JP2010014981A - 撮像装置及びその制御方法及びプログラム - Google Patents
撮像装置及びその制御方法及びプログラム Download PDFInfo
- Publication number
- JP2010014981A JP2010014981A JP2008174957A JP2008174957A JP2010014981A JP 2010014981 A JP2010014981 A JP 2010014981A JP 2008174957 A JP2008174957 A JP 2008174957A JP 2008174957 A JP2008174957 A JP 2008174957A JP 2010014981 A JP2010014981 A JP 2010014981A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- imaging
- focus detection
- area
- image signal
- foreign matter
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Withdrawn
Links
Images
Landscapes
- Automatic Focus Adjustment (AREA)
- Studio Devices (AREA)
- Focusing (AREA)
Abstract
【課題】撮像面の信号を使用した焦点検出方法において、撮像素子の前方に配置された光学素子に付着した異物による焦点誤検知や焦点検知時間の増加を防止する。
【解決手段】撮像光学系により結像された被写体像を光電変換して画像信号を生成する撮像部と、撮像部より得られる異物検出用画像信号から、撮像部の撮像画面内における異物の少なくとも位置及び大きさの情報である異物情報を検出する異物検出部と、撮像部により生成された画像信号のコントラストの情報に基づいて焦点検出を行う焦点検出部と、異物情報に基づいて、焦点検出部に撮像部の撮像面上で異物の存在する領域も含めた領域の画像信号を用いて焦点検出を行わせるか、異物の存在する領域を除いた領域の画像信号を用いて焦点検出を行わせるかを制御する制御部と、を備える。
【選択図】図11
【解決手段】撮像光学系により結像された被写体像を光電変換して画像信号を生成する撮像部と、撮像部より得られる異物検出用画像信号から、撮像部の撮像画面内における異物の少なくとも位置及び大きさの情報である異物情報を検出する異物検出部と、撮像部により生成された画像信号のコントラストの情報に基づいて焦点検出を行う焦点検出部と、異物情報に基づいて、焦点検出部に撮像部の撮像面上で異物の存在する領域も含めた領域の画像信号を用いて焦点検出を行わせるか、異物の存在する領域を除いた領域の画像信号を用いて焦点検出を行わせるかを制御する制御部と、を備える。
【選択図】図11
Description
本発明は、デジタルカメラ等の撮像装置におけるオートフォーカス技術に関するものである。
従来の撮像装置におけるオートフォーカスの方式には、TVAF方式(コントラスト検出方式)、位相差検出方式等があり、レンズ交換式一眼レフカメラの焦点検出装置は、主として位相差検出方式である。
しかし近年、レンズ交換式一眼レフカメラでも、撮像素子からの画像をリアルタイムに表示し続ける、いわゆるライブビュー状態での撮影機能が追加され始めている。ライブビュー状態では、レンズからの光束は画像生成に使用されるため、従来のレンズ交換式一眼レフカメラで広く行われてきた、光束をセンサーに導くことによる位相差検出方式による焦点検出を同時に行うことはできない。
そのため、ライブビュー状態を終了して位相差検出方式を使用するか、あるいは撮像面上の画像を用いて焦点検出を行う、TVAF方式を使用する必要がある。
ここで、TVAF方式では、例えば特許文献1に示されるように、撮像素子による光電変換によって得られた被写体の映像信号に基づき、画像の鮮鋭度であるAF評価値を算出する。そして、AF評価値が最大となるようにフォーカスレンズを駆動することにより焦点調節を行う。
上記のAF評価値は、バンドパスフィルタにより抽出された映像信号の高周波成分に基づいて算出され、通常、図1に示されるようにAF評価値(コントラスト)が最大になるフォーカスレンズ位置が合焦点となる。
特開平6−62304号公報
