TWI614840B - 電子元件之移載裝置及其應用之測試設備 - Google Patents

Description

電子元件之移載裝置及其應用之測試設備

本發明係提供一種可調整定位電子元件之角位方向，以確保正確的執行電子元件之測試作業，而達到提升測試品質之電子元件之移載裝置及其應用之測試設備。

在現今，業者為確保電子元件之品質，於電子元件製作完成後，均會於測試設備上執行測試作業，以淘汰出不良品電子元件；請參閱第1、2圖，習知電子元件測試設備係於機台10上配置有供料裝置11、收料裝置12、測試裝置13、輸送裝置14及移載裝置15；該供料裝置11係供承置至少一供料盤16，並於該供料盤16上設有複數個矩形之容槽161，以供容納待測之電子元件A；該收料裝置12係供承置至少一收料盤17，並於該收料盤17上設有複數個矩形之容槽171，以供容納完測之電子元件A；該測試裝置13係於測試區內設有測試座131，以供執行電子元件之測試作業；該輸送裝置14係於該測試裝置13之測試座131一側配置有第一入料載台141a及第一出料載台142a，另側則配置有第二入料載台141b及第二出料載台142b，並於該第一、二入料載台141a、141b與該供料裝置11間配置有入料搬移機構143，以供將供料盤16上待測之電子元件A搬移至該第一、二入料載台141a、141b上，而由該第一、二入料載台141a、141b將待測之電子元件A載送至測試區，該第一、二出料載台142a、142b與該收料裝置12間則配置有出料搬移機構144，以供將該第一、二出料載台142a、142b上完測之電子元件A搬移至該收料裝置12上之收料盤17內；該移載裝置15係於該測試 裝置13之測試座131與該輸送裝置14之第一入料載台141a及第一出料載台142a間配置有第一取放機構151，以供將第一入料載台141a上待測之電子元件A移載至該測試裝置13之測試座131執行測試作業，再將完測之電子元件A移載至第一出料載台142a，於該測試裝置13之測試座131與該輸送裝置14之第二入料載台141b及第二出料載台142b間則配置有第二取放機構152，以供將第二入料載台141b上待測之電子元件A移載至該測試裝置13之測試座131執行測試作業，再將完測之電子元件A移載至第二出料載台142b，而由該輸送裝置14之出料搬移機構144將該第一、二出料載台142a、142b上完測之電子元件A搬移至該收料裝置12上之收料盤17內，進而以自動化方式完成電子元件A之測試作業；當電子元件A移載至測試裝置13之測試座131執行測試作業時，該各電子元件A必須以相同的角位方向置入測試裝置13之測試座131，使該電子元件A之各接點分別與測試裝置13之測試座131上相對應的探針電性連接，以正確的執行測試作業，因此，為了使各電子元件A以相同的角位方向置入測試裝置13之測試座131，一般係會利用各電子元件A上之標註記號作為基準，而將各電子元件A以相同的角位方向置入供料盤16之各容槽161內，且利用該矩形之容槽161限制各電子元件A之各側邊(如第2圖所示)，即可將各電子元件A以正確的角位方向置入測試裝置13之測試座131執行測試作業；惟，當各電子元件A置入供料盤16之各容槽161內時，若操作人員疏忽，而未能將各電子元件A以相同的角位方向置入供料盤16之各容槽161內時，由於該移載裝置15並無法判別所移載之電子元件A的角位方向是否正確，即會將錯誤角位方向之電子元件A直接移載置入測試裝置13之測試座131，而無法正確的執行測試作業，進而影響測試作業品質；另外，由於電子元件之形式種類繁多，且各種電子元件之外形不一，如第3圖所示，由於該電子元件B係為圓形，當各電子元件B置入供料盤1 6之各容槽161內後，該供料盤16之容槽161係無法限制電子元件B，而於運送過程中，該電子元件B極易於供料盤16之容槽161轉動，使各電子元件B無法以相同的角位方向容置於供料盤16之各容槽161，進而於執行測試作業時，由於該移載裝置15並無法判別所移載之電子元件B的角位方向，而無法將電子元件B正確的移載至測試裝置13之測試座131執行測試作業，進而影響測試品質。

