TWI412772B - Receiving device, test device, receiving method and test method - Google Patents

Description

接收裝置、試驗裝置、接收方法及試驗方法

本發明關於一種接收裝置、試驗裝置、接收方法及試驗方法。

已知有一種並行於資料信號及用以表示該資料信號的取得時序之時脈信號而進行輸出的元件(DDR-SDRAM等)。用以試驗這種元件之試驗裝置，其利用多重選通機能，來試驗資料信號與時脈信號之間的相位關係。

專利文獻1：日本特開第2003-315428號公報

專利文獻2：日本特開第2004-127455號公報

然而，在試驗一種並行於資料信號及時脈信號而進行輸出的元件之場合，則試驗裝置必須在試驗前率先進行調整，使多重選通得以在適當的時序發生。然而，試驗裝置，要自動進行這樣的調整是困難的。

對此，本發明的一個形態，是以提供一種能解決上述問題之接收裝置、試驗裝置、接收方法及試驗方法來作為目的。此目的藉由申請專利範圍中的獨立項所記載的特徵的組合而達成。又，附屬項規定有本發明的更有利的具體實施例。

為了解決上述問題，依照本發明的第一態樣，提供一種接收裝置，其具備：多重選通發生部，其發生多重選通，該多重選通，含有相對於接收信號彼此相位不同的複數個選通；取得部，其從複數個選通的各個來取得接收信號；檢出部，其根據取得部的取得結果，檢出接收信號的值變化後的變化位置；以及，選擇部，其選擇由相對於變化位置已錯開至預定的相位份量的位置之選通所取得的接收信號的值，來作為接收資料值。

另外，上述的發明概要，並非將本發明的必要特徵全部列舉者，又，這些特徵群的子組合，也能作為發明。

以下，雖然透過發明的實施形態來說明本發明的一個形態，但是以下實施形態並非用以限定關於發明的申請專利範圍，又並非所有的在實施形態中說明的特徵的組合都是發明所必要的解決手段。

第1圖係表示關於本實施形態之試驗裝置100的構成及被試驗元件10。試驗裝置100，用以試驗類比電路、數位電路、記憶體、系統整合晶片(SOC)等之被試驗元件10。試驗裝置100，將基於試驗裝置100的試驗用的試驗圖案之試驗信號，輸入至被試驗元件10，並基於被試驗元件10對應於試驗信號而輸出的輸出信號，來判定被試驗元件10的好壞。

試驗裝置100，具備試驗信號供給部110、接收裝置120、及期待值比較部130。試驗信號供給部110，對於被試驗元件10供給試驗信號。試驗信號供給部110，將基於被試驗元件10的試驗用的試驗圖案之試驗信號，傳送至被試驗元件10。試驗信號供給部110，也能對應於試驗信號而生成被試驗元件10所輸出的回應信號的期待值。試驗信號供給部110，也能被連接至複數個被試驗元件10，並試驗複數個被試驗元件10。

接收裝置120，將被試驗元件10所輸出的回應信號，作為接收信號而加以接收。接收裝置120，藉由含有複數個選通之多重選通而檢出接收信號的值發生變化之變化位置，並將由變化位置已錯開至預定的相位份量的位置之選通所取得的接收信號，來作為接收資料值。

期待值比較部130，將接收裝置120已接收的接收資料值，與期待值進行比較。期待值比較部130，也能從試驗信號供給部110接收期待值。試驗裝置100，也能基於期待值比較部130的比較結果，來判定被試驗元件10的好壞。

第2圖係表示關於本實施形態之接收裝置120的構成。接收裝置120，具有基準時脈發生部210、多重選通發生部220、位準比較器230、取得部240、檢出部250、選擇部260、及FIFO記憶體(先入先出記憶體(First In First Out memory))270。

基準時脈發生部210，發生預先設定的週期的基準時脈。基準時脈發生部210，也能含有基於試驗裝置100的系統時脈而進行動作之時序發生器，並藉由時序發生器來將系統時脈的間隔拉開至與基準時脈約略相同的脈衝頻度，而使脈衝間隔約略相同，以生成與被試驗元件10所輸出的信號約略相同週期的基準時脈。

又，基準時脈發生部210，也能是使用有水晶振動子(oscillator)等之振盪電路(oscillation circuit)。基準時脈發生部210，也能同步於觸發信號(trigger signal)等而發生時脈信號。代替這個，基準時脈發生部210，也能同步於來自外部之時脈信號，而發生使時脈信號的頻率數倍增(multiple)之基準時脈信號。基準時脈發生部210，也能輸出已與被試驗元件10所輸出的信號同步之基準時脈信號，代替這個，也能輸出與被試驗元件10所輸出的信號不同步之基準時脈信號。

多重選通發生部220，發生多重選通，該多重選通，含有相對於接收信號彼此相位不同的複數個選通。多重選通發生部220，也能在從基準時脈發生部210接收到的每個基準時脈的脈衝，發生多重選通。多重選通發生部220，作為一例，發生複數個選通，該複數個選通，從基準時脈的脈衝中的基準相位，以每個預定間隔之方式延遲。

位準比較器230，將已從外部輸入的接收信號與臨界值進行位準比較，並輸出用以表示邏輯值之接收信號。取得部240，在已藉由多重選通發生部220所發生的複數個選通的各個時序中，取得已從位準比較器230輸出的接收信號的值。

檢出部250，根據取得部240的取得結果，檢出接收信號的值發生變化後的變化位置。亦即，檢出部250，從時間序列(time series)上並排的接收信號的值中的變化位置，來判斷是在複數個選通當中的哪一個選通，檢出了接收信號的邊緣位置。然後，檢出部250，將檢出了接收信號的邊緣位置之選通的位置，輸出至選擇部260。

