TWI420088B - 鏡頭模組眩光檢測設備及其檢測方法 - Google Patents

Description

鏡頭模組眩光檢測設備及其檢測方法

本發明涉及眩光檢測設備及檢測方法，尤其涉及一種鏡頭模組眩光檢測設備及其檢測方法。

近年來，隨著光學產品之發展，鏡頭模組之應用範圍持續擴大，如數位相機、具有照相功能之手機等電子產品。對於電子產品，特別係消費性電子產品，其發展趨勢係輕量化及薄型化，相應設置於其內之鏡頭模組亦變得越來越小，精密度之要求亦越來越高。

由於相機模組朝向輕薄短小之方向發展，使相機模組高度被壓縮，因此，相機模組內部之機構零件數量及尺寸亦相對被壓縮以及減少，使得原本用來阻擋眩光或消除眩光之機構零件無法放置，使得眩光於鏡頭內容易產生。為避免光線於零件之間反射或折射形成眩光使影像品質下降，必須在鏡頭模組機構設計時進行相應考量，並於設計完成後對鏡頭模組之眩光情況進行檢測。

有鑑於此，有必要提供一種可方便檢測鏡頭模組內眩光情況之鏡頭模組眩光檢測設備及其檢測方法。

一種鏡頭模組眩光檢測設備，用於檢測鏡頭模組中之眩光情況，其包括：一個基座，該基座包括一承載平臺，該承載平臺之中央具有一容置通孔，該容置通孔用於容置一待檢測鏡頭模組；一個光學放大單元，該光學放大單元 固定於該基座之上方，且該光學放大單元之光軸與該容置通孔之中心線在一條直線上，該光學放大單元用於觀察該鏡頭模組；一個圓弧形滑軌，該圓弧形滑軌與該基座相對設置，且該圓弧形滑軌之圓心與該承載平臺之容置通孔之中心重合；及一個光源，該光源設置於該滑軌上，且該光源可沿滑軌滑動。

一種採用如上面所述之鏡頭模組眩光檢測設備來檢測鏡頭模組內之眩光情況之眩光檢測方法，該眩光檢測方法包括以下步驟：將該眩光檢測設備置於暗房中或者用黑色遮罩遮住；提供一待檢測鏡頭模組，將該鏡頭模組置於該承載平臺之容置通孔中；使用該光源照射該鏡頭模組，並使用該光學放大單元觀察該鏡頭模組內之眩光形成情況；將該光源於該圓弧形滑軌上移動不同角度，並使用該光學放大單元觀察鏡頭模組內之眩光產生位置。

相對於先前技術，本發明之鏡頭模組眩光檢測設備包含一個光學放大單元、一個基座及一個設置於滑軌上之光源，將待檢測鏡頭模組置於該基座之承載平臺上，使用光學放大單元觀察鏡頭模組內之眩光產生情況，並將該光源於滑軌上移動不同角度，觀察眩光產生位置。根據觀察結果，檢測人員可判斷眩光產生位置並根據檢測結果及時修正鏡頭模組之機構設計，於開發階段快速修正鏡頭模組設計缺陷，提高開發鏡頭模組之效率，降低生產成本。

