TWI502450B - 電容式感測裝置及方法 - Google Patents
電容式感測裝置及方法 Download PDFInfo
- Publication number
- TWI502450B TWI502450B TW098117390A TW98117390A TWI502450B TW I502450 B TWI502450 B TW I502450B TW 098117390 A TW098117390 A TW 098117390A TW 98117390 A TW98117390 A TW 98117390A TW I502450 B TWI502450 B TW I502450B
- Authority
- TW
- Taiwan
- Prior art keywords
- mutual
- wires
- mutual coupling
- signal
- mutual capacitance
- Prior art date
Links
Landscapes
- Position Input By Displaying (AREA)
- Measurement Of Length, Angles, Or The Like Using Electric Or Magnetic Means (AREA)
- Electronic Switches (AREA)
Description
本發明係有關於觸控裝置及方法，特別是有關於一種電容式感測裝置。
請參照第一圖，其為一習知電容式感測裝置之多指觸控操作與電容值影像示意圖。一觸控面板110係具有複數條第一導線112與複數條第二導線114，而此些第一導線112與第二導線114係彼此正交相疊且電性隔離。當一感測信號(未繪出)加載於任一第一導線112時，此第一導線112與所有第二導線114互耦疊點將形成複數個電容性耦合，據此便可透過所有第二導線114上之電流或電壓而判斷出各互耦疊點之電性特性。藉此循序地提供感測信號給每一第一導線112，並執行上述之感測程序便可判讀出所有互耦疊點之電性特性。
當自然接地之人體以一手指觸碰或接近感測處(互耦疊點)上方時，便會影響感測處之電容性耦合，因而造成電流或電壓改變，據此便可判讀出觸碰位置。然而當觸控面板110上有兩觸碰處P1
與P2
時，則不僅在觸碰處P1
、P2
會造成電流或電壓改變，在另兩互耦疊點G1
與G2
亦會造成電流或電壓改變(亦即形成所謂“鬼點”)，因此，兩觸碰處P1
、P2
將造成觸控面板110上四個互耦疊點(例如：(X1
,Y4
)、(X3
,Y6
)、(X1
,Y6
)、(X3
,Y4
))之電流或電壓改變，如此在觸碰位置上之判讀便會造成困擾。再從其等之電容值影像120作進一步說明，觸碰處P1
(X1
,Y4
)之電容值影像波P1
W1
與互耦疊點G1
(X1
,Y6
)、G2
(X3
,Y4
)之電容值影像波G1
W1
、G2
W1
之差值分別為d1
、d3
；觸碰處P2
(X3
,Y6
)之電容值影像波P2
W1
與互耦疊點G1
(X1
,Y6
)、G2
(X3
,Y4
)之電容值影像波G1
W1
、G2
W1
之差值分別為d4
、d2
，然而因為差值d1
、d2
、d3
、d4
並不大且在感測時亦容易受到其他雜訊干擾，因此在多指觸控操作之觸碰判讀上就容易產生誤判，且上述之差值d1
、d2
、d3
、d4
內所含之可利用資訊亦因數值太小而無法加以有效利用。
有鑑於上述之缺點，本發明提供一種電容式感測裝置及方法，其等可改進習知電容式感測裝置因多點觸控偵測所產生觸碰判讀之問題，並且亦能有效利用因觸碰所產生電流或電壓之差值。
本發明揭露一種電容式感測裝置，其包含：複數條第一導線，係彼此電性隔離；複數條第二導線，係彼此電性隔離，此些第一、第二導線係彼此電性隔離且相疊，藉此形成複數個互耦疊點；以及複數個電性導體，係彼此電性隔離並分別對應橫跨此些第一、第二導線且位於此些互耦疊點周圍，其中此些第一、第二導線與此些電性導體彼此電性隔離；藉此，當任一第一導線加載一電性信號時，此任一第一導線與其相疊之第二導線電容性耦合，且對應位於此任一第一導線互耦疊點週圍之電性導體係分別與此任一第一導線及與此任一第一導線相疊之第二導線電容性耦合。
本發明亦揭露一種電容式感測裝置，其包含：一信號單元，係提供一電性信號給一第一導線；一第一感測單元，係在複數個電性導體其中至少之一與一物件電容式耦合或接觸耦合前，從複數條第二導線分別對應接收複數個第一感測信號，其中此些第二導線彼此電性隔離；一第二感測單元，係在此些電性導體其中至少之一與此物件電容式耦合或接觸耦合時，從此些第二導線分別對應接收複數個第二感測信號；以及一計算單元，係由此些第一、第二感測信號計算出至少一被觸碰位置；其中，此些電性導體係分別對應位於此第一導線與此些第二導線之互耦疊點周圍且分別對應橫跨此第一導線與此些第二導線，此些第一、第二感測信號係分別對應包含耦合前與耦合時之此第一導線、此些第二導線與電性導體電容性耦合之複合量。
本發明另揭露一種電容式感測方法，其包含下列步驟：提供一電性信號給一第一導線；在複數個電性導體其中至少之一與一物件電容式耦合或接觸耦合前，從複數條第二導線分別對應接收複數個第一感測信號，其中此些第二導線彼此電性隔離；在此些電性導體其中至少之一與此物件電容式耦合或接觸耦合時，從此些第二導線分別對應接收複數個第二感測信號；以及由此些第一、第二感測信號計算出至少一被觸碰位置；其中，此些電性導體係分別對應位於此第一導線與此些第二導線之互耦疊點周圍且分別對應橫跨此第一導線與此些第二導線，此些第一、第二感測信號係分別對應包含耦合前與耦合時之此第一導線、此些第二導線與電性導體電容性耦合之複合量。
本發明又揭露一種電容式感測裝置，其包含：一第一感測單元，係在複數個電性導體其中至少之一與一物件電容式耦合或接觸耦合前，從複數條第一導線與複數條第二導線分別對應接收複數個第一感測信號，其中此些第一、第二導線間彼此電性隔離；一第二感測單元，係在此些電性導體其中至少之一與此物件電容式耦合或接觸耦合時，從此些第一、第二導線分別對應接收複數個第二感測信號；以及一計算單元，係由此些第一、第二感測信號計算出至少一被觸碰位置；其中，此些電性導體分別對應位於此些第一、第二導線互耦疊點上方且以一第一介電層與此些第一、第二導線電性隔離，此些第一、第二導線係以一第二介電層彼此電性隔離，此些第一、第二感測信號分別對應包含耦合前與耦合時之此些第一、第二導線與電導體電容性耦合之複合量。
本發明更揭露一種電容式感測方法，其包含下列步驟：在複數個電性導體其中至少之一與一物件電容式耦合或接觸耦合前，從複數條第一導線與複數條第二導線分別對應接收複數個第一感測信號，其中此些第一、第二導線間彼此電性隔離；在此些電性導體其中至少之一與此物件電容式耦合或接觸耦合時，從此些第一、第二導線分別對應接收複數個第二感測信號；以及由此些第一、第二感測信號計算出至少一被觸碰位置；其中，此些電性導體分別對應位於此些第一、第二導線互耦疊點上方且以一第一介電層與此些第一、第二導線電性隔離，此些第一、第二導線係以一第二介電層彼此電性隔離，此些第一、第二感測信號分別對應包含耦合前與耦合時之此些第一、第二導線與電性導體電容性耦合之複合量。
本發明再揭露一種電容式感測裝置，其包含：一信號單元，係提供一電性信號；一感測單元，係透過一第一導線、一第二導線與複數個電性導體其中至少之一電容性耦合至此信號單元，此第一、第二導線係電容性耦合，此些電性導體分別對應跨過此第一、第二導線且分別對應與此第一、第二導線電容性耦合，其中此第一導線係接受此電性信號驅動。
本發明亦另揭露一種電容式感測裝置，其包含：複數條第一導線，係彼此電性隔離；複數條第二導線，係彼此電性隔離，此些第一、第二導線係彼此電性隔離且相疊，藉此形成複數個互耦疊點；複數個電性導體，係彼此電性隔離並分別對應橫跨此些第一、第二導線且位於此些互耦疊點周圍，其中此些第一、第二導線與此些電性導體係彼此電性隔離；一信號單元，係提供一電性信號；以及一感測單元，分別透過此些第一、第二導線其中之一與此些電性導體其中至少之一電容性耦合至此信號單元時，此至少之一電性導體係分別與此些第一、第二導線之一電容性耦合，其中此些第一導線之一係接受此電性信號驅動。
