TWI511546B - 灰塵檢測系統及數位相機 - Google Patents

Description

灰塵檢測系統及數位相機

本發明關於一種灰塵檢測系統，其可基於一攝影的影像檢測附著於安裝在一攝影裝置(例如數位相機)中一成像裝置的灰塵。

在允許交換鏡頭的數位相機中，例如單鏡頭反射相機，當鏡頭自主體移除時灰塵會意外地掉落在相機本體中。進入該主體的灰塵會附著於該成像裝置或該成像裝置上的濾光器。當這些灰塵附著時，其即會出現在所攝影的影像中。

即使灰塵可見於一攝影的影像中，某些灰塵在直接視覺檢測時不會看出。日本未審查專利公開號2005-341381提出一種數位相機，其可判定是否附著有這些灰塵。該使用者被鼓勵在當檢測到灰塵時透過警告來移除灰塵。

在一成像裝置的製造程序中，或在安裝一成像裝置在一相機本體期間，微細的缺陷會在紅外線切割濾光器或低通濾波器上產生，或微細灰塵會出現在這些濾光器之間。在製造之後很難移除這些微細缺陷及灰塵。因此，如果在製造之後於一相機的品質檢查上在一攝影的影像中可以看到缺陷或灰塵，該相機之檢測即為失敗。

充分微細的缺陷及灰塵在一攝影的影像中不會看到，且不會造成問題。但是，在以上的專利文獻中這些缺陷及灰塵的影像會被該灰塵檢測功能中邊緣增強信號處理所放大。因為無法移除這些缺陷及灰塵，如上所述，使用者並不想要檢測到它們，即使是在清潔該濾光器或成像裝置之後。

因此，本發明之目的在於提供一種灰塵檢測系統，其可基於一攝影的影像檢測到除了進入到製造中的灰塵及缺陷(該等固有缺陷)之外的灰塵。

根據本發明，係提供一種灰塵檢測系統，該系統包含一接收器、一灰塵擷取區塊、一記憶體及一影像修正區塊。該接收器接收一影像信號。一成像裝置根據一捕捉的光學影像產生該影像信號。該灰塵擷取區塊藉由基於該影像信號在該光學影像中擷取灰塵的次影像來產生一灰塵影像信號。該記憶體儲存對應於一固有缺陷影像的固有缺陷影像信號，其包括該灰塵擷取區塊在初始化時所擷取之灰塵的次影像。該影像修正區塊基於該固有缺陷影像信號與一正常灰塵影像信號產生一修正的灰塵影像信號。該修正的灰塵影像信號對應於一修正的灰塵影像。該正常灰塵影像信號對應於包括該灰塵擷取區塊在初始化之後擷取的灰塵之次影像的一正常灰塵影像。該修正的灰塵影像為該正常灰塵影像中刪除了在該固有缺陷影像中灰塵的次影像。

再者，一固有缺陷區域基於一檢測到的缺陷區域所決定。該檢測到的缺陷區域為在該固有缺陷影像中檢測到灰塵的一區域。該影像修正區塊藉由刪除在該正常灰塵影像之固有缺陷區域中灰塵的次影像而產生該修正的灰塵影像信號。

再者，該灰塵檢測系統包含一第一決定區塊。該第一決定區塊決定可調整參數之數值。該可調整參數影響到在由該成像裝置捕捉的一整體影像中一主題的一次影像之可見度。該主題係位在該成像裝置之表面的周圍區域中。該可調整參數之決定使得在捕捉到該正常灰塵影像時的可見度之降低會超過當捕捉到該固有缺陷影像時。

本發明將在以下參照圖式中所示之具體實施例來做說明。

在第一圖中，數位相機10為一單鏡頭反射相機，且包含一鏡頭單元20與相機區塊30。鏡頭單元20可與相機區塊30連接與分離。在第一圖中，該水平及垂直方向分別對應於數位相機10之前後及垂直方向。在以下的說明中，一完整影像之一部份定義成一次影像。

鏡頭單元20包含一鏡頭單元驅動機構21(第一決定區塊)及一攝影光學系統22。此外，鏡頭記憶體(未示出)係安裝在鏡頭單元20中。該鏡頭記憶體儲存攝影光學系統22之資訊，例如最大孔徑值、最小孔徑值、焦距、最小散光圈、出射光瞳的位置等等。

相機區塊30由安裝一鏡面32、一成像裝置33、一監視器34、一影像處理區塊40、一六面稜鏡35、一目鏡36及一本體31中的其它組件所形成。該等鏡頭單元定期地與相機區塊30通訊，在其中攝影光學系統22之資訊係儲存在安裝於相機區塊30中的一快閃記憶體中(未示於第一圖)。攝影光學系統22之資訊係在當進行例如光圈控制的某些功能在進行時所使用。在具有結合鏡頭單元20與相機區塊30的相機中，在攝影光學系統22上的資訊係直接儲存在相機區塊30之快閃記憶體中。

攝影光學系統22包含複數個鏡頭，其包括一焦點鏡頭及一變焦鏡頭及光圈23。藉由沿著攝影光學系統22的光學軸移動該焦點鏡頭，即可調整焦點。藉由沿著該光學軸移動該變焦鏡頭，即可調整焦距。此外，藉由調整光圈23之孔徑大小，即可調整入射光線量。鏡頭單元驅動機構21移動該焦點鏡頭及該等變焦鏡頭，且調整光圈23之孔徑的大小。

鏡面32之安裝使得鏡面32繞著垂直於攝影光學系統22之光學軸的軸而旋轉。在攝影的就緒模式中，鏡面32被保持在該光學軸中，所以該光學軸與鏡面32的平面表面之間的角度為45度。

六面稜鏡35係安裝在鏡面32之上。成像裝置33係安裝在鏡面32的後方。目鏡36安裝在六面稜鏡35的後方。

在攝影的就緒模式中，自一主題反射的光線傳送通過攝影光學系統22，並由鏡面32反射。該反射的光學影像經由六面稜鏡35自目鏡36放射。該光學影像可在目鏡36中觀察到。

藉由按下該釋放鈕(未示出)，即進行一釋放作業。在該釋放作業中，鏡面32被向上旋轉，且該快門(未示出)被開啟，且該主題的一光學影像即形成在成像裝置33之光線接收表面上。

成像裝置33即覆蓋有一紅外線切割濾光器(未示出)及一光學低通濾波器(未示出)。密封構件(未示出)係安裝在該成像裝置與該紅外線切割濾光器之間，以及在該紅外線切割濾光器與該光學低通濾波器之間，以防止灰塵進入到它們之間的空間當中。

成像裝置33基於到達該光線接收表面之整個光學影像來產生一影像信號。該影像信號被傳送到影像處理區塊40，且進行預定的資料處理。影像處理區塊40連接至監視器34。對應於自影像處理區塊40傳送的影像信號之影像即顯示在監視器34上。

接著，解釋影像處理區塊40之結構。如第二圖所示，影像處理區塊40包含一A/D轉換器41(接收器)、一正常影像處理區塊42、一灰塵影像處理區塊50、一D/A轉換器43及其它組件。

