TWI553533B - 觸控感測器系統 - Google Patents

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TWI553533B
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夏普股份有限公司
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Description

觸控感測器系統
本發明係關於一種檢測輸入至具有配置成矩陣狀之複數個靜電電容之觸控面板之筆輸入及手指輸入之觸控感測器系統。
於專利文獻1中揭示有檢測分別形成於複數條第1信號線與複數條第2信號線之交點之複數個靜電電容之值之分佈的觸控感測器系統。而且，在先前之檢測靜電電容值之分佈之觸控感測器系統中，如專利文獻2所示，嘗試藉由信號處理來進行觸摸在觸控面板上之手指及手之部分之識別。
圖12係表示專利文獻3所揭示之先前之觸控感測器系統91之構成之方塊圖。觸控感測器系統91包括觸控面板93與靜電電容值分佈檢測電路92。觸控面板93包括沿著水平方向互相平行地配置之驅動線HL1~HLn、沿著垂直方向互相平行地配置之感測線VL1~VLm、及分別形成於驅動線HL1~HLn與感測線VL1~VLm之交點之複數個靜電電容。
靜電電容值分佈檢測電路92包含驅動器95。驅動器95基於碼序列對驅動線HL1~HLn施加電壓而驅動各靜電電容。靜電電容值分佈檢測電路92中設置有感測放大器96。感測放大器96通過感測線VL1~VLm讀出與由驅動器95驅動之各靜電電容相對應之電壓之線性和，並供給至AD轉換器(Analog-to-Digital Converter，類比/數位轉換器)98。AD轉 換器98對通過感測線VL1~VLm讀出之與各靜電電容相對應之電壓之線性和進行AD轉換並供給至電容分佈計算部99。
電容分佈計算部99基於自AD轉換器98供給之與各靜電電容相對應之電壓之線性和與碼序列，計算觸控面板93上之靜電電容分佈並供給至觸控識別部90。觸控識別部90基於自電容分佈計算部99供給之靜電電容分佈，識別觸控面板93上之被觸控之位置。
靜電電容值分佈檢測電路92包含時序發生器97。時序發生器97生成規定驅動器95之動作之信號、規定感測放大器96之動作之信號、及規定AD轉換器98之動作之信號，並供給至驅動器95、感測放大器96、及AD轉換器98。
於專利文獻4中揭示有如下構成：根據搭載於與觸控感測器系統連接之主機裝置之應用軟體指定表示為在具有配置成矩陣狀之複數個靜電電容之觸控面板上進行筆輸入因而手碰觸到之區域之手附觸區域，描畫表示手附觸區域之框，並且追隨為在觸控面板上進行筆輸入而接觸之手之移動，隨時修正手附觸區域之位置。
專利文獻5揭示有如下構成：基於表示靜電電容之變化之靜電電容信號之強度檢測表示為在具有配置成矩陣狀之複數個靜電電容之觸控面板上進行筆輸入因而手碰觸到之區域之手附觸區域，且將與配置於所檢測出之手附觸區域中之靜電電容相對應之靜電電容信號之值置換為表示無觸控輸入之狀態之無值。
[先前技術文獻] [專利文獻]
[專利文獻1]美國專利第7,812,827號說明書(2010年10月12日發行)
[專利文獻2]美國專利第7,812,828號說明書(2010年10月12日發行)
[專利文獻3]日本公開專利公報「日本專利特願2011-142164號(2011年6月27日申請)」