本發明亦又揭露一種電容式感測裝置，其包含：複數條第一導線，係彼此電性隔離；複數條第二導線，係彼此電性隔離，此些第一、第二導線係彼此電性隔離且相疊，藉此形成複數個互耦疊點；以及複數個電性導體，係彼此電性隔離並分別對應橫跨此些第一、第二導線且位於此些互耦疊點周圍，其中此些第一、第二導線與此些電性導體係彼此電性隔離；藉此，當複數個物件電容式耦合或接觸耦合此些第一、第二導線與電性導體其中至少之一時，一感測單元感測此些物件與耦合之第一、第二導線與電性導體之電容性耦合之複合量，以提供較高之變化量用以判別並消除此些物件耦合之鬼點座標。
本發明亦更揭露一種電容式感測裝置，其包含：複數條第一導線；複數條第二導線，此些第一、第二導線間構成複數個互耦疊點；複數個電性導體，些電性導體橫跨此些互耦疊點；以及一感測單元，係感測此些互耦疊點之複合訊號，各互耦疊點之複合訊號受此些電性導體之電容性耦合影響。
本發明亦再揭露一種電容式感測裝置，其包含：一信號單元，係驅動一觸控面板，此觸控面板上包含複數條第一、第二導線構成的複數個互耦疊點，其中複數個電性導體橫跨此些互耦疊點；一感測單元，係感測此些互耦疊點之複合訊號，各互耦疊點之複合訊號受此些電性導體之電容性耦合影響；以及一計算單元，係依據此些複合訊號之變化量計算出至少一觸碰位置。
本發明另又揭露一種電容式感測方法，其包含下列步驟：驅動一觸控面板，此觸控面板上包含複數條第一、第二導線構成的複數個互耦疊點，其中複數個電性導體橫跨此些互耦疊點；感測此些互耦疊點之複合訊號，各互耦疊點之複合訊號受此些電性導體之電容性耦合影響；以及依據此些複合訊號之變化量計算出至少一觸碰位置。
本發明另更揭露一種電容式感測裝置，此電容式感測裝置具有複數條第一、第二導線構成的複數個互耦疊點，並且依據此些互耦疊點之互電容性耦合偵測出至少一觸碰位置，其中任兩觸碰位置構成一虛擬平行四邊形上對角的一對真實頂點，此虛擬平行四邊形之另一對角為一對虛假頂點，其特徵在於更包含：複數個電性導體，係橫跨此些互耦疊點，此些電性導體的大小(dimension)決定此對真實頂點之鄰近互耦疊點與此對虛假頂點之鄰近互耦疊點間的訊號差異量。
本發明另外再揭露一種電容式感測方法，透過對一觸控面板的互電容耦合以感測觸控面板上複數個互耦疊點之訊號或訊號變化量，其中觸控面板包含複數條導線相交形成之互耦疊點，以及分別橫跨或圍繞互耦疊點之複數個電性導體。這些電性導體決定一預設範圍，依據落於預設範圍之互耦疊點之訊號或訊號變化量辨識出靠近或觸碰該觸控面板之各物件位置，據此可連續依據該各物件位置辨識是否為一命令手勢。
另外，也可以是透過對一觸控面板的互電容耦合以感測觸控面板上複數個互耦疊點之訊號或訊號變化量以構成一影像，其中觸控面板包含複數條導線相交形成的互耦疊點，以及分別橫跨或圍繞互耦疊點之複數個電性導體。這些電性導體決定一預設範圍，依據該影像中落於該預設範圍之互耦疊點之訊號或訊號變化量辨識出靠近或觸碰該觸控面板之各物件位置，據此可連續依據該各物件位置辨識是否為一命令手勢。
其中，觸控面板上複數個互耦疊點之訊號或訊號變化量的感測或影像的構成可以由一感測單元來達成。此外，連續依據該各物件位置或依據複數個影像辨識出靠近或觸碰該觸控面板之各物件軌跡，並且辨識該各物件軌跡是否為一命令手勢可以是由一辨識單元來達成。
其中，命令手勢係複數個預設手勢之一，預設手勢係選自下列群組之任意組合：單物件朝一方向移動、單物件旋轉、複數個物件間相對地移動、複數個物件間相對地旋轉、一物件繞另一物件旋轉、複數個物件同方向移動。
因此，當命令手勢被辨識出來時，可依據命令手勢執行一命令，命令可以是選自下列群組之任意組合：放大、縮小、旋轉、平移、捲動、剪下、貼上、刪除。
本發明將詳細描述一些實施例如下。然而，除了所揭露之實施例外，本發明亦可以廣泛地運用在其他之實施例施行。本發明之範圍並不受該些實施例之限定，乃以其後之申請專利範圍為準。而為提供更清楚之描述及使熟悉該項技藝者能理解本發明之發明內容，圖示內各部分並沒有依照其相對之尺寸而繪圖，某些尺寸與其他相關尺度之比例會被突顯而顯得誇張，且不相關之細節部分亦未完全繪出，以求圖示之簡潔。
請參照第二圖，其為本發明之一較佳實施例之多指觸控操作與電容值影像示意圖。一觸控面板210係具有複數條第一導線212與複數條第二導線214，而此些第一導線212與第二導線214係彼此相疊且電性隔離。複數個電性導體216係分別橫跨所對應之第一導線212與第二導線214，且分別位於此些第一導線212與第二導線214之複數個互耦疊點周圍。詳細結構將於之後說明。
當觸控面板210上有兩觸碰處P1
與P2
時，則在觸碰處P1
、P2
與另兩互耦疊點G1
與G2
將造成電流或電壓改變，從其等之電容值影像220作進一步說明，觸碰處P1
(X1
,Y4
)之電容值影像波P1
W2
與互耦疊點G1
(X1
,Y6
)、G2
(X3
,Y4
)之電容值影像波G1
W2
、G2
W2
之差值分別為d5
、d7
；觸碰處P2
(X3
,Y6
)之電容值影像波P2
W2
與互耦疊點G1
(X1
,Y6
)、G2
(X3
,Y4
)之電容值影像波G1
W2
、G2
W2
之差值分別為d8
、d6
，然而，在此可明顯地看出差值d5
、d6
、d7
、d8
比第一圖所示之差值d1
、d2
、d3
、d4
大了許多。因為習知之電流或電壓改變係藉由第一導線212與第二導線214間之單一相互電容變化量感測所得，而本實施例電流或電壓改變係藉由第一導線212與第二導線214、第一導線212與電性導體216以及第二導線214與電性導體216等之間三個相互電容複合變化量感測所得，因此三個相互電容複合變化量明顯大於單一相互電容變化量，藉此，可明顯區隔出觸碰處P1
、P2
與互耦疊點G1
、G2
以消除鬼點。發明人在此要強調的是，本實施例係僅以兩觸碰處做說明，然而兩觸碰處以上之狀況在熟習此項技藝者係可依本實施例之教作而推得，故不再贅述。換言之，任兩觸碰處可成為一虛擬平行四邊形(如矩形或菱形)上對角之一對真實頂點，如P1
、P2
，相反地，虛擬平行四邊形之另一對角為一對虛假頂點，如G1
與G2
，電性導體216拉大了真實頂點之鄰近互耦疊點與虛假頂點之鄰近互耦疊點間的訊號差異量。此外，電性導體216的大小決定真實頂點之鄰近互耦疊點與虛假頂點之鄰近互耦疊點間的訊號差異量，例如在導線線程不改變的情形下，電性導體216越大，真實頂點之鄰近互耦疊點與虛假頂點之鄰近互耦疊點間的訊號差異量越大，反之越小。熟習此項技藝者可推得，電性導體216的大小相對於真實頂點之鄰近互耦疊點與虛假頂點之鄰近互耦疊點間的訊號差異量不必然為線性關係。此外，基於真實頂點與虛假頂點與鄰近互耦疊點間的遠近不同，產生互電容複合變化量之互耦疊點數量也會不同，各頂點鄰近之互耦疊點可能有一個或多個產生互電容複合變化量。為了簡化說明，在第二圖之範例中，各頂點僅一個鄰近之互耦疊點產生互電容複合變化量，並非用以限縮本發明，在本發明之其他範例，各頂點基於與鄰近之互耦疊點間的遠近不同，產生互電容複合變化量之鄰近互耦疊點的數量可能為一個或多個。
請參照第三A圖，其為本發明之另一較佳實施例之操作與電容值影像示意圖。一觸控面板210係具有與第二圖所示之觸控面板210相同之結構，故在此不再贅述。當觸控面板210上有一觸碰處TP，且TP橫跨多個第一導線212與第二導線214之互耦疊點或多個電性導體216時(例如：(X2
,Y5
)、(X2
,Y6
)、(X3
,Y5
)、(X3
,Y6
))，在這些互耦疊點或電性導體216將造成訊號(容值、電流值或電壓值)改變，而從其等之電容值影像320可得到四個較明顯之電容值影像波W1
、W2
、W3
、W4
。這些電容值影像波W1
、W2
、W3
、W4
係從三個相互電容複合變化量感測所得，因此，明顯大於單一相互電容變化量，藉此，不僅可以區隔出彼此且亦能以這些複合變化量感測出真實多點，亦即這些點的座標(如上述之P1
(X1
,Y4
)、P2
(X3
,Y6
))，尤其是同時感測出三點以上之真實多點。
請參照第三B圖，其為本發明之又一較佳實施例之操作與電容值影像示意圖。一觸控面板210係具有與第二圖所示之觸控面板210相同之結構，而兩者之不同處在於，第三B圖之觸控面板210係被拉近放大。當觸控面板210上有一觸碰處TP，而TP並未觸碰到任何互耦疊點且僅覆蓋到少數電性導體216時(例如：位於(X1