請參閱第4圖，為解決上述之缺弊，即有業者於電子元件測試設備之移載裝置20設有可驅動作第一、二、三方向(X、Y、Z方向)位移之移動桿21，並以該移動桿21帶動一供取放電子元件A之取放器22位移，另於移動桿21與取放器22之間設有第一方向調整結構23、第二方向調整結構24及角位調整結構25，以帶動該取放器22作第一、二方向(X-Y方向)的位移調整及旋轉調整，進而調整該取放器22上之電子元件A的第一、二方向位置及角位方向，其中，該角位調整結構25係設有一由該第一方向調整結構23及第二方向調整結構24帶動作位移調整之承載件251，該承載件251內裝設有以第三方向(Z方向)配置之馬達252，並於該馬達252之輸出軸2521連結裝設該取放器22，而可由該馬達252之輸出軸2521帶動該取放器22作旋轉調整，以調整電子元件A的角位方向；請參閱第5圖，當移載裝置20之取放器22吸取電子元件A後，即利用移動桿21帶動該第一方向調整結構23、第二方向調整結構24、角位調整結構25及取放器22位移至測試裝置之測試座26上方，並先利用第一方向調整結構23、第二方向調整結構24及角位調整結構25帶動取放器22作第一、二方向(X-Y方向)的位移調整及旋轉調整，以調整該取放器22上之電子元件A的第一、二方向位置及角位方向，使電子元件A之電性接點A1與測試座26之探針261對位，而由該移動桿21帶動取 放器22及電子元件A向下位移，使電子元件A之電性接點211接觸測試座26之探針261，以進行電子元件A之測試作業；惟，該角位調整結構25之馬達252的轉軸2521於承受外力時仍會失步產生偏轉，即當電子元件A之電性接點A1壓抵測試座26之探針261時，該測試座26之探針261會對電子元件A之電性接點A1產生一反作用力，此一反作用力將會使馬達252之轉軸2521、取放器22及電子元件A產生偏轉的情況，而導致電子元件A之電性接點A1與測試座26之探針261無法作有效的電性接觸，進而影響測試品質。

有鑑於此，本發明人遂以其多年從事相關行業的研發與製作經驗，針對目前所面臨之問題深入研究，經過長期努力之研究與試作，終究研創出一種電子元件之移載裝置及其應用之測試設備，以有效改善先前技術之缺點，此即為本發明之設計宗旨。

本發明之目的一，係提供一種電子元件之移載裝置，其係以一移動部件連結設有取放組件，該取放組件設有連結於該移動部件之承載座，於該承載座樞設有樞轉座，並於該樞轉座設有供取放電子元件之取放器，另於該承載座與該樞轉座間設有定位結構，以供定位該樞轉座及該取放器的樞轉角度，一轉位組件係供進行調整該取放組件之樞轉座及取放器的樞轉角度，一感知組件則供進行感知該取放組件之取放器所移載之電子元件的角位方向，並將感知訊號傳輸至控制器進行比對，以控制該轉位組件帶動該取放組件之樞轉座及取放器樞轉，以調整該取放器所移載之電子元件的角位方向，而可調整定位該取放器所移載之電子元件的角位方向，以確保正確的執行電子元件之測試作業，而達到提升測試品質之實用目的。

本發明之目的二，係提供一種應用電子元件移載裝置之測試設備，該測試設備係於機台上配置有供料裝置、收料裝置、測試裝置、輸送裝置及移載裝置；該供料裝置係供容納至少一待測之電子 元件，該收料裝置則供容納至少一完測之電子元件，該測試裝置係於測試區內設有供執行電子元件測試作業之測試座，該輸送裝置係供將待測之電子元件輸送至測試區，並由測試區將完測之電子元件輸送至收料裝置，另該移載裝置係供於該輸送裝置與該測試裝置之測試座間移載待測之電子元件，並以該移載裝置進行調整待測電子元件的角位方向，使待測之電子元件正確置入該測試裝置之測試座，以確保正確的執行測試作業，而達到提升測試品質之實用自的。

