TWI463713B - 用於奈米導線對準及沈積的方法 - Google Patents

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Description

用於奈米導線對準及沈積的方法
本發明是有關於一種奈米導線，且特別是有關於一種奈米導線的沈積及對準。
奈米結構，特別是奈米導線，具有促進全新一代電子裝置的潛力。發展新一代基於奈米結構之電子裝置的主要阻礙在於在各種基板上有效對準及沈積奈米導線的能力。電場能夠用以對準懸浮液中懸浮的奈米導線，但是現有技術對於在大面積基板上的縮放性(scalability)產生嚴格的限制。
所需要的是達到高品質的奈米導線沈積的系統及方法，以適用於製造奈米結構裝置之大型陣列。
在一實施例中，本發明提出一種用以定位一或多個奈米導線的方法。在合適實施例中，這些方法包括提供鄰近設置在一電極對之一或多個奈米導線，並充能電極對，藉以使奈米導線與電極對相關連。接著調制電極對的該充能藉以使奈米導線耦接於電極對上。在示範實施例中，奈米導線係位於懸浮液中。在合適實施例中，該充能包括在電極對間產生AC電場。AC電場可以用任何習知方法產生，例如，使用直接電性連接提供一訊號至電極對，或供 應一電磁波至電極對。在示範實施例中，產生約10Hz至5Hz及約0.5V至3V之AC電場。AC電場的調制包括調整AC電場的頻率、調整AC電場的振幅，兩者同時調整。在合適實施例中包括增加AC電場的頻率至約1kHz到500kHz，增加AC電場的振幅至約2V到20V，及/或增加AC電場的頻率至約500Hz到100kHz，接著增加AC電場的振幅至約1V到4V。在使用電磁波施加電場的實施例中，適合使用約1GHz到5GHz的頻率。電極對的電極分開之距離例如小於或等於奈米導線的長軸長度。
本發明之方法包括從該電極對移除一或多個未耦接的奈米導線，例如將未耦接的奈米導線沖掉，更包括將一或多個耦接的奈米導線弄乾。在另外的實施例中，該方法包括重複該方法之關連及調制階段。在實施例中本發明之方法更包括將一或多個耦接的奈米導線轉移至一基板上，及/或移除電極對。
根據本發明之方法定位之奈米導線包括包含一半導體核心(例如矽)及配置於核心周圍的一或多個殼層，例如TaAlN或WN之金屬殼層。
在另外的實施例中本發明提供定位一或多個奈米導線於一基板上的方法。在合適實施例中，該方法包括提供於一懸浮液中的一或多個奈米導線設置於鄰近一轉移基板上之一電極對上，並接著充能電極對，藉以使奈米導線變成與電極對相關聯。電極對的該充能係被調制，藉以使奈米導線變成耦接於電極對上。一或多個未耦接之奈米導線接 著被移除，而耦接的奈米導線從轉移基板轉移至基板上。在合適實施例中，該充能包括在電極對間產生AC電場。
本發明亦提供定位一或多個奈米導線之方法。在此方法中，提供鄰近設置於一電極對上之一或多個奈米導線。電極對接著被充能，藉以使奈米導線與電極對相關連，其中一或多個金屬元件係被定位於電極對之電極間，使得相鄰之關連奈米導線之間距的變化少於標準差的50%。在進一步實施例中，該方法包括調制電極對間的該充能，藉以使奈米導線變成耦接於電極對上，其中一或多個金屬元件係被定位於電極對之電極之間，使得相鄰耦接之奈米導線之間距的變化少於標準差的50%。
本發明亦提供基板，包括至少一第一電極對及至少四條奈米導線位於該第一電極對之間，其中相鄰耦接奈米導線之間距的變化小於約標準差的50%。在合適實施例中，基板更包括三個或更多金屬元件位於該第一電極對的電極之間。
本發明亦提供一或多個電極對包括一或多個根據本發明之方法定位之奈米導線，以及包括一或多個根據本發明之方法定位之奈米導線的基板。
在進一步實施例中，本發明提供用以控制定位於一電極對上之奈米導線數量的方法。在合適實施例中，該方法包括根據本發明之方法定位一或多個奈米導線，接著施加一訊號至電極對。於電極對上監測訊號，當訊號達到一預設值時停止定位(例如，減少電極對間之電場，藉以停止 定位奈米導線於電極對上)。可監測訊號包括例如不限定於阻抗、電壓、電容、電流等等。
本發明亦提供包括一電極對之基板，其中一預定數量的奈米導線定位於電極對上，其中奈米導線之數量係根據本發明之方法控制。例如，本發明提供包括至少四個電極對及至少四條奈米導線定位於各電極對之間，其中各電極對包括實質上相同數量的奈米導線。在合適實施例中，定位在各電極對上之奈米導線的數量之誤差少於30%、少於20%或少於10。
本發明亦提供用以定位奈米導線於一基板上之裝置及系統。在合適實施例中，該裝置及系統包括一懸浮液，懸浮液包括複數條奈米導線及包含一或多個電極對之基板。該裝置及系統亦合適地包括用以於電極對之間產生一AC電場之來源，例如一訊號產生器，且亦用以調制AC電場。在另外的實施例中，該系統及裝置更包括於至少一電極對上流動奈米導線懸浮液之機構(例如，一流體流量控制系統，適於耦接至基板之底側)；一光學成像系統，用以視覺化奈米導線；以及一或多個場電極，用以在基板上操控奈米導線。該系統及裝置亦包括一訊號監視裝置，用以決定一或多個電極對上的訊號；以及用以當訊號達到一預設值時停止AC電場之機構。
本發明亦提供用以沈積一或多個奈米導線於一基板上之方法，藉由加熱奈米導線使奈米導線沈積在基板上。在示範實施例中，奈米導線在氫氣(形成氣體)存在下被加熱 至200℃，以沈積奈米導線於基板上。
在再一實施例中，提供控制奈米導線之系統。此系統包括一或多個電極組，每一電極組包括具有第一極性之一第一電極以及具有第二極性之一第二電極。該系統亦包括於第一及第二電極之間產生AC電場之一訊號產生器。亦提供利用此系統以控制奈米導線之方法。例如，充能一電極組，接著合適地解充能(de-energizing)充能的電極組。產生在充能方向上控制奈米導線之介電泳動(dielectrophoretic)力。在另外實施例中，利用移除被充能的電極，使奈米導線從關連/耦接應用之電極對上被移除。DC及AC電場可以用以控制奈米導線。
本發明亦提供用以從導體及半導體奈米導線之混合物上分離一或多個導體奈米導線之方法。當導體及半導體奈米導線與電極對相關連時，耦接導體奈米導線所需之振幅通常低於耦接半導體奈米導線所需之振幅，因此能夠使導體奈米導線從溶液選擇性地移除。
本發明之進一步的實施例、特徵及優點，以及本發明各種實施例之結構及操作方法配合所附圖式作詳細說明如下。
在此繪示及描述之本發明範例之特定實施方式並非意圖以任何方式限定本發明之範圍。的確，為了簡潔起見，傳統電子學、製造、半導體裝置、以及奈米導線 (nanowire, NW)、奈米管，以及奈米帶技術及其他系統功能面(以及系統之個別元件操作)可能不在此詳細描述。此外，為了簡潔起見，本發明經常提及與奈米導線有關。
需瞭解雖然奈米導線經常提及，在此之技術亦可應用於其他奈米結構，例如奈米桿、奈米管、奈米四足管(naaotetrapod)、奈米帶及/或其組合。要進一步瞭解，此處描述之製造技術可用以創造任何型態的半導體裝置，以及其他型態之電子元件。此外，該技術亦適用於電性系統、光學系統、消費性電子、工業電子、無線系統、空間應用及任何其他應用。
此處使用之「長寬比」係指一奈米結構的第一軸長度除以該奈米結構的第二及第三軸的平均長度。第二及第三軸的長度彼此大致相等。例如，一完美桿體的長寬比係為其長軸除以垂直於(正交於)長軸之剖面的半徑。
當「異構體」使用於奈米結構時，係指具有至少兩種不同及/或可辨別的材料。一般來說奈米結構的一區域包括第一種材料，奈米結構的第二區域包括第二種材料。在某些實施例中，奈米結構包括第一材料之核心及至少第二(或第三)材料之殼層，不同材料係以奈米導線的長軸呈徑向分佈，例如分支奈米晶體的分支的長軸，或奈米晶體的中央。殼層不需要完全覆蓋相鄰材料就被視為一殼層或被視為奈米結構的異構體。例如。具有一核心材料覆以小型島狀之第二材料之奈米晶體係為一異構體。在其他實施例中，不同材料係分佈在奈米結構中的不同位置。例如，材 料型態沿著奈米導線的主要長軸或一分支晶體的分支的長軸分佈。異構體中的不同區域可以包括完全不同的材料，或不同區域可包括主要材料。
此處使用之「奈米結構」係為具有至少一區域或特徵尺寸小於500奈米之結構，例如，小於約200奈米、小於約100奈米、小於約50奈米，或甚至小於約20奈米。一般來說區域或特徵尺寸會是結構的最小軸。這樣的結構例如包括奈米導線、奈米桿、奈米管、分支奈米晶體、奈米四足管、三足管、二足管、奈米晶體、奈米點、量子點、奈米粒、分支四足管(例如，無機樹狀物)及類似物。奈米結構實質上在物質特性上為均質，在某些實施例為異質性(例如異構體)。奈米結構可以例如是實質上的結晶態、實質上的單晶態、多晶態、非晶態，或其組合。在一方面，奈米結構的三維個別之尺寸例如小於約500奈米、小於約200奈米、小於約100奈米、小於約50奈米，或甚至小於約20nm。
此處使用之「奈米導線」通常係指任何延長之導體或例如，半導體材料(或其他在此描述之材料)包括至少一剖面尺寸小於500奈米，較佳地，等於或小於約100奈米，並具有大於10的長寬比(長度：寬度)，較佳地大於50，更較佳地，大於100。使用於本發明之方法及系統中之奈米導線具有數十微米的長度(例如10、20、30、40、50微米等)及約100奈米的直徑。
本發明之奈米導線在物質特性上實質上為均質性，或 在某些實施例中為異質性(例如奈米導線異構體)。奈米導線基本上可以從任何便於取得的一種材料或多種材料製造，並可以是實質上結晶態、實質上單晶態、多晶態，或非晶態。奈米導線可以具有變動的直徑或實質上為均一直徑，也就是說，在變動最大的區域及超過5奈米的直線長度下(例如至少10奈米、至少20奈米，或至少50奈米)，直徑的差異小於約20%(例如小於約10%、小於約5%，或小於約1%)。一般直徑係從奈米導線的端點來估計(例如超過奈米導線中央20%、40%、50%，或80%)。奈米導線可以是整體長軸長度或其部分為直線或彎曲或彎折。在部分實施例中，奈米導線或其部分可以具有二維或三維的量子限制。根據本發明之奈米導線，可以明確排除奈米碳管，在某些實施例中排除「鬚」或「奈米鬚」，特別是直徑大於100奈米的鬚，或大於約200奈米。
這樣的奈米導線包括半導體奈米導線，如公開國際專利申請號WO 02/17362, WO0 2/48701及WO 01/03208所描述，奈米碳管，及其他相同尺寸之延長導體或半導體結構，在此包含做為參考。
此處使用的「奈米桿」通常指任何類似奈米導線之延長導體或半導體(或其他此處描述之材料)，但長寬比(長：寬)小於奈米導線。記得兩個或多個奈米桿可以沿著長軸耦接在一起，但使得耦接之奈米桿跨越於電極之間。或者是，兩個或多個奈米桿實質上沿著長軸排列，但是彼此不耦接，使得兩個或多個奈米桿的端點之間存在一小間 距。在此例子中，電子可以從一奈米桿跳至另一個來跨越間距，而從一奈米桿流到另一奈米桿。兩個或多個奈米桿可以實質上對齊，以形成電子可以通過奈米桿之路徑。
奈米導線、奈米桿、奈米管及奈米帶可以使用的材料範圍很廣，包括半導體材料，例如選自Si, Ge, Sn, Se, Te, C(包括鑽石),P, B-C, B-P(BP6 ), B-Si, Si-C, Si-Ge, Si-Sn及Ge-Sn, SiC, BN, BP, BAs, AlN, AlP, AlAs, AlSb, GaN, GaP, GaAs, GaSb, InN, InP, InAs, InSb, ZnO, ZnS, ZnSe, ZnTe, CdS, CdSe, CdTe, HgS, HgSe, HgTe, BeS, BeSe, BeTe, MgS, MgSe, GeS, GeSe, GeTe, SnS, SnSe, SnTe, PbO, PbS, PbSe, PbTe, CuF, CuCl, CuBr, CuI, AgF, AgCl, AgBr, AgI, BeSiN2 , CaCN2 , ZnGeP2 , CdSnSb2 , CuGeP3 , CuSi2 P3 , (Cu, Ag), (Al, Ga, In, Tl, Fe), (S, Se, Te)2 , Si3 N4 , Ge3 N4 , Al2 O3 , (Al, Ga, In)2 , (S, Se, Te)3 , Al2 CO，以及兩種或更多之此些半導體之適當組合。
在某些方面，半導體可能包括摻雜物，選自下列組合：週期表之III族之p型摻雜物；週期表之V族之n型摻雜物；p型摻雜物選自下列組合：B, Al及In; n型摻雜物選自下列組合：P, As及Sb；週期表之II族之p型摻雜物，p型摻雜物選自下列組合：Mg, Zn, Cd及Hg；週期表之IV族之p型摻雜物，p型摻雜物選自下列組合：C及Si；或n型摻雜物選自下列組合：Si, Ge ,Sn, S, Se及Te。可以使用其他已知或最近研發之摻雜物材料。
此外，奈米導線或奈米帶可以包括奈米碳管、或以導 體或半導體有機聚合物材料(例如並五苯(pentacene)，過渡金屬氧化物)形成的奈米管。
因此，雖然「奈米導線」在此係為描述而使用，在此之描述亦包含奈米管(例如，具有軸向通透中空管之類奈米結構)。奈米管可以如在此描述的奈米導線形成/結合奈米管薄膜，以提供在此描述的性質及優點。
需瞭解的是空間描述(例如上方、下下、上、下、頂、底等)只是為了描述而使用，本發明之裝置可以任何空間朝向或方式擺放。
第1圖繪示單晶體半導體奈米導線核心100。第1A圖繪示之奈米導線100係為均勻摻雜之單晶奈米導線。這樣的單晶奈米導線可以極佳控制下摻入p型或n型半導體。摻雜之奈米導線例如奈米導線100具有改善之電性。例如，這樣的奈米導線可以經摻雜而具有如同主體單晶材料之載子移動能力。
第1B圖繪示根據核心-殼層結構之摻雜奈米導線110。根據第1B圖，奈米導線110具有摻雜表面層112，可以具有不同厚度，包括在奈米導線110表面僅有分子單層厚度。
第1C圖繪示根據核心-殼層-殼層結構之摻雜奈米導線114。如第1C圖所示，奈米導線具有摻雜表面層112，可以具有不同厚度，包括在奈米導線114表面僅有分子單層厚度，以及外殼層116。使用做為外殼層116之材料例如包括但不限定於TaAlN及WN。
p型摻雜導線的絕緣殼層的價帶可以低於核心價帶，或者n型摻雜導線的殼層的導帶可以高於核心。一般來說，核心奈米結構可以從任何金屬或半導體材料製造，而殼層可以從相同或不同材料製造。例如，第一核心材料可以包括第一半導體，選自下列組合：II-VI族半導體、III-V族半導體、IV族半導體，以及其混合物。類似地，殼層的第二半導體材料可以包括第二半導體，可以與第一半導體相同或不同，例如，選自下列組合：II-VI族半導體、III-V族半導體、IV族半導體，以及其混合物。半導體例如包括但不限於CdSe, CdTe, InP,InAs, CdS, ZnS, ZnSe, ZnTe, HgTe, GaN, GaP, GaAs, GaSb, InSb, Si, Ge, AlAs, AlSb, PbSe, PbS,及PbTe。如上所述，金屬材料例如金、鉻、錫、鎳、鋁等及其合金可以做為核心材料，且金屬核心可以例如氧化矽或其他絕緣材料之適當殼層材料塗布於其上。
奈米結構可以一些適用於不同材料的簡便的方法之任一來製造及控制尺寸。例如不同化合物之奈米晶體合成記載於例如Peng elt al.(2000)"Shape Control of CdSe Nanocrystals" Nature 404, 59-61;Peng et al.(2001)" Colloidal nanocrystal shape and size control: The case of cobalt" Science 291, 2115-2117;USPN 6,306,736 to Alivisatos et al.(October 23, 2001)entitled "Process for forming shaped group III-V semiconductor nanocrystals, and product formed using process""; USPN 5,505,928 to Alivisatos et al. (April 9, 1996) entitled "Preparation of of III-V semiconductor nanocrystals"; USPN 5,751,018 to Alivisatos et al. (May 12, 1998)entitled "Semiconductor nanocrystals covalently bound to solid inorganic surfaces using self-assembled nanolayers"; USPN 6,048,616 to Gallagher et al. (April 11, 2000)entitled "Encapsulated quantum sized doped semiconductor particles and method of manufacturing same"; amd USPN 5,990,479 to Weiss et al. (November 23, 1999)entitled "Organo luminescent semiconductor nanocrystal probes for biological applications and process for making and using such probes."