選擇部260，選擇由相對於變化位置已錯開至預定的相位份量的位置之選通所取得的接收信號的值，來作為接收資料值。作為一例，選擇部260，選擇由相對於變化位置已錯開至0.5UI(單位間隔：時脈頻率數的倒數)的位置之選通所取得的接收信號的值，來作為接收資料值。選擇部260，將已選擇的接收資料，傳送至FIFO記憶體270。

FIFO記憶體270，將選擇部260依序選擇的複數個接收資料值，以先入先出之方式進行緩衝，並在每個循環進行輸出。FIFO記憶體270，能記憶複數個接收資料值，因此即使依照多重選通之接收信號的檢出，是在隨機的時序以複數循環實行，接收資料也不會消失而進行緩衝。以上的接收裝置120，檢出藉由多重選通所取得的接收信號的變化位置，並將由變化位置已錯開至預定的相位份量的位置之選通所取得的接收信號的值，來作為接收資料值。

第3圖係表示關於本實施形態之接收信號的變化位置的一例。例如，接收裝置120，在從被試驗元件10接收單端信號之場合，則以檢出變化位置作為目的，來將位準比較器230的比較電壓設定為臨界值電壓VT。在此，接收裝置120，也能將單端信號的高位準和低位準中間的電壓設定為VT。藉此，接收裝置120，將信號電壓從低位準上升至高位準之過程中高過VT之時序(圖中的T1和T3)，以及信號電壓從高位準下降至低位準之過程中低過VT之時序(圖中的T2和T4)，設為變化位置。

又，例如，接收裝置120，在從被試驗元件10接收差動信號之場合，則也能將位準比較器230的臨界值電壓VT設定為0V。藉此，接收裝置120，也能將插動信號的交叉時序，設定為變化位置(圖中的T5、T6、T7和T8)。此處，從接收信號的一個變化位置到下一個變化位置為止之時間間隔，設定為1UI(單位間隔)。

第4圖係表示關於本實施形態之接收裝置120的選通位置選擇方法的一例。接收裝置120，將1UI是125ps之資料信號，作為單端信號加以接收。又，作為一例，多重選通發生部220，發生多重選通，該多重選通的一個循環含有16個選通，且各個選通的間隔是20ps。此場合，取得部240，因為1UI是125ps，所以在多重選通的一個循環之300ps之間，能取得接收信號的至少兩處的變化位置的值。

又，接收裝置120，以分別檢出接收信號的上升邊緣及下降邊緣作為目的，也能分別具有兩組的多重選通發生部220、位準比較器230、及取得部240。例如，在最初的變化位置是在第5個與第6個選通之間之場合，則兩個取得部240的一方，取得從第一個直到第五個之選通的值是低位準且第六個以後是高位準之資料。檢出部250，接收到多重選通所取得的這些值，也能將第五個選通位置設定為變化位置。

又，另外一方的取得部240，取得直到第十二個之選通的值是高位準且第十三個以後是低位準之資料。檢出部250，接收到多重選通所取得的這些值，也能將第十二個選通位置設定為變化位置。代替這個，接收裝置120，也能藉由一組的多重選通發生部220、位準比較器230、及取得部240，來檢出變化位置。

例如，上述取得部的一個，當作從第一個直到第五個之選通的值是低位準，從第六個直到第十二個之選通的值是高位準，且第十三個以後再次是低位準。因此，在一個臨界值檢出上升及下降之場合，則能使用一組的多重選通發生部220、位準比較器230、及取得部240來檢出變化位置。

選擇部260，接收檢出部250已檢出的變化位置的資訊，並選擇由相對於變化位置已錯開至預定的相位份量的位置之選通所取得的接收信號的值，來作為接收資料值。例如，也能將預定的相位設定為相當於0.5UI之80ps，而選擇由變化位置之第五個選通已錯開至80ps之第九個選通所取得的接收信號的值，來作為接收資料值。

如上述之例，雖然選擇部260，選擇從第五個選通延遲了80ps之第九個選通，但是取代這個，選擇部260，也能選擇從第五個選通提前了80ps之第一個選通。這樣，選擇部260，是基於變化位置作為基準來選擇接收資料值，因此，接收裝置120不需使用複雜的同步電路等也能選擇接收信號的接收資料值。

在此，接收裝置120，對應於從複數個選通所取得的取得結果而檢出有兩個以上的變化位置，則選擇部260也能從取得結果，選擇連續兩個以上的接收資料值。上述之例中，兩個取得部240的一方，取得從第一個直到第五個之選通的值是低位準且第六個以後是高位準之上升邊緣的資料；另外一方，則取得直到第十二個之選通的值是高位準且第十三個以後是低位準之下降邊緣的資料。因此，檢出部250，除了第五個選通位置，也能再加上第十二個選通位置，一起設定為變化位置，並傳送至選擇部260。

藉此，選擇部260，除了第九個接收資料值，也能再加上從第二變化位置之第十二個選通已錯開至80ps之第十六個選通所取得的值，一起選擇作為接收資料值。在此，於變化位置是在第十三個以後的選通位置之場合，則並不存在有已錯開80ps之選通，因此不能選擇對應於第二個變化位置之接收資料值。這樣，在不能選擇已設定數目的接收資料值之場合，則選擇部260，也能將對應於能夠選擇的變化位置之接收信號的選擇結果，及不能選擇的變化位置的數目和選通位置等之資訊，傳送至FIFO記憶體270。

取代這個，選擇部260，也選擇從第一個變化位置提前了80ps之第一個選通，及從第二個變化位置提前了80ps之第八個選通，各自所取得的值來作為接收資料值。這樣，對於一個循環的多重選通，能取得連續兩個接收資料。又，對應於接收信號的週期，而適當設計多重選通信號的選通間隔和選通數目，也能取得連續兩個以上的接收資料值。

此處，基準時脈發生部210，也能發生被設定為與接收信號的週期相同週期之基準時脈。例如，接收裝置120，對於一循環的多重選通至少能取得一個接收資料，因此將多重選通的發生設定為與接收信號的週期相同或以下，而能取得連續的接收信號的接收資料。