[專利文獻4]日本公開專利公報「日本專利特願2011-142163號(2011年6月27日申請)」
[專利文獻5]日本公開專利公報「日本專利特願2011-280581號(2011年12月21日申請)」
上述先前技術中，揭示有表示為在觸控面板上進行筆輸入因而手碰觸到之區域之手附觸區域之先前技術為上述專利文獻4及5。專利文獻4指點了手附觸區域之指定、描畫、及位置之修正，揭示有檢測手附觸區域之構成者為專利文獻5。
該專利文獻5所揭示之構成中，利用觸控面板控制器將靜電電容信號值較大之區域判斷為手附觸區域，並排除在觸控輸入之檢測對象之外，藉此實現藉由向手附觸區域之觸控輸入之靜電電容信號之消除。然而，由於僅以信號值之大小進行判斷，故利用手指進行觸控輸入之位置亦被誤 識別為手附觸區域，而自觸控輸入之檢測對象中消除。因此，存在無法檢測利用手指之觸控輸入，觸控感測器系統變成筆輸入專用之輸入系統之問題。
本發明之目的在於提供一種防止將產生基於手指輸入之靜電電容信號之檢測區域誤識別為手附觸區域之虞之觸控感測器系統。
為解決上述問題，本發明之觸控感測器系統之特徵在於包括：檢測機構，其對表示為在含有配置成矩陣狀之複數個靜電電容之觸控面板上進行觸控輸入因而手碰觸到之區域之手附觸區域，基於表示上述靜電電容之變化之靜電電容信號進行檢測；置換機構，其將與配置於由上述檢測機構檢測出之手附觸區域中之靜電電容相對應之靜電電容信號之值置換為表示無觸控輸入之狀態之無值；及觸控輸入識別機構，其基於經利用上述置換機構置換為無值之靜電電容信號、及與配置於上述手附觸區域之外之靜電電容相對應之靜電電容信號，將上述觸控輸入之座標值輸出至主機裝置；且上述檢測機構基於為判定是否為利用手指之觸控輸入而用以判定檢測區域內之上述靜電電容信號之強度之強度閾值、與為判定包圍上述檢測區域之複數個周邊區域內之上述靜電電容信號之強度而設置且低於上述強度閾值之周邊閾值，而檢測上述手附觸區域。
根據該特徵，藉由判定是否為利用手指之觸控輸入之強度閾值而判定檢測區域內之上述靜電電容信號之強度，藉 由低於上述強度閾值之周邊閾值而判定包圍上述檢測區域之複數個周邊區域內之上述靜電電容信號之強度。因此，檢測超出利用手指之觸控輸入之檢測區域，並調查其周邊之靜電電容分佈之形狀，於檢測區域之周邊之靜電電容分佈之範圍擴大之情形時，可將該檢測區域判斷為手附觸區域，且置換為表示無觸控輸入之狀態之無值。其結果，可提供一種防止將產生基於手指輸入之靜電電容信號之檢測區域誤識別為手附觸區域之虞之觸控感測器系統。
本發明之觸控感測器系統係基於用以為判定是否為利用手指之觸控輸入而判定檢測區域內之上述靜電電容信號之強度之強度閾值、與為判定包圍上述檢測區域之複數個周邊區域內之上述靜電電容信號之強度而設置且低於上述強度閾值之周邊閾值來檢測上述手附觸區域。
其結果，可提供一種防止將產生基於手指輸入之靜電電容信號之檢測區域誤識別為手附觸區域之虞之觸控感測器系統。
以下，對本發明之實施形態之觸控感測器系統進行詳細說明。
(觸控感測器系統1之構成)
圖1係表示實施形態1之觸控感測器系統1之構成之方塊圖。觸控感測器系統1包括觸控面板7與靜電電容值分佈檢測電路18。觸控面板7包括沿著水平方向互相平行地配置 之驅動線HL1~HLn、沿著垂直方向互相平行地配置之感測線VL1~VLm、及分別形成於驅動線HL1~HLn與感測線VL1~VLm之交點之複數個靜電電容。