奈米導線的成長具有不同長寬比，包括控制奈米導線的直徑控制，記載於例如Gudikesn el al.(2000)"Diameter- selective synthesis of semiconductor nanowires" J. Am. Chem. Soc 122,8801-8802; Cui et al.(2001)"Diameter-controlled synthesis of single crystal silicon nanowires" App. Phys. Lett. 78, 2214-2216; Gudiksen et al. (2001)"Synthetic control of the diameter and length of single crystal semiconductor nanowires" J. Phys. Chem. B 105,4062-4064; Morales et al.(1998)"A laser ablation method for the synthesis of crystalline semiconductor nanawires" Science 279, 208-211; Duan et al.(2000)"General synthesis of compound semiconductor nanowires" Adv. Mater. 12, 298-302; Cui et al.(2000)"Doping and electrical transport in silicon ananwires" J. Phys. Chem. B 104, 5213-5216; Peng et al. (2000)"Shape control of CdSe nanocrystals" Nature 404, 59-61; Puntes et al.(2001)"Colloidal nanocrystal shapes and size control: The case of cobalt" Science 291, 2115-2117; USPN 6,306,736 to Alvisatos et al. (October 23, 2001)entitled "Process for forming shaped group III-V semiconductor nanocrystals, and product formed using process"; USPN 6,225,198 to Alivisatos et al. (Mayl, 2001)entitled "Process for forming shaped group II-VI semiconductor nanocrystals, and procuct formed using process"; USPN 6,036,774 to Leiber et al. (April 27, 1999)entitled "Metal oxide nanorods"; USPN 5,997,832 to Lieber et al. (December 7, 1999)"Preparation of carbide nanorods"; Urbau et al. (2002)"Synthesis of single-crystalline perovskite nanowires composed of barium titanate and strontium titanate" J. Am. Chem. Soc., 124, 1186; and Yun et al. (2002)"Ferroelectric Properties of Individual Barium Titanate Nanowires Investigated by Scanned Probe Microscopy" Nanoletters 2,447.
分支奈米導線的成長(例如奈米四足管、三足管、二足管，及分支四足管)記載於例如Jun et al. (2001)"Controlled Synthesis of multi-armed CdS nanorod architectures using monosurfactant system" J. Am. Chem. Soc. 123, 5150-5151; and Manna et al. (2000)"Synthesis of Soluble and Processable Rod-, Arrow-, Teardrop-, and Tetrapod-Shaped CdSe Nanocrystals" J. Am. Chem. Soc. 122, 12700-12706。
奈米粒的合成記載與例如USPN 5,690,807 to Clark Jr. et al. (November 25, 1997)entitled "Method for producing semiconductor particles"; USPN 6,136,156 to El-Shall, et al. (October 24, 2000)entitled "Nanoparticles of siliccn oxide alloys"; USPN 6,413,489 to Ying et al. (July 2, 2002)entitled "Synthesis of nanometer-sized particles by reverse micelle mediated techniques"; and Liu et al. (2001)"Sol-Gel Synthesis of Free-Standing Ferroelectric Lead Zicronate Titanate Nanoparticles" J. Am. Chem. Soc. 123, 4344。關於奈米晶體、奈米導線，及分支奈米導之奈米粒的合成也記載於上述引用文獻，產生之奈米結構之長寬比小於約1.5。
核心-殼層奈米結構異構體的合成，稱為奈米晶體奈米導線(例如奈米桿)核心-殼層異構體，記載於例如Peng et al.(1997)"Epitaxial growth of highly luminescent accessibility" J. Am. Chem. Soc. 119, 7019-7029; Dabbousi et al. (1997)"(CdSe)ZnS core-shell quantum dots: Synthesis and characterization of a size series of highly luminescent nanocrystallites" J. Phys. Chem. B 101, 9463-9475; Manna et al. (2002)"Epitaxial growth and photochemical annealing of graded Cds/ZnS shells on colloidal CdSe nanorods" J. Am. Chem. Soc. 122, 9692-9702。類似方法可以應用在其他核心-殼層奈米結構的成長。
沿著奈米導線的長軸方向在不同位置有不同物質分佈的奈米導線異構體的成長，記載於例如Gudiksen et al. (2002)"Growth of nanowire superlattice structures for nanoscale photonics and electronics" Nature 415, 617-620; Bjork et al. (2002)"One-dimensional steeplechase ror electrons realized" Nano letters 2, 86-90; Wu et al. (2002)"Block-by-block growth of single-crsystalline Si/SiGe superlattice nanowires" Nano Letters 2, 83-86; abd US Nanowire heterostructures for encoding information."。類似的方法可以應用在其他異構體的成長。
電場對準及沈積 總論
在一實施例中，本發明提供在電磁波場存在下，從懸浮液狀態對準及沈積奈米導線至一具有圖案化電極之基板上的方法，以及進行此種對準及沈積(見第2圖)之裝置及系統。基板及奈米導線表面化學於基板及奈米導線表現提供淨電荷。透過選擇適當的電極圖案，施加一電磁波場梯度於奈米導線，電磁波場梯度施加一淨作用力於奈米導 線。作用力使得奈米導線(例如於懸浮液中)控制在基板上的特定位置。電極也產生使奈米導線極化的AC電場，產生一淨偶極矩(dipole moment)。AC電場接著施加一轉矩在該偶極上而產生一平行電場方向的角度對準。適當選擇電場參數，例如頻率及振幅，以供奈米導線對準及擷取，並使奈米導線「固定」或「關連」於電極上。在關連狀態下，奈米導線合適地平行於電場排列，但有足夠沿著電極邊緣的移動能力，使一序列的對準及關連能夠進行而不至於讓奈米導線叢集。本發明也提供「鎖定」或「耦接」奈米導線至電極上的方法。在耦接狀態下，奈米導線仍然如前述之關連狀態般對準，但失去沿著電極邊緣的橫向移動力。本發明也提供流體流量控制的適當選擇，以從電極上「沖掉」不要的/未耦接的/排列錯誤的奈米導線。乾燥過程移除溶劑並使奈米導線表面產生靜電「吸附」。
理論探討
接下來的段落包括提供部分關於電場對準背後的理論之其他背景知識。需瞭解的是本發明不限於此處提及的理論，而熟知此技藝者可輕易瞭解除了此處提及的理論之其他理論可應用於本發明。
外電場EEXT 引起如第3圖所示之奈米導線208的電荷分離。電荷分離可能係由於電荷移動(例如導體中)或由於偶極矩(例如在介電質中)。分離的電荷在奈米導線中產生與外電場方向相反的誘發電場 IND， 並具有之強度為：
函數f (ε)與物質的介電常數ε相關並可量測奈米導線的極性。f (ε)的上下限值分別對應物質對外電場完全補償，及物質不具有補償誘發電場的限制狀況。對於包含移動電荷的物質(例如金屬)或偶極矩(例如介電質)誘發電場補償外電場並產生零或降低之內電場。表面上電荷分離或偶極矩朝向引起誘發偶極矩。奈米導線的誘發偶極矩P (本文中使用粗體、底線的文字表示向量並對應公式中的文字)沿著外電場方向排列而其強度與奈米導線的極性成比例，奈米導線的體積V及電場強度為：
均勻電場施加於誘發偶極矩之旋轉矩 T E 為
轉矩使奈米導線208產生能量平衡而平行於電場方向的排列，如第4圖所示。均勻電場施加於誘發偶極矩之轉移力FDEP (介電泳動力)為：
結合公式(0.2)及(0.4)，介電泳動力表示為：
奈米導線208上的介電泳動力(見第5圖)與二次電場強度的梯度、電場頻率ω、奈米導線導電率σNW 、奈米導線介電常數εNW 、溶劑介電常數εm 以及奈米導線形狀(半徑r及長度L)相關。極化函數的實部為：
極化函數的頻率相依性產生兩種不同頻率範圍(低頻及高頻限制)，其介電泳動力耦接奈米導線的兩種不同性質(導電率及介電常數)。兩範圍間的截止頻率以溶劑或介質性質表示為：
對於f<<fc 來說，極化函數的低頻限制表示為:
在此頻率範圍內的介電泳動力與對溶劑導電率標準化的奈米導線之導電率成比例。當f>>fc 時，極化函數的高頻限制表示為：
在此頻率範圍內介電泳動力與對溶劑介電常數標準化的奈米導線之介電常數成比例。兩種不同長度的奈米導線的一般極化函數與頻率的關係繪示於第6圖。在奈米導線之導電率相關的低頻範圍，極化函數與奈米導線的長度並不相依。然而，在高頻範圍極化函數由於與奈米導線之介電常數相依而與1/L2 呈比例改變。在第7圖中，繪示相同奈米導線長度而兩種不同奈米導線導電率(核心-殼層(矽)vs.核心-殼層-殼層(Si-TaAlN))極化函數的一般頻率相依性。在低頻範圍極化函數與σNW 呈比例改變，而在高頻範圍極性因為是與奈米導線的介電常數相依因而保持相同。
合適實施例
在一實施例中，本發明提供定位一或多個奈米導線的方法。在合適實施例中，該方法包括提供設置一或多個奈米導線鄰近一電極對。接著，充能電極對，藉以使奈米導線變成與電極對相關聯。然後，調制電極對的該充能，藉以使奈米導線變成耦接於電極對上。
本文中使用之「定位」係指對準及關連，以及將奈米導線沈積或耦接至一表面，例如一電極對上。定位包括對準及不對準的奈米導線。本文中使用之「對準」係指奈米 導線彼此實質上平行或朝向相同或實質上相同的方向(亦即，奈米導線排列在相同方向，或彼此成約45度)。合適地，本發明之奈米導線係被對準使得彼此平行並實質上垂直於一電極對個各電極(雖然在另外實施例，可以平行於一電極排列)。定位奈米導線於一電極對包括定位奈米導線使得奈米導線跨越電極對，也就是說，導線以他們與兩電極間的多出的長度接觸一電極對的兩電極(雖然導線也可以僅接觸一電極)。在奈米導線比分離一電極對的兩電極之距離要長時，奈米導線可以延長超過電極。
提供與本發明之方法及系統使用的奈米導線係為習知。合適地，奈米導線係位於懸浮液中，亦即，奈米導線的懸浮液包括一或多個奈米導線，合適地為多條奈米導線，懸浮於液體中(亦即奈米導線「墨水」)。合適地，該液體為水的介質，例如水或水溶液，離子(包括鹽)，及其他成分，例如界面活性劑。適用於製備奈米導線懸浮液的另外範例包括但不限於有機溶劑、無機溶劑、酒精(例如異丙基酒精(IPA))等。
在此階段「設置一或多個奈米導線鄰近一電極對」，與提供奈米導線之關係，意味著奈米導線被提供或定位使得產生於電極對之電場可以施加於奈米導線。合適地，這是奈米導線可以被關連或耦接至電極的電極對之間距。在更詳細的實施例中，提供之奈米導線的離電極對之距離小於約100微米(μm)。例如，提供之奈米導線距離電極對小於約100微米、小於約50微米、小於約10微米，或小於 約1微米。
在合適實施例中，本發明提供奈米導線對準及沈積之系統或裝置。例如第2圖之裝置200。裝置200合適地包括具有一或多個電極定位(例如圖案化)於表面上的基板202，合適地排列使得正電極204及負電極205形成電極對207。基板202包括任何適合的材料，例如半導體晶圓或介電材料。合適基板材料例如包括但不限於Si, SiO2 , GaAs, InP及其他在此記載之半導體材料。做為正電極204及負電極205之材料例如包括但不限於Al, Mo(鉬電極)，Cu. Fe, Au, Ag, Pt, Cr/Au等。本發明實際使用之電極也更包括氧化物塗層或表層上之覆蓋層。
