KR101087182B1 - 스토리지 테스터 및 ｓｓｄ 디바이스 - Google Patents

스토리지 테스터 및 ｓｓｄ 디바이스 Download PDF

Info

Publication number
KR101087182B1
KR101087182B1 KR1020090033206A KR20090033206A KR101087182B1 KR 101087182 B1 KR101087182 B1 KR 101087182B1 KR 1020090033206 A KR1020090033206 A KR 1020090033206A KR 20090033206 A KR20090033206 A KR 20090033206A KR 101087182 B1 KR101087182 B1 KR 101087182B1
Authority
KR
South Korea
Prior art keywords
test
storage
interface
user
interface unit
Prior art date
Application number
KR1020090033206A
Other languages
English (en)
Other versions
KR20100114697A (ko
Inventor
장영균
노건호
옹문발
이성현
Original Assignee
(주) 제노맥스
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by (주) 제노맥스 filed Critical (주) 제노맥스
Priority to KR1020090033206A priority Critical patent/KR101087182B1/ko
Publication of KR20100114697A publication Critical patent/KR20100114697A/ko
Application granted granted Critical
Publication of KR101087182B1 publication Critical patent/KR101087182B1/ko

Links

Images

Classifications

    • G—PHYSICS
    • G11—INFORMATION STORAGE
    • G11C—STATIC STORES
    • G11C29/00—Checking stores for correct operation ; Subsequent repair; Testing stores during standby or offline operation
    • G11C29/56—External testing equipment for static stores, e.g. automatic test equipment [ATE]; Interfaces therefor
    • G—PHYSICS
    • G11—INFORMATION STORAGE
    • G11C—STATIC STORES
    • G11C29/00—Checking stores for correct operation ; Subsequent repair; Testing stores during standby or offline operation
    • G11C29/56—External testing equipment for static stores, e.g. automatic test equipment [ATE]; Interfaces therefor
    • G11C29/56004—Pattern generation
    • G—PHYSICS
    • G11—INFORMATION STORAGE
    • G11C—STATIC STORES
    • G11C29/00—Checking stores for correct operation ; Subsequent repair; Testing stores during standby or offline operation
    • G11C29/56—External testing equipment for static stores, e.g. automatic test equipment [ATE]; Interfaces therefor
    • G11C2029/5602—Interface to device under test

Landscapes

  • Tests Of Electronic Circuits (AREA)

Abstract

본 발명의 일실시예에 따른 스토리지 테스터(storage tester)는, 스토리지(storage)와의 인터페이스를 유지하는 스토리지 인터페이스부; 사용자로부터 상기 스토리지의 테스트를 위한 테스트 조건을 입력 받는 사용자 인터페이스부; 상기 사용자로부터 입력 받은 상기 테스트 조건에 대응하는 상기 스토리지의 테스트를 위한 테스트 패턴(test pattern)을 생성하는 테스트 패턴 생성부; 및 상기 테스트 패턴을 통해 상기 스토리지의 테스트를 제어하는 테스트 제어부를 포함한다.
SSD, 스토리지, 테스트, SATA, PCI-e, 원칩

