TWI452279B - 測試裝置 - Google Patents

測試裝置 Download PDF

Info

Publication number
TWI452279B
TWI452279B TW100106583A TW100106583A TWI452279B TW I452279 B TWI452279 B TW I452279B TW 100106583 A TW100106583 A TW 100106583A TW 100106583 A TW100106583 A TW 100106583A TW I452279 B TWI452279 B TW I452279B
Authority
TW
Taiwan
Prior art keywords
test device
sleeve
extension plate
card slot
hole
Prior art date
Application number
TW100106583A
Other languages
English (en)
Other versions
TW201235650A (en
Inventor
Teng Tsung Huang
Guo-Jun Yu
yong-bing Hu
Yuan-Zhao Li
Original Assignee
Hon Hai Prec Ind Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Hon Hai Prec Ind Co Ltd filed Critical Hon Hai Prec Ind Co Ltd
Publication of TW201235650A publication Critical patent/TW201235650A/zh
Application granted granted Critical
Publication of TWI452279B publication Critical patent/TWI452279B/zh

Links

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H04ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
    • H04MTELEPHONIC COMMUNICATION
    • H04M1/00Substation equipment, e.g. for use by subscribers
    • H04M1/24Arrangements for testing
    • HELECTRICITY
    • H04ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
    • H04MTELEPHONIC COMMUNICATION
    • H04M1/00Substation equipment, e.g. for use by subscribers
    • H04M1/02Constructional features of telephone sets
    • H04M1/23Construction or mounting of dials or of equivalent devices; Means for facilitating the use thereof

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Signal Processing (AREA)
  • Investigating Strength Of Materials By Application Of Mechanical Stress (AREA)
  • Testing Of Devices, Machine Parts, Or Other Structures Thereof (AREA)
  • Push-Button Switches (AREA)