特開2003−337280号公報
ところで、デジタルカメラ等の撮像装置では、通常撮像素子の前方に光学ローパスフィルタ等の光学素子が配置されている。そして、この光学ローパスフィルタ等の光学素子にごみ等の異物が付着する場合がある。このような異物は、撮像素子で生成される画像信号に影として写り込む。
このような状態でTVAF方式によるオートフォーカスを行うと、撮像素子上に投影されたゴミのコントラストも検出することなり、オートフォーカス動作に支障をきたす場合がある。
より具体的には、TVAF方式の焦点検出装置では、撮像素子上にゴミやほこりが投影されることにより、映像信号の高周波成分が増加し、被写体によるAF評価値が相対的に低下するために動作時間が長くなってしまうという問題がある。
レンズ交換式の一眼レフカメラでは、特にレンズ交換時にカメラのマウント側から入った異物が撮像素子の前方に配置された光学素子上に付着しやすい上に、カメラ内部でシャッター由来の切削ゴミが上記の光学素子上に付着することもある。
この問題の対策として、特許文献2には、TVAF方式のAF装置において、AF光学系近傍に浮遊するゴミやちりに合焦しないようにする方法が提案されている。
しかし、この技術では、撮像面上のゴミの影響を軽減するためには、被写体位置をずらしたり、AF駆動に使用する撮像面の位置を変えたりしなければならず、制御が複雑になるという問題がある。また、ゴミにより撮像面の高周波成分が相対的に少なくなるため、検知時間が長くなってしまうという問題があった。
従って、本発明は上述した課題に鑑みてなされたものであり、その目的は、撮像面の信号を使用した焦点検出方法において、撮像素子の前方に配置された光学素子に付着した異物による焦点誤検知や焦点検知時間の増加を防止することである。
上述した課題を解決し、目的を達成するために、本発明に係わる撮像装置は、撮像光学系により結像された被写体像を光電変換して画像信号を生成する撮像手段と、前記撮像手段より得られる異物検出用画像信号から、前記撮像手段の撮像画面内における異物の少なくとも位置及び大きさの情報である異物情報を検出する異物検出手段と、前記撮像手段により生成された画像信号のコントラストの情報に基づいて焦点検出を行う焦点検出手段と、前記異物情報に基づいて、前記焦点検出手段に前記撮像手段の撮像面上で前記異物の存在する領域も含めた領域の画像信号を用いて焦点検出を行わせるか、前記異物の存在する領域を除いた領域の画像信号を用いて焦点検出を行わせるかを制御する制御手段と、
を備えることを特徴とする。
を備えることを特徴とする。
また、本発明に係わる撮像装置の制御方法は、撮像光学系により結像された被写体像を光電変換して画像信号を生成する撮像手段を備える撮像装置を制御する方法であって、前記撮像手段より得られる異物検出用画像信号から、前記撮像手段の撮像画面内における異物の少なくとも位置及び大きさの情報である異物情報を検出する異物検出工程と、前記撮像手段により生成された画像信号のコントラストの情報に基づいて焦点検出を行う焦点検出工程と、前記異物情報に基づいて、前記焦点検出工程において前記撮像手段の撮像面上で前記異物の存在する領域も含めた領域の画像信号を用いて焦点検出を行わせるか、前記異物の存在する領域を除いた領域の画像信号を用いて焦点検出を行わせるかを制御する制御工程と、を備えることを特徴とする。
本発明によれば、撮像面の信号を使用した焦点検出方法において、撮像素子の前方に配置された光学素子に付着した異物による焦点誤検知や焦点検知時間の増加を防止することが可能となる。
以下、本発明の好適な一実施形態について、図面を参照して詳細に説明する。
図2は、本発明の一実施形態に係わる撮像装置としてのデジタルカメラの回路構成を示すブロック図である。
図2において、1は撮像光学系、2はCCD等の撮像素子(光電変換素子)、3は撮像して得られたアナログ画像信号をデジタル信号に変換するA/D変換回路、4はガンマ補正等の公知の画像処理を行う画像処理回路である。5は画像データの圧縮・伸長を行い、外部メモリからの信号の授受を行うメモリ制御部(記録再生部)、6は画像の展開やカメラの制御に使用するメモリ、7は画像を記録する外部メモリである。8は画像表示用の画像表示メモリ(バッファメモリ)、9は撮像画像を表示する画像表示部、10はCPU等からなるシステム制御回路、11は撮像光学系のフォーカスレンズを駆動するレンズ駆動制御部である。12はシャッター速度や絞り値等を表示する撮影情報表示部、13はカメラに撮影を指示する撮影指示スイッチ(レリーズスイッチ)である。さらに、14はカメラに画像表示を行うよう指示する画像表示スイッチ、15はカメラに設定変更のメニュー画面を表示するように指示する設定変更スイッチである。なお、撮像素子2の前方には、光学ローパスフィルター等の光学素子2aが配置されており、ゴミ等の異物がこの光学素子2aの表面に付着する。この付着した異物の影が、撮像素子2の画面内に写り込み、AF(オートフォーカス)動作に影響を与える。