數位相機10具有複數個操作模式，其中包括一攝影模式、一顯示模式及一灰塵警示模式。該操作模式根據該使用者的命令輸入到輸入區塊37(開關)而改變。基於該命令輸入到輸入區塊37，一系統控制器38(控制器)控制每個組件，其中包括數位相機10之影像處理區塊40。

當數位相機10之操作模式被改變到攝影模式時，數位相機10的所有組件被切換到攝影的就緒模式。當該釋放鈕在攝影的就緒模式之下被按下時，鏡面32及該快門被驅動，如上所述，且影像裝置33被驅動，所以產生影像信號之框。

該產生的影像信號被傳送到影像處理區塊40，如上所述。傳送到影像處理區塊40之類比影像信號被A/D轉換器41接收及數位化。所得到的影像資料在系統控制器38的控制之下被傳送到正常影像處理區塊42。

正常影像處理區塊42進行在該影像資料上的預定資料處理，例如白平衡處理及伽瑪修正。具有進行了預定資料處理之影像資料被儲存在一可移除記憶體39中。

當數位相機10之操作模式被改變到該顯示模式時，儲存在可移除記憶體39中的影像資料經由正常影像處理區塊42被傳送到D/A轉換器。D/A轉換器43轉換該數位影像資料成為一影像信號，且傳送到監視器34。對應於該接收的影像信號之影像即顯示在監視器34上，如上所述。

在該灰塵警示模式中，附著於成像裝置33之表面的灰塵即被攝影及顯示在監視器34上，如上所述。

當數位相機10之操作模式被改變到該灰塵警示模式時，鏡頭單元20被調整，所以被攝影的物件將可在一影像中被區別。例如，根據該孔徑優先模式進行自動曝光控制。光圈23之孔徑大小被調整，所以攝影光學系統22之F值為F16(其等於APEX系統中的孔徑值8)。此外，該快門速度被調整，所以曝光可正確。

在調整該孔徑大小之後，該釋放作業即進行，並產生一影像信號。在該灰塵警示模式中，均勻場必須被攝影，藉以檢測附著於成像裝置33之灰塵。該使用者被指示來瞄準對於該灰塵警示模式要被攝影的一無圖案表面，且所有在該灰塵警示模式中釋放作業之後的作業基於假設該攝影的主題不具有圖案之下來進行。

然後在該灰塵警示模式中由成像裝置33產生的影像信號，其在以下稱之為一正常灰塵影像信號，其被傳送到影像處理區塊40，如同在攝影模式中。該傳送的正常灰塵影像信號由A/D轉換器41所數位化。在該灰塵警示模式中，該正常灰塵影像資料在系統控制器38的控制之下被傳送到灰塵影像處理區塊50。

灰塵影像處理區塊50藉由在該正常灰塵影像資料上進行預定的資料處理而產生一修正的灰塵影像資料。如下所述，該修正的灰塵影像資料對應於一整體修正的灰塵影像，其僅包括附著於成像裝置33之可移除灰塵的次影像。該修正的灰塵影像資料被傳送到D/A轉換器43。D/A轉換器43轉換該修正的灰塵影像資料成為一類比信號，然後該修正的灰塵影像信號被傳送到監視器34。該修正的灰塵影像即顯示在監視器34上。

接著，由灰塵影像處理區塊50進行的預定資料處理在以下連同灰塵影像處理區塊50之結構的解釋來做說明。如第三圖所示，灰塵影像處理區塊50包含一解析度轉換電路51、一邊緣增強電路52、一二元化電路53(灰塵擷取區塊)、一放大電路54、一快閃記憶體55(記憶體)及一灰塵影像修正電路56(影像修正區塊)。

自A/D轉換器41輸出的正常灰塵影像資料被輸入到解析度轉換電路51。解析度轉換電路51降低該正常灰塵影像資料之影像解析度，自成像裝置33之有效像素數目降低在該正常灰塵影像資料中的像素數目。例如，該影像解析度由百萬畫素降低到VGA解析度。藉由降低影像解析度，在正常攝影環境中不會被辨識出的非常微細灰塵的影像即可被刪除。

具有降低解析度之正常灰塵影像資料被傳送到邊緣增強電路52。邊緣增強電路52對於該接收的正常灰塵影像資料進行邊緣增強處理，並可增強該攝影的光學影像之銳度。

具有已進行邊緣增強處理之正常灰塵影像資料被傳送到二元化電路53。首先，二元化電路53計算正常灰塵影像資料之每個像素的亮度資料成分之平均亮度及標準變異，以下稱之為σ。該平均亮度為該正常灰塵影像資料之亮度資料成分之資料位準的平均值。

在計算平均亮度及CT之後，二元化電路53轉換每個像素之亮度資料成分之數值到影像處理區塊50所允許之最低或最高位準，其在此具體實施例中分別為0及255。一原始大於或等於第一數值之數值，其計算成該平均亮度加上n×σ(n為正整數)，或小於或等於一第二數值，其計算成該平均亮度減去n×σ，其被轉換成該最低位準。另一方面，一原始大於該第二數值及小於該第一數值的數值被轉換成該最高位準。

只要一無圖案主題在該灰塵警示模式中被攝影，其概略可預期用於產生一光學影像之一像素之亮度資料成分的數值，如果其並非灰塵時，其範圍在該第二與第二數值之間。因此，被二元化到該最低位準之像素被預期可對應於灰塵附著的位置。另一方面，被二元化到該最高位準之該等像素被預期來對應於並無灰塵的位置。因此，並無灰塵的光學影像藉由選擇其二元化數值為該最低位準之像素所擷取。

由二元化電路53所二元化的正常灰塵影像被傳送到灰塵影像修正電路56。灰塵影像修正電路56藉由使用儲存在快閃記憶體55中的固有缺陷影像資料修正該接收的正常灰塵影像資料來產生該修正的灰塵影像資料。

該正常灰塵影像資料之修正在以下詳細說明。當一無圖案主題在該灰塵警示模式中被攝影時，一正常灰塵影像(包括一些灰塵之複數個次影像，如第四圖所示)由成像裝置33所捕捉。該正常灰塵影像不僅包括可移除灰塵之次影像，但在該紅外線切割濾光器與光學低通濾波器上產生的不可移除微細缺陷之次影像，且不可移除微細灰塵存在於該成像裝置與該紅外線切割濾光器之間，以及該紅外線切割濾光器與該光學低通濾波器之間。

於由製造商的該調整程序期間，一完整的光學影像，其中僅包括該不可移除的微細缺陷與微細粉塵之該等次影像，即被捕捉為一固有缺陷影像。基於由成像裝置33捕捉的該固有缺陷影像的固有缺陷影像資料即儲存在快閃記憶體55中。附帶地，如上所述，快閃記憶體55接收及儲存在攝影光學系統22上的資訊。

該固有缺陷影像資料根據以下的方法產生，並儲存在快閃記憶體55中。

首先，於製造數位相機10之後的初始化作業中，鏡頭單元20之參數即對於產生該固有缺陷影像信號來適當地調整。用於產生該固有缺陷影像信號所選擇的該參數為允許成像裝置33來捕捉一影像的參數，其中該影像的周緣比要用於該灰塵警示模式中的參數要更尖銳。例如，光圈23之孔徑的大小可被調整，所以攝影光學系統22之F值為F22。

