TWI549039B - 使用隨機取樣技術以減少耙指耦合雜訊 - Google Patents

使用隨機取樣技術以減少耙指耦合雜訊 Download PDF

Info

Publication number
TWI549039B
TWI549039B TW100110334A TW100110334A TWI549039B TW I549039 B TWI549039 B TW I549039B TW 100110334 A TW100110334 A TW 100110334A TW 100110334 A TW100110334 A TW 100110334A TW I549039 B TWI549039 B TW I549039B
Authority
TW
Taiwan
Prior art keywords
channel
sampling
channels
sampled
sampling cycle
Prior art date
Application number
TW100110334A
Other languages
English (en)
Other versions
TW201203066A (en
Inventor
亞修托許 拉文卓拉 裘哈拉波卡
派翠克 陳
大衛 艾倫
納塔拉珍 威斯瓦那森
Original Assignee
高通科技股份有限公司
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by 高通科技股份有限公司 filed Critical 高通科技股份有限公司
Publication of TW201203066A publication Critical patent/TW201203066A/zh
Application granted granted Critical
Publication of TWI549039B publication Critical patent/TWI549039B/zh

Links

Classifications

    • G—PHYSICS
    • G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
    • G06F—ELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
    • G06F3/00—Input arrangements for transferring data to be processed into a form capable of being handled by the computer; Output arrangements for transferring data from processing unit to output unit, e.g. interface arrangements
    • G06F3/01—Input arrangements or combined input and output arrangements for interaction between user and computer
    • G06F3/03—Arrangements for converting the position or the displacement of a member into a coded form
    • G06F3/041—Digitisers, e.g. for touch screens or touch pads, characterised by the transducing means
    • G06F3/0416—Control or interface arrangements specially adapted for digitisers
    • G06F3/0418—Control or interface arrangements specially adapted for digitisers for error correction or compensation, e.g. based on parallax, calibration or alignment
    • G—PHYSICS
    • G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
    • G06F—ELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
    • G06F3/00—Input arrangements for transferring data to be processed into a form capable of being handled by the computer; Output arrangements for transferring data from processing unit to output unit, e.g. interface arrangements
    • G06F3/01—Input arrangements or combined input and output arrangements for interaction between user and computer
    • G06F3/03—Arrangements for converting the position or the displacement of a member into a coded form
    • G06F3/041—Digitisers, e.g. for touch screens or touch pads, characterised by the transducing means
    • G06F3/0412—Digitisers structurally integrated in a display
    • G—PHYSICS
    • G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
    • G06F—ELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
    • G06F3/00—Input arrangements for transferring data to be processed into a form capable of being handled by the computer; Output arrangements for transferring data from processing unit to output unit, e.g. interface arrangements
    • G06F3/01—Input arrangements or combined input and output arrangements for interaction between user and computer
    • G06F3/03—Arrangements for converting the position or the displacement of a member into a coded form
    • G06F3/041—Digitisers, e.g. for touch screens or touch pads, characterised by the transducing means
    • G06F3/044—Digitisers, e.g. for touch screens or touch pads, characterised by the transducing means by capacitive means
    • G06F3/0446—Digitisers, e.g. for touch screens or touch pads, characterised by the transducing means by capacitive means using a grid-like structure of electrodes in at least two directions, e.g. using row and column electrodes
    • H—ELECTRICITY
    • H03—ELECTRONIC CIRCUITRY
    • H03K—PULSE TECHNIQUE
    • H03K17/00—Electronic switching or gating, i.e. not by contact-making and –breaking
    • H03K17/94—Electronic switching or gating, i.e. not by contact-making and –breaking characterised by the way in which the control signals are generated
    • H03K17/96—Touch switches
    • H—ELECTRICITY
    • H03—ELECTRONIC CIRCUITRY
    • H03K—PULSE TECHNIQUE
    • H03K17/00—Electronic switching or gating, i.e. not by contact-making and –breaking
    • H03K17/94—Electronic switching or gating, i.e. not by contact-making and –breaking characterised by the way in which the control signals are generated
    • H03K17/96—Touch switches
    • H03K17/962—Capacitive touch switches
    • H—ELECTRICITY
    • H03—ELECTRONIC CIRCUITRY
    • H03K—PULSE TECHNIQUE
    • H03K2217/00—Indexing scheme related to electronic switching or gating, i.e. not by contact-making or -breaking covered by H03K17/00
    • H03K2217/94—Indexing scheme related to electronic switching or gating, i.e. not by contact-making or -breaking covered by H03K17/00 characterised by the way in which the control signal is generated
    • H03K2217/96—Touch switches
    • H03K2217/96062—Touch switches with tactile or haptic feedback

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • General Engineering & Computer Science (AREA)
  • Theoretical Computer Science (AREA)
  • Human Computer Interaction (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Position Input By Displaying (AREA)
  • Electronic Switches (AREA)
  • User Interface Of Digital Computer (AREA)