,Y2
)、(X2
,Y3
)之電性導體216之部份)，在觸碰處TP周圍之互耦疊點或電性導體216將造成電流或電壓改變，而從其等之電容值影像370可得到四個電容值影像波W5
、W6
、W7
、W8
，這些電容值影像波W5
、W6
、W7
、W8
係從三個相互電容複合變化量感測所得，因此明顯大於單一相互電容變化量，藉此，可用來感測多個相疊點間之座標，而非僅代表是在哪個相疊點附近或靠近哪個相疊點，其座標的量測採用內插法計算質心的方式求得，例如在(X2
,Y5
)、(X2
,Y6
)、(X3
,Y5
)、(X3
,Y6
)四個互耦疊點上的電容值影像波W1
、W2
、W3
、W4
，則X=(X2
W1
+X2
W2
+X3
W3
+X3
W4
)/(X2
+X2
+X3
+X3
)，並且Y=(Y5
W1
+Y6
W2
+Y5
W3
+Y6
W4
)/(Y5
+Y5
+Y6
+Y6
)。
發明人在此要說明的是，由於三個相互電容複合變化量之感測係易於(大於、明顯於)單一相互電容變化量之感測，因此本發明之所有實施例可用更少之導線來達到與習知技術相近之解析度，亦即具有相近之解析度，但導線量卻減少。並且，由於所感測資料並不限用以當成判斷觸碰與否之數位資料，因此，所感測之類比資料亦可用來推估被觸碰處之壓力。例如，觸碰物為一手指或軟性材質，具有彈性之弧面，下壓至觸控板210之力量越大，觸碰物接觸到觸控板210之面積亦越大，因此相互電容複合變化量越大，在感測出觸碰觸的同時，還可藉以推估出壓力之大小、變化量、變化驅勢，亦可以藉以辨識出與壓力或壓力變化驅勢相關之手勢，例如藉由判斷壓力的漸大或漸小來判斷手指的驅近或離開，亦可以藉由判斷手指一側漸大與另一側漸小來判斷並追蹤手指的移動。
請參照第四圖，其為本發明之一較佳實施例400之結構分解示意圖。複數條第一導線412，係彼此電性隔離且位於一第一軸向層410之上。複數條第二導線432，係彼此電性隔離且位於一第二軸向層430之上，此些第一、第二導線412、432係彼此電性隔離且相疊，藉此形成複數個互耦疊點。其中，一第一介電層420係穿插於此些第一、第二導線412、432間，此些第一、第二導線412、432係包含彼此正交相疊。複數個電性導體452，係彼此電性隔離且位於一電性導體層450上，此些電性導體452分別對應橫跨此些第一、第二導線412、432且位於此些互耦疊點周圍，其中此些第一、第二導線412、432與電性導體452係彼此電性隔離。其中，一第二介電層440係穿插於此些第二導線432與電性導體452間。一第三介電層460係位於此些第一、第二導線412、432與電性導體452之上方。在本實施例中，此些電性導體452之相對位置亦可調整在此些第一、第二導線412、432之間，或在此些第一、第二導線412、432下方。在本發明之一最佳範例中，此些電性導體452之相對位置亦可調整在此些第一、第二導線412、432之上。此外，熟習此項技藝者可推得，上述之第三介電層460並非必然需要，在本發明之另一較佳範例中，僅包含第一、第二導線412、432、電性導體452、第一介電層420與第二介電層440，其中第一介電層420係穿插於此些第一、第二導線412、432間，並且第二介電層420係穿插於此些電性導體452與此些第一、第二導線412、432間，如先前所述，此些電性導體452之相對位置可在此些第一、第二導線412、432之間，或在此些第一、第二導線412、432上方或下方。
請參照第五圖，其為本發明之多個較佳電性導體之結構示意圖。一電性導體(a)係由一實心圓與一環狀之兩子電性導體複合成一同心圓之電性導體。一電性導體(b)係由兩交指狀之子電性導體複合成一外矩形之電性導體。一電性導體(c)由兩個三角形之子電性導體複合成一外矩形之電性導體。一電性導體(d)由四個三角形之子電性導體複合成一外矩形之電性導體。上述之實施例僅用以說明本發明之電性導體係可包含複數個子電性導體之組合，而並非用以限制本發明之電性導體實施，其等亦可以是任何幾合形狀之個體或複合體。因此，熟習此項技藝者可推得，本發明之單一電性導體可以是橫跨互耦疊點之單一個體或複數個分離個體的複合體。
請參照第六圖，其為本發明之一較佳實施例之概略系統方塊圖，並請同時參照第二圖之說明。一信號單元610，提供一電性信號給一觸控面板620(第二圖標示為210)之一第一導線212，藉此，此第一導線212與其相疊之第二導線214係電容性耦合，且對應位於此第一導線212互耦疊點週圍之電性導體216係分別與此第一導線212及與此第一導線212相疊之第二導線214電容性耦合。一第一感測單元630，在此些電性導體216其中至少之一與一物件電容式耦合或接觸耦合前，從此些第二導線214分別接收複數個第一感測信號。一第二感測單元(在本實施例為第一感測單元630)，在此些電性導體216其中至少之一與此物件電容式耦合或接觸耦合時，從此些第二導線214分別接收複數個第二感測信號。一計算單元640，係由此些第一、第二感測信號計算出至少一被觸碰位置，例如：比較每一互耦疊點之第一感測信號與第二感測信號之差值，找出變化量超過一設定值之一或多個群組，並藉由對各群組之判讀便可找出觸碰位置。其中，此些第一、第二感測信號分別對應包含耦合前與耦合時之此第一導線212、此些第二導線214與電性導體216電容性耦合之複合量。
在本實施例中，信號單元610加載電性信號之方式可以是循序加載一電性信號給此些第一導線212其中之一，或同時加載一電性信號給複數條第一導線212、複數條第二導線214或複數條第一、第二導線212、214之組合。第一、第二感測單元係感測包含此些互耦疊點其中至少之一之電容性耦合(如第三A圖之說明)以及至少一互耦疊點間之電容性耦合(如第三B圖之說明)，以提供計算單元640計算至少一座標位置以及至少一座標間之位置。而計算單元640亦可由此些第一、第二感測信號計算出一或多處觸碰位置之壓力。
而在另一較佳實施例中，一第一感測單元630，在複數個電性導體216其中至少之一與一物件電容式耦合或接觸耦合之前，從複數條第一導線212與複數條第二導線214分別接收複數個第一感測信號；一第二感測單元(在本實施例中同第一感測單元630)，在此些電性導體216其中至少之一與此物件電容式耦合或接觸耦合時，從此些第一、第二導線212、214分別接收複數個第二感測信號；以及一計算單元640，由此些第一、第二感測信號計算出至少一被觸碰之位置。其中，此些第一、第二感測信號係分別對應包含耦合前與耦合時之此些第一、第二導線212、214與電性導體216電容性耦合之複合量。在本實施例中，信號單元610加載電性信號之方式可以是循序加載一電性信號給此些第一、第二導線212、214，或是同時加載一電性信號給此些第一、第二導線212、214，而上述之第一、第二感測信號係此電性信號加載時所感測。第一、第二感測單元感測包含此些互耦疊點其中至少之一之電容性耦合(如第三A圖之說明)以及至少一互耦疊點間之電容性耦合(如第三B圖之說明)，以提供計算單元640計算至少一座標位置以及至少一座標間之位置。而計算單元640係亦可由此些第一、第二感測信號計算出一或多處觸碰位置之壓力。此外，信號單元610可以分別加載不同相位、波形或頻率之電性信號給第一導線212與第二導線214，例如在同一時間，第一導線212與第二導線214分別同時被加載不同相位、波形或頻率之電性信號。
請參照第七A圖，其為本發明之一較佳實施例之動作流程圖，並請參照第六圖與第二圖之說明。在步驟702，由信號單元610提供一電性信號給一第一導線212。在步驟704，在多個電性導體216其中至少之一與一物件電容式耦合或接觸耦合前，由感測單元630從複數條第二導線214分別對應接收複數個第一感測信號。在步驟706，在此些電性導體216其中至少之一與此物件電容式耦合或接觸耦合時，感測單元630從此些第二導線214分別對應接收複數個第二感測信號。在步驟708，計算單元640由此些第一、第二感測信號計算出至少一被觸碰位置。其中，此些第一、第二感測信號係分別對應包含耦合前與耦合時之此第一導線212、此些第二導線214與電性導體216電容性耦合之複合量。在本實施例中，當第一導線212為複數條時，信號單元610可以循序方式提供電性信號，而計算單元640更包含計算出一或多處觸碰位置之壓力。
