨率。在高分辨率光學感測系統中這種錯誤檢測是不能被容忍的。因此，在這方面的改進是需要的。
及
以下之揭露提供了用於實現所提出的標的之不同特徵的多個不同實施例或範例。以下所描述之組件和配置的具體範例係用以簡化本案之揭露。當然，這些僅僅是範例，並不旨在限制。對本案所描述之裝置、系統、方法及本揭露之原理的任何進一步的應用所進行的任何改變和進一步的修改皆係充分地仔細思考，就像與本揭露所涉及的相關領域的一般技術人員通常會想到的。例如，描述關於一個實施例的特徵、組件和/或步驟可以與對本揭露的其他實施例所描述的特徵、組件和/或步驟相結合以形成根據本揭露之裝置、系統或者方法的又一個實施例，儘管這樣的組合未被明確示出。此外，為了簡單起見，在一些例子中，相同的元件符號於整個圖式中被使用以用來指代相同或相似的部分。
本揭露通常涉及光學感測系統和方法，更具體地係涉及用於多個光學檢測單元之同步的電路、系統和方法，以為了檢測目標物體的位置和移動速度。為了簡化的目的，這裡描述的實施例將使用光學檢測單元，該光學檢測單元包括作為光源的發光二極體(LED)和作為光檢測器的光電二極體，但是實施例的範圍可以包括任何合適的光源或光檢測器。例如，光電晶體也可以用作在光學檢測單元中的光檢測器。
多個光學檢測單元可以間隔開以形成一些圖案，例如沿直線均勻間隔。當諸如裝在標籤印表機中的一張紙之類的物體移動經過每個光學檢測單元時，從LED發出的光將暫時地被阻擋或衰減，並且光電二極體將檢測到這種光學的變化。與該事件相關的時間戳記也可以由各個光學檢測單元記錄。根據光學檢測單元的已知位置，在給定之經記錄的時間戳記處，該物體的位置變得為已知。根據兩個相鄰光學檢測單元之間的距離Δl和兩個相應的經記錄的時間戳記之間的時間間隔Δt，該物體的速度可以被近似地推導為v =Δl/Δt。
在某些應用中，多個光學檢測單元可以被緊密地封裝在空間中。在本說明書中，當一個光學檢測單元的LED向其相鄰但未配對的光電二極體所傳遞之輻射功率的量大於25％的輻射功率時，兩個光學檢測單元被稱為“緊密封裝”，所謂25％的輻射功率係其傳遞給它所配對的光電二極體的量。例如，兩個光學檢測單元可以安裝在探頭前方，其間的距離小於5mm。當一個光學檢測單元開啟時，其LED可以向鄰近的光學檢測單元的光電二極體傳遞大於其自身光電二極體所接收的量的25％的輻射功率，例如50％或甚至更多。在這種情況下，該兩個光學檢測單元為緊密封裝。緊密封裝可能是檢測精確度之要求或包裝尺寸限制的結果。但是當然，25％的輻射功率或50％的輻射功率僅是範例，並且其他的實施例也可以具有緊密封裝的關係，其係具由與所預期之不同的檢測器所拾取之15％或10％的輻射功率。
此外，可以根據相同的規格製造多個緊密封裝的光學檢測單元，以便降低製造複雜性和成本。因此，該多個緊密封裝的LED以類似的光譜或重疊的光譜來發射光。其結果是，對光電二極體的干擾可能變得嚴重。這種干擾對某些高分辨率光學檢測系統可能是有害的。僅係作為範例，光學檢測系統可以被使用來檢測由貼在膠卷背紙上的標籤與膠卷背紙本身之間的透明度差異所引起的光差異，該差異非常小。在這個例子中，上述干擾可能會模糊標籤的邊界或觸發錯誤檢測。
各種實施例提供了光學感測系統和布局，其減少來自附近LED的干擾並且即使在系統中的多個檢測單元被緊密封裝時也提高了檢測的精確度。一些實施例的特徵在於提供一種光學感測系統，其藉由將其本身的光學檢測單元分組成區域並且藉由調整各個區域中的感測持續時間來維持低干擾水平並降低平均功耗。一些實施例的又一特徵在於提供一種減少來自光學感測系統中的鄰近的LED的干擾和/或來自環境光以及鄰近LED的干擾的感測方法。
參照圖1，其中顯示出了根據本揭露的實施例所建構的範例光學檢測單元110的方塊圖。該光學檢測單元110包括LED 120。該LED 120由光學驅動器152驅動，該光學驅動器152在當該LED 120導通時產生流過該LED 120的電流。該LED 120在開啟時產生光(或輻射能或輻射功率)。該LED 120可以產生可見光或不可見光，包括紫外光和紅外光，或其他適當的波長。該LED 120可以包括任何合適的半導體材料，例如砷化鎵(GaAs)，砷化鋁鎵(AlGaAs)，磷化鎵(GaP)，砷化鎵磷化物(GaAsP)，磷化鋁鎵(AlGaP)，氮化銦鎵(InGaN)，和磷化鋁鎵銦(AlGaInP)。