在該初始化作業中，可選擇及攝影一無圖案主題，如同在該灰塵警示模式下。因為該初始化作業在一般假設為無灰塵的一無塵室中進行，在該初始化作業中被捕捉為該固有缺陷影像之一完整影像僅包含不可移除微細缺陷及微細灰塵之次影像。

基於捕捉該固有缺陷影像所產生的影像信號被依序傳送到A/D轉換器41、解析度轉換電路51、邊緣增強電路52與二元化電路53，且個別的電路對於該影像資料進行上述之資料處理，如同在灰塵警示模式下。

二元化電路53進行擷取資料處理來擷取該固有缺陷影像之影像資料被傳送到放大電路54，不像是在該灰塵警示模式下。

放大電路54放大每個擷取的灰塵影像。例如，該灰塵的原始次影像由該灰塵的次影像之中心放大1、2或3個像素，如第五圖所示。

一捕捉的灰塵之次影像的位置與大小根據鏡頭單元20之參數而改變。每個灰塵之原始次影像被放大，所以在該固有缺陷影像中的灰塵之次影像可自該正常灰塵影像中刪除，即使鏡頭單元20之該等參數被改變。在該固有缺陷影像中灰塵的次影像之放大程度根據該初始化作業與該灰塵警示模式之間的參數中的差異所決定。

該放大率決定方法之範例如下所示。其有不同種類的鏡頭單元20，且在鏡頭參數上調整範圍根據鏡頭單元20而不同。在該灰塵警示模式中光圈23之孔徑大小及該出射光瞳之位置根據鏡頭單元20之種類而預定。

該放大率相較於在該初始化作業中該孔徑大小而與在該灰塵警示模式中光圈23的孔徑大小成正比例決定。此外，該放大率相較於在該初始化作業中的距離而與在該灰塵警示模式中該出射光瞳之位置與成像裝置33之光線接收表面之間的距離成反比而決定。

位在該整個固有缺陷影像之每個灰塵的次影像中之檢測到的缺陷區域被放大，且該放大的檢測到的缺陷區域被定義成一固有缺陷區域。藉由放大，放大電路54產生該固有缺陷影像資料，其為具有0亮度位準成分之像素資料，且位在該固有缺陷區域中，而在它處具有一亮度成分255之像素。

例如，基於第六圖所示之固有缺陷影像，即產生對應於包括每個灰塵之原始次影像被放大及黑化的整個影像的一影像信號(參見第七圖)，且在快閃記憶體55中儲存成該固有缺陷影像資料。此外，具有圍住一原始捕捉的整個影像之一框與具有一第一寬度之區域亦被決定成該固有缺陷區域。儲存在快閃記憶體55中的固有缺陷影像資料在當灰塵影像修正電路56接收該正常灰塵影像資料時由灰塵影像修正電路56所備妥。

在該正常灰塵影像資料輸入到灰塵影像修正電路56中，位在每個灰塵粒子之次影像中一像素的亮度資料成分之數值為零，且如第八圖所示，每個灰塵粒子之次影像表示成黑色。灰塵影像修正電路56轉換位在與在該正常灰塵影像資料中該固有缺陷區域之相同區域中一像素之亮度資料成分之資料位準成為255。

藉由轉換該亮度資料成分，在該固有缺陷區域中檢測到的灰塵之一次影像由該正常灰塵影像中刪除。然後，對應於一修正的灰塵影像之修正的灰塵影像資料，如第九圖所示，其中位在該固有缺陷區域中的灰塵之次影像(參見虛線)自該正常灰塵影像中刪除。如上所述，該修正的灰塵影像信號經由D/A轉換器43傳送到監視器34，且該修正的灰塵影像即顯示在監視器34上。

接著，在該第一具體實施例中由系統控制器38進行來產生該固有缺陷影像資料之該等程序使用第十圖之流程圖來解釋。

該固有缺陷影像資料於製造相機區塊30之後的初始化作業中被產生及儲存在快閃記憶體55中，如上所述。在該初始化作業之前，一初始化鏡頭，其設定為F值為F22(等於孔徑值9)，且具有該出射光瞳調整為到一預定位置，其由該製造商連接至相機區塊30。此外，數位相機10被固定，使得入射到成像裝置33上的無圖案主題之光學影像佔據了整個有效成像區域。

在這種參數之下，該固有缺陷影像資料即開始被產生。在步驟S100中，系統控制器38驅動成像裝置33產生對應於由成像裝置33捕捉的整個光學影像之影像信號。該產生的影像信號被控制來傳送至灰塵影像處理區塊50。

在步驟S101中，系統控制器38指示在灰塵影像處理區塊50中的解析度轉換電路51來轉換該接收的影像資料之影像解析度成為VGA。

在步驟S101之後的步驟S102，系統控制器38指示邊緣加強電路52來對該影像資料進行邊緣加強處理。

在邊緣加強處理之後，該程序進行到步驟S103。在步驟S103中，系統控制器38指示二元化電路53來二元化構成該影像資料之複數個像素資料的亮度資料成分。

在步驟S103之後的步驟S104，系統控制器38指示放大電路54藉由基於該二元化的亮度資料成分放大已經擷取的檢測到的缺陷區域而產生該固有缺陷影像資料。

在產生該固有缺陷影像資料之後，該程序進行到步驟S105。在步驟S105中，系統控制器38指示快閃記憶體55來儲存所產生的固有缺陷影像資料。該程序在當儲存該固有缺陷影像資料時即終止。

接著，在該第一具體實施例中於該灰塵警示模式下由系統控制器38進行的程序使用第十一圖之流程圖來解釋。

在該灰塵警示模式中的程序在當該使用者輸入一命令來進行該灰塵警示模式到輸入區塊37時來進行。於進行該灰塵警示模式之前，數位相機10被固定，所以入射在成像裝置33上的一無圖案主題之光學影像佔據整個有效成像區域。

在步驟S200中，系統控制器38指示鏡頭單元驅動機構21來調整光圈23之孔徑大小，所以攝影光學系統22之F值為F16。

在調整該孔徑的大小之後，該程序進行到步驟S201。在步驟S201中，系統控制器38決定一快門速度，所以該曝光適合於該選擇的孔徑大小。

在決定該快門速度之後，該程序進行到步驟S202。在步驟S202中，系統控制器38驅動成像裝置33來捕捉被視為一正常灰塵影像信號之影像，如步驟S100。此外，所產生的正常灰塵影像信號被傳送到灰塵影像處理區塊50。

在步驟S203至步驟S205中，系統控制器38指示解析度轉換電路51、邊緣加強電路52及二元化電路53來進行該正常灰塵影像資料之影像解析度的轉換、邊緣加強處理，及亮度資料成分之二元化，如步驟S101至步驟S103所述。

