KR101586578B1 - 다양한 순간정전 상황들을 기반으로 테스트를 수행하는 테스트 시스템 - Google Patents

다양한 순간정전 상황들을 기반으로 테스트를 수행하는 테스트 시스템 Download PDF

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김용일
유선영
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Abstract

본 기술은 다양한 순간정전 상황들을 구현하여 테스트 대상들을 자동으로 테스트할 수 있는 테스트 시스템에 관한 것으로, 테스트 항목들을 선택하고 선택된 테스트 항목들에 대한 테스트 조건을 설정할 수 있는 사용자 인터페이스를 제공하며, 상기 사용자 인터페이스를 통해 입력된 정보에 따라 테스트 대상에 대한 순간정전 발생을 제어하는 호스트 장치, 상기 호스트 장치로부터의 제어신호에 따라 상기 테스트 대상에 저장된 데이터를 이용하여 상기 테스트 항목의 동작을 수행하는 테스트부 및 상기 호스트 장치로부터의 제어신호에 따라 상기 테스트 보드와 상기 테스트 대상에 대한 전원 공급을 제어하는 전원 제어부를 포함할 수 있다.

Description

다양한 순간정전 상황들을 기반으로 테스트를 수행하는 테스트 시스템{Test system for testing devices based on a various sudden power loss situations}
본 발명은 테스트 시스템에 관한 것으로, 보다 상세하게는 다양한 순간정전 상황들을 구현하여 테스트 대상들을 자동으로 테스트할 수 있는 테스트 시스템에 관한 것이다.
최근 반도체 소자 중 하드디스크드라이브(HDD; Hard Disk Drive)와 비슷하게 동작하면서도 기계적 장치인 HDD와는 달리 플래시 메모리와 같은 반도체소자를 이용하여 정보를 저장하는 솔리드스테이트드라이브(SSD; Solid State Drive)가 HDD를 대체할 차세대 저장장치로 주목받고 있다.
SSD는 컴퓨터에 사용되는 HDD나 이동단말기에 사용되는 미니 하드디스크(Hard Disk)를 대체하기 위해 사용되고 있다. SSD는 플래시 메모리와 같은 반도체소자를 사용하여 데이터를 저장함으로써, HDD에 비해 기계적인 움직임이 없으며, HDD의 문제인 긴 탐색시간, 레이턴시시간 및 기계적 지연시간을 감소시킬 수 있다. 따라서, SSD는 프로그램의 실행속도가 빠르고, 부팅디스크(booting disk)로 사용시 하드디스크에 비해 부팅시간이 단축되는 장점을 가지고 있다.
그런데 이러한 SSD는 전원공급에 있어서 불안정성이 크다는 문제가 있다. 현재의 SSD는 호환성을 위해 HDD용으로 설계된 시스템에서 HDD를 대체하여 사용되고 있으나, 현재의 컴퓨터 시스템은 HDD를 주로 고려해서 설계되어 있으며 HDD를 사용하는 대부분의 기기들은 전원의 안정성을 정밀하게 보장하지 않는다. 이는 일반적인 상황에서는 적절한 전원이 공급되지만, 예외적인 경우에서는 순간적으로 전력 공급이 차단될 수도 있음을 의미하며, 이러한 경우 HDD와 달리 SSD에는 치명적인 문제가 발생될 수 있다.
따라서 SSD에 대한 제품 신뢰성 평가 항목 중에는 순간정전(Sudden Power Loss) 테스트가 포함되어 있다.
그런데 종래의 순간정전 테스트는 작업자가 직접 전원을 온/오프하는 방식을 사용하고 있어 작업의 효율이 매우 낮고 인적 자원의 낭비가 발생한다. 예컨대, 순간정전 테스트는 일반적으로 5000회 정도를 반복 수행해야 하므로 이를 작업자가 수작업으로 진행하기에는 많은 어려움이 따른다.
또한 종래의 온/오프 테스트는 단순히 일정한 횟수만큼 전원을 오프시킨 후 SSD가 정상적으로 부팅되는지 여부만을 확인하여 정상 여부를 판단하기 때문에 다양한 순간정전 상황을 재현하여 테스트를 수행하는 것이 실질적으로 불가능한 문제가 있다.
본 발명의 실시예는 다양한 순간정전 상황들을 자동으로 구현하여 테스트 대상들을 테스트할 수 있는 테스트 시스템을 제공하고자 한다.
본 발명의 일 실시예에 따른 테스트 시스템은 테스트 항목들을 선택하고 선택된 테스트 항목들에 대한 테스트 조건을 설정할 수 있는 사용자 인터페이스를 제공하며, 상기 사용자 인터페이스를 통해 입력된 정보에 따라 테스트 대상에 대한 순간정전 발생을 제어하는 호스트 장치; 상기 호스트 장치로부터의 제어신호에 따라 상기 테스트 대상에 저장된 데이터를 이용하여 상기 테스트 항목의 동작을 수행하는 테스트부; 및 상기 호스트 장치로부터의 제어신호에 따라 상기 테스트부 및 상기 테스트 대상에 대한 전원 공급을 제어하는 전원 제어부를 포함할 수 있다.
본 발명은 다양한 순간정전 상황들을 자동으로 구현하여 테스트 대상들을 테스트함으로써 보다 빠르고 효과적으로 테스트를 할 수 있도록 해준다.
또한 본 발명은 불량요소들을 사전에 발견함으로써 SSD의 신뢰성을 향상시킬 수 있다.
도 1은 본 발명의 일 실시예에 따른 테스트 장치의 구성을 개략적으로 나타낸 구성도.
도 2는 본 실시예에 따른 테스트를 위한 사용자 인터페이스를 보여주는 도면.
도 3은 도 2의 사용자 인터페이스에서 특정 테스트 대상에 대한 테스트 환경을 설정할 수 있도록 해주는 설정메뉴의 화면 구성을 보여주는 도면.
도 4는 도 1의 테스트 시스템이 테스트 항목들 중 부트(Boot) 테스트를 수행하는 과정을 설명하기 위한 순서도.
도 5는 도 1의 테스트 시스템이 테스트 항목들 중 복사(Copy) 테스트를 수행하는 과정을 설명하기 위한 순서도.
도 6은 도 1의 테스트 시스템이 테스트 항목들 중 대기(Wait) 테스트를 수행하는 과정을 설명하기 위한 순서도.
도 7은 도 1의 테스트 시스템이 테스트 항목들 중 로그오프(Log off) 테스트를 수행하는 과정을 설명하기 위한 순서도.
도 8은 도 1의 테스트 시스템이 테스트 항목들 중 파워 다운(Power down) 테스트를 수행하는 과정을 설명하기 위한 순서도.
도 9는 도 1의 테스트 시스템이 테스트 항목들 중 슬립(Sleep) 테스트를 수행하는 과정을 설명하기 위한 순서도.
