TWI547022B - 連接器、及具有連接器之半導體測試裝置(二) - Google Patents

連接器、及具有連接器之半導體測試裝置(二) Download PDF

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Description

連接器、及具有連接器之半導體測試裝置(二) 技術領域
本發明係有關於一種具有板片彈簧狀之端子之連接器、及具有該連接器之半導體測試裝置,特別係有關於一種用以減低將電子零件插入連接器時所需之力且確保將端子壓在電子零件之導體上之力的技術。
背景技術
以往,利用具有板片彈簧狀之端子的連接器。專利文獻1之連接器具有形成有成為連接對象之電子零件(電路基板及纜線之端子等)可插入之插入孔的殼體,及插入至插入孔之端子。端子呈於電子零件之插入方向延伸之板片彈簧狀,且於其前端側具有位於電子零件之前進路線上之接觸部。在電子零件之插入過程中,電子零件之前端部推壓接觸部,結果端子彈性變形,使接觸部由電子零件之前進路線後退。
在電子零件之插入過程中,電子零件之前端部一面推壓接觸部一面僅插入必要量時,產生由於端子之彈力造成之反作用力(與插入方向相反方向之力,主要是端子之彈力,及端子與電子零件間之摩擦力)。因此,必須藉抵抗其反作用力之力(以下稱為插入力),將電子零件壓入連接器。而且,電子零件被壓入連接器,電子零件之前端部通過接觸部之位置後,接觸部藉端子之彈力壓住形成於電子零件表面之導體。
先前技術文獻 專利文獻
【專利文獻1】特開2006-164946號公報
但是,在上述習知連接器中,難以減少必要之插入力並且確保將接觸部壓附電子零件之導體的力(以下,稱為接觸力)。即,為了減少必要之插入力,降低端子之彈力時,接觸力亦降低,產生接觸不良之可能性提高。另一方面,端子之彈力增加時,由於彈力造成之反作用力亦變大,必要之插入力亦變大。
本發明係有鑑於上述問題作成者,其目的在於提供一種可減低在電子零件之插入過程中必要之插入力並且確保充分接觸力的連接器,及半導體測試裝置。
為解決上述問題,本發明之連接器包含配置成於成為連接對象之電子零件之插拔方向延伸的板片彈簧狀端子,及收容前述端子並且形成前述電子零件可插入之插入孔的殼體。前述端子具有可動部及固定部,前述可動部於前端側具有位於前述插入孔中之前述電子零件前進路線上的接觸部,且由該接觸部向遠離前述前進路線設置之前述插入孔的側面延伸。前述固定部位於前述可動部之基部側,其移動被限制。前述可動部構造成可彈性變形,以前述固定部為支點朝前述插入孔之側面之側傾斜。又,前述可動部具有於前述接觸部與前述固定部之間,遠離前述插入孔之側面設置之抵接部,前述抵接部設置成在前述可動部朝前述插入孔之側面之側傾斜途中,抵接前述插入孔之側面。
此外,本發明之半導體測試裝置包含安裝有前述連接器之電路基板。
依據本發明,電子零件抵接接觸部之初,可以固定部為支點,使可動部彈性變形。而且,由可動部之彈性變形之途中,可以抵接部為支點,使可動部彈性變形。由於抵接部位於固定部與接觸部之間,故與以固定部為支點之彈性變形之端子的彈力比較,以抵接部為支點之彈性變形之端子的彈力可為較大。結果,在減低在電子零件插入過程中必要之插入力之同時,容易確保充分之接觸力。
又,在本發明之一態樣中,前述連接器亦可具有隔著前述前進路線與前述端子面對面之板片彈簧狀的第2端子。前述第2端子亦可具有第2可動部及第2固定部,前述第2可動部於前端側具有位於前述電子零件之前進路線上之第2接觸部,且由該第2接觸部向前述插入孔之側面延伸,前述第2固定部亦可位於前述第2可動部之基部側,其移動被限制。而且,前述接觸部之位置與前述第2接觸部之位置亦可在前述電子零件之插入方向互相錯開。依據該態樣,可以使相對前述端子必要之插入力為最大的時期與相對前述第2端子必要之插入力為最大的時期不同。結果,可減低必要之插入力的合計最大值。
又,在該態樣中,前述第2接觸部之位置亦可比前述接觸部之位置更位於前述插入孔之內側,前述接觸部與前述第2接觸部分別具有於與前述電子零件之插入方向相反方向延伸且傾斜成使該等接觸部之間變寬的引導部。而且,前述第2接觸部之前述引導部之相對於前述插入方向的傾斜角度亦可比前述接觸部之前述引導部之相對於前述插入方向的傾斜角度小。藉此,可使就第2端子而言為必要之插入力比就前述端子而言為必要之插入力小,可平順地插入電子零件。