在亮度資料成分的二元化之後，該程序進行到步驟S206。在步驟S206中，系統控制器38指示灰塵影像修正電路56讀取儲存在快閃記憶體55中的固有缺陷影像資料。

在步驟S206之後的步驟S207中，系統控制器38指示灰塵影像修正電路56，藉由修正已經使用在步驟S206讀取之固有缺陷影像資料而進行步驟S203至步驟S205之資料處理來修正該修正的灰塵影像資料。

在完成該正常灰塵影像資料之修正之後，該程序進行到步驟S208。在步驟S208中，系統控制器38指示影像處理區塊40來輸出該修正的灰塵影像信號到監視器34，且系統控制器38指示監視器34來顯示該修正的灰塵影像。在該灰塵警示模式中的程序於該修正的灰塵影像顯示在監視器34上時即終止。

在上述的第一具體實施例中，於該固有缺陷影像被捕捉之後引進的灰塵可被檢測到。

此外，在上述第一具體實施例中，位在該固有缺陷區域中灰塵的一次影像即被刪除，其由該檢測的缺陷區域所放大。如果鏡頭單元20之參數有改變，缺陷及灰塵的大小與位置亦會改變。但是，在上述第一具體實施例中，位在該固有缺陷區域處一灰塵的次影像被刪除。因此，即使該等參數可不同於在該初始化作業中的參數，在該固有缺陷影像中缺陷及灰塵的一次影像可被適當地移除。

此外，在上述第一具體實施例中，位在該框的區域中被定義成該固有缺陷區域的一灰塵的次影像自該正常灰塵影像中刪除。在捕捉該正常灰塵影像時，成像裝置33之出射光瞳與該光線接收表面之間的距離愈大，該光學軸次影像將出現愈靠近該感測器。因此，未包括在該固有影像中的一灰塵的次影像其在該初始化作業期間與該光學軸的距離在當該出射光瞳距離改變時，即出現成接近在該正常灰塵影像中的光學軸。相對於這種現象，在上述第一具體實施例中，未被捕捉在整個固有缺陷影像中的一些灰塵的次影像即藉由刪除位在該框的區域中定義成該固有缺陷區域的一灰塵的次影像而由該正常灰塵影像中刪除。

此外，在上述第一具體實施例中，在捕捉該固有缺陷影像時光圈23之孔徑大小被決定使得F值為F22，且其小於在捕捉該正常灰塵影像時該孔徑大小，其係決定使得F值為F16。因此，在該正常灰塵影像中模糊且難以辨別的灰塵，其一部分在一固有缺陷影像中係可辨別。因此，在整個固有缺陷影像中的灰塵之次影像於整個正常灰塵影像中可見的灰塵次影像當中可被充分地刪除。

接著，將說明具有該第二具體實施例之灰塵檢測系統之數位相機。該第二具體實施例與該第一具體實施例之間的主要差異為決定一固有缺陷區域之方法。該第二具體實施例主要參照不同於第一具體實施例之結構的該等結構來解釋。在此，相同的索引編號用於對應於該第一具體實施例之那些結構。

在該第二具體實施例中的數位相機10包含一鏡頭單元20與一相機區塊30，如同第一具體實施例。此外，鏡頭單元20包含一鏡頭單元驅動機構21與一攝影光學系統22，如同第一具體實施例。此外，相機區塊30包含一鏡面32、一成像裝置33、一監視器34、一影像處理區塊40、一六面稜鏡35、一目鏡36及在本體31中其它組件，如同第一具體實施例。除了影像處理區塊40，在相機區塊30中這些組件的結構與功能相同於該第一具體實施例之組件。

儲存在鏡頭單元20之鏡頭記憶體24中的一些資訊係用於該灰塵警示模式中，不像是該第一具體實施例。鏡頭單元驅動機構21包含一鏡頭感測器，其檢測該聚焦鏡頭與該變焦鏡頭之位置，及一光圈感測器，其檢測光圈23之孔徑大小。該聚焦鏡頭與該變焦鏡頭之檢測的位置係儲存成鏡頭記憶體24中的位置資料。此外，該孔徑之檢測的大小亦儲存成鏡頭記憶體24中的Av資料。

影像處理區塊40包含一A/D轉換器41、一正常影像處理區塊42、一灰塵影像處理區塊500、一D/A轉換器43，如同該第一具體實施例。在該第二具體實施例中灰塵影像處理區塊500之結構不同於該第一具體實施例。

如第十二圖所示，灰塵影像處理區塊500包含解析度轉換電路51、一邊緣加強電路52、一二元化電路53、一灰塵影像修正電路56、一快閃記憶體550及一固有缺陷區域決定電路57。

解析度轉換電路51、邊緣加強電路52、二元化電路53與灰塵影像修正電路56之功能係相同於該第一具體實施例之電路。因此，解析度轉換電路51轉換正常灰塵影像資料之影像解析度，邊緣加強電路52進行邊緣加強處理，二元化電路53二元化該正常灰塵影像資料之亮度資料成分，且正常灰塵影像修正電路56基於儲存在快閃記憶體550中的一固有缺陷影像資料來修正該正常灰塵影像資料。

在該第二具體實施例中產生一固有缺陷影像資料的方法與決定一固有缺陷區域的方法不同於該第一具體實施例中的方法。快閃記憶體550直接連接至二元化電路53，不像是在第一具體實施例中。一固有缺陷影像在與該第一具體實施例中使用鏡頭單元20的相同參數來捕捉，且A/D轉換器41、解析度轉換電路51、邊緣加強電路52及二元化電路53基於該捕捉的影像對於所產生的影像信號進行資料處理。

該二元化影像資料在快閃記憶體550中儲存成一固有缺陷影像資料，不像是在該第一具體實施例中。對應於整個影像(參照第六圖)之影像資料，其包括每個灰塵粒子已經被黑化的原始次影像在該第二具體實施例中在快閃記憶體550中儲存成該固有缺陷影像資料，而為對應於整個影像之影像資料，其包括已經被放大及黑化的每個灰塵粒子之原始次影像(參見第七圖)在該第一具體實施例中在快閃記憶體55中儲存成該固有缺陷影像資料。

該初始化鏡頭之出射光瞳的Av資料與位置資料於該初始化作業中被寫入到快閃記憶體550，不像是在該第一具體實施例中。

當進行該灰塵警示模式時，固有缺陷區域決定電路57讀取儲存在快閃記憶體550中的該固有缺陷影像資料、該Av資料及該出射光瞳的位置資料。

此外，當進行該灰塵警示模式時，固有缺陷區域決定電路57讀取該位置資料與Av資料，其分別對應於光圈23之聚焦鏡頭的位置與孔徑值，其在透過系統控制器38自鏡頭記憶體24捕捉該正常灰塵影像時目前附著的可交換鏡頭。固有缺陷區域決定電路57基於該聚焦鏡頭的位置在捕捉該正常灰塵影像時決定該出射光瞳之位置。

接著，固有缺陷區域決定電路57決定固有缺陷區域，其中灰塵的次影像基於該讀取資料必須自整個正常灰塵影像刪除。該固有缺陷區域基於該出射光瞳的孔徑值與位置藉由放大其中每個灰塵次影像位在整個固有缺陷影像中的檢測到的缺陷區域所決定。