此處，多重選通發生部220，也能發生多重選通，該多重選通，含有被分散至超過接收信號的一個週期之時間幅度之複數個選通。例如，在由從第六個至第十二個選通所構成的多重選通，其時間幅度之120ps是在接收信號的一個週期以下之場合，則檢出部250不能檢出變化位置。因此，接收裝置120，不能選擇從變化位置延遲了0.5週期之選通位置的接收資料值。

取代這個，例如，由圖中的從第六個至第十三個選通所構成的多重選通，其時間幅度之140ps是超過接收信號的一個週期之場合，則檢出部250能檢出第十二個選通來作為變化位置。藉由此檢出結果，選擇部260，能選擇從第十二個選通提前了80ps之第八個選通。

又，例如，由從圖中的第五個至第十二個選通所構成的多重選通，其時間幅度之140ps是超過接收信號的一個週期之場合，則檢出部250能檢出第五個選通來作為變化位置。藉由此檢出結果，選擇部260，能選擇從第五個選通延遲了80ps之第九個選通。亦即，藉由發生多重選通，該多重選通，含有被分散至超過接收信號的一個週期之時間幅度之複數個選通，則接收裝置120，能選擇提前了0.5個週期份量之選通或延遲了0.5個週期份量之選通位置的任一個的接收資料值。

此處，多重選通發生部220，也能發生多重選通，該多重選通，含有被分散至接收信號的1.5個週期以上之時間幅度之複數個選通。例如，在由從第六個至第十五個選通所構成的多重選通，其時間幅度是在接收信號的1.5個週期以下之場合，則檢出部250能檢出第十二個選通來作為變化位置。然而，因此，藉由此檢出結果，接收裝置120，不能選擇從第十二個選通延遲了80ps之選通。

亦即，在發生接收信號的1.5個週期以下的時間幅度的多重選通之場合，則接收裝置120不能選擇延遲了0.5個週期之選通位置的接收資料值。取代這個，例如由從圖中的第六個至第十六個選通所構成的多重選通，其時間幅度之220ps是超過接收信號的1.5個週期之場合，則選擇部260，能選擇從第十二個選通延遲了80ps之第十六個選通。

又，例如，由從第五個至第十五個選通所構成的多重選通，其時間幅度之220ps是接收信號的1.5個週期以上之場合，則檢出部250，能檢出第五個和第十二個選通，將這兩個選通作為變化位置。藉由此檢出結果，則選擇部260，能選擇從第五個選通延遲了80ps之第九個選通。亦即藉由發生多重選通，該多重選通，含有被分散至接收信號的1.5個週期以上之時間幅度之複數個選通，則接收裝置120，能選擇延遲了0.5個週期之選通位置的接收資料值。

此處，多重選通發生部220，也能以約略相同的時間間隔來發生多重選通，該多重選通，含有被分散至接收信號的1.5週期加上兩倍的時間間隔之時間幅度以上之複數個選通。又，多重選通發生部220，也能發生多重選通，該多重選通，含有被分散至接收信號的1.5週期加上一倍的時間間隔之時間幅度以上之複數個選通。例如，在由從第五個至第十六個選通所構成的多重選通之場合，則檢出部250，第五個和第十二個選通，將這兩個選通作為變化位置。

藉由此檢出結果，則選擇部260，能選擇從第五個選通延遲了80ps之第九個選通，以及從第十二個選通延遲了80ps之第十六個選通。亦即，藉由發生多重選通，該多重選通，含有被分散至接收信號的1.5個週期加上兩倍的時間間隔以上之時間幅度之複數個選通之場合，則接收裝置120，能選擇連續兩個以上的接收資料值。

此處，在相對於變化位置已錯開至預定的相位份量的位置所對應的選通不存在之場合，則選擇部260，選擇由前一個循環或後一個循環中對應於該位置之選通所取得的接收信號的值來作為接收資料值，以取代從現在循環中的取得結果來選擇接收資料值。被試驗元件10，有將信號，該信號具有被稱為顫動(jitter)或漂移(wander)之頻率數變動，傳送至接收裝置120作為接收信號之場合，而相對於變化位置已錯開至預定的相位份量的位置所對應的選通，並非一定存在。以下說明，在這樣的場合的選通位置選擇方法。

第5圖係表示關於本實施形態之接收裝置120在資料相位提早之場合的選通位置選擇方法的一例。例如，因為從被試驗元件10接收的接收信號的信號周期的顫動，與基準時脈的週期所產生的差異，所以接收裝置120所接收的資料，相較於基準時脈，該資料的資料相位會漸漸提早，針對此場合進行說明。在本例中，接收裝置120，接收1UI是125ps之差動信號作為接收信號，而多重選通發生部220，發生多重選通，該多重選通的一個循環是十六個選通且各個選通的間隔是20ps。

檢出部250，檢出在循環1發生的多重選通的第二個選通位置，作為變化位置，而選擇部260，選擇延遲了0.5UI之第六個選通所取得的值來作為接收資料值。檢出部250，也能在循環2中，針對變化位置，檢出第一個選通位置來作為變化位置，而選擇部260，選擇延遲了0.5UI之第五個選通所取得的值來作為接收資料值。

但是，在接著的循環3中，頻率數在相同方向上變動而變化位置移動至比第一個選通更前面之場合，則檢出部250不能檢出此變化位置。在此，檢出部250，在循環2中，檢出第二個變化位置之第七個選通位置，並將兩個變化位置的資訊，傳送至選擇部260。選擇部260，選擇延遲了0.5UI之第十一個選通所取得的值來作為第二個接收資料值。