도 10은 도 1의 테스트 시스템이 테스트 항목들 중 하이버네이션(Hibernation) 테스트를 수행하는 과정을 설명하기 위한 순서도.
이하, 첨부된 도면들을 참조하여 본 발명의 바람직한 실시예들을 보다 상세하게 설명한다.
도 1은 본 발명의 일 실시예에 따른 테스트 시스템의 구성을 개략적으로 나타낸 구성도이다.
본 실시예에 따른 테스트 시스템은 호스트 장치(10), 전원 제어부(22, 24, 26) 및 테스트 보드(32, 34, 36)를 포함한다.
호스트 장치(10)는 전원 제어부(22, 24, 26) 및 테스트 보드(32, 34, 36)를 제어하여 테스트 대상(42, 44, 46)에 대한 다양한 순간정전 상황들을 재현하고, 각 테스트 대상(42, 44, 46)에 대한 테스트 결과를 테스트 보드(32, 34, 36)로부터 제공받아 사용자가 테스트 결과를 모니터링 할 수 있도록 화면에 출력한다. 예컨대, 호스트 장치(10)는 테스트 보드(32, 34, 36)를 제어하여 클라이언트 장치에서 부트(Boot), 복사(Copy), 대기(Wait), 로그오프(Logoff), 파워 다운(Power down), 슬립(sleep), 하이버네이션(hibernation) 등의 동작이 수행되도록 하고, 전원 제어부(22, 24, 26)를 제어하여 그러한 동작이 수행되는 중에 클라이언트 장치에 순간정전을 발생시킨다. 이를 위해, 호스트 장치(10)는 테스트 보드(32, 34, 36) 및 전원 제어부(22, 24, 26)와 데이터 통신을 수행하며, 사용자가 테스트 대상들(42, 44, 46)을 선택하고 선택된 테스트 대상들(42, 44, 46)에 적용할 순간정전 상황(테스트 항목) 및 테스트 조건을 자유로이 설정 및 변경할 수 있도록 해주는 사용자 인터페이스(UI; User Interface)를 제공한다. 이때, 테스트 조건은 테스트 항목들의 테스트 순서, 각 테스트 항목별 테스트 횟수, 테스트 항목의 동작을 시작 후 순간정전을 발생시키기 전까지의 대기시간(Wait Time) 등을 포함할 수 있다. 또한, 호스트 장치(10)는 테스트 보드(32, 34, 36)로부터 테스트 실행 상태 및 테스트 실행 결과를 제공받아 화면에 표시함으로써 사용자가 테스트의 실행 상태 및 결과를 모니터링 할 수 있도록 해준다.
전원 제어부(22, 24, 26)는 호스트 장치(10)와 예컨대 시리얼 통신(RS232 또는 USB)을 수행하며, 호스트 장치(10)로부터의 제어신호에 따라 테스트 보드(32, 34, 36)와 테스트 대상(42, 44, 46)에 대한 전원 공급을 제어한다.
테스트 보드(32, 34, 36)는 클라이언트 장치에 설치되는 메인보드로서, 전원 제어부(22, 24, 26)로부터 동작전원(AC 전원)을 공급받아 동작하며 호스트 장치(10)와 예컨대 이더넷(ethernet) 통신을 수행한다. 테스트 보드(32, 34, 36)는 호스트 장치(10)로부터의 제어신호에 따라 테스트 대상(42, 44, 46)에 저장된 데이터를 이용하여 테스트 항목을 수행하고, 테스트 실행 상태 및 테스트 실행 결과를 호스트 장치(10)에 전송한다. 예컨대, 테스트 보드(32, 34, 36)는 테스트 대상(42, 44, 46)에 저장된 데이터를 이용하여 부트(Boot) 동작을 수행하고 부트 시간을 호스트 장치(10)에 전송하여 부트가 정상적으로 완료되었는지 여부를 알려준다. 또한, 테스트 보드(32, 34, 36)는 호스트 장치(10)의 지시에 따라 복사, 로그오프(Log Off), 파워 다운(Power Down), 슬립(Sleep), 하이버네이션(Hibernation) 동작을 수행한다.
테스트 대상(42, 44, 46)은 클라이언트 장치에 설치되는 저장장치로서, 전원 제어부(22, 24, 26)로부터 동작전원(DC 전원)을 공급받아 동작한다. 테스트 대상(42, 44, 46)은 테스트 보드(32, 34, 36)가 테스트 항목에 대한 동작을 수행하기 위해 필요한 데이터를 저장한다. 이러한 테스트 대상(42, 44, 46)은 솔리드스테이트드라이브(SSD; Solid State Drive)를 포함한다.
도 2는 본 실시예에 따른 테스트를 위한 사용자 인터페이스를 보여주는 도면이며, 도 3은 도 2의 사용자 인터페이스에서 특정 테스트 대상에 대한 테스트 환경을 설정할 수 있도록 해주는 설정메뉴의 화면 구성을 보여주는 도면이다.
도 2의 사용자 인터페이스에서, 1 부터 20 까지 넘버링 된 메뉴화면들은 각 테스트 대상과 일대일로 대응되며 대응되는 테스트 대상에 대한 테스트 상황을 모니터링할 수 있는 내용을 포함한다. 예컨대, 각 메뉴화면은 현재 테스트되고 있는 테스트 항목(BOOT), 전체 테스트 횟수 중 현재까지 진행된 테스트 횟수(26/300) 및 현재의 테스트 실행 상태(BOOT_START) 등의 정보를 표시할 수 있다. 도 2에서는 모든 메뉴화면들에 동일한 테스트 항목(BOOT)이 표시되어 있으나 클라이언트 장치별로 서로 다른 테스트 항목들을 테스트할 수 있다.
사용자가 도 2의 메뉴화면들 중 어느 하나를 선택하면, 도 3과 같이 해당 테스트 대상에 대한 테스트 환경을 설정 및 변경할 수 있는 메뉴가 화면에 표시된다. 도 3의 메뉴는 도 2의 인터페이스 화면과 중첩되도록 도 2의 인터페이스 화면상에 표시되거나 별도의 창(window)에 표시될 수 있다.
도 3에서 "Type" 메뉴는 테스트 항목을 선택하기 위한 메뉴로서, 사용자는 각 테스트 항목(Boot, LogOff, Wait, Power, S3, S4, Copy)의 옆에 있는 체크박스를 선택함으로써 원하는 일부 테스트 항목들만 선택하거나 전체 테스트 항목들을 선택할 수 있다. "Type" 옆에 있는 체크박스를 선택하게 되면, 모든 테스트 항목들이 일괄 선택된다.
"Sequence" 메뉴는 선택된 테스트 항목들의 테스트 순서를 정하기 위한 메뉴로서, 사용자는 각 테스트 항목의 옆에 있는 ▲,▼를 눌러 테스트 항목들의 테스트 순서를 변경할 수 있다.
