TWI584573B - Motor control device and motor insulation detection method (a) - Google Patents
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Description
本發明有關於一種具有馬達之絶緣劣化檢測功能的馬達控制裝置及馬達之絶緣劣化檢測方法。
一般而言，伺服馬達與馬達控制裝置連接，並利用設於馬達控制裝置內之PWM反向器來驅動。伺服馬達多使用於以工作機械為始之生產設備。工作機械當中，有一面供給切削液一面加工工件之機械。在使用切削液之機械，切削液會附著於伺服馬達，且附著之切削液會侵入伺服馬達之內部，使伺服馬達之絶緣逐漸地劣化。
當伺服馬達之絶緣劣化時，伺服馬達內之線圈與接地之間的絶緣電阻變小，最後，線圈與接地會電性地連接，而導致接地故障。當接地故障產生時，漏電斷路器就會跳機，或是使馬達控制裝置損傷，使系統當機發生。系統當機之發生由於會使工廠之生產線強制地停止，因此對在工廠之生產會給予莫大的損害。
以往，從預防措施之觀點看來，希望有一種可在導致接地故障之前，容易地檢測伺服馬達之絶緣劣化之裝置的聲音。特別是在將使用大量伺服馬達之多軸工作機械使用的工廠，熱切期望一
種可將伺服馬達之絶緣劣化的裝置個別地檢測出之裝置。
作為檢測伺服馬達之絶緣劣化的習知方法，代表性的有下述3個方法。
(1)使用電氣絶緣電阻計之方法
該方法是將伺服馬達之線圈與接地之間的絶緣電阻用電氣絶緣電阻計直接地讀取之方法。
(2)使用PWM反向器之電路與接地之間之電壓的方法
該方法是使用下述專利文獻1所記載之發明。詳言之，在PWM反向器之正極及負極的兩方，或是任一極與接地之間，將已串聯連接電容器與電阻器之電路加以連接，並檢測電阻器兩端之電壓藉此來演算絶緣電阻的方法。
(3)使用非給電狀態之PWM反向器的電路與接地之間的電壓的方法
該方法是使用下述專利文獻2所記載之發明。明白的說，透過遮斷器在與電源連接之PWM反向器的負極與接地之間將電阻器與開關連接，使遮斷器為開啟狀態，並關閉開關，使PWM反向器之正極的半導體開關為導通狀態，來檢測電阻器兩端之電壓藉此來演算絶緣電阻的方法。該方法是在PWM反向器未與電源連接之狀態下來演算絶緣電阻之點有所不同。
[專利文獻1]日本特開2005-201669號公報
[專利文獻2]日本特開2009-204600號公報
然而，檢測伺服馬達之絶緣劣化的習知方法中，會有如以下之問題。
採用(1)之方法時，為了檢測絶緣電阻，必須將伺服馬達與馬達控制裝置連接之配線取下，並在伺服馬達之線圈與接地之間進行絶緣電阻計連接之作業。為了檢測絶緣電阻，作業項目過多，作為預防措施並不實際。
採用(2)之方法時，如(1)之方法，雖不需分解工作機械，但透過PWM反向器之電源，由於在將電容器與電阻器串聯連接之電路會有漏出電流流動，因此無法演算正確之絶緣電阻。
採用(3)之方法時，由於在遮斷器將電源與PWM反向器切開分離，因此如(2)之方法的問題不會存在。但，PWM反向器採用靴帶式電路時，因如下述之理由，該方法無法適用。
如用圖6之反向器電路所示，靴帶式電路是將電容器15作為正極16側之電晶體17的電源來利用的電路。靴帶式電路是於設於PWM反向器10之負極11側的電源12，將二極體13、電阻器14、電容器15連接來構成。藉由負極11側之電晶體18之開啟、關閉，從負極11側之電源12透過電阻器14、二極體13來充電電容器15。因此，電容器15會成為正極16側之電晶體17的電源。故，無法將正極16側之電晶體17常時開啟，PWM反向器10採用靴帶式電路時，便無法檢測絶緣電阻。
特別是，在使用大量之伺服馬達之多軸工作機械，對各伺服馬達個別地設置如圖6之反向器電路，且並聯地連接所有反向器電路。此時，雖期望能檢測各個伺服馬達之絶緣電阻，但因上述理由，而無法檢測各個伺服馬達之絶緣電阻。
本發明為了解決如上述檢測絶緣劣化之習知方法的問題點而提案者，目的在於提供一種馬達控制裝置及馬達之絶緣劣化檢測方法，其即使為具有靴帶式電路之馬達控制裝置，亦可容易地檢測絶緣電阻，並個別地正確掌握複數馬達之絶緣劣化的狀態。
用以達成上述目的之本發明之馬達控制裝置具有：遮斷器、複數反向器電路、檢測開關、電阻器、檢測動作控制部、及絶緣電阻檢測部。各反向器電路具有：開關部、第1驅動電路、第2驅動電路、及分離開關。
遮斷器將具有平流電容器之整流電路與交流電源之連接遮斷。複數反向器電路與平流電容器並聯地連接並將複數馬達之各個馬達個別地驅動。
具有各反向器電路之開關部將一對半導體開關串聯地連接，並將連接一對半導體開關彼此之連接線於馬達線圈的臂電路加以複數並聯地連接，且將複數臂電路與平流電容器並聯地連接。
具有各反向器電路之第1驅動電路將臂電路之一對半導體開關當中具有靴帶式電路之其中一方的半導體開關驅動。具有各反向器電路之第2驅動電路將臂電路之一對半導體開關當中另一方的半導體開關驅動。
具有各反向器電路之分離開關會遮斷朝靴帶式電路之通電，並將第1驅動電路與第2驅動電路分離。
檢測開關形成絶緣電阻檢測用電流經路，而該絶緣電阻檢測用電流經路是從平流電容器，流經成為檢測對象之馬達所連接之反向器電路之臂電路的半導體開關、馬達的線圈、接地而到達平流電容器。電阻器設於平流電容器與接地之間之絶緣電阻檢測用電