Description

測試裝置
本發明涉及一種測試裝置,尤其涉及一種用於測試按鍵的可靠度和壽命的測試裝置。
電子產品在出貨之前,需要經過一連串的可靠度測試(reliability test)及壽命測試(life test),以確保產品的品質。其中,電子產品的按鍵用以在使用者按壓後而執行各種功能。因此,在按鍵的可靠度測試中,必須經過重複的按壓,以預測按鍵在長時間使用後,是否維持一定的品質。
一種習知的測試裝置包括滑塊、頂針及彈簧,彈簧套設於滑塊上並抵持頂針,頂針對應於一個按鍵。當滑塊在外力作用下運動時,推擠彈簧和頂針,使頂針按壓按鍵,其後滑塊通過彈簧提供的回復力復位。惟,在測試時,由於不同測試裝置彼此獨立,難以統一定位,其按壓行程不一致,按壓力不精確,容易影響測試的準確度。
有鑒於此,有必要提供一種可提高按鍵測試精確度的測試裝置。
一種測試裝置,其包括導桿、彈性件、壓頭、套筒及固定件,彈性件套設於導桿上,壓頭裝配於導桿一端,導桿滑動地穿過套筒,彈性件容置於套筒內,固定件包括本體、第一延伸板及第二延 伸板,套筒容置於本體內,第一延伸板和第二延伸板相對設置於本體上。
上述的測試裝置在套筒外設置固定件,便於調整多個測試裝置的水準高度一致。同時本發明的測試裝置通過第一延伸板和第二延伸板,以便該測試裝置掛持。在測試鍵盤時,多個測試裝置的行程一致,按壓力相同,可有效地提高測試精確度。
100‧‧‧測試裝置
10‧‧‧套筒
20‧‧‧止擋件
30‧‧‧導桿
32‧‧‧凸緣
40‧‧‧彈性件
50‧‧‧墊圈
62‧‧‧第一調節件
64‧‧‧第二調節件
70‧‧‧壓頭
80‧‧‧固定件
82‧‧‧本體
820‧‧‧通孔
822‧‧‧表面
84‧‧‧第一延伸板
842‧‧‧固定端
844‧‧‧卡持端
846‧‧‧定位孔
848‧‧‧第一卡槽
86‧‧‧第二延伸板
862‧‧‧固定部
864‧‧‧卡持部
866‧‧‧卡孔
868‧‧‧第二卡槽
200‧‧‧鍵盤
300‧‧‧承載件
圖1係本發明較佳實施方式測試裝置的分解圖;圖2係圖1所示測試裝置的固定件的立體圖;圖3係圖1所示測試裝置的組裝圖;圖4係圖3所示測試裝置的工作狀態示意圖。
請參閱圖1,本發明公開了一種測試裝置100,其用於測試鍵盤200(請參閱圖4)的可靠度及使用壽命。該測試裝置100包括套筒10、二止擋件20、導桿30、彈性件40、墊圈50、第一調節件62、第二調節件64、壓頭70及固定件80。
該套筒10為中空結構,其外周壁設置若干等間隔排列的環形凸起。該二個止擋件20均為中空圓柱,其分別固定於套筒10兩端的內周壁上。
該導桿30可滑動地穿過套筒10,導桿30的大致中下部位置環設凸緣32,該凸緣32的直徑略大於導桿30的直徑。當該導桿30穿過套筒10時,該凸緣32抵持於其中一個止擋件20,以不露出套筒10。在本實施例中,該彈性件40為一螺旋彈簧,其套設於導桿30上, 並容置於套筒10內。當該彈性件40套設於導桿30上未被壓縮時,彈性件40的一端與凸緣32接觸,另一端與止擋件20接觸,以在導桿30運動時,通過與凸緣32和止擋件20相抵持以蓄積彈性勢能。墊圈50套設於導桿30上,並位於彈性件40相對凸緣32的一端。
在本實施例中,該第一調節件62及第二調節件64均為螺母。第一調節件62靠近套筒10裝配於導桿30的一端,用於為導桿30的行程(即第一調節件62與套筒10相對位置的改變)建立參考標準,以在測試鍵盤200前計算導桿30的行程與測試裝置100產生的壓力的關係。第二調節件64通過與第一調節件62不同的旋轉方向裝配於導桿30上,並位於第一調節件62相對套筒10的一端,第一調節件62和第二調節件64通過此種裝配方式可避免在測試裝置100的振動過程中,第一調節件62出現鬆動的現象。
該壓頭70固定於導桿30相對第二調節件64的一端,用於按壓鍵盤200。
請參閱圖2,該固定件80掛持於一個承載件300上。該固定件80包括一體成型的本體82、第一延伸板84及第二延伸板86。在本實施例中,該本體82沿豎直方向開設通孔820,該套筒10可容置在該通孔820內。該本體82包括表面822。該第一延伸板84呈“L”形,包括固定端842及卡持端844。固定端842設於表面822的一端,其上開設定位孔846,定位孔846與通孔820相連通,以通過卡銷將該本體82鎖固於套筒10上。卡持端844與表面822平行設置並與表面822形成第一卡槽848。該第二延伸板86與第一延伸板84相對設置,第二延伸板86也呈“L”形,包括固定部862和卡持部864。固定部862設於表面822相對第一延伸板84的一端,其上開設卡 孔866。卡持部864與表面822平行設置並與表面822形成第二卡槽868,該第二卡槽868與第一卡槽848相對設置,並與卡孔866連通。在本實施例中,該承載件300呈矩形片狀,該第二卡槽868與第一卡槽848要有一定寬度以保證該承載件300能夠傾斜,且在承載件300傾斜後,其一端可從卡持端844或卡持部864脫出,以便於從該承載件300上取下該固定件80。因此該承載件300的寬度僅能略大於卡持端844與卡持部864之間的距離,但要略小於固定端842與固定部862之間的距離。如此,承載件300即可穿過卡持端844與卡持部864之間,兩側分別卡持於第一卡槽848和第二卡槽868內,也可將固定件80以傾斜方式從承載件300的任意位置掛持於承載件300上。為使固定件80掛持於承載件300上時不出現鬆動的現象,可採用一個調節螺母穿過固定部862的卡孔866,以抵持承載件300。
請參閱圖3,組裝該測試裝置100時,首先將彈性件40套設於導桿30上,並使導桿30穿過套筒10。再將二個止擋件20分別裝配於套筒10兩端,使其中一個止擋件20與凸緣32相抵持。再次將墊圈50、第一調節件62和第二調節件64依次裝配於導桿30一端,將壓頭70裝配於導桿30的另一端。最後將固定件80套設於套筒10外周,並用卡銷鎖固。如此,即完成該測試裝置100的組裝。
請結合參閱圖4,當需要對鍵盤200測試時,首先,選擇一個振動裝置(圖未示),並依據不同測試需求調整振動裝置產生的壓力。其次將若干測試裝置100掛持於承載件300上,並通過套筒10上的環形凸起使所有測試裝置100保持水準高度一致。其後,將承載件300固定於振動裝置上,啟動振動裝置使其帶動承載件300作 上下振動。此時測試裝置100的壓頭70作用於鍵盤200上,並產生一定的按壓力,導桿30受力朝遠離鍵盤200的方向運動,凸緣32抵持彈性件40,使彈性件40壓縮直到導桿30位移一定距離後,彈性件40釋放蓄積的彈性勢能以使導桿30復位。最後振動裝置再帶動測試裝置100下移並通過壓頭70重新按壓鍵盤200。如此通過多次按壓即可測試該鍵盤200的可靠度及壽命。顯然由於本發明的測試裝置100可通過固定件80掛持於承載件300上,在測試過程中,各個測試裝置100的按壓行程相同,按壓力相同,測試精確度高。
在測試過程中,若其中一個測試裝置100需要更換時,可先將調節螺母從卡孔866中旋出,再將測試裝置100從承載件300上取下即可。顯然,通過在固定件80設置第一延伸板84和第二延伸板86,可便於多個測試裝置100同時掛持,且測試裝置100可單獨地從承載件300的任意位置取下而不影響其他測試裝置100。
可以理解,由於彈性件40不會伸出套筒10與第一調節件62接觸,故本發明的墊圈50也可省略。
本發明所述的測試裝置100通過固定件80掛持於承載件300上,並通過固定件80與套筒10配合調節測試裝置100的水準高度,使得在測試過程中,不同測試裝置100的按壓行程相同,作用於鍵盤200上的壓力相同,測試精確度高。
綜上所述,本發明符合發明專利要件,爰依法提出專利申請。惟,以上所述者僅為本發明之較佳實施例,本發明之範圍並不以上述實施例為限,舉凡熟習本案技藝之人士爰依本發明之精神所作之等效修飾或變化,皆應涵蓋於以下申請專利範圍內。
100‧‧‧測試裝置
10‧‧‧套筒
30‧‧‧導桿
50‧‧‧墊圈
62‧‧‧第一調節件
64‧‧‧第二調節件
70‧‧‧壓頭
80‧‧‧固定件
82‧‧‧本體
84‧‧‧第一延伸板
86‧‧‧第二延伸板