靜電電容值分佈檢測電路18包含驅動器9。驅動器9基於碼序列對驅動線HL1~HLn施加電壓而驅動各靜電電容。靜電電容值分佈檢測電路18中設置有感測放大器10。感測放大器10通過感測線VL1~VLm讀出與由驅動器9驅動之各靜電電容相對應之電壓之線性和，並供給至AD轉換器12。AD轉換器12對通過感測線VL1~VLm讀出之與各靜電電容相對應之電壓之線性和進行AD轉換並供給至電容分佈計算部3。
電容分佈計算部3基於自AD轉換器12供給之與各靜電電容相對應之電壓之線性和與碼序列，計算觸控面板7上之靜電電容分佈並供給至手附觸消除處理部2。
圖2係表示設置於上述觸控感測器系統1之手附觸消除處理部2之構成之方塊圖。手附觸消除處理部2包含檢測部5與置換部6。檢測部5基於表示靜電電容之變化之靜電電容信號、及記憶於手附觸參數記憶部8之參數，而檢測表示為在具有配置成矩陣狀之複數個靜電電容之觸控面板7上進行筆輸入或利用手指之輸入因而手碰觸到之區域之手附觸區域。
檢測部5基於為判定是否為利用手指之觸控輸入而用以判定檢測區域內之靜電電容信號之強度之強度閾值、與為判定包圍檢測區域之複數個周邊區域內之靜電電容信號之 強度而設置且低於強度閾值之周邊閾值檢測手附觸區域。
檢測部5於檢測區域內之靜電電容信號之強度超過強度閾值，且靜電電容信號之強度超過周邊閾值之周邊區域之數量超過預先規定之區域閾值時，將該檢測區域判斷為手附觸區域。
檢測部5亦可基於用以判定是否為利用筆之觸控輸入之筆輸入閾值與周邊閾值而檢測手附觸區域。
置換部6將與配置於由檢測部5檢測出之手附觸區域中之靜電電容相對應之靜電電容信號之值置換為表示無觸控輸入之狀態之無值，並供給至觸控識別部4(圖1)。
觸控識別部4基於經利用置換部6置換為無值之靜電電容信號、及與配置於手附觸區域之外之靜電電容相對應之靜電電容信號，將筆輸入或利用手指之輸入之座標值輸出至連接至觸控感測器系統1之外部之主機裝置13。主機裝置13基於自觸控識別部4供給之觸控輸入之座標值，執行應用軟體中之處理。
靜電電容值分佈檢測電路18包含時序發生器11。時序發生器11生成規定驅動器9之動作之信號、規定感測放大器10之動作之信號、及規定AD轉換器12之動作之信號，並供給至驅動器9、感測放大器10、及AD轉換器12。
圖3係表示觸控感測器系統1之手附觸區域之檢測方法之圖。其中模式性地表示在驅動線n條、感測線m條之觸控面板7上一面使手15在觸控面板7上觸碰一面以筆14寫字之情況。
(觸控感測器系統1之動作)
圖4係表示實施形態之觸控感測器系統1之動作之流程圖。首先，接通圖1所示之觸控面板系統1之電源(步驟S1)。繼而，將設置於觸控面板系統1之靜電電容分佈檢測電路18之手附觸參數記憶部8中所儲存之參數初始化(步驟S2)。其次，利用驅動器9驅動觸控面板7(步驟S3)。其後，藉由AD轉換器12對利用感測放大器10自觸控面板7讀出之靜電電容信號進行AD轉換(步驟S4)。
繼而，電容分佈計算部3基於利用AD轉換器12進行AD轉換後之靜電電容信號，計算觸控面板7之電容分佈(步驟S5)。其次，手附觸消除處理部2基於由電容分佈計算部3計算出之觸控面板7之電容分佈，算出手附觸區域(步驟S6)。其後，手附觸消除處理部2基於所算出之手附觸區域設定置換區域，將置換區域內之電容值置換為零(步驟S7)。
繼而，觸控識別部4基於將置換區域內之電容值置換為零後之觸控面板7之電容分佈，求出觸控輸入之座標值(步驟S8)。其次，觸控識別部4將觸控輸入之座標值輸出至主機裝置13(步驟S9)。繼而，返回至步驟S3。
(手附觸區域之檢測動作)