Description

使用隨機取樣技術以減少耙指耦合雜訊
相關申請案
本申請案主張根據35 U.S.C.§ 119(e)於2010年4月22日申請、名稱為「不同的電容式觸控板電路以及方法(Differential Capacitive Touchpad Circuit and method)」的同在申請中的美國臨時專利申請案序號61/326,839的優先權，其全文併入此處做為參考。
下列共同擁有、共同申請及同在申請中的申請案皆併入此處做為參考。名稱為「用於提高觸控螢幕控制器的動態範圍的方法及裝置(Method and Apparatus for Improving Dynamic Range of a Touchscreen Controller)」的美國專利申請案第XX/XXX,XXX號，代理人目錄標號MAXIM-04400；名稱為「用於觸控螢幕控制器以轉換電容為電壓的電荷轉換方案(Charge Transfer Scheme to Converter Capacitance to Voltage for Touchscreen Controller)」的美國專利申請案第XX/XXX,XXX號，代理人目錄編號MAXIM-04500；名稱為「用於接近零的潛在觸覺播放的觸覺回饋以及觸控螢幕控制器的系統整合(System Integration of Tactile Feedback and Touchscreen Controller for Near-Zero Latency Haptics Playout)」的美國專利申請案第XX/XXX,XXX號，代理人目錄編號MAXIM-04700；名稱為「用於使用差分檢測的電容式觸控螢幕控制器的雜訊消除技術(Noise Cancellation Technique for Capacitance Touchscreen Controller using Differential Sensing)」的美國專利申請案第XX/XXX,XXX號，代理人目錄編號MAXIM-04600；及名稱為「用於使用增壓轉換器以產生壓電轉換器激勵的方法及裝置(Method and Apparatus for Generating Piezoelectric Transducer Excitation Waveforms using a Boost Converter)」美國專利申請案第XX/XXX,XXX號，代理人目錄編號MAXIM-04900。
本發明與電容式感測器陣列的領域有關，更具體來說，本發明與減少或消除電容式感測器陣列(例如觸控螢幕)的輸出之誤差的領域有關。
許多電子裝置結合了觸控螢幕形式的顯示器。觸控螢幕為一種偵測顯示區域內的接觸的存在、位置及壓力的顯示器，接觸一般為由耙指、手、觸控筆、或是其他指點器所進行。觸控螢幕使得使用者不須任何中間裝置即可直接與顯示面板進行互動，而非使用滑鼠或觸控板來間接互動。觸控螢幕可實施於電腦上或是作為終端機以存取網路。觸控螢幕一般用於銷售點系統、自動提款機(ATM)、手機、個人數位助理(PDAs)、掌上型遊戲機、衛星導航裝置、及資訊設備中。
觸控螢幕技術存有數種型式。電容式觸控螢幕面板是以一種可傳導連續的電流以越過一個或更多電容式觸控感測器(簡稱為觸控感測器)的材料進行塗佈、部份塗佈、或是圖樣化。觸控感測器在水平及垂直方向上均顯示出一個被精確控制的儲存電子的場以達到電容量。人體亦為一種具有儲存的電子且因此顯示出電容的電子裝置。當觸控感測器的參考電容被另一個電容場(例如耙指)改變時，位於面板的每一個角落的電子電路會 測量在參考電容上所產生的變化。與接觸事件有關的測量資料會被送至電容式觸控螢幕控制器以進行數學處理。觸控感應器能以耙指或徒耙指拿著的傳導裝置來進行接觸，觸控感測器亦可基於接近而運作，且不必直接接觸來進行觸發。在大部分的情況下，直接接觸傳導的金屬表面並不會發生，且觸控感測器與使用者身體會被一個絕緣玻璃或塑膠層所分開。如果想要以耙指接觸具電容式按鍵的裝置，該裝置通常可以不需接觸而透過接近表面的手掌的快速揮動而被觸發。
電容式觸控螢幕是由排列成列及行的觸控感測器陣列所製造，通道可與單一感測器、列感測器、或行感測器有關。在典型的電容式觸控螢幕的應用中，循序測量每一個通道的電容以產生在電容式觸控螢幕中電容變化之數據，此電容數據可用於偵測接觸事件的出現並報告接觸座標的位置。典型上，每一個通道的取樣是以固定的間隔來進行。然而，這會形成與某些雜訊頻率相同的差頻。
耙指耦合雜訊為使用者接觸電容式觸控螢幕時，經由耙指或是導電的觸控筆與一個或更多的觸控感測器耦合的雜訊。僅有在耙指下方的觸控感測器會被耙指耦合雜訊所影響。人類的身體能作為可能接收環境雜訊的天線(例如由周圍的省電型螢光燈所產生的雜訊)，此環境雜訊會在接觸時接著被傳遞到觸控感測器。人類的身體亦接地至地球，其可與電容式觸控螢幕的裝置接地為不同的接地，由於有兩種不同的接地，接地雜訊也要被加至整個系統中。耙指耦合雜訊可為從接近DC到數百個千赫茲(kHz)的範圍的任何頻率，並具有多至數伏特的峰值到峰值的振幅。當在特定頻率的雜訊位準足夠高時，可能會在事實上沒有任何接觸時，使得電容式觸 控螢幕控制器報告一個接觸，此稱為假接觸。
隨機取樣技術包括減少或消除在電容式感測器陣列(例如觸控面板)的輸出中的誤差的技術。觸控面板的通道被週期性地取樣以決定一個或更多的接觸事件的存在。每一個通道以循環的方式進行單獨地取樣。在每一個循環的期間，所有的通道皆會被取樣一次。以此方式，每一個循環被稱為取樣循環。執行多個取樣循環以使得每一個通道取樣多次。在一些實施例中，通道電容是針對每一個通道，藉由平均預先決定的取樣循環之數量的通道取樣值來決定。在其他實施例中，平均之外的方式(包括但不限於計算平均值或是加權平均)可用以計算通道電容。隨機取樣技術可用以取樣每一個通道，可使用多個不同的隨機化技術。一種隨機取樣技術將每一個取樣循環中的起始循環進行隨機化，另一種隨機取樣技術將每一個取樣循環中所有通道的選擇進行隨機化，還有另一種隨機取樣技術將每一個取樣循環之間的取樣循環延遲週期進行隨機化，更有另一種隨機取樣技術將取樣每一個通道之間的通道延遲週期進行隨機化。
在一方面，揭示了一種偵測一電容式觸控感測裝置上一或更多接觸事件的方法，該方法包括配置多個通道，每一個通道對應於該電容式觸控感測裝置；根據一隨機演算法取樣多個通道中的每一個通道；使用經取樣的數據為每一個通道計算一通道電容；以及從針對該多個通道所計算的該通道電容決定一或更多接觸事件。在一些實施例中，該隨機演算法包括執行多個取樣循環，每一個取樣循環包括取樣該多個通道中的每一個通道。
在另一方面，揭示了另一種偵測一電容式觸控感測裝置上一或更多接觸事件的方法，該方法包括配置多個通道，每一個通道對應於該電容式觸控感測裝置；根據一隨機演算法取樣該多個通道中的每一個通道，使得每一個通道被取樣，其中取樣每一個通道包括測量每一個通道的一電容；執行多個取樣循環，其中一取樣循環包括對該多個通道中的每一個通道取樣一次；針對每一個頻道，使用從針對該通道的該多個取樣循環所測量的該電容計算一通道電容；及從針對該多個通道所計算的該通道電容決定一或更多接觸事件。
在一些實施例中，該隨機演算法包括以一隨機選擇的通道來開始每一個取樣循環。在一些實施例，以一預先決定的順序來取樣該多個通道中的每一個通道，每一個取樣循環於該隨機選擇的通道開始，且取樣的動作以該順序針對該取樣循環的其餘部分持續進行。在一些實施例中，該隨機演算法更包括隨機選擇該取樣循環內的每一個通道。在一些實施例中，一取樣循環延遲週期包含於每一個取樣循環之間，且其中該隨機演算法包括隨機改變每一個取樣循環之間的該取樣循環延遲週期。在一些實施例中，一通道延遲週期包含於每一個通道取樣之間，且其中該隨機演算法包括隨機改變該通道延遲週期。在一些實施例中，多個通道包括N個通道，且該隨機演算法包括隨機產生每M個通道取樣的該通道延遲週期，使得在隨機產生一新的通道延遲週期並施用於下一個M個通道取樣之前，一相同的通道延遲週期會施用於M個通道取樣中的每一個。在一些實施例中，M小於N，在其他實施例中，M大於N。在一些實施例中，雜訊分佈於經取樣的通道的頻率回應。在一些實施例中，雜訊分佈於該多個通道中的多個通道。 在一些實施例中，計算每一個通道的該通道電容包括平均從該通道的該多個取樣循環的該測量的電容。在一些實施例中，每一個通道包括在該電容式觸控感測裝置中的一列感測器或是在該電容式觸控感測裝置中的一行感測器。
在另一方面，揭示了一種偵測一觸控面板上一或更多接觸事件的裝置，該裝置包括一電容式觸控感測裝置，該電容式觸控感測裝置包括多個通道，每一個通道包括一觸控感測器；配置用以實施一隨機演算法的一處理器；及耦合至該電容式觸控感測裝置與該處理器的一測量電路，其中該測量電路配置用以根據該隨機演算法取樣該多個通道中的每一個通道，其中該處理器配置用以從該測量電路接收一取樣數據、使用該接收的取樣數據計算每一個通道的一通道電容及以從該多個通道所計算的該通道電容決定一或更多接觸事件。