任何物質的奈米導線可以根據本發明的方法進行對準及沈積。合適地，奈米導線包括半導體核心及一或多個設置於核心上之殼層(亦即，包圍核心的殼層)。合適的半導體材料及殼層材料例如包括本文中所記載的全部。在合適實施例中，核心材料Si及至少一殼層，合適地為最外層之殼層(亦即，接觸外界環境的殼層)包括金屬，例如TaAlN或WN。其他金屬殼層例如包括本文中記載的全部。本發明實際使用的奈米導線例如包括核心：殼層(core: shell, CS)奈米導線(例如，SiO2 )，核心：殼層：殼層(core: shell: shell, CSS)奈米導線(例如，SiO2 ：金屬)，及核心：無氧化物殼層：金屬殼層奈米導線(core: no oxide shell: metal shell, CNOS)(例如Si：金屬)。
如第2圖所示，在合適實施例中，複數電極對207圖 案化於基板202上使得電極對207貼附或固定於基板。在其他實施例，電極對207可以僅形成覆蓋層於基板202上，但不確實附在基板上。任何合適朝向或電極對207的圖案都可以使用。如第2圖所示，裝置200也更包括其他種類，如形成流動通道206之材料(例如，兩邊及一頂部(以剖面表示))。流動通道206可以使用任何材料製造，例如半導體或介電材料，而在合適實施例中，流動通道206係以聚二甲基矽氧烷(polydimethylsiloxane, PDMS)製造。
如上所述，合適地，一或多個奈米導線208係以提供奈米導線懸浮液的方式給基板200(例如奈米導線「墨水」)。如第2圖所示，合適地提供奈米導線懸浮液係流動奈米導線208於基板202表面及電極對207上(箭頭表示示範流動方向，但其他方向也可使用)，及/或利用壓力通道填充技術。在提供階段中，奈米導線懸浮液維持於通道206內。當提供奈米導線時，懸浮液流經通道206及電極對207上幫助對準奈米導線，合適地在流動方向上(例如第2圖之箭頭)。在合適實施例中，通道206可以翻轉以限制或消除重力影響(亦即，電極位於通道頂部而非底部，因此奈米導線不會因重力而沈積在電極上)。其他提供奈米導線至電極對上的方法包括習知之技術，但不限於噴灑塗布(spray coater)、噴灑印刷(spray printing)、新月形塗布(meniscus coater)、浸泡塗布(dip-coater)、條狀塗布(bar-coater)、凹版印刷塗布、Mayer rod、刮刀 (doctor blade)、擠壓成形、微凹版印刷、網板塗布(web coater)、刮刀塗布、線上或噴墨印表機。(請見例如美國專利號6,936,761及6,358,643，其揭露內容包括在此做為參照)
提供奈米導線於電極對上(例如，透過因引入奈米導線懸浮液至通道206)，藉由充能電極對以於電極對間產生電場。要注意的是電場可於奈米導線產生/引入之前、之後或期間產生。在此使用的「電場」及「電磁波場」交替使用並係指對鄰近電荷之充電物體施加作用力。在此使用的「充能電極對」或「充能」係指對任何合適提供電流至電極，使電場產生於電極對的電極之間的機構或系統。
合適地，充能電極對以產生電場，係由在對準及沈積的全部或部分過程產生一AC電場來進行(雖然DC電場也可使用)。在本發明和實施例中，藉由施加電流至電極上以產生電場於電極對之間(亦即，兩電極之間)。例如，負電極205可以透過直接電性連接(亦即接線或其他連接)至連接一電源的負極的負電極端210，類似地正電極204可以透過直接電性連接(亦即接線或其他連接)至一電源連接的正極的正電極端212。當電流切換時，負極端及正極端傳送電荷至位於基板的電極上，藉以使電場產生於電極對207之間。在進一步實施例中，電場可以是脈衝電場，例如脈衝AC電場。
電極對的充能創造之電場也可以藉由供應電磁波至電極對207來產生。如習知技術，各種尺寸的波導器及構造 (例如圓柱、矩形)可以合適地用以直接施加電磁波(請見例如Guru, B.S. et al.,"Electromagnetic Field Theory Fundamentals," Chaoter 10, PWS Publishing Company, Boston, MA(1998))。本發明實際使用的波導器的操作頻率可以輕易由熟悉此技藝者決定，合適地位於約100MHz至10GHz之間，更合適地位於約1GHz-5GHz、約2GHz-3GHz、約2.5 GHz，或約2.45GHz。
當奈米導線遭遇產生於各種電極對間的AC電場時，產生如上述及第3圖及第5圖所示之電場梯度。一淨偶極矩產生於奈米導線而AC電場施加一轉矩於偶極上，使得奈米導線平行電場方向對齊(如第3圖)。接著在一實施例中，本發明提供對準奈米導線於一或多個電極對上的方法。需注意本發明之對準及沈積方法可以應用在任何奈米導線，包括CS、CSS及CNOS。
在合適實施例中，電極對的電極係被小於或等於奈米導線長軸長度的距離所分離。任何長度的奈米導線可以使用本發明之方法對準及定位。合適地，電極對的電極間的距離係使奈米導線恰好延伸超過電極的第一邊緣。也就是電極間的距離約等於，且合適地少於沈積之奈米導線的長度。如第8a-8d圖、9a-9b圖及10a-10c圖所示，奈米導線合適地恰好延伸超過第一邊緣而進入電極的中間。奈米導線前端與電極材料重疊數十奈米至數微米。短於電極間距離的奈米導線僅能夠耦接電極對中的一電極(假設完全耦接)，且合適地在後續步驟中移除(如果在電極與奈米導 線間僅有一接點)。類似地，實質上長於電極對之電極間的距離的奈米導線跨越一或多個電極，且合適地在後續步驟中被移除(因為較大的接觸面積)。因此，本發明之方法也提供從一個範圍的奈米導線尺寸中優先選擇特定長度之奈米導線的方式，並對準及沈積奈米導線至電極對上。
本發明之方法也可優先決定關連及耦接之奈米導線為「直線」而非彎折或彎曲。因此，本發明也提供增加沈積較佳直線奈米導線的好處，而非較不佳之彎折或彎曲的奈米導線。在其他實施例，使用於本發明之各實施例的電極可以有不同尺寸、幾何形狀及朝向。例如，電極對207之第一電極(例如正電極204)可以包括大於第二電極(例如負電極205)之奈米導線接觸面積。此處使用之「較大奈米導線接觸面積」意味著電極對的一電極具有大於另一電極之表面積，因此關連/耦接至電極對之奈米導線與第一電極的接觸面積較大。使用具有較大奈米導線接觸面積的電極能使奈米導線長於電極間的距離以實質上彼此平行對準，且奈米導線能夠較接近配合電極對之電極間的距離。因此，藉由利用一電極比另一電極之奈米導線接觸面積大的電極對，正常情況下會對準錯誤或交錯之奈米導線，可以實質上平行的方式對準，藉以使一群具有各種長度的奈米導線達到關連及對準。
除了平行於AC電場的奈米導線外，施加介電泳動力於奈米導線之電場梯度吸引奈米導線靠近電極對。如第5圖所示，梯度在電極對處最高，並朝電極施加漸增之吸引 力。電極對的各電極的表面產生電性雙層，使得相反電性的離子存在於電極處。在電場存在下，離子接著從電極遷移並開始朝奈米導線盤旋。當離子接近相反電性的奈米導線時，離子被相同電荷排斥然後直接回到電極而產生離子循環模式。液體(例如奈米導線懸浮液)也產生循環，產生與吸引奈米導線至電極之介電泳動力對抗的電滲透力。當作用力達到平衡(或相對平衡)時，奈米導線被維持在定點而與電極對產生關連。在此使用的「關連」及「固定」係指奈米導線電滲透力及介電泳動力達到平衡，使得奈米導線相對於電極對不移動或稍微移動(亦即，正交或實質上正交於基板及電極對)。本文中這也稱為「關連階段」。
在關連或固定狀態下，奈米導線合適地平行於電場對準，但沿著電極邊緣具有足夠移動力(亦即電極表面上方的平面)。例如，第8a圖繪示四電極對組(204及205)，各包括多個與電極關連或固定之之奈米導線208，電場方向如第8a圖所示(電場可以在任何方向，雖然通常會在實質上垂直於電極的方向)。如第8a圖所示，奈米導線的主體對準平行於電場的方向(亦即橫跨或垂直於電極)。在實施例中當奈米導線懸浮液提供於基板及電極時，液體流動的方向也會輔助奈米導線對準。在合適實施例中，液體流動方向會與電場方向相同或實質上相同(雖然液體流動及電場的方向相反，仍然可以輔助奈米導線平行於電場對準)。
在關連或固定狀態下，奈米導線可以自由排列、遷移 及/或沿著電極長度對準。已經實質上對準電場的奈米導線會傾向沿著電極對遷移直到接觸，及/或被最接近的相鄰奈米導線排斥。當未對準的奈米導線接觸，及/或被最接近的相鄰奈米導線排斥，實質上未對準的奈米導線會傾向遷移而對準，而使各種施加於奈米導線上的作用力達到平衡。奈米導線的橫向移動力(亦即，沿著電極對，垂直於電場方向)能使奈米導線具有能夠使對準及關連事件的時間序列發生，而不至於讓奈米導線叢集。也就是說，當奈米導線持續施加於電極對(亦即來自懸浮液)其他奈米導線能夠與電極關連，而之前已關連的奈米導線能夠自由移動以讓出空間容納其他導線。
第9a圖繪示十一個電極對之序列，每一電極對包括至少十條跨越電極之奈米導線。一般來說，在有少量重疊或叢集之奈米導線的電極對中，奈米導線實質上對準相同方向且以幾乎相同距離分離。第9b圖繪示十個電極對序列，各電極對包括更高密度的奈米導線(至少每電極對約20-30條奈米導線)。能夠與電極關連及最大耦接的奈米導線的密度要視提供的奈米導線數量(例如，懸浮液內奈米導線的濃度)、電極尺寸及電極對數量而定。奈米導線密度例如從每0.5微米1條奈米導線到每100微米奈米導線，合適的密度約在1-5微米一條奈米導線。
合適地，當以約5Hz至約5kHz的頻率產生交流電時，奈米導線與電極對的關連會發生。合適地頻率為10Hz到約5kHz、約10Hz到約2kHz、約10Hz到約 1kHz、約100Hz、約200Hz、約300Hz、約400Hz、約500Hz、約600Hz、約700Hz、約800Hz，或約900Hz(雖然也可用其他頻率)。合適地，為了關連奈米導線與電極對所產生的AC電場的振幅約0.1V到約5V，合適地約0.5V到約3v、約0.5V到約3V、約0.5V到約2V、約0.6V、約0.7V、約0.8V、約0.9V、約1.0V、約1.1V、約1.2V、約1.3V、約1.4V、約1.5V、約1.6V、約1.7V、約1.8V、約1.9V。如本文的用法，當提到電場的振幅值時，代表峰值相連之電壓(Vp-p )。當奈米導線為CSS及/或CNOS組成時，合適地使用這些範圍。
在將奈米導線與電極對關連後，調制電極對的該充能，以使奈米導線耦接於電極對。調制電極對合適地包括調制電極對間的AC電場。這裡使用的「將…調制」或「調制」表示改變或調整該充能。例如，電磁波、電場或電子訊號的頻率、振幅，或兩者皆可同時。調制「改變」及「調整」包括增加減少該充能(例如電場或訊號)。例如，AC電場的調制可以包括頻率調制、振幅調制，及兩者不論是不同時或同時調制之組合。調制包括同時增加頻率及振幅，增加頻率及減少振幅，及減少頻率及增加振幅，以及同時減少振幅及頻率。增加及/或減少的時機可以同時或不同時。
合適地，調制電極對間的該充能(例如AC電場)引起奈米導線耦接或「鎖定」在電極對上。此處用的「耦接」或「鎖定」，係指奈米導線強烈被電極吸引，在持續頻率 調制或電流條件(通常是輕微電流)下不會持續移動或改變，並維持對準狀態。在不被下列理論限制之下，假設在AC電場調制之後，第11圖中的相反的作用力(介電泳動及電滲透)之平衡被改變使得介電泳動力大於電滲透力，因此奈米導線被吸引而比上述之「關連階段」時更靠近電極。當奈米導線離電極之距離達到臨界時，例如凡得瓦爾力之侷限力夠強而將奈米導線耦接至電極。如第11圖所示，耦接或鎖定在電極對(204, 205)的奈米導線208實質上不移動。第8b圖繪示第8a圖相同的四組電極對在AC電場調制後(從關連階段到耦接階段)之微影圖。在調制AV電場至一使奈米導線發生的頻率及/或振幅後，奈米導線幾乎立即被吸引至電極而實質上不能移動。如第8b圖所示，導線與電極表面接觸，而藉由凡得瓦爾吸引力(或其他作用力)耦接至電極的末端，在微影圖中發光(第8b圖之箭頭)。過程的影片顯示導線不再能夠如第8a的關連階段進行遷移、重新排列、對準或移動。
電極對的該充能之調制，合適地調制AC電場的頻率，包括增加電場的頻率(從關連階段的頻率開始)至約1kHz到約500kHz之範圍，合適地約1kHz到約400kHz、約1kHz到約300kHz、約1kHz到約200kHz、約1kHz到約100kHz、約10kHz到約100kHz、約20kHz到約100kHz、約30kHz到約100kHz、約40kHz到約100kHz、約50kHz到約100kHz、約60kHz到約100kHz、約70kHz到約100kHz、約80kHz到約100kHz、約90kHz到約 100kHz，或約100kHz。需瞭解也可以利用其他在此描述之前的頻率範圍。調制頻率也包括減少AC電場的頻率，例如減少頻率至約1Hz到約10Hz。
調制AC電場的振幅也包括增加電場振幅(從上述關連階段的振幅開始)至約2V到約20V之範圍，合適地約2V到約10V、約3V、約4V、約5V、約6V、約7V、約8V或約9V。需瞭解也可以利用其他在此描述之前的振幅範圍。調制振幅也包括減少AC電場的振幅，例如減少振幅至約0.01V約0.1V。
在本發明合適實施例中，AC電場的頻率及振幅被同時或實質上同時(例如彼此相差數分鐘)調制。例如，頻率及振幅可以從關連階段使用的振幅值增加，藉以使奈米導線耦接至電極。例如，在關連階段使用的頻率及振幅，例如約10Hz到約1kHz之間，及約0.5V及2V之間，可以增加至奈米導線耦接至電極上的範圍，例如約1kHz到約100kHz之間，及約2V到約10V之間。在合適實施例中，於關連階段使用的頻率及振幅值例如約500Hz及1V，被調制至約10kHz及1V，及約10kHz，或約100kHz及約4V。
在本發明其他實施例中，頻率及振幅可以分開調制。也就是說，例如，在關連階段，電場的頻率首先可以從使用值增加至較高頻率，接著電場頻率可以稍後增加(或者振幅可以在頻率前被調制)。例如，振幅可以在頻率增加後約幾秒、幾分鐘或數分鐘(例如5、10、20、30、40分 鐘)後增加。合適地，關連階段使用的頻率及振幅範圍，例如約10Hz及約1kHz之間，及約0.5V及2V之間，可以增加至奈米導線耦接至電極的範圍，例如在約1kHz及約100kHz之間，及約2V及約10V之間。