圖5係表示手附觸消除處理部2之動作之流程圖。該流程圖相當於圖4所示之步驟S6及S7之詳細流程圖。
首先，流程圖之說明中使用之參數之意義如下所示：m：感測線數； n：驅動線數；PALM_MODE：手附觸筆模式旗標，接通時為1，斷開時為0；PEN_THRESH：用以判斷是否為利用筆之觸控輸入之筆輸入閾值；FOOT_THRESH：用以判斷電容分佈圖之山之周邊之靜電電容信號值之大小的周邊閾值；AREA_THRESH：用以判斷於電容分佈圖之山之周邊靜電電容信號值超過周邊閾值FOOT_THRESH之周邊區域之數量之區域閾值；C[j][i]：座標(i,j)處之電容值(靜電電容信號之強度)；Flag[j][i]：用以將電容分佈圖中之靜電電容信號之值置換為零(以下，亦記作「填零(zero fill)」)之旗標，當為0時進行填零，當為1時不進行填零；count：用以計算座標(p,q)之電容值C[q][p]超過周邊閾值FOOT_THRESH之周邊區域之個數之計數器；FINGER_THRESH：用以判斷是否為利用手指之觸控輸入之強度閾值；FOOT_THRESH2：用以判斷電容分佈圖之山之周邊之信號值之大小的第2周邊閾值；AREA_THRESH2：用以判斷於電容分佈圖之山之周邊信號值超過第2周邊閾值FOOT_THRESH2之周邊區域之數量之第2區域閾值。
圖5所示之流程圖係辨別並識別筆之觸控與手指之觸 控，而進行藉由向手附觸區域之觸控輸入之靜電電容信號之消除者。進行筆之觸控之判斷之處理為步驟S14~S16，進行利用手指之觸控之判斷之處理為步驟S23~S25。
首先，在步驟S10中，於判定出變數PALM_MODE接通時(步驟S10中為是)，在步驟S11中，設置於手附觸消除處理部2之檢測部5將記憶於手附觸參數記憶部8之旗標Flag[j][i]初始化為1。進而，在步驟S12中判定觸控面板7之電容值C[j][i]是否大於筆輸入閾值PEN_THRESH。於判定為電容值C[j][i]大於筆輸入閾值PEN_THRESH時(步驟S12中為是)，在步驟S21中判定觸控面板7之電容值C[j][i]是否大於強度閾值FINGER_THRESH。
於判定為電容值C[j][i]並不大於強度閾值FINGER_THRESH時(步驟S21中為否)，將計數器count初始化為0(步驟S13)。
而且，對於滿足j-dm1≦q≦j+dp1 i-sm1≦p≦i+sp1
之座標(p,q)，重複步驟S14~S16之處理。
於步驟S14中，對於判斷為滿足j-dm2≦q≦j+dp2 i-sm2≦p≦i+sp2
之座標(p,q)(步驟S14中為是)，對下一個座標(p,q)重複步驟S14~S16之處理。
於步驟S14中，對於判斷為不滿足 j-dm2≦q≦j+dp2 i-sm2≦p≦i+sp2
之座標(p,q)(步驟S14中為否)，在步驟S15中判定觸控面板7之電容值C[q][p]是否大於周邊閾值FOOT_THRESH。於判定為電容值C[q][p]大於周邊閾值FOOT_THRESH時(步驟S15中為是)，在步驟S16中使計數器count之值僅增加1。於判定為電容值C[q][p]並不大於周邊閾值FOOT_THRESH時(步驟S15中為否)，對下一個座標(p,q)重複步驟S14~S16之處理。
關於步驟S14~S16，若結束重複進行與滿足j-dm1≦q≦j+dp1 i-sm1≦p≦i+sp1
之座標(p,q)相關之上述處理，則在步驟S17中判定計數器count是否大於區域閾值AREA_THRESH。於判定為計數器count大於區域閾值AREA_THRESH時(步驟S17中為是)，在步驟S18中將旗標Flag[j][i]設為0。