請參照第七B圖，其為本發明之另一較佳實施例之動作流程圖，並請同時參照第六圖與第二圖之說明。在步驟712，在複數個電性導體216其中至少之一與一物件電容式耦合或接觸耦合前，由感測單元630從複數條第一導線212與複數條第二導線214分別對應接收複數個第一感測信號。在步驟714，在此些電性導體216其中至少之一與此物件電容式耦合或接觸耦合時，感測單元630從此些第一、第二導線212、214分別對應接收複數個第二感測信號。在步驟716，計算單元640由此些第一、第二感測信號計算出至少一被觸碰位置。其中，此些第一、第二感測信號分別對應包含耦合前與耦合時之此些第一、第二導線212、214與電性導體216電容性耦合複合量。在本實施例中，此些第一、第二感測信號係信號單元610提供一電性信號給此些第一、第二導線212、214時所感測得到，而信號單元610提供此電性信號之方式係可以是循序提供或同時提供給此些第一、第二導線212、214，而計算單元640更包含計算出一或多處觸碰位置之壓力。
請再參照第二圖與第六圖，一觸控面板210(第六圖標示為620)係具有複數條第一導線212與複數條第二導線214，且此些第一、第二導線212、214彼此間構成複數個互耦疊點。複數個電性導體216，係橫跨此些互耦疊點。一感測單元630，係感測此些互耦疊點之複合訊號，並且各互耦疊點之複合訊號係受此些電性導體216之電容性耦合影響。其中，此些第一、第二導線212、214之間係包含互電容性(mutual-capacitance)耦合，而各電性導體216係分別橫跨此些互耦疊點之一，且各互耦疊點之複合訊號係各電性導體216與所橫跨之第一、第二導線212、214間之電容性耦合訊號。一計算單元640，依據此些複合訊號之變化量計算出至少一觸碰位置。在本發明之一較佳實施例中，當觸控面板210上有任兩觸碰位置(例如：P1
、P2
)構成一虛擬平行四邊形P1
G1
P2
G2
上對角的一對真實頂點時，則橫跨互耦疊點P1
、P2
、G1
、G2
之電性導體216的大小(dimension)將決定此虛擬平行四邊形P1
G1
P2
G2
上真實頂點之鄰近互耦疊點(例如：P1
、P2
)與虛假頂點之鄰近互耦疊點(例如：G1
、G2
)間的訊號差異量，亦即，電性導體216的大小不僅會影響互耦疊點P1
、P2
、G1
、G2
之複合訊號大小，且亦會改變互耦疊點P1
、P2
、G1
、G2
之複合訊號的差異量。另外，計算單元640係依據此些複合訊號之變化量間的集積度(intensity)區分出至少一群相鄰的互耦疊點，而每一群互耦疊點係分別相應於上述之至少一觸碰位置其中之一。其中，各頂點基於與鄰近之互耦疊點間的遠近不同，產生互電容複合變化量之鄰近互耦疊點的數量可能為一個或多個。
請再參照第二圖與第六圖，一信號單元610，驅動一觸控面板620(第二圖標示為210)，而觸控面板620係包含複數條第一、第二導線212、214構成的複數個互耦疊點，且複數個電性導體216橫跨此些互耦疊點。一感測單元630，感測此些互耦疊點之複合訊號，並且各互耦疊點之複合訊號受此些電性導體216之電容性耦合影響。一計算單元640，依據此些複合訊號之變化量計算出至少一觸碰位置。其中，此些第一、第二導線212、214之間係包含互電容性耦合，而各電性導體216係分別橫跨此些互耦疊點之一，且各互耦疊點之複合訊號係各電性導體216與所橫跨之第一、第二導線212、214間電容性耦合訊號。在一較佳實施例中，當觸控面板210上有任兩觸碰位置(例如：P1
、P2
)構成一虛擬平行四邊形P1
G1
P2
G2
上對角的一對真實頂點時，則橫跨互耦疊點P1
、P2
、G1
、G2
之電性導體216的大小將決定虛擬平行四邊形P1
G1
P2
G2
上真實頂點之鄰近互耦疊點(例如：P1
、P2
)與虛假頂點之鄰近互耦疊點(例如：G1
、G2
)間的訊號差異量。另外，計算單元640係依據此些複合訊號之變化量間的集積度區分出至少一群相鄰的互耦疊點，並且每一群互耦疊點係分別相應於上述之至少一觸碰位置其中之一。其中，各頂點基於與鄰近之互耦疊點間的遠近不同，產生互電容複合變化量之鄰近互耦疊點的數量可能為一個或多個。
請參照第七C圖，其為本發明之又一較佳實施例之動作流程圖，並請同時參照第六圖與第二圖之說明。在步驟722，信號單元610驅動觸控面板620，其中觸控面板620(第二圖標示為210)上包含複數條第一、第二導線212、214構成的複數個互耦疊點，且複數個電性導體216橫跨此些互耦疊點。在步驟724，感測單元630感測此些互耦疊點之複合訊號，而各互耦疊點之複合訊號係受此些電性導體216之電容性耦合影響。在步驟726，計算單元640依據此些複合訊號之變化量計算出至少一觸碰位置。其中，此些第一、第二導線212、214之間為互電容性耦合，而各電性導體216係分別橫跨此些互耦疊點之一，且各互耦疊點之複合訊號係各電性導體216與其所橫跨之第一、第二導線212、214間電容性耦合的訊號。此外，當任兩觸碰位置(如P1
、P2
)構成一虛擬平行四邊形P1
G1
P2
G2
上對角的一對真實頂點，則橫跨互耦疊點P1
、P2
、G1
、G2
之電性導體216的大小(dimension)會影響虛擬平行四邊形P1
G1
P2
G2
上真實頂點之鄰近互耦疊點P1
、P2
與虛假頂點之鄰近互耦疊點G1
、G2
間的訊號差異量。在本實施例中，計算單元640計算出至少一觸碰位置之步驟係依據一門檻限值(threshold value)比較各電性導體216之複合訊號之變化量，其中各電性導體216之大小決定此門檻限值。在另一較佳實施例中，計算單元640計算出至少一觸碰位置之步驟係包含：依據感測單元630感測所得複合訊號之變化量間的集積度(intensity)區分出至少一群相鄰的互耦疊點；以及依據每一群互耦疊點之訊號變化量而分別計算出至少一觸碰位置其中之一。其中，各頂點基於與鄰近之互耦疊點間的遠近不同，產生互電容複合變化量之鄰近互耦疊點的數量可能為一個或多個。
請再參照第二圖與第六圖，本發明提供一種電容式感測裝置，此電容式感測裝置具有複數條第一、第二導線212、214構成的複數個互耦疊點，並依據此些互耦疊點之互電容性耦合偵測出至少一觸碰位置，其中任兩觸碰位置(例如：P1
與P2
)構成一虛擬平行四邊形P1
G1
P2
G2
上對角的一對真實頂點P1
、P2
，則虛擬平行四邊形P1
G1
P2
G2
之另一對角為一對虛假頂點G1
、G2
，而本實施例之特徵在於更包含：複數個電性導體216，係橫跨此些互耦疊點，且此些電性導體216的大小(dimension)決定真實頂點之鄰近互耦疊點P1
、P2
與虛假頂點之鄰近互耦疊點G1
、G2
間的訊號差異量。此外，本實施例更包含一感測單元630，係感測此些互耦疊點之複合訊號，而各互耦疊點之複合訊號受此些電性導體216之電容性耦合影響，其中各電性導體216分別橫跨此些互耦疊點之一，而各互耦疊點之複合訊號係各電性導體216與其等所橫跨之第一、第二導線212、214之間電容性耦合的訊號。再者，本實施例更包含一計算單元640，係依據感測單元630感測所得複合訊號變化量間的集積度(intensity)區分出至少一群相鄰的互耦疊點，而每一群互耦疊點係分別相應於至少一觸碰位置其中之一。其中，各頂點基於與鄰近之互耦疊點間的遠近不同，產生互電容複合變化量之鄰近互耦疊點的數量可能為一個或多個。
本發明所述之實施例，其等之電性信號可為弦波、方波或其他波形，且亦可以定電流或定電壓之方式提供給第一導線或第二導線，用以偵測第一導線或第二導線上之電壓、電流或電容值，亦即，提供定電壓而感測電壓或是電流；提供定電流而感測電壓或是電流；或是利用上述之任一方式而感測電容，本發明對於第一、第二感測信號或互耦疊點之複合訊號的量測方式並不加以限制。
綜合上述，本發明利用複數個電性導體，使得各觸碰位置鄰近互耦疊點之複合訊號與鬼點鄰近互耦疊點之複合訊號間的差異量明顯加大，電性導體的大小影響差異量的大小，電性導體越大，差異量也越大。因此可以利用一預設範圍來篩選複合訊號或複合訊號變化量落在預設範圍內的互耦疊點。