次に、上記のように構成されるデジタルカメラの動作について説明する。
まず、撮影者により操作スイッチ13、14、15のいずれかが操作されたことをシステム制御回路10が検出し、他の各回路ブロックおよび撮像光学系への電源供給を開始して、各ブロックを使用できる状態にする。
また、撮影者が撮影指示スイッチ13の操作により、撮影動作を行った場合には、システム制御回路10からの制御信号によって撮像光学系1が作動し、撮像素子2上に被写体像を結像させる。この撮像素子2からの電気信号は、各画素毎に順にA/D変換回路3を介してデジタル信号に変換された後、画像処理回路4へ入力される。画像処理回路4では、撮像素子2の各画素データを基にRGBの各色信号を生成する。次にこれら各画素データをメモリ6内に記憶する。
メモリ6に記憶された画像データは、画像表示メモリ8へ転送されることで、画像表示部9を通して表示される。
また、システム制御回路10は、メモリ6に記憶された画像データから、AFフレーム領域のコントラスト成分が最大になるように、フォーカスレンズを駆動するレンズ駆動制御部11を制御する。これにより、焦点合わせを行う。なお、上記のAFフレームとは、図3に示すように、撮像素子2の画面100上に複数(図3では例えば9個)配置された焦点検出を行う領域102を示す。以降、102をAFフレームと呼ぶ。
撮影結果を保存する場合は、このフレームメモリ6内のデータを、メモリ制御部5により所定の圧縮フォーマットに基づいて圧縮し、圧縮したデータを外部メモリ7(通常フラッシュメモリ等の不揮発性メモリ)に記録する。
また、撮影者が設定変更スイッチ15の操作により、カメラの設定を変更する場合には、システム制御回路10の指示により、画像表示メモリ8を通して画像表示部9に設定変更画面(メニュー等のユーザーインターフェース)が表示される。
(ゴミ検出処理)
本実施形態では、まず、撮像素子2の前方に配置された光学素子2aに付着したゴミ(異物)の情報(撮像面内のゴミの情報)であるゴミ情報(異物情報)を得るためのゴミ検出用画像(異物検出用画像信号)を撮影する。そして、ゴミデータを抽出し、ゴミ補正データ(ゴミ情報プロファイル)を生成しておく。ここでゴミ検出用画像は、できるだけ均一な輝度面を撮影した画像が望ましいが、身近な場所で容易に撮影できることが望ましいため、厳密な均一性を要求するものではない。例えば、青空や白い壁面を撮影することを想定している。
本実施形態では、まず、撮像素子2の前方に配置された光学素子2aに付着したゴミ(異物)の情報(撮像面内のゴミの情報)であるゴミ情報(異物情報)を得るためのゴミ検出用画像(異物検出用画像信号)を撮影する。そして、ゴミデータを抽出し、ゴミ補正データ(ゴミ情報プロファイル)を生成しておく。ここでゴミ検出用画像は、できるだけ均一な輝度面を撮影した画像が望ましいが、身近な場所で容易に撮影できることが望ましいため、厳密な均一性を要求するものではない。例えば、青空や白い壁面を撮影することを想定している。
まず、光学素子2aに付着したゴミの位置を検出する処理の例を、図4のフローチャートを用いて説明する。
ゴミ検出処理は、ゴミ検出用画像を撮像することにより行われる。ゴミ検出処理を行う場合、面光源装置の射出面や白い壁などの均一な色を持つ面に撮像光学系1の撮影光軸を向けてカメラを設置し、ゴミ検出の準備を行なう。
準備が終了した後、例えば撮影指示スイッチ13からゴミ検出処理の開始が指示されると、システム制御回路10は、まず絞りの設定を行う。撮像素子近傍のゴミはレンズの絞り値によって結像状態が変わり、レンズの瞳位置によって位置が変化する。したがって、ゴミ補正データにはゴミの位置や大きさに加え、検出時の絞り値とレンズの瞳位置を保持する必要がある。なお、ここで瞳位置とは、射出瞳の撮像面(焦点面)からの距離をいう。
ここでは、例えばF22を指定する(ステップS21)。