在本發明進一步實施例中，在奈米導線最終耦接至電極上之前，在調制振幅之前的頻率調制更可以用來對準奈米導線。例如，在關連階段使用的頻率及振幅範圍，例如約10Hz及約1kHz之間，首先可以僅增加頻率來調制，例如從10kHz到約100kHz，而維持振幅在關連階段的位準，例如約0.5V及2V之間，合適地約1V。已確認維持電場振幅在一相對低振幅(例如1V的峰值)，然後調制振幅頻率從約500Hz至約100kHz，與電極關連的奈米導線會遷移並重新排列使得在部分案例中奈米導線比起關連階段達到較佳對準(亦即較少導線交錯或呈交角而彼此不平行)。
這樣調制(例如增加)頻率的方式，也被注意到可將在關連階段交錯或彼此接觸的奈米導線解交錯或解糾纏。假設在電極表面有足夠可用空間(亦即密度不過高)，奈米導線可以被解交錯或重新排列使得較多奈米導線在調制後比在調制前平行。例如，如第10a圖及第10b圖所示，第10a圖中最初交錯的奈米導線在調制階段能夠遷移及重新排列，而成第10b圖之解交錯狀態。這階段在本文中稱為「調制對準」，是除了在關連階段發生的對準外之對準階段。需瞭解調制對準階段在本發明實行上並非關鍵而可忽 略，本發明之方法可以直接從關連階段進行到耦接階段。
在奈米導線在調制對準階段(若有使用)達到充分對準後振幅接著被調制而使導線耦接到電極上(見第10c圖，注意奈米導線耦接至電極的奈米導線尖端)。需瞭解當調制對準階段後的額外頻率調制並非必要時，可以用額外頻率調制使奈米導線耦接至電極。在合適實施例中，電場的振幅從關連階段(及調制對準階段)所用的範圍增加，從如約0.5V到約2V之間，至奈米導線耦接所用的振幅範圍，例如增加至約2V到約10V，合適地為4V。
當上述調制頻率及振幅可以用在任何奈米導線組成/結構，合適地可使用於核心-殼層-殼層(CSS)及/或核心-無氧化物-殼層之組成的奈米導線。當使用CSS及/或CNOS奈米導線時，最外層的殼層合適地為金屬或其他具有表面電荷(正或負)的材料。在溶液中，最外層殼層吸引相反電荷離子在奈米導線的表面上形成一電雙層，奈米導線上的表面電荷輔助關連及耦接描述於上述理論的章節中。當奈米導線因靠近而傾向於彼此排斥，形成於奈米導線上的電荷層也減低、限制或消除交錯及/或叢集的奈米導線。當奈米導線與電極關連/對準，奈米導線的橫向移動力伴隨著排斥表面電荷提供足夠的移動，使交錯的奈米導線能夠解交錯並沿著電極分佈(例如請見第10a及10b圖)。
當定位包括核心-殼層(CS)結構(例如SiO2 )的奈米導線時，可能需要較高頻率及/或振幅的AC電場以關連或耦接奈米導線至電極上。例如奈米導線關連可能需要產生具 有頻率約1kHz到約50kHz，較合適地約5kHz到約20kHz，或約10kHz；及振幅約1V到約10V，合適地約2V到約5V，或約2V的AC電場。CS奈米導線的奈米導線耦接可能需要調制AC電場的頻率為約50kHz到約500kHz，合適地約75kHz到約200kHz，或約100kHz，以及振幅調制為約3V到約10V，合適地約3V到約5V，或約4V。不包含外層(金屬)殼層，因而外層充電的奈米導線，通常可能需要產生比包含外層金屬層(及CSS)的奈米導線更高的頻率及/或振幅以達成關連及/或耦接。
因此，在合適實施例中，本發明提供從導體及半導體(例如CS半導體)奈米導線混合物分離一或多個導體奈米導線(例如CSS導電奈米導線)的方法。如上所述，CSS奈米導線合適地包含一外層或金屬層，提供包含一或多個導體奈米導線及一或多個半導體奈米導線的溶液鄰近一電極對。電極對接著充能，藉以使導體及半導體奈米導線與電極對關連。然後，調制該充能，藉以使導體奈米導線耦接至電極對上。接著，移除半導體奈米導線。
於電極對之間產生AC電場的合適方法已經在全文中描述，包括直接電性連接及電磁波。於關連階段有用的AC電場例如包括具有頻率為約10Hz到約5kHz，及振幅為約0.5V到約3V的AC電場。藉由增加頻率至約1kHz到約500kHz，但維持或增加AC電場的振幅為1V到約4V的AC電場調制較佳地固定及鎖定導體奈米導線(例如CSS奈米導線)，而不耦接(鎖定)半導體奈米導線。後續的 移除未耦接半導體奈米導線，提供選擇性從懸浮液移除導體奈米導線的方法。因此，耦接至電極的導體奈米導線可以利用在各種應用，類似地，遺留在溶液(實質上無導體奈米導線)中的半導體奈米導線也可利用於其他應用。
在進一步實施例中，對準、關連及耦接可以使用一端n型摻雜而另一端p型摻雜的奈米導線進行。使用兩種不同摻雜，產生施加電場時具有兩誘發偶極的奈米導線。電子在n型摻雜材料比在p型摻雜材料的移動性高，奈米導線的n型摻雜「端」具有比p型摻雜「端」較強的偶極。因此，奈米導線的摻雜差異，產生預定方向的對準及沈積。例如可以用電極組(例如三個或四個電極，也可用更多電極)其中一對電極之充能位準高於第二對。合適地電極組中的電極對被定位，使得電極對與另一對電極，例如彼此相鄰或上下交疊(例如成排定位於基板上)在相同平面。如全文中記載奈米導線被吸引靠近電極組。然而，由於兩電極間的電場較高，奈米導線的n型摻雜端傾向於關連及耦接電極，而奈米導線的p型摻雜端關連及耦接較低電場的電極對。如此一來，奈米導線可以對準在設定方向上使實質上全部的奈米導線(例如大於50%、大於60%、大於70%、大於80%、大於90%，合適地約100%的奈米導線)對準在相同朝向及方向(亦即n型摻雜端皆指向相同方向)。這樣的對準及沈積在製備奈米導線陣列，例如做為二極體特別有用，全部奈米導線的n型摻雜端一起定位在電極組的一側上。
在使用波導器或類似工具產生電場的實施例中，奈米導線對準、關連及耦接可以發生在單一步驟中。也就是說不需要(但亦可使用)頻率及/或振幅調制即可達成耦接。例如，當利用波導器時，利用1GHz到約5GHz等級的頻率產生電場。合適地，約2GHz到約3GHz，或約2.3GHz到約2.5GHz，例如約2.45GHz的頻率。波導器產生的電場的振幅合適地等級約為1V到約10V。這種等級的頻率產生的電場會使奈米導線實質上在同一時間對準、關連及耦接。使用波導器產生電場後，奈米導線即被對準、關連及耦接到電極對上，合適地接近一連續步驟或動作。因此不需要頻率及/或振幅的分開調制(雖然可使用調制)來耦接奈米導線至電極。
在其他實施例中，奈米導線懸浮液僅置於電極對207頂端，而懸浮液無流量，因此奈米導線在對準及沈積之前為靜定懸浮。施加電場後，奈米導線即如全文所述產生關連及耦接。然而，由於缺少流體流量，奈米導線在沈積前不會預對準。這讓奈米導線沈積在彼此正交的方向上(例如在x及y方向上)。例如，如第12圖所示，僅需在預定朝向上提供奈米導線，奈米導線可以對準及沈積使彼此朝向相垂直。除了沈積在x及y方向上外，奈米導線可以沈積在任何方向或朝向上。這些實施例在經常需要在不同朝向，包括彼此垂直的朝向上配置導線的電子裝置建構時特別有用。
在進一步實施例中，在電極對間配置一或多個金屬元 件可以強化或輔助奈米導線對準及沈積。例如，如第13圖所示，沈積或對準一或多個金屬元件1302，例如金屬帶於一電極對的電極204及205之間輔助奈米導線208對準在電極上。任何合適地金屬可使用在本發明的方法，例如Al, Cu, Fe, Au, Ag等，或其組合。第13圖繪示奈米導線以實質上直線及對準狀態對準並沈積，每個奈米導線沈積在一對金屬元件之間。藉由選擇金屬元件1302的尺寸及朝向，奈米導線之間的配置可以被控制及修改，以達到等間距、平行、對準的奈米導線之關連及耦接。
本發明也提供定位一或多個奈米導線的方法。在這些方法中，提供一或多個奈米導線鄰近一電極對設置。接著充能電極對，其中一或多個金屬元件定位於電極對的電極之間，使相鄰奈米導線之奈米導線間距之變化小於約50%的標準差。在進一步實施例中，該方法更包括調制電極對間的該充能，藉以使奈米導線耦接至電極對上，其中一或多個金屬元件定位於電極對的電極之間，使相鄰奈米導線之奈米導線間距之變化小於約50%的標準差。請見第13圖。本發明提供定位奈米導線使相鄰奈米導線之奈米導線間距可以被控制在與平均距離相比50%標準差以內。在此使用的，相鄰奈米導線係指已關連及/或已耦接之奈米導線，彼此之間相鄰且之間沒有其他奈米導線。在此使用的奈米導線間距，係指相鄰奈米導線之距離。在此論述的以奈米導線間距為準之標準差，係指奈米導線間距的平均值之標準差。奈米導線間距的平均的標準差很容易計算，首 先計算奈米導線間距的平均值(奈米導線間距總和/距離的數量)。平均的標準差(σ)計算如下：
其中xi 表示個別奈米導線間距，x-bar為奈米導線間距的平均，N是奈米導線間距的數量。
利用本發明包括定位於電極間的金屬元件之方法，相鄰奈米導線之奈米導線間距可以控制在與平均值相比之變化小於50%的標準差。例如，與平均值相比小於40%、小於30%、小於20%、小於10%的標準差。
在更進一步實施例中，一電極對的一電極可以在同一平面上包括兩個或更多電極(亦即，分離電極結構)，各電極連接至一AC電場的分離源。在這些實施例中，AC電場可以同時產生於分離電極結構之間以及其他電極對之間，使分離電極結構的其中一電極處之AC電場被調制，而另一電極不調制下，供奈米導線關連及耦接。在此一結構中，實質上一較佳長度之直線奈米導線與分離結構之調制電極關連及耦接，而未調制電極吸引零星、不需要的奈米導線，並在對準過程中移除。如此一來，可以達成實質上平行與均勻的奈米導線沈積。
在奈米導線耦接至電極上後，未耦接奈米導線接著從電極對上移除以實質上消除未完全對準、重疊、交錯，或與電極對耦接不良的奈米導線。耦接階段後要移除的奈米 導線在此稱為「未耦接奈米導線」。可以使用任何合適的移除未耦接奈米導線方法。例如未耦接奈米導線可以使用小鉗子(tweezer)(例如光學鉗，例如請見美國專利號6,941,033、6,897,950及6,846,084，各專利之揭露內容包含在此做為參考)或類似工具，或藉由搖動或實體移去未耦接奈米導線。合適地，未耦接奈米導線可以藉由沖掉奈米導線來移除。
在此使用的「沖掉」包括流體(氣體或液體)流過或流經奈米導線，以從電極對上移除奈米導線。沖掉也包括轉移或移除電極對，已產生流體流動於奈米導線上。在合適實施例中，流動液體於奈米導線上包括僅施加一液體至奈米導線並使液體以一速度移動通過奈米導線上，使未耦接奈米導線被沖掉。沖掉未耦接奈米導線的流速可以使用任何習知方法產生，包括但不限於重力、噴頭或噴灑裝置、吸引裝置及類似裝置。如第8c圖所示，合適地流體方向係平行於奈米導線，因而垂直於電極對，然而任何流體方向都可使用。如第8c圖所示，未完全耦接至電極之未耦接奈米導線(208)在流體中被沖掉。第2圖之箭頭表示使用裝置200時流體的範例方向。需瞭解當預計移除許多但非全部之未耦接奈米導線時，可能會留下一些接觸電極對的未耦接奈米導線。熟習此技藝者可易於瞭解，留下的未耦接奈米導線對於耦接奈米導線的使用不會有顯著的損害。任何合適流體可以用來沖掉未耦接奈米導線，例如IPA溶劑、水或其他水溶劑及類似物。合適地，溶劑可以 是最初包含奈米導線的溶劑，只是懸浮液中不存在其他奈米導線。沖掉奈米導線可以任何相對於奈米導線之方向進行(亦即，平行、垂直或其他朝向)。當奈米導線耦接至電極上因而固定在位置上，流體流況不會擾動耦接，即使流動垂直於奈米導線排列的平面。
除了從電極對移除一或多個未耦接奈米導線外，奈米導線也合適地在耦接階段後弄乾。一般來說，弄乾係在移除未耦接奈米導線後進行，但不必在弄乾前移除未耦接奈米導線。弄乾奈米導線可以藉由任何習知之合適方法進行，例如，在空氣(靜止或動態)中蒸發、使用烤箱或其他合適裝置加熱，或其他機制。第8d圖繪示弄乾過程後未耦接導線的微影圖。
第14a圖繪示流程圖1400，繪示根據本發明一實施例奈米導線之對準及沈積方法。於流程圖1400之步驟1402，一通道例如第2圖之通道206，首先填充合適的溶劑，例如IPA。要注意最初的通道填充並非必要。於步驟1404，接著填充奈米導線懸浮液至通道，例如奈米導線墨水。如全文記載，不必使用通道，而可以將奈米導線懸浮液直接置放於電極對上。然後，於步驟1406，奈米導線關連或固定於電極上。在合適實施例中，接著調制電場以對準奈米導線1408。如全文描述，合適地對準調制階段包括增加頻率至約10kHz到約100kHz使交錯或對準不良的奈米導線遷移並對準電極。如全文論述，對準調制階段，步驟104並非必要，可從本發明之方法忽略。
在對準調制之後(若不使用對準調制則在關連之後)，於步驟1410，奈米導線接著耦接或鎖定於電極對上。合適地，藉由從關連階段增加頻率及振幅來調制電場。然而，在使用調制對準階段之實施例中，合適地只有電場振幅增加，然而頻率亦可增加(若需要亦可減少)。
於步驟1412，接著使用任何在此描述之方法或其他習知技術從電極對被移除或釋放未耦接奈米導線。合適地，藉由流動流體(例如IPA)於奈米導線上釋放或移除奈米導線。
從電極對上移除未耦接奈米導線之後，於步驟1414，決定藉由本發明之對準及沈積方法完成之奈米導線數量或密度是否足夠(亦即步驟1402-1412)。此一決定分析可以藉由任何方法檢查電極對，例如，藉由視覺檢查(顯微鏡或其他合適裝置)，或藉由使用電子或其他訊號監測電極對上之奈米導線的數量及/或密度。「足夠數量的奈米導線」可以是預先設定的奈米導線數量、在沈積時決定之奈米導線數量、或是根據電性或其他導線特性決定之奈米導線數量。例如如全文所論述，「足夠數量的奈米導線」可以藉由量測阻抗、電容、電阻或其他耦接至電極對之奈米導線特性來決定。
假設足夠數量的奈米導線已經耦接至電極對，步驟1414之決定分析會接著於步驟1416回覆「是」，接著於步驟1420合適地會啟動最終沖掉奈米導線的步驟。在沖掉奈米導線後(或在步驟1416的「是」決定之後)，在步 驟1422弄乾奈米導線。
假設決定已耦接至電極對的奈米導線數量不足，步驟1414的決定分析會於步驟1418回覆「否」。「否」意味著耦接至至少一電極對的奈米導線的數量不足。因此，為了提供其他奈米導線耦接，重複步驟1406至1412。需注意其他奈米導線例如也可以如步驟1404以引入奈米導線懸浮液的方式提供。在其他奈米導線對準及沈積後，進行步驟1414之決定分析。在決定分析終了時，已經沈積足夠數量的奈米導線(回覆「是」)，接著步驟1416、1420及1422會進行，或奈米導線的數量仍未足夠(回覆「否」)，並重複步驟1406-1412。這種反饋式迴圈可以視必要性重複許多次(例如2、3、4、5、10、15、20、50、100次等)，直到足夠或預期數量的奈米導線與電極對耦接為止。
第14b圖及14c圖繪示根據本發明實施例之奈米導線對準及沈積示範序列。在所有圖中，x表示示範對準及沈積步驟的一串步驟，例如，對應第14a圖之步驟1402-1422。需注意在連續步驟之間的時間並不代表步驟間的距離，因為部分步驟在其他步驟之後快速接續進行，而其他步驟則間隔較長時間。在第14b圖中，上方的圖表示各步驟之AC電場的電壓及頻率。如第14b圖所示，合適地當溶劑及/或奈米導線懸浮液添加至電極對時，在通道(例如第2圖之通道206)填充步驟(1402及1404，沈積步驟0及1)期間電場為關閉(亦即振幅及頻率為零，或很低)。