在一些實施例中，該隨機演算法包括執行多個取樣循環，每一個取樣循環包括取樣該多個通道中的每一個通道。在一些實施例中，該隨機演算法更包括以一隨機選擇的通道開始每一個取樣循環。在一些實施例中，該處理器及該測量電路配置以使該多個通道中的每一個通道以一預先決定的順序進行取樣，每一個取樣循環於該隨機選擇的通道開始，並且取樣的動作以該順序針對該取樣循環的其餘部分持續進行。在一些實施例中，該隨機演算法更包括隨機選擇該取樣循環內的每一個通道。在一些實施例中，一取樣循環延遲週期包含於每一個取樣循環之間，且其中該隨機演算法包括隨機改變每一個取樣循環之間的該取樣循環延遲週期。在一些實施例中，一通道延遲週期包含於每一個通道取樣之間，且其中該隨機演 算法包括隨機改變該通道延遲週期。在一些實施例中，該多個通道包括N個通道，且該隨機演算法包括隨機每M個通道取樣的產生通道延遲週期，使得在隨機產生一新的通道延遲週期並施用於下一個M個通道取樣之前，一相同的通道延遲週期施用於M個通道取樣中的每一個。在一些實施例中，M小於N，在其他實施例中，M大於N。在一些實施例中，該處理器配置用以藉由平均從該通道的該多個取樣循環的該測量的電容，來計算每一個通道的該通道電容。在一些實施例中，每一個通道包括在該電容式觸控感測裝置中的一列感測器或是在該電容式觸控感測裝置中的一行感測器。在一些實施例中，該電容式觸控感測裝置包括一二維觸控面板。在一些實施例中，該電容式觸控感測裝置包括一個一維虛擬滑動條。
在另一方面，揭示了偵測一觸控面板上一或更多接觸事件的另一種裝置，該裝置包括一電容式觸控感測裝置，該電容式觸控感測裝置包括多個通道，每一個通道包括一觸控感測器；配置用以實施一隨機演算法的處理器；及耦合至該電容式觸控感測裝置與該處理器的一測量電路，其中該測量電路配置用以根據該隨機演算法取樣該多個通道中的每一個通道，使得每一個通道都被取樣，其中取樣每一個通道包括測量每一個通道的一電容，及多個取樣循環被執行，其中一取樣循環包括在該多個通道中的每一個通道取樣一次，其中該處理器配置用以接收來自該多個取樣循環所測量的電容數據、使用該接收的測量的電容數據來計算每一個通道的一通道電容及從該多個通道所計算的該通道電容來決定一或更多的接觸事件。
10‧‧‧行動電話
11‧‧‧揚聲器元件
12‧‧‧整合的LCD/觸控板
13‧‧‧麥克風
14‧‧‧微處理器
15‧‧‧記憶體
16‧‧‧顯示控制器
17‧‧‧編解碼器
18‧‧‧無線電
20‧‧‧觸控板電路
S1‧‧‧通道1
S2‧‧‧通道2
S3‧‧‧通道3
SN‧‧‧通道N
Hz‧‧‧赫茲
TD‧‧‧取樣循環延遲週期
併入及形成此說明書一部分的相關圖式說明了差動式感測方案的實施例，並與說明一起用於解釋觸覺回請系統的原理，但不限定本發明所揭示的實例。
第1圖說明使用隨機取樣技術的一個示範性的應用之方塊圖。
第2圖說明用以作為電容式觸控界面的一個示範性的觸控面板。
第3圖說明用於取樣觸控面板的通道之非隨機取樣技術。
第4圖說明使用非隨機取樣技術的一個示範性的頻率回應。
第5圖說明用於取樣觸控面板的通道之第一隨機取樣技術。
第6圖說明使用非隨機取樣技術的一個示範性的頻率回應。
第7圖說明除了使用第一隨機取樣技術之外，與第六圖之間可比較的頻率回應。
第8圖說明用於取樣觸控面板的通道之第二隨機取樣技術。
第9圖說明用於取樣觸控面板的通道之第三隨機取樣技術。
第10圖說明用於取樣觸控面板的通道之第四隨機取樣技術。
第11圖說明使用非隨機取樣技術的一示範性的頻率回應。
第12圖說明除了使用第三或第四隨機取樣技術之外，與第11圖之間可比較的頻率回應。
本發明的實施例是針對隨機取樣技術以減少電容式觸控螢幕的雜訊。熟知該技藝者可了解本發明下列實施方式僅為說明用及不欲以任何方式進行限定。瞭解此揭示的優點的該技藝者可輕而易舉地聯想到本發明其它實施例。
如相關圖式所說明的本發明的實施方式將會被詳細的進行說明。相同的元件符號將會被使用而遍佈於圖示及下列詳細的說明中以表示相同或類似零件。為了清楚說明，此處所敘之實施方式的常見特徵並不會全部都會被示出並進行說明。當然，在任何此種實際實施的發展中，必須進行數個實施特定的決定以達到發展者的特定目標(例如符合應用與商業相關的限制)，且這些特定目標會隨實施以及隨發展者而變化是可以被理解的。而且，此種發展的努力可能是複雜的且耗時的，但是其依然是明瞭此揭示的優點的熟知該技藝者的工程的例行工作。
儘管隨機取樣技術與下文的實施例被一起敘述，但是其不在於限定這些實施例與實例的方法及系統是可以被理解的。相反地，此隨機取樣技術意欲著涵蓋了包含於所附請求項所定義的本發明精神及範圍內的替代、修改及相當的技術。而且，在下列詳細的敘述中，數個特定細節被設定以更完整地說明方法及系統。然而，熟知該技藝者顯然可不使用這些特定細節來實施該方法及系統。
根據本申請案，一些組件、處理步驟、及/或資料結構可使用包括硬體、軟體、或其任何組合的各種形式的處理系統來實施。此外，熟知該技藝者可瞭解較少通用性的裝置(例如硬體裝置、特定應用積體電路(ASICs)、或類似裝置)也會在不偏離此處所揭示本發明觀念的範圍及精神下被使用。
隨機取樣技術包括減少或消除在電容式感測器陣列(例如觸控板、觸控螢幕、觸控滑動條及其類似物)的輸出中的誤差之技術，電容式感測器陣列包括偵測觸控筆的存在與位置以及偵測及決定耙指位置的觸控 感測器耙指。當用於此處時，耙指、接觸、接觸事件、或類似的名稱係表示藉由使用者的耙指或是由使用者手持的導電裝置(例如導電觸控筆)與觸控螢幕或觸控板進行接觸、或是盡可能的鄰近接觸。隨機取樣技術敘述在外來信號存在下擷取觸控事件相關信號的方式，特別是，隨機取樣技術敘述展開或是減少出現於主要頻率的任何雜訊(例如指叉耦合雜訊)至不會造成假接觸的程度之方法。隨機取樣技術將每一個感測器通道被取樣的間隔進行隨機化。在一些實施例中，隨機化是藉由隨機化通道的取樣順序而達到。在其他實施例中，隨機化是藉由在連續通道取樣之間插入隨機延遲而達到。儘管此處所說明的說明性實施例係應用於行動電話，但電容式觸控感測器可用於很多種類的裝置是可以被了解的，此種裝置實例包括但不限於可攜式裝置(例如個人數位助理(PDAs)、全球定位系統(GPS)接收器)、較大的裝置(例如觸控螢幕顯示器與電腦系統)及用具。
第1圖說明使用隨機取樣技術的一個示範性應用之方塊圖。行動電話10包括耦合至記憶體15的微處理器14，記憶體15儲存了由微處理器14執行的程式指令，且一般包含了用於此種程式指令的非揮發性儲存以及由微處理器14所使用的暫時性儲存。儲存於記憶體15的程式指令包括根據本發明實施例形成電腦程式產品的程式指令，其決定在包含於整合的液晶顯示器(LCD)/觸控板12中的觸控感測器陣列之表面的一個或更多耙指及/或觸控筆的位置。根據本發明的實施例，LCD/觸控板12耦合至觸控板電路20，其包括測量LCD/觸控板12內觸控板的觸控感測通道的電容之能力。行動電話10亦包括用以將微處理器14耦合至整合的LCD/觸控板12內的LCD的顯示控制器16及用以提供無線電話連接的無線電線路18。行動電話10亦包 括耦合至麥克風13及揚聲器元件11的編解碼器17以提供與使用者的聲音通訊。
於觸控板上的每一個觸控感測器測量電容上的變化，觸控板電路20將該感測的電容變化專換為電壓。存在於系統中的雜訊可變更由電容式觸控感測器所感知的電容上的變化，使得其與真實接觸事件之間無法區分。指叉耦合雜訊可導致觸控板電路2報告假接觸。
第2圖說明了電容式觸控感測器的一個示範性地陣列，統稱為觸控面板，以作為電容式觸控介面。觸控感測器配置於列及行中。白色菱形為列觸控感測器且黑色菱形為行觸控感測器。在既定列中的所有白色菱形(例如在第1列的15個白色菱形)經由橋狀物連續地連接以形成一個單一的列感測器。類似地，連續連接在既定行中的所有黑色菱形係連續地連接以形成一個單一的行感測器。在第2圖的示範性的配置中，觸控板包括8個列感測器及14個行感測器。當用於此處時，通道係表示單一觸控感測器、列感測器、或是行感測器。參考第2圖的觸控板，每一個列感測器及每一個行感測器都可視為通道。在此示例情況下，有8個列感測器及14個行感測器，總共22個通道。
當耙指或導電觸控筆接近觸控板時，於觸控板被接觸的區域的通道電容會改變，或者是在第2圖中的二維觸控感測器陣列的情況下，列感測器及行感測器的電容會產生變化。類比前端(AFE)電路會將藉由通道所偵測的電容轉換為比例電壓。在一些實施例中，觸控板電路20及AFE電路配置作為電容測量電路。在一些實施例中，AFE電路可替代地配置以使差動式感測方案可被使用。AFE將該轉換的電壓輸出至類比數位轉換器(ADC)，該 ADC可將電壓轉換為數位碼的表示形式。雜訊源可改變AFE的輸出。在沒有入射雜訊存在下，一個正常的接觸可使ADC輸出被數百個碼改變。然而，在入射雜訊存在下，一個未被接觸的感測器亦可使ADC輸出被數百個碼改變，在此情況，觸控板電路20無法在真實接觸與具雜訊耦合的非接觸之間進行辨別。任何傳統的觸控感測電路可被使用以測量及決定每一個通道的電容及電容變化。在一較佳實施例中，電容以及電容變化可使用於同在申請中，名稱為「於觸控螢幕控制器以轉換電容為電壓的電荷轉換方案(Charge Transfer Scheme to Converter Capacitance to Voltage for Touchscreen Controller)」的美國專利申請案第XX/XXX,XXX號(代理人目錄編號MAXIM-04500)中所敘述的感測電路與方法來測量並決定。
定期地取樣觸控板的通道以決定一個或更多接觸事件的存在。並非所有的通道都會被連續且同時地取樣以將功率以及處理要求最小化。反而是以循環的方式針對每一個通道個別進行取樣。在每一個循環的期間，所有通道皆會被取樣一次。以此方式，每一個循環可稱為取樣循環，執行多個取樣循環使得每一個通道被取樣多次。藉由將預先決定數量的取樣循環中的通道的取樣值進行平均，以決定每一個通道的通道電容。藉由平均來計算通道電容以減少雜訊的影響。