又,在該態樣中,前述第2可動部亦可具有於前述第2接觸部與前述第2固定部之間,遠離前述插入孔之側面設置之第2抵接部,該第2抵接部設置成在前述第2可動部朝前述插入孔之側面之側傾斜途中,抵接前述插入孔之側面。依據該態樣,電子零件抵接第2接觸部之最初,可以第2固定部為支點,使第2可動部彈性變形。而且,由第2可動部之彈性變形之途中,可以第2抵接部為支點,使第2可動部彈性變形。由於第2抵接部位於第2固定部與第2接觸部之間,故與以第2固定部為支點之彈性變形之第2端子的彈力比較,以第2抵接部為支點之彈性變形之第2端子的彈力可為較大。結果,在減低在電子零件插入過程中必要之插入力之同時,容易充分地確保第2接觸部之接觸力。
圖式簡單說明
第1圖是具有安裝有本發明之連接器之電路基板之半導體測試裝置的概略圖。
第2圖是上述連接器及連接於上述連接器之纜線總成之立體圖。
第3圖是上述連接器,及上述纜線總成之分解立體圖。
第4圖是上述纜線總成之立體圖。同圖(A)是上述纜線總成之分解立體圖,同圖(B)是以圖(A)之虛線B圍起之部份的放大圖。
第5圖是在第3圖所示之V-V線之截面圖。
第6圖是本發明之上述連接器之分解立體圖。
第7圖是在第3圖所示之VII-VII線之截面圖。
第8圖是本發明之上述連接器具有之端子的立體圖。
第9圖是本發明之上述連接器之放大截面圖。
第10圖是顯示纜線總成插入本發明之上述連接器之過程的截面圖。在同圖中,顯示纜線總成之前端部抵接於上述連接器之第1端子之接觸部的狀態。
第11圖是顯示纜線總成插入本發明之上述連接器之過程的截面圖。在同圖中,顯示纜線總成之前端部通過第1端子之接觸部之頂部,並且抵接於第2端子之接觸部的狀態。
第12圖是顯示纜線總成插入本發明之上述連接器後之狀態的截面圖。在同圖中,顯示纜線總成之前端部通過第2端子之接觸部之頂部的狀態。
第13圖是顯示對上述纜線總成之插入為必要之插入力之變化例的圖。在同圖中,線A顯示對第1端子為必要之插入力,線B顯示對第2端子為必要之插入力。又,線C顯示以線A與線B顯示之插入力的合計。
用以實施發明之形態
以下,一面參照圖式,一面對本發明之一實施型態進行說明。
第1圖是搭載本發明之實施型態之例之連接器1之半導體測試裝置10的概略圖,第2圖是連接器1及連接於連接器1之纜線總成6之立體圖,第3圖是連接器1及纜線總成6之分解立體圖。
如第1圖所示,半導體測試裝置10包含測試頭105,配置於測試頭105上之母板104,配置於母板104上之性能板(電路基板)103,及配置於性能板103上之裝置插座102。成為測試對象之半導體101安裝於裝置插座102,半導體101透過裝置插座102連接於性能板103。性能板103之裡面安裝有多數連接器1,連接器1設有後述多數端子20、30,各端子20、30透過形成於性能板103之傳送線路及設於裝置插座102之端子,與半導體101之端子電性連接。母板104之上面安裝有多數連接器8,母板104收容之多數同軸電纜7連接於各連接器8(參照第2圖及第3圖)。多數連接器8分別被保持於對應設於性能板103之連接器1的位置,藉使性能板103或母板104於上下方向移動,可將多數連接器8同時嵌合於對應之連接器1。又,藉多數同軸電纜7及與該等同軸電纜7連接之連接器8,構成纜線總成6。此外,如第2圖所示,連接器8設有用以將該連接器8固定於母板104之上面的安裝部82,且安裝部82,例如,藉螺栓及鉚釘等固定於母板104上。
母板104之下面保持多數連接器106,多數同軸電纜7之下端連接於各連接器106。測試頭105之上面設有連接於連接器106之多數同軸電纜107,各同軸電纜107安裝有測試頭105收容之測試模組108。測試模組108透過傳送線路110連接於測試裝置本體109,測試模組108依據來自測試裝置本體109之指示產生測試信號,該測試信號透過同軸電纜7、連接器1、性能板103等輸入至半導體101。
如上所述,該例之半導體測試裝置10設有纜線總成6作為連接於連接器1之電子零件。第4(A)圖是纜線總成6之分解立體圖,在同圖中,顯示構成纜線總成6之多數同軸電纜7及連接器8。第4(B)圖是以第4(A)圖之虛線B圍起之部份的放大圖。第5圖是在纜線總成6之截面圖。
同軸電纜7具有信號線及包圍該信號線之管狀接地線。如第4圖或第5圖所示,安裝於同軸電纜7之端部的纜線端子70由連接於信號線之信號端子71及連接於接地線之接地端子72構成。在此說明之例中,信號端子71具有朝上方延伸之板狀的接觸板71a,接地端子72具有基部72c,基部72c呈彎曲包圍接地線與信號線之半圓筒狀且於內面安裝有接地線。又,接地端子72具有由接地端子72朝上方延伸之細長板狀的接觸板72a。接觸板71a、72a互相相鄰配置,此外,同軸電纜7具有朝上方延伸之細長板狀的底板73,接觸板71a、72a配置於底板73上。