當關連階段開始後，以步驟1406及第14b圖之沈積步驟2為代表，AC電場的振幅及頻率都被打開/增加使得奈米導線關連及對準開始。在此描述關連階段期間所使用的合適的振幅及頻率。例如，如第14b圖的上方圖式，合適地電場的振幅(電壓V)約為0.5V到約2V，例如，約1V。第14b圖上方圖式繪示的電場頻率合適地約100Hz到約1kHz，例如，約500Hz。
如沈積步驟來到步驟3，第14a圖之步驟1408表示調制對準步驟，AC電場的頻率被調制，例如增加。如全文論述，合適地，在調制對準階段，只有電場頻率增加，不過振幅也可以增加。合適地，電場的頻率增加到約10kHz到約100kHz之間(例如第14b圖所示之10kHz)，而維持振幅在關連階段的位準，例如約0.5V及2V之間，合適地約1V。
來到沈積步驟4，耦接或鎖定階段(以第14a圖之步驟1410表示)，AC電場的振幅被調制以使奈米導線耦接至電極。如全文之論述及第14b圖所示，合適地AC電場的振幅增加，而維持頻率於先前之位準(雖然頻率也可以增加)。合適地AC電場的振幅增加至約2V到約10V之間，例如到約4V，以啟動奈米導線耦接階段。
在奈米導線耦接之後，合適地將AC電場關閉。例如，電場的頻率及振幅減低到零，或實質上減為低值。這樣可移除未耦接奈米導線(步驟1412)。在決定使否需要重複對準及沈積過程之前，可以確認是否已經沈積足夠數量 的奈米導線(步驟1414)。假設確認已沈積足夠的奈米導線，接著可以弄乾奈米導線。
第14b圖的圖式以任意單位表示沈積過程期間溶劑(例如IPA)的流量及奈米導線懸浮液(奈米導線墨水)。沿著x軸的沈積步驟對應上述第14b圖上方圖式的相同步驟。起初，在步驟0的通道填充，步驟1402，未引入奈米導線懸浮液，只有溶劑在電極上流動，相對於後續步驟具有較高的速度/體積。於步驟1引入奈米導線懸浮液後，奈米導線的流量即開始增加，而溶劑的流量減少，使奈米導線於步驟2發生關連，而維持流體流量輔助奈米導線對準。在步驟2之後，奈米導線懸浮液被關閉，在步驟2-4僅留下溶劑流量，即關連(步驟1406)、調制對準(步驟1408)及耦接(步驟1410)。在耦接步驟5(步驟1410)完成後，溶劑流量增加以輔助步驟6(步驟1412)移除未耦接奈米導線。在決定分析過程(步驟1414)維持升高的流量，並在所有奈米導線對準及沈積完成後，進入步驟7(步驟1420)後又再升高，以於步驟8(步驟1422)弄乾前進行最終電極沖刷。
第14c圖繪示根據本發明一實施例之其他奈米導線沈積方法的序列。振幅及頻率調制(上方圖式)的序列與第14b圖相同。然而，溶劑的流量與奈米導線懸浮液方面則為第14b圖之以外之另一示範方案。在第14c圖的下方圖式中，奈米導線懸浮液的流量的序列與第14b圖中的相同。然而，與第14c圖之步驟2-6相比，溶劑的流量則增 加約2倍(流量以任意單位表示)。需瞭解第14c圖僅表示本發明溶劑流量增加的其他實施例。不應認定流量增加必須為兩倍，可以使用更多或更少流量。
在更進一步實施例中，根據在此所述之方法，本發明提供包含一或多個奈米導線之一或多個電極。合適地，電極包括電極對，且各電極對包括複數個奈米導線(例如多於2、多於5、多於10、多於20、多於50或多於100條奈米導線)耦接或固定在電極上。如全文之論述，本發明之方法使奈米導線對準及沈積在電極對上，使實質上全部沈積的奈米導線實質上彼此平行且相對均勻配置。這有助於使用在裝置中的奈米導線，並有助於轉移奈米導線至其他基板或裝置接點。
在本發明進一步實施例中，耦接至電極上的奈米導線可以轉移至基板，合適地，在轉移前奈米導線已經被弄乾。雖然還未弄乾的奈米導線也可以轉移。在此使用的「轉移」表示從一轉移基板上的電極移動或重新定位奈米導線到一接收基板上。本發明之轉移方法使用之接收基板包括任何合適材料，例如，半導體、介電材料等。合適地，使用在轉移方法的接收基板包括一或多個裝置電極或其他具有待轉移奈米導線於其上的合適接點(例如汲極、閘極或源極電極)。例如，如第15圖所示，先前已經耦接至一轉移基板1508上的電極對(204, 05)上的奈米導線208可以轉移到一接收基板1502，接收基板1502包括其他接點，或圖案化或定位在其表面上的電極(1504, 506)。 單一奈米導線可以一次轉移(例如請見第15圖之虛線)，或複數奈米導線可以從電極轉移到基板/接點上。
在合適實施例中，本發明之轉移方法提供「印刷」奈米導線到一包括一或多個接點或電極的轉移基板上。例如，轉移基板1508，包括一或多個包括一或多個奈米導線208之電極對(204, 05)，可用做類似「印刷」頭的作用。也就是說，一或多個耦接至轉移基板上的電極(例如，使用全文描述之方法或過程)的奈米導線轉移到接收基板1502上的合適接點(1504, 1506)，可以僅藉由定位轉移基板(接收基板也可定位)使奈米導線可以從電極對轉移到接點上。例如，轉移基板可以定位在接收基板上，接收基板包括一接點且接著奈米導線被帶至一相對於接點之位置，使導線可以從電極轉移到接點。這過程可以視需要重複多次，根據接收基板上的接點重新定位轉移基板，使奈米導線可以轉移到接收基板上的不同位置。單一奈米導線或複數個奈米導線可以從電極轉移到接點上。這樣一來，本發明的轉移方法提供一種印刷類型，讓奈米導線以精確的方式從電極轉移到接點。
本發明也提供定位一或多個奈米導線至一基板上的方法。合適地該方法包括提供一或多個奈米導線於一懸浮液(例如奈米導線墨水)並充能電極對，藉以使奈米導線與電極對關連(亦即關連階段)。在示範實施例中，電極對的該充能包括於轉移基板上的一電極對之間產生一AC電場。本發明之轉移方法的關連階段使用之合適的AC電場特徵 如全文所描述。電極對的該充能接著被調制，藉以使奈米導線耦接到電極對上(亦即耦接階段)。例如電極對之間的AC電場係被調制。在本發明之轉移方法的耦接階段使用之合適的AC電場調制於全文中描述。然後，從電極移除未耦接奈米導線，然後轉移耦接奈米導線到基板上，合適地轉移到接收基板上的接點或電極。根據本發明之方法，本發明也提供包括一或多個奈米導線的基板。如全文所描述，本發明的方法可以使奈米導線對準或沈積，使實質上全部的奈米導線彼此平行。如此可以更容易轉移奈米導線至一最終基板及/或裝置接點。
在其他實施例，包括電極及耦接奈米導線的基板可以用作裝置基板。例如電極本身可以是最終使用在最終裝置結構上的接點。在其他實施例中，電極可以使用合適的習知之蝕刻劑蝕刻移除(例如一般商用之輕微的鐵氰鹼化物蝕刻劑)，已移除電極並留下對準、定向的奈米導線。蝕刻可以在任何奈米導線轉移之前，或奈米導線轉移到一轉移基板接點之後進行，僅留下奈米導線，及極少、甚至沒有殘留電極材料。
在進一步實施例中，本發明提供控制定位奈米導線於電極對上之數量的方法。在合適實施例中，根據本發明的各種方法，該方法包括定位一或多個奈米導線。接著，施加一訊號至電極對上並監測該訊號。然後，當訊號達到一預設值時，停止定位奈米導線至電極對上。藉由監測電極對上的電子訊號，可以控制奈米導線的數量。因此，一旦 獲得預設之訊號，本發明的沈積過程即可以停止。
第16a圖及16b圖繪示根據本發明合適實施例之奈米導線沈積監測裝置。裝置1600更包括一訊號產生器1604，訊號產生器1604提供一電子訊號至DUT 1602。合適地，訊號產生器1604係為一波形產生器，同樣也是AC電場的來源，用於全文描述到的關連、調制對準及耦接階段。訊號產生器1604所產生的訊號首先施加在DUT 1602，例如，藉由施加一波形至一電極對的一電極(或是數個電極，各電極係為複數的電極對中的其中一個)。電極對(或複數電極對)的相對電極(亦即，未連接到訊號產生器1604的電極)，係串連至一負載電阻(RL )1606。傳播通過DUT的訊號通過負載電阻1606並接著回到訊號產生器。通過負載電阻1606的訊號被鎖定分析器1608監測，鎖定分析器包括一訊號監測裝置(例如示波器)，以決定通過DUT的訊號特性。例如，可以監測訊號的頻率、振幅、相位改變等，例如使用一示波器。鎖定分析器1608合適地比較負載電阻1606處的訊號及訊號產生器1604提供之一參考訊號。當於鎖定分析器1608觀察到/量測到一預設訊號，本發明之裝置提供停止沈積奈米導線的機制。該機制可以是透過人員監測，或透過設定電腦進行電子或自動監測，當達到一預設值時，即停止沈積。提供利用一預設訊號值控制奈米導線的對準及沈積數量之本發明之實施例於本文中之描述為「主動」監測及控制。
在本發明之合適實施例中，在DUT監測的訊號(亦即 於負載電阻1606處)係為一種會隨著其他導線對準及沈積(耦接)於電極對(DUT)上而改變或變化的訊號。使用本發明之方法、系統及裝置進行監測之合適的訊號種類例如包括但不限於阻抗、電壓、電容及電流，基本及複雜波形及類似訊號，對於熟習此技藝者為顯而易見的訊號。
在進一步實施例中，量測跨越負載電阻RL 的訊號係饋入一類比數位轉換器，且數位訊號接著被電腦、數位訊號處理器或類似物放大。然後，如上述監測這個訊號以確認何時沈積完成預設數量的奈米導線。
例如，當沈積/耦接一奈米導線至一電極對上，在電極處的訊號阻抗隨著愈來愈多奈米導線耦接到電極而改變。熟習此技藝者可輕易瞭解，電極對阻抗會隨著奈米導線沈積並連接兩電極而改變。因此可以監測阻抗的實部及虛部，使當其他奈米導線耦接到電極對上時，兩個訊號其中之一(或兩者)(亦即阻抗的實部或虛部)發生改變。更仔細地說，例如，藉由鎖定分析器1608監測的訊號為DUT處阻抗的虛部。因此，監測負載電阻1606處(以及DUT 1602處)的阻抗提供決定及控制沈積於電極對處之奈米導線數量的方法。
當監測DUT處的訊號，可以選擇一預設定或預設值(例如臨界值)，當達到此數值時，裝置1600提供已經沈積需要或所欲之奈米導線於電極上的數量的訊號或其他回饋訊號。例如，可以設定一預設阻抗值，當已經沈積足夠數量的奈米導線時，DUT處的阻抗值(例如阻抗的虛部)達 到、通過或極接近預設值。此時，達到此一預設值之鎖定分析器提供此一數值已達成之某種回饋訊號或訊號。根據本發明，一旦達到預設值，奈米導線沈積過程合適地停止。可以使用任何合適方法停止奈米導線沈積過程，例如降低電極對間的電場，藉以停止奈米導線沈積在電極對上(於利用本發明對準及沈積奈米導線之實施例)。其他停止奈米導線沈積的合適方法包括移除奈米導線來源(例如奈米導線懸浮液)、從來源移除電極(例如把基板抽離懸浮液)或其他根據使用之沈積方法的合適方法。
第16b圖繪示根據本發明之其他裝置1620。相較於第16b圖之裝置1600，裝置1620也包括一測試裝置(DUT1602)(一或多個電極或電極對)、一訊號產生器1604、一負載電阻1606及鎖定放大器1608。裝置1620更包括電阻R1 1622及R2 1626。藉由將開關1624定位在合適朝向，電阻R1 合適地與DUT 1602平行置放，並與R2 串連。藉由訊號產生器1604產生之訊號使訊號傳送到電極對的兩電極(以DUT 1602表示)。
如第16a圖所示，在負載電阻RL 處監測的訊號係用以決定何時達成沈積所需的奈米導線數量於電極上。R2 例如可以包括在監測迴路或旁通(bypass)，但將開關1624移動至R2 從迴路移除的位置。如第16a圖所示，當奈米導線沈積/耦接在電極對上時，訊號的阻抗(或其他訊號的特性)會隨著更多奈米導線耦接於電極上而改變。阻抗的實部及虛部可以因而被監測，當其他奈米導線耦接至電極 對上時，其中一訊號(亦即，阻抗的實部及虛部)(或兩者)會發生改變。合適地鎖定分析器1608監測的訊號係為DUT處之阻抗的虛部。因此，監測負載電阻1606處(以及DUT 1602處)的阻抗提供決定及控制沈積在電極對上的奈米導線數量的方法。
圖式16a及16b繪示之裝置在全文中稱為裝置的「主動」監測系統。當系統需要藉由鎖定放大器監測時，接著產生某種回應以停止或終止奈米導線沈積，因此該系統為主動監測系統。
在其他實施例中，本發明也提供「被動」監測系統及裝置。在被動系統中，不使用鎖定放大器或其他主動監測電極處之訊號的系統(及/或當已沈積足夠數量的奈米導線後主動回應)，將裝置設計為將電阻與DUT平行置放，例如第16b圖之R1 。DUT處的電場(例如電極對之間)不足以關連及/或耦接任何其他奈米導線。因此，僅連接電極對之間的電阻與耦接的多個奈米導線，即可決定臨界電阻。接著，選擇合適的臨界電阻R1 ，可以設置被動監測系統，當預設數量的奈米導線耦接於電極上時，電阻會降到臨界電阻R1 之下，因而不會繼續進行電場沈積。因此，提供了被動監測系統。
在更進一步實施例，本發明提供包括一或多個電極對的基板，其中預設數量的奈米導線以沈積於電極對上，且其中奈米導線的數量根據本發明之方法進行控制。如在此所描述的，本發明之裝置及系統可控制奈米導線沈積，使 預設數量的奈米導線可以耦接至電極對上，並接著停止沈積，不再沈積其他奈米導線。藉由監測及控制個別電極對，可以準備多個電極對，各電極對包括預設數量的奈米導線。
在合適實施例中，個別監測基板上的複數電極對(雖然也可以一起監測一個以上的電極對)，當預設數量的奈米導線沈積在電極對上，即停止沈積(合適地停止沈積僅與特定電極對有關)，但繼續沈積其他電極對。本發明之方法的最後結果是各電極對包括實質上相同數量的奈米導線。因此本發明提供包括至少四電極對的基板(例如至少5、至少10、至少20、至少30等)且至少四個奈米導線(例如至少5、至少10、至少20、至少50、至少100等)定位在各電極對上，其中各電極對包括實質上相同數量的奈米導線。在此使用的「實質上相同數量的奈米導線」表示定位在一電極對上的奈米導線數量與定位在另一電極對上的奈米導線數量(經歷相同沈積過程及控制)的差異少於70%。合適地電極對包括實質上相同數量的奈米導線，使奈米導線數量的差異少於60%、少於50%、少於40%、少於30%、少於20%、少於10%、少於5%或少於1%。
在更進一步實施例中，本發明提供對準及/或沈積奈米導線到基板上的系統，包括內含多個奈米導線的懸浮液(例如奈米導線墨水)，包括一或多個電極對之基板，以及用以於電極對之間產生AC電場並調制AC電場的訊號產生器。合適的基板及做為電極的材料已於全文中描述。於 電極對之間產生AC電場的來源例如包括但不限於將波導器或類似裝置，及其他均等的AC電場來源直接電性連接至電極對。