在循環3中，頻率數進而變動而變化位置移動至比第一個選通更前面之場合，則雖然檢出部250不能檢出此變化位置，但是能檢出第二個變化位置。選擇部260，選擇對應於第二個變化位置之第十一個選通所取得的值來作為接收資料值。檢出部250，在循環3以後，檢出第二個變化位置來作為第一個變化位置並繼續接收。

這樣，選擇部260，能連續將循環1的第六個選通、循環2的第五個選通和第十一個選通、及循環3的第十一個選通，加以選擇作為四個接收資料值。亦即，即使顫動等造成接收信號的相位提早，也能藉由在適當的循環中選擇兩個適當的資料，而防止循環滑脫(cycle slip)所造成的資料的取得遺漏。

第6圖係表示關於本實施形態之接收裝置120在資料相位延遲之場合的選通位置選擇方法的一例。例如，因為從被試驗元件10接收的接收信號的信號周期的顫動，與基準時脈的週期所產生的差異，所以接收裝置120所接收的資料，相較於基準時脈，該資料的資料相位會漸漸延遲，針對此場合進行說明。在本例中，接收裝置120，接收1UI是125ps之差動信號作為接收信號，而多重選通發生部220，發生多重選通，該多重選通的一個循環是十六個選通且各個選通的間隔是20ps。

檢出部250，檢出在循環1發生的多重選通的第十二個選通位置，作為變化位置，而選擇部260，選擇延遲了0.5UI之第十六個選通所取得的值來作為接收資料值。在本例中，因為接收信號的資料相位會漸漸延遲，所以在循環2的多重選通中，以變化位置已移動至第十三個選通來作為例子進行說明。雖然檢出部250，也能在循環2中，針對變化位置，檢出第十三個選通位置來作為變化位置，但是卻因為延遲了0.5UI之選通是在第16個以後，所以選擇部260不能進行選擇。

此處，檢出部250，在循環2中，檢出一個之前的變化位置之第七個選通位置，並將變化位置的資訊傳送至選擇部260。選擇部260，選擇延遲了0.5UI之第十一個選通所取得的值來作為接收資料值。檢出部250，針對循環3以後，將循環2中對應於第七個選通之變化位置，檢出作為第一個變化位置，並繼續接收。因此，檢出部250，在循環3中，將第七個選通，檢出作為變化位置，而選擇部260，選擇第十一個選通所取得的值，作為接收資料值。

這樣，選擇部260，也能選擇循環1的第十六個選通，及循環3的第十一個選通所取得的值，來作為連續兩個接收資料值。亦即，即使因為顫動所造成的資料相位的延遲，也能藉由在適當的循環不選擇資料，而防止資料的重複。即使在對於含有以上的顫動之選通位置選擇方法中，接收裝置120，不使用複雜的同步電路等也能選擇適當的接收資料值。

關於以上的本實施例之接收裝置120所接收的信號，雖然以高位準及低位準在每一週期就會交互重複的信號為例來進行說明，但是實際的信號也有高位準或低位準會連續兩個週期以上之場合，而有不能在每一週期總是檢出變化位置之場合。此處，檢出部250，在無法根據取得部240的取得結果來檢出變化位置之場合，則將接收信號中的對應於以前的接收資料而檢出的變化位置，作為接收信號的現在接收資料所對應的變化位置，而輸出至選擇部260。

這樣，接收裝置120，在對於顫動相對較少的接收信號而不能檢出變化位置之場合，則藉由使用以前的變化位置的檢出位置，而不使用複雜的同步電路就能選擇適當的接收資料值。又，接收裝置120，在對於含有顫動之接收信號不能檢出變化位置之場合，則也能藉由以下所說明的內插來求得變化位置。

檢出部250，在不能根據取得部240的取得結果來檢出變化位置之場合，則從對應於接收信號的現在接收資料以外的兩個以上的接收資料而檢出的兩個以上的變化位置，來內插對應於接收信號的現在接收資料之前述變化位置。例如，最初的循環的變化位置是第五個選通位置，第二個循環的變化位置是第六個選通位置，第三個循環的變化位置是第七個選通位置，以此方式變化，而在第四個循環不能檢出變化位置之場合，則檢出部250，也能將逐漸單調變化之情況加以內插，並將第八個選通作為變化位置。檢出部250，例如，基於更多的接收資料來進行內插，而能在接收信號的頻率數如同漂移這樣比較安穩地變動之場合，選擇適當的接收資料值。

又，檢出部250，根據接收信號中的已對應於以前的兩個以上的接收資料而檢出的兩個以上的變化位置，來內插對應於接收信號的現在接收資料之變化位置。檢出部250，在不能檢出變化位置之場合，也能基於已檢出的以前的兩個以上的循環的資訊來將變化位置加以內插而求得。藉此，檢出部250，例如，在接收信號的頻率數如同顫動這樣比較快速變動之場合，則能基於之前的兩個循環的變動來選擇適當的接收資料值。

又，檢出部250，根據在含有接收信號的現在循環以前的循環以及現在循環以後的循環之兩個以上的循環中的已檢出的兩個以上的變化位置，來內插接收信號的現在循環中的變化位置。檢出部250，在不能檢出變化位置之場合，也能基於在現在循環的前後的循環中的已檢出的兩個以上的資訊來將變化位置加以內插而求得。藉此，檢出部250，因為基於變化位置的變動前後的過程來進行內插，所以能不受變動的速度影響來選擇適當的接收資料值。

又，選擇部260，選擇由相對於在已預定的循環的數份前的循環中已檢出的變化位置，已錯開至預定的相位份量的位置之選通所取得的接收信號的值，來作為接收資料值。藉此，選擇部260，在產生長期的頻率數變動之場合，能選擇適當的接收資料值。

又，選擇部260，選擇由相對於複數個循環中的變化位置的平均位置，已錯開至預定的相位份量的位置之選通所取得的接收信號的值，來作為接收資料值。藉此，選擇部260，即使產生對於現在循環沒有影響之瞬間的頻率數變動等，也能緩和其影響並選擇適當的接收資料值。