連接器8形成有於上下方向延伸之多數插入孔8a,插入孔8a向下方開口,纜線端子70由下方插入至插入孔8a。插入孔8a之內部形成有貫通連接器8之貫通孔8b,底板73及接觸板71a、72a通過該貫通孔8b朝上方突出。連接器8具有由貫通孔8b之邊緣朝上方延伸之突出部81。通過貫通孔8b之底板73與接觸板71a、72a沿著該信號端子71配置。
在該例中,如第5圖所示,於前後方向(Y1-Y2方向)多數(在該例中為4個)插入孔8a並排,且鄰接之2個插入孔8a形成一對。突出部81由一對插入孔8a之貫通孔8b之間朝上方延伸,插入該一對插入孔8a之纜線端子70之底板73及接觸板71a、72a夾持突出部81位於相反側。又,多數插入孔8a亦於左右方向並排,突出部81形成於左右方向(X1-X2方向)延伸之板狀,突出部81上之纜線端子70亦於左右方向並排。而且,藉突出部81、夾持該突出部81之一對底板73及接觸板71a、72a,構成插入連接器1之纜線總成6的被插入部6a,被插入部6a於其兩側面具有與連接器1具有之端子20、30接觸的接觸板71a、72a。又,突出部81之兩側面形成有於上下方向延伸以將各貫通孔8b分段的壁部81a,2個壁部81a間配置有底板73及接觸板71a、72a(參照第3圖)。
被插入部6a設有越接近前端越細之錐部,詳而言之,如第4(b)圖或第5圖所示,底板73之前端部形成有錐部73a。又,信號端子71於接觸板71a之前端部具有錐部71b,錐部73a及錐部71b由被插入部6a之前端依序並排。同樣地,錐部73a及錐部72b亦由被插入部6a之前端依序並排。該等錐部73a、71b及錐部73a、72b相對於纜線總成6之插入方向傾斜。即,設於突出部81左右之錐部73a、71b、72b傾斜成越接近前端,其間隔越小,被插入部6a之前端側越接近其前端越細。
對連接器1詳細地進行說明。第6圖是本發明之連接器1之分解立體圖。第7圖是連接器1之截面圖。第8圖是連接器1具有之第1端子20及第2端子30的立體圖。第9圖是連接器1之放大截面圖。第10圖至第12圖是顯示纜線總成6插入連接器1之過程的截面圖。在第10圖中顯示纜線總成6之前端部抵接於連接器1之第1端子20之接觸部21的狀態,在第11圖中顯示纜線總成6之前端部通過第1端子20之接觸部21之頂部21b,並且抵接於第2端子30之接觸部31的狀態。在第12圖中顯示纜線總成6之前端部通過第2端子30之接觸部31之頂部31b的狀態。
如第6圖及第7圖所示,連接器1具有殼體11,及多數板片彈簧狀之第1端子20及第2端子30。殼體11形成有於上下方向貫通殼體11之插入孔11a。第1端子20與第2端子30被收容於插入孔11a中,且配置成於纜線總成6之插拔方向(上下方向(Z1-Z2方向))延伸。又,一對第1端子20與第2端子30配置於各插入孔11a內,而互相面對面。
多數插入孔11a於左右方向(X1-X2方向)並排,各插入孔11a係藉在前後方向(Y1-Y2方向)對向之側面11b、11d及隔開鄰接之2個插入孔11a之壁部12界定。插入插入孔11a之第1端子20與第2端子30於左右方向交互並列,且多數插入孔11a亦於前後方向並列。在該例中,多數插入孔11a構成於左右方向延伸之2列。如後述,一對第1端子20與第2端子30之固定部23、33相對於殼體11被固定,且第1端子20與第2端子30安裝於殼體11,使該等端子之可動部22、32可向側面11b、11d彈性變形。
多數插入孔11a形成為可插入纜線總成6之被插入部6a。在該例中,於左右方向(X1-X2方向)鄰接之2個多數插入孔11a之下部相連接,被插入部6a可插入插入孔11a之下部。詳而言之,鄰接之2個插入孔11a之間設有將該等隔開之壁部12。壁部12形成有於纜線總成6之插入方向(上方(Z1方向))凹陷之凹部12a,插入孔11a透過凹部12a連接。如上述,被插入部6a於左右方向上具有為長板狀之突出部81及沿突出部81之兩側面配置之接觸板71a、72a。凹部12a設有於上下方向延伸之一對邊緣12c、12c,被插入部6a沿著邊緣12c進入殼體11內。即,藉凹部12a之邊緣12c,限定被插入部6a之前進路線C。
第1端子20於其前端側具有向前進路線C之中心線CL隆起彎曲之接觸部21,接觸部21位於插入孔11a之前進路線C上。即,接觸部21位於比凹部12a之邊緣12c更靠近前進路線C之中心線CL處。因此,如第10圖所示,在纜線總成6之插入過程中,被插入部6a之前端部(在此係設於纜線端子70之前端部的錐部73a、71b)抵接於接觸部21。在該例中,接觸部21具有於與纜線總成6之插入方向相反方向延伸之引導部21a。該引導部21a遠離前進路線C延伸,相對於插入方向以角度θ1傾斜。在纜線總成6之插入過程中,被插入部6a之前端部先抵接於該引導部21a,將接觸部21壓在遠離前進路線C設置之插入孔11a之側面11b側。
