CN102087855B - 存储设备旋转振动测试系统及方法 - Google Patents

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Abstract

一种存储设备旋转振动测试系统，所述存储设备包括至少一个存储器以及风扇，该系统包括：设置模块，用于设置待测的存储器、待测的风扇转速、待测的工作负载以及测试时间；选择模块，用于从待测的存储器中逐一选择存储器；风扇控制模块，用于从待测的风扇转速中逐一选择风扇转速，并且控制风扇以该选择的转速运转；负载控制模块，用于从待测的工作负载中逐一选择工作负载，并且对存储设备产生该选择的工作负载；测试模块，用于根据设置的测试时间测试选择的存储器的读写性能；及存储模块，用于存储选择的存储器的读写性能的测试数据。本发明还提供一种存储设备旋转振动测试方法。本发明能够快速有效地对存储设备实施旋转振动测试。

Description

存储设备旋转振动测试系统及方法
技术领域
本发明涉及一种存储设备测试系统及方法，特别是关于一种存储设备旋转振动测试系统及方法。
背景技术
在信息技术迅速发展的今天，数据存储需求日益增加，存储器(例如硬盘)向着高容量、高转速的趋势发展。为了存储更多的数据，存储设备中包含的存储器越来越多。这种情况下，在对一个存储设备读/写数据时，该存储设备内安装的存储器容易受到自身的旋转振动(例如硬盘驱动器产生的旋转振动)或者该存储设备的风扇的旋转振动的影响而出现不稳定的状态，从而影响该存储设备的性能。
为了正确评估存储器及风扇的旋转振动对存储设备造成的影响，需要对存储设备进行旋转振动测试，以便采取适当的措施降低旋转振动带来的影响。
发明内容
鉴于以上内容，有必要提供一种存储设备旋转振动测试系统，能够快速有效地对存储设备实施旋转振动测试。
此外，还有必要提供一种存储设备旋转振动测试方法，能够快速有效地对存储设备实施旋转振动测试。
一种存储设备旋转振动测试系统，运行于与存储设备通信连接的主机中，所述存储设备包括至少一个存储器以及至少一个风扇，该系统包括：设置模块，用于设置存储设备的测试参数，所述测试参数包括待测的存储器、待测的风扇转速、待测的工作负载以及测试时间；选择模块，用于从待测的存储器中逐一选择存储器；风扇控制模块，用于从待测的风扇转速中逐一选择风扇转速，并且控制风扇以该选择的转速运转；负载控制模块，用于从待测的工作负载中逐一选择工作负载，并且对存储设备产生该选择的工作负载；测试模块，用于根据设置的测试时间，在选择的风扇转速以及工作负载下测试选择的存储器的读写性能；及存储模块，用于存储选择的存储器的读写性能的测试数据。
一种存储设备旋转振动测试方法，所述存储设备包括至少一个存储器以及至少一个风扇，该方法包括步骤：设置存储设备的测试参数，所述测试参数包括待测的存储器、待测的风扇转速、待测的工作负载以及测试时间；从待测的存储器中选择一个存储器；从待测的风扇转速中选择一个风扇转速；控制风扇以该选择的转速运转；从待测的工作负载中选择一个工作负载；对存储设备产生该选择的工作负载；根据设置的测试时间，在选择的风扇转速以及工作负载下测试选择的存储器的读写性能；存储选择的存储器的读写性能的测试数据；若有其他待测的工作负载，则返回选择工作负载的步骤；若有其他待测的风扇转速，则返回选择风扇转速的步骤；及若有其他待测的存储器，则返回选择存储器的步骤。
本发明设置存储设备的测试参数，根据设置的测试参数模拟各种工作环境，从而快速有效地实现对存储设备的旋转振动测试。
附图说明
图1为本发明存储设备旋转振动测试系统较佳实施例的运行环境示意图。
图2为本发明存储设备旋转振动测试系统的功能模块图。
图3为本发明存储设备旋转振动测试方法较佳实施例的流程图。
主要元件符号说明
  存储设备旋转振动测试系统   10
  主机   11
  存储设备   12
  存储器   13A-13X
  风扇   14
  存储区   15
  处理器   16
  显示器   17
  设置模块   200
  选择模块   210