如第十三圖所示，相較於在捕捉該固有缺陷影像時，在捕捉該正常灰塵影像時每個檢測到的缺陷區域與該孔徑值成反比而放大。

如第十四圖所示，每個檢測到的缺陷區域在相反於攝影光學系統22之光學軸與成像裝置33之交會點的方向上被放大，其相較於在捕捉該固有缺陷影像時反比於在捕捉該正常灰塵影像時該出射光瞳之位置與成像裝置33之光線接收表面之間的距離。

此外，如第十五圖所示，被決定於該固有缺陷區域的一框區域相較於捕捉該固有缺陷影像時，係與在捕捉該正常灰塵影像時該出射光瞳的位置與成像裝置33之光線接收表面之間的距離成反比地加寬。

對應於其中被決定為固有缺陷區域的區域被黑化的一影像之影像資料被傳送到灰塵影像修正電路56，且該灰塵影像修正電路使用該接收的影像資料修正該正常灰塵影像，如同該第一具體實施例。

接著，在該第二具體實施例中由系統控制器38進行來產生該固有缺陷影像資料之該等程序使用第十六圖之流程圖來解釋。

在該初始化作業之前，一鏡頭被設定F值為F22，且該出射光瞳被調整到初始化作業之一預定位置，其由一製造商連接至相機區塊30，如同該第一具體實施例。此外，數位相機10被固定，使得入射到成像裝置33上的無圖案主題之光學影像佔據了整個有效成像區域。

然後，該固有缺陷影像資料即開始被產生。在步驟S300至步驟S303中，系統控制器38控制成像裝置33與每個電路，所以預定資料處理對於基於一捕捉的固有缺陷影像產生的一影像信號來進行，如同第一具體實施例中的步驟S100至步驟S103。

在步驟S304中，系統控制器38控制鏡頭記憶體24與快閃記憶體550，所以於步驟S300中在捕捉一光學影像時該出射光瞳的位置與該孔徑值由鏡頭記憶體24傳遞到快閃記憶體550，並在快閃記憶體550中儲存成資料。

在步驟S305中，系統控制器38指示快閃記憶體550儲存影像資料，其已經進行在步驟S301與步驟S302中預定資料處理而成為一固有缺陷影像資料。該程序在當該固有缺陷影像資料被儲存在快閃記憶體550中時即終止。

接著，在該第二具體實施例中於該灰塵警示模式下由系統控制器38進行的程序使用第十七圖之流程圖來解釋。

在該灰塵警示模式中的程序在當該使用者輸入一命令來進行該灰塵警示模式到輸入區塊37時來進行。於進行該灰塵警示模式之前，數位相機10被固定，所以入射在成像裝置33上的一無圖案主題之光學影像佔據整個有效成像區域。

在步驟S400中，系統控制器38指示鏡頭單元驅動機構21來調整光圈23之孔徑大小，所以攝影光學系統22之F值為在可調整範圍內小於F22的最大F值。在步驟S400之後的步驟S401至步驟S405，系統控制器38指示每個組件來產生及對於一正常灰塵影像資料進行預定資料，如同第一具體實施例中的步驟S201至步驟S205。

在完成對於該正常灰塵影像資料的預定資料處理之後，該程序進行到步驟S406。在步驟S406中，系統控制器38指示固有缺陷區域決定電路57來由快閃記憶體550讀取該固有缺陷影像資料、Av資料及位置資料。此外，系統控制器38指示固有缺陷區域決定電路57在於步驟S408中捕捉一光學影像時自鏡頭記憶體24讀取該Av資料與該出射光瞳的位置資料。

在步驟S406之後的步驟S407中，該系統控制器指示固有缺陷區域決定電路57基於該正常灰塵影像資料與在步驟S406中讀取的一些資料來決定該固有缺陷區域。在步驟S407之後的步驟S408中，系統控制器38指示灰塵影像修正電路56基於在步驟S407中決定的該固有缺陷區域來修正該正常灰塵影像資料，並產生一修正的灰塵影像資料。

當完成該正常灰塵影像資料的修正之後，該程序進行到步驟S409。在步驟S409中，系統控制器38指示影像處理區塊40來輸出該修正的灰塵影像信號到監視器34，且系統控制器38指示監視器34來顯示該修正的灰塵影像。在該灰塵警示模式中的程序於該修正的灰塵影像顯示在監視器34上時即終止。

同時在上述的第二具體實施例中，於該固有缺陷影像被捕捉之後引進的灰塵可被檢測到。

此外，在上述第二具體實施例中，該固有缺陷區域的大小根據該孔徑值來決定。在整個正常灰塵影像中一灰塵次影像的大小之尺寸反比於該孔徑值，其等於該F值。該檢測到的缺陷區域之放大反比於該孔徑值。因此，即使在進行該灰塵警示模式時該孔徑值不同於在捕捉該固有缺陷影像時，在製造時進入到該濾光器之灰塵的次影像可自該正常灰塵影像中刪除。

此外，在上述第二具體實施例中，該固有缺陷區域的大小根據該出射光瞳的位置來決定。在該正常灰塵影像中一灰塵的次影像之大小與其與該光學軸之明顯距離增加時，該出射光瞳愈靠近於成像裝置33之光線接收表面。該檢測到的缺陷區域在相反於該出射光瞳之更靠近位置之光學軸到該光線接收表面的方向上更為放大。因此，即使在進行該灰塵警示模式時該出射光瞳的位置不同於在捕捉該固有缺陷影像時，在製造時進入到該濾光器之灰塵的次影像可自該正常灰塵影像中刪除。

此外，在上述第二具體實施例中，要被決定成該固有缺陷區域之框的寬度根據該出射光瞳的位置所決定。要被捕捉的該影像之整個區域在更遠離成像裝置33之光線接收表面時對於一出射光瞳變得更大。因此，不存在於該固有缺陷影像中的一缺陷或灰塵之次影像可被捕捉成該正常灰塵影像。但是，在上述第二具體實施例中，該框的寬度隨著該出射光瞳與該光線接收表面的距離增加而設定成更大。因此，在製造時進入到該等濾光器之灰塵的次影像可自該正常灰塵影像中刪除。

此外，在上述第二具體實施例中，在捕捉該固有缺陷影像時光圈23之孔徑大小被適當地改變，且小於在捕捉該正常灰塵影像時，如同該第一具體實施例。因此，在整個固有缺陷影像中的灰塵之次影像可自該整個正常灰塵影像中可見的灰塵次影像之間被有效地刪除。

接著，將說明具有該第三具體實施例之灰塵檢測系統之數位相機。該第三具體實施例與該第一具體實施例之間的主要差異為宣告可移除灰塵被附著之方法。該第三具體實施例主要參照不同於第一具體實施例之結構的該等結構來解釋。在此，相同的索引編號用於對應於該第一具體實施例之那些結構。

在該第三具體實施例中的數位相機10包含一鏡頭單元20與一相機區塊30，如同第一具體實施例。此外，鏡頭單元20包含一鏡頭單元驅動機構21與一攝影光學系統22，如同第一具體實施例。此外，相機區塊30包含一鏡面32、一成像裝置33、一監視器34、一影像處理區塊400、一六面稜鏡35、一目鏡36及在本體31中其它組件，如同第一具體實施例。除了影像處理區塊400，在相機區塊30中這些組件的結構與功能相同於該第一具體實施例之組件。