Description

스토리지 테스터 및 ＳＳＤ 디바이스{STORAGE TESTER AND SOLID STATE DRIVE DEVICE}
본 발명은 스토리지 테스터 및 SSD 디바이스에 관한 것으로, 더욱 상세하게는 SSD 및 각종 스토리지를 테스트하기 위한 테스터를 원칩(One Chip)으로 구현하여 독립적으로 각 스토리지 및 SSD를 테스트함으로써, 테스트 속도를 향상시키고 저가화, 발열, 전력소모, 테스터 부피의 문제를 최소화할 수 있는 스토리지 테스터 및 SSD 디바이스에 관한 것이다.
컴퓨터 프로세서가 접근할 수 있도록 데이터를 전자기 형태로 저장하는 장소를 말하며, 1차 스토리지와 2차 스토리지로 나뉜다. 인터넷 산업이 발전하면서 대용량의 저장소를 뜻하는 정보기술 용어를 의미하게 되었다. 스토리지 시장은 세계적으로 성장하여 서버 시장 규모를 앞지를 전망이다.
컴퓨터 프로세서가 접근할 수 있도록 데이터를 전자기 형태로 저장하는 장소를 말하며, 1차 스토리지와 2차 스토리지로 나뉜다. 1차 스토리지는 램을 비롯한 여러 내부 장치에 들어 있는 데이터이며, 2차 스토리지는 하드디스크·테이프 및 외부 장치에 들어 있는 데이터로, 1차 스토리지의 속도가 2차보다 훨씬 빠르지만, 정보는 2차 스토리지가 훨씬 많이 저장할 수 있다.
스토리지는 몇 년 전까지만 해도 디지털 정보를 저장하는 네트워크 주변장치 정도로만 인식되어 오다가 인터넷 산업이 빠르게 발전하면서 대용량 저장장치를 뜻하는 정보기술(IT) 용어로 의미가 확대되었다. 즉, 기업이 내외부의 방대한 정보를 효율적으로 관리·유지하거나 가공해야 할 필요성이 제기되면서 전사적 자원 관리, 지식 관리, 고객 관리 등 사업 전부문을 하나의 시스템 안에 저장할 수 있는 수단으로 등장한 것이다.
스토리지의 일종으로 근래에 컴퓨터 등 데이터 처리장치에 있어서 데이터 입출력시 병목 현상으로 인한 성능 저하를 해결할 수 있는 기술로 솔리드 스테이트 디스크(SSD) 방식이 제안되고 있다. 상기 솔리드 스테이트 디스크는, 하드 디스크 드라이브(HDD)가 아닌 플래시, DDR 등 메모리를 기반으로 한 데이터 저장장치이다. 또한, 기존의 HDD에 필수적으로 사용되는 모터와 기계적 구동장치를 없애, 작동시 열과 소음이 거의 발생하지 않고 외부충격에 강할 뿐 아니라, 데이터 전송 속도에 있어서 기존의 HDD에 비해 수십 배 이상 향상된 성능을 보인다.
솔리드 스테이트 디스크(Solid State Disk)는 하드 디스크 드라이브(HDD)와 비슷하게 동작하면서도 기계적 장치인 HDD와는 달리 반도체를 이용하여 정보를 저장한다. 임의접근을 하여 탐색시간 없이 고속으로 데이터를 입출력할 수 있으면서도 기계적 지연이나 실패율이 현저히 적다. 또 외부의 충격으로 데이터가 손상되지 않으며, 발열·소음 및 전력소모가 적고, 소형화·경량화할 수 있는 장점이 있다. 플래시 방식의 비휘발성 낸드플래시메모리나 램(RAM) 방식의 휘발성 DRAM을 사용한 다. 플래시 방식은 RAM 방식에 비하면 느리지만 HDD보다는 속도가 빠르며, 비휘발성 메모리를 사용하여 갑자기 정전이 되더라도 데이터가 손상되지 않는다. DRAM 방식은 빠른 접근이 장점이지만 제품 규격이나 가격, 휘발성이라는 문제점이 있다.
최초 개발 뒤 용량에 한계가 있어 MP3 플레이어나 휴대용 저장장치 등에 주로 사용되어왔으나, 128GB에 이어 256GB의 대용량 SSD가 개발되면서 노트북PC나 데스크톱PC에도 활용할 수 있게 되어 HDD를 대체할 차세대 저장장치가 될 것으로 전망된다.
이러한 SSD의 성능은 SSD 테스터를 통해 이루어진다. 일반 PCI(33MHz, 32bit) 기반으로 된 테스터는 낮은 버스의 대역폭(133MB/s)을 공유하는 SATA 컨트롤러를 통해 각각의 SSD를 테스트하는 방식을 취하고 있다. 따라서, 동시에 테스트하는 SSD의 개수가 많아지면, 버스의 대역폭 한계로 인해 전체 테스트 시간이 산술적으로 증가하는 단점이 있다. 또한, 버스 속도가 저하되어 SATA2 이상의 컨트롤러의 데이터 전송 속도를 지원할 수 없다는 문제점이 있다.