於判定為電容值C[j][i]大於強度閾值FINGER_THRESH時(步驟S21中為是)，將計數器count初始化為0(步驟S22)，對於滿足j-dm1≦q≦j+dp1 i-sm1≦p≦i+sp1
之座標(p,q)，重複步驟S23~S25之處理。
於步驟S23中，對於判斷為滿足j-dm2≦q≦j+dp2 i-sm2≦p≦i+sp2
之座標(p,q)(步驟S23中為是)，對下一個座標(p,q)重複步驟S23~S25之處理。
於步驟S23中，對於判斷為不滿足j-dm2≦q≦j+dp2 i-sm2≦p≦i+sp2
之座標(p,q)(步驟S23中為否)，在步驟S24中判定觸控面板7之電容值C[q][p]是否大於第2周邊閾值FOOT_THRESH2。於判定為電容值C[q][p]大於第2周邊閾值FOOT_THRESH2時(步驟S24中為是)，在步驟S25中使計數器count之值僅增加1。於判定為電容值C[q][p]並不大於第2周邊閾值FOOT_THRESH2時(步驟S24中為否)，對下一個座標(p,q)重複步驟S23~S25之處理。
關於步驟S23~S25，若結束與滿足j-dm1≦q≦j+dp1 i-sm1≦p≦i+sp1
之座標(p,q)相關之重複處理，則在步驟S26中判定計數器count是否大於第2區域閾值AREA_THRESH2。於判定為計數器count大於第2區域閾值AREA_THRESH2時(步驟S26中為是)，在步驟S27中將旗標Flag[j][i]設為0。
以相當於與n列m行之電容分佈圖C[j][i]之各者相對應之次數重複該步驟S12~S27(除步驟S19、S20以外)之處理。於重複結束後，置換部6對旗標Flag[j][i]為零之座標，藉由零置換電容值C[j][i](步驟S19)。
不存在對於觸控識別部4之置換區域之設定亦藉由零進行置換之必然性，只要可將手附觸區域設定為觸控識別之非檢測區域，則可為任意之方法，只要以表示無觸控輸入之狀態之無值進行置換即可。
於判定為變數PALM_MODE未接通時(步驟S10中為否)，或執行過步驟S19時，手附觸消除處理部2將置換後之電容值C[j][i]發送至觸控識別部4(步驟S20)。
變數PALM_MODE為表示是否為手附觸模式之旗標，記憶於手附觸參數記憶部8中。於PALM_MODE接通之情形時，執行上述步驟S11~S27所示之手附觸對應處理。
又，不存在對於觸控識別部4之置換區域之設定亦藉由零進行置換之必然性，只要可將手附觸區域設定為觸控識別之非檢測區域，則可為任意之方法，只要以表示無觸控輸入之狀態之無值進行置換即可。
(檢測區域R1、周邊區域R2、及中間區域R3之關係)
圖6係為了使圖5所示之算法容易理解，而表示座標(i,j)與步驟S14~S16、步驟S23~S25之處理中所記載之參數之間之關係者。
為判定是否為利用手指之觸控輸入而判定靜電電容信號之強度之檢測區域R1具有座標(i,j)，且由構成環形之形狀之複數個周邊區域R2包圍。在檢測區域R1與複數個周邊區域R2之間配置有中間區域R3。
如上所述般檢測區域R1之座標為(i,j)，左上之周邊區域R2之座標為(i-sm1,j-dm1)。左下之周邊區域R2之座標為 (i+sp1,j-dm1)，右上之周邊區域R2之座標為(i-sm1,j+dp1)，右下之周邊區域R2之座標為(i+sp1,j+dp1)。