Claims (10)

  1. 一種測試裝置,其包括導桿、彈性件及壓頭,彈性件套設於導桿上,壓頭裝配於導桿一端,其改良在於:所述測試裝置還包括套筒及固定件,導桿滑動地穿過套筒,彈性件容置於套筒內,固定件包括本體、第一延伸板及第二延伸板,套筒容置於本體內,第一延伸板和第二延伸板相對設置於本體上。
  2. 如申請專利範圍第1項所述之測試裝置,其中所述第一延伸板包括固定端及卡持端,固定端設於本體上,卡持端與本體形成第一卡槽,所述第二延伸板包括固定部和卡持部,固定部設於本體上,卡持部與本體形成第二卡槽,第二卡槽與第一卡槽相對。
  3. 如申請專利範圍第2項所述之測試裝置,其中所述測試裝置掛持於一個承載件上,承載件於第一卡槽和第二卡槽內發生傾斜,以從卡持端或卡持部脫出。
  4. 如申請專利範圍第2項所述之測試裝置,其中所述本體上開設通孔,所述套筒穿過通孔。
  5. 如申請專利範圍第4項所述之測試裝置,其中所述固定端開設定位孔,定位孔與通孔連通,以通過卡銷將本體鎖固於套筒上。
  6. 如申請專利範圍第2項所述之測試裝置,其中所述固定部開設卡孔,卡孔與第二卡槽連通。
  7. 如申請專利範圍第1項所述之測試裝置,其中所述套筒外周設置若干環形凸起,環形凸起等間距設置。
  8. 如申請專利範圍第1項所述之測試裝置,其中所述測試裝置包括第一調節件及第二調節件,第一調節件和第二調節件通過不同的旋轉方向裝配於 導桿一端,第一調節件靠近套筒設置。
  9. 如申請專利範圍第1項所述之測試裝置,其中所述測試裝置包括二個止擋件,所述二個止擋件均為中空結構,其分別裝配於套筒兩端的內壁上。
  10. 如申請專利範圍第9項所述之測試裝置,其中所述導桿上設置凸緣,所述凸緣的直徑大於導桿的直徑,所述彈性件抵持於凸緣,所述凸緣抵持於止擋件。
TW100106583A 2011-02-23 2011-03-01 測試裝置 TWI452279B (zh)

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN2011100444846A CN102650680A (zh) 2011-02-23 2011-02-23 测试装置

Publications (2)