流經路內與檢測開關串聯地連接。
檢測動作控制部在接收到馬達之絶緣電阻的檢測指示時，開啟遮斷器使成為檢測對象之馬達所連接之反向器電路的分離開關為關閉，另一方面，使成為檢測對象之馬達所連接之反向器電路以外的所有反向器電路的分離開關為開啟，使檢測開關為關閉來形成絶緣電阻檢測用電流經路，然後使以下開關動作重覆：對成為檢測對象之馬達所連接之反向器電路之第1驅動電路，將A%之工作比(duty ratio)之PWM信號輸出並使該反向器電路之開關部至少一個臂電路之一對半導體開關其中一方為開啟狀態且另一方為關閉狀態，之後，對反向器電路之第2驅動電路輸出使PWM信號之HI、LOW在同一時點反轉之(100-A)%之工作比之PWM信號並使臂電路之一對半導體開關其中一方為關閉狀態，另一方為開啟狀態。絶緣電阻檢測部使用電阻器之端子間電壓來檢測成為檢測對象之馬達的絶緣電阻。
用以達成上述目的之本發明之馬達的絶緣劣化檢測方法是具有遮斷器、複數反向器電路、檢測開關、電阻器、檢測動作控制部、絶緣電阻檢測部，又，各反向器電路具有開關部、第1驅動電路、第2驅動電路、分離開關之馬達控制裝置之馬達的絶緣劣化檢測方法。
馬達之絶緣劣化檢測方法包含有以下階段：接收馬達之絶緣電阻之檢測指示的階段；利用遮斷器遮斷整流電路與交流電源之連接，使成為檢測對象之馬達所連接之反向器電路之分離開關為關閉並將第1驅動電路與第2驅動電路連接，另一方面，使成為檢測對象之馬達所連接之反向器電路以外所有反向器電路的分離開關為開啟且遮斷朝靴帶式電路之通電的同時，將第1驅動電路與第2
驅動電路分離，利用檢測開關來形成絶緣電阻檢測用電流經路的階段；重覆進行下述開關動作並在絶緣電阻檢測用電流經路內使檢測電流流動的階段，下述開關動作包含：對成為檢測對象之馬達所連接之反向器電路的第1驅動電路輸出A%之工作比之PWM訊號並使該反向器電路之開關部至少一個臂電路之一對半導體開關其中一方為開啟狀態，另一方為關閉狀態，之後，對反向器電路之第2驅動電路輸出使PWM訊號之HI、LOW在同一時點反轉之(100-A)%之工作比的PWM訊號並使臂電路之一對半導體開關其中一方為關閉狀態，另一方為開啟狀態；檢測藉由檢測電流流動於電阻器所生成之電阻器之電壓的階段；及從所檢測電壓之大小來檢測成為檢測對象之馬達之絶緣電阻的階段。
根據本發明，即使為具有靴帶式電路之馬達控制裝置，亦可容易地檢測絶緣電阻，並可個別地正確掌握複數馬達之絶緣劣化的狀態。
100‧‧‧馬達控制裝置
110‧‧‧整流電路
120‧‧‧交流電源(三相)
130‧‧‧遮斷器
140-1、140-2‧‧‧反向器電路
145‧‧‧第1驅動電路
147‧‧‧第2驅動電路
148-1、148-2‧‧‧分離開關
150A、150B、150C‧‧‧臂電路(開關部)
152A、152B、152C‧‧‧連接線
155‧‧‧檢測開關
160‧‧‧電阻器
165‧‧‧保護電阻器
170‧‧‧檢測動作指示部
175‧‧‧PWM控制電路
180‧‧‧A/D變換器
185‧‧‧絶緣劣化判定電腦
C‧‧‧平流電容器
D、D1~D6‧‧‧二極體
TR1-TR6‧‧‧電晶體
DPS‧‧‧直流電源
R0‧‧‧電阻
D0‧‧‧二極體
C0‧‧‧電容器
M1、M2‧‧‧馬達
R1i、R2i‧‧‧絕緣電阻
W1r、W1s、W1t、W2r、W2s、W2t‧‧‧線圈
I‧‧‧電流
S100~S106‧‧‧步驟
圖1是本實施形態之馬達控制裝置的構成圖。
圖2(a)、(b)是提供圖1所示之臂電路之動作說明的圖。
圖3是圖1所示之馬達控制裝置之絶緣電阻檢測時的動作流程圖。
圖4是提供圖3之動作流程圖之動作說明的圖。
圖5是提供圖3之動作流程圖之動作說明的圖。
圖6是顯示設於反向器電路之靴帶式電路之具體之電路構成的圖。
以下針對本發明之馬達控制裝置及馬達之絶緣劣化檢測方法的1實施形態來說明。
〔馬達控制裝置之構成〕
圖1是本實施形態之馬達控制裝置的構成圖。如圖所示，本實施形態之馬達控制裝置100可驅動2台馬達M1、M2，並可個別地檢測2台馬達M1、M2之絶緣電阻。使用本實施形態之馬達控制裝置來檢測馬達M1、M2之絶緣電阻時，不需除去成為檢測對象之馬達的配線，不會受到從電源之漏出電流的影響。又，如下所述，即使2軸所構成之馬達控制裝置具有靴帶式電路，亦可正確地檢測2個馬達之絶緣電阻。
本實施形態所例示之馬達是三相交流馬達，馬達M1具有：星形連接之R相的線圈W1r、S相之線圈W1s、及T相之線圈W1t。驅動馬達M1時，例如，在線圈W1r、W1s、W1t使電流以電流相位角度偏移120°之相位流動。又，記載著馬達M1之絶緣電阻R1i作為等效電路之顯示線圈W1r、W1s、W1t之中性點與接地之間之絶緣的電阻。當絶緣電阻R1i之電阻值變成預定之一定值以下時就可判斷為馬達M1之絶緣劣化。
同樣地，馬達M2具有：星形連接之R相的線圈W2r、S相之線圈W2s、及T相之線圈W2t。驅動馬達M2時，與馬達M1同樣地，例如，在線圈W2r、W2s、W2t，使電流以電流相位角度偏移120°之相位流動。又，馬達M2之絶緣電阻R2i的電阻值變成預定一定值以下時就可判斷為馬達M2之絶緣劣化。