第7圖係表示關於本實施形態之試驗裝置100的動作流程的一例。試驗信號供給部110，將試驗信號供給至被試驗元件10(S700)。接收裝置120，接收被試驗元件所輸出的回應信號，作為接收信號。在此，接收裝置120，從多重選通發生部220所發生的複數個選通的各個來取得接收信號(S710)。

接收裝置120，根據接收信號的取得結果，檢出接收信號的值發生變化後的變化位置(S720)。在此，如果沒有變化位置，則接收裝置120，從變化位置以前的循環的資訊等來決定變化位置(S730)。又，接收裝置120，在基於以後的循環的資訊來決定變化位置之場合，則也能就這樣保持接收信號的取得結果而移至步驟S710而前進至下一個循環，並基於下一個循環的變化位置，來決定已保持資料之循環的變化位置。此場合，接收裝置120，也能同時實行以後的現在循環和下一個循環的處理。

接收裝置120，選擇由相對於變化位置已錯開0.5UI之位置的選通所取得的接收信號的值，來作為接收資料值(S740)。此處，接收裝置120，在因為顫動等所造成的接收信號的資料相位會提早之場合，則藉由在適當的循環中選擇兩個適當的資料，而防止循環滑脫所造成的資料的取得遺漏。又，接收裝置120，在因為顫動所造成的資料相位的會延遲之場合，則藉由在適當的循環不選擇資料，而防止資料的重複。

接收裝置120，將已選擇的接收資料值供給至期待值比較部130，而期待值比較部130，將已接收的接收資料值，與從試驗信號供給部110所供給的期待值進行比較(S750)。試驗裝置100，也能根據接收資料值與期待值之比較結果，來判斷被試驗元件的好壞。試驗裝置100，對應於試驗信號供給部110已供給的試驗信號，並在有被試驗元件10所輸出的其他的回應信號，則繼續進行試驗，在沒有其他的回應信號，則結束試驗(S760)。

接收裝置120，在繼續進行試驗之場合，則確認在現在循環的變化位置是否為多重選通的第二個選通位置(S770)。在現在循環的變化位置是多重選通的第二個選通位置之場合，則接收裝置120，將變化位置錯開至1UI後(S775)，並在多重選通中取得下一個循環的接收信號(S710)。

接收裝置120，在現在循環的變化位置不是多重選通的第二個選通位置之場合，則確認選擇作為接收資料值之選通是否在第十六個選通位置(S780)。在選擇作為接收資料值之選通是在第十六個選通位置之場合，則將變化位置錯開至一個UI前(S785)，並在多重選通中取得下一個循環的接收信號(S710)。

試驗裝置100，這樣，也能重複步驟S710以後的處理來進行試驗，直到不再出現對於一個試驗之來自被試驗元件的回應信號，經過預定的時間，或接收到預定的接收資料值為止。依照關於本實施形態之試驗裝置100，不使用複雜的同步電路等也能適當地接收含有顫動等之被試驗元件的回應信號，並實行被試驗元件的試驗。

關於本實施形態之試驗裝置100的動作流程，是以基於現在循環的變化位置是在多重選通的哪裡，來判斷是否要錯開變化位置為例來進行說明。更換這個，試驗裝置100也能在每個循環，取得基於兩個以上的變化位置之接收資料值，分別比較每個循環的變化位置的選通位置，並將接收資料值排列至時間序列上。例如，試驗裝置100，也能在被試驗元件的回應信號上沒有顫動之場合，則從在一個循環中取得的兩個以上的資料，藉由選擇基於相同的變化位置之一個資料並排列已取得的順序，而得到接收資料值。

又，例如，試驗裝置100，分別比較每個循環的變化位置的選通位置，在判斷被試驗元件的回應信號的資料相位會提早之場合，則能藉由從一個循環中所取得的兩個以上的資料，選擇兩個資料並排列已取得的順序，而得到接收資料值。又，試驗裝置100，分別比較每個循環的變化位置的選通位置，在判斷被試驗元件的回應信號的資料相位會延遲之場合，則能藉由從一個循環中所取得的兩個以上的資料，終止資料選擇，開始從下一個循環進行資料選擇並排列已取得的順序，而得到接收資料值。

第8圖係表示關於本實施形態之接收裝置120的第一變化例。關於本變化例之接收裝置120，因為與關於第2圖所示的本實施形態之接收裝置120，是採用相同的構成及機能，所以在與與關於第2圖所示的本實施形態之接收裝置120的動作約略相同的動作上，附加相同的符號，並省略以下相異點之外的說明。

第8圖中，被試驗元件10，例如，也能是DDR-SDRAM(雙倍資料速率同步動態隨機存取記憶體)等之元件。此場合，被試驗元件10，將資料信號作為並行信號加以輸出，並且將時脈信號加以傳送，該時脈信號，用以表示將資料信號作為接收信號的取入時序。

被試驗元件10，以單端信號之方式，將時脈信號和資料信號，供給至接收裝置120。取代這個，被試驗元件10，也能以差動信號之方式，將時脈信號及/或資料信號，供給至接收裝置120。基準時脈發生部210，將用以發生各個多重選通之基準時脈，供給至複數個多重選通發生部220a~d。

位準比較器230a~d，將已輸入的時脈信號和資料信號，分別與臨界值進行位準比較，並作為用以表示邏輯值之接收信號而分別輸出至取得部240a~d。例如，位準比較器230a及位準比較器230c，也能以檢出接收信號的上升邊緣作為目的，而設定為臨界值VOH；又，位準比較器230b及位準比較器230d，也能以檢出接收信號的下降邊緣作為目的，而設定為臨界值VOL。