도 1에 도시된 바와 같이, 기존 SSD 테스터는 다량의 SSD를 동시에 테스트하기 위해 여러 대의 SSD 테스트 PC가 챔버에 장착되어 있다. SSD를 빠르게 테스트하기 위해 성능이 좋은 산업용 풀사이즈 PC를 사용한다. 따라서, 발열이 심하고 많은 전력을 소모하며, 덩치가 크다. 열을 식히기 위해서 시스템 쿨링을 위한 비용이 추가되고, 높은 전력을 공급하기 위한 파워가 필요하다. 그리고 테스터의 크기가 커서 DUT까지 거리가 멀어서 연결하는 케이블의 길이가 길어진다. 그리고 많은 SSD를 동시에 테스트하기 위해서 한 PC에서 4개 내지 8개의 DUT를 연결하여 동 시에 테스트한다. 따라서, PC의 시스템 버스에 데이터 병목 현상이 발생하여 테스트 속도가 느려진다는 단점이 있다.
이에, 보다 빠른 속도로 보다 많은 SSD를 비롯한 다양한 모듈을 테스트 할 수 있는 기술의 개발이 요구되고 있다.
본 발명은 상기와 같은 종래 기술을 개선하기 위해 안출된 것으로서, SSD 및 각종 스토리지를 테스트하기 위한 테스터를 원칩(One Chip)으로 구현하여 독립적으로 각 스토리지 및 SSD를 테스트함으로써, 테스트 속도를 향상시키고 저가화, 발열, 전력소모, 테스터 부피의 문제를 최소화할 수 있는 스토리지 테스터 및 SSD 디바이스를 제공하는 것을 목적으로 한다.
상기의 목적을 이루고 종래기술의 문제점을 해결하기 위하여, 본 발명의 일실시예에 따른 스토리지 테스터(storage tester)는, 스토리지(storage)와의 인터페이스를 유지하는 스토리지 인터페이스부; 사용자로부터 상기 스토리지의 테스트를 위한 테스트 조건을 입력 받는 사용자 인터페이스부; 상기 사용자로부터 입력 받은 상기 테스트 조건에 대응하는 상기 스토리지의 테스트를 위한 테스트 패턴(test pattern)을 생성하는 테스트 패턴 생성부; 및 상기 테스트 패턴을 통해 상기 스토리지의 테스트를 제어하는 테스트 제어부를 포함한다.
또한, 본 발명의 일실시예에 따른 솔리드 스테이트 드라이브 디바이스(SSD Device)는, 솔리드 스테이트 드라이브(SSD: Solid State Drive); 상기 솔리드 스테이트 드라이브와의 인터페이스를 유지하는 솔리드 스테이브 드라이브 인터페이스부; 사용자로부터 상기 솔리드 스테이트 드라이브의 테스트를 위한 테스트 조건을 입력 받는 사용자 인터페이스부; 상기 사용자로부터 입력 받은 상기 테스트 조건에 대응하는 상기 솔리드 스테이브 드라이브의 테스트를 위한 테스트 패턴(test pattern)을 생성하는 테스트 패턴 생성부; 및 상기 테스트 패턴을 통해 상기 솔리드 스테이트 드라이브의 테스트를 제어하는 테스트 제어부를 포함한다.
본 발명의 스토리지 테스터 및 SSD 디바이스에 따르면, SSD 및 각종 스토리지를 테스트하기 위한 테스터를 원칩(One Chip)으로 구현하여 독립적으로 각 스토리지 및 SSD를 테스트함으로써, 테스트 속도를 향상시키고 저가화, 발열, 전력소모, 테스터 부피의 문제를 최소화할 수 있는 효과를 얻을 수 있다.
이하에서는 첨부된 도면을 참조하여 본 발명의 실시예를 상세히 설명한다.
도 2는 본 발명의 일실시예에 따른 스토리지 테스터의 구성을 도시한 블록도이다.
본 발명의 일실시예에 따른 스토리지 테스터(200)는 스토리지 인터페이스부(210), 사용자 인터페이스부(220), 테스트 패턴 생성부(230), 테스트 제어부(240), 및 네트워크 인터페이스부(250)를 포함한다.
스토리지 인터페이스부(210)는 스토리지(storage)와의 인터페이스를 유지한다. 이를 위하여, 스토리지 인터페이스부(210)는 스토리지(261)와의 SATA(Serial-ATA) 인터페이스를 위한 SATA 인터페이스부(211)를 포함할 수 있다. 또한, 스토리지 인터페이스부(210)는 스토리지(262)와의 PCI-e(PCI express) 인터페이스를 위한 PCI-e 인터페이스부(212)를 포함할 수 있고, PCI-e 인터페이스부(212)는 PCI- e/SATA 변환기(263)를 통해 스토리지(262)와 인터페이스될 수 있다.