在其他實施例中，本發明的系統更包括流動包括複數個奈米導線於至少一電極對上的懸浮液的機構。流動機構例如包括但不限於控制奈米導線懸浮液的流體流量的一流量控制系統(例如泵浦或類似裝置)；一基本裝置例如蓄水庫或其他用以灌入懸浮液至電極對上的容器，以及其他類似或均等裝置。合適地，流動機構為適合耦接到基板底側之固定裝置，使整個系統或裝置可以在重複使用於各次沈積中。在此一實施例中，本發明的裝置或系統可用以對準或沈積奈米導線到電極對上，且接著該裝置可以再次使用於後續沈積過程。因此，本發明之裝置及系統可以重複使用，通常不需要替換電極或其他元件直到被損耗或缺乏效率為止。
在其他實施例中，本發明之系統更包括用以視覺化奈米導線的光學影像系統，例如顯微鏡、紅外線或雷射偵測器，或類似裝置。本發明的系統也可以包括一或多個用以在基板上控制懸浮液中的奈米導線的場電極。如全文所論述的，在合適實施例中本發明之系統更包括確認一或多個電極對處之訊號的一訊號監測裝置(例如示波器)，及當訊號達到一預設值時停止AC電場的手段。當訊號達到一預設值時停止AC電場的手段包括但不限於降低電極對間的電場，藉以停止定位奈米導線於電極對上(在使用本發明 之方法對準及沈積奈米導線的實施例中)；移除奈米導線來源(例如奈米導線懸浮液)；移除來源的電極(例如從懸浮液中抽離基板)，或其他根據使用之沈積方法的合適或等效之方法。
在進一步實施例中，本發明包括沈積奈米導線一或多個於基板上的方法。一或多個奈米導線首先沈積在一基板上，接著加熱奈米導線使其沈積在基板上。奈米導線可使用任何合適方法例如電場對準、藍謬爾膜(langmuir-film)對準或流動對準定位在基板上。在示範實施例中，使用各種在此描述之電場對準方法將奈米導線定位在基板上，首先將奈米導線與電極對關連，然後合適地如在此描述之方式藉由調制電場耦接至電極對上。例如，第17A圖繪示已經耦接至定位在基板202(例如玻璃基板)上之電極對(204, 205)的奈米導線208。
在定位奈米導線後(例如耦接至電極對)，奈米導線208接著被加熱以沈積於基板202上。如在此之描述，「被加熱」或「加熱」包括各種增加奈米導線(以及基板)溫度的方法，包括但不限於以烘箱或退火室(annealing chamber)加熱、加熱基板本身例如以歐姆加熱或傳導加熱，或其他合適方法。
一般來說，加熱奈米導線至超過約100℃，例如約110℃、120℃、約130℃、約140℃、約150℃、約160℃、約170℃、約180℃、約190℃、約200℃、約210℃、約220℃、約230℃、約240℃、約250℃或更高。在 此使用的「沈積溫度」係指奈米導線208所加熱到達之溫度，以沈積奈米導線208於基板202上。奈米導線的溫度可以從耦接後的溫度(例如環境溫度(約22-25℃)或更高)增加至奈米導線沈積至基板上之溫度(例如超過100℃)，可使用各種加熱速率。例如，溫度可在幾分鐘到數小時內增加到沈積溫度。例如，溫度可以在約5分鐘到約30分鐘內從耦接後之溫度增加到沈積溫度。
一旦到達沈積溫度，奈米導線合適地維持在此一溫度持續幾分鐘到數小時。例如奈米導線可以維持在沈積溫度約5分鐘到約2小時、或約5分鐘到約1小時、或約5分鐘到約30分鐘，或約20分鐘。在加熱期間，奈米導線合適地接觸一或多種氣體，包括反應或非反應氣體(例如惰性氣體)組成之氣體，例如H2 、N2 、He、Ne、Ar、Kr、Xe或Rn。在示範實施例中，奈米導線在H2 的環境中，例如H2 及N2 混和氣體的環境中加熱。在不欲受理論限制下，在加熱期間添加H2 至奈米導線會強化奈米導線208與基板202的鍵結/關連的形成，也許透過氫鍵結合奈米導線與基板。本發明也包含使用添加氣體，合適地為包含形成氣體的H2 ，可使奈米導線與基板之間關連/鍵結。在其他實施例中，奈米導線與基板之間的共價鍵形成可以是在化學反應後釋放水分子的結果。
維持奈米導線於提升後的溫度之後，接著冷卻奈米導線至室溫，例如移除加熱源並提供其他H2 氣(例如H2 /N2 氣)直到奈米導線被冷卻。
在示範實施例中，在加熱奈米導線至沈積溫度之前，奈米導線合適地暴露在提供氣體至奈米導線的一或多個循環中，然後移除氣體。例如，提供N2 氣至奈米導線，合適地在室溫下維持約5-30分鐘(例如約10分鐘)。接著移除氣體，例如透過使用真空泵浦(例如抽真空到小於100毫托耳(mTorr)並維持約5分鐘)。在合適實施例中，重複提供/移除氣體循環，例如約2-10次，合適地在加熱奈米導線至沈積溫度之前至少使用5次提供/移除氣體循環。
在其他實施例中，本發明提供沈積一或多個奈米導線208至基板202上的方法。例如，以懸浮液提供一或多個奈米導線於鄰近基板上之一電極對207(204/205)。接著充能電極對，藉以使奈米導線與電極對相關連，且調制該充能，藉以使奈米導線耦接至電極對上(例如全程提供關連及耦接之頻率及振幅)。接著，提供氣體至奈米導線，然後移除(例如用泵浦)。提供及移除氣體循環可以重複數次，例如五次或更多。接著，加熱奈米導線至超過約100℃(例如約200℃)，合適地在H2 氣(例如H2 /N2 )的存在之下，藉以使奈米導線沈積於基板上。
在本發明使用電極定位奈米導線208於基板202之表面上的實施例中(例如，透過全文所描述之關連或耦接)，接著合適地移除電極(例如204及205)。如第17B圖所示，移除電極204及205留下奈米導線208，以對準/定向的方式沈積於基板202上。移除電極204及205之示範方法包括但不限於實體移除，例如刮除或蝕刻，包括乾蝕 刻、電漿或電子束蝕，及化學蝕刻，例如濕蝕刻，例如硝酸基化合物蝕刻。如第17B圖所示，移除電極204及205之後，對準、沈積之奈米導線208係留在基板202上。後續以去離子水(或其他溶液)清洗並弄乾(例如用旋轉沖掉乾燥器)不會擾動奈米導線208對準或與基板202的關連。
沈積奈米導線208至基板202上的方法包括施加靜電力以固定奈米導線，以及對奈米導線208及基板202進行化學表面處理以提升共價(化學)反應或兩表面間的非共價反應。
本發明也提供於溶液中(例如奈米導線懸浮液)控制奈米導線之系統，例如第18圖所示之裝置1800。在示範實施例中，裝置1800包括一或多個電極組(例如1802、1808)。各電極組包括具有第一極性之一第一電極及具有第二極性之一第二電極。如第18圖所示，第一極性(第一電極)相對於第二極性(第二電極)。在此使用的電極「組」係指兩個電極。如第18圖所示，電極組1802及1808連接至一單一電性連接1804及1806，其中第一極性的電極連接至一電性電接(1804)而第二極性之電極連接至其他電性連接(1806)。在其他實施例中，在各電極組中的各電極可以連接至分離電性連接。如第18圖所示，在示範實施例中，第一電極組1802及第二電極組1808以交互的方式排列(亦即，直接相鄰的兩電極的極性都不相同)。合適地電極組係位於相同平面，而在替代實施例中可謂於 不同平面。
接著一訊號產生器或其他合適裝置連接至電極組以於第一及第二電極(具有第一及第二極性)之間產生AC電場。位於溶液中的奈米導線，因為電極組之電極(+, -)之間的交流電流被極化並對應產生之靜電場控制於溶液中。以下討論的，係藉由交流或脈衝各電極組以於流動通道206中控制奈米導線。除了使用電極組之電極之間的AC電場以外，也可使用DC電場產生介電泳動或電滲透(流體運動)力於電極之間。在使用DC電場的實施例中電極組的電極通常比使用AC電場分開較大距離。這使得奈米導線可控制於電極間的全部距離，並沿著流動通道206移動。
在進一步實施例中，本發明之奈米導線控制系統1800更包括內含多個奈米導線208懸浮液，以及包括一或多個電極對207(例如電極204、205)之基板202。合適地系統更包括一訊號產生器或其他於電極對之間產生AC電場及控制AC電場的裝置。一般來說，包括電極對207的基板202係與電極組(1802, 1808)相對。例如，如第18圖所示，電極組1802及1808朝上面對基板202，且合適地平行於基板202。然而，電極組可以相對於基板202及電極對207具有任何空間朝向，或位於電極對207上方，但不需要平行於基板202。例如電極組1802、1808可以任何角度朝向基板202。
在合適實施例中，系統1800更包括流動包括多個奈 米導線於至少一電極對207及電極組1802、1808上的懸浮液之機構。流動機構如全文所描述。系統1800的其他元件，例如視覺化奈米導線的光學影像系統、流量控制系統及訊號監測系統如全文所描述。
本發明也提供於溶液中控制奈米導線的方法，如第19圖之流程圖1900所示，並參照第18圖之系統1800。在第19圖的步驟1902中，提供一或多個電極組1802、1808。各電極組合適地包括具有第一極性之一第一電極及具有第二極性之一第二電極。如第18圖所示，在合適實施例中，電極交替設置使相同極性的電極不會直接彼此相鄰。在第19圖的步驟1904中，電極組(1802)被充能，其中控制奈米導線於該充能的方向。在此使用的「充能」係指任何提供電流至電極組之電極的合適機構或系統。「充能」係指產生DC電場及或AC電場於電極組之電極處/之間。
在流程圖1900之步驟1906中，接著將電極組(1802)之該充能解充能(de-energize)。在此使用的「解充能」表示停止或移除電極組上的電流。接著在步驟1908，充能相鄰電極組(1908)。在此使用的「相鄰電極組」係指直接相鄰於在步驟1904中被充能，並在步驟1906解充能的電極組(1802)的電極組。相鄰僅表示電極組在空間上彼此相鄰，但電極組不需要彼此接觸或相隔特定距離。
如流程圖1900之步驟1910，步驟1906及1908可以合適地重複。例如，將充能過的電極組1808解充能，另 一相鄰電極組(未繪示)係被充能。步驟1910可以進行所欲的次數(亦即充能及解充能相鄰電極組)。電極組的循環於一方向上產生介電泳動力，合適地為該充能的方向(亦即，相鄰電極組被充能並解充能之方向)。如全文之描述，當施加AC電場時介電泳動力在相同方向上控制奈米導線。當前一充能過的電極組被解充能，奈米導線從充能過的電極組移動到相鄰充能過的電極組。相鄰奈米導線組的充能及解充能的循環可使奈米導線控制在任何所欲方向上。
例如，如第18圖所示，充能/解充能於流動通道206中箭頭所示之方向上產生介電泳動力。因此，最初在奈米導線208之位置上的奈米導線，通過流動通道206往箭頭方向移動，例如沿著類似奈米導線208→208'→208"的路徑，對應充能及解充能電極(1802→1808→)的交替組合的「波」或「脈衝」。在進一步實施例中，除了第19圖描述的充能及解充能產生的介電泳動力之外，奈米導線可以相同或類似的方向沖掉，離如，藉由使用流體流動附註控制奈米導線。施加及控制流體流動的方法於全文中描述。
在合適實施例中，電極組的充能包括於電極組之間產生AC電場。一般而言，訊號產生器或類似裝置例如透過電性連接1804及1806連接至電極組。AC電場合適地例如包括約10Ha到約1kHz的頻率，及約1-10V的振幅(尖峰值)。
本發明也提供控制一或多個奈米導線的方法。如全文 中描述，奈米導線合適地藉由控制電極對之間的電場關連並耦接至一或多個電極對207上。如第18圖所示，合適地，如在此描述地，藉由控制奈米導線208，及包括具第一極性的第一電極及具第二極性的第二電極之電極對(1802, 1808)從電極對207移除未耦接奈米導線。例如，電極組1802被充能，接著解充能，而相鄰電極組1808被充能，藉以產生介電泳動力，以在該充能方向上控制未耦接奈米導線208以從電極對207移除。例如，如第18圖所示，合適地於流動通道206之箭頭方向上控制奈米導線208。藉由回收奈米導線「墨水」或懸浮液，移除的奈米導線可以在後續關連/耦接應用中重複使用。
示範狀況，包括奈米導線關連及耦接的AC電場特性，以及全文中描述的奈米導線控制。除了實施例外，除了使用充能及解充能相鄰電極組所產生的靜電力，例如可以流動一溶液沖掉奈米導線。
本發明提供其他定位一或多個奈米導線的方法。在此描述的，奈米導線合適地使用本發明之方法關連及耦接至一電極對207上。例如，提供一或多個奈米導線懸浮液至如第20圖所示之電極對207上。電極對207接著被充能，藉以使奈米導線208與電極對相關連。接著調制該充能，藉以使奈米導線耦接至電極對上。最後，從電極對移除一或多個未耦接奈米導線(未耦接奈米導線包括未完全連結至電極及/或對準錯誤或交錯之奈米導線)。在合適實施例中，使用包括充能一移除電極2002以移除奈米導線 208，其中未耦接奈米導線208被控制在一方向上，例如移除電極2002的方向上，藉以從電極對207上移除奈米導線208。在此使用的「移除電極」包括一或多個定位在距離電極對一段距離上的電極，使充能該移除電極後，要從電極對上移除的奈米導線能控制在朝向或位於移除電極的方向上。
例如第20圖所示，移除電極2002可以定位在位於基板202的電極對207「上方」。然而，移除電極2002可以離電極對207定位在任何朝向或距離上，需瞭解本發明不限於將移除電極定位在電極對207上方。在合適實施例中移除電極2002包括一單一電極，但也可使用多個移除電極。移除電極2002通常位於流動通道206內，使其與流動通道之間可以流通，而使懸浮液或溶液中的奈米導線208可以流通。
充能移除電極2002可以包括於移除電極2002處產生DC電場、AC電場及DC電場與AC電場兩者(2004)。例如，DC電場可以具有約0.1V到約10V的振幅。AC電場合適地例如具有約100Hz到約100kHz的頻率，且約5-150V的振幅。訊號產生器或其他產生DC及AC電場2004的設備/裝置於全文中描述並為熟悉此技藝者所熟知。
施加DC電場至移除電極2002控制奈米導線208(未耦接或對準錯誤的奈米導線)朝向移除電極2002。移除電極2002處的正電荷產生傾向於從電極對207的區域移動 奈米導線208，進入流動通道206，如第21A圖所示。在流動通道206內流動一溶液接著從電極對區域移動奈米導線208，使奈米導線208被收集並在後續應用重複使用。在其他實施例中，可以在移除電極2002處產生負電荷，例如，約-0.1V到約-10V。移除電極2002處的負電荷傾向於控制奈米導線離開移除電極2002，因而朝向電極對207。這有助於強化全文所述之奈米導線關連/耦接階段。