如第十八圖所示，影像處理區塊400包含一A/D轉換器41、一正常影像處理區塊42，及一D/A轉換器43，如同該第一具體實施例。此外，影像處理區塊400包含一灰塵檢測區塊60，不像是該第一具體實施例。

在該攝影與顯示模式中由每個組件進行之該等作業係相同於該第一具體實施例。數位相機10之操作模式藉由使用者的命令輸入到輸入區塊37來改變到該灰塵警示模式，然後分別初始化由成像裝置33與灰塵檢測區塊60進行之釋放作業與預定的資料處理。

當數位相機10之操作模式被改變到該灰塵警示模式時，鏡頭單元20之該等參數被調整，例如光圈23之孔徑大小。在完成鏡頭單元20之該等參數的調整之後，該釋放作業被進行，且產生一影像信號。

在該灰塵警示模式中由成像裝置33產生的影像信號被傳送到影像處理區塊400做為一正常灰塵影像信號，如同該第一具體實施例。影像處理區塊400經由A/D轉換器41傳送該接收的正常灰塵影像信號到灰塵檢測區塊60。

如第十九圖所示，灰塵檢測區塊60包含一解析度轉換電路51、一邊緣加強電路52、一二元化電路53、一放大電路54、一快閃記憶體55、一決定電路61(第二決定區塊)及一警告影像產生電路62。

與該第一具體實施例之相同資料處理對於該正常灰塵影像資料藉由解析度轉換電路51、邊緣加強電路52與二元化電路53來進行。因此，構成一正常灰塵影像之複數個像素的亮度資料成分被轉換成0到255。該等轉換之像素的亮度資料成分依序被傳送到決定電路61。

在快閃記憶體55中，根據與該第一具體實施例相同的方法產生的該固有缺陷影像資料即被儲存。如同該正常灰塵影像資料之接收的亮度資料成分的該固有缺陷影像資料的相同像素之亮度資料成分被傳送到決定電路61。

如果該固有缺陷影像資料之接收的亮度資料成分之數值為255，該像素即在該固有缺陷區域之外。然後，決定電路61基於該正常灰塵影像資料之一亮度資料成分的數值來決定在該正常灰塵影像中是否檢測到灰塵。如果該正常灰塵影像資料的亮度資料成分之資料位準為0，決定電路61決定存在有灰塵。

另一方面，如果該固有缺陷影像資料之接收的亮度資料成分之數值為0，該像素係在該固有缺陷區域內。然後，決定電路61被暫停來決定在該正常灰塵影像中是否存在有灰塵。

如果在該正常灰塵影像資料之一框當中檢測到灰塵，要產生一警告影像的一命令被傳送到警告影像產生電路62。當警告影像產生電路62接收該命令，警告影像產生電路62產生對應於該警告影像之警告影像資料，用於警示灰塵附著到成像裝置33。該警告影像資料經由D/A轉換器43傳送到監視器34，然後該警告影像顯示在監視器43上。

接著，在該第三具體實施例中於灰塵警示模式中由系統控制器38進行的該等程序使用第二十圖之流程圖來說明。在此處同時該固有缺陷影像資料根據與第十圖所示之第一具體實施例相同的方法來產生，並事先儲存在快閃記憶體55中。

在該灰塵警示模式中的程序在當該使用者輸入一命令來進行該灰塵警示模式到輸入區塊37時來進行。於進行該灰塵警示模式之前，數位相機10被固定，所以入射在成像裝置33上的一無圖案主題之光學影像佔據整個有效成像區域。

在步驟S500至步驟S505中，系統控制器38控制每個組件來進行相同的作業，例如鏡頭單元20之參數的決定，一光學影像之捕捉，及對於一產生的影像資料之預定資料處理，如同第一具體實施例中的步驟S200至步驟S205。此外，系統控制器38指示該灰塵檢測區塊來依序輸入已經進行預定資料處理之正常灰塵影像資料的亮度資料成分。

在步驟S505之後的步驟S506，系統控制器38指示決定電路61來依序讀取儲存在快閃記憶體55中該固有缺陷影像資料的亮度資料成分。在步驟S506之後的步驟S507，系統控制器38指示決定電路61來決定一接收的亮度資料成分之一像素是否位在該固有缺陷資料中。

如果該像素在該固有缺陷資料之外，該程序進行到步驟S508。在步驟S508中，系統控制器38指示決定區塊61來基於該正常灰塵影像資料之亮度資料成分決定一灰塵的次影像是否在整個正常灰塵影像中被捕捉。如果該像素存在於該固有缺陷區域中，或在決定區塊61完成該決定之後，該程序進行到步驟S509。

在步驟S509中，系統控制器38指示決定電路61來決定在步驟S507中該正常灰塵影像資料之一框的所有像素之亮度資料成分的決定是否完成。

如果所有該等亮度資料成分之決定並未完成，該程序回到步驟S505，且步驟S506至步驟S509重複直到完成決定所有該等亮度資料成分。如果已經完成所有亮度資料成分之決定，該程序進行到步驟S510。

在步驟S510中，系統控制器38指示決定電路61來決定於步驟S508中之決定一灰塵的次影像是否至少在一像素中被捕捉。如果一灰塵的次影像已經被捕捉，該程序進行到步驟S511。在步驟S511中，系統控制器38指示警告影像產生電路62來產生該警告影像資料，並指示監視器34來顯示該警告影像。如果一灰塵的次影像在任何的像素中並未被捕捉或當該警告影像顯示在監視器34上時，在該灰塵警示模式中的程序即終止。

同時在上述的第三具體實施例中，於該固有缺陷影像被捕捉之後引進的灰塵可被檢測到。

用於捕捉該正常灰塵影像與該固有缺陷影像之孔徑值被預定，所以該等數值在上述第一到第三具體實施例中彼此並不相同。但是，用於捕捉該正常灰塵影像與該固有缺陷影像之那些參數之間的鏡頭單元20之其它參數被預定，所以彼此並不相同。只要鏡頭單元20之參數被改變使得在捕捉該正常灰塵影像時灰塵的次影像之可見度相較於捕捉該固有缺陷影像時為降低，在該固有缺陷影像中所有灰塵的次影像即充分地自該正常灰塵影像中刪除。

用於捕捉該正常灰塵影像與該固有缺陷影像之孔徑值被預定，所以在上述第一到第三具體實施例中用於捕捉該正常灰塵影像之孔徑值小於用於捕捉該固有缺陷影像時。但是，該等孔徑值在那些用於捕捉該正常灰塵影像與該固有缺陷影像的那些參數之間並不需要被改變。當然，較佳地是改變該等孔徑值，藉以自該正常灰塵影像中有效地在該固有缺陷影像中刪除灰塵的次影像。但是，即使該等孔徑值並未改變，在該固有缺陷影像中大部份次影像可被移除。