次にシステム制御回路10はレンズ駆動制御部11に対し、撮像光学系1の絞り羽根制御を行わせ、ステップS21で指定された絞り値に絞りを設定する(ステップS22)。さらに、フォーカス位置を無限遠に設定する(ステップS23)。
撮像光学系1の絞り値とフォーカス位置が設定されると、ゴミ検出モードでの撮影を実行する(ステップS24)。ステップS24で行う撮像処理ルーチンの詳細に関しては図9を用いて後に説明する。撮影された画像データは、メモリ6に格納される。
撮影が終了すると、撮影時の絞り値とレンズ瞳位置を取得(レンズ情報取得)する(ステップS25)。
画像処理回路4にメモリ6に記憶されている撮影画像の各画素に対応するデータを呼び出す(ステップS26)。
画像処理回路4は、図6に示す処理を行い、ゴミが存在する画素の位置と大きさを取得する(ステップS27)。
ステップS27で取得したゴミが存在する画素の位置と大きさ、およびステップS25で取得した絞り値とレンズ瞳位置情報を、メモリ6に登録する(ステップS28)。
ここで、ステップS28において、予めメモリ6に記録されている製造時からの不良画素(画素欠陥)の位置と、読み出した画素データの位置を比べて画素欠陥であるかどうかを確認する。そして、画素欠陥によるものでは無いと判断された領域のみ、メモリ6に位置を登録しても良い。
メモリ6に格納されるゴミ補正データのデータ形式例を図5に示す。図5に示した通り、ゴミ補正データには、検出用画像撮影時の、レンズ情報とゴミの位置、大きさの情報が格納される。
具体的には、検出用画像撮影時のレンズ情報として、検出用画像撮影時における実際の絞り値(F値)と、そのときのレンズ瞳位置を格納する。続いて記憶領域に検出したゴミ領域の数(整数値)を格納し、これに続き、個々の具体的なゴミ領域のパラメータを、ゴミ領域の数だけ繰返して格納する。ゴミ領域のパラメータは、ゴミの半径(例えば2バイト)、有効画像領域における中心のx座標(例えば2バイト)、おなじく中心のy座標(例えば2バイト)の3つの数値のセットである。
メモリ6の大きさ等によりゴミ補正データサイズに制限がある場合、ステップS27で得たゴミ領域の先頭から優先してデータを格納する。これは、ステップS27のゴミ領域取得ルーチン内では、後述するようにゴミ領域を、目立つゴミの順にソートするからである。
(ゴミ領域取得ルーチン)
次に、図6から図8を用いて、ステップS27で行うゴミ領域取得ルーチンの詳細について説明する。
次に、図6から図8を用いて、ステップS27で行うゴミ領域取得ルーチンの詳細について説明する。
図7に示すように、呼び出した画像データをメモリ6上に展開し、予め定められたブロック単位で処理を行う。これは、レンズやセンサ特性に起因する周辺減光に対応するためである。周辺減光とは、レンズの中央部に比べ周辺部の輝度が落ちてしまう現象であり、レンズの絞りを小さくすることである程度軽減されることが知られている。しかし、絞りを絞った状態でも、撮影画像に対して予め定められたスレッショルド値でゴミ位置の判定を行うと、レンズによっては周辺部のゴミが正確に検出できなくなるという問題がある。そこで、画像をブロック分割して周辺減光の影響を軽減する。
単純にブロック分割すると、ブロックとブロックの間でスレッショルド値が異なる場合、ブロック間をまたぐゴミの検出結果がずれてしまうという問題がある。そこで、ブロック間をオーバーラップさせ、オーバーラップ領域を構成するブロックのいずれかでゴミと判定された画素をゴミ領域として扱う。
ブロック内のゴミ領域判定は、図6に示す処理の流れで行う。まず、ブロック内の最大輝度Lmax、平均輝度Laveを算出し、次式を用いてブロック内のスレッショルド値T1を算出する。
T1=Lave×0.6+Lmax×0.4
次に、スレッショルド値を超えない画素をゴミ画素とし(ステップS61)、ゴミ画素によって構成される孤立領域を各々一つのゴミ領域di(i=0,1,…,n)とする(ステップS62)。図8に示すように、ゴミ領域毎に、ゴミ領域を構成する画素の水平方向の座標の最大値Xmaxおよび最小値Xmin、垂直方向の座標の最大値Ymaxおよび最小値Yminを求め、ゴミ領域diのサイズを表す半径riを次式によって算出する(ステップS63)。