Publication Number Publication Date
TW201235650A TW201235650A (en) 2012-09-01
TWI452279B true TWI452279B (zh) 2014-09-11

Family

ID=46651629

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
TW100106583A TWI452279B (zh) 2011-02-23 2011-03-01 測試裝置

Country Status (3)

Country Link
US (1) US20120210807A1 (zh)
CN (1) CN102650680A (zh)
TW (1) TWI452279B (zh)

Families Citing this family (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN102479558A (zh) * 2010-11-30 2012-05-30 鸿富锦精密工业(深圳)有限公司 测试装置
CN105277349B (zh) * 2015-10-26 2017-09-22 昆山鸿志犀自动化机电设备有限公司 手感测试头
CN106290992B (zh) * 2016-07-27 2017-11-10 国网山东省电力公司茌平县供电公司 一种电力设备试验引线挂接装置

Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US6304830B1 (en) * 1999-05-28 2001-10-16 Behavior Tech Computer Corp. Automatic keyboard testing apparatus
US6648531B1 (en) * 2002-06-11 2003-11-18 Systemax, Inc. Simultaneous keyboard key press
TWM294650U (en) * 2006-02-10 2006-07-21 Hon Hai Prec Ind Co Ltd Testing apparatus for testing mechanical life of components
TW200839236A (en) * 2007-03-22 2008-10-01 Benq Corp Testing device

Family Cites Families (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US3597981A (en) * 1968-10-15 1971-08-10 Asahi Automatic Machine Tool W Keyboard-testing device for calculating machine or the like
CN100593111C (zh) * 2007-03-29 2010-03-03 佳世达科技股份有限公司 测试装置
CN101587024B (zh) * 2008-05-23 2011-07-27 深圳富泰宏精密工业有限公司 用于按键寿命测试的压头装置
CN101634683B (zh) * 2008-07-25 2012-11-21 深圳富泰宏精密工业有限公司 测试模组
CN101839810A (zh) * 2010-03-31 2010-09-22 昆山中瑞达电子有限公司 按键测试机测试头
CN101832878A (zh) * 2010-04-27 2010-09-15 昆山中瑞达电子有限公司 可调式按压测试杆
CN102385035A (zh) * 2010-08-31 2012-03-21 深圳富泰宏精密工业有限公司 触摸键测试笔

Patent Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US6304830B1 (en) * 1999-05-28 2001-10-16 Behavior Tech Computer Corp. Automatic keyboard testing apparatus
US6648531B1 (en) * 2002-06-11 2003-11-18 Systemax, Inc. Simultaneous keyboard key press
TWM294650U (en) * 2006-02-10 2006-07-21 Hon Hai Prec Ind Co Ltd Testing apparatus for testing mechanical life of components
TW200839236A (en) * 2007-03-22 2008-10-01 Benq Corp Testing device

Also Published As

Publication number Publication date
TW201235650A (en) 2012-09-01
CN102650680A (zh) 2012-08-29
US20120210807A1 (en) 2012-08-23

Similar Documents

Publication Publication Date Title
TWI464420B (zh) 電容測試夾具及具有該電容測試夾具之電容測試裝置
CN207036553U (zh) 芯片测试头与芯片测试装置
TWI452279B (zh) 測試裝置
US8899649B2 (en) Clamping device
US8220340B2 (en) Permanent deformation measurement apparatus for elastic member
US8904662B2 (en) Test device for coaxial accuracy
JP2013155405A5 (zh)
JP2019527841A (ja) 検査装置
KR101491118B1 (ko) 검사품 고정장치용 고정구
TWI662249B (zh) 測量裝置
US9429504B2 (en) Testing tool and testing method thereof
WO2019184267A1 (zh) 测试设备
KR20180024187A (ko) 척프로브핀
CN207456986U (zh) 一种冲击测试装置
US9128001B2 (en) Testing apparatus
CN113721052B (zh) 探针装置及弹簧探针
US2471961A (en) Shockproof gauge mounting
US9897247B2 (en) Positioning device
CN220106313U (zh) 按键组件组装装置
CN104175247B (zh) 一种夹头装置
KR200439898Y1 (ko) 탐침 클램프
CN211527255U (zh) 一种汽车底盘上下板检具
CN206292511U (zh) 一种固定投影距离的光机测试装置
TWI661894B (zh) 測試裝置
TWI751636B (zh) 面板檢測裝置

Legal Events

Date Code Title Description
MM4A Annulment or lapse of patent due to non-payment of fees