在該固有缺陷影像中灰塵的次影像在上述第一與第二具體實施例中刪除位在該整個固有缺陷影像中該固有缺陷區域內的灰塵次影像來由該正常灰塵影像中刪除。但是，在該固有缺陷影像中該等灰塵次影像根據任何其它方法可自該正常灰塵影像中刪除。

位在環繞該捕捉的固有缺陷影像之整個區域的一框之區域在上述第一與第二具體實施例中亦被決定為該固有缺陷區域。但是，該區域並不需要被決定為該固有缺陷區域。如上所述，較佳地是決定該框的區域做為該固有缺陷區域，藉以自該正常灰塵影像中有效地刪除在該固有缺陷影像中灰塵的次影像。但是，即使該區域並未決定為該固有缺陷區域，在該固有缺陷影像中大部份次影像可被移除。

該放大的檢測到的缺陷區域在該第一與第三具體實施例中被決定為該固有缺陷區域。但是，該檢測到的缺陷區域可被決定成為該固有缺陷區域，而不需要放大。只要在捕捉該固有缺陷影像時鏡頭單元20之該等參數與該正常灰塵影像為相等，在該固有缺陷影像中灰塵的次影像可由該正常灰塵影像中刪除，而不需要放大該檢測到灰塵的影像。此外，即使鏡頭單元20之該等參數並不相同，在該固有缺陷影像中部份灰塵的次影像可由該正常灰塵影像中刪除。

該固有缺陷區域在該第二具體實施例中根據該出射光瞳的位置被放大。但是，該固有缺陷區域根據該出射光瞳的位置可以不放大。只要在捕捉該固有缺陷影像時該出射光瞳的位置與該正常灰塵影像彼此相等，在該固有缺陷影像中灰塵的次影像可由該正常灰塵影像中刪除，而不需要調整。此外，即使該出射光瞳的位置並不相同，在該固有缺陷影像中部份灰塵的次影像可由該正常灰塵影像中刪除。

在該第二具體實施例中，要被決定成該固有缺陷區域之框的寬度根據該出射光瞳的位置而改變。但是，該寬度根據該出射光瞳的位置可以不改變。如上所述，較佳地是改變該框的寬度，藉以自該正常灰塵影像中有效地在該固有缺陷影像中刪除灰塵的次影像。但是，即使該寬度並未改變，在該固有缺陷影像中大部份次影像可被移除。

用於放大在該固有缺陷影像中灰塵的次影像之放大率在該第二具體實施例中根據該孔徑值所決定。該放大率不論該孔徑值皆為固定。只要在捕捉該固有缺陷影像時該等孔徑值與該正常灰塵影像為相等，在該固有缺陷影像中灰塵的次影像可由該正常灰塵影像中刪除，而不需要改變該放大率。此外，即使該等孔徑值並不相同，在該固有缺陷影像中部份灰塵的次影像可由該正常灰塵影像中刪除。

雖然本發明的具體實施例已經參照附屬圖式加以說明，明顯地本技藝專業人士將可進行許多修正與變化，而皆不悖離本發明之範疇。

10．．．數位相機

20．．．鏡頭單元

21．．．鏡頭單元驅動機構

22．．．攝影光學系統

23．．．光圈

24．．．鏡頭記憶體

30．．．相機區塊

31．．．本體

32．．．鏡面

33．．．成像裝置

34．．．監視器

35．．．六面稜鏡

36．．．目鏡

37．．．輸入區塊

38．．．系統控制器

39．．．可移除記憶體

40．．．影像處理區塊

41．．．類比/數位轉換器

42．．．正常影像處理區塊

43．．．數位/類比轉換器

50．．．灰塵影像處理區塊

51．．．解析度轉換電路

52．．．邊緣加強電路

53．．．二元化電路

54．．．放大電路

55．．．快閃記憶體

56．．．灰塵影像修正電路

57．．．固有缺陷區域決定電路

60．．．灰塵檢測區塊

61．．．決定電路

62．．．警告影像產生電路

400．．．影像處理區塊

500．．．灰塵影像處理區塊

550．．．快閃記憶體

本發明之目的及好處將可由以下的說明，並參照所附圖式而更加瞭解，其中：

第一圖為具有本發明之第一到第三具體實施例之灰塵檢測系統的一數位相機之部份內部結構之截面圖；

第二圖為該等第一與第二具體實施例之影像處理區塊的內部結構之方塊圖；

第三圖為該第一具體實施例之灰塵影像處理區塊的內部結構之方塊圖；

第四圖為一正常灰塵影像；

第五圖為該檢測到的缺陷之區域的放大圖；

第六圖為一固有缺陷影像；

第七圖為該固有缺陷區域；

第八圖為具有灰塵的局部黑化次影像之正常灰塵影像；

第九圖為一修正的灰塵影像；

第十圖為在該第一具體實施例中由該系統控制器進行來產生該固有缺陷影像信號且將其儲存在該快閃記憶體中的該等程序之流程圖；

第十一圖為由在該第一具體實施例中灰塵警示模式的系統控制器所進行之該等程序的流程圖；

第十二圖為在該第二具體實施例中灰塵影像處理區塊的內部結構之方塊圖；

第十三圖為該檢測到的缺陷區之放大與該孔徑值之間的關係；

第十四圖為該檢測到的缺陷區之放大與該出射光瞳及該成像裝置之間的距離之間的關係；

第十五圖為決定為該固有缺陷區域的框之寬度與由該出射光瞳的位置到該成像裝置之距離之間的關係；

第十六圖為由在該第二具體實施例中灰塵警示模式的系統控制器所進行之該等程序的流程圖；

第十七圖為由在該第二具體實施例中灰塵警示模式的系統控制器所進行之該等程序的流程圖；

第十八圖為該等第一與第三具體實施例之影像處理區塊的內部結構之方塊圖；

第十九圖為在該第三具體實施例中灰塵影像處理區塊的內部結構之方塊圖；及

第二十圖為由在該第三具體實施例中灰塵警示模式的系統控制器所進行之該等程序的流程圖。

38．．．系統控制器

41．．．類比/數位轉換器

43．．．數位/類比轉換器

50．．．灰塵影像處理區塊

51．．．解析度轉換電路

52．．．邊緣加強電路

53．．．二元化電路

54．．．放大電路

55．．．快閃記憶體

56．．．灰塵影像修正電路

Claims (20)