사용자 인터페이스부(220)는 사용자로부터 상기 스토리지의 테스트를 위한 테스트 조건을 입력 받는다. 사용자 인터페이스부(220)는 상기 사용자의 상기 테스트 조건 입력을 위하여, 키패드 모듈, 터치스크린 모듈, 음성인식 모듈 중 어느 하나 이상을 포함할 수 있다. 또한, 사용자 인터페이스부(220)는 테스트 제어부(240)의 상기 스토리지 테스트에 대한 테스트 상태정보 및 테스트 결과정보를 상기 사용자에게 디스플레이하는 디스플레이 모듈을 포함할 수 있다.
테스트 패턴 생성부(230)는 상기 사용자로부터 입력 받은 상기 테스트 조건에 대응하는 상기 스토리지의 테스트를 위한 테스트 패턴(test pattern)을 생성한다. 상기 테스트 패턴은 SSD를 비롯한 각종 스토리지의 테스트에 널리 사용되는 다양한 종류의 테스트 패턴으로 구현될 수 있다.
테스트 제어부(240)는 상기 테스트 패턴을 통해 상기 스토리지의 테스트를 제어한다. 테스트 제어부(240)는 상기 테스트 패턴을 기반으로 테스트 신호를 생성하여 SATA 인터페이스부(211) 또는 PCI-e 인터페이스부(212)를 통해 스토리지에 상기 테스트 신호를 전송하여 상기 스토리지의 테스트를 제어할 수 있다.
네트워크 인터페이스부(250)는 외부 서버(271) 또는 외부 단말기(272)와 유무선 네트워크 접속을 유지한다. 네트워크 인터페이스부(250)는 USB나 RS-232 등의 유선 통신을 통해 외부 서버(271) 또는 외부 단말기(272)와 접속될 수 있고, 블루투스(Bluetooth), 지그비(Zigbee), UWB 등의 근거리 무선통신을 통해 외부 서버(271) 또는 외부 단말기(272)와 접속될 수도 있다.
네트워크 인터페이스부(250)는 상기 사용자가 외부 서버(271) 또는 외부 단말기(272)를 통해 입력한 테스트 조건을 유무선 네트워크를 통해 수신한다. 테스트 패턴 생성부(230)는 네트워크 인터페이스부(250)가 외부 서버(271) 또는 외부 단말기(272)로부터 수신한 상기 사용자의 상기 테스트 조건에 대응하는 테스트 패턴을 생성한다. 테스트 제어부(240)는 상기 생성된 상기 테스트 패턴에 따라 스토리지의 테스트 수행을 제어할 수 있다. 즉, 사용자는 스토리지 테스터(200)와 원격에서 제어하여 스토리지에 대한 테스트를 수행할 수 있다.
본 발명의 일실시예에 따른 스토리지 테스터(200)는 스토리지와 탈착 및 부착이 가능한 일체형으로 구비될 수 있다. 예를 들어, 스토리지 테스터(200)는 SATA 인터페이스부(211) 또는 PCI-e 인터페이스부(212)를 통해 스토리지와 탈부착되는 리더기 형태로 구현될 수 있다.
또한, 스토리지 인터페이스부(210), 사용자 인터페이스부(220), 테스트 패턴 생성부(230), 테스트 제어부(240), 및 네트워크 인터페이스부(250)는 하나의 회로로 구성되는 원칩(One-Chip) 형태로 구현될 수 있다.
도 3은 본 발명의 다른 실시예에 따른 SSD 디바이스의 구성을 도시한 블록도이다.
본 발명의 일실시예에 따른 SSD 디바이스(300)는 솔리드 스테이트 드라이브(SSD: Solid State Drive, 이하, SSD)(301), SSD 인터페이스부(310), 사용자 인터페이스부(320), 테스트 패턴 생성부(330), 테스트 제어부(340), 네트워크 인터페이스부(350), 및 PC 인터페이스부(360)를 포함한다.
SSD 인터페이스부(310)는 SSD(301)와의 인터페이스를 유지한다. 이를 위하여, SSD 인터페이스부(310)는 SSD(301)와의 SATA(Serial-ATA) 인터페이스를 위한 SATA 인터페이스부(311)를 포함할 수 있다. 또한, SSD 인터페이스부(310)는 SSD(301)와의 PCI-e(PCI express) 인터페이스를 위한 PCI-e 인터페이스부(312)를 포함할 수 있고, PCI-e 인터페이스부(312)는 PCI-e/SATA 변환기를 통해 SSD (301)와 인터페이스될 수도 있다.
사용자 인터페이스부(320)는 사용자로부터 SSD(301)의 테스트를 위한 테스트 조건을 입력 받는다. 사용자 인터페이스부(320)는 상기 사용자의 상기 테스트 조건 입력을 위하여, 키패드 모듈, 터치스크린 모듈, 음성인식 모듈 중 어느 하나 이상을 포함할 수 있다. 또한, 사용자 인터페이스부(320)는 테스트 제어부(340)의 SSD(301) 테스트에 대한 테스트 상태정보 및 테스트 결과정보를 상기 사용자에게 디스플레이하는 디스플레이 모듈을 포함할 수 있다.
