CN102201245A - 光盘的记录品质评价方法和光盘存储装置 - Google Patents

Abstract

本发明提供光盘的记录品质评价方法和光盘存储装置，用短时间对记录在光盘的数据的品质的经时劣化进行推定，并预测已记录的数据的可保存期间。在光盘(101)的数据区域(200)记录用户数据(U)时，在测试区域210记录包含信号电平小于基准值的成分的测试信号T。在规定的时间经过的时间点，再现测试区域的测试信号T，根据其评价结果推定用户数据U的品质劣化。或者每次在数据区域200记录或者再现用户数据U时，在测试区域210反复记录或者再现测试信号T。在规定的时刻，再现测试区域的测试信号T，根据其评价结果推定用户数据U的品质劣化。

Description

光盘的记录品质评价方法和光盘存储装置

技术领域

本发明涉及光盘的记录品质评价方法和光盘存储装置，特别涉及用短时间评价已经记录在光盘的数据的品质劣化的技术。

背景技术

在光盘中记录数据并长期保存的情况下，需要评价所记录的数据的品质是否发生经时劣化。如果确认品质发生劣化的情况下，需要将数据改写到其他光盘等的作业。品质评价能够通过对光盘上已记录的数据进行再现检查判定劣化程度。该情况下，如果像在记录时进行的验证处理一样对所有记录的数据进行检查，则会花费过多时间，没有效率，因而要求短时间进行评价的方法。

为了缩短验证处理的时间，提出了以下方法。在专利文献1中，记载有以预先设定的间隔进行验证处理，另外根据验证的结果改变进行验证处理的间隔。在专利文献2中，记载有选择进行验证的记录层，以所选择的记录层中位于最外周的地址为基准确定进行验证的范围。在专利文献3中，记载有根据从光盘读出的信息检索生成日期最早的信息，通过将该信息在原有的记录扇区进行记录再现来判定光盘的品质状态。

专利文献1：日本特开2004-185477号公报

专利文献2：日本特开2009-181621号公报

专利文献3：日本特开2000-163881号公报

发明内容

将记录在光盘的数据长期保存的情况下，需要用短时间评价该时间点的经时劣化，推定光盘内的最大劣化量。当最大劣化量超过容许值的情况下，需要实行改写到其他光盘等的对策。

专利文献1的方法是对盘内的区域隔开间隔地评价品质的方法，评价的区域未必能表现出最大劣化量。专利文献2的方法选择通常易于产生缺陷的光外周附近进行评价，在此以外的区域具有劣化较大的部位的情况下会将其遗漏。专利文献3的方法是以生成日期越早的信息劣化越大为前提成立的，为了检索生成日期最早的信息也会花费时间，此外不适用于信息的生成日期在盘内相同的情况。

在任一种方法中，因为评价的数据是保存在光盘中后使用的数据，即使认为有劣化，如果劣化程度较大，可能无法还原原有的数据。为了能够还原数据，优选预测已记录完成的数据的能够保存的期间，在劣化量较小的阶段实行数据的改写等的对策。

本发明的目的在于提供一种光盘的记录品质评价方法和光盘存储装置，其能够用短时间推定记录在光盘的数据的品质的经时劣化，并且能够预测已记录完成的数据的能够保存的期间。

本发明为对记录在光盘的数据的品质劣化进行评价的记录品质评价方法，将用户数据记录在光盘的数据区域时，在该光盘的测试区域记录包含信号电平小于基准值的成分的测试信号，在经过规定的时间的时间点，再现记录在上述测试区域中的上述测试信号，根据该测试信号的品质的评价结果推定上述用户数据的品质劣化。

此外本发明的记录品质评价方法为，每次在光盘的数据区域记录或者再现用户数据时，在该光盘的测试区域反复记录或者再现测试信号，在规定的时刻，再现记录在上述测试区域的上述测试信号，根据该测试信号的品质的评价结果推定上述用户数据的品质劣化。

此处，上述测试信号改变信号的比特长度或者记录功率使信号电平阶段性地变化，基于该测试信号的品质劣化与其信号电平相应地加速，推定上述用户数据的品质劣化。

本发明为光盘存储装置，其将数据记录在光盘，并且评价已记录的数据的品质劣化，构成为包括在上述光盘记录和再现数据的记录再现部、和评价所再现的数据的品质的品质评价部，上述记录再现部在上述光盘记录用户数据时，在该光盘的测试区域记录包含信号电平小于基准值的成分的测试信号，上述记录再现部在经过规定的时间的时间点，再现记录在上述测试区域的上述测试信号，上述品质评价部根据所再现的测试信号的品质的评价结果推定上述用户数据的品质劣化。

