CN102087855A - 存储设备旋转振动测试系统及方法 - Google Patents

存储设备旋转振动测试系统及方法 Download PDF

Info

Publication number
CN102087855A
CN102087855A CN2009103110360A CN200910311036A CN102087855A CN 102087855 A CN102087855 A CN 102087855A CN 2009103110360 A CN2009103110360 A CN 2009103110360A CN 200910311036 A CN200910311036 A CN 200910311036A CN 102087855 A CN102087855 A CN 102087855A
Authority
CN
China
Prior art keywords
storer
fan
test
measured
memory device
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
CN2009103110360A
Other languages
English (en)
Other versions
CN102087855B (zh
Inventor
林圣涵
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
East Huainan Positive Electron Science And Technology Ltd
Original Assignee
Hongfujin Precision Industry Shenzhen Co Ltd
Hon Hai Precision Industry Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Hongfujin Precision Industry Shenzhen Co Ltd, Hon Hai Precision Industry Co Ltd filed Critical Hongfujin Precision Industry Shenzhen Co Ltd
Priority to CN200910311036.0A priority Critical patent/CN102087855B/zh
Priority to US12/764,937 priority patent/US8386205B2/en
Publication of CN102087855A publication Critical patent/CN102087855A/zh
Application granted granted Critical
Publication of CN102087855B publication Critical patent/CN102087855B/zh
Expired - Fee Related legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Images

Classifications

    • G—PHYSICS
    • G11—INFORMATION STORAGE
    • G11B—INFORMATION STORAGE BASED ON RELATIVE MOVEMENT BETWEEN RECORD CARRIER AND TRANSDUCER
    • G11B5/00—Recording by magnetisation or demagnetisation of a record carrier; Reproducing by magnetic means; Record carriers therefor
    • G11B5/455—Arrangements for functional testing of heads; Measuring arrangements for heads
    • G—PHYSICS
    • G11—INFORMATION STORAGE
    • G11B—INFORMATION STORAGE BASED ON RELATIVE MOVEMENT BETWEEN RECORD CARRIER AND TRANSDUCER
    • G11B20/00—Signal processing not specific to the method of recording or reproducing; Circuits therefor
    • G11B20/10—Digital recording or reproducing
    • G11B20/18—Error detection or correction; Testing, e.g. of drop-outs
    • G11B20/1816—Testing
    • G11B20/182—Testing using test patterns
    • G—PHYSICS
    • G11—INFORMATION STORAGE
    • G11B—INFORMATION STORAGE BASED ON RELATIVE MOVEMENT BETWEEN RECORD CARRIER AND TRANSDUCER
    • G11B5/00—Recording by magnetisation or demagnetisation of a record carrier; Reproducing by magnetic means; Record carriers therefor
    • G11B5/48—Disposition or mounting of heads or head supports relative to record carriers ; arrangements of heads, e.g. for scanning the record carrier to increase the relative speed
    • G11B5/54—Disposition or mounting of heads or head supports relative to record carriers ; arrangements of heads, e.g. for scanning the record carrier to increase the relative speed with provision for moving the head into or out of its operative position or across tracks
    • G11B5/55—Track change, selection or acquisition by displacement of the head
    • G11B5/5521—Track change, selection or acquisition by displacement of the head across disk tracks
    • G11B5/5582—Track change, selection or acquisition by displacement of the head across disk tracks system adaptation for working during or after external perturbation, e.g. in the presence of a mechanical oscillation caused by a shock
    • G—PHYSICS
    • G11—INFORMATION STORAGE
    • G11B—INFORMATION STORAGE BASED ON RELATIVE MOVEMENT BETWEEN RECORD CARRIER AND TRANSDUCER
    • G11B2220/00—Record carriers by type
    • G11B2220/20—Disc-shaped record carriers
    • G11B2220/25—Disc-shaped record carriers characterised in that the disc is based on a specific recording technology
    • G11B2220/2508—Magnetic discs
    • G11B2220/2516—Hard disks
    • G—PHYSICS
    • G11—INFORMATION STORAGE
    • G11B—INFORMATION STORAGE BASED ON RELATIVE MOVEMENT BETWEEN RECORD CARRIER AND TRANSDUCER
    • G11B2220/00—Record carriers by type
    • G11B2220/20—Disc-shaped record carriers
    • G11B2220/25—Disc-shaped record carriers characterised in that the disc is based on a specific recording technology
    • G11B2220/2537—Optical discs
    • G—PHYSICS
    • G11—INFORMATION STORAGE
    • G11B—INFORMATION STORAGE BASED ON RELATIVE MOVEMENT BETWEEN RECORD CARRIER AND TRANSDUCER
    • G11B2220/00—Record carriers by type
    • G11B2220/90—Tape-like record carriers