테스트 패턴 생성부(330)는 상기 사용자로부터 입력 받은 상기 테스트 조건에 대응하는 SSD(301)의 테스트를 위한 테스트 패턴(test pattern)을 생성한다. 상기 테스트 패턴은 SSD의 테스트에 널리 사용되는 다양한 종류의 테스트 패턴으로 구현될 수 있다.
테스트 제어부(340)는 상기 테스트 패턴을 통해 SSD(301)의 테스트를 제어한다. 테스트 제어부(340)는 상기 테스트 패턴을 기반으로 테스트 신호를 생성하여 SATA 인터페이스부(311) 또는 PCI-e 인터페이스부(312)를 통해 SSD(301)에 상기 테스트 신호를 전송하여 SSD(301)의 테스트를 제어할 수 있다.
네트워크 인터페이스부(350)는 외부 서버 또는 외부 단말기와 유무선 네트워크 접속을 유지한다. 네트워크 인터페이스부(350)는 USB나 RS-232 등의 유선 통신을 통해 외부 서버 또는 외부 단말기와 접속될 수 있고, 블루투스(Bluetooth), 지그비(Zigbee), UWB 등의 근거리 무선통신을 통해 외부 서버 또는 외부 단말기와 접속될 수도 있다.
네트워크 인터페이스부(350)는 상기 사용자가 외부 서버 또는 외부 단말기를 통해 입력한 테스트 조건을 유무선 네트워크를 통해 수신한다. 테스트 패턴 생성부(330)는 네트워크 인터페이스부(350)가 외부 서버 또는 외부 단말기로부터 수신한 상기 사용자의 상기 테스트 조건에 대응하는 테스트 패턴을 생성한다. 테스트 제어부(340)는 상기 생성된 상기 테스트 패턴에 따라 SSD(301)의 테스트 수행을 제어할 수 있다. 즉, 사용자는 SSD 디바이스(300)와 원격에서 제어하여 SSD(301)에 대한 테스트를 수행할 수 있다.
PC 인터페이스부(360)는 SSD(301) 및 PC와의 인터페이스를 유지한다. PC 인터페이스부(360)는 SATA 인터페이스 및 IDE 인터페이스 중 어느 하나를 통해 상기 PC와 인터페이스되도록 구현될 수 있다.
도 3에 도시된 바와 같이, 본 발명의 다른 실시예에 따른 SSD 테스터(300)는 SSD(301)와 일체형으로 구비될 수 있다. 예를 들어, SSD 테스터(300)는 SSD(301)를 보호하기 위한 케이스 형태로 구현될 수 있고, 상기 케이스에 SSD 인터페이스부(310), 사용자 인터페이스부(320), 테스트 패턴 생성부(330), 테스트 제어부(340), 네트워크 인터페이스부(350), 및 PC 인터페이스부(360)가 포함되도록 구 현될 수 있다. 또한, SSD 인터페이스부(310), 사용자 인터페이스부(320), 테스트 패턴 생성부(330), 테스트 제어부(340), 네트워크 인터페이스부(350), 및 PC 인터페이스부(360)는 하나의 회로로 구성되는 원칩(One-Chip) 형태로 구현될 수 있다.
이상과 같이 본 발명은 비록 한정된 실시예와 도면에 의해 설명되었으나, 본 발명은 상기의 실시예에 한정되는 것은 아니며, 이는 본 발명이 속하는 분야에서 통상의 지식을 가진 자라면 이러한 기재로부터 다양한 수정 및 변형이 가능하다. 따라서, 본 발명 사상은 아래에 기재된 특허청구범위에 의해서만 파악되어야 하고, 이의 균등 또는 등가적 변형 모두는 본 발명 사상의 범주에 속한다고 할 것이다.
도 1은 종래기술에 따른 스토리지 테스트 장치의 구성을 도시한 블록도;
도 2는 본 발명의 일실시예에 따른 스토리지 테스터의 구성을 도시한 블록도; 및
도 3은 본 발명의 다른 실시예에 따른 SSD 디바이스의 구성을 도시한 블록도.
<도면의 주요 부분에 대한 부호의 설명>
200: 스토리지 테스터 210: 스토리지 인터페이스부
211: SATA 인터페이스부 212: PCI-e 인터페이스부
220: 사용자 인터페이스부 230: 테스트 패턴 생성부
240: 테스트 제어부 250: 네트워크 인터페이스부
261: 제1 스토리지 262: 제2 스토리지
263: PCI-e/SATA 변환기 271: 외부 서버
272: 외부 단말기 273: 유무선 네트워크