施加AC電場於移除電極2002上，除了控制奈米導線朝向電極外，也傾向於對準奈米導線208於平行於AC電場的朝向上，如第21B圖及21C圖所示。因此，除了控制奈米導線208離開電極對207以外，奈米導線208也以較大表面積暴露於施加之流體流動中的方式對準(請見第21C圖)。已確認產生於距離接近1/2流動通道「高度」的距離的最大流體流量(亦即，在移除電極與電極對207的中央)。在示範實施例中，流體通道206高度約為500微米(移除電極2002與基板202上之電極對207間的距離)，因此在基板2002之表面上方約250微米處達到最大流量。施加AC電場及一流體流動以沖掉奈米導線208，提供非常有效的移除未耦接/對準錯誤的奈米導線的方法，也讓奈米導線墨水可回收做進一步應用，藉以限制材料損失或浪費。
在進一步實施例中，如第21B圖所示，AC電場及DC電場例如可以產生於移除電極2002處。AC電場及DC電場的產生有助於奈米導線208離開電極對207，也對準 奈米導線平行於流體流動。在示範實施例中，移除電極2002可以三個不同階段充能，例如，首先於移除電極處產生AC電場，接著可以產生DC電場及AC電場，最後可以於移除電極2002處產生AC電場。
本發明之系統/裝置除了一或多個電極對207外還包括移除電極2002，輔助大面積的奈米導線定位/沈積。在傳統三種電場控制下，可能發生電壓源下降(IR drop)的問題。然而，使用大面積的移除電極2002可以限制這個顧慮。
其他控制奈米導線離開電極對204/205的方法也可以用在本發明的實務上。例如，電極對207(合適地以及基板202)可以在各方向轉移以移動或控制奈米導線208可以介電泳動力或電滲透力移除，或可以流體流動沖掉。例如基板202，以及電極對207可以「往下」轉移藉以使奈米導線208「往上」移動並進入流體流動中而從流動通道206移除。其他控制奈米導線的方法使奈米導線可以流體流動沖掉或藉由介電泳動力/電滲透力包括但不限於超音波以及聲音或其他引發震動的方法，以移動未耦接/對準錯誤的奈米導線並接著操作奈米導線進入流體流動或電泳動力/電滲透力。
根據本發明示範之裝置及應用沈積奈米導線的用途
根據本發明之方法許多電子裝置及系統可以包括半導體或其他具有沈積奈米導線薄膜的裝置。本發明某些應用 範例描述如下或其他處係作為描述用途，而非限制。在此描述之應用可以包括對準或非對準之奈米導線薄膜，也包括複合或非複合奈米導線薄膜。
半導體裝置(或其他裝置)可以耦接至其他電路的訊號，及/或可以與其他電路整合。半導體裝置可以形成於大型基板上，後續可以分離或分割成小塊基板。此外，在大型基板上(例如，實質上大於傳統半導體晶圓的基板)，形成於其上的半導體裝置可以彼此互連。
以本發明之製程或方法沈積的奈米導線也可以包括在需要單一半導體裝置的應用，以及複數半導體裝置內。例如，以本發明之製程及方法沈積的奈米導線特別可用在大面積、大型電子基板上，基板上形成多個半導體裝置。這樣的電子裝置可以包括主動矩陣液晶顯示器(LCD)、有機發光二極體顯示器、場發射顯示器的顯示驅動電路。其他主動顯示器可以從奈米導線聚合物、量子點聚合物之複合物(複合物可以作為發射體及主動驅動矩陣)形成。以本發明之製程及方法沈積的奈米導線也可以應用在智慧型圖書館、信用卡、大面積感應器陣列、及無限射頻辨識標籤(RFID)，包括智慧卡、智慧倉儲標籤及類似物。
以本發明之製程及方法沈積的奈米導線也可應用在數為及類比電路應用。特別是，以本發明之製程及方法沈積的奈米導線在需要極大規模整合的大面積基板上之應用特別有用。例如，以本發明之製程及方法沈積的奈米導線薄膜可以實施於邏輯電路、記憶電路、處理器、放大器及其 他數位或類比電路。
以本發明之製程及方法沈積的奈米導線可以應用在光電應用上。在此種應用中，使用清潔的導電基板強化特定光電裝置的光電性質。例如，這種清潔的導電基板可以作為具有可撓性、大面積的銦錫氧化物(ITO)或類似物的替代品。基板可以塗布具有大能帶隙(bandgap)的奈米導線薄膜，亦即大於可見光而不會吸收可見光，但具有對準光電裝置的主動物質之HOMO或LUMO能帶，主動物質形成於光電裝置上。清潔的導體可以位於吸收光電材料的兩側以從光電裝置移出電流。可以選擇兩種不同的奈米導線材料，一種具有對準光電材料的HOMO能帶的HOMO能帶，另一種具有對準光電材料的LUMO能帶的LUMO能帶。可以選擇兩種奈米導線的能帶隙遠大於光電材料的能帶隙。根據此實施例，奈米導線可以輕微摻雜以減少奈米導線薄膜的電阻，使基板盡量不具吸收性。
因此，廣泛的軍事及消費物品可以包括本發明之製程及方法沈積的奈米導線。例如，包括個人電腦、工作站、伺服器、網路裝置、手持式電子裝置例如PDAs及掌上指示器、電話(例如行動、及標準電話)、收音機、電視機、電子遊戲系統、家用保全系統、汽車、飛機、船舶，其他家用或商用電器及類似物。
熟悉此技藝者可易於瞭解再不離開本發明或任何其實施例的範疇下可以對此處描述的方法及應用進行合適的其他修改及改造。雖然已經描述本發明之細節下，參照下列 例子可以更易於瞭解，但這些例子的目的是為了描述而不意圖限制本發明。
範例 範例1：奈米導線定位
如第2圖及第14a圖所示，流動通道206最初填充溶劑(IPA)1402。且接著填充所欲濃度的奈米導線(NW)墨水1404。在引入奈米導線墨水的均勻薄膜覆蓋晶圓表面202之後，施加電場於電極(204, 205, 207)圖案上。電場參數約f=500Hz而奈米導線V=1Vpp。施加與這些條件的奈米導線，觀察其從懸浮液被捕捉/關連至電極上，奈米導線的長軸平行於電場方向。可以將奈米導線預對準於流體流動方向或從靜定懸浮液拉動未對準之奈米導線以發生關連。觀察奈米導線彼此相鄰對準並展現沿著電極條的移動力。奈米導線的捕捉狀態係為「固定」或關連1406，如第5圖及第8圖所示。移動力可以用來達成每單位電極寬度具均勻高密度的奈米導線。示範之奈米導線沈積密度等級為每微米一條奈米導線(沿著電極長度)。一般相信奈米導線固定是藉由介電泳動吸引力及電滲透排斥力(請見第5圖)之間的平衡而造成的。製程的下個步驟(參照「奈米導線對準」1408對準調制)包括增加頻率到f=10Hz及相同的AC振幅。此一步驟將奈米導線在較不具移動性的狀態(強力固定)下彼此平行對準，這可能是由於施加於奈米導線的誘發偶極矩上的較高介電泳動力所造成的。製程中 的下個步驟包括增加AC訊號振幅至V=4Vpp而f=10kHz。電場參數的改變啟動所謂的奈米導線「鎖定」或耦接1410鎖定的奈米導線狀態描述於第11圖及第8b圖。在此狀態下，奈米導線展現沿著電極條極小的移動力(可能由於凡得瓦爾力作用於奈米導線及電極之間)。奈米導線合適地配合電極的幾何形狀，且鎖定穩固而足以抵抗高流體流動剪應力。然而，觀察到不配合電極幾何外型(例如短奈米導線)、彎曲奈米導線、交錯奈米導線或分支奈米導線係在「奈米導線釋放」製程步驟1412從電極釋放。假設未達到所欲奈米導線定位密度(在步驟1414確認)，則重複「奈米導線固定」到「奈米導線釋放」的步驟(1406-1412)。當達到所欲奈米導線沈積密度(在步驟1414確認)，則關閉電場並以溶劑(IPA)沖刷通道1420(合適地使用之液體的等級為幾百微升到幾毫升)。最後，透過蒸發溶劑1422弄乾通道。已經觀察到造成奈米導線沈積的電性參數的各種變化。特別是，發現使用振幅調制產生奈米導線跨越電極的高度平行對準。在「奈米導線固定」步驟中使用具有100%調制指數(電場振幅與載子振幅的比值)及100Hz頻率的調制。在這些條件下奈米導線傾向於大部分平行固定，達到高奈米導線沈積密度(每微米兩條奈米導線)。此外，發現交錯的奈米導線不穩定，可增加溶劑流動速度移除。示範之奈米導線沈積圖案如第9a-9b圖所示。
範例2：奈米導線與CNOS奈米導線耦接
包括CNOS組成(Si核心)的奈米導線，具有TaAlN的最外層，可利用標準成長收穫技術製備(例如請見Gudiksen et al.(2000)"Diameter-selective synthesis of semiconductor nanowire" J. Am. Chem. Soc. 122, 8801- 8802; Cui et al.(2001), "Diameter-controlled synthesis of single crystal semiconductor nanowires" J. Phys. Chem. B 105, 4062-4064)。中等密度及低密度(中等密度懸浮液稀釋10倍)的奈米導線懸浮液以異丙醇(IPA)製備。
500微米厚、直徑4英吋的石英基板以圖案化形成多個鉬(Mo)電極，各個電極厚度大約為400埃(Å)，且寬度約15微米或約30微米。定位電極使電極對分離約20微米(亦即，略小於欲對準及耦接之奈米導線的長度)。以聚二甲基矽氧烷(PDMS)製造的流動通道填充奈米懸浮液(藉由注入小滴奈米導線懸浮液至通道入口)。最初由毛細作用驅動流動填充通道然後在幾秒鐘後開始流動。奈米導線一般會與流動預對準而最終與電場方向平行。
使用頻率約10kHz及振幅約1V產生初始AC電場。尖峰AC電場約為250V/cm。低頻率使來自懸浮液的奈米導線關連並耦接至電極對上。接著調制電場頻率至約10kHz-300kHz，使奈米導線耦接至電極對上。
接著以IPA沖刷通道以移除未耦接奈米導線。然後，弄乾通道及耦接之奈米導線。在弄乾其間增加電壓至約4V以上以維持奈米導線耦接至電極上。
這個實驗的結果產生之奈米導線的密度為每4-6微米一條奈米導線(低密度溶液)及每1-3微米一條奈米導線(高密度溶液)。觀察到有些交錯或叢集的奈米導線，但一般這些導線係為對準且相對平均間隔。此外，在弄乾過程觀察到有些對準錯誤或交錯的奈米導線。已確認最佳的奈米導線沈積發生在奈米導線長度與電極對間的間距符合之時(亦即，長度約20微米的奈米導線)。
範例3：10×10陣列的奈米導線耦接
包括CNOS組成(Si核心)的奈米導線，具有TaAlN的最外層，係利用標準成長收穫技術製備(例如請見Gudiksen et al.(2000)"Diameter-selective synthesis of semiconductor nanowire" J. Am. Chem. Soc. 122, 8801-8802; Cui et al.(2001), "Diameter-controlled synthesis of single-crystal silicon nanowires" Appl. Phys. Lett. 78, 2214-2216; Gudiksen et al. (2001), and "Synthetic control of the diameter and length of single crystal semiconductor nanowires" J. Phys. Chem. B 105,4062-4064)。奈米導線的長度約22微米，半徑約100奈米。中等密度及低密度(中等密度懸浮液稀釋10倍)的奈米導線懸浮液以異丙醇(IPA)製備。
500微米厚、直徑4英吋的石英基板圖案化形成10×10的鉬電極陣列(亦即，總共100個電極、總共200個電極)，各個電極厚度大約為400Å，且寬度約30微 米。定位電極使電極對分離約20微米(亦即，略小於欲對準及耦接之奈米導線的長度)。以聚二甲基矽氧烷(PDMS)製造的流動通道填充奈米懸浮液(藉由注入小滴奈米導線懸浮液至通道入口)。最初由毛細作用驅動流動填充通道然後在幾秒鐘後開始流動。奈米導線一般會與流動預對準而最終與電場方向平行。
使用頻率約500kHz及振幅約1V產生初始AC電場。尖峰AC電場約為250V/cm。低頻率使來自懸浮液的奈米導線關連並耦接至電極對上。接著調制電場頻率至約10kHz且調制電場振幅至約4V，使奈米導線耦接至電極對上。接著以IPA沖刷通道以移除未耦接奈米導線。然後，弄乾通道及耦接之奈米導線。
這個實驗的結果產生相對均勻的奈米導線沈積在10電極對的每一個上。以低密度奈米導線懸浮液來說，平均4.75個奈米導線沈積在各電極對上，分佈的標準差為2.2。中等密度奈米導線懸浮液來說，平均10.8個奈米導線沈積在各電極對上，分佈的標準差為2.5。整個陣列的空間分佈相當均勻。
範例4：複數奈米導線沈積循環
上述範例1及2描述的製程係用以製備、關連及耦接奈米導線至來列在一66微米陣列的電極對上。在初始關連及耦接階段後，達到約每5微米一條奈米導線(請見第9a圖)。
接著重複關連及耦接階段以達到較高的奈米導線密度。第9b圖的結果顯示，達到約每1.8微米一條奈米導線。
使用較小濃度或較小體積的奈米導線懸浮液，並使用複數沈積循環產生較高的奈米導線密度，也達成相當均勻的電極填充。
範例5：使用波導器產生之AC電場之奈米導線對準
包括CNOS組成(Si核心)的奈米導線，具有TaAlN的最外層，可利用標準成長收穫技術製備(例如請見Gudiksen et al.(2000)"Diameter-selective synthesis of semiconductor nanowire" J. Am. Chem. Soc. 122, 8801-8802; Cui et al.(2001), "Diameter-controlled synthesis of single-crystal silicon nanowires" Appl. Phys. Lett. 78, 2214-2216; Gudiksen et al. (2001), and "Synthetic control of the diameter and length of single crystal semiconductor nanowires" J. Phys. Chem. B 105,4062-4064)。高密度、中等密度及低密度(稀釋10倍)的奈米導線懸浮液以異丙醇(IPA)製備。
500微米厚、直徑4英吋的石英基板以圖案化形成約25個Cr/Cu電極對，各個電極厚度大約為1500埃(Å)，且寬度約50，各電極對具有「鋸齒」圖案。定位電極使電極對分離約20微米(亦即，略小於欲對準及耦接之奈米導線的長度)。以聚二甲基矽氧烷(PDMS)製造的流動通道 (高度100微米，寬度55毫米，與水平面呈1.5度角)填充奈米懸浮液(藉由注入小滴奈米導線懸浮液至通道入口)。最初由毛細作用驅動流動填充通道然後在幾秒鐘後開始流動。奈米導線一般會與流動預對準而最終與電場方向平行。
使用波導器頻率約2.45GHz產生AC電場，初始輸入功率為100W。全部照射時間約為5分鐘，以4種不同天線長度檢驗(0.5釐米、1釐米、2釐米、5釐米)。
這個實驗的結果顯示使用波導器產生之AC電場可以對準並耦接奈米導線至電極對上。波導器外的電極並未顯示任何奈米導線沈積。在低密度奈米導線懸浮液下，奈米導線以約每50微米的電極寬度6條奈米導線的密度沈積。在中等密度奈米導線懸浮液下，奈米導線以約每50微米的電極寬度12條奈米導線的密度沈積。在高密度奈米導線懸浮液下，奈米導線以約每50微米的電極寬度20-40條奈米導線的密度沈積。