第3圖說明用於取樣觸控面板的通道之非隨機取樣技術，其中包含有N個通道(例如：如具14個行及8個列的第2圖的觸控面板所述的22個通道)。通道依順序從通道1開始並結束於通道N來進行取樣，其中經該取樣的通道1以S1標明，經取樣的通道2以S2標明，經取樣的通道3以S3標明，以此類推至經取樣的通道N以SN標明。在取樣每一個通道之間存在有一通道延遲週期(channel delay period,T)，每一個循環(或是取樣循環)之間會藉由 取樣循環延遲週期(sampling cycle delay period,TD)來延遲。藉由將K個數量的取樣週期中的每一個通道的取樣值進行平均，以周期性地決定每一個通道的電容，例如，通道1的通道電容可使用來自取樣循環1(循環1)的取樣值S1、取樣循環2(循環2)的取樣值S2來計算、以此類推從其餘取樣循環至取樣循環K(循環K)的每一個取樣值S1。使用此計算方法的實際值可被轉化為電壓、碼、或是藉由取樣通道所感測的原始數據之其他表示方法。
在此非隨機取樣技術中，根據由(N-1)*T+TD所定義的固定時間週期來進行每一個通道的取樣。此固定的取樣週期會形成差頻，與使用非隨機取樣技術以取樣觸控面板有關的頻率回應可於差頻中顯示出尖峰。由於接觸事件的取樣是在相同差頻中執行，因此於差頻中進行接觸的偵測是容易受到雜訊的影響。第4圖說明對應於使用非隨機取樣技術的接觸事件之一個示範性的頻率回應。於第4圖所示的於頻率回應中的尖峰顯示出差頻的影響。取平均值可典型地以平均次數的平方根的因子來減少雜訊。但是，若在雜訊及取樣週期之間存在固定的頻率關係，則平均的動作並不會減少雜訊。若雜訊具與差頻相同的頻率，則將K個取樣循環中的經取樣的值進行平均會因為每一個取樣都具相同雜訊，而不會影響到雜訊的尖峰。相同的雜訊會因為雜訊與取樣速率具相同頻率而再三地被進行取樣。
在非隨機取樣技術中所見到的雜訊尖峰可藉由將每一個通道進行取樣的時間間隔進行隨機化而減輕。不再以會導致系統化雜訊的差頻率來進行取樣，而將取樣隨機化以使得進行平均會產生雜訊分散於多個頻率的結果。使用隨機化的最後結果係為即使雜訊存在於某個頻率或頻率帶，這個雜訊仍會分散於其他頻率，藉此來減少尖峰雜訊。使用非隨機取 樣技術時，若尖峰雜訊存在於與差頻相同或是為其倍數的某個頻率中，則尖峰雜訊將無法藉由進行平均而減少。然而，隨機取樣技術的確導致了減少的尖峰雜訊。多個不同的隨機化方法都可以被使用。
第5圖說明用於取樣觸控面板的通道之第一隨機取樣技術。此第一隨機取樣技術將每一個取樣循環的起始通道進行隨機化。換言之，每一個取樣循環將以一個隨機的通道開始。在一些實施例中，藉由使用隨機編號的產生器以產生每一個取樣循環的起始通道的編號。或者，藉由使用可產生隨機的起始編號的任何習知方法。所有N個通道可從隨機選擇的起始通道開始依序進行取樣。在每一個取樣循環內，在取樣通道N之後取樣序列會回到通道1，以在取樣循環期間取樣所有通道。如在第5圖所述的示範性的序列，第一個取樣循環(循環1)以隨機選擇的通道5開始，接著為通道6並以此類推直到通道N，接著為通道1、通道2並以此類推直到以通道4完成第一個取樣循環。每一個通道的取樣會以通道延遲週期T來延遲，每一個取樣循環會以取樣循環延遲週期TD來延遲。第二個取樣循環(循環2)以隨機選擇的通道N開始，接著為通道1並以此類推直到以通道N-1完成第二個取樣循環。最後一個取樣循環K(循環K)以隨機選擇的通道11開始，接著為通道12並以此類推直到以通道10完成最後一個取樣循環。藉由K個取樣循環中每一個通道的取樣值來進行平均以周期性地決定每一個通道的電容或代表值。由於通道從一個切換循環至下一個循環並非以相同絕對順序來進行取樣，因此處理器必須重排取樣順序以執行平均計算。例如，通道1可為在既定的取樣循環中所取樣的第一個通道，但是在所有取樣循環中通道1並不會總是作為第一個通道而被取樣。如此，通道1的取樣必須在不同取樣循環內從不 同取樣位置匹配在一起以被進行適當地平均。此重排程序需要額外的處理。
第6圖說明使用非隨機取樣技術的一個示範性的頻率回應。第7圖說明除了使用第一隨機取樣技術之外，與第6圖之間可比較的頻率回應。第6圖顯示了存在於差頻的雜訊突波(noise spur)。第7圖顯示因第一隨機取樣技術而產生雜訊突波之減少。
在替代的實施例中，進行第一隨機取樣技術的改良，使得不僅只有起始通道，每一個通道皆被隨機取樣。在此改良的技術中，每一個取樣在每一個取樣循環期間都被隨機地選擇一次。
第8圖說明用於取樣觸控面板的通道之第二隨機取樣技術。該第二隨機取樣技術將每一取樣循環之間的取樣循環延遲週期進行隨機化，在第二隨機取樣技術中，通道的取樣順序仍維持固定地從取樣循環至取樣循環。如第8圖所述的示範性的次序來看，通道1總是第一個被取樣。由此可知，任何通道都可以被選為第一個取樣的通道，只要對所有取樣循環都維持此通道為第一個取樣的通道即可。所有的N個通道都從第一個取樣的通道(例如通道1)開始循序地進行取樣。在一些實施例中，隨機數目的產生器被使用以產生每一個取樣循環之間的通道延遲週期。或者，可使用用於產生隨機起始數目的任何習知方法。
每一個通道的取樣係藉由通道延遲週期T來進行延遲，每一個取樣循環係藉由取樣循環延遲週期來進行延遲，其中該取樣循環延遲週期以一些固定週期的TD加上隨機產生的延遲dX來表示。如在第8圖所示，在第一取樣循環1(循環1)與第二取樣循環2之間的取樣循環延遲週期為TD+d1，及在第二取樣循環2(循環2)與第三取樣循環(未示出)之間的取樣循 環延遲週期為TD+d2。隨機延遲dX的大小與範圍係為可程式以符合所欲隨機化程度。在一些實施例中，隨機延遲dX的大小被設定在固定週期TD的10%內。對每一個特定觸控面板的實施而言，可程式的值可能會改變。藉由將K個取樣循環中的每一個通道的取樣值進行平均以周期性地決定每一個通道的電容或代表值。由於在每一個取樣循環之間的取樣順序為相同的，因此在平均前不須額外處理以重排通道取樣。
第9圖說明用於取樣觸控面板的通道之第三隨機取樣技術。該第三隨機取樣技術將取樣每一通道之間的通道延遲週期進行隨機化。在第三隨機取樣技術中，通道的取樣順序維持固定地從取樣循環(循環)至取樣循環。如第9圖所述的示範性的次序來看，通道1總是第一個被取樣。由此可知，任何通道都可被選為第一個取樣的通道，只要對所有取樣循環都維持此通道為第一個取樣的通道即可。所有的N個通道都從第一個取樣的通道(例如通道1)開始循序地進行取樣。在一些實施例中，隨機數目的產生器被使用以產生每一個取樣循環之間的通道延遲週期。或者，可使用用於產生隨機起始數目的任何習知方法。
每一個通道的取樣係以通道延遲週期來延遲，該通道延遲週期係以一些固定週期T加上隨機產生的延遲dX來表示。每一個取樣循環係以取樣循環延遲週期來延遲，該取樣循環延遲週期係以一些固定週期TD加上隨機產生的延遲dX來表示。隨機延遲dX在每M個通道被取樣之後進行改變。在第三隨機取樣技術中，M小於通道數目N。如在第9圖所示，隨機延遲d1應用於第一組M個通道，隨機延遲d2應用於接下來的M個通道，此M個通道包括取樣循環1(循環1)中的通道M+1至通道N以及取樣循環2(循環2)中 的通道1至通道2M-N。在取樣循環1中的通道M至取樣循環2中的通道2M-N之間應用的隨機延遲d2被加至取樣循環延遲週期的固定部分TD中。在第三隨機取樣技術中隨機延遲d1及d2的大小可與在第二隨機取樣技術中隨機延遲d1及d2的大小相同或不同係為可以理解的。在一些實施例中，在第三隨機取樣技術中隨機延遲d1及d2的大小是小於在第二隨機取樣技術中隨機延遲d1及d2的大小。隨機延遲dX的大小與範圍係為可程式以符合所欲隨機化的程度。藉由將K個取樣循環的每一個通道的取樣值進行平均而周期性地決定每一個通道的電容或代表值。由於在每一個取樣循環之間的取樣順序為相同的，因此在平均前不須額外處理以重排通道取樣。
第10圖說明用於取樣觸控面板的通道之第四隨機取樣技術。該第四隨機取樣技術除了M大於通道數目N以外，係與第三隨機取樣技術相同。
第11圖說明使用非隨機取樣技術的一個示範性的頻率回應。第12圖說明除了使用第三或第四隨機取樣技術之外，與第11圖之間可比較的頻率回應。第11圖顯示了存在於差頻的雜訊突波(noise spurs)。第12圖顯示因第三或第四隨機取樣技術而產生的雜訊突波之減少。使用第二隨機取樣技術可得到與第12圖所示的類似結果。
隨機取樣技術以二維觸控感測器陣列(例如第2圖的觸控面板)來說明於上文。隨機取樣技術亦可應用於一維觸控感測器陣列，其中每一個個別的觸控感測器係相對於觸控感測器的列或行來進行測量，此種一維應用的實例亦於虛擬滑動條與滾輪實施隨機取樣技術。
本發明已依據併入細節的特定實施例來敘述，以促進本發明 的結構與操作的原則之了解。對特定實施例與其細節的此種參考不欲限制此處所附請求項的範圍。熟知該技藝者顯然可在不偏離本發明精神及範圍的情況下，在選擇用於說明的實施例中進行修改。
10‧‧‧行動電話
11‧‧‧揚聲器元件
12‧‧‧整合的LCD/觸控板
13‧‧‧麥克風
14‧‧‧微處理器
15‧‧‧記憶體
16‧‧‧顯示控制器
17‧‧‧編解碼器
18‧‧‧無線電
20‧‧‧觸控板電路