又,第1端子20具有於前端側具有接觸部21之可動部22,可動部22向插入孔11a之側面11b,由接觸部21延伸。即,可動部22向插入孔11a之內側,相對於纜線總成6之插入方向傾斜地延伸。
第1端子20於可動部22之基部側具有固定部23,固定部23相對於殼體11被固定,其移動被限制。在該例中,如第8圖或第9圖所示,固定部23呈寬度大於可動部22之板狀,且沿藉該側面11b配置成與側面11b連接。又,固定部23位於隔開鄰接之2個插入孔11a之壁部12的兩側,相對該壁部12被鉤住。詳而言之,卡合部23a形成於固定部23之左右緣,固定部23被壓入插入孔11a,卡合部23a鉤在壁部12上。
如上述,第1端子20呈板片彈簧狀。可動部22以固定部23為支點,可彈性變形以朝插入孔11a之側面11b側斜。即,如第10圖及第11圖所示,可動部22可彈性變形,使接觸部21由同軸電纜上之位置向側面11b後退(即,於相對於纜線總成6之插入方向直交之方向移動)。接觸部21被纜線端子70之錐部73a、71b壓住時,可動部22以固定部23為支點傾斜。又,在此例中,可動部22以固定部23之可動部22側的端部23b為支點傾斜。
可動部22於接觸部21與固定部23之間具有抵接部24,如第9圖所示,抵接部24在可動部22之自由狀態(外力未作用於可動部22之狀態)時,藉其段差,抵接部24比固定部23更位於前進路線C之中心線CL側,於抵接部24與側面11b之間設有間隙。在該例中,側面11b形成有於前進路線C側突出之凸部11c。該凸部11c與抵接部24間設有間隙,抵接部24在可動部22之自由狀態時,配置成與凸部11c之表面大致平行。
又,抵接部24設置成在可動部22朝側面11b側傾斜之途中,抵接凸部11c。即,在自由狀態之抵接部24與凸部11c之間的距離被規定為在接觸部21到達後退通過前進路線C之位置(第11圖或第12圖所示之接觸部21之位置)之前,抵接部24抵接於側面11b。因此,如第10圖及第11圖所示,在纜線端子70之前端部(在此為錐部73a、71b)抵接於接觸部21之引導部21a後,到纜線端子70之前端部通過超出接觸部21之頂部21b的期間,抵接部24抵接於側面11b。詳而言之,如第10圖所示,錐部73a、71b抵接於接觸部21之引導部21a之初,可動部22以固定部23之端部為支點朝側面11b側傾斜。此時,抵接部24位於雖然接近側面11b,但是尚未遠離側面11b之位置,如第11圖所示,在錐部73a、71b通過超出接觸部21之頂部21b,接觸板71a到達接觸部21之頂部21b之位置時,抵接部24壓住側面11b。而且,在自由狀態之抵接部24與凸部11c之間的距離被規定為由第10圖顯示之狀態至第11圖顯示之狀態途中,抵接部24抵接凸部11c。
可動部22構造成可以抵接部24為支點彈性變形,因此,在抵接部24抵接於側面11b後,可動部22取代固定部23,以抵接部24為支點再朝側面11b側傾斜。而且,接觸部21之頂部21b藉以抵接部24作為支點之可動部22的彈性力,壓住接觸板71a。
由抵接部24到接觸部21之距離L2變成小於由固定部23之端部23b到接觸部21之距離,結果,以抵接部24為支點之可動部22之彈力變成大於以固定部23之端部23b為支點之可動部22的彈力。因此,藉大於錐部73a、71b抵接於引導部21a之初可動部22發揮之彈力的彈力,接觸部21之頂部21b壓住接觸板71a。
如上述,連接器1具有第2端子30,如第9圖所示。第2端子30係配置成隔著前進路線C與第1端子20面對面,第2端子30與第1端子20同樣地,於其前端側,具有朝前進路線C隆起彎曲之接觸部31。該接觸部31亦位於前進路線C上,因此,如第11圖所示,在纜線總成6之插入過程中被插入部6a之前端部(在此是設於纜線端子70之前端部的錐部73a、72b)抵接於接觸部31。特別地,在該例中,接觸部31具有引導部31a,該引導部31a與引導部21a同樣地,遠離前進路線C延伸相對於插入方向以角度θ2傾斜。錐部73a、72b先抵接於該引導部31a,又,第1端子20與第2端子30配置成互相面對面,引導部21a與引導部31a係傾斜成越靠近其前端,間隔愈寬。
又,第2端子30具有於前端側具有接觸部31之可動部32。可動部32亦與可動部22同樣地,由接觸部31向插入孔11a之側面(與設有第1端子20之側面11b相反側之側面)延伸。
第2端子30於可動部32之基部側具有固定部33,該固定部33亦與固定部23同樣地,相對殼體11被固定,其移動被限制。在該例中,固定部33呈比可動部32寬度大之板狀,且沿側面11e配置。又,固定部33位於隔開鄰接之2個插入孔11a之壁部12的兩側,相對該壁部12被鉤住。詳而言之,卡合部33a形成於固定部33之左右緣,固定部33被壓入插入孔11a,卡合部33a鉤在壁部12上。