習知部分：

10‧‧‧機台

11‧‧‧供料裝置

12‧‧‧收料裝置

13‧‧‧測試裝置

131‧‧‧測試座

14‧‧‧輸送裝置

141a‧‧‧第一入料載台

142a‧‧‧第一出料載台

141b‧‧‧第二入料載台

142b‧‧‧第二出料載台

143‧‧‧入料搬移機構

144‧‧‧出料搬移機構

15‧‧‧移載裝置

151‧‧‧第一取放機構

152‧‧‧第二取放機構

16‧‧‧供料盤

161‧‧‧容槽

17‧‧‧收料盤

171‧‧‧容槽

20‧‧‧移載裝置

21‧‧‧移動桿

22‧‧‧取放器

23‧‧‧第一方向調整結構

24‧‧‧第二方向調整結構

25‧‧‧角位調整結構

251‧‧‧承載件

252‧‧‧馬達

2521‧‧‧輸出軸

26‧‧‧測試座

261‧‧‧探針

A‧‧‧電子元件

A1‧‧‧電性接點

B‧‧‧電子元件

本發明部分：

30‧‧‧移載裝置

31‧‧‧移動部件

32‧‧‧取放組件

321‧‧‧承載座

3211‧‧‧軸孔

322‧‧‧樞轉座

3221‧‧‧樞軸

323‧‧‧取放器

324‧‧‧壓掣件

33‧‧‧第一方向調整結構

34‧‧‧第二方向調整結構

35‧‧‧轉位組件

351‧‧‧旋轉驅動組

352‧‧‧轉位座

3521‧‧‧套置部

3522‧‧‧穿置部

36‧‧‧感知組件

30a‧‧‧移載裝置

31a‧‧‧移動部件

32a‧‧‧取放組件

322a‧‧‧樞轉座

323a‧‧‧取放器

324a‧‧‧壓掣件

33a‧‧‧第一方向調整結構

34a‧‧‧第二方向調整結構

35a‧‧‧轉位組件

351a‧‧‧旋轉驅動組

352a‧‧‧轉位座

3521a‧‧‧套置部

3522a‧‧‧穿置部

36a‧‧‧感知組件

30b‧‧‧移載裝置

40‧‧‧機台

41‧‧‧供料裝置

42‧‧‧收料裝置

43‧‧‧測試裝置

431‧‧‧測試座

44‧‧‧輸送裝置

441a‧‧‧第一入料載台

442a‧‧‧第一出料載台

441b‧‧‧第二入料載台

442b‧‧‧第二出料載台

443‧‧‧入料搬移機構

444‧‧‧出料搬移機構

50‧‧‧供料盤

501‧‧‧容槽

51‧‧‧收料盤

511‧‧‧容槽

B‧‧‧電子元件

第1圖：習知電子元件測試設備之配置示意圖。

第2圖：習知電子元件容納於料盤內之使用示意圖。

第3圖：習知另一型式電子元件容納於料盤內之使用示意圖。

第4圖：習知取放機構之結構示意圖。

第5圖：習知取放機構之使用示意圖。

第6圖：本發明第一實施例移載裝置之結構示意圖。

第7圖：本發明第一實施例移載裝置應用於測試設備之示意圖。

第8圖：本發明第一實施例應用於測試設備之動作示意圖(一)。

第9圖：本發明第一實施例應用於測試設備之動作示意圖(二)。

第10圖：本發明第一實施例應用於測試設備之動作示意圖(三)。

第11圖：本發明第一實施例應用於測試設備之動作示意圖(四)。

第12圖：本發明第一實施例應用於測試設備之動作示意圖(五)。

第13圖：本發明第一實施例應用於測試設備之動作示意圖(六)。

第14圖：本發明第一實施例應用於測試設備之動作示意圖(七)。

第15圖：本發明第一實施例應用於測試設備之動作示意圖(八)。

第16圖：本發明第一實施例應用於測試設備之動作示意圖(九)。

第17圖：本發明第二實施例移載裝置之結構示意圖。

為使 貴審查委員對本發明作更進一步之瞭解，茲舉一 較佳實施例並配合圖式，詳述如後：請參閱第6圖所示，本發明第一實施例之電子元件移載裝置30係設有可由機械手臂驅動作第一、二、三方向(X、Y、Z方向)位移之移動部件31，以供帶動供取放電子元件之取放組件32，該取放組件32係設有一連結於該移動部件31之承載座321，以供樞設一樞轉座322，並於該樞轉座322連結裝設有供取放電子元件之取放器323，使該取放器323可隨著該樞轉座322樞轉作動；於本實施例中，該承載座321上係設有一以第三方向(Z方向)配置之軸孔3211及軸承座，該樞轉座322上則設有以第三方向(Z方向)配置之樞軸3221，以供穿伸樞設於該承載座321之軸孔3211及軸承座內，而使該樞轉座322及該取放器323可以樞軸3221為軸心作各種角度的樞轉作動；另於該承載座321與該樞轉座322間設有定位結構，以供定位該樞轉座322及該取放器323的樞轉角度，該定位結構係於該承載座321與該樞轉座322間設有一可為氣囊或壓缸之壓掣件324，以供控制壓抵該樞轉座322，使該樞轉座322無法樞轉作動，進而可定位該樞轉座322及該取放器323的樞轉角度；於本實施例中，該壓掣件324