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Signal Processing (AREA)
  • Test And Diagnosis Of Digital Computers (AREA)
  • Testing Or Calibration Of Command Recording Devices (AREA)
  • Techniques For Improving Reliability Of Storages (AREA)

Abstract

一种存储设备旋转振动测试系统，所述存储设备包括至少一个存储器以及风扇，该系统包括：设置模块，用于设置待测的存储器、待测的风扇转速、待测的工作负载以及测试时间；选择模块，用于从待测的存储器中逐一选择存储器；风扇控制模块，用于从待测的风扇转速中逐一选择风扇转速，并且控制风扇以该选择的转速运转；负载控制模块，用于从待测的工作负载中逐一选择工作负载，并且对存储设备产生该选择的工作负载；测试模块，用于根据设置的测试时间测试选择的存储器的读写性能；及存储模块，用于存储选择的存储器的读写性能的测试数据。本发明还提供一种存储设备旋转振动测试方法。本发明能够快速有效地对存储设备实施旋转振动测试。

Description

存储设备旋转振动测试系统及方法
技术领域
本发明涉及一种存储设备测试系统及方法，特别是关于一种存储设备旋转振动测试系统及方法。
背景技术
在信息技术迅速发展的今天，数据存储需求日益增加，存储器(例如硬盘)向着高容量、高转速的趋势发展。为了存储更多的数据，存储设备中包含的存储器越来越多。这种情况下，在对一个存储设备读/写数据时，该存储设备内安装的存储器容易受到自身的旋转振动(例如硬盘驱动器产生的旋转振动)或者该存储设备的风扇的旋转振动的影响而出现不稳定的状态，从而影响该存储设备的性能。
为了正确评估存储器及风扇的旋转振动对存储设备造成的影响，需要对存储设备进行旋转振动测试，以便采取适当的措施降低旋转振动带来的影响。
发明内容
鉴于以上内容，有必要提供一种存储设备旋转振动测试系统，能够快速有效地对存储设备实施旋转振动测试。
此外，还有必要提供一种存储设备旋转振动测试方法，能够快速有效地对存储设备实施旋转振动测试。
一种存储设备旋转振动测试系统，运行于与存储设备通信连接的主机中，所述存储设备包括至少一个存储器以及至少一个风扇，该系统包括：设置模块，用于设置存储设备的测试参数，所述测试参数包括待测的存储器、待测的风扇转速、待测的工作负载以及测试时间；选择模块，用于从待测的存储器中逐一选择存储器；风扇控制模块，用于从待测的风扇转速中逐一选择风扇转速，并且控制风扇以该选择的转速运转；负载控制模块，用于从待测的工作负载中逐一选择工作负载，并且对存储设备产生该选择的工作负载；测试模块，用于根据设置的测试时间，在选择的风扇转速以及工作负载下测试选择的存储器的读写性能；及存储模块，用于存储选择的存储器的读写性能的测试数据。
一种存储设备旋转振动测试方法，所述存储设备包括至少一个存储器以及至少一个风扇，该方法包括步骤：设置存储设备的测试参数，所述测试参数包括待测的存储器、待测的风扇转速、待测的工作负载以及测试时间；从待测的存储器中选择一个存储器；从待测的风扇转速中选择一个风扇转速；控制风扇以该选择的转速运转；从待测的工作负载中选择一个工作负载；对存储设备产生该选择的工作负载；根据设置的测试时间，在选择的风扇转速以及工作负载下测试选择的存储器的读写性能；存储选择的存储器的读写性能的测试数据；若有其他待测的工作负载，则返回选择工作负载的步骤；若有其他待测的风扇转速，则返回选择风扇转速的步骤；及若有其他待测的存储器，则返回选择存储器的步骤。