Claims (11)

  1. 삭제
  2. 스토리지(storage)와의 인터페이스를 유지하는 스토리지 인터페이스부;
    사용자로부터 상기 스토리지의 테스트를 위한 테스트 조건을 입력 받는 사용자 인터페이스부;
    상기 사용자로부터 입력 받은 상기 테스트 조건에 대응하는 상기 스토리지의 테스트를 위한 테스트 패턴(test pattern)을 생성하는 테스트 패턴 생성부; 및
    상기 테스트 패턴을 통해 상기 스토리지의 테스트를 제어하는 테스트 제어부; 를 포함하는 것을 특징으로 하며,
    상기 스토리지 인터페이스부는 상기 스토리지와의 SATA(Serial-ATA) 인터페이스를 위한 SATA 인터페이스부를 포함하는 것을 특징으로 하는 스토리지 테스터(storage tester).
  3. 스토리지(storage)와의 인터페이스를 유지하는 스토리지 인터페이스부;
    사용자로부터 상기 스토리지의 테스트를 위한 테스트 조건을 입력 받는 사용자 인터페이스부;
    상기 사용자로부터 입력 받은 상기 테스트 조건에 대응하는 상기 스토리지의 테스트를 위한 테스트 패턴(test pattern)을 생성하는 테스트 패턴 생성부; 및
    상기 테스트 패턴을 통해 상기 스토리지의 테스트를 제어하는 테스트 제어부; 를 포함하는 것을 특징으로 하며,
    상기 스토리지 인터페이스부는 상기 스토리지와의 PCI-e(PCI express) 인터페이스를 위한 PCI-e 인터페이스부를 포함하고, 상기 PCI-e 인터페이스부는 PCI-e/SATA 변환기을 통해 상기 스토리지와 인터페이스되는 것을 특징으로 하는 스토리지 테스터(storage tester).
  4. 제2항 또는 제3항에 있어서,
    상기 사용자 인터페이스부는 상기 테스트 제어부의 상기 스토리지 테스트에 대한 테스트 상태정보 및 테스트 결과정보를 상기 사용자에게 디스플레이 하는 것을 특징으로 하는 스토리지 테스터(storage tester).
  5. 제2항 또는 제3항에 있어서,
    상기 스토리지 테스터는 상기 스토리지와 일체형으로 구비되는 것을 특징으로 하는 스토리지 테스터(storage tester).
  6. 제2항 또는 제3항에 있어서,
    외부 서버 또는 외부 단말기와 유무선 네트워크 접속을 유지하는 네트워크 인터페이스부를 더 포함하고,
    상기 네트워크 인터페이스부는 상기 사용자가 상기 외부 서버 또는 상기 외부 단말기를 통해 입력한 테스트 조건을 수신하고, 상기 테스트 제어부는 상기 수신한 상기 테스트 조건을 통해 상기 스토리지의 테스트의 수행을 제어하는 것을 특징으로 하는 스토리지 테스터(storage tester).
  7. 솔리드 스테이트 드라이브(SSD: Solid State Drive);
    SATA(Serial-ATA) 인터페이스를 통해 상기 솔리드 스테이트 드라이브와의 인터페이스를 유지하는 솔리드 스테이트 드라이브 인터페이스부;
    사용자로부터 상기 솔리드 스테이트 드라이브의 테스트를 위한 테스트 조건을 입력 받는 사용자 인터페이스부;
    상기 사용자로부터 입력 받은 상기 테스트 조건에 대응하는 상기 솔리드 스테이트 드라이브의 테스트를 위한 테스트 패턴(test pattern)을 생성하는 테스트 패턴 생성부; 및
    상기 테스트 패턴을 통해 상기 솔리드 스테이트 드라이브의 테스트를 제어하는 테스트 제어부;
    를 포함하는 것을 특징으로 하는 솔리드 스테이트 드라이브 디바이스(SSD Device).
  8. 제7항에 있어서,
    상기 솔리드 스테이트 드라이브 및 PC와의 인터페이스를 위한 PC 인터페이스부를 더 포함하고,
    상기 PC 인터페이스부는 SATA 인터페이스 및 IDE 인터페이스 중 어느 하나를 통해 상기 PC와 인터페이스되는 것을 특징으로 하는 솔리드 스테이트 드라이브 디바이스(SSD Device).
  9. 삭제
  10. 제7항에 있어서,
    상기 사용자 인터페이스부는 상기 테스트 제어부의 상기 솔리드 스테이트 드라이브 테스트에 대한 테스트 상태정보 및 테스트 결과정보를 상기 사용자에게 디스플레이 하는 것을 특징으로 하는 솔리드 스테이트 드라이브 디바이스(SSD Device).
  11. 제7항에 있어서,
    외부 서버 또는 외부 단말기와 유무선 네트워크 접속을 유지하는 네트워크 인터페이스부를 더 포함하고,
    상기 네트워크 인터페이스부는 상기 사용자가 상기 외부 서버 또는 상기 외부 단말기를 통해 입력한 테스트 조건을 수신하고, 상기 테스트 제어부는 상기 수신한 상기 테스트 조건을 통해 상기 솔리드 스테이트 드라이브의 테스트 수행을 제어하는 것을 특징으로 하는 솔리드 스테이트 드라이브 디바이스(SSD Device).
KR1020090033206A 2009-04-16 2009-04-16 스토리지 테스터 및 ｓｓｄ 디바이스 KR101087182B1 (ko)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR1020090033206A KR101087182B1 (ko) 2009-04-16 2009-04-16 스토리지 테스터 및 ｓｓｄ 디바이스

