TWI449884B - 輝度測試裝置 - Google Patents

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TWI449884B
TWI449884B TW099102327A TW99102327A TWI449884B TW I449884 B TWI449884 B TW I449884B TW 099102327 A TW099102327 A TW 099102327A TW 99102327 A TW99102327 A TW 99102327A TW I449884 B TWI449884 B TW I449884B
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    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01J—MEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
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    • G01J2001/4247—Photometry, e.g. photographic exposure meter using electric radiation detectors for testing lamps or other light sources

Description

輝度測試裝置
本發明涉及一種輝度測試裝置。
當液晶顯示器背光模組的光源輝度分佈不均時，就會造成使用者觀看時視覺上的不協調。因此在液晶顯示器生產製造過程中需要對其輝度進行測量，確保其顯示品質過關。而現有的輝度測試裝置在測試背光模組時，需要利用多個感測器不斷調整背光模組的位置來實現背光模組的定位。這樣的定位方式往往在大批量測試背光模組時，會耗費大量時間，不利於提高生產效率。
有鑒於此，有必要提供一種可以快速實現定位的輝度測試裝置。
一種輝度測試裝置，所述輝度測試裝置用於測試待測背光組件，所述待測背光組件包括導光板及照亮導光板光源，所述導光板包括出光面及與所述出光面相對的底面，所述輝度測試裝置包括基座、固設於基座上方的輝度計及位於輝度計及基座之間的承載臺，所述導光板的底面承靠於所述承載臺上，出光面面向輝度計。所述輝度測試裝置還包括驅動裝置、感測器及擋光片，所述承載臺與所述基座滑動連接，所述承載臺包括面向所述輝度計的承載面及與所述承載面相背的下表面，所述承載臺開設有一沿所述承載臺滑動方向延伸的狹縫，所述狹縫位於所述輝度計的光軸上， 所述狹縫貫穿承載所述導光板的表面及所述下表面，所述擋光片位於所述導光板底面中心處用於對準狹縫，所述感測器位於承載臺及基座之間，且位於所述輝度計的光軸上，所述感測器用於感測所述擋光片是否位於所述輝度計的光軸上，所述驅動裝置驅動所述承載臺相對所述基座滑動。
本發明提供的輝度測試裝置使用時，只需要將導光板的擋光片對準狹縫，從而在移動承載臺過程中只沿狹縫的方向感測擋光片的位置，就可以快速的實現導光板中心相對於輝度計的定位。
100‧‧‧輝度測試裝置
10‧‧‧基座
11‧‧‧頂面
12‧‧‧滑軌
20‧‧‧供電裝置
21‧‧‧連接線
22‧‧‧供電接頭
30‧‧‧輝度計支撐架
40‧‧‧輝度計
50‧‧‧感測器
60‧‧‧承載臺
61‧‧‧承載面
610‧‧‧狹縫
611‧‧‧第二滑槽
62‧‧‧下表面
620‧‧‧第一滑槽
621‧‧‧齒條
63‧‧‧第一凸緣
630‧‧‧抵靠面
64‧‧‧第二凸緣
70‧‧‧夾持裝置
71‧‧‧夾持件
710‧‧‧夾持部
72‧‧‧螺柱
720‧‧‧滑動部
80‧‧‧驅動裝置
81‧‧‧馬達
82‧‧‧齒輪
90‧‧‧擋光片
200‧‧‧待測背光組件
210‧‧‧導光板
211‧‧‧第一側面
212‧‧‧第二側面
213‧‧‧第三側面
214‧‧‧第四側面
215‧‧‧出光面
216‧‧‧底面
220‧‧‧光源
221‧‧‧排線接頭
圖1為本發明實施方式提供的輝度測試裝置的示意圖；圖2為圖1的輝度測試裝置的輝度測試裝置沿III-III線所得的剖視圖；圖3為圖1的輝度測試裝置的承載臺及夾持裝置的示意圖。
下面將結合附圖，對本發明作進一步的詳細說明。
請一併參閱圖1及圖2，為本發明提供的輝度測試裝置100。所述輝度測試裝置100用於測試待測背光組件200，所述待測背光元件200包括一個導光板210及一個光源220。所述導光板210包括第一側面211、與第一側面211相鄰的第二側面212、與第一側面211相對的第三側面213、與第二側面相對的第四側面214、出光面215及與出光面相對的底面216。所述光源220位於導光板210的第一側面211上。所述光源220還包括排線接頭221。