左上之中間區域R3之座標為(i-sm2,j-dm2)，左下之中間區域R3之座標為(i+sp2,j-dm2)。右上之中間區域R3之座標為(i-sm2,j+dp2)，右下之中間區域R3之座標為(i+sp2,j+dp2)。
(關於利用筆之觸控輸入之判斷)
圖7(a)係以筆觸控觸控面板之情形時之電容分佈圖之一部分(筆觸控位置之周邊)之實測例。該電容分佈圖係藉由圖1所示之電容分佈計算部3而生成。筆觸控之位置係自左上方起向右方依序掃描電容分佈圖，電容值大於筆輸入閾值PEN_THRESH=400之位置為記作第4列第4行之「432」之檢測區域R1。圖7(a)所示之檢測區域R1、周邊區域R2、及中間區域R3之配置相當於將檢測區域R1之座標設為(i,j)，且如下設定圖6所示之參數之情形時之配置。
sm1=3 sp1=6 dm1=3 dp1=4 sm2=1 sp2=3 dm2=1 dp2=2
圖7(b)係將圖7(a)所示之電容分佈圖三維圖表化者。 又，圖7(c)係抽出圖7(a)之電容分佈圖之第4列並圖表化者。包含圖7(a)之以粗實線包圍之5列4行之檢測區域R1及中間區域R3之矩形區域之外側之區域(複數個周邊區域R2)為判定是否大於周邊閾值FOOT_THRESH之區域。
例如，於設定周邊閾值FOOT_THRESH=100之情形時，如圖7(a)所示，不存在包含靜電電容信號值大於周邊閾值FOOT_THRESH之座標之周邊區域R2。因此，計數器count為0。
因此，例如，於設定區域閾值AREA_THRESH=3之情形時，不會成為count>AREA_THRESH。因此，旗標Flag[j][i]保持為1而不變更。因此，座標(i,j)判斷為利用筆之觸控輸入，而不對C[j][i]進行填零。
同樣地，圖8(a)(b)(c)係使拳頭接觸於觸控面板之瞬間之電容分佈圖與其圖表。於將與上述圖7所示之筆觸控之情形之參數相同之值設定為參數之情形時，圖8(a)之以粗實線包圍之5列4行之矩形之外側之複數個周邊區域R2為判定是否大於周邊閾值FOOT_THRESH之區域。在該區域內具有超過周邊閾值FOOT_THRESH=100之靜電電容信號值之周邊區域R2係如圖8(a)中以斜線所示般存在23個。因此，成為計數器count=23。於此情形時，若設定為區域閾值AREA_THRESH=3，則滿足count>AREA_THRESH。因此，Flag[j][i]變更為0。因此，判斷為座標(i,j)之檢測區域R1並不進行利用筆之觸控輸入，而為手附觸區域，對C[j][i]進行填零。檢測區域R1為掃描中電容值大於筆輸入 閾值PEN_THRESH=400之位置。
又，圖9(a)(b)(c)係使拳頭緊貼觸控面板之狀態下之電容分佈圖與其圖表。檢測區域R1為掃描中電容值大於筆輸入閾值PEN_THRESH=400之位置。於此情形時，亦與圖8所示之例同樣地，判斷為座標(i,j)之檢測區域R1並不進行利用筆之觸控輸入，而為手附觸區域，對C[j][i]進行填零。
(關於利用手指之觸控輸入之判斷)
圖10(a)係以手指觸控觸控面板之情形時之電容分佈圖之一部分(以手指觸控之位置之周邊)之實測例。該電容分佈圖係藉由圖1所示之電容分佈計算部3而生成。利用手指之觸控之位置係自左上方起向右方依序掃描電容分佈圖。該掃描中，電容值大於強度閾值FINGER_THRESH=2500之位置為4列4行中記作靜電電容信號值「4177」之檢測區域R1。圖10(a)相當於將與該檢測區域R1相對應之座標設為(i,j)，且如下設定圖6所示之參數之情形。