取得部240a~d，在多重選通發生部220a~d所分別發生的複數個選通的各個時序中，分別取得從位準比較器230a~d各自輸出的接收信號的值。連接至用以取得時脈信號之取得部240a和取得部240b之檢出部250，檢出時脈信號的值發生變化後的變化位置。

亦即，檢出部250，從並排在時間序列上之時序信號的值中的變化位置，判斷在複數個選通的任一個選通上已檢出時序信號的邊緣位置。然後，檢出部250，將時序信號的變化位置，輸出至選擇部260a及選擇部260b。

選擇部260a，選擇由相對於變化位置已錯開至0.5UI的位置之選通所取得的時脈信號的值，來作為接收時脈資料值，並將已選擇的接收時脈資料值，傳送至FIFO記憶體270a。亦即，關於接收時脈資料值，接收裝置120，是以與以上的本實施形態相同的方法來取得。

另一方面，關於資料信號，選擇部260b，選擇由相對於時脈信號的變化位置已錯開至0.5UI的位置之選通所取得的資料信號的值，來作為接收資料值，並將已選擇的接收資料值，傳送至FIFO記憶體270b。亦即，接收裝置120，因為以時脈信號的變化位置作為基準來選擇資料信號的值，所以能適當地選擇已與時脈信號同步之資料信號的資料值。

又，接收裝置120，不需使用同步於被試驗元件10所輸出的時脈信號之複雜的電路等，也能適當地選擇接收時序資料值及接收資料值並加以取得。在此，被試驗元件10，因為也能供給高位準及低位準經常交互變化之時序信號，所以在此場合，接收裝置120能以時序周期而經常檢出時序信號的變化位置。因此，接收裝置120，對於資料信號能經常選擇適當的接收資料值。

第9圖係表示關於本實施形態之接收裝置120的第二變化例。關於本變化例之接收裝置120，因為與關於第2圖所示的本實施形態之接收裝置120，是採用相同的構成及機能，所以在與關於第2圖所示的本實施形態之接收裝置120的動作約略相同的動作上，附加相同的符號，並省略以下相異點之外的說明。被試驗元件10，以單端信號之方式，將資料信號提供至接收裝置120。取代這個，被試驗元件10，也能以差動信號之方式，將資料信號提供至接收裝置120。

接收裝置120，具備第一取得部240a，其從複數個選通的各個，對應於接收信號是否超過第一臨界值VT來取得接收信號的邏輯值，並給予至檢出部250；以及第二取得部240b，其從複數個選通的各個，對應於接收信號是否超過第二臨界值VOL來取得接收信號的邏輯值。接收裝置120，以檢出部250來檢出接收信號超過第一臨界值VT之變化位置；選擇部260a，選擇對於變化位置已錯開至0.5UI的位置之選通所取得的接收信號的值，來作為接收資料值，並將已選擇的接收時脈資料值，傳送至FIFO記憶體270a。

另一方面，選擇部260b，將從複數個選通所取得的複數個接收信號的值，與相對於變化位置之相對位置的資訊，一起作為接收資料值，並傳送至FIFO記憶體270b。亦即，接收裝置120，將複數個選通所取得的接收信號是否超過第二臨界值VOL之複數個接收資料值，與相對於接收信號超過第一臨界值VT之變化位置之時間上的相對位置的資訊，一起傳送至FIFO記憶體270b。

第10圖係表示關於本實施形態之接收裝置120的第二變化例所取得的接收信號的複數個邏輯值的一例。第一取得部240a，也能從多重選通發生部220a所發生的複數個選通的各個，例如圖中的「取得部240a的資料」所示，取得對應於接收信號是否超過第一臨界值VT之接收信號的邏輯值。檢出部250，也能因為超過第一臨界值VT之選通的位置是第五個位置，所以將第四個選通位置作為變化位置，並傳送至選擇部260a及選擇部260b。

另一方面，第二取得部240b，也能從多重選通發生部220b所發生的複數個選通的各個，例如圖中的「取得部240b的資料」所示，取得對應於接收信號是否超過第二臨界值VOL之接收信號的邏輯值。這樣一來，接收裝置120的第二變化例，能以對應於接收信號是否超過第一臨界值VT之變化位置作為基準，而取得在時間上是等間隔的複數個選通所取得的接收信號是否超過第二臨界值VOL之複數個接收資料值。

第11圖係表示關於本實施形態之試驗裝置100的變化例。關於本實施形態之試驗裝置100的變化例，具備試驗信號供給部110、上述的接收裝置120的第二變化例、期待值比較部130、眼圖開口測定部810、及圖案檢出部820。

眼圖開口測定部810，從期待值比較部130所作出的針對複數個第二臨界值的各個之比較結果，來測定接收信號的眼圖開口，該期待值比較部130，比較第二取得部240b對於複數個選通的各個中所取得複數個接收信號的邏輯值。圖案檢出部820，檢出接收資料值的次序與預定的期待圖案一致。

試驗裝置100，將接收裝置120所輸出的取得部240b的複數個接收信號的邏輯值，與試驗信號供給部110所生成的期待值進行比較。例如，試驗信號供給部110，也能生成如第10圖的「期待值」所示的資料列；期待值比較部130，也能如第10圖的「與期待值之比較結果」所示，將比較結果以Pass/Fail之方式來表現。眼圖開口測定部810，從期待值比較部130所作出的針對複數個第二臨界值的各個之比較結果，來測定接收信號的眼圖開口。

第12圖係表示關於本實施形態之試驗裝置100的變化例所輸出的眼圖圖案之一例。眼圖開口測定部810，也能將期待值比較部130所作出的比較結果，生成被稱為shmoo作圖(shmoo plot)，來測定用以表示Pass領域之眼圖開口，該shmoo作圖，將橫軸設為相距於變化位置的相對時間，並將縱軸設為第二臨界值。例如，眼圖開口測定部810，取得第10圖的第6個選通至第13個選通之資料之「F、P、P、P、P、P、P、F、F」，以作為每個相距於比較位置等間隔之時間所觀測到的與期待值的比較結果。