本发明设置存储设备的测试参数，根据设置的测试参数模拟各种工作环境，从而快速有效地实现对存储设备的旋转振动测试。
附图说明
图1为本发明存储设备旋转振动测试系统较佳实施例的运行环境示意图。
图2为本发明存储设备旋转振动测试系统的功能模块图。
图3为本发明存储设备旋转振动测试方法较佳实施例的流程图。
主要元件符号说明
  存储设备旋转振动测试系统   10
  主机   11
  存储设备   12
  存储器   13A-13X
  风扇   14
  存储区   15
  处理器   16
  显示器   17
  设置模块   200
  选择模块   210
  风扇控制模块   220
  负载控制模块   230
  测试模块   240
  存储模块   250
  输出模块   260
具体实施方式
参阅图1所示，是本发明存储设备旋转振动测试系统较佳实施例的运行环境示意图。所述存储设备旋转振动测试系统10运行于主机11中。该主机11还包括存储区15、处理器16及显示器17。所述存储区15存储该存储设备旋转振动测试系统10的程序指令以及该存储设备旋转振动测试系统10运行过程中产生的数据。所述处理器16执行该存储设备旋转振动测试系统10。所述显示器17提供一个用户界面，以显示该存储设备旋转振动测试系统10的运行结果。所述主机11与存储设备12通信连接。该存储设备12包括存储器13A-13X及风扇14。当主机11对存储设备12读/写数据时，存储器13A-13X及风扇14的运行(例如存储器13A-13X的驱动器的旋转以及风扇14的旋转)产生旋转振动，该旋转振动导致存储器13A-13X读写性能的下降。所述存储器13A-13X包括硬盘、光盘以及磁带。所述风扇14可根据主机11的转速控制命令以不同的转速运转，以调节存储设备12的温度。
参阅图2所示，是本发明存储设备旋转振动测试系统10的功能模块图。所述存储设备旋转振动测试系统10包括设置模块200、选择模块210、风扇控制模块220、负载控制模块230、测试模块240、存储模块250及输出模块260。
所述设置模块200用于设置存储设备12的测试参数。所述测试参数包括待测的存储设备12的存储器、待测的风扇转速、待测的工作负载以及测试时间。所述工作负载用以模拟实际工作环境中存储设备12收到的各种读/写数据请求。该工作负载可以针对选定的存储器，例如，对选定的存储器随机写入4KB的数据块。该工作负载还可以针对包括选定的存储器在内的多个存储器，例如，对所有待测的存储器随机写入64KB的数据块。在本实施例中，待测的存储器包括存储设备12的24个存储器13A-13X(例如：24块硬盘)；待测的风扇转速包括1200转/分、2400转/分及3600转/分；待测的工作负载包括对选定的存储器随机写入4KB的数据块、对选定的存储器随机写入64KB的数据块，对选定的存储器随机写入256KB的数据块、对选定的存储器连续写入256KB的数据块、对选定的存储器随机读取4KB的数据块、对所有待测的存储器随机写入64KB的数据块以及对所有待测的存储器随机写入256KB的数据块；测试时间为在对每个待测的存储器，在每个确定条件下(即选定风扇转速以及工作负载)测试6次，每次测试一分钟。