  风扇控制模块   220
  负载控制模块   230
  测试模块   240
  存储模块   250
  输出模块   260
具体实施方式
参阅图1所示，是本发明存储设备旋转振动测试系统较佳实施例的运行环境示意图。所述存储设备旋转振动测试系统10运行于主机11中。该主机11还包括存储区15、处理器16及显示器17。所述存储区15存储该存储设备旋转振动测试系统10的程序指令以及该存储设备旋转振动测试系统10运行过程中产生的数据。所述处理器16执行该存储设备旋转振动测试系统10。所述显示器17提供一个用户界面，以显示该存储设备旋转振动测试系统10的运行结果。所述主机11与存储设备12通信连接。该存储设备12包括存储器13A-13X及风扇14。当主机11对存储设备12读/写数据时，存储器13A-13X及风扇14的运行(例如存储器13A-13X的驱动器的旋转以及风扇14的旋转)产生旋转振动，该旋转振动导致存储器13A-13X读写性能的下降。所述存储器13A-13X包括硬盘、光盘以及磁带。所述风扇14可根据主机11的转速控制命令以不同的转速运转，以调节存储设备12的温度。
参阅图2所示，是本发明存储设备旋转振动测试系统10的功能模块图。所述存储设备旋转振动测试系统10包括设置模块200、选择模块210、风扇控制模块220、负载控制模块230、测试模块240、存储模块250及输出模块260。
所述设置模块200用于设置存储设备12的测试参数。所述测试参数包括待测的存储设备12的存储器、待测的风扇转速、待测的工作负载以及测试时间。所述工作负载用以模拟实际工作环境中存储设备12收到的各种读/写数据请求。该工作负载可以针对选定的存储器，例如，对选定的存储器随机写入4KB的数据块。该工作负载还可以针对包括选定的存储器在内的多个存储器，例如，对所有待测的存储器随机写入64KB的数据块。在本实施例中，待测的存储器包括存储设备12的24个存储器13A-13X(例如：24块硬盘)；待测的风扇转速包括1200转/分、2400转/分及3600转/分；待测的工作负载包括对选定的存储器随机写入4KB的数据块、对选定的存储器随机写入64KB的数据块，对选定的存储器随机写入256KB的数据块、对选定的存储器连续写入256KB的数据块、对选定的存储器随机读取4KB的数据块、对所有待测的存储器随机写入64KB的数据块以及对所有待测的存储器随机写入256KB的数据块；测试时间为在对每个待测的存储器，在每个确定条件下(即选定风扇转速以及工作负载)测试6次，每次测试一分钟。
所述选择模块210用于从待测的存储器中逐一选择存储器。例如选择模块从存储器13A-13X中逐一选择存储器。
所述风扇控制模块220用于从待测的风扇转速中逐一选择风扇转速，对于每个选择的风扇转速，生成转速控制命令并发送给风扇14，从而控制风扇14以该选择的转速运转。例如，风扇控制模块220从待测的风扇转速中选择1200转/分，并且控制风扇14以1200转/分的转速运转。
所述负载控制模块230用于从待测的工作负载中逐一选择工作负载，对于每个选择的工作负载，对存储设备12产生该选择的工作负载。例如，负载控制模块230从待测的工作负载中选择对选定的存储器随机写入4KB的数据块，并且对选择的存储器(例如：存储器13A)产生随机写入4KB的数据块的工作负载。
所述测试模块240用于根据设置的测试时间，在选择的风扇转速以及工作负载下测试选择的存储器的读写性能。在本实施例中，测试模块240测试选择的存储器的每秒读/写操作次数，以表示该选择的存储器的读写性能。例如，测试模块240在风扇转速为1200转/分，对存储器13A随机写入4KB的数据块的条件下，对测试6次存储器13A的每秒读/写操作次数，每次测试一分钟，测得存储器13A的6个每秒读/写操作次数，分别为234.67、234.05、234.34、234.43、234.38与234.41。在本实施例中，测试模块240对测得的最后4个每秒读/写操作次数求平均值，作为选择的存储器在选择条件下的平均每秒读/写操作次数。例如，测试模块240对234.34、234.43、234.38及234.41求平均值，得到存储器13A在风扇转速为1200转/分，工作负载为对存储器13A随机写入4KB的数据块条件下的平均每秒读/写操作次数，即234.39。