所述輝度測試裝置100包括一個基座10、一個供電裝置20、一個 輝度計支撐架30、一個輝度計40、一個感測器50、一個承載臺60、一個夾持裝置70、一個驅動裝置80及一個用於協助定位的圓形擋光片90。
所述基座10包括頂面11及位於頂面11的兩個相互平行的滑軌12。所述供電裝置20收容於所述基座10內。所述供電裝置20用於為待測背光元件200提供電能。所述供電裝置20包括連接線21及連接在連接線21上的供電接頭22。所述供電接頭22與所述待測背光元件200的排線接頭221相連接。
輝度計支撐架30固設於所述基座10上。所述輝度計40通過所述輝度計支撐架30固設於所述基座10上方。
所述感測器50固設於所述基座10的頂面11，且位於所述輝度計40的光軸上。本實施方式中，所述感測器50採用簡單的光感測器。當然，所述感測器50也可以採用圖像感測器。
請參閱圖3，所述承載60臺包括面向所述輝度計40的承載面61、與承載面61相背的下表面62、第一凸緣63及第二凸緣64。所述承載面61用於承載所述待測背光組件200。所述背光組件200的底面216承靠於所述承載面61。所述背光組件200的出光面215面向所述輝度計40。所述下表面62上開設有兩條與所述基座10的滑軌12相配合的第一滑槽620。所述承載臺60通過所述滑軌12及第一滑槽620與所述基座10滑動連接。所述承載臺60上開設有沿滑動方向延伸的狹縫610，所述狹縫610貫穿承載面61及所述下表面62。所述狹縫610位於所述輝度計40的光軸上。
所述下表面62還固設一條與所述第一滑槽620平行的齒條621。所 述承載面61上開設有兩條相互平行的第二滑槽611，所述第二滑槽611的延伸方向與所述第一滑槽620的延伸方向相平行。所述第一凸緣63及第二凸緣64位於所述承載臺60相對的兩側。所述第一凸緣63及第二凸緣64相互平行，且延伸方向與所述承載臺60的滑動方向垂直。所述第一凸緣63包括抵靠面630，所述抵靠面630用於與所述導光板210的第二側面212相抵靠。
所述夾持裝置70包括夾持件71與兩個螺柱72。本實施方式中，所述夾持件71係一板狀結構。所述夾持件71包括夾持部710及兩個滑動部720。所述夾持部710用於與所述導光板210的第四側面214相抵靠。所述兩個滑動部720分別與所述兩個第二滑槽611相配合。所述兩個螺柱72與所述第二凸緣64相螺接，且抵靠於所述夾持件71上，用於固定所述夾持件71的位置。通過旋緊所述兩個螺柱72將所述導光板210加緊。
所述驅動裝置80包括馬達81及齒輪82。所述馬達81固設於所述基座10的頂面11，所述馬達81驅動所述齒輪82轉動。所述齒輪82與所述承載臺60的齒條621相配合。所述驅動裝置80通過馬達81驅動所述承載臺60在所述基座10的滑軌12上滑動。當然，所述驅動裝置80也可以採用蝸輪傳動，同時將所述所述基座10上的滑軌12設計成蝸杆。
當需要對待測背光元件200進行測試時，在所述導光板210的下表面216貼一圓形擋光片90，且所述圓形擋光片90貼於所述導光板210中心。再將所述待測背光元件200放置於所述承載面61上，同時保證所述圓形擋光片90位於所述狹縫610上，利用所述夾持裝置70將所述待測背光組件200夾緊。通過連接所述供電接頭22與 所述排線接頭221為所述光源220供電，使所述光源220發光。然後通過所述驅動裝置80帶動所述承載臺60移動，直到所述圓形擋光片90位於所述感測器50正上方。此時所述圓形擋光片90的陰影位於所述感測器50上，所述感測器50將感測到光強的變化，確定所述導光板210的中心位於所述輝度計40的光軸上，從而實現導光板210的中心相對所述輝度計40的定位。
本發明提供的輝度測試裝置使用時，只需要將導光板的擋光片對準狹縫，從而在移動承載臺過程中只沿狹縫的方向感測擋光片的位置，就可以快速的實現導光板中心相對於輝度計的定位。
另外，本領域技術人員可在本發明精神內做其他變化，但是，凡依據本發明精神實質所做的變化，都應包含在本發明所要求保護的範圍之內。
100‧‧‧輝度測試裝置
10‧‧‧基座
11‧‧‧頂面
12‧‧‧滑軌
20‧‧‧供電裝置
21‧‧‧連接線
22‧‧‧供電接頭
30‧‧‧輝度計支撐架
40‧‧‧輝度計
60‧‧‧承載臺
70‧‧‧夾持裝置
90‧‧‧擋光片
200‧‧‧待測背光組件
210‧‧‧導光板
211‧‧‧第一側面
213‧‧‧第三側面
214‧‧‧第四側面
215‧‧‧出光面
220‧‧‧光源
221‧‧‧排線接頭