Claims (10)

  1. 一種偵測一電容式觸控感測裝置上的一或更多接觸事件的方法，該方法包括：配置多個通道，每一個通道對應於該電容式觸控感測裝置；在一第一取樣循環期間，根據一隨機演算法取樣該多個通道中的每一個通道，其中根據該隨機演算法，一隨機選擇的通道在該第一取樣循環的一開始時被取樣，其中該多個通道中的每一個通道是在一預定通道延遲週期之後被取樣；在該第一取樣循環和一第二取樣循環之間的一預定第一取樣循環延遲週期後，在該第二取樣循環期間根據該隨機演算法取樣該多個通道中的每一個通道，其中根據該隨機演算法，一隨機選擇的通道在該第二取樣循環的一開始時被取樣，其中該多個通道中的每一個通道是在該預定通道延遲週期後被取樣，其中該預定第一取樣循環延遲週期大於該預定通道延遲週期；在該第二取樣循環和一第三取樣循環之間的一預定第二取樣循環延遲週期後，在該第三取樣循環期間根據該隨機演算法取樣該多個通道中的每一個通道，其中根據該隨機演算法，一隨機選擇的通道在該第三取樣循環的一開始時被取樣，其中該多個通道中的每一個通道是在該預定通道延遲週期後被取樣，其中該預定第二取樣循環延遲週期大於該預定通道延遲週期，其中該預定第二取樣循環延遲週期等於該預定第一取樣循環延遲週期； 匹配在該第一取樣循環期間針對該多個通道中的每一個通道所取樣的數據與在該第二取樣循環期間和該第三取樣循環期間針對相同通道所取樣的數據；使用所取樣的數據針對每一個通道計算一通道電容，其中針對每一個通道計算該通道電容包括將經過多個循環針對每一個通道的所取樣的數據進行平均；以及基於針對該多個通道所計算的該通道電容確定一或更多接觸事件，其中在該第一取樣循環、該第二取樣循環以及該第三取樣循環期間，該多個通道中的每一個通道是以一順序被取樣。
  2. 如申請專利範圍第1項所述的方法，其中每一個通道包括該電容式觸控感測裝置中的一列觸控感測器或是該電容式觸控感測裝置中的一行觸控感測器。
  3. 如申請專利範圍第1項所述的方法，其中一雜訊分佈於該取樣的通道的一頻率回應。
  4. 一種偵測一電容式觸控感測裝置上的一或更多接觸事件的方法，包括：配置多個通道，每一個通道對應於該電容式觸控感測裝置；根據一隨機演算法取樣該多個通道中的每一個通道，使得每一個通道被取樣，其中取樣每一個通道包括測量每一個通道的一電容；執行一第一取樣循環，其中該第一取樣循環包括取樣該多個通道中的每一個通道，其中在該第一取樣循環的一開始時根據該隨機演算法取樣一隨機選擇的通道，其中該多個通道中的每一個通道是在一預定通道延遲週期後被取樣； 在一預定取樣循環延遲週期後執行一第二取樣循環，其中該第二取樣循環包括取樣該多個通道中的每一個通道，其中在該第二取樣循環的一開始時根據該隨機演算法取樣一隨機選擇的通道，其中該多個通道中的每一個通道是在該預定通道延遲週期後被取樣，其中該預定取樣循環延遲週期大於該預定通道延遲週期；匹配在該第一取樣循環期間針對該多個通道中的每一個通道所取樣的數據與在該第二取樣循環期間針對相同通道所取樣的數據；針對每一個通道，使用針對該通道從多個取樣循環所測量的電容來計算一通道電容；以及從針對該多個通道所計算的該通道電容來確定一或更多接觸事件；其中：該多個通道中的每一個通道是以一預先決定的順序來取樣，每一個取樣循環於該隨機選擇的通道開始，以及以該順序繼續取樣該取樣循環的一剩餘者。
  5. 如申請專利範圍第4項所述的方法，其中每一個通道包括該電容式觸控感測裝置中的一列感測器或是該電容式觸控感測裝置中的一行感測器。
  6. 一種用於偵測一觸控面板上的一或更多接觸事件的裝置，包括：一電容式觸控感測裝置，包括多個通道，每一個通道包括一觸控感測器；一處理器，被配置為實施一隨機演算法；以及一測量電路，與該電容式觸控感測裝置及該處理器耦合，其中該測量電路被配置用於在一第一取樣循環期間根據該隨機演算法來取樣該多個通道中的每一個通道，以及在一預定取樣循環延遲週期後，在一第二取樣循 環期間根據該隨機演算法來取樣該多個通道中的每一個通道，其中該多個通道中的每一個通道是在一預定通道延遲週期後被取樣，其中該預定取樣循環延遲週期大於該預定通道延遲週期，其中一隨機選擇的通道在每一取樣循環的一開始時根據該隨機演算法而被取樣，其中該處理器被配置用於從該測量電路接收經取樣的數據、匹配在該第一取樣循環期間針對該多個通道中的每一個通道所取樣的數據與在該第二取樣循環期間針對相同通道所取樣的數據、使用所接收到的取樣數據來為每一個通道計算一通道電容、以及從為該多個通道計算的該通道電容來確定一或更多接觸事件，其中該處理器被配置以藉由平均針對每一通道經過多個循環的所取樣數據，而為每一個通道計算該通道電容；其中該多個通道中的每一個通道是以一預先決定的順序被取樣，每一個取樣循環於該隨機選擇的通道開始，以及以該順序繼續取樣該取樣循環的一剩餘者。
  7. 如申請專利範圍第6項所述的裝置，其中每一個通道包括該電容式觸控感測裝置中的一列感測器或是該電容式觸控感測裝置中的一行感測器。
  8. 如申請專利範圍第6項所述的裝置，其中該電容式觸控感測裝置包括一種二維觸控面板。
  9. 如申請專利範圍第6項所述的裝置，其中該電容式觸控感測裝置包括一種一維虛擬滑動條。
  10. 一種用於偵測一觸控面板上的一或更多接觸事件的裝置，包括：一電容式觸控感測裝置，包括多個通道，每一個通道包括一觸控感測器；一處理器，被配置為實施一隨機演算法；以及 一測量電路，與該電容式觸控感測裝置及該處理器耦合，其中該測量電路被配置用於在一第一取樣循環期間根據該隨機演算法取樣該多個通道中的每一個通道，使得每一個通道都被取樣，以及在一預定取樣循環延遲週期後，在一第二取樣循環期間根據該隨機演算法來取樣該多個通道中的每一個通道，使得每一個通道都被取樣，其中一隨機選擇的通道在每一取樣循環的一開始時根據該隨機演算法被取樣，其中該多個通道中的每一個通道是在一預定通道延遲週期後被取樣，其中該預定取樣循環延遲週期大於該預定通道延遲週期，其中取樣每一個通道包括測量每一個通道的一電容，且多個取樣循環被執行，其中一取樣循環包括對該多個通道中的每一個通道取樣一次，其中該處理器被配置用於從該多個取樣循環接收經測量的電容數據、匹配在該第一取樣循環期間針對該多個通道中的每一個通道所取樣的數據與在該第二取樣循環期間針對相同通道所取樣的數據、使用所接收到的經測量的電容數據來為每一個通道計算一通道電容、以及從為該多個通道計算的該通道電容來確定一或更多接觸事件，其中該處理器被配置以藉由平均針對每一通道經過多個循環的所取樣數據，而為每一個通道計算該通道電容；其中該多個通道中的每一個通道是以一預先決定的順序被取樣，每一個取樣循環於該隨機選擇的通道開始，以及以該順序繼續取樣該取樣循環的一剩餘者。
TW100110334A 2010-04-22 2011-03-25 使用隨機取樣技術以減少耙指耦合雜訊 TWI549039B (zh)