該LED 120輸出指向光電二極體122的光。該光電二極體122從該LED 120接收至少一部分的輻射能量，例如，藉由介質透射，表面反射或通過介質衍射。圖1的特定實施例被配置為檢測從表面反射或由介質衍射的輻射能量。另一個範例實施例(未示出)可以將該光電二極體122佈置為面向該LED 120，其間具有被檢測的物體可能移動通過空間。這樣的範例實施例可被配置為檢測通過介質的光的傳輸。作為回應，該光電二極體122產生電流。該電流的振幅與由該光電二極體122接收的輻射功率成比例。該電流由控制電路150感測以與作為進一步處理的閾值進行比較。該控制電路150還控制該光學驅動器152以驅動該LED 120。在一些實施例中，該光電二極體122在其前方還具有透鏡(未示出)。該透鏡為該光電二極體122提供光學增益。
仍然參考圖1，該控制電路150可以被實現為執行邏輯以執行在該控制電路150內的記憶體中所指示的動作的特定應用積體電路(ASIC)。然而，實施例的範圍可以包括任何種類的邏輯電路，例如通用中央處理單元，用以執行機器可讀代碼以執行光學檢測。該控制電路150可以包括計時器154。該計時器154耦合到該光學驅動器152，並藉由對預編程的時間段之預先設定來計數以確定該LED120打開或關閉的持續時間。取決於計時精確度和系統複雜性，該計時器154可以是類比RC計時器，其每個時脈週期由RC時間常數或包括具有內建晶體振盪器的正反器或PLL的數位計時器來定義。
該光學檢測單元110可以進一步包括光學自校準電路156。例如，該光學檢測單元110可以檢測由該光電二極體122接收的輻射功率的輕微變化。然而，該變化可能非常小，存在於該光學檢測單元110的製造中的變動和環境中的變動可能導致錯誤的檢測。例如，該LED 120的輸出或該光電二極體122的靈敏度的變動、該LED 120的透鏡中或該光電二極體122的封裝中的變動、該LED 120或該光電二極體122在該光學檢測單元110內的佈置的變動、環境溫度的變動等，可能各個單獨或相結合導致檢測錯誤。為了防止由於這些變動所引起的檢測錯誤，理想的是校準該光學檢測單元110。自校準可以藉由校準控制訊號來啟動，例如藉由轉換控制接腳的訊號極性或藉由改變在控制接腳上的類比電壓位準(即半電壓振幅意味著觸發自校準)。可替代地，自校準可以在通電該光學檢測單元110時自動執行。自校準可以藉由掃描該光學驅動器152的輸出強度並且藉由分析該光電二極體122所接收的功率來完成。自校準電路和方法的一個實施例在2016年6月1日申請之共同轉讓的美國專利申請序號15/170,511中描述，其全部揭露內容藉由引用併入本文。
仍然參考圖1，該光學檢測單元110還包括通訊埠160。該通訊埠160允許將外部指令寫入該控制電路150，例如控制訊號124。在一個實施例中，該通訊埠160包括接收器，其接收來自外部裝置的指令。在該實施例中，通過該通訊埠160的資料流是單向的。在另一個實施例中，該通訊埠160包括收發器，並且通過該通訊埠160的通信是雙向的。在一個實施例中，到該通訊埠160的連接可以僅僅是單根導線。該通訊埠160可以因而是單根接腳。在另一個實施例中，到該通訊埠160的連接是微分線(或差動對)。在本實施例中，該通訊埠160因而是雙接腳的一個埠。在又一個實施例中，到該通訊埠160的連接可以包括匯流排，例如積體電路間(I2 C)匯流排、串列週邊介面(SPI)匯流排或通用異步接收發射器(UART)匯流排，其包括RS-232/RS-422/RS-485匯流排。為了進一步實施本實施例，該通訊埠160是與各個匯流排規格兼容的一個埠。
該光學檢測單元110還可以包括輸出埠162和識別埠164。該輸出埠162可以連接到另一光學檢測單元110的通訊埠160以形成菊鍊。該輸出埠162被配置為產生控制訊號126到位於該菊鍊中的下一個光學檢測單元110。該識別埠164可以具有單個接腳或多個接腳(例如匯流排)。藉由寫入該識別埠164(例如，藉由將一個或多個接腳捆紮到VCC或GND)，該光學檢測單元110可以被標記為位於菊鍊一端的裝置並且進一步用作主裝置。該輸出埠162、該識別埠164和菊鍊連接將在稍後參照圖3來進行集中討論。該光學檢測單元110還可以包括檢測指示器埠163。檢測指示器埠163可以發送出指示檢測結果的訊號，例如當該光學檢測單元110檢測到事件時則為邏輯“高”，或邏輯“低”，反之亦然。在一個實施例中，當檢測到事件時，該檢測指示器埠163還發送出額外資訊，例如時間戳記資訊。該檢測指示器埠163可以具有單個接腳或多個接腳(例如匯流排)。