所述选择模块210用于从待测的存储器中逐一选择存储器。例如选择模块从存储器13A-13X中逐一选择存储器。
所述风扇控制模块220用于从待测的风扇转速中逐一选择风扇转速，对于每个选择的风扇转速，生成转速控制命令并发送给风扇14，从而控制风扇14以该选择的转速运转。例如，风扇控制模块220从待测的风扇转速中选择1200转/分，并且控制风扇14以1200转/分的转速运转。
所述负载控制模块230用于从待测的工作负载中逐一选择工作负载，对于每个选择的工作负载，对存储设备12产生该选择的工作负载。例如，负载控制模块230从待测的工作负载中选择对选定的存储器随机写入4KB的数据块，并且对选择的存储器(例如：存储器13A)产生随机写入4KB的数据块的工作负载。
所述测试模块240用于根据设置的测试时间，在选择的风扇转速以及工作负载下测试选择的存储器的读写性能。在本实施例中，测试模块240测试选择的存储器的每秒读/写操作次数，以表示该选择的存储器的读写性能。例如，测试模块240在风扇转速为1200转/分，对存储器13A随机写入4KB的数据块的条件下，对测试6次存储器13A的每秒读/写操作次数，每次测试一分钟，测得存储器13A的6个每秒读/写操作次数，分别为234.67、234.05、234.34、234.43、234.38与234.41。在本实施例中，测试模块240对测得的最后4个每秒读/写操作次数求平均值，作为选择的存储器在选择条件下的平均每秒读/写操作次数。例如，测试模块240对234.34、234.43、234.38及234.41求平均值，得到存储器13A在风扇转速为1200转/分，工作负载为对存储器13A随机写入4KB的数据块条件下的平均每秒读/写操作次数，即234.39。
所述存储模块250用于将选择的存储器的读写性能的测试数据储存到存储区15。在本实施例中，存储模块250按照指定的存储路径存储所述选择的存储器的读写性能的测试数据。例如，将所述选择的存储器的读写性能的测试数据储存至F:\RVTest\Result。
所述输出模块260用于输出选择的存储器的读写性能的测试数据。在本实施例中，输出模块260将选择的存储器的读写性能的测试数据输出到显示器17上。例如，输出模块260显示存储器13A的6个每秒读/写操作次数234.67、234.05、234.34、234.43、234.38与234.41，以及平均每秒读/写操作次数234.39。
参阅图3所示，是本发明存储设备旋转振动测试方法较佳实施例的流程图。
步骤S301，设置模块200设置存储设备12的测试参数。所述测试参数包括待测的存储设备12的存储器、待测的风扇转速、待测的工作负载以及测试时间。所述工作负载用以模拟实际工作环境中存储设备12收到的各种读/写数据请求。该工作负载可以针对选定的存储器，例如，对选定的存储器随机写入4KB的数据块。该工作负载还可以针对包括选定的存储器在内的多个存储器，例如，对所有待测的存储器随机写入64KB的数据块。在本实施例中，待测的存储器包括存储设备12的24个存储器13A-13X(例如：24块硬盘)；待测的风扇转速包括1200转/分、2400转/分及3600转/分；待测的工作负载包括对选定的存储器随机写入4KB的数据块、对选定的存储器随机写入64KB的数据块，对选定的存储器随机写入256KB的数据块、对选定的存储器连续写入256KB的数据块、对选定的存储器随机读取4KB的数据块、对所有待测的存储器随机写入64KB的数据块以及对所有待测的存储器随机写入256KB的数据块；测试时间为在对每个待测的存储器，在每个确定条件下(即选定风扇转速以及工作负载)测试6次，每次测试一分钟。