所述存储模块250用于将选择的存储器的读写性能的测试数据储存到存储区15。在本实施例中，存储模块250按照指定的存储路径存储所述选择的存储器的读写性能的测试数据。例如，将所述选择的存储器的读写性能的测试数据储存至F:\RVTest\Result。
所述输出模块260用于输出选择的存储器的读写性能的测试数据。在本实施例中，输出模块260将选择的存储器的读写性能的测试数据输出到显示器17上。例如，输出模块260显示存储器13A的6个每秒读/写操作次数234.67、234.05、234.34、234.43、234.38与234.41，以及平均每秒读/写操作次数234.39。
参阅图3所示，是本发明存储设备旋转振动测试方法较佳实施例的流程图。
步骤S301，设置模块200设置存储设备12的测试参数。所述测试参数包括待测的存储设备12的存储器、待测的风扇转速、待测的工作负载以及测试时间。所述工作负载用以模拟实际工作环境中存储设备12收到的各种读/写数据请求。该工作负载可以针对选定的存储器，例如，对选定的存储器随机写入4KB的数据块。该工作负载还可以针对包括选定的存储器在内的多个存储器，例如，对所有待测的存储器随机写入64KB的数据块。在本实施例中，待测的存储器包括存储设备12的24个存储器13A-13X(例如：24块硬盘)；待测的风扇转速包括1200转/分、2400转/分及3600转/分；待测的工作负载包括对选定的存储器随机写入4KB的数据块、对选定的存储器随机写入64KB的数据块，对选定的存储器随机写入256KB的数据块、对选定的存储器连续写入256KB的数据块、对选定的存储器随机读取4KB的数据块、对所有待测的存储器随机写入64KB的数据块以及对所有待测的存储器随机写入256KB的数据块；测试时间为在对每个待测的存储器，在每个确定条件下(即选定风扇转速以及工作负载)测试6次，每次测试一分钟。
步骤S302，选择模块210从待测的存储器中选择一个存储器。例如，从待测的存储器13A-13X中选择存储器13A。
步骤S303，风扇控制模块220从待测的风扇转速中选择一个风扇转速。例如，风扇控制模块220从待测的风扇转速1200转/分、2400转/分及3600转/分中选择风扇转速1200转/分。
步骤S304，风扇控制模块220根据选择的风扇转速，生成转速控制命令并发送给风扇14，从而控制风扇14以该选择的转速运转。例如，风扇控制模块220控制风扇14以1200转/分的转速运转。
步骤S305，负载控制模块230从待测的工作负载中选择一个工作负载。例如，负载控制模块230从待测的工作负载中选择对选定的存储器随机写入4KB的数据块。
步骤S306，负载控制模块230对存储设备12产生该选择的工作负载。例如，负载控制模块230对存储器13A随机写入4KB的数据块。或者，负载控制模块230对存储器13A-13X随机写入64KB的数据块。
步骤S307，测试模块240根据设置的测试时间，在选择的风扇转速以及工作负载下测试选择的存储器的读写性能。在本实施例中，测试模块240测试选择的存储器的每秒读/写操作次数，以表示该选择的存储器的读写性能。例如，测试模块240在风扇转速为1200转/分，对存储器13A随机写入4KB的数据块的条件下，测试6次存储器13A的每秒读/写操作次数，每次测试一分钟，测得存储器13A的6个每秒读/写操作次数，分别为234.67、234.05、234.34、234.43、234.38及234.41。在本实施例中，测试模块240对测得的最后4个每秒读/写操作次数求平均值，作为选择的存储器在选择条件下的平均每秒读/写操作次数。例如，测试模块240对234.34、234.43、234.38及234.41求平均值，得到存储器13A在风扇转速为1200转/分，工作负载为对存储器13A随机写入4KB的数据块条件下的平均每秒读/写操作次数，即234.39。