在本發明之一範例中，預設範圍可以是互耦疊點訊號的範圍，藉此區隔出觸碰位置與鬼點鄰近的互耦疊點。在本發明之另一範例中，預設範圍可以是互耦疊點之訊號變化量的範圍，藉此區隔出觸碰位置與鬼點鄰近的互耦疊點。訊號變化量可以是物件靠近或觸碰觸控面板前的訊號與物件靠近或觸碰觸控面板時的訊號間的變化量。
基於電容式感測的特性，物件位置並不限定在觸碰時才能感測，在靠近或觸碰到上述電容式感測裝置時都可以感測物件位置，上述包含複數條導線相交形成之該些互耦疊點以及分別橫跨或圍繞該些互耦疊點之複數個電性導體可以是被包含在一觸控面板中。因此，如第八圖之步驟812所示，在本發明再一較佳具體實施例中，透過對觸控面板的互電容耦合可以感測該觸控面板上複數個互耦疊點之訊號或訊號變化量。並且如步驟814所示，依據落於一預設範圍之互耦疊點之訊號或訊號變化量可以辨識出靠近或觸碰觸控面板之各物件位置。又如步驟816所示，透過連續地追蹤物件位置，可辨識各物件在觸控面板上的移動是否為一命令手勢。
在本發明之一較佳範例中，命令手勢的辨識可以是連續地記錄各物件位置，藉此建構各物件軌跡。再透過將各物件軌跡與一個或複數個預設手勢比對，來確認是否為手勢命令。各預設手勢可分別對應一命令，當命令手勢被辨識出來時，可依據與命令手勢匹配的預設手勢執行命令。上述手勢命令之辨識可由一個辨識單元950來執行，如第九圖所示。
在本發明之另一較佳範例中，透過對觸控面板的互電容耦合來感測該觸控面板上複數個互耦疊點之訊號或訊號變化量以構成一影像，透過對影像的分析來辨識出各物件位置。在此過程中，可以是依據影像中落於該預設範圍之互耦疊點之訊號或訊號變化量辨識出靠近或觸碰該觸控面板之各物件位置，亦可以是依據落於該預設範圍之互耦疊點之訊號或訊號變化量構成該影像，再辨識出各物件位置。換言之，可以是依據在不同的時間分別建構的複數個影像，透過影像中落於預設範圍之互耦疊點之訊號或訊號變化量來辨識各物件軌跡，亦可以是在不同的時間分別依據訊號或訊號變化量落於預設範圍的互耦疊點構成複數個影像，再辨識各物件軌跡。
上述預設手勢如第十A圖至第十F圖所示，選自下列群組之任意組合：單物件朝一方向移動、單物件旋轉、複數個物件間相對地移動、複數個物件間相對地旋轉、一物件繞另一物件旋轉、複數個物件同方向移動。此外，上述之命令可以是下列群組之任意組合：放大、縮小、旋轉、平移、捲動、剪下、貼上、刪除。
如第十A圖所示，手勢(命令手勢、預設手勢)可以是單物件朝一方向移動，如圖示上的原點代表起始位置，手指為移動位置。同樣地，手勢可以是單物件順時針旋轉或逆時針旋轉(如第十B所示)、L型移動(如第十C圖所示)、V型移動(如地十D圖所示)。另外，手勢也可以是多物件的移動，例如複數個物件間相對地移動，如第十E圖所示，兩個或多個手指彼此靠近或遠離，上數複數個物件可以是同一隻手的手指、不同手的手指或筆之類的其他物件，本發明包含但不加以限制。同樣地，手勢也可以是複數個物件間的旋轉，如第十F圖所示，可以是複數個物件間相對地旋轉或一物件繞另一物件旋轉。另外，手勢也可以是複數個物件同方向移動，如第十G圖所示。
因此，本發明包含但不限於以下範例：當命令手勢為朝一方向移動時，相應的命令可是模擬鍵盤上的方向鍵命令；當命令手勢為單物件旋轉、複數個物件間相對地旋轉、一物件繞另一物件旋轉時，可以是將顯示畫面依旋轉方向轉動一角度；當命令手勢為複數個物件間相對地移動時，可以是在複數個物件間相對地分開時將顯示畫面放大，在複數個物件間相對地靠近時將顯示畫面縮小；以及在複數個在複數個物件同方向移動時平移或捲動顯示畫面。上述舉例之顯示畫面可以是整個畫面、部份畫面或特定圖形。
以上所述僅為本發明之較佳實施例而已，並非用以限定本發明之申請專利範圍；凡其他為脫離本發明所揭示之精神下所完成之等效改變或修飾，均應包含在下述之申請專利範圍。
110、210、400．．．觸控面板
112、212、412．．．第一導線
114、214、432．．．第二導線
216、452．．．電性導體
120、220、320、370．．．電容值影像
410．．．第一導線層
420．．．第一介電層
430．．．第二導線層
440．．．第二介電層
450．．．電性導體層
460．．．第三介電層
610．．．信號單元
620．．．觸控面板
630．．．感測單元
640．．．計算單元
950．．．辨識單元
702、704、706、708．．．一較佳實施例之流程步驟
712、714、716．．．另一較佳實施例之流程步驟
722、724、726．．．又一較佳實施例之流程步驟
812、814、816．．．再一較佳實施例之流程步驟
X1
~X4
．．．對應X座標
Y1
~Y8
．．．對應Y座標
P1
、P2
、TP．．．觸碰處
G1
、G2
．．．鬼點
P1
W1
、P2
W1
、G1
W1
、G2
W1
．．．電容值影像波
P1
W2
、P2
W2
、G1
W2
、G2
W2
．．．電容值影像波
W1
~W8
．．．電容值影像波
d1
~d8
．．．差值
(a)、(b)、(c)、(d)．．．電性導體
第一圖係一習知電容式感測裝置多指觸控操作與電容值影像示意圖；
第二圖係本發明之一較佳實施例多指觸控操作與電容值影像示意圖；
第三A圖係本發明之另一較佳實施例操作與電容值影像示意圖；
第三B圖係本發明之又一較佳實施例操作與電容值影像示意圖；
第四圖係本發明之一較佳實施例之結構分解示意圖；
第五圖係本發明之多個較佳電性導體之結構示意圖；
第六圖係本發明之一較佳實施例之概略系統方塊圖；
第七A圖係本發明之一較佳實施例之動作流程圖；
第七B圖係本發明另一較佳實施例之動作流程圖；
第七C圖係本發明又一較佳實施例之動作流程圖；
第八圖係本發明之再一較佳實施例之動作流程圖；
第九圖係本發明之另一較佳實施例之概略系統方塊圖；以及
第十A圖至第十G圖係本發明之手勢示意圖。
210．．．觸控面板
212．．．第一導線
214．．．第二導線
216．．．電性導體
220．．．電容值影像
X1
~X4
．．．對應X座標
Y1
~Y8
．．．對應Y座標
P1
、P2
．．．觸碰處
G1
、G2
．．．鬼點
P1
W2
、P2
W2
、G1
W2
、G2
W2
．．．電容值影像波
d5
、d6
、d7
、d8
．．．差值
Claims (25)
- 一種電容式感測方法，包含：透過對一觸控面板的互電容耦合以感測該觸控面板上複數個互耦疊點之三種互電容變化的訊號或訊號變化量，在此該三種互電容變化包含一第一互電容變化、一第二互電容變化與一第三互電容變化，該第一互電容變化係介於多數條第一導線之某一條與多數條第二導線之某一條之間，該第二互電容變化係介於該條第一導線與多數個電性導體之至少某一個之間，而該第三互電容變化係介於該條第二導線與該些電性導體之至少某一個之間，其中該些第一導線係沿一第一方向排列而該些第二導線係沿一第二方向排列，其中任一該第一導線係與任一該第二導線相互電性隔離並且任一該第一導線與任一該第二導線係相互交叉而形成一該互耦疊點，其中至少一該電性導體橫跨至少一該互偶疊點，其中該些電性導體決定一預設範圍；依據落於該預設範圍之互耦疊點之該三種互電容變化的訊號或訊號變化量辨識出靠近或觸碰該觸控面板之各物件位置；以及連續依據該各物件位置辨識是否為一命令手勢。
- 如申請專利範圍第1項所述之電容式感測方法，其中該各物件位置係依據一影像辨識出來，該影像係依據落於該預設範圍之互耦疊點之該三種互電容變化的訊號或訊號變化量構成。
- 如申請專利範圍第1項所述之電容式感測方法，其中該各物件位置係依據一影像中落於該預設範圍之互耦疊點辨識出來，該影像係依據該些互耦疊點之該三種互電容變化的訊號或訊號變化 量構成。
- 如申請專利範圍第1項所述之電容式感測方法，其中任兩物件位置構成一虛擬平行四邊形上對角的一對真實頂點，該些電性導體的大小(dimension)決定該虛擬平行四邊形上該對真實頂點之鄰近互耦疊點與另一對虛假頂點之鄰近互耦疊點間的訊號差異量，其中該對虛假頂點之鄰近互耦疊點之該三種互電容變化的訊號或訊號變化量落於該預設範圍外。
- 如申請專利範圍第1項所述之電容式感測方法，其中該命令手勢係複數個預設手勢之一，該些預設手勢係選自下列群組之任意組合：單物件朝一方向移動、單物件旋轉、複數個物件間相對地移動、複數個物件間相對地旋轉、一物件繞另一物件旋轉、複數個物件同方向移動。