Applications Claiming Priority (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
US32683010P 2010-04-22 2010-04-22
US12/987,008 US9391607B2 (en) 2010-04-22 2011-01-07 Use of random sampling technique to reduce finger-coupled noise

Publications (2)

Publication Number Publication Date
TW201203066A TW201203066A (en) 2012-01-16
TWI549039B true TWI549039B (zh) 2016-09-11

Family

ID=45999474

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
TW100110334A TWI549039B (zh) 2010-04-22 2011-03-25 使用隨機取樣技術以減少耙指耦合雜訊

Country Status (4)

Country Link
US (2) US9391607B2 (zh)
CN (1) CN102236488B (zh)
DE (1) DE102011017251B8 (zh)
TW (1) TWI549039B (zh)

Families Citing this family (22)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US8493356B2 (en) 2010-04-22 2013-07-23 Maxim Integrated Products, Inc. Noise cancellation technique for capacitive touchscreen controller using differential sensing
US9391607B2 (en) 2010-04-22 2016-07-12 Qualcomm Technologies, Inc. Use of random sampling technique to reduce finger-coupled noise
US8599167B2 (en) 2010-04-22 2013-12-03 Maxim Integrated Products, Inc. Method and apparatus for improving dynamic range of a touchscreen controller
US8854319B1 (en) 2011-01-07 2014-10-07 Maxim Integrated Products, Inc. Method and apparatus for generating piezoelectric transducer excitation waveforms using a boost converter
US20130027344A1 (en) * 2011-07-29 2013-01-31 Sim Kok Choon Apparatus Including a Touch-Sensitive Interface Including a Serpentine Electrode Pattern
KR101941507B1 (ko) 2012-02-10 2019-04-12 삼성전자주식회사 터치 스크린을 구비하는 전자 기기에서 터치 오류를 보정하기 위한 장치 및 방법
CN103258171B (zh) * 2012-02-20 2016-03-02 中国移动通信集团公司 防止移动终端触摸屏误触控的方法、装置以及移动终端
DE102012006546B4 (de) * 2012-04-02 2018-02-08 Trw Automotive Electronics & Components Gmbh Kapazitiver Sensor, Verfahren zum Auslesen eines kapazitiven Sensorfeldes und Verfahren zur Herstellung eines kapazitiven Sensorfeldes
US20130321324A1 (en) * 2012-06-01 2013-12-05 Touch Turns Llc System for reducing finger-coupled noise in capacitive touch sensors
US8952795B2 (en) * 2012-09-06 2015-02-10 OmniVision Technologies Selective gain control circuit
US9568526B2 (en) * 2012-09-13 2017-02-14 Microchip Technology Incorporated Noise detection and correction routines
JP6035132B2 (ja) * 2012-12-06 2016-11-30 株式会社ジャパンディスプレイ 液晶表示装置
KR101475124B1 (ko) * 2012-12-14 2014-12-22 엘지디스플레이 주식회사 터치 스크린 구동 장치 및 방법
US20150138162A1 (en) * 2013-10-07 2015-05-21 Tactual Labs Co. Latency measuring and testing system and method
CN104407190B (zh) * 2014-11-26 2017-02-01 电子科技大学 一种全数字化的随机采样方法
CN107614072A (zh) * 2015-04-22 2018-01-19 咖姆波雷特游戏公司 技能竞赛博弈系统
DE102016119750B4 (de) * 2015-10-26 2022-01-13 Infineon Technologies Ag Vorrichtungen und Verfahren zur Mehrkanalabtastung
US10895932B1 (en) 2016-05-10 2021-01-19 Apple Inc. Drift invariant processing
US11385336B2 (en) 2018-07-31 2022-07-12 Maxim Integrated Products, Inc. Time of flight sensors and sensing methods
CN113168818A (zh) * 2018-09-03 2021-07-23 德克萨斯仪器股份有限公司 触摸传感器电路
WO2021069059A1 (de) * 2019-10-08 2021-04-15 Diehl Ako Stiftung & Co. Kg Verfahren zum einstellen einer abtastfrequenz eines kapazitiven berührungsschalters
CN111918008B (zh) * 2020-08-05 2022-11-04 成都微光集电科技有限公司 一种图像传感器

Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US20060092177A1 (en) * 2004-10-30 2006-05-04 Gabor Blasko Input method and apparatus using tactile guidance and bi-directional segmented stroke
US20080309627A1 (en) * 2007-06-13 2008-12-18 Apple Inc. Integrated in-plane switching
US20090284495A1 (en) * 2008-05-14 2009-11-19 3M Innovative Properties Company Systems and methods for assessing locations of multiple touch inputs
TW201015412A (en) * 2008-10-15 2010-04-16 Ene Technology Inc A method for automatically adjusting capacitance baseline of touch button