步骤S302，选择模块210从待测的存储器中选择一个存储器。例如，从待测的存储器13A-13X中选择存储器13A。
步骤S303，风扇控制模块220从待测的风扇转速中选择一个风扇转速。例如，风扇控制模块220从待测的风扇转速1200转/分、2400转/分及3600转/分中选择风扇转速1200转/分。
步骤S304，风扇控制模块220根据选择的风扇转速，生成转速控制命令并发送给风扇14，从而控制风扇14以该选择的转速运转。例如，风扇控制模块220控制风扇14以1200转/分的转速运转。
步骤S305，负载控制模块230从待测的工作负载中选择一个工作负载。例如，负载控制模块230从待测的工作负载中选择对选定的存储器随机写入4KB的数据块。
步骤S306，负载控制模块230对存储设备12产生该选择的工作负载。例如，负载控制模块230对存储器13A随机写入4KB的数据块。或者，负载控制模块230对存储器13A-13X随机写入64KB的数据块。
步骤S307，测试模块240根据设置的测试时间，在选择的风扇转速以及工作负载下测试选择的存储器的读写性能。在本实施例中，测试模块240测试选择的存储器的每秒读/写操作次数，以表示该选择的存储器的读写性能。例如，测试模块240在风扇转速为1200转/分，对存储器13A随机写入4KB的数据块的条件下，测试6次存储器13A的每秒读/写操作次数，每次测试一分钟，测得存储器13A的6个每秒读/写操作次数，分别为234.67、234.05、234.34、234.43、234.38及234.41。在本实施例中，测试模块240对测得的最后4个每秒读/写操作次数求平均值，作为选择的存储器在选择条件下的平均每秒读/写操作次数。例如，测试模块240对234.34、234.43、234.38及234.41求平均值，得到存储器13A在风扇转速为1200转/分，工作负载为对存储器13A随机写入4KB的数据块条件下的平均每秒读/写操作次数，即234.39。
步骤S308，存储模块250将选择的存储器的读写性能的测试数据储存到存储区15。在本实施例中，存储模块250按照指定的存储路径存储所述选择的存储器的读写性能的测试数据。例如，将所述选择的存储器的读写性能的测试数据储存至F:\RVTest\Result。在本实施例中，存储模块250还将选择的存储器的读写性能的测试数据输出到显示器17上。
步骤S309，输出模块260输出选择的存储器的读写性能的测试数据。在本实施例中，输出模块260将选择的存储器的读写性能的测试数据输出到显示器17上。例如，输出模块260显示存储器13A的6个每秒读/写操作次数234.67、234.05、234.34、234.43、234.38与234.41，以及平均每秒读/写操作次数234.39。
步骤S310，判断是否有其他待测的工作负载。如果有其他待测的工作负载，则返回步骤S305，负载控制模块230从待测的工作负载中选择下一个工作负载。
如果没有其他待测的工作负载，则步骤S311，判断是否有其他待测的风扇转速。如果有其他待测的风扇转速，则返回步骤S304，风扇控制模块220从待测的风扇转速中选择下一个风扇转速。
如果没有其他待测的风扇转速，则步骤S312，判断是否有其他待测的存储器。如果有其他待测的存储器，则返回步骤S303，从待测的存储器中选择下一个存储器。如果所有待测的存储器都已测试完毕，则流程结束。