馬達控制裝置100具有：遮斷具備平流電容器C之整流電路110與交流電源(三相)120之連接的遮斷器130。
如圖所示，整流電路110具有電橋連接之6個二極體D1~D6，6個二極體D1~D6會將從交流電源120流動之交流電流全波整流。由6個二極體D1~D6所全波整流之直流電流利用平流電容器C來平流化，來減低全波整流後之直流電流的漣波。
遮斷器130在檢測馬達M1或M2之絶緣電阻時，開放其之接點，並遮斷整流電路110與交流電源120之連接。
在整流電路110，並聯地連接有2個反向器電路140-1與140-2。反向器電路140-1與140-2與平流電容器C並聯地連接並將各個馬達M1、M2個別地驅動。由於反向器電路140-1與140-2之構成相同，因此可代表並說明反向器140-1之構成。
反向器140-1具有構成開關部之3個臂電路150A、150B、150C。
臂電路150A將一對電晶體(半導體開關)TR1與TR4串聯地連接，並將馬達M1之線圈W1r連接於一對電晶體TR1與TR4之間之連接線152A。臂電路150B將一對電晶體TR2與TR5串聯地連接，並將馬達M1之線圈W1t連接於一對電晶體TR2與TR5之間之連接線152B。臂電路150C將一對電晶體TR3與TR6串聯地連接，並將馬達M1之線圈W1s連接於一對電晶體TR3與TR6之間之連接線152C。
3個臂電路150A、150B、150C(開關部)與整流電路110之平流電容器C並聯地連接。在形成開關部之6個電晶體TR1、TR4、TR2、TR5、TR3、TR6的集極-射極間將二極體D反向連接。
形成各臂電路150A、150B、150C之一對電晶體TR1、TR4或、TR2、TR5或、TR3、TR6當中，對其中一方之各個電晶體TR1、TR2、TR3，連接由電阻R0、電容器C0、二極體D0及直流電源DPS所構成之靴帶式電路。
將電晶體TR1、TR2、TR3驅動之第1驅動電路145連接於具有靴帶式電路之其中一方的各個電晶體TR1、TR2、TR3。
形成各臂電路150A、150B、150C之一對電晶體TR1、TR4或，TR2、TR5或，TR3、TR6當中，將電晶體TR4、TR5、TR6驅動之第2驅動電路147連接於另一方之各個電晶體TR4、TR5、TR6。
第1驅動電路145個別地設於各個電晶體TR1、TR2、TR3。又，第2驅動電路147個別地設於各個電晶體TR4、TR5、TR6。
將驅動電晶體TR1、TR2、TR3之第1驅動電路145驅動的靴帶式電路與將電晶體TR4、TR5、TR6驅動之第2驅動電路147利用分離開關148-1來連接。當分離開關148-1開啟時，驅動第1驅動電路145之靴帶式電路與第2驅動電路147就會分離。即，當分離開關148-1開啟時，就會遮斷朝靴帶式電路之通電。相反地，當分離開關148-1關閉時，驅動第1驅動電路145之靴帶式電路與第2驅動電路147就會連接，朝靴帶式電路之通電便為可能。故，充電電容器C0，第1驅動電路145便會利用電容器C0之電壓來驅動電晶體TR1、TR2、TR3。
而，本實施形態中，將分離開關148-1設於電阻R0與直流電源DPS之間，藉由使分離開關148-1開啟，將所有第1驅動電路145與所有第2驅動電路147用1個分離開關148-1來完整地分離，但分離開關148可設於各個電阻R0與電容器C0之間。
在檢測開關155之其中一方的端子，將連接有一方之端子之電阻器160連接於將平流電容器C之一端與電晶體TR4、TR5、TR6之射極連接的線。又，在檢測開關155之另一方之端子，連接有在馬達M1或M2為接地故障狀態時防止過電流流動之保護電阻器165的一端。並將保護電阻器165之另一端連接於接地。
檢測馬達M1或M2之絶緣電阻時，當關閉檢測開關155時，就會形成下述任一者之絶緣電阻檢測用電流經路。
即，檢測馬達M1之絶緣電阻時，會形成絶緣電阻檢測用電流經路，而該絶緣電阻檢測用電流經路是在反向器電路140-1，會從平流電容器C經由臂電路150A之電晶體TR1、TR4、馬達M1之線圈W1r、臂電路150B之電晶體TR2、TR5、馬達M1之線圈W1t及臂電路150C之電晶體TR3、TR6、及馬達M1之線圈W1s之3個線圈，並流經絶緣電阻R1i、接地，從保護電阻器165、檢測開關155、電阻器160到達至平流電容器C。
又，絶緣電阻檢測用電流經路亦可不是如上所述經由3個線圈，為依序經由1個1個的線圈之下述任一者的經路。
即，亦可為從平流電容器C，流經臂電路150A之電晶體TR1、TR4、馬達M1之線圈W1r、絶緣電阻R1i、接地，並從保護電阻器165、檢測開關155、電阻器160到達至平流電容器C之絶緣電阻檢測用電流經路。或者是，亦可為從平流電容器C流經臂電路150B之電晶體TR2、TR5、馬達M1之線圈W1t、絶緣電阻R1i、接地，並從保護電阻器165、檢測開關155、電阻器160到達至平流電容器C之絶緣電阻檢測用電流經路。或者是，亦可為從平流電容器C流經臂電路150C之電晶體TR3、TR6、馬達M1之線圈W1s、絶緣電阻R1i、接地，並從保護電阻器165、檢測開關155、電阻器160到達至平流電容器C之絶緣電阻檢測用電流經路。又，亦可利用任意2個臂電路(例如臂電路150A與150C)來形成絶緣電阻檢測用電流經路。