仍然參照圖1，該光學檢測單元110包括至少一個LED 120和一個光電二極體122，但是可以基於某些特定的應用而僅包括該控制電路150、該光學驅動器152、該計時器154、該光學自校準電路156、該通訊埠160、該輸出埠162、該檢測指示器埠163和該識別埠164之部分或者子組合。
圖2示例出了根據本案之揭露的實施例所建構的範例光學感測(或檢測)系統100。該光學感測系統100包括多個光學檢測單元110。該光學感測系統100可以包括任何適當數量的光學檢測單元110。為了簡單起見，兩個光學檢測單元，110a和110b描繪於圖2中。
參考圖2，根據藉由通訊埠160a(160b)所接收到的控制訊號124a(124b)，該光學檢測單元110a(110b)適當地打開或關閉該LED 120a(120b)。該光電二極體122a(122b)也可以與該LED 120a(120b)一起打開或關閉。在一個實施例中，該光學檢測單元110a(110b)檢測該控制訊號124a(124b)的邊緣，例如上升邊緣或下降邊緣，然後相應地接通該LED 120a(120b)。同時，該光學檢測單元110a(110b)中的該計時器154(圖1)被觸發並開始倒計時。當該計時器154完成計數時，它發訊號給相應的光學驅動器152(圖1)以關閉該LED 120a(120b)。在另一個實施例中，該光學檢測單元110a(110b)檢測該控制訊號124a (124b)的工作週期。當該控制訊號124a(124b)為邏輯“高”時，該光學檢測單元110a(110b)開啟LED 120a(120b)。當該控制訊號124a(124b)為邏輯“低”時，該光學檢測單元110a(110b)關閉LED 120a(120b)。
仍然參考圖2，該光學檢測單元120a和120b被緊密封裝，並且該LED 120a和120b在重疊的波長範圍內發射光。如果該LED 120a和120b同時發光，則該光電二極體122a(122b)不僅將接收來自該LED 120a(120b)的輻射功率，還將接收來自相鄰LED 120b(120a)的干擾輻射功率。由該光電二極體122a接收的干擾輻射功率可以大於該光電二極體122b從該LED 120b接收的輻射功率的25%，但在一些情況下，該百分比可能高於50%。為了避免該光學感測系統100中的干擾輻射功率，在本實施例中，該控制訊號124a和124b以在任何時間間隔皆不會同時接通該LED 120a和120b的方式安排。當該光學檢測單元110a正在執行光學檢測時，該光電二極體122a僅接收從該LED 120a發射的光，並且LED 120b在該時間段期間內保持關閉，反之亦然。以這種方式，干擾輻射功率被去除，並且該光學感測系統100的錯誤檢測減少。進一步深化本實施例，當該光學檢測單元110a正在執行光學檢測時，LED 120b和光電二極體122b兩者都保持關閉，從而也消除了從LED 120a到光電二極體122b的串音。
圖3示例出了在範例菊鍊連接中的該光學感測系統100的一個實施例。為了簡單起見，在本實施例中三個光學檢測單元110a、110b和110c描繪於圖3中。在多個實施例中，該光學感測系統100可以包括任何適當數量的光學檢測單元110。菊鍊是透過將鍊中的一個光學檢測單元110的輸出埠162連接到下一個光學檢測單元110的通訊埠160而形成。在圖3中，該光學檢測單元110c位於該菊鍊的一端，並且該光學檢測單元110a位於該菊鍊的另一端。該輸出埠162c連接到該通訊埠160b。在本實施例中， 該連接為單根導線，例如導線130a和導線130b。類似地，該輸出埠162b連接到該通訊埠160a。
仍然參照圖3，識別訊號132被寫入該光學檢測單元110c的識別埠164c。該訊號132將該光學檢測單元110c識別為該光學感測系統100中的主裝置。其他的光學檢測單元110a和110b在未接收到該識別訊號132的情況下預設用作從屬裝置。在本實施例中，該識別埠164c是單根接腳，並且該識別訊號132是施加到該識別埠164c的接腳的電壓訊號(例如像是邏輯“高”)。在另一個實施例中，該識別埠164c是一個匯流排埠。該匯流排可以是I2C匯流排、SPI匯流排和UART匯流排中其中之一，包括RS-232/RS-422/RS-485匯流排。為了進一步深化本實施例，應用該識別訊號132是藉由寫入在檢測單元中的儲存單元(例如，藉由自我啟動)來指示它是主裝置。