Family Cites Families (103)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4277784A (en) * 1979-07-13 1981-07-07 Commodore Electronics Limited Switch scanning means for use with integrated circuits
EP0066427B1 (en) * 1981-05-29 1985-04-03 The Marconi Company Limited Scan conversion circuit
US4527096A (en) 1984-02-08 1985-07-02 Timex Corporation Drive circuit for capacitive electroluminescent panels
US4734680A (en) * 1986-02-06 1988-03-29 Emhart Industries, Inc. Detection system with randomized transmissions
JPH0679346B2 (ja) 1990-11-01 1994-10-05 富士ゼロックス株式会社 積分器及び画像読取装置
US5243343A (en) * 1990-12-03 1993-09-07 Zeelan Technology, Inc. Signal acquisition system utilizing ultra-wide time range time base
USH1005H (en) * 1990-12-26 1991-12-03 United States Of America Gram-schmidt space-time adaptive filter using transverse orthonormal ladder filters
US5880411A (en) * 1992-06-08 1999-03-09 Synaptics, Incorporated Object position detector with edge motion feature and gesture recognition
US5463388A (en) 1993-01-29 1995-10-31 At&T Ipm Corp. Computer mouse or keyboard input device utilizing capacitive sensors
US5313141A (en) 1993-04-22 1994-05-17 Durel Corporation Three terminal inverter for electroluminescent lamps
US5463283A (en) 1994-05-24 1995-10-31 Bkl, Inc. Drive circuit for electroluminescent lamp
US5789870A (en) 1996-05-06 1998-08-04 Durel Corporation Low noise inverter for EL lamp
US5736899A (en) 1996-05-15 1998-04-07 Bowers; Derek F. Fully differential voltage controlled operational transconductance amplifier
TW408277B (en) 1996-11-15 2000-10-11 Alps Electric Co Ltd Small current detector circuit and locator device using the same
US7663607B2 (en) 2004-05-06 2010-02-16 Apple Inc. Multipoint touchscreen
TW363639U (en) 1998-09-03 1999-07-01 xin-hong Lin Improved structure for warehouse board
US6466036B1 (en) * 1998-11-25 2002-10-15 Harald Philipp Charge transfer capacitance measurement circuit
US6744426B1 (en) * 1999-08-10 2004-06-01 Brother Kogyo Kabushiki Kaisha Pen coordinate reading device with pen attribute detecting function
US6822635B2 (en) 2000-01-19 2004-11-23 Immersion Corporation Haptic interface for laptop computers and other portable devices
US6847354B2 (en) * 2000-03-23 2005-01-25 The United States Of America As Represented By The Administrator Of The National Aeronautics And Space Administration Three dimensional interactive display
US6621487B2 (en) 2000-07-25 2003-09-16 Rohm Co., Ltd. Circuit for generating touch detection signals, locator device and a method of generating touch detection signals
JP3949912B2 (ja) 2000-08-08 2007-07-25 株式会社エヌ・ティ・ティ・ドコモ 携帯型電子機器、電子機器、振動発生器、振動による報知方法および報知制御方法
JP3798287B2 (ja) 2001-10-10 2006-07-19 Ｓｍｋ株式会社 タッチパネル入力装置
US7061327B2 (en) 2002-01-24 2006-06-13 Maxim Integrated Products, Inc. Single supply headphone driver/charge pump combination
JP2003288158A (ja) 2002-01-28 2003-10-10 Sony Corp タクタイル・フィードバック機能を持つ携帯型機器
JP3937982B2 (ja) 2002-08-29 2007-06-27 ソニー株式会社 入出力装置および入出力装置を有する電子機器
KR20050083833A (ko) 2002-10-31 2005-08-26 해럴드 필립 전하전송 용량성 위치센서
US7132766B2 (en) * 2003-03-25 2006-11-07 Rockwell Automation Technologies, Inc. Method and apparatus for providing a switching signal in the presence of noise
US7283120B2 (en) 2004-01-16 2007-10-16 Immersion Corporation Method and apparatus for providing haptic feedback having a position-based component and a predetermined time-based component
JP4362382B2 (ja) 2004-01-23 2009-11-11 株式会社リコー 定電圧回路
JP4279171B2 (ja) 2004-02-13 2009-06-17 富士通コンポーネント株式会社 平面板振動装置及びこれを用いたスイッチ
US7533324B2 (en) * 2004-09-22 2009-05-12 Kencast, Inc. System, method and apparatus for FEC encoding and decoding
WO2006042309A1 (en) 2004-10-08 2006-04-20 Immersion Corporation Haptic feedback for button and scrolling action simulation in touch input devices
US20060221061A1 (en) 2005-03-31 2006-10-05 Tyco Electronic Corporation Touch sensor and control with random pulse spacing
US7288946B2 (en) * 2005-06-03 2007-10-30 Synaptics Incorporated Methods and systems for detecting a capacitance using sigma-delta measurement techniques
KR100708167B1 (ko) * 2005-07-26 2007-04-17 삼성전자주식회사 Ｔｐｈ를 채용하는 화상형성장치
TW200712997A (en) 2005-09-23 2007-04-01 Elan Microelectronics Corp Method for compensating sensitivity of touch pad sensor
US20070074913A1 (en) 2005-10-05 2007-04-05 Geaghan Bernard O Capacitive touch sensor with independently adjustable sense channels
US7656168B2 (en) * 2005-11-28 2010-02-02 Avago Technologies General Ip (Singapore) Pte. Ltd. Neutralizing electromagnetic noise for a capacitive input device
US7395717B2 (en) * 2006-02-10 2008-07-08 Milliken & Company Flexible capacitive sensor
EP1987637B1 (en) * 2006-02-17 2015-04-08 Microchip Technology Germany GmbH System and method for transferring data packets through a communication system
US8040142B1 (en) 2006-03-31 2011-10-18 Cypress Semiconductor Corporation Touch detection techniques for capacitive touch sense systems
WO2007135663A1 (en) 2006-05-19 2007-11-29 N-Trig Ltd. Variable capacitor array
US8552989B2 (en) 2006-06-09 2013-10-08 Apple Inc. Integrated display and touch screen
EP2027527A2 (en) 2006-06-09 2009-02-25 Apple, Inc. Touch screen liquid crystal display
US7949499B2 (en) * 2006-06-13 2011-05-24 Itron, Inc. Filtering techniques to remove noise from a periodic signal and Irms calculations
JP4697095B2 (ja) 2006-08-29 2011-06-08 ソニー株式会社 タッチパネルディスプレイ装置、電子機器および遊技機器
US20080061139A1 (en) 2006-09-07 2008-03-13 Ncr Corporation Self-checkout terminal including scale with remote reset
TWI329414B (en) * 2006-12-18 2010-08-21 Delta Electronics Inc Adjusting method and device of sensitivity of signal determination
JP4417951B2 (ja) * 2006-12-28 2010-02-17 株式会社東芝 機器監視方法および機器監視システム
US8232970B2 (en) 2007-01-03 2012-07-31 Apple Inc. Scan sequence generator
US7643011B2 (en) * 2007-01-03 2010-01-05 Apple Inc. Noise detection in multi-touch sensors
US8094128B2 (en) * 2007-01-03 2012-01-10 Apple Inc. Channel scan logic
US8026904B2 (en) 2007-01-03 2011-09-27 Apple Inc. Periodic sensor panel baseline adjustment
US8125456B2 (en) * 2007-01-03 2012-02-28 Apple Inc. Multi-touch auto scanning
US8125455B2 (en) 2007-01-03 2012-02-28 Apple Inc. Full scale calibration measurement for multi-touch surfaces
US8054299B2 (en) * 2007-01-08 2011-11-08 Apple Inc. Digital controller for a true multi-point touch surface useable in a computer system
JP4945345B2 (ja) 2007-07-03 2012-06-06 株式会社 日立ディスプレイズ タッチパネル付き表示装置
TW200915162A (en) * 2007-07-31 2009-04-01 Qrg Ltd Sensor and method of sensing
TW200905538A (en) 2007-07-31 2009-02-01 Elan Microelectronics Corp Touch position detector of capacitive touch panel and method of detecting the touch position
US7797115B2 (en) * 2007-08-13 2010-09-14 Nuvoton Technology Corporation Time interval measurement for capacitive detection
US8001338B2 (en) * 2007-08-21 2011-08-16 Microsoft Corporation Multi-level DRAM controller to manage access to DRAM
US7667371B2 (en) 2007-09-17 2010-02-23 Motorola, Inc. Electronic device and circuit for providing tactile feedback
US8077237B2 (en) * 2007-10-16 2011-12-13 Aptina Imaging Corporation Method and apparatus for controlling dual conversion gain signal in imaging devices
KR100921813B1 (ko) 2007-11-07 2009-10-16 주식회사 애트랩 터치 패널 장치 및 이의 접촉위치 검출방법
US8059103B2 (en) 2007-11-21 2011-11-15 3M Innovative Properties Company System and method for determining touch positions based on position-dependent electrical charges
US8072356B2 (en) * 2007-12-13 2011-12-06 Kyocera Corporation Capacitive sensing user interfaces and implementation thereof
US8093914B2 (en) 2007-12-14 2012-01-10 Cypress Semiconductor Corporation Compensation circuit for a TX-RX capacitive sensor
US7830157B2 (en) * 2007-12-28 2010-11-09 3M Innovative Properties Company Pulsed capacitance measuring circuits and methods
US9857872B2 (en) 2007-12-31 2018-01-02 Apple Inc. Multi-touch display screen with localized tactile feedback
US7958316B2 (en) * 2008-02-01 2011-06-07 International Business Machines Corporation Dynamic adjustment of prefetch stream priority
US9823784B2 (en) 2008-04-10 2017-11-21 Atmel Corporation Capacitive touch screen with noise suppression
US20110156839A1 (en) 2009-12-31 2011-06-30 Silicon Laboratories Inc. Capacitive sensor with variable corner frequency filter
US8592697B2 (en) 2008-09-10 2013-11-26 Apple Inc. Single-chip multi-stimulus sensor controller
US8363031B2 (en) * 2008-09-24 2013-01-29 3M Innovative Properties Company Mutual capacitance measuring circuits and methods
US9223430B2 (en) * 2008-09-26 2015-12-29 Hewlett-Packard Development Company Distributing touch data
TWI533184B (zh) 2008-10-08 2016-05-11 禾瑞亞科技股份有限公司 辨別觸碰之觸控方法及裝置
US8749496B2 (en) * 2008-12-05 2014-06-10 Apple Inc. Integrated touch panel for a TFT display
US20100141408A1 (en) 2008-12-05 2010-06-10 Anthony Stephen Doy Audio amplifier apparatus to drive a panel to produce both an audio signal and haptic feedback
US20100156823A1 (en) 2008-12-23 2010-06-24 Research In Motion Limited Electronic device including touch-sensitive display and method of controlling same to provide tactile feedback
US8686952B2 (en) 2008-12-23 2014-04-01 Apple Inc. Multi touch with multi haptics
US20100245286A1 (en) 2009-03-25 2010-09-30 Parker Tabitha Touch screen finger tracking algorithm
KR101060901B1 (ko) 2009-06-04 2011-08-30 삼성전기주식회사 단일 전송 케이블로 신호를 송수신하는 전자 장치
US9069405B2 (en) 2009-07-28 2015-06-30 Cypress Semiconductor Corporation Dynamic mode switching for fast touch response
US8279189B2 (en) * 2009-08-11 2012-10-02 Atmel Corporation Touch-sensitive user interface
CN101634924B (zh) 2009-08-25 2011-04-27 友达光电股份有限公司 具高触碰灵敏度的触碰面板装置与其触碰定位方法
US9444453B2 (en) 2009-09-11 2016-09-13 Apple Inc. Measuring body capacitance effect in touch sensitive device
US8587555B2 (en) 2009-10-09 2013-11-19 Egalax—Empia Technology Inc. Method and device for capacitive position detection
US8605053B2 (en) 2009-12-02 2013-12-10 Analog Devices, Inc. Method and device for detecting user input
US8344660B2 (en) * 2009-12-16 2013-01-01 Enlighted, Inc. Lighting control
US8542202B2 (en) * 2009-12-31 2013-09-24 Motorola Mobility Llc Electronic device and method for determining a touch input applied to a capacitive touch panel system incorporated therein
US8659694B2 (en) * 2009-12-31 2014-02-25 Omnivision Technologies, Inc. Pausing column readout in image sensors
CN101840293B (zh) 2010-01-21 2012-03-21 宸鸿科技(厦门)有限公司 投射电容式触控面板的扫描方法
US20110248930A1 (en) 2010-04-08 2011-10-13 Research In Motion Limited Portable electronic device and method of controlling same to provide tactile feedback
US20110248931A1 (en) 2010-04-08 2011-10-13 Research In Motion Limited Tactile feedback for touch-sensitive display
US8624870B2 (en) 2010-04-22 2014-01-07 Maxim Integrated Products, Inc. System for and method of transferring charge to convert capacitance to voltage for touchscreen controllers
US8493356B2 (en) 2010-04-22 2013-07-23 Maxim Integrated Products, Inc. Noise cancellation technique for capacitive touchscreen controller using differential sensing
US8599167B2 (en) 2010-04-22 2013-12-03 Maxim Integrated Products, Inc. Method and apparatus for improving dynamic range of a touchscreen controller
US9391607B2 (en) 2010-04-22 2016-07-12 Qualcomm Technologies, Inc. Use of random sampling technique to reduce finger-coupled noise
US8698766B2 (en) 2010-04-22 2014-04-15 Maxim Integrated Products, Inc. System integration of tactile feedback and touchscreen controller for near-zero latency haptics playout
US8933907B2 (en) 2010-04-30 2015-01-13 Microchip Technology Incorporated Capacitive touch system using both self and mutual capacitance
US8576189B1 (en) * 2010-08-24 2013-11-05 Cypress Semiconductor Corp. AC line synchronization for capacitive sensing
US20120050213A1 (en) * 2010-08-27 2012-03-01 Bokma Louis W Reduced noise capacitive scan