Claims (9)

  1. 一種輝度測試裝置，所述輝度測試裝置用於測試待測背光組件，所述待測背光組件包括導光板及照亮導光板光源，所述導光板包括出光面及與所述出光面相對的底面，所述輝度測試裝置包括基座、固設於基座上方的輝度計及位於輝度計及基座之間的承載臺，所述導光板的底面承靠於所述承載臺上，出光面面向輝度計，其改進在於，所述輝度測試裝置還包括驅動裝置、感測器及擋光片，所述承載臺與所述基座滑動連接，所述承載臺包括面向所述輝度計的承載面及與所述承載面相背的下表面，所述承載臺開設有一沿所述承載臺滑動方向延伸的狹縫，所述狹縫位於所述輝度計的光軸上，所述狹縫貫穿所述承載面及所述下表面，所述擋光片位於所述導光板底面中心處用於對準狹縫，所述感測器位於承載臺及基座之間，且位於所述輝度計的光軸上，所述感測器用於感測所述擋光片是否位於所述輝度計的光軸上，所述驅動裝置驅動所述承載臺相對所述基座滑動。
  2. 如申請專利範圍第1項所述之輝度測試裝置，其中，所述基座上設有沿所述承載臺滑動方向延伸的滑軌，所述承載臺的下表面設有與所述滑軌配合的滑槽。
  3. 如申請專利範圍第1項所述之輝度測試裝置，其中，所述輝度測試裝置還包括用於為待測背光組件供電的供電裝置，所述供電裝置收容於所述基座內。
  4. 如申請專利範圍第1項所述之輝度測試裝置，其中，所述輝度測試裝置還包括用於固定待測背光模組的夾持裝置，所述夾持裝置固設於所述承載臺上。
  5. 如申請專利範圍第4項所述之輝度測試裝置，其中，所述承載臺兩側包括兩個與承載臺滑動方向垂直的第一凸緣及第二凸緣，所述第一凸緣及第二凸緣相對設置，所述夾持裝置包括夾持件與螺柱，所述夾持件位於所述第一凸緣及第二凸緣之間，用於將待測背光模組夾緊於所述夾持件及第二凸緣之間，所述夾持件與所述承載臺滑動連接，所述螺柱螺接於所述第一凸緣上，並抵靠於所述夾持件上。
  6. 如申請專利範圍第5項所述之輝度測試裝置，其中，所述承載臺的承載面上開設有沿承載臺滑動方向的滑槽，所述夾持件上設置有與所述滑槽相配合的滑軌。
  7. 如申請專利範圍第1項所述之輝度測試裝置，其中，所述驅動裝置與所述承載臺之間採用齒輪及齒條傳動，所述齒輪設於驅動裝置上，所述齒條固設於所述承載臺上。
  8. 如申請專利範圍第4項所述之輝度測試裝置，其中，所述驅動裝置與所述承載臺之間採用蝸輪及蝸杆傳動，所述蝸輪設於驅動裝置上，所述蝸杆固設於所述承載臺上。
  9. 如申請專利範圍第1項所述之輝度測試裝置，其中，所述感測器係光感測器。
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