可動部32與可動部22同樣地,以固定部33為支點,可彈性變形以朝插入孔11a之側面11e。在該例中,接觸部31之引導部31a被錐部73a、72b壓住時,可動部32以固定部33之端部33b為支點傾斜,使接觸部31由前進路線C後退。
可動部32於接觸部31與固定部33之間具有抵接部34,如第9圖所示,抵接部34與抵接部24同樣地,在可動部32之自由狀態下,於與設有第1端子20之側面11e相反側之側面11e亦形成有朝前進路線C側突出之凸部11d。該凸部11d與抵接部34之間設有間隙。
又,抵接部34與抵接部24同樣地設置成,在可動部32朝側面11e側傾斜之途中,抵接側面11e(在該例中為凸部11d)。因此,如第11圖至第12圖所示,在纜線端子70之前端部(在此為錐部73a、72b)抵接於接觸部31之引導部31a後,到纜線端子70之前端部通過超出接觸部31的期間,抵接部34抵接於側面11d。可動部32與可動部22同樣地,構成為可以抵接部34為支點彈性變形。因此,抵接部34抵接於側面11e後,可動部32取代固定部33,以抵接部34為支點再朝側面11e側傾斜。而且,接觸部31藉以抵接部34作為支點之可動部32的彈性力,壓住接觸板72a。
由抵接部34到接觸部31之距離L4變成等於由抵接部24到接觸部21之距離,因此,接觸部21與接觸部31以大致相等之力壓住接觸板71a、72a。又,由固定部23之端部23b到接觸部21之距離與由固定部33之端部33b到接觸部31之距離相等。
如第9圖所示,第1端子20之接觸部21之位置與第2端子30之接觸部31之位置在纜線總成6之插入方向上互相錯開。在該例中,第2端子30之接觸部31比接觸部21更位於插入孔11a之內側。詳而言之,接觸部31之頂部31b比接觸部21之頂部21b更位於插入孔11a之內側。而且,接觸部31之頂部31b由接觸部21之端部延伸並且與比頂部21b更位於側面11b之延伸部22a面對面。
如上所述,引導部21a與引導部31a係傾斜成越接近其前端,間隔越寬。在該例中,引導部31a之相對於插入方向之傾斜角度θ2變成比引導部21a之相對於插入方向之傾斜角度θ1小。因此,纜線總成6之插入過程中,對第2端子30為必要之插入力的上升率比對第1端子20為必要之插入力的上升率低。
第13圖是顯示插入力變化之圖,在同圖中橫軸表示纜線總成6之位置,縱軸表示插入力。又,在同圖中,線A表示對第1端子20為必要之插入力,線B表示對第2端子30為必要之插入力。又,線C表示以線A與線B顯示之插入力的合計。
如以同圖之線A所示,在纜線總成6插入到錐部73a、71b到達抵接於接觸部21之引導部21a之位置P1的時點後,插入力開始上升。在該時點,需要由於可動部22朝側面11b側彎曲時之彈力產生之反作用力(與插入方向相反方向之力)及抵抗與引導部21a及錐部73a、71b之摩擦力的力兩者作為插入力。對第1端子20為必要之插入力在P3為最大。在纜線總成6插入到接觸板71a到達接觸部21之頂部21b之位置P4後,僅需要抵抗接觸板71a與接觸部21之頂部21b之摩擦之力作為對於第1端子20之插入力。因此,在位置P4後,可以小於在位置P3之插入力小之插入力F1插入纜線總成6。
又,如線B所示,在纜線總成6插入到錐部73a、72b抵接接觸部31之引導部31a之位置P2的時點後,對於第2端子30為必要之插入力開始緩緩地上升。在該時點,需要由於可動部32朝側面11e側彎曲時之彈力產生之反作用力(與插入方向相反方向之力)及抵抗與引導部31a及錐部73a、72b之摩擦力的力兩者作為插入力。
如上所述,接觸部31之引導部31a之相對於插入方向的傾斜角度θ2變成比引導部21a之相對於插入方向之傾斜角度θ1小。因此,對於第2端子30為必要之插入力相較於對於第1端子20為必要之插入力緩緩地上升。
對於第2端子30為必要之插入力在位置P5為最大,如上所述,接觸部31之頂部31b比接觸部21之頂部21b更位於插入孔11a之內側。因此,對於第2端子30為必要之插入力成為最大之位置P5在對於第1端子20為必要之插入力成為最大之位置P3後方。特別地,在該例中,頂部21b與頂部31b之位置關係被規定為位置P5比接觸板71a到達接觸部21之頂部21b之位置P4更位於插入孔11a之內側。
又,接觸部31之引導部31a之傾斜角度θ2比接觸部21之引導部21a之傾斜角度θ1小,且頂部31b之曲率比頂部21b之曲率大。因此,由於第2端子30之彈力產生之反作用力(與插入方向相反方向之力)比囚於第1端子20之彈力產生之反作用力小。結果,對於第2端子30為必要之插入力之最大值(在位置P5之插入力)變成比對於第1端子20為必要之插入力之最大值(在位置P3之插入力)小。