參考圖4，其中示出了示例圖3中的該光學感測系統100的動作的範例性時序圖。作為主裝置，該光學檢測單元110c首先藉由打開該LED 120c來啟動光學檢測。該計時器154c開始計數。由於該LED 120a和102b關閉，所以該光電二極體122c不會接收到來自該LED 120a和120b的干擾輻射功率。在時間t1之後，該計時器154c結束計數並且該LED 120c關閉。當該LED 120c關閉時，該輸出埠162c產生作為該控制訊號124b的脈衝，並將其發送到該光學檢測單元110b的該通訊埠160b。當該光學檢測單元120b檢測到所接收到的脈衝的上升邊緣時，該計時器154b開始計 數，並且該LED 120b導通。在另一個實施例(未示出)中，該光學檢測單元120b檢測所接收到的脈衝的下降邊緣並觸發該計時器154b。由於該LED 120a和102c關閉，所以該光電二極體122b不會接收到來自該LED 120a和120c的干擾輻射功率。大約在時間t1之後，該計時器154b結束計數並且該LED 120b關閉。當該LED 120b關閉時，該輸出埠162b產生作為該控制訊號124a的脈衝並將其發送到該光學檢測單元110a的該通訊埠160a。當該光學檢測單元120a檢測到所接收到的脈衝的上升邊緣時，該計時器154a開始計數並且該LED 120a導通。由於該LED 120b和120c關閉，所以該光電二極體122a不會接收到來自該LED 120b和120c的干擾輻射功率。在大約時間t1之後，該計時器154a結束計數並且該LED 120a關閉。如果菊鍊中存在更多從屬裝置，則該輸出埠162a產生脈衝並將其傳送到下一個從屬裝置。這樣，脈衝從菊鍊的一端傳播到菊鍊的另一端。為了進一步深化本實施例，當一個LED被關閉時，同一光學檢測單元中的相關光電二極體也可被關閉。由於在任何時間段內至多一個光學檢測單元開啟，不僅消除了光學干擾，菊鍊中的功耗也降低了。
作為主裝置，該光學檢測單元110c被程式化為在啟動另一輪的光學檢測之前等待每個從屬裝置完成各自的光學檢測。如果在菊鍊中存在n個從屬裝置，則在再次開啟該LED 120c之前，該光學檢測單元110c將等待t2
Figure 107110468-A0305-02-0016-1
n* t1。這個計時也可以由該計時器154c控制。在一個 實施例中，菊鍊包括6個從屬裝置，並且t2大約為250微秒(μs)。在另一個實施例中，菊鍊中的各個光學檢測單元110包括光學自校準電路156。在一個範例中，自校準可以藉由另一個接腳或藉由使用控制接腳上的類比電平來觸發。自校準不限於那些具有控制LED的主裝置的設計，因為其可以應用於任何適當的實施例。
圖5示例出了範例性星形連接中的光學感測系統100的實施例，其中光學檢測單元110a和110b中的每一個連接到也可以是光學檢測單元的主裝置112。為了簡單起見，在圖5中僅描繪出了兩個光學檢測單元，110a和110b。然而，任何適當數量的光學檢測單元110可以以星形連接的方式連接到該主裝置112。該主裝置112具有分別用於每個光學檢測單元的控制埠。在所描繪的範例中，該主裝置112具有耦合到該光學檢測單元110b的該通訊埠160b的控制埠170以及耦合到該光學檢測單元110a的該通訊埠160a的控制埠172。在本實施例中，來自該控制埠170和172的每個連接為單根導線，例如分別為導線130b和導線130a。該主裝置112控制每個光學檢測單元的計時，即每個光學檢測單元在該主裝置112的控制下接通其LED。在本實施例中，該主裝置112僅提供計時資訊並且不儲存任何各個光學檢測單元的校準資訊。
圖6示例出了從星形連接中的該主裝置112所發送出的控制訊號的範例性時序圖。控制訊號的邏輯“高”和“低”分別直接地控制LED的開啟和關閉。當該控制訊號 124a變為邏輯“高”時，該光學檢測單元110a開啟該LED 120a。同時，該控制訊號124b保持邏輯“低”，並且該LED 120b不導通。由於該LED 120a是唯一在這個時間段期間內，在該光學感測系統100中導通的LED，因此該光電二極體122a不會接收到來自系統中其他LED的干擾輻射功率。在時間段t1之後，該控制訊號124a變為邏輯“低”，並且該光學檢測單元110a關閉該LED 120a。接下來，該控制訊號124b變為邏輯“高”，並且該光學檢測單元110b接通該LED 120b。此時，該LED 120b是該系統100中唯一被接通的LED。在時間段t1之後，該控制訊號124b變為邏輯“低”，並且該光學檢測單元110b關斷該LED 120b。該主裝置112順序地將控制訊號發送到各個光學檢測單元。該主裝置112被程式化為等待，直到各個光學檢測單元在啟動另一輪光學檢測之前完成各自的光學檢測。如果有n個光學檢測單元與該主裝置112連接，則在再次將該控制訊號124a轉換為邏輯“高”之前，該主裝置112將等待t2