此外，本发明的光盘存储装置构成为，上述记录再现部每次在上述光盘记录或者再现用户数据时，在该光盘的测试区域反复记录或者再现测试信号，上述记录再现部在规定的时刻，再现记录在上述测试区域的上述测试信号，上述品质评价部根据所再现的测试信号的品质的评价结果推定上述用户数据的品质劣化。

根据本发明，能够用短时间推定记录在光盘的数据的品质的经时劣化，并且预测已记录的数据的可保存的期间，因此能够稳定地保存记录在光盘的数据。

附图说明

图1是说明本发明的光盘的记录品质评价方法的第一实施例(实施例1)的图。

图2A是表示图1的记录品质评价方法使用的测试信号的示例的图。

图2B是示意地说明测试信号的劣化的加速系数的图。

图3是表示本发明的光盘存储装置的第一实施例(实施例1)的结构图。

图4是说明本发明的光盘的记录品质评价方法的第二实施例(实施例2)的图。

图5是说明图4的记录品质评价方法的变形例的图。

图6是表示本发明的光盘存储装置的第二实施例(实施例2)的结构图。

图7是表示图4的记录品质评价方法的流程的流程图。

符号说明

10……盘交换部

11……盘加载部

12……交换控制部

20……盘驱动部

21……光拾取器

22……激光驱动部

23……记录信号处理部

24……再现信号处理部

25……驱动控制器

26……外部命令计数器

27……内部计数器

28……计数器存储器

30……个人计算机(PC)部

31……主计算机

32……显示部

33……评价时刻控制部

100……光盘介质

101……光盘

200……数据区域

201……数据部

202……数据管理部

210……测试区域

具体实施方式

以下，使用附图说明本发明的实施方式。实施例1是适用于将数据记录到光盘后，维持原状长期保存的情况的方法。实施例2是适用于将数据记录到光盘后，频繁地进行数据的记录(overwrite：重写)或者再现的情况的方法。

【实施例1】

图1是说明本发明的光盘的记录品质评价方法的第一实施例的图。图1中示意地表示了本实施例使用的光盘101的记录区域，具有记录用户数据的数据区域200，和用于进行记录品质评价的特定的区域(以下称为测试区域210)。测试区域210能够使用例如配置在数据区域200的内周一侧和外周一侧的试写区域。在现有的数据记录动作中在数据区域200仅记录用户数据U，在本实施例的记录品质评价方法中，在记录用户数据U时在测试区域210记录包含信号电平较低的成分的测试信号T。测试信号T如后文所述使信号电平阶段性地变化。因为信号电平较低的成分容易因经时劣化产生再现错误，所以通过包含低电平的信号，能够较早地预测品质的劣化。这样，在光盘101中，和用户数据U一齐记录保存测试信号T。

记录有数据的光盘101以规定的时间间隔进行再现评价被保存的数据。该评价时刻可以由用户适当实行，也可以由装置自动地实行。

在评价工序中，再现记录在测试区域210的测试信号T，确认有没有发生错误。当发生错误时，调查其在哪一个阶段的信号电平发生，推定用户数据U的当前的劣化程度。换言之，能够在用户数据U的劣化较小的阶段，预测其能够保存的期间。推定的劣化量超过容许值时，发出表示该主旨的警告。该评价方法中，因为仅对测试区域210的测试信号T进行再现评价，与对数据区域200的用户数据U进行再现评价的方法相比，能够在非常短时间内效率良好地实行。

图2A是表示图1的记录品质评价方法使用的测试信号T的示例的图。测试信号T使信号电平以A，B，……E阶段性地变化，在测试区域210内区分记录，对各电平进行再现评价。其中，为了识别各信号电平A，B，……E，它们使用不同的符号编码。

测试信号T1为最短比特长度(记录密度)已改变的示例。比特长度越短再现信号电平越小，容易受到经时劣化的影响。即，比特长度越小，劣化的进程越是加速。

此外测试信号T2为改变记录功率的示例。功率较小时标记长度变小，再现信号电平变小，因此容易受到经时劣化的影响。该情况下也是功率越小，劣化的进程越是加速。

本实施例中，对基于测试信号的劣化的加速现象使用加速系数K表现。

图2B是示意地说明基于测试信号的劣化的加速系数K的图。图中，表示测试信号T和基准信号的信号品质随着经时期间(或者反复进行记录/再现次数)如何劣化。并且，求出测试信号T的品质达到容许下限值的期间(Pt)、和基准信号的品质达到容许下限值的期间(Po)。在测试信号T中达到容许下限值的期间缩短，根据其与基准信号的期间的比Po/Pt算出加速系数K。这样，实验性地算出测试信号的各成分的加速系数。例如，测试信号T1的比特长度为0.7的成分E的加速系数K为4.5/1.5＝3，表示其劣化比作为基准信号的成分B加速3倍。