sm1=3 sp1=6 dm1=3 dp1=4 sm2=1 sp2=3 dm2=1 dp2=2
圖10(b)係將圖10(a)之電容分佈圖三維圖表化者。又， 圖10(c)係抽出圖10(a)之電容分佈圖之第4列之區域之靜電電容值並圖表化者。包含圖10(a)之以粗實線包圍之5列4行之檢測區域R1及中間區域R3之矩形之外側之區域為判定是否大於第2周邊閾值FOOT_THRESH2之區域。
例如，於設定周邊閾值FOOT_THRESH2=700之情形時，如圖10(a)所示，在上述矩形之外側之區域內不存在靜電電容信號值大於第2周邊閾值FOOT_THRESH2之區域。因此，計數器count為0。因此，例如，於設定AREA_THRESH2=3之情形時，不會成為count>AREA_THRESH2，Flag[j][i]保持為1而不變更。因此，判斷座標(i,j)為利用手指之觸控輸入而非手附觸區域，從而不對C[j][i]進行填零。
同樣地，圖11(a)(b)(c)係使拳頭緊貼觸控面板之狀態下之電容分佈圖與其圖表。於將與上述圖10之手指觸控之情形之參數相同之值設定為參數之情形時，包含圖11(a)之以粗實線包圍之5列4行之檢測區域R1及中間區域R3之矩形之外側之區域為判定是否大於第2周邊閾值FOOT_THRESH2之區域。該區域內超過第2周邊閾值FOOT_THRESH2=700之周邊區域R2係如圖11(a)所示般有8個，從而成為計數器count=8。於此情形時，於設定為第2周邊閾值FOOT_THRESH2=3之情形時，滿足count>AREA_THRESH2。因此，旗標Flag[j][i]變更為0。因此，判斷為座標(i,j)之檢測區域R1並不進行利用手指之觸控輸入，而為手附觸區域，對C[j][i]進行填零。
(應用範圍)
再者，本實施形態中，表示了靜電電容型之觸控感測器系統之例。然而，本發明並不限定於此。對於靜電電容型以外之觸控感測器系統亦可應用本發明。例如，對於電磁感應型之觸控感測器系統亦可應用本發明。
(本發明之另一表現)
本發明之觸控感測器系統較佳為上述檢測機構於上述檢測區域內之靜電電容信號之強度超過上述強度閾值，且上述靜電電容信號之強度超過上述周邊閾值之周邊區域之數量超過預先規定之區域閾值時，將上述檢測區域判斷為手附觸區域。
藉由上述構成，能以簡單之算法判定檢測區域之周邊之靜電電容分佈之範圍之擴大。
本發明之觸控感測器系統較佳為在上述檢測區域與上述複數個周邊區域之間配置有中間區域。
藉由上述構成，可高效地判定檢測區域之周邊之靜電電容分佈之範圍之擴大。
本發明之觸控感測器系統較佳為上述檢測機構基於用以判定是否為利用筆之觸控輸入之筆輸入閾值檢測上述手附觸區域。
藉由上述構成，可防止將基於筆輸入之靜電電容信號之檢測區域誤識別為手附觸區域之虞。
本發明並不限定於上述各實施形態，可在技術內容所示之範圍內進行各種變更，關於適當地組合不同實施形態中 分別揭示之技術性手段而獲得之實施形態，亦包含於本發明之技術範圍內。
[產業上之可利用性]
本發明可應用於檢測輸入至具有配置成矩陣狀之複數個靜電電容之觸控面板之筆及手指輸入之觸控感測器系統。
1‧‧‧觸控感測器系統
2‧‧‧手附觸消除處理部
3‧‧‧電容分佈計算部
4‧‧‧觸控識別部(筆輸入識別機構)
5‧‧‧檢測部(檢測機構)
6‧‧‧置換部(置換機構)
7‧‧‧觸控面板
8‧‧‧手附觸參數記憶部
9‧‧‧驅動器
10‧‧‧感測放大器
11‧‧‧時序發生器
12‧‧‧AD轉換器
13‧‧‧主機裝置