Figure 107110468-A0305-02-0018-2
n* t1。該主裝置112可以包括1至N開關、計數器和一些其他的邏輯閘。每個光學檢測單元110可以包括光學自校準電路156。
星形連接的優點在於，主裝置可以在需要時適當地調整光學檢測時間t1或掃描週期時間t2。例如，當沒有檢測到物體時，該主裝置112可以減慢掃描週期時間t2以減少功耗。一旦光學檢測單元檢測到訊號，如圖6所示，該主裝置112將掃描週期時間從t2縮短到t2'，以提高檢測精確度。該光學檢測時間t1也可以縮短為t1'。
圖7示例出了在範例星形連接中的該光學感測系統100的另一個實施例。類似於圖5中所示例的星形連接，該主裝置112藉由經由類比1至N開關196發送LED驅動訊號來控制各個光學檢測單元的LED。與該通訊埠160a(160b)連接的是單根導線。在本實施例中，該光學檢測單元110a和110b不需要具有該光學自校準電路156和該光學驅動器152。該主裝置112將單獨校準各個光學檢測單元110並將校準結果儲存在該主裝置112中的記憶體。該主裝置112還整併了可以調節該LED 120a和120b的輻射功率位準的電流感測和驅動電路194。由於在任何時間點只有一個LED導通，所以使用類比1至N開關196來選擇該電流感測和驅動電路194所要驅動的LED。該光電二極體122a和122b的輸出耦合到微控制器190。在系統100的啟動期間，該主裝置112校準各個光學檢測單元，類似於對圖1中的該光學自校準電路156所描述的內容。在本實施例中，該光學檢測單元110僅需要該LED 120及該光電二極體122，並且該通訊埠160可以是直接導線連接以驅動該LED 120的單一接腳。各該光學檢測單元110的成本可大幅降低。
圖8示例出了在範例性匯流排連接中的該光學感測系統100的實施例，其中各個光學檢測單元110耦合到匯流排180。為了簡單起見，僅兩個光學檢測單元，110a和110b描繪於圖8之中。然而，任何適當數量的光學檢測單元110可以耦合到該匯流排180。該匯流排180可以包括時鐘線和資料線，並且可以是I2C匯流排、SPI匯流排 和UART匯流排中的其中之一，包括RS-232/RS-422/RS-485匯流排。該通訊埠160被配置為與該匯流排180的規格兼容。主裝置112耦合到該匯流排180。如果需要，該主裝置112向該匯流排180提供時鐘訊號。該主裝置112藉由該匯流排180向該光學檢測單元120a和120b發送控制訊號。各個控制訊號包括用於目標光學檢測單元的開始位元加上唯一位址。各個光學檢測單元都配置為查找匹配的開始位元加上匹配的位址，並在發生此組合時打開或關閉其LED。這樣，該主裝置112可以確保在任何時間段只有一個LED在該系統100中被打開。為了進一步深化本實施例，當一個LED被關閉時，同一個光學檢測單元中的相關光電二極體也可被關閉。
匯流排連接的一個優點是光學檢測單元可以分成子群組。不同的子群組可以被放置在不同的區域並在不同的時間點作動。例如，在紙標籤裝載台中，多個光學檢測單元可以被分類為子群組I並且被放置在該裝載台的輸入處，而另外的多個光學檢測單元可以被分類為子群組II並被放置在該裝載台的輸出處。紙標籤永遠在到達輸出處之前經過輸入處。因此，該主裝置112可以保持該子群組I處於活躍狀態，同時使子群組II保持在不活動以節省功率，直到該子群組I發出物體檢測的訊號。只有在這樣的情況下，該主裝置112才開啟該子群組II以進行物體檢測。該光學檢測時間t1和掃描週期時間t2也可以在匯流排 連接中進行調節。
圖9示例出了光學檢測的方法300的流程圖。圖10示例出了在菊鍊配置中，藉由系統所實現的光學檢測之方法320的流程圖。圖11示例出了藉由在星形配置中或匯流排配置中的系統所實現的光學檢測之方法350的流程圖。該方法300、320和350中的每一個可以全部地或部分地由上面討論的該光學感測系統100的實施例來實現。應該理解的是，可以在方法300、320和350中的每一個之前、其期間和之後提供額外的操作，並且可以替換、消除或移動所描述的一些操作以用於該方法的額外的實施例。該方法300、320和350僅僅是範例，並不意圖將本案之揭露限制在申請專利範圍中所明確記載的範圍之外。