而，檢測馬達M2之絶緣電阻時，在反向器電路140-2側，與上述同樣地，用任一者之經路來形成絶緣電阻檢測用電流經路。
遮斷器130、分離開關148-1、148-2、檢測開關155是利
用檢測動作指示部170來驅動。
檢測動作控制部170在接收到馬達M1或M2之絶緣電阻的檢測指示時，辨識其之檢測指示是對哪一個馬達之檢測指示。如絶緣電阻之檢測指示是對馬達M1者，如圖4所示，使遮斷器130開啟，使分離開關148-1關閉，使分離開關148-2開啟，同時地使檢測開關155關閉，在反向器電路140-1側便會形成上述絶緣電阻檢測用電流經路。
另一方面，如絶緣電阻之檢測指示是對馬達M2者，使遮斷器130開啟，使分離開關148-1開啟，使分離開關148-2關閉，同時地使檢測開關155關閉，在反向器電路140-2側便會形成上述絶緣電阻檢測用電流經路。
分離開關148-1與148-2不會同時地關閉，而是根據絶緣電阻之檢測指示是對馬達M1者，或是對馬達M2者來擇一地開關。因此，在反向器電路140-1側形成絶緣電阻檢測用電流經路時，不會受到反向器電路140-2側之影響，便可測定馬達M1之絶緣電阻R1i。又，在反向器電路140-2側形成絶緣電阻檢測用電流經路時，不會受到反向器電路140-1側之影響，便可測定馬達M2之絶緣電阻R2i。
PWM控制電路175接受來自檢測動作控制部170之指示，對第1驅動電路145輸出A%之工作比的PWM訊號，對第2驅動電路147輸出使PWM訊號之HI、LOW在同一時點反轉之(100-A)%之工作比的PWM訊號。
藉此，重覆以下開關動作：使開關部之至少一個臂電路(例如3個，便為臂電路150A~150C)之一對電晶體TR1、TR2、TR3為開啟狀態並使電晶體TR4、TR5、TR6為關閉狀態，之後使電晶
體TR1、TR2、TR3為關閉狀態並使電晶體TR4、TR5、TR6為開啟狀態。又，重覆以下開關動作：使開關部至少一個臂電路(例如1個，便為臂電路150A)之一對電晶體TR1為開啟狀態並使電晶體TR4為關閉狀態，之後使電晶體TR1為關閉狀態並使電晶體TR4為開啟狀態。
PWM控制電路175對臂電路150A~150C之第1驅動電路145與第2驅動電路147使上述負載比之PWM訊號以符合脈衝之相位之方式同步並輸出，而可檢測馬達M1或M2之線圈的絶緣電阻。
又，PWM控制電路175對臂電路150A之第1驅動電路145與第2驅動電路147輸出上述工作比之PWM訊號，使其可檢測馬達M1或M2之線圈W1r或線圈W2r之絶緣電阻。或者是，對臂電路150B之第1驅動電路145與第2驅動電路147輸出上述工作比之PWM訊號，而可檢測馬達M1或M2之線圈W1t或線圈W2t之絶緣電阻。或者是，對臂電路150C之第1驅動電路145與第2驅動電路147輸出上述工作比之PWM訊號，而使其可檢測馬達M1或M2之線圈W1s或線圈W2s之絶緣電阻。
進而，PWM控制電路175亦可使任意2個臂電路(例如臂電路150A與150C)之第1驅動電路145與第2驅動電路147符合脈衝相位而同步，並同時地輸出上述負載比之PWM訊號。
而，用檢測動作指示部170與PWM控制電路175來形成檢測動作控制部。
此時之輸出至第1驅動電路145之PWM訊號的工作比A是選定可在絶緣電阻檢測用電流經路生成用以使檢測馬達M1或M2之絶緣電阻R1i或R2i所需要之電流流動的電壓，且，可將靴帶式電路之電容器C0充電至電晶體TR1可開關動作之30%至70%之範圍的
值。
A/D變換器180連接於檢測開關155與電阻160之間。A/D變換器180將電阻160之端子間電壓變換為數位值。在A/D變換器180，從數位化之電阻160的端子間電壓來檢測馬達M1、M2之絶緣電阻R1i或R2i，並連接有使用已檢測之絶緣電阻之值來判定絶緣劣化狀態之絶緣劣化判定電腦185。
而，用A/D變換器180與絶緣劣化判定電腦185來形成絶緣電阻檢測部。
圖2是提供圖1所示之臂電路150A之動作說明的圖。如圖2(a)所示，臂電路150A之電晶體TR1連接有靴帶式電路。
在靴帶式電路，分離開關148-1變成關閉且電晶體TR4開啟之期間，在用直流電源DSP、電阻R0、二極體D0、電容器C0、電晶體TR4所構成之關閉電路，電流流動，並利用該電流來充電電容器C0。
充電於電容器C0之電荷會成為使電晶體TR1之基極-射極間電壓之上昇的電源。利用從第1驅動電路145輸出之交換訊號，可確保電晶體TR1之導通狀態。
在分離開關148-1關閉之期間，如圖2(b)所示之PWM訊號會施加於電晶體TR1與TR4。PWM訊號1與PWM訊號2是HI與LOW之狀態反轉之訊號。因此，當PWM訊號1施加於電晶體TR1，PWM訊號2施加於電晶體TR4時，就會重覆以下開關動作：電晶體TR1成為開啟狀態時，另一方面電晶體TR4成為關閉狀態，之後電晶體TR1成為關閉狀態時，另一方面電晶體TR4成為開啟狀態。
〔馬達控制裝置之動作〕
接著，針對圖1所示之馬達控制裝置100之動作來說明。在針對
檢測絶緣電阻之動作來說明前，首先，針對驅動馬達M1、M2之通常的動作來說明。
(通常動作)