"Repeat" 메뉴는 해당 테스트 항목의 테스트 횟수를 정하기 위한 메뉴로서, 테스트 횟수를 사용자가 직접 입력하거나 표시된 값들 중 어느 하나를 선택하도록 할 수 있다.
"Wait" 메뉴는 해당 테스트 항목의 동작을 시작한 후 순간정전을 발생시킬 때까지의 대기시간을 정하는 메뉴로서, 사용자가 직접 입력하거나 선택하도록 할 수 있다. "Wait" 값은 해당 테스트 항목에 대한 동작이 완료되는데 소요되는 시간에 따라 달라지므로, 테스트 항목에 대한 동작을 수행하는 테스트 보드(32, 34, 36)의 종류(사양)에 따라 달리 정해질 수 있다. 도 3에서는 "Wait" 값이 특정 값을 갖는 것으로만 표시되어 있으나 이에 한정되지는 않는다. 예컨대, 일정범위(min, max)를 정하도록 하여 그 범위 내에서 랜덤하게 값을 정할 수 있도록 하거나 일정크기로 점차 증가하게 값을 정할 수 있도록 할 수 있다.
이러한 도 2 및 도 3의 사용자 인터페이스 구성은 실시예에 불과하며 보다 다양하게 테스트 상태를 모니터링하고 테스트 조건을 설정할 수 있도록 변경될 수 있다.
이하에서는 각 테스트 항목들에 대한 테스트 즉, 부트(Boot) 테스트, 복사(Copy) 테스트, 대기(Wait) 테스트, 로그오프(Logoff) 테스트, 파워 다운(Power down) 테스트, 슬립(sleep) 테스트(S3) 및 하이버네이션(hibernation) 테스트(S4) 과정을 차례대로 설명한다. 이하의 실시예들에서는 설명의 편의를 위해 도 1의 구성에서 어느 하나의 테스트 대상(42)에 대한 테스트 과정을 예시적으로 설명한다.
도 4는 도 1의 테스트 시스템이 테스트 항목들 중 부트(Boot) 테스트를 수행하는 과정을 설명하기 위한 순서도이다.
사용자가 도 2 및 도 3의 인터페이스를 이용하여 테스트 항목(부트 테스트) 선택 및 테스트 조건을 설정한 후 테스트 시작을 지시하면, 호스트 장치(10)는 먼저 부트 테스트의 횟수(A)가 기 설정된 횟수에 도달했는지 여부를 확인한다(단계 412).
테스트 횟수가 기 설정된 횟수에 도달하지 않은 경우(A≠0), 호스트 장치(10)는 테스트 보드(32)에 파워 다운(Power Down) 신호를 전송한다(단계 414).
즉, 호스트 장치(10)는 클라이언트 장치의 전원을 정상적으로 다운시킨다.
클라이이언트 장치의 정상적인 파워 다운이 완료되면, 호스트 장치(10)는 전원 제어부(22)에 파워 온(Power On) 신호를 전송하며, 이에 따라 전원 제어부(22)는 테스트 보드(32) 및 테스트 대상(42)에 동작 전원을 공급하여 클라이언트 장치를 파워 온 시킨다(단계 416).
테스트 보드(32)가 정상적으로 클라이언트 장치의 파워를 다운시키는데 소요되는 시간은 테스트 보드의 동작 특성(specification)을 통해 미리 알 수 있다. 따라서, 호스트 장치(10)는 파워 다운이 정상적으로 완료된 후 파워 온 신호를 전원 제어부(22)에 전송한다.
호스트 장치(10)는 파워 온 신호를 전송한 후 일정 시간(B sec)을 대기한다(단계 418).
이때, 대기시간(B)은 부트가 시작된 후 완료되기 전까지의 일정 시간을 의미하는 것으로, 테스트 보드(32)의 동작 특성을 고려하여 사용자가 적절히 설정할 수 있다. 예컨대, 대기시간(B)은 고정된 시간(Fixed Time)(예컨대, 3초)으로 설정될 수 있다. 또는 대기시간(B)은 일정 범위(min, max) 내에서 호스트 장치(10)가 랜덤하게 정하도록 하거나, 최소값(min)부터 시작하여 최대값(max)까지 테스트 횟수에 따라 일정 시간 단위(예컨대, 1초 단위)로 점차 증가되도록 설정될 수 있다. 최대값 이후에는 다시 최소값부터 적용이 된다. 이처럼, 대기시간(B)을 가변함으로써 순간정전 타이밍을 보다 다양화하게 변화시켜가면서 부트 테스트를 수행할 수 있게 된다.
대기시간(B)이 경과되면, 호스트 장치(10)는 전원 제어부(22)에 파워 오프 신호를 전송하여 클라이언트 장치에 대한 순간정전을 발생시킨다(단계 420).
즉, 대기시간(B)이 경과된 후 호스트 장치(10)가 전원 제어부(22)에 파워 오프 신호를 전송하면, 전원 제어부(22)는 테스트 보드(32)와 테스트 대상(42)에 대한 전원공급을 차단함으로써 테스트 보드(32)가 부트 동작을 수행하는 도중에 테스트 보드(32)와 테스트 대상(42)에 대한 순간정전을 발생시킨다.
순간정전을 발생시킨 후 호스트 장치(10)는 전원 제어부(22)에 파워 온(Power On) 신호를 전송하여 테스트 보드(32) 및 테스트 대상(42)에 동작 전원이 공급되도록 함으로써 클라이언트 장치를 파워 온 시킨다(단계 422).
파워 온 신호를 출력한 후 호스트 장치(10)는 테스트 보드(32)가 정상적으로 부트를 완료했는지 여부를 확인한다(단계 424).
예컨대, 테스트 보드(32)는 부트가 완료되면 호스트 장치(10)에 부트 시간을 전송해주며, 호스트 장치(10)는 테스트 보드(32)로부터 기 설정된 시간 내에 부트 시간에 대한 정보가 수신되는지 여부 또는 수신된 부트 시간이 최대 부트 시간(Max boot time)을 초과했는지 여부를 확인한다. 이때, 최대 부트 시간은 클라이언트 장치가 정상적으로 부트되어야 하는 최대 시간을 의미하며, 이러한 최대 부트 시간은 테스트 보드(32)의 특성에 따라 결정될 수 있다.
단계 424에서 부트가 정상적으로 이루어진 것으로 판단되는 경우, 호스트 장치(10)는 테스트 횟수가 기 설정된 횟수에 도달(A=0)할 때까지 상술한 단계 412에서 단계 424까지의 과정을 반복 수행한다. 단계 412에서 테스트 횟수가 기 설정된 횟수에 도달하면, 호스트 장치(10)는 부트 테스트를 종료한다.