这样，因为测试信号T中包含信号电平较低的部分，经时劣化比用户数据U加速，在较早的阶段发生错误。然后通过调查在测试信号T的哪一个信号电平A，B，……E发生再现错误，参照该信号的加速系数K，能够推定在该时间点用户数据U受到的劣化的程度。由此，能够在用户数据U的劣化较小的阶段，预测其能够保存的期间。

图3是表示本发明的光盘存储装置的第一实施例的结构图。

本实施例的光盘存储装置使用在包内叠层收纳有多张光盘的暗盒(magazine)结构的光盘介质100作为记录介质。光盘适用例如能够进行大容量记录的Blu-ray光盘(BD)。当然也可以为其他种类的光盘(DVD等)，此外，还可以将每张光盘按单体处理。装置的结构包括盘交换部10、盘驱动部20、个人计算机(PC)部30。

在盘交换部10，装入暗盒结构的光盘介质100。盘加载部11将由光盘介质100指示的光盘101加载。在盘为双面记录的情况下，还进行翻转盘的操作。交换控制部12控制盘加载部11，选择要加载的盘。

盘驱动部20对于所加载的光盘101进行数据的记录、再现。此外，从盘101再现已记录完成的数据，评价其品质。激光驱动部22驱动光拾取器(PU)21，对盘记录面照射记录用或者再现用的激光。记录信号处理部23生成记录在盘中的信号，再现信号处理部24对来自盘的再现信号进行处理，取得数据。此处记录信号处理部23不仅生成保存在盘中的用户数据U的信号，还生成用于进行记录品质评价的测试信号T。此外再现信号处理部24不仅取得用户数据U，还从测试信号T取得测试数据。驱动控制器25控制盘驱动部20内的各部的动作，进行记录动作与再现动作的切换和用户数据U与测试信号T的切换。

PC部30与盘交换部10和盘驱动部20连接，对其进行控制。主计算机31在与盘驱动部20之间进行在光盘101记录再现的用户数据的交接。此外，对于从盘驱动部20传送的测试信号T(测试数据)评价品质(错误检测)。然后，根据评价结果推定用户数据U的劣化量，判定劣化量是否在容许范围内。超过容许值的情况下，在显示部32，发出表示保存数据发生劣化的警告。评价时刻控制部33选择进行品质评价的光盘并确定其时刻，对于盘交换部10作出指示。

如上所示，根据本实施例，在数据区域记录用户数据时，通过在测试区域记录包含信号电平较低的成分的测试信号，能够用短时间推定用户数据的品质的经时劣化，并且预测用户数据能够保存的期间。本实施例的方法适用于向光盘记录数据后，维持原状地长期保存的情况。

【实施例2】

本实施例在预计到反复记录或反复再现等特定的动作导致的劣化的情况下，在特定的区域，模拟地生成与该光盘的最差条件(最大改写次数、最大读出次数)相当的区域，评价这部分的品质，从而推定已记录的数据的品质。

图4是说明本发明的光盘的记录品质评价方法的第二实施例的图。图4中示意地表示了本实施例使用的光盘101的记录区域，与上述实施例1为同样的结构，具有记录用户数据的数据区域200、和用于进行记录品质评价的特定的区域(测试区域210)。在现有的数据记录/再现动作中仅在数据区域200中记录或者再现用户数据U，而本实施例的记录品质评价方法中，每次在数据区域200的某一个位置记录或者再现用户数据U，就在测试区域210的相同位置反复记录或者再现测试信号T。具体而言，例如对于用户数据每接收到一次记录或者再现命令，就记录或者再现一次测试信号T。或者，对记录或者再现命令的次数计数，仅以该次数对测试信号T反复进行记录或者再现。测试信号T的反复记录或者再现的动作对于记录用户数据U的情况和再现用户数据U的情况双方进行，也可以根据光盘的使用环境仅在记录的情况或者再现的情况中的一方进行。

在测试区域210中，仅以记录或者再现命令次数反复记录(重写)或者反复再现测试信号T的结果是，其信号品质的经时劣化比记录在数据区域200的用户数据U加速。上述图2B的劣化曲线示意地表示了这内容。即测试区域210为模拟地生成该光盘的最差条件(最大记录次数或者最大再现次数)的区域。反复记录的测试信号T的模式是任意的，也可以直接使用用户数据U。或者，也可以使用如实施例1的图2A所示的使信号电平以A，B，……E阶段性地变化的模式，该情况下对于品质劣化能够进行更加定量的评价。但是，改变记录/再现功率的情况下，功率越大劣化速度越快。