驅動馬達M1與M2時，由於檢測動作指示部170不會動作，因此遮斷器130會如圖1所示成為關閉狀態。由交流電源120所施加之電壓利用整流電路110變換成直流，並供給至驅動馬達M1之反向器電路140-1與驅動馬達M2之反向器電路140-2。而，如圖1所示，在通常動作中，分離開關148-1與148-2均是關閉狀態，檢測開關155則是開啟狀態。
PWM控制電路175將反向器電路140-1與140-2之臂電路150A之電晶體TR1與臂電路150B之電晶體TR5開啟，在馬達M1之線圈W1r、W1t使電流流動，並在馬達M2之線圈W2r、W2t使電流流動。接著，PWM控制電路175將反向器電路140-1與140-2之臂電路150B之電晶體TR2與臂電路150C之電晶體TR6開啟，在馬達M1之線圈W1t、W1s使電流流動，並在馬達M2之線圈W2t、W2s使電流流動。接著，PWM控制電路175將反向器電路140-1與140-2之臂電路150C之電晶體TR3與臂電路150A之電晶體TR4開啟，在馬達M1之線圈W1s、W1r使電流流動，並在馬達M2之線圈W2s、W2r使電流流動。
依照上述的順序反覆開關PWM控制電路175之臂電路150A~150C的電晶體TR1-TR6，藉此，在馬達M1、M2之線圈W1r-W1t、W2r-W2t有電流流動，馬達M1、M2便會旋轉。變更旋轉速度時，會變更對臂電路150A~150C之電晶體TR1-TR6施加之PWM訊號的工作比。
PWM控制電路175所進行之以上的控制是根據來自安裝
於馬達M1、M2之編碼器之訊號來進行。利用來自編碼器之訊號可檢測馬達M1、M2之旋轉位置，並為了定位來控制馬達M1、M2之速度。
(絶緣電阻檢測動作)
與如上述之通常動作不同，檢測馬達M1或M2之絶緣電阻時，馬達控制裝置100會如以下地動作。
圖3是圖1所示之馬達控制裝置100之絶緣電阻檢測時的動作流程圖。該動作流程圖所示處理順序是顯示馬達之絶緣劣化檢測方法的順序。
將圖3之動作流程圖的處理一面參照圖2、圖4、圖5，一面說明。
藉由檢測動作指示部170將馬達M1或M2之絶緣電阻的檢測指示從外部輸入來開始絶緣電阻檢測動作。
如圖4所示，當檢測動作指示部170從外部接受絶緣電阻之檢測指示時(S100)，檢測動作指示部170使遮斷器130從關閉狀態成為開啟狀態，並將整流電路110從交流電源120切開分離(S101)。藉此對反向器電路140-1與140-2不再供給電力，馬達控制裝置100從通常動作轉移至絶緣電阻檢測動作。而，絶緣電阻之檢測指示包含有成為檢測對象之馬達M1或M2的資訊。
該步驟S100之處理相當於絶緣劣化檢測方法之第1階段。
檢測動作指示部170從包含於絶緣電阻檢測指示之檢測對象之馬達的資訊，來辨識其之檢測指示是對哪一個馬達之檢測指示。利用已辨識之檢測指示，來選擇使其為開啟狀態之分離開關148-1或148-2，並使選擇之分離開關為開啟狀態。
例如，若絶緣電阻之檢測指示是對馬達M1者，由於成為
絶緣電阻之檢測對象的馬達所連接之反向器電路是140-1，因此如圖4所示，檢測動作指示部170只使分離開關148-1為關閉狀態。即，使分離開關148-1保持關閉狀態，且絶緣電阻之檢測對象外的馬達所連接之反向器電路會使140-2之分離開關148-2從關閉狀態變為開啟狀態。
使分離開關148-2為開啟狀態，萬一有馬達M2之絶緣電阻R2i降低之情況，則是因從反向器電路140-2之直流電源DPS通過靴帶式電路之電阻R0、二極體D0、電容器C0、絶緣電阻R2i有電流流動之故。該電流會招致絶緣電阻R1i的失誤檢測。
更具體而言，PWM驅動馬達M1時，對於接地電位之負極的電位受到PWM訊號之影響而變動。故，負極之電位變得比接地電位更高時，通過絶緣電阻R2i，在電阻器160與保護電阻器165會有電流流動。因此，雖想檢測絶緣電阻R1i但會受到使絶緣電阻R2i流動之電流的影響，會檢測出比實際之電阻值更小的絶緣電阻R1i之電阻值。
為了避免以上之失誤檢測，檢測馬達M1之絶緣電阻時，使分離開關148-2為開啟狀態。而，檢測馬達M2之絶緣電阻時，使分離開關148-1為開啟狀態(S102)。
接著，如圖4所示，檢測動作指示部170使檢測開關155為關閉狀態(S103)。
從該步驟S101至步驟S103之動作相當於絶緣劣化檢測方法的第2階段。
PWM控制電路175接受來自檢測動作指示部170之動作指示，對反向器電路140-1之臂電路150A~150C之第1驅動電路145輸出A%之工作比的PWM訊號。A%之工作比的PWM訊號是圖2(b)
之上側所示之脈衝狀訊號。而，使用於絶緣劣化檢測動作時之PWM訊號與使用於上述通常動作時之PWM訊號並不相同。絶緣劣化檢測動作時，會使用適合絶緣劣化檢測之單獨PWM訊號。
利用該PWM訊號，使電晶體TR1、TR2、TR3進行開關動作。電晶體TR1、TR2、TR3為開啟之期間，電晶體TR4、TR5、TR6為關閉，如圖4所示，在從平流電容器C透過電晶體TR1、馬達M1之線圈W1r、及電晶體TR2、馬達M1之線圈W1t及電晶體TR3、馬達M1之線圈W1s、絶緣電阻R1i、接地、保護電阻器165、檢測開關155、電阻器160，到達至平流電容器C的絶緣電阻檢測用電流經路有電流流動。