此處，在選通間隔是20ps，且第二臨界值是0.4V之場合，則眼圖開口測定部810，也能在第12圖的0.3~0.4V的行表示此資料的排列。這樣一來，眼圖開口測定部810，將橫軸設為相距於變化位置的相對時間，並將縱軸設為第二臨界值，以針對在每個複數個第二臨界值所取得的與期待值得比較結果，來測定接收信號的眼圖開口。藉此，試驗裝置100，因為能藉由多重選通的一個循環的測定，來取得時間軸方向的Pass/Fail資料，所以能在短時間內實行使用第二臨界值作為參數來進行掃描(sweep)測定之shmoo作圖所作出的眼圖開口測定。

此處，檢出部250，從第一取得部240a的檢出結果，檢出接收信號的值發生變化後之變化位置，第一選擇部260a，選擇第一取得部240a藉由相對於變化位置已錯開至預定的相位份量的位置之選通所取得的接收信號的邏輯值，來作為接收資料值；眼圖開口測定部810，將接收資料值的次序與預定的期待圖案是一致來作為條件，根據比較結果來測定眼圖開口。試驗裝置100，雖然在每個循環中分別設定第二臨界值並依序取得與期待值的比較結果，但是在接收信號上有循環錯開之場合，則循環錯開會反映在shmoo作圖上而不能實施正確的眼圖開口測定。

於是，圖案檢出部820，檢出第一選擇部260a所傳送的相對於變化位置已錯開至預定的相位份量的位置之選通所取得的接收信號的邏輯值，與接收資料值的次序所預定期待圖案一致。眼圖開口測定部810，將接收資料值的次序與期待圖案是一致來作為條件，藉由取得比較結果而能修正循環錯開。藉此，試驗裝置100，能以高精度來實行眼圖開口測定。

關於以上的本實施形態之試驗裝置100的變化例，雖然如第12圖而以Pass/Fail資訊進行表示為例來說明眼圖開口測定，但是取代這個，試驗裝置100也能以Pass/Fail的計數進行表示。亦即，試驗裝置100，複數次重複相同測定條件的循環，並藉由在相同測定條件的每個選通中，計數Pass及Fail的資訊之計數結果進行表示，而能表示眼圖開口的統計資訊。

以上，雖然使用實施形態來說明本發明，但是本發明的技術範圍並不受限於上述實施形態所記載的範圍。業者係明白能將各種變更或改良施加至上述實施形態中。從申請專利範圍的記載能明白，施加有這樣的變更或改良之形態也能包含在本發明的技術範圍中。

在申請專利範圍、說明書、及圖式中所示的裝置、系統、程式、以及方法中的動作、程序、步驟、及階段等各個處理的實行順序，只要不特別明示「更前」、「以前」等，或沒有將前面處理的輸出用在後面處理，則應該留意係能以任意順序加以實現。關於在申請專利範圍、說明書、及圖式中的動作流程，即使在方便上係使用「首先」、「接著」等來進行說明，但是並不意味必須以這個順序來實施。

10．．．被試驗元件

100．．．試驗裝置

110．．．試驗信號供給部

120．．．接收裝置

130．．．期待值比較部

210．．．基準時脈發生部

220．．．多重選通發生部

230．．．位準比較器

240．．．取得部

250．．．檢出部

260．．．選擇部

270．．．FIFO記憶體

810．．．眼圖開口測定部

820．．．圖案檢出部

第1圖係表示關於本實施形態之試驗裝置100的構成及被試驗元件10。

第2圖係表示關於本實施形態之接收裝置120的構成。

第3圖係表示關於本實施形態之接收信號的變化位置的一例。

第4圖係表示關於本實施形態之接收裝置120的選通位置選擇方法的一例。

第5圖係表示關於本實施形態之接收裝置120在資料相位提早之場合的選通位置選擇方法的一例。

第6圖係表示關於本實施形態之接收裝置120在資料相位延遲之場合的選通位置選擇方法的一例。

第7圖係表示關於本實施形態之試驗裝置100的動作流程的一例。

第8圖係表示關於本實施形態之接收裝置120的第一變化例。

第9圖係表示關於本實施形態之接收裝置120的第二變化例。

第10圖係表示關於本實施形態之接收裝置120的第二變化例所取得的接收信號的複數個邏輯值的一例。

第11圖係表示關於本實施形態之試驗裝置100的變化例。

第12圖係表示關於本實施形態之試驗裝置100的變化例所輸出的眼圖圖案之一例。

10．．．被試驗元件

100．．．試驗裝置

110．．．試驗信號供給部

120．．．接收裝置

130．．．期待值比較部

Claims (20)