纜線總成6插入到接觸板72a到達接觸部31之頂部31b之位置P6後,由於僅抵抗接觸板72a與頂部31b之摩擦的力成為對於第2端子30為必要之插入力,故可以比在位置P5之插入力小的插入力F2插入纜線總成6。
如上所述,對於第2端子30為必要之插入力成為最大之位置P5比接觸板71a到達接觸部21之頂部21b之位置P4更位於插入孔11a之內側。即,由於對於第1端子20為必要之插入力僅為抵抗接觸板71a與接觸部21之頂部21b之摩擦的力,對於第2端子30為必要之插入力成為最大。因此,如線C所示,在位置P5之插入力的合計比在位置P3之插入力的合計低。藉此,與在位置P5之插入力的合計為最大之連接器相比,可將纜線總成6平順地插入連接器1。
最後,說明對連接器1之性能板103之安裝構造。如第8圖所示,該例之第1端子20及第2端子30分別具有由固定部23、33向上方延伸之被推壓部25、35。被推壓部25、35朝上方延伸並且可於上下方向伸縮彎曲。即,被推壓部25、35分別具有延伸部25a、35a及彎曲部25b、35b。延伸部25a、35a由固定部23、33向插入孔11a之中心線CL延伸。彎曲部25b、35b彎曲成由延伸部25a、35a朝上方延伸並且其間擴大。彎曲部25b、35b之前端具有相對於性能板103之裡面面對面之接觸部25c、35c,接觸部25c、35c壓住形成於性能板103裡面之導體部(圖未示)時,被推壓部25、35朝下方彎曲,使接觸部25c、35c之位置降低。又,如第6圖及第7圖所示,連接器1除了殼體11以外,還有殼體19,殼體19形成有被推壓部25、35插入之插入孔19a、19a。
如第6圖所示,殼體11之外面設有安裝部13。該安裝部13,例如,藉鉚釘及螺栓等安裝於性能板103上。即,安裝部13形成有貫通該安裝部13之貫通孔,而且鉚釘等插穿該貫通孔,固定於性能板103上。藉此,被推壓部25、35壓住性能板103之裡面。
又,殼體19安裝於性能板103時,被性能板103與殼體11夾持(參照第7圖)。又,殼體19之外面亦設有安裝部19b,該安裝部19b形成有將殼體11安裝於性能板103之鉚釘等通過的貫通孔。
如以上說明,連接器1具有板片彈簧狀之第1端子20,第1端子20配置成朝纜線總成6之插拔方向延伸。第1端子20之可動部22於前端側具有位於插入孔11a中之纜線總成6之前進路線C上的接觸部21,且由該接觸部21向遠離前進路線C設置之插入孔11a之側面11b延伸。又,第1端子20具有固定部23,可動部22構造成可以固定部23為支點彈性變形,以朝插入孔11a之側面11b側傾斜。又,可動部22於接觸部21與固定部23之間,具有遠離插入孔11a之側面11b設置之抵接部24。抵接部24設置成在可動部22朝插入孔11a之側面11b之側傾斜之途中,抵接插入孔11a之側面11b。
依據如此之連接器1,如第10圖至第11圖所示,纜線總成6抵接於接觸部21之初,可以固定部23為支點使可動部22彈性變形。而且,從可動部22之彈性變形途中開始,可以抵接部24為支點使可動部22彈性變形。由於抵接部24位於固定部23與接觸部21之間,故以抵接部24為支點之彈性變形之第1端子20的彈力比以固定部23為支點之彈性變形之第1端子20的彈力大。結果,使由接觸部21至固定部23之距離增加,使由接觸部21至抵接部24之距離減少,藉此一面可確保將接觸部21壓在纜線總成6之導體(在此為接觸板71a)上之力,一面可減低纜線總成6抵接於接觸部21時產生之反作用力。
又,本發明不限於以上說明之連接器1,可有種種變更。
在以上說明中,具有同軸電纜7之纜線總成6連接於連接器1。但是,連接於連接器1之電子零件不限於纜線總成6,例如,電路基板及FPC(撓性印刷電路)等亦可連接於連接器1。
又,在以上說明中,第1端子20之抵接部24抵接形成於插入孔11a之側面11b的凸部11c,但是凸部11c亦可不形成於側面11b。
又,抵接部24抵接於凸部11c之表面。但是,凸部11c及抵接部24亦可形成為使抵接部24抵接於凸部11c之角。
又,在以上說明中,連接器1使用在半導體測試裝置10中,但是,連接器1亦可使用在其他電子機器中。
又,連接器1設有第1端子20與第2端子30。但是,連接器1亦可僅設有第1端子20或第2端子30之任一者。
又,在以上說明中,第1端子20接觸接觸板71a,第2端子30接觸接觸板72a。但是,亦可第1端子20接觸接觸板72a,第2端子30接觸接觸板71a。
1...連接器
6...纜線總成
6a...被插入部
7...同軸電纜
8...連接器