1. 一種灰塵檢測系統，包含：一接收器，其接收一影像資料，一成像裝置根據一捕捉到的光學影像產生該影像資料；一灰塵擷取處理器，其基於該影像資料，藉由針對在該捕捉到的光學影像中灰塵的次影像進行擷取，來產生一灰塵影像資料；一記憶體，其儲存對應於一固有缺陷影像的固有缺陷影像資料，該固有缺陷影像包括基於一檢測到的缺陷區域所決定的一固有缺陷區域，該檢測到的缺陷區域為該灰塵擷取處理器在一初始操作時所檢測之灰塵的第一次影像所在區域；及一影像修正處理器，其基於該固有缺陷影像資料與一正常灰塵影像資料產生一修正的灰塵影像資料，該修正的灰塵影像資料對應於一修正的灰塵影像，對應於一正常灰塵影像的該正常灰塵影像資料包括該灰塵擷取處理器在該初始操作之後擷取的灰塵之第二次影像，該修正的灰塵影像為該正常灰塵影像，其中刪除了在該固有缺陷影像中灰塵的該第一次影像。
2. 如申請專利範圍第1項之灰塵檢測系統，其中一框區域係決定成為該固有缺陷區域，一圍住該整個固有缺陷影像的框係位在該框區域上，且該框具有第一寬度。
3. 如申請專利範圍第1項之灰塵檢測系統，其中該固有缺陷區域之決定，使得包括該檢測到的缺陷區域的該固有缺陷區域大於該檢測到的缺陷區域。
4. 如申請專利範圍第1項之灰塵檢測系統，其中該固有 缺陷區域之決定，是藉由在遠離一攝影光學系統之光學軸與該成像裝置的交會點之方向上，放大該檢測到的缺陷區域，該檢測到的缺陷區域之放大，係與該攝影光學系統的一出射光瞳及該成像裝置之間的一距離成反比例，該攝影光學系統係安裝在該成像裝置之光線接收表面側上。
5. 如申請專利範圍第2項之灰塵檢測系統，其中該框區域之決定，使得該框區域的一寬度係根據該成像裝置之一出射光瞳及一光線接收表面之間的一距離而增加。
6. 如申請專利範圍第1項之灰塵檢測系統，其中該固有缺陷區域之決定，使得該固有缺陷區域係根據一光圈的孔徑大小而增加，，該光圈係安裝在該成像裝置之光線接收表面側上。
7. 如申請專利範圍第1項之灰塵檢測系統，進一步包含第一決定處理器，其決定可調整參數之數值，該可調整參數影響在由該成像裝置捕捉的整個影像中一主題的次影像之可見度，該主題係位在該成像裝置之外側表面的附近，該可調整參數之決定使得在捕捉該正常灰塵影像時該可見度之降低會多於當捕捉到該固有缺陷影像時。
8. 如申請專利範圍第7項之灰塵檢測系統，其中該可調整參數為安裝在該成像裝置之光線接收表面側上該光圈的孔徑大小，該第一決定處理器決定該大小使得在捕捉該正常灰塵影像時該大小係大於當捕捉該固有缺陷影像時。
9. 如申請專利範圍第1項之灰塵檢測系統，其中該灰塵 擷取處理器計算該正常灰塵影像的該正常灰塵影像資料的每一畫素的一亮度資料成分的一平均亮度值，且將該正常灰塵影像資料的每一畫素的該亮度資料成分轉換成為一第一值及一第二值其中之一。
10. 如申請專利範圍第9項之灰塵檢測系統，其中該灰塵擷取處理器將位於該平均亮度值之一預定範圍內的每一畫素的該亮度資料成分轉換成為該第二值，且將位於該平均亮度值之該預定範圍外的每一畫素的該亮度資料成分轉換成為該第一值。
11. 如申請專利範圍第10項之灰塵檢測系統，其中該預定範圍之決定，是基於該正常灰塵影像資料的每一畫素的該亮度資料成分的一標準變異。
12. 如申請專利範圍第9項之灰塵檢測系統，其中該灰塵擷取處理器二元化該正常灰塵影像資料的每一畫素的該亮度資料成分。
13. 如申請專利範圍第9項之灰塵檢測系統，其中該第一值是該亮度資料成分之數值的一最低值，該第二值是該亮度資料成分之數值的一最高值。
14. 如申請專利範圍第1項之灰塵檢測系統，其中當該正常灰塵影像接近該固有缺陷影像中的該固有缺陷區域時，在該正常灰塵影像中的該第二次影像從該修正的灰塵影像中被刪除，以進一步定義該修正的灰塵影像。
15. 一種數位相機，包含：一接收器，其接收一影像資料，一成像裝置根據一捕捉到的光學影像產生該影像資料；一灰塵擷取處理器，其基於該影像資料，藉由針對在該捕捉到的光學影像中灰塵的次影像進行擷 取，來產生一灰塵影像資料；一開關，用於命令該灰塵擷取處理器產生該灰塵影像資料；一記憶體，其儲存對應於一固有缺陷影像的固有缺陷影像資料，該固有缺陷影像包括基於一檢測到的缺陷區域所決定的一固有缺陷區域，該檢測到的缺陷區域為該灰塵擷取處理器在一初始操作時所檢測之灰塵的次影像所在區域；及一影像修正處理器，其基於該固有缺陷影像資料與一正常灰塵影像資料產生一修正的灰塵影像資料，該修正的灰塵影像資料對應於一修正的灰塵影像，且該修正的灰塵影像信號為該開關在運作時由該灰塵擷取區塊所產生，該修正的灰塵影像為一正常灰塵影像，其中刪除了在該固有缺陷影像中灰塵的該等次影像，該正常灰塵影像對應於該正常灰塵影像資料。
16. 一種灰塵檢測系統，包括：一記憶體，其儲存與在一初始操作中所擷取之一固有缺陷影像相對應的固有缺陷影像資料，該固有缺陷影像包括一固有缺陷區域，該固有缺陷區域之決定是基於該初始操作中所檢測之灰塵的第一次影像；一灰塵影像產生器，其產生與在一灰塵警示操作中所擷取之一灰塵缺陷影像相對應的灰塵缺陷影像資料，該灰塵缺陷影像包括一灰塵缺陷區域，該灰塵缺陷區域之決定是基於該灰塵警示操作中所檢測之灰塵的第二次影像；及一影像修正處理器，其基於該固有缺陷影像資料及該灰塵缺陷影像資料而產生一修正的灰塵缺陷影 像資料，該修正的灰塵缺陷影像資料是對應於一修正的灰塵缺陷影像，該修正的灰塵缺陷影像包括該灰塵缺陷影像的灰塵的該第二次影像，其中刪除了在該固有缺陷影像中灰塵的該第一次影像。
17. 如申請專利範圍第16項之灰塵檢測系統，其中該影像修正處理器計算該灰塵缺陷影像的該灰塵缺陷影像資料的每一畫素的一亮度資料成分的一平均亮度值，且將該灰塵缺陷影像資料的每一畫素的該亮度資料成分轉換成為一第一值及一第二值其中之一。
18. 如申請專利範圍第17項之灰塵檢測系統，其中該影像修正處理器將位於該平均亮度值之一預定範圍內的每一畫素的該亮度資料成分轉換成為該第二值，且將位於該平均亮度值之該預定範圍外的每一畫素的該亮度資料成分轉換成為該第一值。
19. 如申請專利範圍第18項之灰塵檢測系統，其中該預定範圍之決定，是基於該灰塵缺陷影像資料的每一畫素的該亮度資料成分的一標準變異。
20. 如申請專利範圍第16項之灰塵檢測系統，其中該當該灰塵缺陷影像接近該固有缺陷影像中的該固有缺陷區域時，在該灰塵缺陷影像中的灰塵的該等第二次影像從該修正的灰塵缺陷影像中被刪除，以進一步定義該修正的灰塵缺陷影像。