14‧‧‧筆
15‧‧‧手
18‧‧‧靜電電容值分佈檢測電路
R1‧‧‧檢測區域
R2‧‧‧周邊區域
R3‧‧‧中間區域
圖1係表示實施形態之觸控感測器系統之構成之方塊圖。
圖2係表示設置於上述觸控感測器系統之手附觸消除處理部之構成之方塊圖。
圖3係表示上述觸控感測器系統之手附觸區域之檢測方法之圖。
圖4係表示上述觸控感測器系統之動作之流程圖。
圖5係表示設置於上述觸控感測器系統之手附觸消除處理部之動作之流程圖。
圖6係表示在顯示上述手附觸消除處理部之動作之流程圖中記載之參數之關係之圖。
圖7(a)係表示設置於上述觸控感測器系統之觸控面板上之靜電電容信號之值之分佈之圖，(b)係上述靜電電容信號之分佈圖之三維圖表，(c)係表示(a)中所示之靜電電容信號之值之分佈之第4列與筆輸入閾值、周邊閾值之關係之圖表。
圖8(a)係表示上述觸控面板上之靜電電容信號之值之另一分佈之圖，(b)係上述靜電電容信號之分佈圖之三維圖 表，(c)係表示(a)中所示之靜電電容信號之值之分佈之第4列與筆輸入閾值、周邊閾值之關係之圖表。
圖9(a)係表示上述觸控面板上之靜電電容信號之值之又一分佈之圖，(b)係上述靜電電容信號之分佈圖之三維圖表，(c)係表示(a)中所示之靜電電容信號之值之分佈之第4列與筆輸入閾值、周邊閾值之關係之圖表。
圖10(a)係表示上述觸控面板上之靜電電容信號之值之又一分佈之圖，(b)係上述靜電電容信號之分佈圖之三維圖表，(c)係表示(a)中所示之靜電電容信號之值之分佈之第4列與強度閾值、周邊閾值之關係之圖表。
圖11(a)係表示上述觸控面板上之靜電電容信號之值之又一分佈之圖，(b)係上述靜電電容信號之分佈圖之三維圖表，(c)係表示(a)中所示之靜電電容信號之值之分佈之第7列與強度閾值、周邊閾值之關係之圖表。
圖12係表示先前之觸控感測器系統之構成之方塊圖。
2‧‧‧手附觸消除處理部
5‧‧‧檢測部(檢測機構)
6‧‧‧置換部(置換機構)

Claims (4)

  1. 一種觸控感測器系統，其特徵在於包括：檢測機構，其對表示為在含有配置成矩陣狀之複數個靜電電容之觸控面板上進行觸控輸入因而手碰觸到之區域之手附觸區域，基於表示上述靜電電容之變化之靜電電容信號進行檢測；置換機構，其將與配置於由上述檢測機構檢測出之手附觸區域中之靜電電容相對應之靜電電容信號之值置換為表示無觸控輸入之狀態之無值；及觸控輸入識別機構，其基於經利用上述置換機構置換為無值之靜電電容信號、及與配置於上述手附觸區域之外之靜電電容相對應之靜電電容信號，將上述觸控輸入之座標值輸出至主機裝置；且上述檢測機構基於為判定是否為利用手指之觸控輸入而用以判定檢測區域內之上述靜電電容信號之強度之強度閾值、與為判定包圍上述檢測區域之複數個周邊區域內之上述靜電電容信號之強度而設置且低於上述強度閾值之周邊閾值，而檢測上述手附觸區域。
  2. 如請求項1之觸控感測器系統，其中上述檢測機構於上述檢測區域內之靜電電容信號之強度超過上述強度閾值，且上述靜電電容信號之強度超過上述周邊閾值之周邊區域之數超過預先規定之區域閾值時，將上述檢測區域判斷為手附觸區域。
  3. 如請求項1之觸控感測器系統，其中 在上述檢測區域與上述複數個周邊區域之間配置有中間區域。
  4. 如請求項1之觸控感測器系統，其中上述檢測機構基於用以判定是否為利用筆之觸控輸入之筆輸入閾值而檢測上述手附觸區域。
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