範例6：奈米導線關連及移除
第22A-22F圖繪示根據一系列奈米導線關連之微影圖，接著使用各種全文中描述的方法移除奈米導線。第22A圖繪示一系列電極對207定位於基板上。微影圖係從基板/電極對上方拍攝。奈米導線已經引入流動通道，且在電極對上可觀察到模糊物體。在流動通道中也存在電極對上的移除電極，雖然因為移除電極在用以視覺化奈米導 線的光學影像系統的視覺平面上而在微影圖中看不見。在第22A圖中，在電極對之間或移除電極處沒有電場產生。
在第22B圖中，具交流電有約500Hz的頻率及約500mV的尖峰振幅的AC電場產生在基板上的各電極對之間。此外，具有約-2.5V振幅的DC電場產生於移除電極處。這個負極性DC電場有助於控制奈米導線208朝向在流動通道底部的電極對207。在電極對處的交流電流開始對準及關連奈米導線與電極對。
在第22C圖中，可以看到奈米導線開始以非常對準的方式在電極對(207/208)之間關連。也可以看到奈米導線與供應電流至電極對(208')的匯流線(bus line)關連。AC電流及DC電流都保持在與第22B圖相同之頻率及振幅。
在第22D圖中，當AC電流維持在500mV及500Hz，在移除電極處的DC電流切換至約+800mV。與匯流線關連的奈米導線208，以及與電極對微弱關連/對準錯誤的奈米導線在流動通道中被往上拉，離開基板表面及電極對。然而，已對準、關連之奈米導線仍然存在於各電極對(207/208)之間。
在第22E圖中，維持AC電流在在500mV及500Hz，但在移除電極處的DC電流增加至+2.5V。這會繼續把奈米導線往上拉往移除電極，也有助於維持奈米導線靠近流動通道中央。接著藉由流動IPA溶液沖掉奈米導線。比較第22E圖到22D圖，大量的奈米導線已經從流動通道移 除。
在第22F圖中，停止IPA流動並關掉DC電極處的電流。然而，維持在電極對處的AC電流，繼續保持奈米導線與電極對(207/208)對準及關連。在第22F圖中存在極少的未耦接/對準錯誤的奈米導線。在合適實施例中，接著如在此描述的方式調制電極對之間的電流以耦接/鎖定奈米導線至電極對上。在進一步實施例中，可以調制AC電場，並在移除電極處的正DC電流產生之前耦接奈米導線至電極對上。
本發明之示範實施例已在此揭露。本發明不限於這些實施例。在此揭露這些範例是為了描述而非限制。替代方案(包括在此描述之均等物、延伸物、變形、差異等等)對於熟悉此技藝者基於此處之教導係為明顯易懂。這樣的替代方案落於本發明之範疇及精神內。
所有在本說明書提到的出版物、專利及專利申請案係包括作為參考，與個別出版物、專利或專利申請案所針對及個別指示所做之參考具有同等範圍。
100‧‧‧奈米導線
110‧‧‧奈米導線
112‧‧‧摻雜表面層
114‧‧‧奈米導線
116‧‧‧外殼層
200‧‧‧裝置
202‧‧‧基板
204‧‧‧正電極
205‧‧‧負電極
206‧‧‧通道
207‧‧‧電極對
208‧‧‧奈米導線
210‧‧‧負電極端
212‧‧‧正電極端
1302‧‧‧金屬元件
1400‧‧‧流程圖
1408‧‧‧奈米導線
1502‧‧‧接收基板
1504‧‧‧電極
1506‧‧‧電極
1508‧‧‧轉移基板
1600‧‧‧裝置
1602‧‧‧DUT
1604‧‧‧訊號產生器
1606‧‧‧負載電阻
1608‧‧‧鎖定分析器
1620‧‧‧裝置
1622‧‧‧電阻
1624‧‧‧開關
1626‧‧‧電阻
1800‧‧‧裝置
1802‧‧‧電極組
1804‧‧‧電性連接
1806‧‧‧電性連接
1808‧‧‧電極組
1900‧‧‧流程圖
2002‧‧‧移除電極
2004‧‧‧電場
第1A圖繪示之單晶半導體奈米導線之示意圖；第1B圖繪示根據一核心-殼層(core-shell, CS)結構摻雜之奈米導線之示意圖；第1C圖繪示根據一核心-殼層-殼層(core-shell-shell, CSS)結構摻雜之奈米導線之示意圖； 第2圖繪示根據本發明之一實施例之奈米導線對準及沈積裝置；第3圖繪示在一奈米導線上之電場對電荷分離效果的示意圖；第4圖繪示施加於一奈米導線上之旋轉力矩之示意圖；第5圖繪示根據本發明一實施例之奈米導線與電極對之對準與關連之示意圖；第6圖繪示奈米導線之長度對於奈米導線之極性對頻率之函數的影響；第7圖繪示奈米導線組成對於奈米導線之極性對頻率之函數的影響；第8a圖繪示奈米導線與電極對之對準及關連的微影圖；第8b圖繪示將奈米導線耦接至電極對之微影圖；第8c圖繪示從電極對上移除未耦接之奈米導線的微影圖；第8d圖繪示將奈米導線耦接至電極對後弄乾之微影圖；第9a圖繪示包括對準、耦接之奈米導線的11個電極對的微影圖；第9b圖繪示繪示包括高密度之對準、耦接奈米導線之的10個電極對之微影圖；第10a圖在調制對準階段前之關連後之奈米導線之微 影圖；第10b圖繪示第10a圖之奈米導線進行調制對準階段後之微影圖；第10c圖繪示第10b圖之奈米導線進行耦接階段後之微影圖；第11圖繪示根據本發明一實施例之奈米導線與一電極對耦接之示意圖；第12圖繪示在x及y平面都耦接之奈米導線之微影圖；第13圖繪示根據本發明一實施例以定位於電極間之金屬元件輔助對準之奈米導線的微影圖；第14a圖繪示根據本發明一實施例之奈米導線對準及沈積方法之流程圖；第14b圖繪示根據本發明一實施例之奈米導線對準及沈積序列；第14c圖繪示根據本發明一實施例之另一奈米導線對準及沈積序列；第15圖繪示根據本發明一實施例之奈米導線轉移裝置及方法之示意圖；第16a圖繪示根據本發明一實施例之監測奈米導線沈積於一裝置上之裝置進行測試；第16b圖繪示根據本發明一實施例之監測奈米導線沈積於一裝置上之另一裝置進行測試；第17A-17B圖繪示根據本發明一實施例於(A)之前電 場對準之奈米導線；接著(B)進行加熱沈積；第18圖繪示根據本發明一實施例於溶液中控制奈米導線之系統；第19圖繪示根據本發明一實施例之奈米導線控制方法的流程圖；第20圖繪示根據本發明一實施例之移除奈米導線之系統的示意圖；第21A-21C圖繪示根據本發明一實施例施加DC及AC電場於奈米導線的效果；以及第22A-22F圖繪示根據本發明一實施例之奈米導線關連及移除之微影圖。

Claims (42)

  1. 一種用於定位一或多個奈米導線的方法，包含：(a)設置一或多個奈米導線鄰近一電極對；(b)藉由在該電極對之間產生一交流(AC)電場而充能該電極對，藉以使該等奈米導線變成與該電極對相關聯；及(c)藉由調整該AC電場的頻率、藉由調整該AC電場的振幅、或藉由上述兩者，而調制該電極對的該充能，藉以使該等奈米導線變成耦接於該電極對上。
  2. 如申請專利範圍第1項之方法，其中，該設置包含設置奈米導線之懸浮液。
  3. 如申請專利範圍第1項之方法，其中，該產生AC電場包含使用一直接電氣連接將一訊號供應至該電極對。
  4. 如申請專利範圍第1項之方法，其中，該產生AC電場包含將一電磁波供應至該電極對。
  5. 如申請專利範圍第1項之方法，其中，該充能及調制包含將一電磁波供應至該電極對。
  6. 如申請專利範圍第5項之方法，其中，該供應包含將約1GHz至約5GHz的一電磁波供應至該電極對。
  7. 如申請專利範圍第1項之方法，其中，該產生AC電場包含產生頻率在約10Hz至約5kHz之AC電場。
  8. 如申請專利範圍第1項之方法，其中，該產生AC電場包含產生振幅在約0.5V至約3V之AC電場。
  9. 如申請專利範圍第1項之方法，其中，該調制包 含將該AC電場的頻率從約1kHz增加至約500kHz。
  10. 如申請專利範圍第1項之方法，其中，該調制包含將該AC電場的振幅從約2V增加至約20V。
  11. 如申請專利範圍第1項之方法，其中，該調制包含將該AC電場的頻率從約500Hz增加至約100kHz、接著將該AC電場的振幅從約1V增加至約4V。
  12. 如申請專利範圍第1項之方法，其中，一或多個金屬元件係定位於該電極對之電極間。
  13. 如申請專利範圍第1項之方法，更包含：(d)從該電極對移除一或多個未耦接的奈米導線。
  14. 如申請專利範圍第13項之方法，其中，該移除包含將未耦接的奈米導線沖掉。
  15. 如申請專利範圍第13項之方法，更包含將該一或多個耦接的奈米導線弄乾。
  16. 如申請專利範圍第13項之方法，更包含重複步驟(b)-(c)。
  17. 如申請專利範圍第13或15項之方法，更包含：(e)將該一或多個耦接的奈米導線轉移至一基板上。
  18. 如申請專利範圍第13或15項之方法，更包含：(e)移除該電極對。
  19. 如申請專利範圍第1項之方法，其中，該電極對的電極係以小於或等於該等奈米導線的長軸長度的距離隔開。
  20. 如申請專利範圍第1項之方法，其中，該一或多 個奈米導線包含一半導體核心及配置於該核心周圍的一或多個殼層。
  21. 如申請專利範圍第20項之方法，其中，該半導體核心包含Si。
  22. 如申請專利範圍第20項之方法，其中，最外面的殼層包含金屬或氧化物。
  23. 如申請專利範圍第22項之方法，其中，該金屬為TaAlN或WN。
  24. 如申請專利範圍第1項之方法，其中，被耦接的該等奈米導線保持對準，但是失去沿著該電極對之邊緣的橫向移動性。
  25. 一種用於定位一或多個奈米導線於一基板上的方法，包含：(a)將一懸浮液中的一或多個奈米導線設置於鄰近一轉移基板上之一電極對；(b)充能該電極對，藉以使該等奈米導線變成與該電極對相關聯；(c)調制該電極對的該充能，藉以使該等奈米導線變成耦接於該電極對上；(d)移除一或多個未耦接的奈米導線；及(e)將該一或多個耦接的奈米導線從該轉移基板轉移至該基板上。
  26. 一種電極對，包含根據申請專利範圍第1項之方法定位的一或多個奈米導線。
  27. 一種基板，包含根據申請專利範圍第25項之方法定位的一或多個奈米導線。
  28. 一種用於控制定位於一電極對上之奈米導線的數量之方法，包含：(a)根據申請專利範圍第1項之方法來定位一或多個奈米導線；(b)施加一訊號至該電極對；(c)監視該電極對上之該訊號；及(d)當該訊號達到一預設值時，停止將奈米導線定位於該電極對上。
  29. 如申請專利範圍第28項之方法，更包含：(e)將該等奈米導線轉移至一基板上。
  30. 一種包含一電極對之基板，其中，預定數量的奈米導線已被定位於該電極對上，且其中，奈米導線的數量已根據申請專利範圍第28項之方法所控制。
  31. 一種包含預定數量的奈米導線之基板，其中，奈米導線的數量已根據申請專利範圍第29項之方法所控制。
  32. 一種用於定位多個奈米導線的方法，包含：(a)設置多個奈米導線鄰近一電極對；及(b)充能該電極對，藉以使該等奈米導線變成與該電極對相關聯，其中，一或多個金屬元件係定位於該電極對之電極間，使得鄰近相關聯的奈米導線間之奈米導線間(inter- nanowire)的距離之變化小於標準差的約50%。
  33. 如申請專利範圍第32項之方法，其中，和該電極對相關聯的該等奈米導線保持對準，但是失去沿著該電極對之邊緣的橫向移動性。
  34. 一種用於沈積一或多個奈米導線於一基板上的方法，包含：(a)將一懸浮液中的一或多個奈米導線設置於鄰近該基板上的一電極對；(b)藉由在該電極對之間產生一交流(AC)電場而充能該電極對，藉以使該等奈米導線變成與該電極對相關聯(c)藉由調整該AC電場的頻率、藉由調整該AC電場的振幅、或藉由上述兩者，而調制該電極對的該充能，藉以使該等奈米導線變成耦接於該電極對上；(d)提供一氣體至該等奈米導線；(e)移除該氣體；和(f)在H2 氣體存在下加熱該等奈米導線至高於約100℃的溫度，藉以使該等奈米導線變成沈積於該基板上。
  35. 如申請專利範圍第34項之方法，其中，被耦接的該等奈米導線保持對準，但是失去沿著該電極對之邊緣的橫向移動性。
  36. 一種用於在一溶液中操控奈米導線之方法，包含： (a)設置一或多個電極組，每一電極組包含具有一第一極性之一第一電極及具有一第二極性之一第二電極；及(b)藉由在電極組之間產生一交流(AC)電場而充能電極組，其中，奈米導線因應該充能而被操控；及(c)藉由調整該AC電場的頻率、藉由調整該AC電場的振幅、或藉由上述兩者，而調制該電極組的該充能，藉以使該等奈米導線變成耦接於該電極組。
  37. 如申請專利範圍第36項之方法，其中，被耦接的該等奈米導線保持對準，但是失去沿著該電極組之邊緣的橫向移動性。
  38. 一種用於定位一或多個奈米導線的方法，包含：(a)設置一或多個奈米導線的一懸浮液鄰近一電極對；(b)藉由在該電極對之間產生一交流(AC)電場而充能該電極對，藉以使該等奈米導線變成與該電極對相關聯；(c)藉由調整該AC電場的頻率、藉由調整該AC電場的振幅、或藉由上述兩者，而調制該電極對的該充能，藉以使該等奈米導線變成耦接於該電極對上；及(d)藉由充能一移除電極而從該電極對移除一或多個未耦接的奈米導線，其中，該等未耦接的奈米導線在一方向上被操控，並且進而被從該電極對移除。
  39. 如申請專利範圍第38項之方法，其中，被耦接的該等奈米導線保持對準，但是失去沿著該電極對之邊緣 的橫向移動性。
  40. 一種用於從導電及半導電奈米導線的混合物隔開一或多個導電奈米導線之方法，包含：(a)設置一溶液鄰近一電極對，該溶液包含一或多個導電奈米導線及一或多個半導電奈米導線；(b)充能該電極對，藉以使該等導電及半導電奈米導線變成與該電極對相關聯；(c)調制該電極對的該充能，藉以使該等導電奈米導線變成耦接於該電極對上；及(d)移除該一或多個半導電奈米導線。
  41. 一種用於定位多個奈米導線的方法，包含：(a)設置多個奈米導線的一懸浮液鄰近在一基板上的一電極對；(b)充能該電極對，藉以使該等奈米導線變成與該電極對相關聯；(c)調制該電極對的該充能，藉以使至少一奈米導線變成耦接於該電極對上；及(d)藉由沖掉該等未耦接的奈米導線而從該電極對移除一或多個未耦接的奈米導線，其中，該等未耦接的奈米導線變成附接至該基板上的黏附奈米導線區域。
  42. 一種用於定位多個奈米導線的方法，包含：(a)設置多個奈米導線的一懸浮液鄰近在一基板上的一電極對；(b)充能該電極對，藉以使該等奈米導線變成與該電 極對相關聯；(c)調制該電極對的該充能，藉以使至少一奈米導線變成耦接於該電極對上；及(d)移除一或多個未耦接的奈米導線，其中，該等未耦接的奈米導線變成附接至該基板上的黏附奈米導線區域。
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