下面將結合附圖，對本發明作進一步之詳細說明。

請一併參閱圖1至圖2，為本發明實施例提供之眩光檢測設備100與待檢測之鏡頭模組200之示意圖。

該眩光檢測設備100用於檢測鏡頭模組200中之眩光情況。該眩光檢測設備100沿著光軸l 方向依次包括一個光學放大單元12、基座14及一個圓弧形滑軌16。

該基座14包括一承載平臺142。該承載平臺142上具有一固定桿144。

該承載平臺142之中央具有一容置通孔1422。該容置通孔1422用於容置待檢測鏡頭模組200，或者，該容置通孔1422可用於容置一鏡頭承載台18。該鏡頭承載台18設置於該承載平臺142之容置通孔1422中，該鏡頭承載台18中央具有一圓形通孔182，該圓形通孔182用來承載待檢測鏡頭模組200。這樣設置的好處是，當檢測不同外徑之鏡頭模組時，只需更換具有不同大小之圓形通孔182之鏡頭承載台18。即，該眩光檢測設備100可包括複數個鏡頭承載台18，該複數個鏡頭承載台18之圓形通孔182之孔徑大小不同，以適應用來容置不同外徑大小之鏡頭模組200。該容置通孔1422之孔徑內側設置有一凸環(圖未示)，該凸環用於固定該待檢測鏡頭模組200或用於固定該鏡頭承載台18(如果使用)。相應地，該鏡頭承載台18之圓形通孔182之孔徑內側設置有一凸環1822，該凸環1822用於固定待檢測鏡頭模組200，如圖3所示。值得注意的是，該凸環1822之底面表面最好經表面霧化處理，以使其表面粗糙化，以防止其產生眩光影響眩光檢測設備200之檢測。

該固定桿144設置於該承載平臺142之端部表面，該固定桿144與該承載平臺142之端部表面相互黏合固定。

該光學放大單元12固定於該固定桿144上，且該光學放大單元12之光學中心軸線與該容置通孔1422之中心線在一條直線上，均沿光軸l 方向。該光學放大單元12包括觀測部121，操作人員將眼睛對著觀測部121即可通過該光學放大單元12觀測到該鏡頭模組200內之光線情況。該光學放大單元12正對著該承載平臺142而設置。其光學觀測範圍即對準該承載平臺142之容置通孔1422。於本實施例中，該光學放大單元12為光學放大鏡，其亦可為光學放大器或者其他光學放大設備。該光學放大單元12亦可採用其他方式固定於基座14之上方，例如，光學放大單元12直接固定於基座14上，或者光學放大單元12與基座14不接觸，而係光學放大單元12懸空裝設於基座14上方。

該圓弧形滑軌16與該基座14相對設置，且該圓弧形滑軌16之圓心O與該承載平臺142之容置通孔1422之中心重合，為光軸l 上之一點。該滑軌16上設置有一個光源162，該光源162可沿該滑軌16滑動。該光源162為點光源或平行之線光源。該光源162對準該承載平臺142之中央之容置通孔1422。使用該眩光檢測設備100時，可將該光源162於該圓弧形滑軌16上移動不同角度，並使用該光學放大單元12觀察鏡頭模組200內之眩光產生位置。於本實施例中，該圓弧形滑軌16為半圓弧形，其亦可為四分之一圓弧或者其他大小之圓弧形。

採用該眩光檢測設備100來檢測鏡頭模組200內之眩光情況之眩光檢測方法，該眩光檢測方法包括以下步驟：將該眩光檢測設備100置於暗房中或用黑色遮罩遮住；提供一待檢測鏡頭模組200，將該待檢測鏡頭模組200置於該承載平臺142之容置通孔1422中；令該光源162照射該鏡頭模組200，並使用該光學放大單元12觀察該鏡頭模組200內之眩光形成情況；將該光源162於該圓弧形滑軌16上移動不同角度，並使用該光學放大單元12觀察鏡頭模組200內之眩光產生位置。

於本實施例中，由於採用的係將鏡頭模組200置於該鏡頭承載台18中，再固定於該承載平臺142之容置通孔1422中。因此，該眩光檢測方法進一步包括將該鏡頭模組200置於該鏡頭承載台18之圓形通孔182中，然後將該鏡頭承載台18置於該承載平臺142之容置通孔1422中。

相較於先前技術，本發明之鏡頭模組眩光檢測設備包含一個光學放大單元、一個基座及一個設置於滑軌上之光源，將待檢測鏡頭模組置於該基座之承載平臺上，使用光學放大單元觀察鏡頭模組內之眩光產生情況，並將該光源於滑軌上移動不同角度，觀察眩光產生位置。根據觀察結果，檢測人員可判斷眩光產生位置並根據檢測結果及時修正鏡頭模組之機構設計，於開發階段快速修正鏡頭模組設計缺陷，提高開發鏡頭模組之效率，降低生產成本。

綜上所述，本發明確已符合發明專利之要件，遂依法 提出專利申請。惟，以上所述者僅為本發明之較佳實施方式，自不能以此限制本案之申請專利範圍。舉凡熟悉本案技藝之人士援依本發明之精神所作之等效修飾或變化，皆應涵蓋於以下申請專利範圍內。