Claims (8)

1.一种存储设备旋转振动测试系统，运行于主机中，所述存储设备包括至少一个存储器以及至少一个风扇，其特征在于，该系统包括：
设置模块，用于设置存储设备的测试参数，所述测试参数包括待测的存储器、待测的风扇转速、待测的工作负载以及测试时间；
选择模块，用于从待测的存储器中逐一选择存储器；
风扇控制模块，用于从待测的风扇转速中逐一选择风扇转速，并且控制风扇以该选择的转速运转；
负载控制模块，用于从待测的工作负载中逐一选择工作负载，并且对存储设备产生该选择的工作负载；
测试模块，用于根据设置的测试时间，在选择的风扇转速以及工作负载下测试选择的存储器的读写性能；及
存储模块，用于存储选择的存储器的读写性能的测试数据。
2.如权利要求1所述的存储设备旋转振动测试系统，其特征在于，该系统还包括输出模块，用于输出选择的存储器的读写性能的测试数据。
3.如权利要求1所述的存储设备旋转振动测试系统，其特征在于，所述存储器包括硬盘、光盘以及磁带。
4.如权利要求1所述的存储设备旋转振动测试系统，其特征在于，所述测试模块通过测试选择的存储设备的每秒读/写操作次数来获知选择的存储器的读写性能。
5.一种存储设备旋转振动测试方法，所述存储设备包括至少一个存储器以及至少一个风扇，其特征在于，该方法包括步骤：
设置存储设备的测试参数，所述测试参数包括待测的存储器、待测的风扇转速、待测的工作负载以及测试时间；
从待测的存储器中选择一个存储器；
从待测的风扇转速中选择一个风扇转速；
控制风扇以该选择的转速运转；
从待测的工作负载中选择一个工作负载；
对存储设备产生该选择的工作负载；
根据设置的测试时间，在选择的风扇转速以及工作负载下测试选择的存储器的读写性能；
存储选择的存储器的读写性能的测试数据；
若有其他待测的工作负载，则返回选择工作负载的步骤；
若有其他待测的风扇转速，则返回选择风扇转速的步骤；及
若有其他待测的存储器，则返回选择存储器的步骤。
6.如权利要求5所述的存储设备旋转振动测试方法，其特征在于，该方法还包括步骤：输出选择的存储器的读写性能的测试数据。
7.如权利要求5所述的存储设备旋转振动测试方法，其特征在于，所述存储器包括硬盘、光盘以及磁带。
8.如权利要求5所述的存储设备旋转振动测试方法，其特征在于，所述根据设置的测试时间，在选择的风扇转速以及工作负载下测试选择的存储器的读写性能的步骤中，通过测试选择的存储设备的每秒读/写操作次数来获知选择的存储器的读写性能。
CN200910311036.0A 2009-12-08 2009-12-08 存储设备旋转振动测试系统及方法 Expired - Fee Related CN102087855B (zh)

Priority Applications (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN200910311036.0A CN102087855B (zh) 2009-12-08 2009-12-08 存储设备旋转振动测试系统及方法
US12/764,937 US8386205B2 (en) 2009-12-08 2010-04-21 Rotational vibration test system and method

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN200910311036.0A CN102087855B (zh) 2009-12-08 2009-12-08 存储设备旋转振动测试系统及方法

Publications (2)

Publication Number Publication Date
CN102087855A true CN102087855A (zh) 2011-06-08
CN102087855B CN102087855B (zh) 2015-04-22

Family

ID=44083195

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
CN200910311036.0A Expired - Fee Related CN102087855B (zh) 2009-12-08 2009-12-08 存储设备旋转振动测试系统及方法

Country Status (2)

Country Link
US (1) US8386205B2 (zh)
CN (1) CN102087855B (zh)

Cited By (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN102522101A (zh) * 2011-12-16 2012-06-27 浪潮电子信息产业股份有限公司 一种判断存储系统振动是否达标的测试方法
CN103365384A (zh) * 2012-03-27 2013-10-23 纬创资通股份有限公司 管理模块、储存系统及其温度与震动管理方法
CN104636225A (zh) * 2015-03-05 2015-05-20 浪潮电子信息产业股份有限公司 一种评估服务器自身振动对磁盘性能影响的方法
CN104637498A (zh) * 2015-02-25 2015-05-20 浪潮电子信息产业股份有限公司 一种测试系统级震动对硬盘性能影响的方法
CN108052441A (zh) * 2017-12-29 2018-05-18 郑州云海信息技术有限公司 一种硬盘效能状态的测试方法、系统、装置及存储介质
CN108520762A (zh) * 2018-03-21 2018-09-11 西安交通大学 一种振动环境下批量硬盘加速退化试验方法及装置
CN109614306A (zh) * 2018-12-12 2019-04-12 广东浪潮大数据研究有限公司 硬盘性能检测方法、装置、设备及计算机可读存储介质
CN112901546A (zh) * 2021-02-24 2021-06-04 东风马勒热系统有限公司 电控硅油风扇性能间接测量方法及装置

