TWI464380B

TWI464380B - 儲存設備旋轉振動測試系統及方法

Info

Publication number: TWI464380B
Application number: TW098142185A
Authority: TW
Inventors: Sheng Han Lin
Original assignee: Hon Hai Prec Ind Co Ltd
Priority date: 2009-12-10
Filing date: 2009-12-10
Publication date: 2014-12-11
Also published as: TW201120429A

Description

儲存設備旋轉振動測試系統及方法

本發明涉及一種儲存設備測試系統及方法，尤其關於一種儲存設備旋轉振動測試系統及方法。

在資訊技術迅速發展的今天，資料儲存需求日益增加，儲存器(例如硬碟)向著高容量、高轉速的趨勢發展。為了儲存更多的資料，儲存設備中包含的儲存器越來越多。這種情況下，在對一個儲存設備讀/寫資料時，該儲存設備內安裝的儲存器容易受到自身的旋轉振動(例如硬碟驅動器產生的旋轉振動)或者該儲存設備的風扇的旋轉振動的影響而出現不穩定的狀態，從而影響該儲存設備的性能。

為了正確評估儲存器及風扇的旋轉振動對儲存設備造成的影響，需要對儲存設備進行旋轉振動測試，以便採取適當的措施降低旋轉振動帶來的影響。

鑒於以上內容，有必要提供一種儲存設備旋轉振動測試系統及方法，能夠快速有效地對儲存設備實施旋轉振動測試。

一種儲存設備旋轉振動測試系統，運行於與儲存設備通訊連接的主機中，所述儲存設備包括至少一個儲存器以及至少一個風扇，該系統包括：設置模組，用於設置儲存設備的測試參數，所述測試參數包括待測的儲存器、待測的風扇轉速、待測的工作負載以及測試時間；選擇模組，用於從待測的儲存器中逐一選擇儲存器；風扇控制模組，用於從待測的風扇轉速中逐一選擇風扇轉速，並且控制風扇以該選擇的轉速運轉；負載控制模組，用於從待測的工作負載中逐一選擇工作負載，並且對儲存設備產生該選擇的工作負載；測試模組，用於根據設置的測試時間，在選擇的風扇轉速以及工作負載下測試選擇的儲存器的讀寫性能；及儲存模組，用於儲存選擇的儲存器的讀寫性能的測試資料。

一種儲存設備旋轉振動測試方法，所述儲存設備包括至少一個儲存器以及至少一個風扇，該方法包括步驟：設置儲存設備的測試參數，所述測試參數包括待測的儲存器、待測的風扇轉速、待測的工作負載以及測試時間；從待測的儲存器中選擇一個儲存器；從待測的風扇轉速中選擇一個風扇轉速；控制風扇以該選擇的轉速運轉；從待測的工作負載中選擇一個工作負載；對儲存設備產生該選擇的工作負載；根據設置的測試時間，在選擇的風扇轉速以及工作負載下測試選擇的儲存器的讀寫性能；儲存選擇的儲存器的讀寫性能的測試資料；若有其他待測的工作負載，則返回選擇工作負載的步驟；若有其他待測的風扇轉速，則返回選擇風扇轉速的步驟；及若有其他待測的儲存器，則返回選擇儲存器的步驟。

本發明設置儲存設備的測試參數，根據設置的測試參數模擬各種工作環境，從而快速有效地實現對儲存設備的旋轉振動測試。

10‧‧‧儲存設備旋轉振動測試系統

11‧‧‧主機

12‧‧‧儲存設備

13A-13X‧‧‧儲存器

14‧‧‧風扇

15‧‧‧儲存區

16‧‧‧處理器

17‧‧‧顯示器

200‧‧‧設置模組

210‧‧‧選擇模組

220‧‧‧風扇控制模組

230‧‧‧負載控制模組

240‧‧‧測試模組

250‧‧‧儲存模組

260‧‧‧輸出模組

圖1係本發明儲存設備旋轉振動測試系統較佳實施例的運行環境示意圖。

圖2係本發明儲存設備旋轉振動測試系統的功能模組圖。

圖3係本發明儲存設備旋轉振動測試方法較佳實施例的流程圖。

參閱圖1所示，係本發明儲存設備旋轉振動測試系統較佳實施例的運行環境示意圖。所述儲存設備旋轉振動測試系統10運行於主機11中。該主機11還包括儲存區15、處理器16及顯示器17。所述儲存區15儲存該儲存設備旋轉振動測試系統10的程式指令以及該儲存設備旋轉振動測試系統10運行過程中產生的資料。所述處理器16執行該儲存設備旋轉振動測試系統10。所述顯示器17提供一個用戶介面，以顯示該儲存設備旋轉振動測試系統10的運行結果。所述主機11與儲存設備12通訊連接。該儲存設備12包括儲存器13A-13X及風扇14。當主機11對儲存設備12讀/寫資料時，儲存器13A-13X及風扇14的運行(例如儲存器13A-13X的驅動器的旋轉以及風扇14的旋轉)產生旋轉振動，該旋轉振動導致儲存器13A-13X讀寫性能的下降。所述儲存器13A-13X包括硬碟、光碟以及磁帶。所述風扇14可根據主機11的轉速控制命令以不同的轉速運轉，以調節儲存設備12的溫度。