像这样测试信号T与用户数据U一同被记录的光盘101，对在规定的时刻再现、并被保存的数据的品质进行评价。该评价时刻在反复进行记录/再现测试信号T的时间点进行是有效率的，也可以在到达规定的反复次数的时间点进行，或者与规定的经过时间组合进行。

在评价工序中，再现记录在测试区域210的测试信号T，确认有无发生错误。如果发生错误，考虑该时间点的累计反复记录/再现次数，推定用户数据U当前的劣化程度。因此，与上述图2B中的说明相同，预先实验性地求出相对反复记录次数和反复再现次数的劣化速度(加速系数)，使用加速系数推定用户数据U的劣化。此外，根据当前的经过时间预测用户数据U能够保存的期间。如果推定的劣化量超过容许值，发出表示该主旨的警告。

在该评价方法中，由于仅对测试区域210的测试信号T进行再现评价，因此与对数据区域200的用户数据U进行再现评价的方法相比，能够在非常短时间内效率良好地实行。

图5是说明图4的记录品质评价方法的变形例的图。光盘101的数据区域200具有存储用户数据U的数据部201、和管理用户数据U的数据管理部202。并且，当接收到对用户数据的记录/再现命令时，不仅在数据部201记录或者再现用户数据，还在管理用户数据的数据管理部202进行管理信息的记录或者再现。但是，即使接收到一次的记录/再现命令，对数据部201的访问和对数据管理部202的访问各自并不一定限于一次完成，此外哪一个的访问次数较多因当时的状况而异。

因此本示例中，对数据部201的访问次数和对数据管理部202的访问次数分别区别计数，并以它们的合计次数对测试信号T在测试区域210反复进行记录/再现。测试信号T的品质评价法与图4相同。根据该方法，通过将对数据区域200的访问的次数进行计数，能够获得反映实际进行的记录/再现的次数(即物理的记录/再现次数)的评价结果，进一步提高了评价精度。

图6是表示本发明的光盘存储装置的第二实施例的结构图，表示与上述图4的记录品质评价方法对应的结构。以上述实施例1的图3所示的光盘存储装置为基本结构，对相同的部分标注相同的符号并省略说明。

本实施例中，构成为在盘驱动部20追加外部命令计数器26、内部计数器27和计数器存储器28。其中，本实施例中省略了上述图3中的盘交换部10，当然通过具备盘交换部10也能够与暗盒结构的光盘介质100相对应。

盘驱动部20的驱动控制器25控制向盘101的数据的记录和再现，此时外部命令计数器26对从主计算机31发送的记录或者再现命令(外部命令)的次数进行计数。此外内部计数器27对驱动控制器25独自发出的记录或者再现的指示(内部命令)的次数进行计数。内部命令是例如数据的记录再现失败时进行的再记录、再读出等的指示。在任意一种命令中，均在盘的数据区域200分别进行用户数据U的记录/再现。计数器存储器28存储外部命令计数器26的记录/再现计数值X、和内部计数器27的记录/再现计数值Y或其合计值(X+Y)。进而计数器存储器28按每张光盘101存储测试信号T的反复记录/再现的累计次数Z。

驱动控制器25例如在要处理的一系列数据的记录/再现动作结束的时间点，读出计数器存储器28存储的记录/再现计数值X，Y。然后，在盘的测试区域210中，仅以计数值的合计次数(X+Y)对测试信号T反复记录或者再现。记录信号处理部23生成测试信号T，但也可以将用户数据U保持原状地使用，还可以生成上述图2A所示的使信号电平阶段性地变化的信号。

此外驱动控制器25在规定的时刻再现记录在光盘的测试区域210的测试信号T。主计算机31对于取得的测试数据评价(检查错误)其品质，推定用户数据U的劣化量。当劣化量超过容许值的情况下，在显示部32，发出表示保存数据劣化的主旨的警告。

图6的光盘存储装置说明了与图4的方法(仅以命令次数反复记录/再现)对应的情况，对于与图5的方法(对数据部201和数据管理部202的访问次数)对应的情况，也能够通过将计数器26、27变更为对数据部201和数据管理部202的访问计数器而同样地实行。