1. 一種接收裝置，其具備：多重選通發生部，其發生相對於接收信號彼此相位不同的複數個選通；取得部，其在前述複數個選通的各個的時序中取得前述接收信號的值；檢出部，其檢出前述接收信號的值發生變化後之前述複數個選通中的第一選通的變化位置；以及選擇部，其選擇由前述複數個選通中的第二選通所取得的前述接收信號的值，來作為接收資料值，其中上述第二選通，位於以前述變化位置為基準已錯開預定的相位份量的位置上。
2. 如申請專利範圍第1項所述之接收裝置，其中：更具備基準時脈發生部，其發生已預先設定週期的基準時脈，並且，前述多重選通發生部，在每個前述基準時脈的脈衝，發生前述複數個選通。
3. 如申請專利範圍第2項所述之接收裝置，其中：前述基準時脈發生部，其發生被設定為與前述接收信號的週期相同週期之前述基準時脈。
4. 如申請專利範圍第1項所述之接收裝置，其中：對應於根據前述複數個選通所取得的取得結果而檢出兩個以上的變化位置，則前述選擇部，從前述取得結果， 選擇連續兩個以上的前述接收資料值。
5. 如申請專利範圍第1項所述之接收裝置，其中：在以前述變化位置為基準已錯開預定的相位份量的位置上所對應的選通不存在之場合，則前述選擇部，選擇由前一個循環或後一個循環中對應於該位置之前述第二選通所取得的前述接收信號的值來作為前述接收資料值，以取代從現在循環中由前記複數選通所取得的取得結果來選擇前述接收資料值。
6. 如申請專利範圍第1項所述之接收裝置，其中：更具備FIFO記憶體，其將前述選擇部依序選擇的複數個前述接收資料值，以先入先出之方式進行緩衝，並在每個循環進行輸出。
7. 如申請專利範圍第1項所述之接收裝置，其中：前述多重選通發生部，其發生被分散至前述接收信號的1.5個週期以上之時間幅度之前述複數個選通。
8. 如申請專利範圍第1項所述之接收裝置，其中：前述多重選通發生部，以約略相同的時間間隔來發生被分散至前述接收信號的1.5週期加上兩倍的前述時間間隔之時間幅度以上之前述複數個選通。
9. 如申請專利範圍第1項所述之接收裝置，其中：前述檢出部，在無法根據前述取得部的取得結果來檢出前述變化位置之場合，則將前述接收信號中的對應於以前的接收資料而檢出的前述變化位置，作為前述接收信號的現在接收資料所對應的前述變化位置。
10. 如申請專利範圍第1項所述之接收裝置，其中：前述檢出部，在不能根據前述取得部的取得結果來檢出前述變化位置之場合，則根據對應於前述接收信號的現在接收資料以外的兩個以上的接收資料而檢出的兩個以上的前述變化位置，來內插對應於前述接收信號的現在接收資料之前述變化位置。
11. 如申請專利範圍第10項所述之接收裝置，其中：前述檢出部，其根據前述接收信號中的對應於以前的兩個以上的接收資料而檢出的兩個以上的前述變化位置，來內插對應於前述接收信號的現在接收資料之變化位置。
12. 如申請專利範圍第10項所述之接收裝置，其中：前述檢出部，其根據在含有前述接收信號的現在循環以前的循環以及現在循環以後的循環之兩個以上的循環中已檢出的兩個以上的前述變化位置，來內插前述接收信號的現在循環中的前述變化位置。
13. 如申請專利範圍第1項所述之接收裝置，其中：前述選擇部，其選擇由前述第二選通所取得的前述接收信號的值，來作為前述接收資料值，其中前述第二選通位於以在已預定的循環的數份前的循環中已檢出的前述變化位置為基準，已錯開前述預定的相位份量的位置上。
14. 如申請專利範圍第1項所述之接收裝置，其中：前述選擇部，其選擇由相對於複數個循環中的前述變化位置的平均位置，已錯開前述預定的相位份量的位置上之前述第二選通所取得的前述接收信號的值，來作為前述 接收資料值。
15. 如申請專利範圍第1項所述之接收裝置，其中：更具備1組前述多重選通發生部及前述取得部，且前述多重選通發生部，含有被分散至超過前述接收信號的一個週期之時間幅度之前述複數個選通。
16. 一種試驗裝置，是用以試驗被試驗元件之試驗裝置，其具備：試驗信號供給部，其對於前述被試驗元件，供給試驗信號；如申請專利範圍第1項至第15項中的任一項所述之接收裝置，其接收前述被試驗元件所輸出的回應信號，作為接收信號；以及期待值比較部，其將前述接收裝置所接收的前述接收資料值，與期待值進行比較。
17. 如申請專利範圍第16項所述之試驗裝置，其中：前述接收裝置，具備：第一取得部，其在前述複數個選通的各個的時序中，對應於前述接收信號是否超過第一臨界值來取得前述接收信號的邏輯值，並給予至前述檢出部；及第二取得部，其在前述複數個選通的各個的時序中，對應於前述接收信號是否超過第二臨界值來取得前述接收信號的邏輯值；並且，前述期待值比較部，其比較前述第二取得部對於前述複數個選通的各個中所取得複數個前述接收信號的 邏輯值與期待值；該試驗裝置，更具備眼圖開口測定部，其根據前述期待值比較部所作出的針對複數個前述第二臨界值的各個之比較結果，來測定前述接收信號的眼圖開口。
18. 如申請專利範圍第17項所述之試驗裝置，其中：前述檢出部，檢出前述接收信號的值發生變化後之前述複數選通中的第一選通的前述變化位置；前述選擇部，其選擇由前述複數選通中的第二選通所取得的前述接收信號的邏輯值，來作為前述接收資料值，其中前述第二選通位於以前述變化位置為基準已錯開前述預定的相位份量的位置上；該試驗裝置，更具備圖案檢出部，其檢出前述接收資料值的次序與預定的期待圖案一致；並且，前述眼圖開口測定部，其將前述接收資料值的次序與前述期待圖案是一致來作為條件，根據前述比較結果來測定前述眼圖開口。
19. 一種接收方法，其具備：多重選通發生階段，其發生相對於接收信號彼此相位不同的複數個選通；取得階段，其在前述複數個選通的各個的時序中取得前述接收信號；檢出階段，其檢出前述接收信號的值發生變化後的前記複數選通中的第一選通的變化位置；以及 選擇階段，其選擇由前述複數個選通中的第二選通所取得的前述接收信號的值，來作為接收資料值，其中上述第二選通，位於以前述變化位置為基準已錯開預定的相位份量的位置上。
20. 一種試驗方法，是用以試驗被試驗元件之試驗方法，其具備：試驗信號供給階段，其對於前述被試驗元件，供給試驗信號；藉由如申請專利範圍第19項所述之接收方法而接收的接收階段，其接收前述被試驗元件所輸出的回應信號，作為接收信號；以及期待值比較階段，其將前述接收階段所接收的前述接收資料值，與期待值進行比較。