參照圖9，在操作302中，該方法300提供發射類似波長範圍內的光的多個光學檢測單元。各該多個光學檢測單元基於所接收到的控制訊號來操作其自身的光源。在操作304中，該方法300向該多個光學檢測單元提供多個控制訊號。在操作306中，各個光學檢測單元執行光學檢測，而沒有兩個光學檢測單元是同時發光的。因此，在系統中光源不會產生干擾光。可選地，沒有兩個光學檢測單元在系統中同時檢測光，這也可以幫助減少或消除串音。
參照圖10，在操作322中，該方法320連接位在菊鍊(參見圖3中的120a/120b/120c)中的多個光學檢測單元。在操作324中，該方法320識別主裝置(參見圖3中的120c)。在操作326中，該主裝置執行光學檢測(參見圖4)。在操作328中，該主裝置將控制訊號傳遞給下一個光學檢測單元(參見圖3中的124b)。在操作330中，該從屬裝置在檢測到該控制訊號(參見圖4)之後執行光學檢測。在操作332中，如果每個光學檢測單元已經執行光學檢測，則該方法320返回到操作326以開始新一輪的光學檢測。否則，該方法320返回到操作328並且將來自當前的從屬裝置的控制訊號傳遞到下一個從屬裝置。
參考圖11，在操作352中，該方法350提供多個光學檢測單元和主裝置(參見圖5、7和8)。在操作354中，該方法350將每個光學檢測單元耦合到該主裝置，產生星形連接或匯流排連接。在操作356中，如果它是星形連接，則該方法350將該多個光學檢測單元保持為一群組；如果它是匯流排連接，則該方法350將該多個光學檢測單元分成多個子群組。在操作358中，該方法350將控制訊號發送到光學裝置的一個子群組。該控制訊號一次只允許一個LED打開。在操作360中，基於光學檢測的結果，如操作362中那樣，該方法350決定是否將控制訊號發送到光學檢測單元的另一個子群組，或者如操作364中那樣藉由改變控制訊號的間隔來調節檢測速度。
雖然不旨在限制，但是本揭露的一個或多個實施例為使用光源和光檢測器的光學感測系統提供許多益處。由於大多數光學感測系統在光學檢測單元被緊密封裝時受到干擾，因此本揭露的實施例提供用於減少系統中的干擾的電路、系統和方法。有助益地，根據本揭露的方面的一個光學感測系統，其已改進光學檢測靈敏度。各種實施例可應用於除了LED和光電二極體之外的其他類型的光源和光檢測器。
在一個範例性方面中，本揭露涉及用於檢測物體速度和位置的光學檢測系統。該光學檢測系統包括具有諸如發光二極體(LED)的第一光源的第一裝置以及諸如光電二極體的第一光檢測器。該第一裝置被配置為基於由該第一裝置所接收的第一控制訊號而周期性地打開和關閉該第一光源。該光學檢測系統還包括具有諸如LED的第二光源和諸如光電二極體的第二光檢測器的第二裝置。該第二裝置被配置為基於由該第二裝置所接收的第二控制訊號而周期性地打開和關閉該第二光源。該第一光源和該第二光源被配置為不同時發光。該第一光源和該第二光源在重疊的波長範圍內發射光。該光學檢測系統還具有這樣的特性，即當該第一光源開啟時，從該第一光源傳遞到該第二光檢測器的輻射功率至少是從該第一光源傳遞到該第一光檢測器的輻射功率之約25％。
在另一個範例性方面，本揭露涉及一種光學感測系統。該光學感測系統包括多個光學裝置，該多個光學裝置中的每一個具有發光二極體(LED)和光電檢測器。該光學感測系統還包括用於連接位於菊鍊中的該多個光學裝置的第一設備。該光學感測系統還包括用於在已確定的時間內開啟該多個光學裝置中之每一個中的LED的第二設備。該光學感測系統還包括用於在關閉該多個光學裝置中之每一個中的LED之後產生脈衝的第三設備。該光學感測系統還包括用於將來自菊鍊的一端的脈衝傳播到菊鍊的另一端的第四設備。
在又一個範例性方面中，本揭露涉及光學檢測的方法。該方法包括提供以單根導線連接的兩個裝置，其中該兩個裝置中的每一個具有光學產生器、光學檢測器和輸入埠，藉由寫入該兩裝置中之一個的輸入埠來識別來自該兩個裝置中的主裝置，造成兩個裝置中的另一個裝置作為從屬裝置，由該主裝置執行第一光學檢測，並且由該主裝置向該從屬裝置傳送脈衝，其中，在該第一光學檢測完成之後產生該脈衝。該方法進一步包括：由該從屬裝置檢測該脈衝的邊緣，在檢測到該邊緣之後由該從屬裝置執行第二光學檢測，並且在該第二光學檢測完成之後由該主裝置執行第三光學檢測，其中，該主裝置和該從裝置的該光學產生器在重疊的波長範圍內發光，並且該從屬裝置的該光學檢測器接收輻射功率，該輻射功率至少為該主裝置的該光學檢測器於該第一光學檢測期間所接收到的輻射功率之25％。