반면에 단계 424에서 부트가 정상적으로 이루어지지 않은 것으로 판단되는 경우, 호스트 장치(10)는 테스트 페일(fail)을 사용자에게 알리는 메시지(예컨대, 영상 메시지 또는 음성 메시지 등)를 출력하고 부트 테스트를 종료한다(단계 426).
도 5는 도 1의 테스트 시스템이 테스트 항목들 중 복사(Copy) 테스트를 수행하는 과정을 설명하기 위한 순서도이다.
테스트 항목(복사 테스트) 선택 및 테스트 조건 설정이 완료된 후 사용자가 테스트 시작을 지시하면, 호스트 장치(10)는 먼저 복사 테스트의 횟수(A)가 기 설정된 횟수에 도달했는지 여부를 확인한다(단계 512).
테스트 횟수가 기 설정된 횟수에 도달하지 않은 경우(A≠0), 호스트 장치(10)는 테스트 보드(32)에 복사 신호를 전송한다(단계 514).
이에 따라, 테스트 보드(32)는 테스트 대상(42)에 저장된 시드 파일(Seed file)을 복사하여 테스트 대상(42)의 일정 공간에 기록한다. 이때, 시드 파일은 복사 테스트 수행시 복사 대상이 되는 파일로서, 원본 파일(Original file)을 미리 복사해 놓은 파일이다. 즉, 원본 파일과 시드 파일은 동일한 파일로서 테스트 대상(42)에 저장되어 있으며, 원본 파일과 시드 파일의 저장위치, 파일종류 및 파일이름 등은 사용자가 호스트 장치(10)를 이용하여 설정 및 변경이 가능하다.
호스트 장치(10)는 복사 신호를 전송한 후 일정 시간(B)을 대기한다(단계 516).
이때, 대기시간(B)은 복사가 시작된 후 완료되기 전까지의 일정 시간을 의미한다. 복사에 소요되는 시간(복사 시간)은 시드 파일의 크기 및 테스트 보드(32)의 동작 특성(처리 속도)에 따라 달라질 수 있으며, 대기시간(B)은 이러한 복사 시간을 고려하여 사용자가 설정할 수 있다. 예컨대, 대기시간(B)은 고정된 시간(Fixed Time)(예컨대, 3초)으로 설정될 수 있다. 또는 대기시간(B)은 일정 범위(min, max) 내에서 호스트 장치(10)가 랜덤하게 정하도록 하거나, 최소값(min)부터 시작하여 최대값(max)까지 테스트 횟수에 따라 일정 시간 단위(예컨대, 1초 단위)로 점차 증가되도록 설정될 수 있다. 최대값 이후에는 다시 최소값부터 적용이 된다. 이처럼, 대기시간(B)을 가변시킴으로써 순간정전 타이밍을 보다 다양화하게 변화시켜가면서 복사 테스트를 수행할 수 있게 된다.
대기시간(B)이 경과되면, 호스트 장치(10)는 전원 제어부(22)에 파워 오프 신호를 전송하여 클라이언트 장치에 대한 순간정전을 발생시킨다(단계 518).
즉, 대기시간(B)이 경과된 후 호스트 장치(10)가 전원 제어부(22)에 파워 오프 신호를 전송하면, 전원 제어부(22)는 테스트 보드(32)와 테스트 대상(42)에 대한 전원공급을 차단함으로써 테스트 보드(32)가 복사 동작을 수행하는 도중에 테스트 보드(32)와 테스트 대상(42)에 대한 순간정전을 발생시킨다.
순간정전을 발생시킨 후 호스트 장치(10)는 전원 제어부(22)에 파워 온(Power On) 신호를 전송하여 테스트 보드(32) 및 테스트 대상(42)에 동작 전원이 공급되도록 함으로써 클라이언트 장치를 파워 온 시킨다(단계 520).
파워 온 신호를 출력한 후, 호스트 장치(10)는 테스트 보드(32)가 정상적으로 부트를 완료했는지 여부를 확인한다(단계 522).
예컨대, 테스트 보드(32)는 부트가 완료되면 호스트 장치(10)에 부트 시간을 전송해주며, 호스트 장치(10)는 테스트 보드(32)로부터 기 설정된 시간 내에 부트 시간에 대한 정보가 수신되는지 여부 또는 수신된 부트 시간이 최대 부트 시간(Max boot time)을 초과했는지 여부를 확인한다. 이때, 최대 부트 시간은 클라이언트 장치가 정상적으로 부트되어야 하는 최대 시간을 의미하며, 이러한 최대 부트 시간은 테스트 보드(32)의 특성에 따라 결정될 수 있다.
단계 522에서 부트가 정상적으로 완료되면, 테스트 보드(32)는 원본 파일(Original file)과 시드 파일(Seed file)의 동일성 여부를 확인한다(단계 524).
예컨대, 테스트 보드(32)는 테스트 대상(42)에 기 저장된 원본 파일과 시드 파일의 체크썸(Check Sum)을 확인하여 두 파일들의 동일성 여부를 확인한 후 그 결과를 호스트 장치(10)에 전송한다. 이러한 체크썸 확인은 복사 도중에 발생한 순간 정전으로 인해 복사 대상 파일(시드 파일)이 손상되었는지 여부를 확인하기 위한 것이다. 본 실시예에서는 원본 파일과 시드 파일의 동일성 여부를 확인하기 위해 체크썸을 사용하는 경우를 설명하였으나 다른 방법을 이용하여 두 파일의 동일성 여부를 확인하는 것도 가능하다.
단계 524에서 원본 파일과 시드 파일이 동일한 것으로 판단되는 경우, 호스트 장치(10)는 테스트 횟수가 기 설정된 횟수에 도달(A=0)할 때까지 상술한 단계 512에서 단계 524까지의 과정을 반복 수행한다. 단계 512에서 테스트 횟수가 기 설정된 횟수에 도달하면, 호스트 장치(10)는 복사 테스트를 종료한다.
단계 522에서 부트가 정상적으로 이루어지지 않았거나 단계 524에서 원본 파일과 시드 파일이 동일하지 않은 것으로 판단되는 경우, 호스트 장치(10)는 테스트 페일(fail)을 사용자에게 알리는 메시지(예컨대, 영상 메시지 또는 음성 메시지 등)를 출력하고 복사 테스트를 종료한다(단계 526).
도 6은 도 1의 테스트 시스템이 테스트 항목들 중 대기(Wait) 테스트를 수행하는 과정을 설명하기 위한 순서도이다.
테스트 항목(대기 테스트) 선택 및 테스트 조건 설정이 완료된 후 사용자가 테스트 시작을 지시하면, 호스트 장치(10)는 먼저 대기 테스트의 횟수(A)가 기 설정된 횟수에 도달했는지 여부를 확인한다(단계 612).
테스트 횟수가 기 설정된 횟수에 도달하지 않은 경우(A≠0), 호스트 장치(10)는 일정 시간(B)을 대기한다(단계 614).