次に、スレッショルド値を超えない画素をゴミ画素とし(ステップS61)、ゴミ画素によって構成される孤立領域を各々一つのゴミ領域di(i=0,1,…,n)とする(ステップS62)。図8に示すように、ゴミ領域毎に、ゴミ領域を構成する画素の水平方向の座標の最大値Xmaxおよび最小値Xmin、垂直方向の座標の最大値Ymaxおよび最小値Yminを求め、ゴミ領域diのサイズを表す半径riを次式によって算出する(ステップS63)。
ri=√[{(Xmax−Xmin)/2}2−{(Ymax−Ymin)/2}2]
Xmax、Xmin、Ymax、Yminとriの関係を、図8に示す。
Xmax、Xmin、Ymax、Yminとriの関係を、図8に示す。
その後ステップS64で、ゴミ領域毎の平均輝度値を算出する。
メモリ6のサイズによる制限などにより、ゴミ補正データのデータサイズが制限されている場合がある。このような場合に対応するために、ゴミ位置情報を、大きさやゴミ領域の平均輝度値によってソートする(ステップS65)。本実施形態では、riの大きい順にソートする。riが等しい場合、平均輝度値の低い順にソートする。このようにすることで、目立つゴミを優先してゴミ補正データに登録することが出来る。なお、ソート済みのゴミ領域をDi、ゴミ領域Diの半径をRiとする。
(撮像処理ルーチン)
次に、図9に示すフローチャートを用いて、図4のステップS24で行われる撮像処理ルーチンの詳細について説明する。
次に、図9に示すフローチャートを用いて、図4のステップS24で行われる撮像処理ルーチンの詳細について説明する。
この撮像処理ルーチンが実行されると、ステップS201でシステム制御回路10は、不図示のクイックリターンミラーを作動させ、いわゆるミラーアップを行い、撮影光路外にクイックリターンミラーを退避させる。
次に、ステップS202で撮像素子2での電荷蓄積を開始し、次のステップS203では不図示のシャッターを走行させて露光を行う。そして、ステップS204で撮像素子2の電荷蓄積を終了し、次のステップS205で撮像素子2から画像信号を読み出してA/D変換回路3および画像処理回路4で処理した画像データをメモリ6に一次記憶する。
次のステップS206で撮像素子2から全ての画像信号の読み出しが終了すると、ステップS207でクイックリターンミラーをミラーダウンし、一連の撮像動作を終了する。
ステップS208にて、通常撮影かゴミ検出用画像撮影かを判断し、通常撮影時にはステップS209へ進んで、撮影した画像が外部メモリ7に記録される。
以上の動作により、光学素子2aに付着したゴミの位置及び大きさの情報を取得することができる。
図10は、本実施形態に係るデジタルカメラにおけるTVAF方式による焦点検出処理を説明するフローチャートである。
焦点検出は、ライブビュー状態において連続してメモリ6に取り込まれる画像をもとに行われる。
なお、焦点検出に使用するコントラスト信号は、メモリ6内にある画像全体から生成しても良いし、メモリ6内にある画像全体から一部分を取り出したAFフレーム102(図3参照)から生成しても良い。
まず、焦点検出に使用するコントラスト信号を取得する。取得する方法は、後に図11を参照してより詳しく説明する(ステップS31)。
ステップS31で取得したコントラスト信号と、これまで取得したコントラスト信号の履歴を元に、撮像光学系1を駆動する方向と駆動量を判定する(ステップS32)。コントラスト信号の履歴が無い場合は、あらかじめ決定してある方向と駆動量を使用する。
ステップS33で、レンズ駆動制御部11に対して、フォーカス位置をステップS32で算出した位置に設定する。
最新のコントラスト信号を、コントラスト信号の履歴に移動し、ステップS31で行ったサブルーチンを再度実行し、コントラスト信号を取得する(ステップS34)。
ステップS34で取得したコントラスト信号と、これまで取得したコントラスト信号の履歴を元に、コントラスト信号の頂点を検出する。
コントラスト信号の頂点を検出できなかった場合、ステップS32に戻って焦点検出を続行し、コントラスト信号の頂点を検出した場合は次のステップへ進む(ステップS35)。
検出したコントラスト信号の頂点位置にフォーカス位置を移動し、合焦完了とする(ステップS36)。
図11は、本実施形態に係るデジタルカメラにおける図10の焦点検出処理において、コントラスト信号を検出するサブルーチンを説明するフローチャートである。
まず、ステップS41おいて、メモリ6内にある画像上の、焦点検出領域(AFフレーム102)の位置と大きさを取得する。
次に、ステップS42おいて、図4のフローチャートの手順によって取得した撮像面上のゴミの情報により、メモリ6内にある画像上の、ゴミの位置と大きさを取得する。