以上概述了若干實施例的特徵，以便本領域技術人士可以更好地理解本揭露的各方面。本領域之技術人士應能認識到，他們可以容易地使用本揭露以作為用於設計或修改用於實現相同目的和/或實現本文所介紹的實施例的相同優點的其他過程和結構的基礎。本領域技術人員還應該認識到，這樣的等同構造並不脫離本揭露的精神和範圍，並且他們可以在不脫離本揭露的精神和範圍的情況下進行各種改變、替換和變換。
100‧‧‧光學感測系統 110,110a,110b,110c‧‧‧光學檢測單元 112‧‧‧主裝置 120,120a,120b,120c‧‧‧LED 122,122a,122b,122c‧‧‧光電二極體 124,124a,124b,126‧‧‧控制訊號 130a,130b‧‧‧導線 132‧‧‧識別訊號 150‧‧‧控制電路 152‧‧‧光學驅動器 154,154a,154b,154c‧‧‧計時器 156‧‧‧光學自校準電路 160,160a,160b‧‧‧通訊埠 162,162a,162b,162c‧‧‧輸出埠 163‧‧‧檢測指示器埠 164,164c‧‧‧識別埠 170,172‧‧‧控制埠 180‧‧‧匯流排
190:微控制器
194:電流感測和驅動電路
196:類比1至N開關
300,320,350:方法
302,304,306,322,324,326,328,330,332,352,354,356,358,360,362,364:操作
t1,t1':光學檢測時間
t2,t2':掃描週期時間
當閱讀附圖時，藉由以下的詳細描述，可以最佳地理解本發明所揭露的各個方面。需要強調的是，按照產業的標準做法，各種特徵並不是按比例繪製的。實際上，為了清楚討論，各種特徵的尺寸可以任意地增加或縮小。
圖1是根據本案揭露的方面的範例光學檢測單元的簡化方塊圖。
圖2是根據本案揭露的方面之使用圖1中的光學檢測單元來檢測物體的速度和位置的範例光學感測系統的圖示。
圖3是根據一個實施例之基於圖2中的系統的具有範例菊鍊連接的光學感測系統的圖示。
圖4是根據一個實施例之圖3中的系統的範例訊號圖。
圖5是根據另一實施例之基於圖2中的系統的具有範例星形連接的光學感測系統的圖示。
圖6是根據一個實施例之圖5中的系統的範例訊號圖。
圖7是根據又一實施例之基於圖2中的系統的具有範例星形連接的光學感測系統的圖示。
圖8是根據一個實施例，基於圖2中的系統之處於範例匯流排連接中的光學感測系統的圖示。
圖9顯示出了根據一個實施例之圖2中的光學感測系統的光學檢測範例方法的流程圖。
圖10顯示出了根據一個實施例之圖3中的光學感測系統的光學檢測範例方法的流程圖。
圖11顯示出了根據一些實施例之圖5、圖7和圖8中的光學感測系統的光學檢測範例方法的流程圖。
100:光學感測系統
110a,110b:光學檢測單元
112:主裝置
120a,120b:LED
122a,122b:光電二極體
130a,130b:導線
136a,136b:導線
160a,160b:通訊埠
190:微控制器
194:電流感測和驅動電路
196:類比1至N開關

Claims (20)

  1. 一種用於檢測物體速度及位置的光學檢測系統，其包括：第一裝置，該第一裝置具有第一光源和第一光檢測器，其中，該第一裝置被配置為基於由該第一裝置所接收的第一控制訊號而打開和關閉該第一光源；第二裝置，該第二裝置具有第二光源和第二光檢測器，其中，該第二裝置被配置為基於由該第二裝置所接收的第二控制訊號而打開和關閉該第二光源，其中：該第一光源及該第二光源被配置為在各自的非重疊時間週期期間內發射光；該第一光源及該第二光源被配置為在重疊的波長範圍內發射光；並且當該第一光源開啟時，從該第一光源傳遞到該第二光檢測器的輻射功率至少是從該第一光源傳遞到該第一光檢測器的輻射功率之25%。
  2. 如申請專利範圍第1項之光學檢測系統，其中：各該第一光源及該第二光源包括發光二極體(LED)；並且各該第一光檢測器及該第二光檢測器包括下列其中一者：光電二極體及光電晶體。
  3. 如申請專利範圍第1項之光學檢測系統，其中：該第一裝置被配置為開啟及關閉該第一光源及該第一光檢測器兩者；並且該第二裝置被配置為開啟及關閉該第二光源及該第二光檢測器兩者。
  4. 如申請專利範圍第1項之光學檢測系統，更包括：第三裝置，該第三裝置具有第三光源和第三光檢測器，其中，該第三裝置被配置為周期性地打開和關閉該第三光源，其中：該第一裝置被配置為透過介於該第一裝置及該第三裝置之間的第一連接而接收從該第三裝置來的該第一控制訊號；並且該第二裝置被配置為透過介於該第二裝置及該第一裝置之間的第二連接而接收從該第一裝置來的該第二控制訊號。
  5. 如申請專利範圍第4項之光學檢測系統，其中：各該第一連接及該第二連接包括單根導線；並且各該第一控制訊號及該第二控制訊號包括脈衝。