이때, 대기시간(B)은 고정된 시간(Fixed Time)(예컨대, 3초)으로 설정될 수 있다. 또는 대기시간(B)은 일정 범위(min, max) 내에서 호스트 장치(10)가 랜덤하게 정하도록 하거나, 최소값(min)부터 시작하여 최대값(max)까지 테스트 횟수에 따라 일정 시간 단위(예컨대, 1초 단위)로 점차 증가되도록 설정될 수 있다. 최대값 이후에는 다시 최소값부터 적용이 된다.
대기시간(B)이 경과되면, 호스트 장치(10)는 전원 제어부(22)에 파워 오프 신호를 전송하여 클라이언트 장치에 대한 순간정전을 발생시킨다(단계 616).
즉, 호스트 장치(10)는 클라이언트 장치가 대기중인 상태에서 테스트 보드(32)와 테스트 대상(42)에 대한 순간정전을 발생시킨다.
순간정전을 발생시킨 후 호스트 장치(10)는 전원 제어부(22)에 파워 온(Power On) 신호를 전송하여 테스트 보드(32) 및 테스트 대상(42)에 동작 전원이 공급되도록 함으로써 클라이언트 장치를 파워 온 시킨다(단계 618).
파워 온 신호를 출력한 후, 호스트 장치(10)는 테스트 보드(32)가 정상적으로 부트를 완료했는지 여부를 확인한다(단계 620).
예컨대, 테스트 보드(32)는 부트가 완료되면 호스트 장치(10)에 부트 시간을 전송해주며, 호스트 장치(10)는 테스트 보드(32)로부터 기 설정된 시간 내에 부트 시간에 대한 정보가 수신되는지 여부 또는 수신된 부트 시간이 최대 부트 시간(Max boot time)을 초과했는지 여부를 확인한다. 이때, 최대 부트 시간은 클라이언트 장치가 정상적으로 부트되어야 하는 최대 시간을 의미하며, 이러한 최대 부트 시간은 테스트 보드(32)의 동작 특성에 따라 결정될 수 있다.
단계 620에서 부트가 정상적으로 이루어진 것으로 판단되는 경우, 호스트 장치(10)는 테스트 횟수가 기 설정된 횟수에 도달(A=0)할 때까지 상술한 단계 612에서 단계 620까지의 과정을 반복 수행한다. 단계 612에서 테스트 횟수가 기 설정된 횟수에 도달하면, 호스트 장치(10)는 대기 테스트를 종료한다.
단계 620에서 부트가 정상적으로 이루어지지 않은 것으로 판단되면, 호스트 장치(10)는 테스트 페일(fail)을 사용자에게 알리는 메시지(예컨대, 영상 메시지 또는 음성 메시지 등)를 출력하고 대기 테스트를 종료한다(단계 622).
도 7은 도 1의 테스트 시스템이 테스트 항목들 중 로그오프(Log Off) 테스트를 수행하는 과정을 설명하기 위한 순서도이다.
테스트 항목(로그오프 테스트) 선택 및 테스트 조건 설정이 완료된 후 사용자가 테스트 시작을 지시하면, 호스트 장치(10)는 먼저 로그오프 테스트의 횟수(A)가 기 설정된 횟수에 도달했는지 여부를 확인한다(단계 712).
테스트 횟수가 기 설정된 횟수에 도달하지 않은 경우(A≠0), 호스트 장치(10)는 테스트 보드(32)에 로그오프 신호를 전송하여 클라이언트 장치에 대한 윈도우 로그오프를 수행시킨다(단계 714).
호스트 장치(10)는 로그오프 신호를 전송한 후 일정 시간(B)을 대기한다(단계 716).
이때, 대기시간(B)은 고정된 시간(Fixed Time)(예컨대, 3초)으로 설정될 수 있다. 또는 대기시간(B)은 일정 범위(min, max) 내에서 호스트 장치(10)가 랜덤하게 정하도록 하거나, 최소값(min)부터 시작하여 최대값(max)까지 테스트 횟수에 따라 일정 시간 단위(예컨대, 1초 단위)로 점차 증가되도록 설정될 수 있다. 최대값 이후에는 다시 최소값부터 적용이 된다.
대기시간(B)이 경과되면, 호스트 장치(10)는 전원 제어부(22)에 파워 오프 신호를 전송하여 클라이언트 장치에 대한 순간정전을 발생시킨다(단계 718).
즉, 호스트 장치(10)는 클라이언트 장치가 로그오프를 진행하는 도중에 테스트 보드(32)와 테스트 대상(42)에 대한 순간정전을 발생시킨다.
순간정전을 발생시킨 후, 호스트 장치(10)는 전원 제어부(22)에 파워 온(Power On) 신호를 전송하여 테스트 보드(32) 및 테스트 대상(42)에 동작 전원이 공급되도록 함으로써 클라이언트 장치를 파워 온 시킨다(단계 720).
파워 온 신호를 출력한 후, 호스트 장치(10)는 테스트 보드(32)가 정상적으로 부트를 완료했는지 여부를 확인한다(단계 722).
예컨대, 테스트 보드(32)는 부트가 완료되면 호스트 장치(10)에 부트 시간을 전송해주며, 호스트 장치(10)는 테스트 보드(32)로부터 기 설정된 시간 내에 부트 시간에 대한 정보가 수신되는지 여부 또는 수신된 부트 시간이 최대 부트 시간(Max boot time)을 초과했는지 여부를 확인한다. 이때, 최대 부트 시간은 클라이언트 장치가 정상적으로 부트되어야 하는 최대 시간을 의미하며, 이러한 최대 부트 시간은 테스트 보드(32)의 동작 특성에 따라 결정될 수 있다.
단계 722에서 부트가 정상적으로 이루어진 것으로 판단되는 경우, 호스트 장치(10)는 테스트 횟수가 기 설정된 횟수에 도달(A=0)할 때까지 상술한 단계 712에서 단계 722까지의 과정을 반복 수행한다. 단계 712에서 테스트 횟수가 기 설정된 횟수에 도달하면, 호스트 장치(10)는 로그오프 테스트를 종료한다.
단계 722에서 부트가 정상적으로 이루어지지 않은 것으로 판단되면, 호스트 장치(10)는 테스트 페일(fail)을 사용자에게 알리는 메시지(영상 메시지 또는 음성 메시지)를 출력하고 로그오프 테스트를 종료한다(단계 724).
도 8은 도 1의 테스트 시스템이 테스트 항목들 중 파워 다운(Power Down) 테스트를 수행하는 과정을 설명하기 위한 순서도이다.
테스트 항목(파워 다운 테스트) 선택 및 테스트 조건 설정이 완료된 후 사용자가 테스트 시작을 지시하면, 호스트 장치(10)는 먼저 로그오프 테스트의 횟수(A)가 기 설정된 횟수에 도달했는지 여부를 확인한다(단계 812).