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR1020090033206A KR101087182B1 (ko) 2009-04-16 2009-04-16 스토리지 테스터 및 ｓｓｄ 디바이스

Publications (2)

Publication Number Publication Date
KR20100114697A KR20100114697A (ko) 2010-10-26
KR101087182B1 true KR101087182B1 (ko) 2011-11-25

Family

ID=43133805

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
KR1020090033206A KR101087182B1 (ko) 2009-04-16 2009-04-16 스토리지 테스터 및 ｓｓｄ 디바이스

Country Status (1)

Country Link
KR (1) KR101087182B1 (ko)

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US10163525B2 (en) 2016-05-17 2018-12-25 Samsung Electronics Co., Ltd. Test apparatus based on binary vector
CN109285583A (zh) * 2018-09-11 2019-01-29 中国科学院空间应用工程与技术中心 Nand闪存固态硬盘空间环境效应测试系统及试验方法

Families Citing this family (14)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US8447925B2 (en) * 2010-11-01 2013-05-21 Taejin Info Tech Co., Ltd. Home storage device and software including management and monitoring modules
US8924786B2 (en) * 2012-06-28 2014-12-30 Intel Corporation No-touch stress testing of memory I/O interfaces
KR101922109B1 (ko) 2012-07-18 2018-11-26 삼성전자주식회사 기억 장치 테스트 시스템
KR101240634B1 (ko) 2012-08-13 2013-03-11 주식회사 유니테스트 솔리드 스테이트 드라이브 테스터에서 실패 검출장치
KR101365430B1 (ko) * 2012-08-13 2014-02-20 주식회사 유니테스트 솔리드 스테이트 드라이브 테스터에서 플래시 메모리 상태검출장치
KR101254646B1 (ko) * 2012-08-13 2013-04-15 주식회사 유니테스트 솔리드 스테이트 드라이브 테스터에서 스토리지 인터페이스장치
KR101240633B1 (ko) * 2012-08-13 2013-03-11 주식회사 유니테스트 솔리드 스테이트 드라이브 테스트장치
KR101254647B1 (ko) 2012-08-13 2013-04-15 주식회사 유니테스트 솔리드 스테이트 드라이브 테스트장치
KR101365428B1 (ko) * 2012-08-13 2014-02-20 주식회사 유니테스트 솔리드 스테이트 드라이브 테스터에서 고속 메모리 테스트장치
KR101255265B1 (ko) 2012-08-13 2013-04-15 주식회사 유니테스트 솔리드 스테이트 드라이브 테스터에서 에러 발생장치
KR101522293B1 (ko) * 2013-08-29 2015-05-21 주식회사 유니테스트 복수개의 스토리지를 개별 제어 가능한 테스트 장치
KR101547317B1 (ko) 2013-09-30 2015-08-26 주식회사 유니테스트 스토리지 테스트 장치에서 로직 블록 어드레스와 데이터 버퍼 주소를 이용한 불량 블록 검출 시스템
KR101537759B1 (ko) 2013-09-30 2015-07-22 국방과학연구소 지상무인체계 시뮬레이터 및 그 운용방법
KR101586578B1 (ko) * 2014-07-31 2016-01-18 에스케이하이닉스 주식회사 다양한 순간정전 상황들을 기반으로 테스트를 수행하는 테스트 시스템

Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR200443263Y1 (ko) * 2008-09-17 2009-02-05 주식회사 엑시콘 솔리드 스테이트 드라이브 테스트용 탑재 장치

Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR200443263Y1 (ko) * 2008-09-17 2009-02-05 주식회사 엑시콘 솔리드 스테이트 드라이브 테스트용 탑재 장치

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US10163525B2 (en) 2016-05-17 2018-12-25 Samsung Electronics Co., Ltd. Test apparatus based on binary vector
CN109285583A (zh) * 2018-09-11 2019-01-29 中国科学院空间应用工程与技术中心 Nand闪存固态硬盘空间环境效应测试系统及试验方法

Also Published As

Publication number Publication date
KR20100114697A (ko) 2010-10-26

Similar Documents

Publication Publication Date Title
KR101087182B1 (ko) 스토리지 테스터 및 ｓｓｄ 디바이스
US11422722B2 (en) Intelligent wide port PHY usage
US9171643B2 (en) Solid state drive tester
EP2377027B1 (en) Memory system controller
TWI430094B (zh) 記憶體儲存裝置、記憶體控制器與溫度管理方法
US20140325148A1 (en) Data storage devices which supply host with data processing latency information, and related data processing methods
JP2012108999A (ja) シリアルインターフェースメモリの同時読み出し及び書き込みメモリ動作
CN111426946B (zh) 用于逻辑电路的全速测试的系统芯片及其操作方法
US9015545B2 (en) Solid state drive tester
US9159454B2 (en) Failure detection apparatus for solid state drive tester
KR20160066973A (ko) 스스로 에러를 검출하고 로그를 저장할 수 있는 데이터 저장 장치와 이를 포함하는 시스템
US9245613B2 (en) Storage interface apparatus for solid state drive tester
CN101419844A (zh) 一种闪存器件仿真设备以及闪存主控模块评测方法
CN116431413A (zh) 一种内存测试装置、方法、电子设备和存储介质
CN205451779U (zh) 一种存储芯片的测试设备
CN110874333B (zh) 存储设备及存储方法
US9792230B2 (en) Data input circuit of semiconductor apparatus
KR20120130871A (ko) 메모리 시스템 및 그 리프레시 제어 방법
TWI610246B (zh) 在固態硬碟中以無線射頻識別爲基之缺陷偵測技術
US9153345B2 (en) Error generating apparatus for solid state drive tester
US20180165237A1 (en) Server system
US20190228326A1 (en) Deep learning data manipulation for multi-variable data providers
US20230342274A1 (en) Modular test system
KR20240081412A (ko) 오드 섹터 크기 지원을 제공하는 자동 테스트 장비 아키텍처
US8645652B2 (en) Concurrently moving storage devices from one adapter pair to another

Legal Events

Date Code Title Description
A201 Request for examination
E902 Notification of reason for refusal
E701 Decision to grant or registration of patent right
GRNT Written decision to grant
FPAY Annual fee payment

Payment date: 20141112

Year of fee payment: 4

FPAY Annual fee payment

Payment date: 20151026

Year of fee payment: 5

FPAY Annual fee payment

Payment date: 20171026

Year of fee payment: 7

FPAY Annual fee payment

Payment date: 20181121

Year of fee payment: 8