- 如申請專利範圍第1項所述之電容式感測方法，更包含當該命令手勢被辨識出來時，依據該命令手勢執行一命令，其中該命令係選自下列群組之任意組合：放大、縮小、旋轉、平移、捲動、剪下、貼上、刪除。
- 一種電容式感測方法，包含：透過對一觸控面板的互電容耦合以感測該觸控面板上複數個互耦疊點之三種互電容變化的訊號或訊號變化量以構成一影像，在此該三種互電容變化包含一第一互電容變化、一第二互電容變化與一第三互電容變化，該第一互電容變化係介於多數條第一導線之某一條與多數條第二導線之某一條之間，該第二互電容變化係介於該條第一導線與多數個電性導體之至少某一個之 間，而該第三互電容變化係介於該條第二導線與該些電性導體之至少某一個之間，其中該些第一導線係沿一第一方向排列而該些第二導線係沿一第二方向排列，其中任一該第一導線係與任一該第二導線相互電性隔離並且任一該第一導線與任一該第二導線係相互交叉而形成一該互耦疊點，其中至少一該電性導體橫跨至少一該互偶疊點，其中該些電性導體決定一預設範圍；依據該影像中落於該預設範圍之互耦疊點之該三種互電容變化的訊號或訊號變化量辨識出靠近或觸碰該觸控面板之各物件位置；以及連續依據該各物件位置辨識是否為一命令手勢。
- 如申請專利範圍第7項所述之電容式感測方法，其中任兩物件位置構成一虛擬平行四邊形上對角的一對真實頂點，該些電性導體的大小決定該虛擬平行四邊形上該對真實頂點之鄰近互耦疊點與另一對虛假頂點之鄰近互耦疊點間的訊號差異量，其中該對虛假頂點之鄰近互耦疊點之該三種互電容變化的訊號或訊號變化量落於該預設範圍外。
- 如申請專利範圍第7項所述之電容式感測方法，其中該命令手勢係複數個預設手勢之一，該些預設手勢係選自下列群組之任意組合：單物件朝一方向移動、單物件旋轉、複數個物件間相對地移動、複數個物件間相對地旋轉、一物件繞另一物件旋轉、複數個物件同方向移動。
- 如申請專利範圍第7項所述之電容式感測方法，更包含當該命令手勢被辨識出來時，依據該命令手勢執行一命令，其中該命 令係選自下列群組之任意組合：放大、縮小、旋轉、平移、捲動、剪下、貼上、刪除。
- 一種電容式感測裝置，包含：一觸控面板，包含多數個電性導體、沿一第一方向排列之多數條第一導線以及沿一第二方向排列之多數條第二導線，其中任一該第一導線係與任一該第二導線相互電性隔離並且任一該第一導線與任一該第二導線係相互交叉而形成一互耦疊點，其中至少一該電性導體橫跨至少一該互偶疊點，其中該些電性導體決定一預設範圍；一感測單元，係透過對該些互耦疊點的互電容耦合以感測該些互耦疊點之三種互電容變化的訊號或訊號變化量，在此該三種互電容變化包含一第一互電容變化、一第二互電容變化與一第三互電容變化，該第一互電容變化係介於該些第一導線之某一條與該些第二導線之某一條之間，該第二互電容變化係介於該條第一導線與該些電性導體之至少某一個之間，而該第三互電容變化係介於該條第二導線與該些電性導體之至少某一個之間，並且依據落於該預設範圍之互耦疊點之該三種互電容變化的訊號或訊號變化量辨識出靠近或觸碰該觸控面板之各物件位置；以及一辨識單元，係連續依據該各物件位置辨識是否為一命令手勢。
- 如申請專利範圍第11項所述之電容式感測裝置，其中該感測單元係依據落於該預設範圍之互耦疊點之訊該三種互電容變化的號或訊號變化量構成一影像，該各物件位置係依據該影像辨識 出來。
- 如申請專利範圍第11項所述之電容式感測裝置，其中該感測單元係依據該些互耦疊點之該三種互電容變化的訊號或訊號變化量構成一影像，該各物件位置係依據該影像中落於該預設範圍之互耦疊點辨識出來。
- 如申請專利範圍第11項所述之電容式感測裝置，其中該辨識單元係連續依據該各物件位置產生各物件軌跡，並且依據該各物件軌跡比對複數個預設手勢之態樣以判斷是否為該命令手勢。
- 如申請專利範圍第11項所述之電容式感測裝置，其中任兩物件位置構成一虛擬平行四邊形上對角的一對真實頂點，該些電性導體的大小決定該虛擬平行四邊形上該對真實頂點之鄰近互耦疊點與另一對虛假頂點之鄰近互耦疊點間的訊號差異量，其中該對虛假頂點之鄰近互耦疊點之該三種互電容變化的訊號或訊號變化量落於該預設範圍外。
- 如申請專利範圍第11項所述之電容式感測裝置，其中該命令手勢係複數個預設手勢之一，該些預設手勢係選自下列群組之任意組合：單物件朝一方向移動、單物件旋轉、複數個物件間相對地移動、複數個物件間相對地旋轉、一物件繞另一物件旋轉、複數個物件同方向移動。
- 如申請專利範圍第11項所述之電容式感測裝置，更包含當該命令手勢被辨識出來時，依據該命令手勢執行一命令，其中該命令係選自下列群組之任意組合：放大、縮小、旋轉、平移、捲動、剪下、貼上、刪除。
- 一種電容式感測裝置，包含：一觸控面板，包含多數個電性導體、沿一第一方向排列之多數條第一導線以及沿一第二方向排列之多數條第二導線，其中任一該第一導線係與任一該第二導線相互電性隔離並且任一該第一導線與任一該第二導線係相互交叉而形成一互耦疊點，其中至少一該電性導體橫跨至少一該互偶疊點，其中該些電性導體決定一預設範圍；一感測單元，係透過對該些互耦疊點互電容耦合以感測該些互耦疊點之三種互電容變化的訊號或訊號變化量，在此該三種互電容變化包含一第一互電容變化、一第二互電容變化與一第三互電容變化，該第一互電容變化係介於該些第一導線之某一條與該些第二導線之某一條之間，該第二互電容變化係介於該條第一導線與該些電性導體之至少某一個之間，而該第三互電容變化係介於該條第二導線與該些電性導體之至少某一個之間，並且依據落於該預設範圍之互耦疊點之該三種互電容變化的訊號或訊號變化量構成一影像；以及一辨識單元，係依據複數個該影像辨識出靠近或觸碰該觸控面板之各物件軌跡，並且辨識該各物件軌跡是否為一命令手勢。
- 如申請專利範圍第18項所述之電容式感測裝置，其中任兩物件位置構成一虛擬平行四邊形上對角的一對真實頂點，該些電性導體的大小決定該虛擬平行四邊形上該對真實頂點之鄰近互耦疊點與另一對虛假頂點之鄰近互耦疊點間的訊號差異量，其中該對虛假頂點之鄰近互耦疊點之該三種互電容變化的訊號或訊 號變化量落於該預設範圍外。
- 如申請專利範圍第18項所述之電容式感測裝置，其中該命令手勢係複數個預設手勢之一，該些預設手勢係選自下列群組之任意組合：單物件朝一方向移動、單物件旋轉、複數個物件間相對地移動、複數個物件間相對地旋轉、一物件繞另一物件旋轉、複數個物件同方向移動。
- 如申請專利範圍第18項所述之電容式感測裝置，更包含當該命令手勢被辨識出來時，依據該命令手勢執行一命令，其中該命令係選自下列群組之任意組合：放大、縮小、旋轉、平移、捲動、剪下、貼上、刪除。
- 一種電容式感測裝置，包含：一觸控面板，包含多數個電性導體、沿一第一方向排列之多數條第一導線以及沿一第二方向排列之多數條第二導線，其中任一該第一導線係與任一該第二導線相互電性隔離並且任一該第一導線與任一該第二導線係相互交叉而形成一互耦疊點，其中至少一該電性導體橫跨至少一該互偶疊點，其中該些電性導體決定一預設範圍；一感測單元，係透過對該些互耦疊點互電容耦合以感測該些互耦疊點之三種互電容變化的訊號或訊號變化量所構成之一影像，在此該三種互電容變化包含一第一互電容變化、一第二互電容變化與一第三互電容變化，該第一互電容變化係介於該些第一導線之某一條與該些第二導線之某一條之間，該第二互電容變化係介於該條第一導線與該些電性導體之至少某一個之間，而 該第三互電容變化係介於該條第二導線與該些電性導體之至少某一個之間；以及一辨識單元，係依據複數個該影像中落於該預設範圍之互耦疊點辨識出靠近或觸碰該觸控面板之各物件軌跡，並且辨識該各物件軌跡是否為一命令手勢。
- 如申請專利範圍第22項所述之電容式感測裝置，其中任兩物件位置構成一虛擬平行四邊形上對角的一對真實頂點，該些電性導體的大小決定該虛擬平行四邊形上該對真實頂點之鄰近互耦疊點與另一對虛假頂點之鄰近互耦疊點間的訊號差異量，其中該對虛假頂點之鄰近互耦疊點之該三種互電容變化的訊號或訊號變化量落於該預設範圍外。
- 如申請專利範圍第22項所述之電容式感測裝置，其中該命令手勢係複數個預設手勢之一，該些預設手勢係選自下列群組之任意組合：單物件朝一方向移動、單物件旋轉、複數個物件間相對地移動、複數個物件間相對地旋轉、一物件繞另一物件旋轉、複數個物件同方向移動。