테스트 횟수가 기 설정된 횟수에 도달하지 않은 경우(A≠0), 호스트 장치(10)는 테스트 보드(32)에 파워 다운 신호를 전송한다(단계 814).
파워 다운 신호에 따라 테스트 보드(32)는 클라이언트 장치의 윈도우를 종료시키는 파워 다운 동작을 수행한다.
호스트 장치(10)는 파워 다운 신호를 전송한 후 일정 시간(B)을 대기한다(단계 816).
이때, 대기시간(B)은 고정된 시간(Fixed Time)(예컨대, 3초)으로 설정될 수 있다. 또는 대기시간(B)은 일정 범위(min, max) 내에서 호스트 장치(10)가 랜덤하게 정하도록 하거나, 최소값(min)부터 시작하여 최대값(max)까지 테스트 횟수에 따라 일정 시간 단위(예컨대, 1초 단위)로 점차 증가되도록 설정될 수 있다. 최대값 이후에는 다시 최소값부터 적용이 된다.
대기시간(B)이 경과되면, 호스트 장치(10)는 전원 제어부(22)에 파워 오프 신호를 전송하여 클라이언트 장치에 대한 순간정전을 발생시킨다(단계 818).
즉, 호스트 장치(10)는 클라이언트 장치가 파워 다운을 진행하는 도중에 테스트 보드(32)와 테스트 대상(42)에 대한 순간정전을 발생시킨다.
순간정전을 발생시킨 후, 호스트 장치(10)는 전원 제어부(22)에 파워 온(Power On) 신호를 전송하여 테스트 보드(32) 및 테스트 대상(42)에 동작 전원이 공급되도록 함으로써 클라이언트 장치를 파워 온 시킨다(단계 820).
파워 온 신호를 출력한 후, 호스트 장치(10)는 테스트 보드(32)가 정상적으로 부트를 완료했는지 여부를 확인한다(단계 822).
예컨대, 테스트 보드(32)는 부트가 완료되면 호스트 장치(10)에 부트 시간을 전송해주며, 호스트 장치(10)는 테스트 보드(32)로부터 기 설정된 시간 내에 부트 시간에 대한 정보가 수신되는지 여부 또는 수신된 부트 시간이 최대 부트 시간(Max boot time)을 초과했는지 여부를 확인한다. 이때, 최대 부트 시간은 클라이언트 장치가 정상적으로 부트되어야 하는 최대 시간을 의미하며, 이러한 최대 부트 시간은 테스트 보드(32)의 동작 특성에 따라 결정될 수 있다.
단계 822에서 부트가 정상적으로 이루어진 것으로 판단되는 경우, 호스트 장치(10)는 테스트 횟수가 기 설정된 횟수에 도달(A=0)할 때까지 상술한 단계 812에서 단계 822까지의 과정을 반복 수행한다. 단계 812에서 테스트 횟수가 기 설정된 횟수에 도달하면, 호스트 장치(10)는 파워 다운 테스트를 종료한다.
단계 822에서 부트가 정상적으로 이루어지지 않은 것으로 판단되면, 호스트 장치(10)는 테스트 페일(fail)을 사용자에게 알리는 메시지(예컨대, 영상 메시지 또는 음성 메시지 등)를 출력하고 파워 다운 테스트를 종료한다(단계 824).
도 9는 도 1의 테스트 시스템이 테스트 항목들 중 슬립(Sleep) 테스트를 수행하는 과정을 설명하기 위한 순서도이다.
테스트 항목(슬립 테스트) 선택 및 테스트 조건 설정이 완료된 후 사용자가 테스트 시작을 지시하면, 호스트 장치(10)는 먼저 슬립 테스트의 횟수(A)가 기 설정된 횟수에 도달했는지 여부를 확인한다(단계 912).
테스트 횟수가 기 설정된 횟수에 도달하지 않은 경우(A≠0), 호스트 장치(10)는 테스트 보드(32)에 슬립 신호를 전송하여 클라이언트 장치가 슬립 모드에 진입하도록 한다(단계 914).
호스트 장치(10)는 슬립 신호를 전송한 후 일정 시간(B)을 대기한다(단계 916).
이때, 대기시간(B)은 고정된 시간(Fixed Time)(예컨대, 3초)으로 설정될 수 있다. 또는 대기시간(B)은 일정 범위(min, max) 내에서 호스트 장치(10)가 랜덤하게 정하도록 하거나, 최소값(min)부터 시작하여 최대값(max)까지 테스트 횟수에 따라 일정 시간 단위(예컨대, 1초 단위)로 점차 증가되도록 설정될 수 있다. 최대값 이후에는 다시 최소값부터 적용이 된다. 최고(max)값은 호스트 장치(10)가 테스트 보드(32)의 "entering sleep" 이벤트를 감지하여 자동 설정할 수 있다.
대기시간(B)이 경과되면, 호스트 장치(10)는 전원 제어부(22)에 파워 오프 신호를 전송하여 클라이언트 장치에 대한 순간정전을 발생시킨다(단계 918).
즉, 호스트 장치(10)는 클라이언트 장치가 슬립 모드로 진입하는 중에 테스트 보드(32)와 테스트 대상(42)에 대한 순간정전을 발생시킨다.
순간정전을 발생시킨 후, 호스트 장치(10)는 전원 제어부(22)에 파워 온(Power On) 신호를 전송하여 테스트 보드(32) 및 테스트 대상(42)에 동작 전원이 공급되도록 함으로써 클라이언트 장치를 파워 온 시킨다(단계 920).
파워 온 신호를 출력한 후, 호스트 장치(10)는 테스트 보드(32)가 정상적으로 부트를 완료했는지 여부를 확인한다(단계 922).
예컨대, 테스트 보드(32)는 부트가 완료되면 호스트 장치(10)에 부트 시간을 전송해주며, 호스트 장치(10)는 테스트 보드(32)로부터 기 설정된 시간 내에 부트 시간에 대한 정보가 수신되는지 여부 또는 수신된 부트 시간이 최대 부트 시간(Max boot time)을 초과했는지 여부를 확인한다. 이때, 최대 부트 시간은 클라이언트 장치가 정상적으로 부트되어야 하는 최대 시간을 의미하며, 이러한 최대 부트 시간은 테스트 보드(32)의 동작 특성에 따라 결정될 수 있다.
단계 922에서 부트가 정상적으로 이루어진 것으로 판단되는 경우, 호스트 장치(10)는 테스트 횟수가 기 설정된 횟수에 도달(A=0)할 때까지 상술한 단계 912에서 단계 922까지의 과정을 반복 수행한다. 단계 912에서 테스트 횟수가 기 설정된 횟수에 도달하면, 호스트 장치(10)는 슬립 테스트를 종료한다.