步骤S308，存储模块250将选择的存储器的读写性能的测试数据储存到存储区15。在本实施例中，存储模块250按照指定的存储路径存储所述选择的存储器的读写性能的测试数据。例如，将所述选择的存储器的读写性能的测试数据储存至F:\RVTest\Result。在本实施例中，存储模块250还将选择的存储器的读写性能的测试数据输出到显示器17上。
步骤S309，输出模块260输出选择的存储器的读写性能的测试数据。在本实施例中，输出模块260将选择的存储器的读写性能的测试数据输出到显示器17上。例如，输出模块260显示存储器13A的6个每秒读/写操作次数234.67、234.05、234.34、234.43、234.38与234.41，以及平均每秒读/写操作次数234.39。
步骤S310，判断是否有其他待测的工作负载。如果有其他待测的工作负载，则返回步骤S305，负载控制模块230从待测的工作负载中选择下一个工作负载。
如果没有其他待测的工作负载，则步骤S311，判断是否有其他待测的风扇转速。如果有其他待测的风扇转速，则返回步骤S304，风扇控制模块220从待测的风扇转速中选择下一个风扇转速。
如果没有其他待测的风扇转速，则步骤S312，判断是否有其他待测的存储器。如果有其他待测的存储器，则返回步骤S303，从待测的存储器中选择下一个存储器。如果所有待测的存储器都已测试完毕，则流程结束。

Claims (8)

1.一种存储设备旋转振动测试系统，运行于主机中，所述存储设备包括至少一个存储器以及至少一个风扇，其特征在于，该系统包括：
设置模块，用于设置存储设备的测试参数，所述测试参数包括待测的存储器、待测的风扇转速、待测的工作负载以及测试时间；
选择模块，用于从待测的存储器中逐一选择存储器；
风扇控制模块，用于从待测的风扇转速中逐一选择风扇转速，并且控制风扇以该选择的转速运转；
负载控制模块，用于从待测的工作负载中逐一选择工作负载，并且对存储设备产生该选择的工作负载；
测试模块，用于根据设置的测试时间，在选择的风扇转速以及工作负载下测试选择的存储器的读写性能；及
存储模块，用于存储选择的存储器的读写性能的测试数据。
2.如权利要求1所述的存储设备旋转振动测试系统，其特征在于，该系统还包括输出模块，用于输出选择的存储器的读写性能的测试数据。
3.如权利要求1所述的存储设备旋转振动测试系统，其特征在于，所述存储器包括硬盘、光盘以及磁带。
4.如权利要求1所述的存储设备旋转振动测试系统，其特征在于，所述测试模块通过测试选择的存储设备的每秒读/写操作次数来获知选择的存储器的读写性能。
5.一种存储设备旋转振动测试方法，所述存储设备包括至少一个存储器以及至少一个风扇，其特征在于，该方法包括步骤：
设置存储设备的测试参数，所述测试参数包括待测的存储器、待测的风扇转速、待测的工作负载以及测试时间；
从待测的存储器中选择一个存储器；
从待测的风扇转速中选择一个风扇转速；
控制风扇以该选择的转速运转；
从待测的工作负载中选择一个工作负载；
对存储设备产生该选择的工作负载；
根据设置的测试时间，在选择的风扇转速以及工作负载下测试选择的存储器的读写性能；
存储选择的存储器的读写性能的测试数据；
若有其他待测的工作负载，则返回选择工作负载的步骤；
若有其他待测的风扇转速，则返回选择风扇转速的步骤；及
若有其他待测的存储器，则返回选择存储器的步骤。
6.如权利要求5所述的存储设备旋转振动测试方法，其特征在于，该方法还包括步骤：输出选择的存储器的读写性能的测试数据。
7.如权利要求5所述的存储设备旋转振动测试方法，其特征在于，所述存储器包括硬盘、光盘以及磁带。
8.如权利要求5所述的存储设备旋转振动测试方法，其特征在于，所述根据设置的测试时间，在选择的风扇转速以及工作负载下测试选择的存储器的读写性能的步骤中，通过测试选择的存储设备的每秒读/写操作次数来获知选择的存储器的读写性能。
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