8a...插入孔
8b...貫通孔
10...半導體測試裝置
11...殼體
11a...插入孔
11b,11e...側面
11c,11d...凸部
12...壁部
12a...凹部
12c...邊緣
13...安裝部
19...殼體
19a...插入孔
19b...安裝部
20...第1端子
21...接觸部
21a...引導部
21b...頂部
22...可動部
22a...延伸部
23...固定部
23a...卡合部
23b...端部
24...抵接部
25...被推壓部
25a...延伸部
25b...彎曲部
25c...接觸部
30...第2端子
31...接觸部
31a...引導部
31b...頂部
32...可動部
33...固定部
33a...卡合部
33b...端部
34...抵接部
35...被推壓部
35a...延伸部
35b...彎曲部
35c...接觸部
70...纜線端子
71...信號端子
71a...接觸板
71b...錐部
72...接地端子
72a...接觸板
72b...錐部
72c...基部
73...底板
73a...錐部
81...突出部
81a...壁部
82...安裝部
101...半導體
102...裝置插座
103...性能板(電路基板)
104...母板
105...測試頭
106...連接器
107...同軸電纜
108...測試模組
109...測試裝置本體
110...傳送線路
C...前進路線
CL‧‧‧中心線
F1,F2‧‧‧插入力
L1-L4‧‧‧距離
P1-P6‧‧‧位置
θ 1,θ 2‧‧‧角度
第1圖是具有安裝有本發明之連接器之電路基板之半導體測試裝置的概略圖。
第2圖是上述連接器及連接於上述連接器之纜線總成之立體圖。
第3圖是上述連接器,及上述纜線總成之分解立體圖。
第4圖是上述纜線總成之立體圖。同圖(A)是上述纜線總成之分解立體圖,同圖(B)是以圖(A)之虛線B圍起之部份的放大圖。
第5圖是在第3圖所示之V-V線之截面圖。
第6圖是本發明之上述連接器之分解立體圖。
第7圖是在第3圖所示之VII-VII線之截面圖。
第8圖是本發明之上述連接器具有之端子的立體圖。
第9圖是本發明之上述連接器之放大截面圖。
第10圖是顯示纜線總成插入本發明之上述連接器之過程的截面圖。在同圖中,顯示纜線總成之前端部抵接於上述連接器之第1端子之接觸部的狀態。
第11圖是顯示纜線總成插入本發明之上述連接器之過程的截面圖。在同圖中,顯示纜線總成之前端部通過第1端子之接觸部之頂部,並且抵接於第2端子之接觸部的狀態。
第12圖是顯示纜線總成插入本發明之上述連接器後之狀態的截面圖。在同圖中,顯示纜線總成之前端部通過第2端子之接觸部之頂部的狀態。
第13圖是顯示對上述纜線總成之插入為必要之插入力之變化例的圖。在同圖中,線A顯示對第1端子為必要之插入力,線B顯示對第2端子為必要之插入力。又,線C顯示以線A與線B顯示之插入力的合計。
11...殼體
11a...插入孔
11b,11e...側面
11c,11d...凸部
12...壁部
12a...凹部
12c...邊緣
19...殼體
19a...插入孔
20...第1端子
21...接觸部
21a...引導部
21b...頂部
22...可動部
22a...延伸部
23...固定部
23b...端部
24...抵接部
25...被推壓部
25a...延伸部
25b...彎曲部
25c...接觸部
30...第2端子
31...接觸部
31a...引導部
31b...頂部
32...可動部
33...固定部
33b...端部
34...抵接部
35...被推壓部
35a...延伸部
35b...彎曲部
35c...接觸部
C...前進路線
CL...中心線
L1-L4...距離
θ1,θ2...角度

Claims (3)

  1. 一種連接器,其特徵在於包含:第1端子與第2端子,係分別配置成在作為連接對象之電子零件的插拔方向上延伸之板片彈簧狀,並挾著前述電子零件之前進路線而相互面對面;及收容前述第1端子與前述第2端子並且形成前述電子零件可插入之插入孔的殼體,前述第1端子與前述第2端子各自包含:接觸部,係位於前述插入孔中之前述電子零件之前進路線上;可動部,係於前端側有前述接觸部,並由前述接觸部向遠離前述前進路線設置之前述插入孔的側面延伸;及固定部,係位於前述可動部之基部側,限制移動,前述可動部構造成可彈性變形,以前述固定部為支點朝前述插入孔之側面之側傾斜,前述第1端子之前述可動部於前述接觸部與前述固定部之間具有抵接部,該抵接部位於遠離前述插入孔之側面,並且設置成在前述可動部朝前述插入孔之側面之側傾斜之途中,抵接於前述插入孔之側面,前述第2端子之接觸部之位置在前述電子零件之插入方向上是位在比前述第1端子之前述接觸部之位置更內側的位置,前述第1端子之前述接觸部與前述第2端子之前述 接觸部各自具有引導部,該引導部係延伸於與前述電子零件之插入方向相反之方向上並傾斜成使該兩接觸部之間變寬,前述第2端子之前述接觸部之前述引導部相對於前述插入方向的傾斜角度,是小於前述第1端子之前述接觸部之前述引導部相對於前述插入方向的傾斜角度。