  6. 如申請專利範圍第5項之光學檢測系統，其中：該第三裝置被配置為在該第三裝置關閉該第三光源後發送該第一控制訊號； 該第一裝置被配置為在該第一裝置檢測到該第一控制訊號的上升邊緣後開啟該第一光源；該第一裝置被配置為在該第一裝置關閉該第一光源後發送該第二控制訊號；並且該第二裝置被配置為在該第二裝置檢測到該第二控制訊號的上升邊緣後開啟該第二光源。
  7. 如申請專利範圍第1項之光學檢測系統，更包括：第三裝置，該第三裝置具有第一控制訊號發射器及第二控制訊號發射器，其中：該第一控制訊號發射器與該第一裝置間具有第一連接；並且該第二控制訊號發射器與該第二裝置間具有第二連接。
  8. 如申請專利範圍第7項之光學檢測系統，其中：該第一裝置被配置為當該第一裝置接收到從該第一控制訊號發射器發送出的該第一控制訊號時，開啟該第一光源；並且該第二裝置被配置為當該第二裝置接收到從該第二控制訊號發射器發送出的該第二控制訊號時，開啟該第二光源。
  9. 如申請專利範圍第8項之光學檢測系統，其中： 各該第一連接及該第二連接包括單根導線；並且各該第一控制訊號及該第二控制訊號包括脈衝。
  10. 如申請專利範圍第9項之光學檢測系統，其中各該第一裝置及該第二裝置具有光學自校準電路。
  11. 如申請專利範圍第9項之光學檢測系統，其中：各該第一控制訊號及該第二控制訊號的振幅決定從各該分別的第一光源和該第二光源所發射的輻射功率；該第三裝置被配置為調整該第一控制訊號及該第二控制訊號的振幅以校正該分別的第一裝置和該第二裝置；並且該第三裝置被配置為將校正結果儲存在該第三裝置中之記憶體。
  12. 如申請專利範圍第1項之光學檢測系統，更包括：匯流排，各該第一裝置和該第二裝置耦合到該匯流排；以及第三裝置，該第三裝置耦合到該匯流排，其中：該第三裝置被配置為分別地發送該第一控制訊號及該第二控制訊號到該匯流排，該第一控制訊號包含與該第一裝置相關的位址位元，該第二控制訊號包含與該第二裝置相關的位址位元。
  13. 如申請專利範圍第12項之光學檢測系統，其中該匯流排為積體電路間(I2C)匯流排、串列週邊介面(SPI)匯流排及通用異步接收發射器(UART)匯流排其中之一。
  14. 一種光學感測系統，該系統包括：多個光學裝置，各該多個光學裝置具有發光二極體(LED)及光電檢測器，其中一個已知的其中之一個LED產生與其他的LED實質地相同的光學光譜的光；第一設備，其用於連接位於菊鍊中的該多個光學裝置；第二設備，其用於在程式化的時間量內開啟各該多個光學裝置中的LED；第三設備，其用於在關閉各該多個光學裝置中的LED之後產生脈衝；以及第四設備，其用於將來自菊鍊的一端的脈衝傳播到菊鍊的另一端。
  15. 如申請專利範圍第14項之光學感測系統，其中該第二設備包括，在各該多個光學裝置中，耦合到該LED的計時器。
  16. 如申請專利範圍第14項之光學感測系統，其中該第二設備包括，在各該多個光學裝置中，在檢測到該脈衝的上升邊緣後開啟該LED的電路。
  17. 如申請專利範圍第14項之光學感測系統，其中各該多個光學裝置具有在該光學檢測系統的起動期間自動地執行校準或藉由接收到校準控制訊號而執行校準的電路。
  18. 如申請專利範圍第14項之光學感測系統，其中各該多個光學裝置具有識別其本身在菊鍊中的位置的一個或多個接腳。
  19. 一種在系統內之光學檢測方法，該系統包括以單根導線連接的兩個裝置，其中，各該兩個裝置具有光學產生器、光學檢測器和輸入埠，更進一步地，其中該兩個裝置中的第一個被識別為主裝置並且該兩個裝置中的第二個被識別為從屬裝置，該方法包括：由該主裝置執行第一光學檢測；由該主裝置傳送脈衝到該從屬裝置，其中該脈衝是在該第一光學檢測結束之後產生的；由該從屬裝置檢測該脈衝的邊緣；由該從屬裝置在檢測該邊緣之後執行第二光學檢測；以及由該主裝置在該第二光學檢測結束之後執行第三光學檢測，其中：該主裝置及該從屬裝置的該光學產生器被配置為在重疊的波長範圍內發射光；並且 在該第一光學檢測期間，該從屬裝置的該光學檢測器所接收到的輻射功率至少是該主裝置的該光學檢測器所接收到的輻射功率之25%。
  20. 如申請專利範圍第19項之光學檢測方法，更包括：藉由寫入該兩個裝置的該第一個的輸入埠來識別來自該兩個裝置中的該主裝置，造成該兩個裝置的該第二個預設地作為該從屬裝置。
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