- 如申請專利範圍第22項所述之電容式感測裝置，更包含當該命令手勢被辨識出來時，依據該命令手勢執行一命令，其中該命令係選自下列群組之任意組合：放大、縮小、旋轉、平移、捲動、剪下、貼上、刪除。
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| US10362608P | 2008-10-08 | 2008-10-08 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| TW201015414A TW201015414A (en) | 2010-04-16 |
| TWI502450B true TWI502450B (zh) | 2015-10-01 |
Family
ID=42417725
Family Applications (2)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| TW098117389A TWI533184B (zh) | 2008-10-08 | 2009-05-26 | 辨別觸碰之觸控方法及裝置 |
| TW098117390A TWI502450B (zh) | 2008-10-08 | 2009-05-26 | 電容式感測裝置及方法 |
Family Applications Before (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| TW098117389A TWI533184B (zh) | 2008-10-08 | 2009-05-26 | 辨別觸碰之觸控方法及裝置 |
Country Status (2)
| Country | Link |
|---|---|
| CN (3) | CN101714048B (zh) |
| TW (2) | TWI533184B (zh) |
Families Citing this family (28)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN102043551B (zh) | 2009-10-09 | 2013-05-08 | 禾瑞亚科技股份有限公司 | 电容式位置侦测的方法与装置 |
| US8427451B2 (en) * | 2009-12-30 | 2013-04-23 | Wacom Co., Ltd. | Multi-touch sensor apparatus and method |
| US9391607B2 (en) | 2010-04-22 | 2016-07-12 | Qualcomm Technologies, Inc. | Use of random sampling technique to reduce finger-coupled noise |
| US8493356B2 (en) | 2010-04-22 | 2013-07-23 | Maxim Integrated Products, Inc. | Noise cancellation technique for capacitive touchscreen controller using differential sensing |
| TWI469021B (zh) * | 2010-06-02 | 2015-01-11 | Tpk Touch Solutions Xiamen Inc | Projection method of projection capacitive touch panel |
| CN101887336A (zh) * | 2010-07-15 | 2010-11-17 | 汉王科技股份有限公司 | 多点触控装置及对其进行多点触控检测的方法 |
| CN102375587B (zh) * | 2010-08-15 | 2015-03-11 | 宸鸿科技(厦门)有限公司 | 侦测多触摸点的真坐标的触控面板及侦测方法 |
| CN103079470B (zh) * | 2010-08-16 | 2016-02-10 | 皇家飞利浦电子股份有限公司 | 扫描开始和/或结束位置标识器 |
| TWM422119U (en) * | 2010-12-30 | 2012-02-01 | Egalax Empia Technology Inc | Capacitive touch screen |
| CN102609159A (zh) * | 2011-01-18 | 2012-07-25 | 松翰科技股份有限公司 | 电容式触控装置及其感测装置与多触碰点检测方法 |
| CN102736770B (zh) * | 2011-03-31 | 2016-03-09 | 比亚迪股份有限公司 | 多点手势识别方法及多点平移手势的识别装置 |
| TWI452506B (zh) | 2011-04-14 | 2014-09-11 | Elan Microelectronics Corp | Segmentation of Waveform Overlapping in Single Direction of Capacitive Touch |
| DE102011017383A1 (de) * | 2011-04-18 | 2012-10-18 | Ident Technology Ag | OLED-Interface |
| CN102789333A (zh) * | 2011-05-19 | 2012-11-21 | 义隆电子股份有限公司 | 触控装置传送坐标的方法及触控装置传送位移向量的方法 |
| CN102810031A (zh) * | 2011-05-30 | 2012-12-05 | 升达科技股份有限公司 | 多点触碰侦测方法及其装置 |
| CN103718144A (zh) * | 2011-08-09 | 2014-04-09 | 瑟克公司 | 高分辨率无鬼影手势 |
| TWI566154B (zh) * | 2011-10-14 | 2017-01-11 | 禾瑞亞科技股份有限公司 | 觸控面板的偵測裝置與方法 |
| CN103164054B (zh) * | 2011-12-19 | 2016-02-17 | 禾瑞亚科技股份有限公司 | 无线电容式书写装置 |
| US9262010B2 (en) * | 2012-09-05 | 2016-02-16 | Synaptics Incorporated | Systems and methods for reducing effects of interference in input devices |
| CN103970328B (zh) * | 2013-02-05 | 2016-12-28 | 株式会社理光 | 触摸式或非触摸式的多输入点控制指令检测方法和装置 |
| CN103995626B (zh) * | 2013-02-19 | 2018-05-29 | 比亚迪股份有限公司 | 一种用于触摸屏的触摸点定位方法及装置 |
| CN103226424A (zh) * | 2013-04-17 | 2013-07-31 | 敦泰科技有限公司 | 电容式触控设备检测方法和装置以及电容式触控设备 |
| CN104375682A (zh) * | 2013-08-16 | 2015-02-25 | 奇景光电股份有限公司 | 执行近距检测的触控面板及其使用方法 |
| TWI514229B (zh) * | 2013-11-22 | 2015-12-21 | Elan Microelectronics Corp | 圖形編輯方法以及電子裝置 |
| DE112016006987T5 (de) | 2016-06-21 | 2019-04-04 | Intel Corporation | Eingabevorrichtung für elektronische vorrichtungen |
| CN108279846A (zh) * | 2018-01-31 | 2018-07-13 | 北京硬壳科技有限公司 | 一种手势模型建立、手势认证的方法及装置 |