Patent Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US20060092177A1 (en) * 2004-10-30 2006-05-04 Gabor Blasko Input method and apparatus using tactile guidance and bi-directional segmented stroke
US20080309627A1 (en) * 2007-06-13 2008-12-18 Apple Inc. Integrated in-plane switching
US20090284495A1 (en) * 2008-05-14 2009-11-19 3M Innovative Properties Company Systems and methods for assessing locations of multiple touch inputs
TW201015412A (en) * 2008-10-15 2010-04-16 Ene Technology Inc A method for automatically adjusting capacitance baseline of touch button

Also Published As

Publication number Publication date
US9391607B2 (en) 2016-07-12
US20110261008A1 (en) 2011-10-27
CN102236488A (zh) 2011-11-09
DE102011017251B4 (de) 2018-09-20
DE102011017251B8 (de) 2018-12-06
DE102011017251A1 (de) 2011-11-24
TW201203066A (en) 2012-01-16
CN102236488B (zh) 2016-02-10
US20160291797A1 (en) 2016-10-06

Similar Documents

Publication Publication Date Title
TWI549039B (zh) 使用隨機取樣技術以減少耙指耦合雜訊
KR102565832B1 (ko) 압력 감지 장치 및 방법
US9645690B1 (en) Method and apparatus to improve noise immunity of a touch sense array
US9454274B1 (en) All points addressable touch sensing surface
JP7490678B2 (ja) 圧力検知装置及び方法
US9007342B2 (en) Dynamic mode switching for fast touch response
TWI530848B (zh) 使用差動感測供電容性觸控螢幕控制器噪音消除技術
US8723825B2 (en) Predictive touch surface scanning
US9675368B2 (en) Touch panel scanning method, circuit and system
US9164605B1 (en) Force sensor baseline calibration
US20090051671A1 (en) Recognizing the motion of two or more touches on a touch-sensing surface
US9323385B2 (en) Noise detection for a capacitance sensing panel
US9019220B1 (en) Baseline charge compensation
JP4850946B2 (ja) タッチパネル装置
WO2010076321A1 (en) Touch screen controller
US9030429B2 (en) Touchscreen having a capacitance sensing apparatus
TW201248463A (en) Touch sensing device and method for avoiding erroneous touches
JP2005129012A (ja) 座標位置決め装置及びその方法
JP7283662B2 (ja) タッチパネル装置およびタッチパネル装置の制御方法
KR20160022583A (ko) 터치스크린 장치 및 터치 감지 방법

Legal Events

Date Code Title Description
MM4A Annulment or lapse of patent due to non-payment of fees