次に、ステップS43において、コントラスト検出モードの選択を行う。
例えば、ステップS41で取得した焦点検出領域内に、ステップS42で取得したゴミが存在するかどうかの判定を行い、焦点検出領域内にゴミが存在しなかった場合は通常検出を行うステップS44に進む。また、焦点検出領域内にゴミが存在した場合はゴミを除いて焦点検出を行うステップS45に進む。
なお、焦点検出領域内にゴミが存在した場合でも、レンズの絞り値が小さい場合(例えばF5.6以下)であれば、ゴミの写り込みは無視できるものとして、ステップS44に進む構成でも良い。この場合、レンズの絞り値が所定値以上である場合には、ステップS45に進む。
また、焦点検出領域内にゴミが存在した場合でも、ゴミの大きさが小さい場合(例えば焦点検出領域の5%以下)の大きさであれば、ゴミの写り込みは無視できるものとして、ステップS44に進む構成でも良い。この場合、ゴミの大きさが所定の大きさ以上である場合には、ステップS45に進む。
ステップS44では、図12に示すように、メモリ6内にある画像データの焦点検出領域(AFフレーム)102の信号を図中の矢印が示す方向の順に走査し、走査した信号をバンドパスフィルタに通すことにより、焦点検出領域のコントラスト信号を得る。
ステップS45では、図13に示すように、焦点検出領域(AFフレーム)102をゴミ領域とそれ以外の領域に分割する。
なお、ゴミ領域が、例えば焦点検出領域の50%以上の大きさである場合は、正しくコントラスト検出ができないものとして、処理を終了する構成でも良い。
ステップS46では、ステップS45で分割したゴミ以外の領域である、図13の第1の領域71、第2の領域72、第3の領域73、第4の領域74をそれぞれステップS44で説明した方法で走査し、それぞれのコントラスト信号を得る。
ステップS47では、ステップS46で得られたコントラスト信号を、それぞれの領域の面積比により合成し、焦点検出領域のコントラスト信号を得る。
なお、ステップS46で、高速化のため、ゴミ以外の領域のうち、例えば焦点検出領域全体の10%以下の小さな領域である第3の領域73、第4の領域74の走査を省略する構成でも良い。
以上説明したように、上記の実施形態によれば、撮像素子の前方に配置された光学素子にごみ等の異物が付着していた場合でも、焦点の誤検出を防止でき、焦点検出にかかる時間が長くなることも防止できる。
(他の実施形態)
また、各実施形態の目的は、次のような方法によっても達成される。すなわち、前述した実施形態の機能を実現するソフトウェアのプログラムコードを記録した記憶媒体(または記録媒体)を、システムあるいは装置に供給する。そして、そのシステムあるいは装置のコンピュータ(またはCPUやMPU)が記憶媒体に格納されたプログラムコードを読み出し実行する。この場合、記憶媒体から読み出されたプログラムコード自体が前述した実施形態の機能を実現することになり、そのプログラムコードを記憶した記憶媒体は本発明を構成することになる。また、コンピュータが読み出したプログラムコードを実行することにより、前述した実施形態の機能が実現されるだけでなく、本発明には次のような場合も含まれる。すなわち、プログラムコードの指示に基づき、コンピュータ上で稼働しているオペレーティングシステム(OS)などが実際の処理の一部または全部を行い、その処理によって前述した実施形態の機能が実現される。
また、各実施形態の目的は、次のような方法によっても達成される。すなわち、前述した実施形態の機能を実現するソフトウェアのプログラムコードを記録した記憶媒体(または記録媒体)を、システムあるいは装置に供給する。そして、そのシステムあるいは装置のコンピュータ(またはCPUやMPU)が記憶媒体に格納されたプログラムコードを読み出し実行する。この場合、記憶媒体から読み出されたプログラムコード自体が前述した実施形態の機能を実現することになり、そのプログラムコードを記憶した記憶媒体は本発明を構成することになる。また、コンピュータが読み出したプログラムコードを実行することにより、前述した実施形態の機能が実現されるだけでなく、本発明には次のような場合も含まれる。すなわち、プログラムコードの指示に基づき、コンピュータ上で稼働しているオペレーティングシステム(OS)などが実際の処理の一部または全部を行い、その処理によって前述した実施形態の機能が実現される。