단계 922에서 부트가 정상적으로 이루어지지 않은 것으로 판단되면, 호스트 장치(10)는 테스트 페일(fail)을 사용자에게 알리는 메시지(예컨대, 영상 메시지 또는 음성 메시지 등)를 출력하고 슬립 테스트를 종료한다(단계 924).
도 10은 도 1의 테스트 시스템이 테스트 항목들 중 하이버네이션(Hibernation) 테스트를 수행하는 과정을 설명하기 위한 순서도이다.
테스트 항목(하이버네이션 테스트) 선택 및 테스트 조건 설정이 완료된 후 사용자가 테스트 시작을 지시하면, 호스트 장치(10)는 먼저 하이버네이션 테스트의 횟수(A)가 기 설정된 횟수에 도달했는지 여부를 확인한다(단계 1012).
테스트 횟수가 기 설정된 횟수에 도달하지 않은 경우(A≠0), 호스트 장치(10)는 테스트 보드(32)에 하이버네이션 신호를 전송하여 클라이언트 장치가 하이버네이션 모드에 진입하도록 한다(단계 1014).
호스트 장치(10)는 하이버네이션 신호를 전송한 후 일정 시간(B)을 대기한다(단계 1016).
이때, 대기시간(B)은 고정된 시간(Fixed Time)(예컨대, 3초)으로 설정될 수 있다. 또는 대기시간(B)은 일정 범위(min, max) 내에서 호스트 장치(10)가 랜덤하게 정하도록 하거나, 최소값(min)부터 시작하여 최대값(max)까지 테스트 횟수에 따라 일정 시간 단위(예컨대, 1초 단위)로 점차 증가되도록 설정될 수 있다. 최대값 이후에는 다시 최소값부터 적용이 된다. 최고(max)값은 호스트 장치(10)가 테스트 보드(32)의 "entering sleep" 이벤트를 감지하여 자동 설정할 수 있다.
대기시간(B)이 경과되면, 호스트 장치(10)는 전원 제어부(22)에 파워 오프 신호를 전송하여 클라이언트 장치에 대한 순간정전을 발생시킨다(단계 1018).
즉, 호스트 장치(10)는 클라이언트 장치가 하이버네이션 모드로 진입하는 중에 테스트 보드(32)와 테스트 대상(42)에 대한 순간정전을 발생시킨다.
순간정전을 발생시킨 후, 호스트 장치(10)는 전원 제어부(22)에 파워 온(Power On) 신호를 전송하여 테스트 보드(32) 및 테스트 대상(42)에 동작 전원이 공급되도록 함으로써 클라이언트 장치를 파워 온 시킨다(단계 1020).
파워 온 신호를 출력한 후, 호스트 장치(10)는 테스트 보드(32)가 정상적으로 부트를 완료했는지 여부를 확인한다(단계 1022).
예컨대, 테스트 보드(32)는 부트가 완료되면 호스트 장치(10)에 부트 시간을 전송해주며, 호스트 장치(10)는 테스트 보드(32)로부터 기 설정된 시간 내에 부트 시간에 대한 정보가 수신되는지 여부 또는 수신된 부트 시간이 최대 부트 시간(Max boot time)을 초과했는지 여부를 확인한다. 이때, 최대 부트 시간은 클라이언트 장치가 정상적으로 부트되어야 하는 최대 시간을 의미하며, 이러한 최대 부트 시간은 테스트 보드(32)의 동작 특성에 따라 결정될 수 있다.
단계 1022에서 부트가 정상적으로 이루어진 것으로 판단되는 경우, 호스트 장치(10)는 테스트 횟수가 기 설정된 횟수에 도달(A=0)할 때까지 상술한 단계 1012에서 단계 1022까지의 과정을 반복 수행한다. 단계 1012에서 테스트 횟수가 기 설정된 횟수에 도달하면, 호스트 장치(10)는 하이버네이션 테스트를 종료한다.
단계 1022에서 부트가 정상적으로 이루어지지 않은 것으로 판단되면, 호스트 장치(10)는 테스트 페일(fail)을 사용자에게 알리는 메시지(영상 메시지 또는 음성 메시지)를 출력하고 하이버네이션 테스트를 종료한다(단계 1024).
상술한 도 4에서 도 10까지의 실시예에서는 각 테스트 방법을 독립적으로 설명하였으나, 도 2에서와 같이 정해진 순서에 따라 도 4부터 도 10까지의 테스트 방법들이 연속적으로 자동으로 수행될 수 있다.
상술한 본 발명의 바람직한 실시예는 예시의 목적을 위한 것으로, 당업자라면 첨부된 특허청구범위의 기술적 사상과 범위를 통해 다양한 수정, 변경, 대체 및 부가가 가능할 것이며, 이러한 수정 변경 등은 이하의 특허청구범위에 속하는 것으로 보아야 할 것이다.
10 : 호스트 장치 22, 24, 26 : 전원 제어부
32, 34, 36 : 테스트 보드 42, 44, 46 : 테스트 대상

Claims (19)

  1. 테스트 항목들을 선택하고 선택된 테스트 항목들에 대한 테스트 조건을 설정할 수 있는 사용자 인터페이스를 제공하며, 상기 사용자 인터페이스를 통해 입력된 정보에 따라 테스트 대상에 대한 순간정전 발생을 제어하는 호스트 장치;
    상기 호스트 장치로부터의 제어신호에 따라 상기 테스트 대상에 저장된 데이터를 이용하여 상기 테스트 항목의 동작을 수행하는 테스트부; 및
    상기 호스트 장치로부터의 제어신호에 따라 상기 테스트부와 상기 테스트 대상에 대한 전원 공급을 제어하는 전원 제어부를 포함하되,
    상기 호스트 장치는 상기 테스트부에 기 설정된 테스트 항목에 대한 수행을 지시하고, 테스트 항목에 대한 지시 후 해당 테스트 항목에 대응되게 기 설정된 대기시간이 경과되면 상기 테스트부의 요청과 상관없이 순간정전을 위한 제어신호를 상기 전원 제어부에 전송하는 것을 특징으로 하는 테스트 시스템.
  2. 제 1항에 있어서, 상기 호스트 장치는
    상기 테스트 대상과 일대일로 대응되며, 대응되는 테스트 대상에 대한 테스트 상황을 모니터링할 수 있는 메뉴화면들을 포함하는 사용자 인터페이스를 제공하는 것을 특징으로 하는 테스트 시스템.
  3. 제 2항에 있어서, 상기 호스트 장치는
    특정 메뉴화면이 선택되면, 선택된 메뉴화면에 대응되는 테스트 대상에 대한 테스트 항목들 및 테스트 조건을 설정할 수 있는 설정메뉴를 포함하는 사용자 인터페이스를 제공하는 것을 특징으로 하는 테스트 시스템.