图7是表示本实施例的记录品质评价方法的流程的流程图，表示图4中所述的仅以命令次数对测试信号反复记录/再现的情况。

在S300中，将外部命令计数器26的计数值X和内部计数器27的计数值Y复位为0。

在S301中，在盘101的数据区域200记录或者再现用户数据U。

在S302中，判定S301的记录/再现动作是否为基于外部命令的记录/再现。为“是”时前进至S303，对外部命令计数器26的计数值X加上该命令次数a。

在S304中，判定S301的记录/再现动作是否为基于驱动控制器25的内部动作的记录/再现。为“是”时前进至S305，对内部计数器27的计数值Y加上该命令次数b。

在S306中，将外部命令计数器26的计数值X和内部计数器27的计数值Y相加，将合计值(X+Y)存储到计数器存储器28。在S307中，判定记录或者再现的用户数据是否全部结束。已结束时则前进至S308，未结束时则返回S301，记录/再现剩余的数据。

在S308中，从计数器存储器28读出命令次数的合计值(X+Y)，在盘的测试区域210仅以(X+Y)次数对测试信号T反复记录/再现。此外，在计数器存储器28记录测试信号T的反复记录/再现的累计次数Z。

在S309中，通过从测试区域210再现测试信号T，确认错误发生而，从而推定用户数据U的劣化。在劣化的推定中，参照相对该光盘101的反复记录/再现的累计次数Z。

在S310中，判定用户数据U的品质是否为容许范围。劣化量超过容许值时，前进至S311，在显示部32显示“保存数据正在劣化。请改写到其他盘”等警告消息。以上，结束一系列记录/再现动作，等待下一步指示。

图7的流程图说明了与图4的方法(仅以命令次数反复记录/再现)对应的情况，对于与图5的方法(对数据部201和数据管理部202的访问次数)对应的情况，也能够通过将命令次数变更为访问次数而同样地实行。

如上所述，根据本实施例，通过在数据区域记录用户数据，并且在测试区域对记录品质评价用的测试信号反复记录或者再现，能够用短时间推定用户数据的品质的经时劣化，并且预测用户数据的能够保存的期间。本实施例的方法适用于将数据记录在光盘后，频繁地进行数据的反复记录(重写)或者反复再现的情况。

Claims (7)

1.一种光盘的记录品质评价方法，用于对记录在光盘中的数据的品质劣化进行评价，其特征在于：

在光盘的数据区域记录用户数据时，在该光盘的测试区域记录有包含信号电平小于基准值的成分的测试信号，

在经过规定的时间的时间点，对记录在所述测试区域的所述测试信号进行再现，根据该测试信号的品质的评价结果来推定所述用户数据的品质劣化。

2.一种光盘的记录品质评价方法，用于对记录在光盘中的数据的品质劣化进行评价，其特征在于：

每当在光盘的数据区域中记录或者再现用户数据时，在该光盘的测试区域反复记录或者再现测试信号，

在规定的时刻，对记录在所述测试区域中的所述测试信号进行再现，根据该测试信号的品质的评价结果推定所述用户数据的品质劣化。

3.如权利要求1或2所述的光盘的记录品质评价方法，其特征在于：

所述测试信号改变信号的比特长度或者记录功率，使信号电平阶段性地变化，

基于该测试信号的品质劣化与其信号电平相应地被加速，推定所述用户数据的品质劣化。

4.如权利要求1或2所述的光盘的记录品质评价方法，其特征在于：

在关于所述用户数据进行推定而得到的劣化量超过容许值的情况下，发出表示这一状况的警告。

5.一种在光盘记录数据并且评价已记录完成的数据的品质劣化的光盘存储装置，其特征在于，具备：

在所述光盘记录和再现数据的记录再现部；和

评价所再现的数据的品质的品质评价部，

所述记录再现部在所述光盘记录用户数据时，在该光盘的测试区域记录包含信号电平小于基准值的成分的测试信号，

所述记录再现部在经过规定的时间的时间点，对记录在所述测试区域中的所述测试信号进行再现，

所述品质评价部根据所再现的测试信号的品质的评价结果推定所述用户数据的品质劣化。

6.一种在光盘记录数据并且评价已记录完成的数据的品质劣化的光盘存储装置，其特征在于，具备：

在所述光盘记录和再现数据的记录再现部；和

评价所再现的数据的品质的品质评价部，

所述记录再现部当每次在所述光盘记录或者再现用户数据时，在该光盘的测试区域中反复记录或者再现测试信号，

所述记录再现部在规定的时刻，对记录在所述测试区域中的所述测试信号进行再现，

所述品质评价部根据所再现的测试信号的品质的评价结果推定所述用户数据的品质劣化。

7.如权利要求6所述的光盘存储装置，其特征在于：

具备对在所述光盘记录或者再现用户数据的记录或者再现命令的次数进行计数的计数器，

所述记录再现部仅以该计数器的次数将所述测试信号反复记录或者再现。

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