係為一氣囊，而於該壓掣件324內輸入氣壓時，使該壓掣件324膨脹而壓抵該樞轉座322，使該樞轉座322無法樞轉作動，而可定位該樞轉座322及該取放器323的樞轉角度，另於該壓掣件324停止輸入氣壓時，該壓掣件324則收縮而脫離壓抵該樞轉座322，使該樞轉座322及該取放器323可樞轉作動；另於該移動部件31與該取放組件32間係連結設有第一方向調整結構33及第二方向調整結構34，以供帶動該取放組件32作第一、二方向(X-Y方向)的位移調整，由於第一方向調整結構33及第二方向調整結構34係為習知技術，故不予贅述；一轉位組件35係供帶動該取放組件32之樞轉座322、取放器323及電子元件樞轉一適當角度，以調整該取放器323所移載之電子元件的角位 方向；於本實施例中，該轉位組件35係為一中空馬達，而於該轉位組件35上設有一由旋轉驅動組351驅動旋轉之轉位座352，並於該轉位座352之頂面設有套置部3521，以供套置該取放組件32之樞轉座322，該套置部3521之底面則設有穿置部3522，以供容置該取放組件32之取放器323及電子元件，而可由該移動部件31驅動該取放組件32位移，使該取放組件32之樞轉座322套置於該轉位座352之套置部3521內，即以該旋轉驅動組351驅動該轉位座352帶動該取放組件32之樞轉座322、取放器323及電子元件樞轉一適當角度，以調整電子元件之角位方向；一感知組件36係為一CCD取像器，以供進行感知該取放組件32之取放器323所移載之電子元件的角位方向及第一、二方向位置，並將該感知訊號傳輸至控制器(圖式中未顯示)進行比對，當電子元件的角位方向異常時，該控制器即控制該轉位組件35帶動該取放組件32之樞轉座322、取放器323及電子元件樞轉一適當角度，以調整待測電子元件之角位方向，當電子元件的第一、二方向位置異常時，則控制該第一方向調整結構33及第二方向調整結構34帶動該取放組件32作第一、二方向(X-Y方向)的位移調整；於本實施例中，該轉位組件35之轉位座352的穿置部3522係連通至底部，而可於該轉位組件35之轉位座352的穿置部3522下方設置該感知組件36，而於該取放組件32之樞轉座322套置於該轉位座352之套置部3521內時，即以該感知組件36進行感知電子元件的角位方向及第一、二方向位置。

請參閱第7圖，本發明電子元件之移載裝置應用於測試設備上時，該測試設備係於機台40上配置有供料裝置41、收料裝置42、測試裝置43、輸送裝置44及至少一移載裝置；該供料裝置41係供承置至少一供料盤50，並於該供料盤50上設有複數個矩形之容槽501，以供容納待測之電子元件；該收料裝置42係供承置至少一收料盤51，並於該收料盤51上設有複數個矩形之容槽 511，以供容納完測之電子元件；該測試裝置43係於測試區內設有測試座431，以供執行電子元件之測試作業；該輸送裝置44係供將供料裝置41之供料盤50上的待測電子元件載送至測試區執行測試作業，再將完測之電子元件載送至該收料裝置42之收料盤51內；於本實施例中，該輸送裝置44係於該測試裝置43之測試座431一側配置有第一入料載台441a及第一出料載台442a，另側則配置有第二入料載台441b及第二出料載台442b，並於該第一、二入料載台441a、441b與該供料裝置41間配置有入料搬移機構443，以供將供料盤50上之待測電子元件搬移至該第一、二入料載台441a、441b上，而由該第一、二入料載台441a、441b將待測之電子元件載送至測試區，該第一、二出料載台442a、442b與該收料裝置42間則配置有出料搬移機構444，以供將該第一、二出料載台442a、442b上完測之電子元件搬移至該收料裝置42上之收料盤51內；該移載裝置係供將該輸送裝置44載送至測試區之待測電子元件移載至該測試裝置43之測試座431，以執行待測電子元件之測試作業，並將完測之電子元件移載至輸送裝置44，而由輸送裝置44將完測之電子元件載送至該收料裝置42上之收料盤51內；於本實施例中，於該測試裝置43之測試座431與該輸送裝置44之第一入料載台441a及第一出料載台442a間係配置有第一組移載裝置30a，以於該測試裝置43之測試座431與該輸送裝置44之第一入料載台441a及第一出料載台442a間移載電子元件，於該測試裝置43之測試座431與該輸送裝置44之第二入料載台441b及第二出料載台442b間則配置有第二組移載裝置30b，以於該測試裝置43之測試座431與該輸送裝置44之第二入料載台441b及第二出料載台442b間移載電子元件，再由出料搬移機構444由第一出料載台442a及第二出料載台442b將完測之電子元件搬移至該收料裝置42上之收料盤51內，進而以自動化方式完成電子元件之測 試作業。