眩光檢測設備‧‧‧100

鏡頭模組‧‧‧200

光學放大單元‧‧‧12

基座‧‧‧14

圓弧形滑軌‧‧‧16

承載平臺‧‧‧142

固定桿‧‧‧144

容置通孔‧‧‧1422

鏡頭承載台‧‧‧18

圓形通孔‧‧‧182

凸環‧‧‧1822

觀測部‧‧‧121

光源‧‧‧162

圖1係本發明實施例提供之眩光檢測設備與鏡頭模組之立體分解圖；圖2係本發明實施例提供之眩光檢測設備與鏡頭模組之組合示意圖；圖3係圖1中之眩光檢測設備之鏡頭承載台之立體剖視圖。

眩光檢測設備‧‧‧100

鏡頭模組‧‧‧200

光學放大單元‧‧‧12

基座‧‧‧14

圓弧形滑軌‧‧‧16

承載平臺‧‧‧142

固定桿‧‧‧144

鏡頭承載台‧‧‧18

觀測部‧‧‧121

光源‧‧‧162

Claims (10)

1. 一種鏡頭模組眩光檢測設備，用於檢測鏡頭模組中之眩光情況，其包括：一個基座，該基座包括一承載平臺，該承載平臺之中央具有一容置通孔，該容置通孔用於容置一待檢測鏡頭模組；一個光學放大單元，該光學放大單元固定於該基座之上方，且該光學放大單元之光軸與該容置通孔之中心線在一條直線上，該光學放大單元用於觀察該鏡頭模組；一個圓弧形滑軌，該圓弧形滑軌與該基座相對設置，且該圓弧形滑軌之圓心與該承載平臺之容置通孔之中心重合；及一個光源，該光源設置於該滑軌上，且該光源可沿滑軌滑動。
2. 如申請專利範圍第1項所述之鏡頭模組眩光檢測設備，其中，進一步包括一個鏡頭承載台，該鏡頭承載台設置於該承載平臺之容置通孔中，該鏡頭承載台中央具有一圓形通孔，該圓形通孔用來承載該鏡頭模組。
3. 如申請專利範圍第2項所述之鏡頭模組眩光檢測設備，其中，該鏡頭承載台之數目為複數個，該複數個鏡頭承載台之圓形通孔之孔徑大小不同，以適應用來容置不同外徑大小之鏡頭模組。
4. 如申請專利範圍第1項所述之鏡頭模組眩光檢測設備，其中，該容置通孔之孔徑內側設置有一凸環，該凸環用於固定該鏡頭模組。
5. 如申請專利範圍第2項所述之鏡頭模組眩光檢測設備，其中，該圓形通孔之孔徑內側設置有一凸環，該凸環用於固定該鏡頭模組。
6. 如申請專利範圍第4或5項所述之鏡頭模組眩光檢測設備，其中，該凸環之底面表面經表面霧化處理而形成相對粗糙之表面。
7. 如申請專利範圍第1項所述之鏡頭模組眩光檢測設備，其中，該光源為點光源或平行之線光源。
8. 如申請專利範圍第1項所述之鏡頭模組眩光檢測設備，其中，該光源對準該承載平臺之中央之容置通孔。
9. 一種採用如申請專利範圍第1至8任意一項所述之鏡頭模組眩光檢測設備來檢測鏡頭模組內之眩光情況之眩光檢測方法，該眩光檢測方法包括以下步驟：將該眩光檢測設備置於暗房中或者用黑色遮罩遮住；提供一待檢測鏡頭模組，將該鏡頭模組置於該承載平臺之容置通孔中；令該光源照射該鏡頭模組，並使用該光學放大單元觀察該鏡頭模組內之眩光形成情況；將該光源於該圓弧形滑軌上移動不同角度，並使用該光學放大單元觀察該鏡頭模組內之眩光產生位置。
10. 如申請專利範圍第9項所述之眩光檢測方法，其中，進一步包括將該鏡頭模組置於一鏡頭承載台之圓形通孔中，然後將該鏡頭承載台置於該承載平臺之容置通孔中。