さらに、次のような場合も本発明に含まれる。すなわち、記憶媒体から読み出されたプログラムコードが、コンピュータに挿入された機能拡張カードやコンピュータに接続された機能拡張ユニットに備わるメモリに書込まれる。その後、そのプログラムコードの指示に基づき、その機能拡張カードや機能拡張ユニットに備わるCPUなどが実際の処理の一部または全部を行い、その処理によって前述した実施形態の機能が実現される。
本発明を上記記憶媒体に適用する場合、その記憶媒体には、先に説明した手順に対応するプログラムコードが格納されることになる。
Claims (5)
- 撮像光学系により結像された被写体像を光電変換して画像信号を生成する撮像手段と、
前記撮像手段より得られる異物検出用画像信号から、前記撮像手段の撮像面内における異物の少なくとも位置及び大きさの情報である異物情報を検出する異物検出手段と、
前記撮像手段により生成された画像信号のコントラストの情報に基づいて焦点検出を行う焦点検出手段と、
前記異物情報に基づいて、前記焦点検出手段に前記撮像手段の撮像面上で前記異物の存在する領域も含めた領域の画像信号を用いて焦点検出を行わせるか、前記異物の存在する領域を除いた領域の画像信号を用いて焦点検出を行わせるかを制御する制御手段と、
を備えることを特徴とする撮像装置。 - 前記制御手段は、前記撮像光学系の絞り値が所定の値よりも小さい場合には、前記焦点検出手段に前記撮像手段の撮像面上で前記異物の存在する領域も含めた領域の画像信号を用いて焦点検出を行わせ、前記撮像光学系の絞り値が前記所定の値以上である場合には、前記焦点検出手段に前記異物の存在する領域を除いた領域の画像信号を用いて焦点検出を行わせることを特徴とする請求項1に記載の撮像装置。
- 前記制御手段は、前記異物の大きさが所定の大きさよりも小さい場合には、前記焦点検出手段に前記撮像手段の撮像面上で前記異物の存在する領域も含めた領域の画像信号を用いて焦点検出を行わせ、前記異物の大きさが所定の大きさ以上である場合には、前記焦点検出手段に前記異物の存在する領域を除いた領域の画像信号を用いて焦点検出を行わせることを特徴とする請求項1に記載の撮像装置。
- 撮像光学系により結像された被写体像を光電変換して画像信号を生成する撮像手段を備える撮像装置を制御する方法であって、
前記撮像手段より得られる異物検出用画像信号から、前記撮像手段の撮像面内における異物の少なくとも位置及び大きさの情報である異物情報を検出する異物検出工程と、
前記撮像手段により生成された画像信号のコントラストの情報に基づいて焦点検出を行う焦点検出工程と、
前記異物情報に基づいて、前記焦点検出工程において前記撮像手段の撮像面上で前記異物の存在する領域も含めた領域の画像信号を用いて焦点検出を行わせるか、前記異物の存在する領域を除いた領域の画像信号を用いて焦点検出を行わせるかを制御する制御工程と、
を備えることを特徴とする撮像装置の制御方法。 - 請求項4に記載の制御方法をコンピュータに実行させるためのプログラム。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2008174957A JP2010014981A (ja) | 2008-07-03 | 2008-07-03 | 撮像装置及びその制御方法及びプログラム |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2008174957A JP2010014981A (ja) | 2008-07-03 | 2008-07-03 | 撮像装置及びその制御方法及びプログラム |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2010014981A true JP2010014981A (ja) | 2010-01-21 |
Family
ID=41701146
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2008174957A Withdrawn JP2010014981A (ja) | 2008-07-03 | 2008-07-03 | 撮像装置及びその制御方法及びプログラム |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP2010014981A (ja) |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO2012133427A1 (ja) * | 2011-03-30 | 2012-10-04 | 富士フイルム株式会社 | 撮像装置及びそのオートフォーカス制御方法 |