| TWI749967B (zh) * | 2020-06-17 | 2021-12-11 | 禾瑞亞科技股份有限公司 | 觸控處理方法、裝置與觸控系統 |
| TWI749596B (zh) * | 2020-06-17 | 2021-12-11 | 禾瑞亞科技股份有限公司 | 觸控處理方法、裝置與觸控系統 |
Citations (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US20070046643A1 (en) * | 2004-08-06 | 2007-03-01 | Hillis W Daniel | State-Based Approach to Gesture Identification |
| US20070229464A1 (en) * | 2006-03-30 | 2007-10-04 | Apple Computer, Inc. | Force Imaging Input Device and System |
| US20070296709A1 (en) * | 2006-06-27 | 2007-12-27 | Cypress Semiconductor Corporation | Apparatus and method for detecting multiple buttons with one pin |
| US20080150906A1 (en) * | 2006-12-22 | 2008-06-26 | Grivna Edward L | Multi-axial touch-sensor device with multi-touch resolution |
Family Cites Families (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US7663607B2 (en) * | 2004-05-06 | 2010-02-16 | Apple Inc. | Multipoint touchscreen |
| CN100419657C (zh) * | 2005-06-20 | 2008-09-17 | 义隆电子股份有限公司 | 电容式触控板的多物件检测方法 |
| CN100535844C (zh) * | 2007-08-08 | 2009-09-02 | 友达光电股份有限公司 | 触控式面板 |
-
2009
- 2009-05-26 TW TW098117389A patent/TWI533184B/zh active
- 2009-05-26 TW TW098117390A patent/TWI502450B/zh active
- 2009-07-24 CN CN2009101608102A patent/CN101714048B/zh active Active
- 2009-07-24 CN CN2009101608117A patent/CN101714036B/zh active Active
- 2009-07-24 CN CN2009101608085A patent/CN101714047B/zh active Active
Patent Citations (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US20070046643A1 (en) * | 2004-08-06 | 2007-03-01 | Hillis W Daniel | State-Based Approach to Gesture Identification |
| US20070229464A1 (en) * | 2006-03-30 | 2007-10-04 | Apple Computer, Inc. | Force Imaging Input Device and System |
| US20070296709A1 (en) * | 2006-06-27 | 2007-12-27 | Cypress Semiconductor Corporation | Apparatus and method for detecting multiple buttons with one pin |
| US20080150906A1 (en) * | 2006-12-22 | 2008-06-26 | Grivna Edward L | Multi-axial touch-sensor device with multi-touch resolution |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| CN101714036B (zh) | 2012-05-30 |
| TW201015413A (en) | 2010-04-16 |
| TW201015414A (en) | 2010-04-16 |
| TWI533184B (zh) | 2016-05-11 |
| CN101714048A (zh) | 2010-05-26 |
| CN101714048B (zh) | 2012-07-04 |
| CN101714036A (zh) | 2010-05-26 |
| CN101714047B (zh) | 2012-11-28 |
| CN101714047A (zh) | 2010-05-26 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| TWI502450B (zh) | 電容式感測裝置及方法 | |
| TWI442293B (zh) | 電容式感測裝置及方法 | |
| TWI506486B (zh) | 分析位置的方法與裝置 | |
| TWI585621B (zh) | 分辨單觸或雙觸的方法與裝置 | |
| EP2904478B1 (en) | Touch sensors and touch sensing methods | |
| JP5613248B2 (ja) | デュアル差動感知装置及びその方法 | |
| US9080919B2 (en) | Method and device for position detection with palm rejection | |
| TWI632490B (zh) | 觸控處理器與方法 | |
| TWI496041B (zh) | 二維觸碰感測器 | |
| TWI516999B (zh) | 觸碰感測方法、處理器與系統 | |
| US20120019449A1 (en) | Touch sensing on three dimensional objects | |
| US20090184939A1 (en) | Graphical object manipulation with a touch sensitive screen | |
| CN102043556A (zh) | 位置侦测的方法与装置 | |
| US9152285B2 (en) | Position detection of an object within proximity of a touch sensor | |
| JP2013501291A (ja) | タッチセンサ | |
| JP2011503709A (ja) | デジタイザのためのジェスチャ検出 | |
| JP2014510974A (ja) | タッチセンシティブスクリーン | |
| JP2013506211A (ja) | 静電容量式タッチスクリーン | |
| WO2011035527A1 (zh) | 位置侦测的装置及方法 | |
| US11281329B2 (en) | Device for detecting touch | |
| TWI666583B (zh) | 觸控處理器與觸控方法 | |
| WO2013179042A2 (en) | Multi-touch sensing panel | |
| CN113672112A (zh) | 触控装置及其触控点确定方法 |