另一方面，PWM控制電路175接受來自檢測動作指示部170之動作指示，對反向器電路140-1之臂電路150A~150C之第2驅動電路147輸出使已輸出於第1驅動電路145之PWM訊號的HI、LOW在同一時點反轉之(100-A)%工作比的PWM訊號。(100-A)%工作比之PWM訊號是圖2(b)之下側所示的脈衝狀訊號。
利用該PWM訊號，使電晶體TR4、TR5、TR6進行開關動作。電晶體TR4、TR5、TR6開啟之期間，電晶體TR1、TR2、TR3為關閉，如圖5所示，在從直流電源DPS透過電阻R0、電容器C0、二極體D0、電晶體TR4到達至直流電源DPS的靴帶式電路有電流流動。用該電流來充電電容器C0。已充電之電容器C0之電壓會成為接下來電晶體TR1、TR2、TR3進行開關動作時的電源。
而，如上所述，並非一起使電晶體TR1、TR2、TR3及電晶體TR4、TR5、TR6交互開關，亦可依照每一臂電路150A~150C使電晶體(例如臂電路150A之電晶體TR1與TR4)開關。
因此，利用輸出於第1驅動電路145與第2驅動電路147之
PWM訊號，電晶體TR1、TR2、TR3與電晶體TR4、TR5、TR6會重覆交互地開啟、關閉。由於電晶體TR1、TR2、TR3開啟之時間是根據輸出至第1驅動電路145之PWM訊號的工作比來取決，因此當使平流電容器C之充電電壓為VDC時，施加於絶緣電阻R1i、保護電阻器165、電阻器160之串聯電路之平均電壓V就會變成V=VDC×A/100伏特。
因此，將流動於絶緣電阻檢測用電流經路之檢測電流當作I，將絶緣電阻R1i之電阻值當作RR1i，將保護電阻器165之電阻值當作R165，將電阻器160之電阻值當作R160時，I=V/(RR1i+R165+R160)=VDC×A/100(RR1i+R165+R160)安培。
因此，電阻器160之端子間電壓V160是V160=VDC×A×R160/100(RR1i+R165+R160)伏特。而，在此，由於馬達M1之線圈W1r、線圈W1t、線圈W1s之合成電阻值與電晶體TR1之電壓下降極小，因此便無視。
電阻器160之端子間電壓V160的大小與絶緣電阻R1i之大小RR1i會成比例。因此，藉由檢測電阻器160之端子間電壓V160的大小便可得知絶緣電阻R1i之電阻值RR1i。
如上所述，電晶體TR1、TR2、TR3利用輸出於第1驅動電路145之PWM訊號來開關。由於PWM訊號之工作比愈大，則施加於包含馬達M1之線圈W1r、線圈W1t、線圈W1s之絶緣電阻R1i、保護電阻器165、電阻器160之串聯電路的平均電壓V就會愈大，因此對絶緣電阻R1i之檢測是相當適合。
另一方面，電晶體TR4、TR5、TR6為開啟之時間是依照輸出於第1驅動電路145之PWM訊號的工作比。由於只有電晶體
TR4、TR5、TR6為開啟之期間，電流流動於靴帶式電路，因此輸出於第1驅動電路145之PWM訊號的工作比愈大愈好，電容器C0之充電時間變短，電容器C0之電壓就不會上升。
故，輸出至第1驅動電路145之PWM訊號的工作比A是選定可在絶緣電阻檢測用電流經路生成用以將檢測絶緣電阻R1i所需要之電流流動的電壓，且，可將靴帶式電路之電容器C0充電至電晶體TR1、TR2、TR3可開關動作的程度之30%至70%之範圍的值(S104)。
該步驟S104相當於絶緣劣化檢測方法之第3階段。
接著，A/D變換器180將藉由檢測電流I流動於電阻器160所生成之電阻器160的電壓V160進行A/D變換(S105)。
該步驟S105相當於絶緣劣化檢測方法之第4階段。
最後，絶緣劣化判定電腦185從A/D變換後之電壓V160檢測馬達M1之絶緣電阻值RR1i(S106)。監視已檢測之絶緣電阻值RR1i，當絶緣電阻值RR1i降低時，交換馬達M1，來預先防止發生接地故障之系統當機。而，在絶緣劣化判定電腦185，亦可設置使用已檢測之馬達的絶緣電阻來判定馬達之絶緣劣化的絶緣劣化判定功能。
該步驟S106相當於絶緣劣化檢測方法之第5階段。
上述絶緣電阻檢測動作中，由於對反向器電路140-1或140-2之臂電路150A、150B、150C給予相同之工作比的PWM訊號使其以符合脈衝之相位的方式同步，因此對於使馬達M1、M2旋轉之方向，力量不會作用，則馬達M1、M2就不會旋轉。反過來說，絶緣劣化檢測動作時，對反向器電路140-1或140-2之各臂電路150A、150B、150C給予相同之工作比的PWM訊號而使馬達M1、M2不會
旋轉。
如以上所述，根據本實施形態之馬達控制裝置100，停止馬達M1、M2之通常運轉，使遮斷器130為開啟狀態，藉此來測定馬達M1、M2之絶緣電阻。故，不需取下馬達M1、M2之配線，在絶緣電阻之測定時，就不會受到通過電源線並流動之漏出電流或交流電源之雜訊的影響。
又，檢測絶緣電阻時，使用只在檢測時通電之專用的電阻器160來測定絶緣電阻。故，絶緣電阻之電阻值可採用適合檢測絶緣電阻的值。且由於對各臂電路會給予相同之工作比的PWM訊號，使其以符合脈衝之相位的方式同步(亦可不一定完全地符合脈衝之相位)，因此馬達就不會旋轉。
進而，只要設置1個絶緣電阻檢測部，就可個別地檢測複數馬達之絶緣電阻。
且，由於在可遮斷朝靴帶式電路之電流的位置設置分離開關，另一軸之馬達之絶緣電阻測定時，使該分離開關為開啟，因此使用靴帶式電源來構成反向器電路時，即使連接於其之反向器電路之馬達的絶緣電阻降低，亦可正確地檢測馬達之絶緣電阻。