  2. 如申請專利範圍第1項之連接器,其中前述第2端子之前述可動部於前述接觸部與前述固定部之間具有抵接部,該抵接部係位於遠離前述插入孔之側面,且設置成在前述可動部朝前述插入孔之側面之側傾斜之途中,抵接於前述插入孔之側面。
  3. 一種半導體測試裝置,具有如申請專利範圍第1項或第2項之連接器,其特徵在於具有安裝有前述連接器之電路基板。
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Families Citing this family (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US10128620B1 (en) * 2017-09-27 2018-11-13 Greenconn Corp. High speed vertical connector
JP2019185885A (ja) * 2018-04-03 2019-10-24 矢崎総業株式会社 中継端子及び中継コネクタ
CN110739585B (zh) * 2018-07-20 2023-09-05 富加宜(美国)有限责任公司 具有反冲件的高频连接器
FR3087955B1 (fr) * 2018-10-26 2023-04-28 Aptiv Tech Ltd Ensemble de connexion, contact femelle et procede de connexion
CN113258325A (zh) 2020-01-28 2021-08-13 富加宜(美国)有限责任公司 高频中板连接器
TWI806045B (zh) * 2021-05-04 2023-06-21 博磊科技股份有限公司 半導體積體電路、印刷電路板與測試裝置之連接器總成
CN114039248A (zh) * 2021-09-29 2022-02-11 华为数字能源技术有限公司 一种连接器组件和电子设备

Family Cites Families (10)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US3744005A (en) 1971-07-02 1973-07-03 Berg Electronics Inc Zero force type connector block
GB1463515A (en) * 1974-08-20 1977-02-02 Trw Inc Electrical connector assemblies
JPS6243479U (zh) * 1985-09-02 1987-03-16
JPS6398990A (ja) * 1986-10-15 1988-04-30 東京山一電機株式会社 Icソケツトのコンタクト金具及びその製法
US5026292A (en) * 1990-01-10 1991-06-25 Amp Incorporated Card edge connector
US5035631A (en) * 1990-06-01 1991-07-30 Burndy Corporation Ground shielded bi-level card edge connector
US5104329A (en) * 1990-09-21 1992-04-14 Amp Incorporated Electrical connector assembly
JP3677594B2 (ja) * 2000-04-14 2005-08-03 日本航空電子工業株式会社 コネクタ
TWM311153U (en) * 2006-08-16 2007-05-01 Advanced Connectek Inc Electric connector
KR101193407B1 (ko) * 2007-09-11 2012-10-24 가부시키가이샤 어드밴티스트 연결기, 도전 부재, 연결기의 제조 방법, 퍼포먼스 보드 및 시험 장치

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