US12058308B2 (en) | 2020-12-15 | 2024-08-06 | Waymo Llc | Aperture health monitoring mode |
-
2008
- 2008-07-03 JP JP2008174957A patent/JP2010014981A/ja not_active Withdrawn
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO2012133427A1 (ja) * | 2011-03-30 | 2012-10-04 | 富士フイルム株式会社 | 撮像装置及びそのオートフォーカス制御方法 |
US8885090B2 (en) | 2011-03-30 | 2014-11-11 | Fujifilm Corporation | Imaging apparatus and autofocus control method thereof |
US12058308B2 (en) | 2020-12-15 | 2024-08-06 | Waymo Llc | Aperture health monitoring mode |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JP4590355B2 (ja) | 画像処理装置及び画像処理方法及びプログラム | |
KR100815512B1 (ko) | 촬상장치 및 그 제어 방법 | |
JP4974812B2 (ja) | 電子カメラ | |
JP2008258982A (ja) | 画像処理装置及びその制御方法及びプログラム | |
JP5051812B2 (ja) | 撮像装置、その合焦方法および記録媒体 | |
JP2007259423A (ja) | 電子カメラ | |
JP2002152582A (ja) | 電子カメラ、および画像表示用記録媒体 | |
JP4952574B2 (ja) | 画像合成装置及びプログラム | |
JP5387341B2 (ja) | 撮像装置 | |
JP5361502B2 (ja) | 焦点検出装置および方法、撮像装置 | |
JP5413625B2 (ja) | 画像合成装置及びプログラム | |
JP5094665B2 (ja) | 撮像装置及びその制御方法及びプログラム | |
JP2010014981A (ja) | 撮像装置及びその制御方法及びプログラム | |
JP5188293B2 (ja) | 撮像装置及びその制御方法及びプログラム | |
JP2009088628A (ja) | 画像処理装置 | |
JP5910613B2 (ja) | 画像合成装置及びプログラム | |
JP4533161B2 (ja) | 撮像装置及びその異物検出方法 | |
JP2012220890A (ja) | 焦点調節装置 | |
JP5479883B2 (ja) | 撮像装置及び撮像方法 | |
JP2008283477A (ja) | 画像処理装置及び画像処理方法 | |
JP5024033B2 (ja) | 被写対象追跡装置、被写対象追跡プログラム及び被写対象追跡方法 | |
JP2010098698A (ja) | 撮像装置及びその制御方法及びプログラム | |
JP4827778B2 (ja) | 画像処理装置及び画像処理方法及びプログラム及び記憶媒体 | |
JP2008244868A (ja) | 撮像装置及びその制御方法及びプログラム及び記憶媒体 | |
JP5094571B2 (ja) | 撮像装置及びその制御方法及びプログラム |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A300 | Application deemed to be withdrawn because no request for examination was validly filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A300 Effective date: 20110906 |