在上述實施形態中，例示了反向器電路為2台之情形，但即使是具有3台以上之反向器電路的馬達控制裝置，亦可適用於本申請發明之思想。又，例示了設於反向器電路之臂電路為3個之情形，但即使利用馬達之線圈構成，例如是具有6個臂電路之馬達控制裝置，亦可適用於本申請發明之思想。進而，上述實施形態中，例示了所有反向器電路具有靴帶式電路之情形，但即使是至少1個之反向器電路具有靴帶式電路的馬達控制裝置，亦可適用於本申請發明之思想。此時，可在具有靴帶式電路之反向器電路設置分離開
關。
100‧‧‧馬達控制裝置
110‧‧‧整流電路
120‧‧‧交流電源(三相)
130‧‧‧遮斷器
140-1、140-2‧‧‧反向器電路
145‧‧‧第1驅動電路
147‧‧‧第2驅動電路
148-1、148-2‧‧‧分離開關
150A、150B、150C‧‧‧臂電路(開關部)
152A、152B、152C‧‧‧連接線
155‧‧‧檢測開關
160‧‧‧電阻器
165‧‧‧保護電阻器
D、D1~D6‧‧‧二極體
170‧‧‧檢測動作指示部
175‧‧‧PWM控制電路
180‧‧‧A/D變換器
185‧‧‧絶緣劣化判定電腦
C‧‧‧平流電容器
TR1-TR6‧‧‧電晶體
DPS‧‧‧直流電源
R0‧‧‧電阻
D0‧‧‧二極體
C0‧‧‧電容器
M1、M2‧‧‧馬達
R1i、R2i‧‧‧絕緣電阻
W1r、W1s、W1t、W2r、W2s、W2t‧‧‧線圈
Claims (9)
- 一種馬達控制裝置，其特徵在於具備有：遮斷器，將具有平流電容器之整流電路與交流電源的連接遮斷；複數反向器電路，與前述平流電容器並聯地連接並將複數馬達之各個馬達個別地驅動；又，各反向器電路具有：開關部，將一對半導體開關串聯地連接，並將前述一對半導體開關彼此的連接線與馬達之線圈連接的臂電路複數並聯地連接，且將複數臂電路與前述平流電容器並聯地連接；第1驅動電路，將前述臂電路之一對半導體開關中具有靴帶式電路之其中一方的半導體開關驅動；第2驅動電路，將前述臂電路之一對半導體開關中另一方的半導體開關驅動；及分離開關，遮斷朝前述靴帶式電路之通電，並將前述第1驅動電路與前述第2驅動電路分離；進而其更具有：檢測開關，形成絶緣電阻檢測用電流經路，而該絶緣電阻檢測用電流經路是從前述平流電容器，流經成為檢測對象之馬達所連接之反向器電路之臂電路的半導體開關、前述馬達之線圈、接地，到達至前述平流電容器；電阻器，設於前述平流電容器與前述接地之間之絶緣電阻檢測用電流經路內與前述檢測開關串聯地連接；檢測動作控制部，在接收到前述馬達之絶緣電阻的檢測指示 時，利用前述遮斷器將前述整流電路與前述交流電源之連接遮斷，並使成為檢測對象之馬達所連接之反向器電路的分離開關為關閉且將前述第1驅動電路與前述第2驅動電路連接，另一方面，使成為檢測對象之馬達所連接之反向器電路以外的所有反向器電路的分離開關為開啟，並將前述第1驅動電路與前述第2驅動電路分離，使前述檢測開關為關閉來形成絶緣電阻檢測用電流經路，然後使以下開關動作重覆：對成為檢測對象之馬達所連接之反向器電路之第1驅動電路，將A%之工作比(duty ratio)之PWM信號輸出並使該反向器電路之開關部至少一個臂電路之一對半導體開關其中一方為開啟狀態且另一方為關閉狀態，之後，對前述反向器電路之第2驅動電路輸出使前述PWM信號之HI、LOW在同一時點反轉之(100-A)%之工作比之PWM信號並使前述臂電路之一對半導體開關其中一方為關閉狀態，另一方為開啟狀態；及絶緣電阻檢測部，使用前述電阻器之端子間電壓來檢測前述馬達之絶緣電阻。
- 如請求項第1項所記載之馬達控制裝置，其中對前述第1驅動電路輸出之PWM信號的工作比A%是選定可在前述絶緣電阻檢測用電流經路生成用以使檢測前述馬達之絶緣電阻所需之電流流動之電壓，且，可將前述靴帶式電路之電容器充電至前述一方之半導體開關可開關動作的程度之從30%至70%之範圍的值。
- 如請求項第1或2項所記載之馬達控制裝置，其中前述第1驅動電路個別地設於形成各臂電路之一對半導體開關中其中一方的半導體開關，又，前述第2驅動電路個別設於形成各臂電路之一對半導體開關中另一方的半導體開關， 且，前述分離開關是設於一位置的單獨開關，而該位置是可將所有前述第1驅動電路與所有前述第2驅動電路完整地分離，並可遮斷朝前述靴帶式電路之通電。
- 如請求項第1或2項所記載之馬達控制裝置，其中前述檢測動作控制部具有在接收到前述馬達之絶緣電阻的檢測指示時辨識前述檢測指示是對哪一個馬達之檢測指示的功能。
- 如請求項第1或2項所記載之馬達控制裝置，其中對前述檢測開關其中一方的端子連接前述電阻器之一端，又，在另一端連接有在前述馬達接地狀態時防止在前述絶緣電阻檢測用電流經路有過電流流動的保護電阻器一端，前述電阻器之另一端連接於前述平流電容器，且前述保護電阻器之另一端連接於接地。
- 如請求項第1或2項所記載之馬達控制裝置，其中前述絶緣電阻檢測部更具有使用已檢測之前述馬達的絶緣電阻，來判定馬達之絶緣劣化的絶緣劣化判定功能。