Families Citing this family (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
TW201232253A (en) * 2011-01-24 2012-08-01 Hon Hai Prec Ind Co Ltd System and method for arranging test data
US10120351B1 (en) 2013-06-26 2018-11-06 Western Digital Technologies, Inc. Method and apparatus for cooling components in an electronic device
US9763116B2 (en) 2014-08-27 2017-09-12 Western Digital Technologies, Inc. Method of optimizing device performance by maintaining device within temperature limits
TWI710753B (zh) * 2019-09-12 2020-11-21 英業達股份有限公司 分析振噪影響硬碟效能的方法
US11994557B2 (en) * 2022-09-13 2024-05-28 Dell Products, L.P. Adaptive port ceiling assignment for background I/O operations between heterogeneous storage arrays

Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN1363086A (zh) * 1999-07-23 2002-08-07 西加特技术有限责任公司 使用自调谐加速度计前馈伺服系统的磁盘驱动器的干扰抑制
US6963463B2 (en) * 2002-05-24 2005-11-08 Hitachi Global Storage Technologies Netherlands B.V. Rotational vibration velocity-based sensor for disk drives
CN101308665A (zh) * 2007-05-18 2008-11-19 日立环球储存科技荷兰有限公司 磁盘驱动器以及控制方法

Family Cites Families (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US7171589B1 (en) * 2003-12-17 2007-01-30 Sun Microsystems, Inc. Method and apparatus for determining the effects of temperature variations within a computer system

Patent Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN1363086A (zh) * 1999-07-23 2002-08-07 西加特技术有限责任公司 使用自调谐加速度计前馈伺服系统的磁盘驱动器的干扰抑制
US6963463B2 (en) * 2002-05-24 2005-11-08 Hitachi Global Storage Technologies Netherlands B.V. Rotational vibration velocity-based sensor for disk drives
CN101308665A (zh) * 2007-05-18 2008-11-19 日立环球储存科技荷兰有限公司 磁盘驱动器以及控制方法

Cited By (10)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN102522101A (zh) * 2011-12-16 2012-06-27 浪潮电子信息产业股份有限公司 一种判断存储系统振动是否达标的测试方法
CN103365384A (zh) * 2012-03-27 2013-10-23 纬创资通股份有限公司 管理模块、储存系统及其温度与震动管理方法
CN103365384B (zh) * 2012-03-27 2017-08-29 纬创资通股份有限公司 管理模块、储存系统及其温度与震动管理方法
CN104637498A (zh) * 2015-02-25 2015-05-20 浪潮电子信息产业股份有限公司 一种测试系统级震动对硬盘性能影响的方法
CN104637498B (zh) * 2015-02-25 2018-06-19 浪潮电子信息产业股份有限公司 一种测试系统级震动对硬盘性能影响的方法
CN104636225A (zh) * 2015-03-05 2015-05-20 浪潮电子信息产业股份有限公司 一种评估服务器自身振动对磁盘性能影响的方法
CN108052441A (zh) * 2017-12-29 2018-05-18 郑州云海信息技术有限公司 一种硬盘效能状态的测试方法、系统、装置及存储介质
CN108520762A (zh) * 2018-03-21 2018-09-11 西安交通大学 一种振动环境下批量硬盘加速退化试验方法及装置
CN109614306A (zh) * 2018-12-12 2019-04-12 广东浪潮大数据研究有限公司 硬盘性能检测方法、装置、设备及计算机可读存储介质
CN112901546A (zh) * 2021-02-24 2021-06-04 东风马勒热系统有限公司 电控硅油风扇性能间接测量方法及装置

Also Published As

Publication number Publication date
US8386205B2 (en) 2013-02-26
US20110138227A1 (en) 2011-06-09
CN102087855B (zh) 2015-04-22