參閱圖2所示，係本發明儲存設備旋轉振動測試系統10的功能模組圖。所述儲存設備旋轉振動測試系統10包括設置模組200、選擇模組210、風扇控制模組220、負載控制模組230、測試模組240、儲存模組250及輸出模組260。

所述設置模組200用於設置儲存設備12的測試參數。所述測試參數包括待測的儲存設備12的儲存器、待測的風扇轉速、待測的工作負載以及測試時間。所述工作負載用以模擬實際工作環境中儲存設備12收到的各種讀/寫資料請求。該工作負載可以針對選定的儲存器，例如，對選定的儲存器隨機寫入4KB的資料塊。該工作負載還可以針對包括選定的儲存器在內的多個儲存器，例如，對所有待測的儲存器隨機寫入64KB的資料塊。在本實施例中，待測的儲存器包括儲存設備12的24個儲存器13A-13X(例如：24個硬碟)；待測的風扇轉速包括1200轉/分、2400轉/分及3600轉/分；待測的工作負載包括對選定的儲存器隨機寫入4KB的資料塊、對選定的儲存器隨機寫入64KB的資料塊，對選定的儲存器隨機寫入256KB的資料塊、對選定的儲存器連續寫入256KB的資料塊、對選定的儲存器隨機讀取4KB的資料塊、對所有待測的儲存器隨機寫入64KB的資料塊以及對所有待測的儲存器隨機寫入256KB的資料塊；測試時間為在對每個待測的儲存器，在每個確定條件下(即選定風扇轉速以及工作負載)測試6次，每次測試一分鐘。

所述選擇模組210用於從待測的儲存器中逐一選擇儲存器。例如選擇模組從儲存器13A-13X中逐一選擇儲存器。

所述風扇控制模組220用於從待測的風扇轉速中逐一選擇風扇轉速，對於每個選擇的風扇轉速，生成轉速控制命令併發送給風扇14，從而控制風扇14以該選擇的轉速運轉。例如，風扇控制模組220從待測的風扇轉速中選擇1200轉/分，並且控制風扇14以1200轉/分的轉速運轉。

所述負載控制模組230用於從待測的工作負載中逐一選擇工作負載，對於每個選擇的工作負載，對儲存設備12產生該選擇的工作負載。例如，負載控制模組230從待測的工作負載中選擇對選定的儲存器隨機寫入4KB的資料塊，並且對選擇的儲存器(例如：儲存器13A)產生隨機寫入4KB的資料塊的工作負載。

所述測試模組240用於根據設置的測試時間，在選擇的風扇轉速以及工作負載下測試選擇的儲存器的讀寫性能。在本實施例中，測試模組240測試選擇的儲存器的每秒讀/寫操作次數，以表示該選擇的儲存器的讀寫性能。例如，測試模組240在風扇轉速為1200轉/分，對儲存器13A隨機寫入4KB的資料塊的條件下，對測試6次儲存器13A的每秒讀/寫操作次數，每次測試一分鐘，測得儲存器13A的6個每秒讀/寫操作次數，分別為234.67、234.05、234.34、234.43、234.38與234.41。在本實施例中，測試模組240對測得的最後4個每秒讀/寫操作次數求平均值，作為選擇的儲存器在選擇條件下的平均每秒讀/寫操作次數。例如，測試模組240對234.34、234.43、234.38及234.41求平均值，得到儲存器13A在風扇轉速為1200轉/分，工作負載為對儲存器13A隨機寫入4KB的資料塊條件下的平均每秒讀/寫操作次數，即234.39。

所述儲存模組250用於將選擇的儲存器的讀寫性能的測試資料儲存到儲存區15。在本實施例中，儲存模組250按照指定的儲存路徑儲存所述選擇的儲存器的讀寫性能的測試資料。例如，將所述選擇的儲存器的讀寫性能的測試資料儲存至F：\RVTest\Result。

所述輸出模組260用於輸出選擇的儲存器的讀寫性能的測試資料。在本實施例中，輸出模組260將選擇的儲存器的讀寫性能的測試資料輸出到顯示器17上。例如，輸出模組260顯示儲存器13A的 6個每秒讀/寫操作次數234.67、234.05、234.34、234.43、234.38與234.41，以及平均每秒讀/寫操作次數234.39。