- 一種馬達之絶緣劣化檢測方法，是如請求項第1或2項所記載之馬達控制裝置之馬達的絶緣劣化檢測方法，其特徵在於包含有下列階段：第1階段，接收對前述馬達之絶緣電阻的檢測指示；第2階段，利用前述遮斷器將前述整流電路與前述交流電源之連接遮斷，並使成為檢測對象之馬達所連接之反向器電路的分離開關為關閉且將前述第1驅動電路與前述第2驅動電路連接，另一方面，使成為檢測對象之馬達所連接之反向器電路以外的所有反向器電路的分離開關為開啟，在遮斷朝前述靴帶式電路之通電的同時並將前述第1驅動電路與前述第2驅動電路分離，利用前述檢測開關來形成絶緣電阻檢測用電流經路； 第3階段，使以下開關動作重覆進行並在前述絶緣電阻檢測用電流經路內使檢測電流流動：對成為檢測對象之馬達所連接之反向器電路的第1驅動電路輸出A%之工作比之PWM信號並使該反向器電路之開關部至少一個臂電路之一對半導體開關其中一方為開啟狀態，另一方為關閉狀態，之後，對前述反向器電路之第2驅動電路使前述PWM信號之HI、LOW在同一時點反轉之(100-A)%之工作比之PWM信號並使前述臂電路之一對半導體開關其中一方為關閉狀態，另一方為開啟狀態；第4階段，檢測藉由前述檢測電流流動於電阻器所生成之電阻器的電壓；及第5階段，從所檢測電壓之大小來檢測成為檢測對象之馬達的絶緣電阻。
- 如請求項第7項所記載之馬達之絶緣劣化檢測方法，其中在前述第3階段，對前述第1驅動電路輸出之PWM信號的工作比A%是選定可在前述絶緣電阻檢測用電流經路生成用以使檢測前述馬達之絶緣電阻所需之電流流動之電壓，且，可將前述靴帶式電路之電容器充電至前述一方之半導體開關可開關動作的程度之從30%至70%之範圍的值。
- 如請求項第7項所記載之馬達之絶緣劣化檢測方法，其中在前述第1階段，包含辨識前述馬達之絕緣電阻的檢測指示是對哪一個馬達之檢測指示的階段。
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| CN110112960B (zh) * | 2019-04-09 | 2020-05-19 | 华中科技大学 | 一种双电机多功率桥臂故障下的控制系统及方法 |
Citations (6)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN1641996A (zh) * | 2004-01-13 | 2005-07-20 | 发那科株式会社 | 电动机驱动装置 |
| JP2007252098A (ja) * | 2006-03-16 | 2007-09-27 | Daikin Ind Ltd | 多相負荷の制御方法 |
| US20090195205A1 (en) * | 2008-02-01 | 2009-08-06 | Sanyo Denki Co., Ltd. | Motor control system including electrical insulation deterioration detecting system |
| US20100171511A1 (en) * | 2009-01-05 | 2010-07-08 | Fanuc Ltd | Motor insulation deterioration detection device |
| TW201142313A (en) * | 2009-12-15 | 2011-12-01 | Pues Corp | Device for detecting deterioration in insulation |
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Patent Citations (6)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN1641996A (zh) * | 2004-01-13 | 2005-07-20 | 发那科株式会社 | 电动机驱动装置 |
| JP2007252098A (ja) * | 2006-03-16 | 2007-09-27 | Daikin Ind Ltd | 多相負荷の制御方法 |
| US20090195205A1 (en) * | 2008-02-01 | 2009-08-06 | Sanyo Denki Co., Ltd. | Motor control system including electrical insulation deterioration detecting system |
| US20100171511A1 (en) * | 2009-01-05 | 2010-07-08 | Fanuc Ltd | Motor insulation deterioration detection device |
| TW201142313A (en) * | 2009-12-15 | 2011-12-01 | Pues Corp | Device for detecting deterioration in insulation |
| WO2012008022A1 (ja) * | 2010-07-14 | 2012-01-19 | トヨタ自動車株式会社 | 車両の制御装置 |
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