請參閱第8、9圖，本發明之測試設備於執行電子元件之測試作業時，以呈圓形之電子元件B為例，其係先以該輸送裝置44之入料搬移機構443將供料盤50上之待測電子元件B搬移至該第一入料載台441a上，而由該第一入料載台441a將待測之電子元件B載送至測試區內之測試裝置43的測試座431側方處；請參閱第10、11圖，接著以該第一組移載裝置30a進行移載待測之電子元件B，首先，其係以該移動部件31a帶動取放組件32a、第一方向調整結構33a及第二方向調整結構34a，而以該取放組件32a之取放器323a於該第一入料載台441a上吸取待測之電子元件B，並將待測之電子元件B移載至該轉位組件35a上方，且該取放組件32a於移載待測之電子元件B過程中，其係於該壓掣件324a內輸入氣壓，使該壓掣件324a膨脹而壓抵定位該樞轉座322a，使該樞轉座322a、取放器323a及電子元件B無法樞轉作動；請參閱第12圖，接著以該移動部件31a帶動取放組件32a、第一方向調整結構33a及第二方向調整結構34a作第三方向(Z方向)的下降位移，使該取放組件32a之樞轉座322a套置於該轉位座352a之套置部3521a內，該取放器323a及待測之電子元件B則容置於該穿置部3522a內，而由該感知組件36a進行感知該待測之電子元件B的角位方向及第一、二方向位置；請參閱第13圖，該感知組件36a將該感知訊號傳輸至控制器(圖式中未顯示)進行比對，當該待測之電子元件B的角位方向異常時，即控制停止於該取放組件32a之壓掣件324a內輸入氣壓，使該壓掣件324a收縮而脫離壓抵該樞轉座322a，而使該樞轉座322a、取放器323a及待測之電子元件B可樞轉作動，接著控制該轉位組件35a之旋轉驅動組351a驅動該轉位座352a帶動該取放組件32a之樞轉座322a、取放器323a及待測之電子元件B樞轉一適當角度，以調整待測之電子元件B的角位方向；請參閱第1 4圖，於調整待測之電子元件B的角位方向後，接著於該壓掣件324a內輸入氣壓，使該壓掣件324a膨脹而壓抵該樞轉座322a，使該樞轉座322a、取放器323a及電子元件B無法樞轉作動，以定位待測之電子元件B的角位方向；請參閱第14、15圖，當待測之電子元件B調整至正確的角位方向後，即可將該待測之電子元件B移載至測試裝置43之測試座431，以執行測試作業；藉此，利用該移載裝置30a之轉位組件35a將待測之電子元件B樞轉調整至正確的角位方向，並以該壓掣件324a壓抵該樞轉座322，以定位待測之電子元件B的角位方向，即可確保正確的執行測試作業，而達到提升測試品質之實用效益；請參閱第16圖所示，當完成測試作業後，該移載裝置30a將完測之電子元件B移載至輸送裝置44之第一出料載台442a上，並由該第一出料載台442a載送出測試區，而由該出料搬移機構444將該第二出料載台442a上完測之電子元件B搬移至該收料裝置42上之收料盤51內，進而完成電子元件B的測試作業。