Similar Documents

Publication Publication Date Title
CN102087855B (zh) 存储设备旋转振动测试系统及方法
CN102568522B (zh) 硬盘性能的测试方法和装置
CN103377115A (zh) 系统事件日志管理系统及系统事件日志管理方法
US7702479B2 (en) On-board guard-band chamber environment emulator
CN103176748A (zh) 基于环境的设备操作
KR101521493B1 (ko) 통신 속도를 조절할 수 있는 컨트롤러, 상기 컨트롤러를포함하는 데이터 저장 장치, 및 상기 데이터 저장 장치를포함하는 데이터 통신 시스템
US20040078185A1 (en) Method and apparatus for automated analysis of hard disk drive performance
CN103838521B (zh) 一种数据处理方法及装置
KR20100114697A (ko) 스토리지 테스터 및 ｓｓｄ 디바이스
CN109471762A (zh) 固态硬盘ssd性能测试方法和装置
US20170262337A1 (en) Memory module repair system with failing component detection and method of operation thereof
CN114168397A (zh) 一种固态硬盘的性能测试方法、装置、设备及存储介质
CN102077102A (zh) 测试装置、程序和记录介质
CN107506270A (zh) 一种测试ssd一致性的方法
CN102222517B (zh) 丛集硬盘自动化测试方法及其系统
KR101861647B1 (ko) 메모리 시스템 및 그 리프레시 제어 방법
CN110853695A (zh) 一种测试nvram存储性能的方法
CN108701091A (zh) 用于动态工作负荷的机会存储器微调
CN101458811B (zh) 处理数据的装置和方法
TWI464380B (zh) 儲存設備旋轉振動測試系統及方法
CN102646024B (zh) 多硬盘的读写管理方法与系统、电子装置
CN103631737A (zh) 存储器数据处理系统及方法
US20170148528A1 (en) Semiconductor device and semiconductor system including the same
CN102201245A (zh) 光盘的记录品质评价方法和光盘存储装置
CN109614306A (zh) 硬盘性能检测方法、装置、设备及计算机可读存储介质

Legal Events

Date Code Title Description
C06 Publication
PB01 Publication
C10 Entry into substantive examination
SE01 Entry into force of request for substantive examination
ASS Succession or assignment of patent right

Free format text: FORMER OWNER: HONGFUJIN PRECISE INDUSTRY CO., LTD.

Effective date: 20150323

Owner name: HUAINAN DONGZHENG ELECTRONICS TECHNOLOGY CO., LTD.

Free format text: FORMER OWNER: HONGFUJIN PRECISE INDUSTRY (SHENZHEN) CO., LTD.

Effective date: 20150323

C41 Transfer of patent application or patent right or utility model
C53 Correction of patent of invention or patent application
CB03 Change of inventor or designer information

Inventor after: Song Yanli

Inventor before: Lin Shenghan

COR Change of bibliographic data

Free format text: CORRECT: INVENTOR; FROM: LIN SHENGHAN TO: SONG YANLI

Free format text: CORRECT: ADDRESS; FROM: 518109 SHENZHEN, GUANGDONG PROVINCE TO: 232007 HUAINAN, ANHUI PROVINCE

TA01 Transfer of patent application right

Effective date of registration: 20150323

Address after: 232007 Anhui Province, Huainan city tianjia'an District Chaoyang Street No. 119 Huasheng Garden Community

Applicant after: East, Huainan positive electron Science and Technology Ltd.

Address before: 518109 Guangdong city of Shenzhen province Baoan District Longhua Town Industrial Zone tabulaeformis tenth East Ring Road No. 2 two

Applicant before: Hongfujin Precise Industry (Shenzhen) Co., Ltd.

Applicant before: Hon Hai Precision Industry Co., Ltd.

C14 Grant of patent or utility model
GR01 Patent grant
CF01 Termination of patent right due to non-payment of annual fee

Granted publication date: 20150422

Termination date: 20151208

EXPY Termination of patent right or utility model