  4. 제 3항에 있어서, 상기 설정메뉴는
    상기 테스트 항목들을 선택하는 메뉴, 선택된 테스트 항목들의 테스트 순서를 정하는 메뉴, 선택된 테스트 항목들의 테스트 횟수를 정하는 메뉴 및 선택된 테스트 항목별 순간정전을 발생시키기 위한 대기시간을 정하는 메뉴를 포함하는 것을 특징으로 하는 테스트 시스템.
  5. 제 4항에 있어서, 상기 호스트 장치는
    상기 대기시간이 최소값(min)과 최대값(max)을 갖는 일정 범위로 설정된 경우, 상기 일정 범위 내에서 랜덤하게 값을 선택하여 상기 대기시간으로 정하는 것을 특징으로 하는 테스트 시스템.
  6. 제 4항에 있어서, 상기 호스트 장치는
    상기 대기시간이 최소값(min)과 최대값(max)을 갖는 일정 범위로 설정된 경우, 상기 최소값부터 상기 최대값까지 일정 시간 단위로 점차 증가시킨 값을 상기 대기시간으로 정하는 것을 특징으로 하는 테스트 시스템.
  7. 제 1항에 있어서, 상기 호스트 장치는
    상기 테스트부에 파워 다운 신호를 전송하여 상기 테스트 대상에 대한 전원을 정상적으로 다운시키는 단계;
    상기 전원 제어부에 파워 온 신호를 전송하여 상기 테스트부 및 상기 테스트 대상에 동작 전원을 공급하는 단계;
    상기 전원 제어부에 파워 오프 신호를 전송하여 상기 동작 전원의 공급에 따라 상기 테스트부가 부트되는 중에 상기 테스트부 및 상기 테스트 대상에 순간정전을 발생시키는 단계; 및
    상기 순간정전 발생 후, 상기 전원 제어부에 파워 온 신호를 전송하여 상기 테스트부가 정상적으로 부트되는지 여부를 확인하는 단계를 수행하는 것을 특징으로 하는 테스트 시스템.
  8. 제 7항에 있어서, 상기 테스트부는
    부트가 완료되면 상기 호스트 장치에 부트 시간을 전송해주는 것을 특징으로 하는 테스트 시스템.
  9. 제 8항에 있어서, 상기 호스트 장치는
    상기 테스트부로부터 기 설정된 시간 내에 상기 부트 시간에 대한 정보를 수신하지 못하거나 수신된 부트 시간이 기 설정된 최대 부트 시간을 초과하는 경우, 상기 테스트부가 정상적으로 부트되지 않은 것으로 판단하는 것을 특징으로 하는 테스트 시스템.
  10. 제 7항에 있어서, 상기 호스트 장치는
    상기 파워 온 신호를 전송하고 기 설정된 대기시간 동안 대기한 후 상기 파워 오프 신호를 출력하는 것을 특징으로 하는 테스트 시스템.
  11. 제 1항에 있어서, 상기 호스트 장치는
    상기 테스트부에 복사 신호를 전송하여 상기 테스트 대상에 저장된 시드 파일을 복사시키는 단계;
    상기 전원 제어부에 파워 오프 신호를 전송하여 상기 테스트부가 복사를 수행하는 중에 상기 테스트부 및 상기 테스트 대상에 순간정전을 발생시키는 단계; 및
    상기 순간정전 발생 후, 상기 전원 제어부에 파워 온 신호를 전송하여 상기 테스트부가 정상적으로 부트되는지 여부를 확인하는 단계를 수행하는 것을 특징으로 하는 테스트 시스템.
  12. 제 11항에 있어서, 상기 테스트부는
    부트가 완료되면 상기 시드 파일과 상기 테스트 대상에 기 저장된 원본 파일의 동일성 여부를 확인하여 그 결과를 상기 호스트 장치에 전송해주는 것을 특징으로 하는 테스트 시스템.
  13. 제 11항에 있어서, 상기 테스트부는
    부트가 완료되면 상기 호스트 장치에 부트 시간을 전송해주는 것을 특징으로 하는 테스트 시스템.
  14. 제 13항에 있어서, 상기 호스트 장치는
    상기 테스트부로부터 기 설정된 시간 내에 상기 부트 시간에 대한 정보를 수신하지 못하거나 수신된 부트 시간이 기 설정된 최대 부트 시간을 초과하는 경우, 상기 테스트부가 정상적으로 부트되지 않은 것으로 판단하는 것을 특징으로 하는 테스트 시스템.
  15. 제 1항에 있어서, 상기 호스트 장치는
    상기 전원 제어부에 파워 오프 신호를 전송하여 상기 테스트부가 대기 동작을 수행하는 중에 상기 테스트부 및 상기 테스트 대상에 순간정전을 발생시키는 단계; 및
    상기 순간정전 발생 후, 상기 전원 제어부에 파워 온 신호를 전송하여 상기 테스트부가 정상적으로 부트되는지 여부를 확인하는 단계를 수행하는 것을 특징으로 하는 테스트 시스템.
  16. 제 1항에 있어서, 상기 호스트 장치는
    상기 테스트부에 로그 오프 신호, 파워 다운 신호, 슬립 신호 또는 하이버네이션 신호를 전송하여 상기 테스트부가 로그 오프 동작, 파워 다운 동작, 슬립(sleep) 모드 또는 하이버네이션(Hibernation) 모드를 수행하도록 하는 단계;
    상기 전원 제어부에 파워 오프 신호를 전송하여 상기 테스트부가 상기 로그 오프 동작, 상기 파워 다운 동작, 상기 슬립 모드 또는 상기 하이버네이션 모드를 수행하는 중에 상기 테스트부 및 상기 테스트 대상에 순간정전을 발생시키는 단계; 및
    상기 순간정전 발생 후, 상기 전원 제어부에 파워 온 신호를 전송하여 상기 테스트부가 정상적으로 부트되는지 여부를 확인하는 단계를 수행하는 것을 특징으로 하는 테스트 시스템.
  17. 제 16항에 있어서, 상기 테스트부는
    부트가 완료되면 상기 호스트 장치에 부트 시간을 전송해주는 것을 특징으로 하는 테스트 시스템.
  18. 제 17항에 있어서, 상기 호스트 장치는
    상기 테스트부로부터 기 설정된 시간 내에 상기 부트 시간에 대한 정보를 수신하지 못하거나 수신된 부트 시간이 기 설정된 최대 부트 시간을 초과하는 경우, 상기 테스트부가 정상적으로 부트되지 않은 것으로 판단하는 것을 특징으로 하는 테스트 시스템.
  19. 제 16항에 있어서, 상기 호스트 장치는
    상기 파워 오프 신호를 전송하기 전에 기 설정된 대기시간 동안 대기하는 것을 특징으로 하는 것을 특징으로 하는 테스트 시스템.
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