參閱圖3所示，係本發明儲存設備旋轉振動測試方法較佳實施例的流程圖。

步驟S301，設置模組200設置儲存設備12的測試參數。所述測試參數包括待測的儲存設備12的儲存器、待測的風扇轉速、待測的工作負載以及測試時間。所述工作負載用以模擬實際工作環境中儲存設備12收到的各種讀/寫資料請求。該工作負載可以針對選定的儲存器，例如，對選定的儲存器隨機寫入4KB的資料塊。該工作負載還可以針對包括選定的儲存器在內的多個儲存器，例如，對所有待測的儲存器隨機寫入64KB的資料塊。在本實施例中，待測的儲存器包括儲存設備12的24個儲存器13A-13X(例如：24個硬碟)；待測的風扇轉速包括1200轉/分、2400轉/分及3600轉/分；待測的工作負載包括對選定的儲存器隨機寫入4KB的資料塊、對選定的儲存器隨機寫入64KB的資料塊，對選定的儲存器隨機寫入256KB的資料塊、對選定的儲存器連續寫入256KB的資料塊、對選定的儲存器隨機讀取4KB的資料塊、對所有待測的儲存器隨機寫入64KB的資料塊以及對所有待測的儲存器隨機寫入256KB的資料塊；測試時間為在對每個待測的儲存器，在每個確定條件下(即選定風扇轉速以及工作負載)測試6次，每次測試一分鐘。

步驟S302，選擇模組210從待測的儲存器中選擇一個儲存器。例如，從待測的儲存器13A-13X中選擇儲存器13A。

步驟S303，風扇控制模組220從待測的風扇轉速中選擇一個風扇轉速。例如，風扇控制模組220從待測的風扇轉速1200轉/分、 2400轉/分及3600轉/分中選擇風扇轉速1200轉/分。

步驟S304，風扇控制模組220根據選擇的風扇轉速，生成轉速控制命令併發送給風扇14，從而控制風扇14以該選擇的轉速運轉。例如，風扇控制模組220控制風扇14以1200轉/分的轉速運轉。

步驟S305，負載控制模組230從待測的工作負載中選擇一個工作負載。例如，負載控制模組230從待測的工作負載中選擇對選定的儲存器隨機寫入4KB的資料塊。

步驟S306，負載控制模組230對儲存設備12產生該選擇的工作負載。例如，負載控制模組230對儲存器13A隨機寫入4KB的資料塊。或者，負載控制模組230對儲存器13A-13X隨機寫入64KB的資料塊。

步驟S307，測試模組240根據設置的測試時間，在選擇的風扇轉速以及工作負載下測試選擇的儲存器的讀寫性能。在本實施例中，測試模組240測試選擇的儲存器的每秒讀/寫操作次數，以表示該選擇的儲存器的讀寫性能。例如，測試模組240在風扇轉速為1200轉/分，對儲存器13A隨機寫入4KB的資料塊的條件下，測試6次儲存器13A的每秒讀/寫操作次數，每次測試一分鐘，測得儲存器13A的6個每秒讀/寫操作次數，分別為234.67、234.05、234.34、234.43、234.38及234.41。在本實施例中，測試模組240對測得的最後4個每秒讀/寫操作次數求平均值，作為選擇的儲存器在選擇條件下的平均每秒讀/寫操作次數。例如，測試模組240對234.34、234.43、234.38及234.41求平均值，得到儲存器13A在風扇轉速為1200轉/分，工作負載為對儲存器13A隨機寫入4KB的資料塊條件下的平均每秒讀/寫操作次數，即234.39。

步驟S308，儲存模組250將選擇的儲存器的讀寫性能的測試資料儲存到儲存區15。在本實施例中，儲存模組250按照指定的儲存路徑儲存所述選擇的儲存器的讀寫性能的測試資料。例如，將所述選擇的儲存器的讀寫性能的測試資料儲存至F：\RVTest\Result。在本實施例中，儲存模組250還將選擇的儲存器的讀寫性能的測試資料輸出到顯示器17上。

步驟S309，輸出模組260輸出選擇的儲存器的讀寫性能的測試資料。在本實施例中，輸出模組260將選擇的儲存器的讀寫性能的測試資料輸出到顯示器17上。例如，輸出模組260顯示儲存器13A的6個每秒讀/寫操作次數234.67、234.05、234.34、234.43、234.38與234.41，以及平均每秒讀/寫操作次數234.39。

步驟S310，判斷是否有其他待測的工作負載。如果有其他待測的工作負載，則返回步驟S305，負載控制模組230從待測的工作負載中選擇下一個工作負載。

如果沒有其他待測的工作負載，則步驟S311，判斷是否有其他待測的風扇轉速。如果有其他待測的風扇轉速，則返回步驟S304，風扇控制模組220從待測的風扇轉速中選擇下一個風扇轉速。

如果沒有其他待測的風扇轉速，則步驟S312，判斷是否有其他待測的儲存器。如果有其他待測的儲存器，則返回步驟S303，從待測的儲存器中選擇下一個儲存器。如果所有待測的儲存器都已測試完畢，則流程結束。

綜上所述，本發明符合發明專利要件，爰依法提出專利申請。惟，以上所述者僅為本發明之較佳實施例，本發明之範圍並不以上述實施例為限，舉凡熟悉本案技藝之人士援依本發明之精神所作之等效修飾或變化，皆應涵蓋於以下申請專利範圍內。