請參閱第17圖所示，本發明第二實施例之電子元件移載裝置與第一實施例的差異僅在於該轉位組件35及感知組件36的配置方式，其係於該轉位組件35側方位置設置該感知組件36，而由移動部件31帶動該取放組件32、第一方向調整結構33、第二方向調整結構34及待測之電子元件B先移載至該感知組件36上，以進行感知該待測之電子元件的角位方向及第一、二方向位置，再將該取放組件32、第一方向調整結構33、第二方向調整結構34及待測之電子元件B先移載至該轉位組件35上，以調整待測電子元件B之角位方向；藉此，相同利用該移載裝置30之轉位組件35將待測之電子元件調整至正確的角位方向，以確保正確的執行測試作業，而達到提升測試品質之實用效益。

據此，本發明實為一深具實用性及進步性之設計，然未見有相同之產品及刊物公開，從而允符發明專利申請要件，爰依法提 出申請。

30‧‧‧移載裝置

31‧‧‧移動部件

32‧‧‧取放組件

321‧‧‧承載座

3211‧‧‧軸孔

322‧‧‧樞轉座

3221‧‧‧樞軸

323‧‧‧取放器

324‧‧‧壓掣件

33‧‧‧第一方向調整結構

331‧‧‧第一滑軌組

332‧‧‧連結座

333‧‧‧第一驅動組

34‧‧‧第二方向調整結構

341‧‧‧第二滑軌組

342‧‧‧第二驅動組

35‧‧‧轉位組件

351‧‧‧旋轉驅動組

352‧‧‧轉位座

3521‧‧‧套置部

3522‧‧‧穿置部

36‧‧‧感知組件

Claims (10)

1. 一種電子元件之移載裝置，其係包含有：移動部件：係作至少一方向的位移；取放組件：係設有連結於該移動部件之承載座，於該承載座樞設有樞轉座，並於該樞轉座設有供取放電子元件之取放器，另於該承載座與該樞轉座間設有定位結構，以定位該樞轉座及該取放器的樞轉角度；感知組件：係感知該取放組件之取放器所移載之電子元件的角位方向，並將感知訊號傳輸至控制器；轉位組件：係設有一由旋轉驅動組驅動旋轉之轉位座，以承置該取放組件之樞轉座，並由該控制器控制該轉位座帶動該取放組件之樞轉座樞轉，以調整該取放組件之取放器所移載之電子元件的角位方向。
2. 依申請專利範圍第1項所述之電子元件之移載裝置，其中，該移動部件係由機械手臂驅動作第一、二、三方向位移，以帶動取放組件。
3. 依申請專利範圍第1項所述之電子元件之移載裝置，其中，該取放組件之承載座上係設有軸孔，該樞轉座上則設有樞軸，以供穿伸樞設於該承載座之軸孔。
4. 依申請專利範圍第1項所述之電子元件之移載裝置，其中，該轉位組件之定位結構係於該承載座與該樞轉座間設有壓掣件，以壓抵定位該樞轉座。
5. 依申請專利範圍第4項所述之電子元件之移載裝置，其中，該轉位組件之壓掣件係為氣囊或壓缸。
6. 依申請專利範圍第1項所述之電子元件之移載裝置，其中，該轉位組件之轉位座的頂面係設有套置部，以供承置該取放組件之樞轉座。
7. 依申請專利範圍第6項所述之電子元件之移載裝置，其中，該轉位組件之轉位座的底面係設有穿置部，以供容置該取放組件之取放器及該電子元件。
8. 依申請專利範圍第7項所述之電子元件之移載裝置，其中，該轉位組件之轉位座的穿置部係連通至底部，並於該轉位座之穿置部下方裝設該感知組件。
9. 依申請專利範圍第1項所述之電子元件之移載裝置，其中，該感知組件係設置於該轉位組件側方位置。
10. 一種測試設備，其係包含有：機台；供料裝置：係配置於該機台上，以供承置至少一待測之電子元件；收料裝置：係配置於該機台上，以供承置至少一完測之電子元件；測試裝置：係配置於該機台上，並於測試區內設有測試座，以供執行電子元件之測試作業；輸送裝置：係配置於該機台上，以供將該供料裝置上之待測電子元件輸送至該測試區內，以及將該測試區內完測之電子元件輸送至該收料裝置；至少一依申請專利範圍第1項所述之移載裝置：係供將該輸送裝置載送至測試區之待測電子元件移載至該測試裝置之測試座，以執行測試作業，並將完測之電子元件移載至該輸送裝置。