TWI400450B - 測試裝置 - Google Patents

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TWI400450B TW098133267A TW98133267A TWI400450B TW I400450 B TWI400450 B TW I400450B TW 098133267 A TW098133267 A TW 098133267A TW 98133267 A TW98133267 A TW 98133267A TW I400450 B TWI400450 B TW I400450B
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Description

測試裝置
本發明是有關於一種測試元件與應用具之測試裝置，且特別是有關於一種在單一接觸部具有多個尖端的測試元件與應用其之測試裝置。
多媒體社會之急速進步多半受惠於半導體元件或顯示裝置的飛躍性進步。就顯示器而言，具有高畫質、空間利用效率佳、低消耗功率、無輻射等優越特性之顯示面板(liquid crystal display,LCD)已逐漸成為市場之主流。
在顯示面板製造的程序中最後會進行點燈檢查與外觀檢查。點燈檢查是用接觸探針(Contact Probe)在基板端子端進行電氣連接，施予驅動訊號使液晶產生動作，以檢查面板的顯示狀態。一般而言，檢查項目有點缺陷、線缺陷、雲紋(mura)缺陷(例如色雲紋、亮度雲紋等)等。
以顯示面板的製程來說，通常會將顯示面板中與各畫素單元對應連接的訊號線以分組的方式外拉至顯示面板周邊對應的檢測接墊上。在檢測過程中，使用特定的檢查設備利用探針單元(probe unit)分別電性連接顯示面板上的檢測接墊以及一具有驅動晶片的可撓式印刷電路板，並藉由壓觸於檢測接墊上的探針單元傳遞驅動晶片上之檢測訊號至每一畫素單元內，以對顯示面板之畫素、訊號線等進行斷線檢查及色相檢查。
然而，在上述的檢測方法中，可撓式印刷電路板上的線路容易被探針單元鑿穿，造成該可撓式印刷電路板上的線路發生斷路而報廢。另一方面，在運轉一段時間後，壓觸於顯示面板之檢測接墊上的探針單元容易受到磨損，因而無法使探針單元確實地壓觸在檢測接墊上，如此一來，將會導致受測元件特性產生變化，造成檢測結果的誤判。此外，上述之習知探針單元的兩端分別僅設置一單獨的尖端，因此在探針單元的尖端損耗之後則需更換整組的探針單元，致使檢測成本提高。
本發明提供一種測試元件，其能大幅延長測試元件的使用壽命。
本發明提供一種測試裝置，其具有優異的檢測精準度以及能夠降低成本。
本發明提出一種測試元件，適用於一顯示面板的一點燈測試裝置中，此測試元件包括一主體部以及二接觸部。測試元件藉由主體部固定於點燈測試裝置上。二接觸部分別自主體部的兩端沿著一第一方向延伸，且每一接觸部的端部具有多個尖端，每一接觸部的尖端具有不同的高度。
本發明提供一種測試裝置，其適用於檢測一顯示面板的點燈測試，且測試裝置具有如上述之測試元件。
在本發明之一實施例中，上述之接觸部彼此呈點對稱排列。
在本發明之一實施例中，上述之尖端之間的間距彼此相等。
在本發明之一實施例中，上述之每一接觸部自主體部的兩端沿著第一方向延伸，並在每一接觸部的端部以主體部為軸沿一第二方向彎折，構成尖端，其中上述之第二方向例如是順時針方向或是逆時針方向。更進一步而言，每一接觸部的尖端包括一主尖端以及至少一預備尖端，且在每一接觸部中，主尖端的彎折角度大於預備尖端的彎折角度。
在本發明之一實施例中，在每一接觸部中，上述之尖端的高度為往鄰近主體部的方向而逐漸增大。舉例而言，每一接觸部的尖端包括一主尖端以及至少一預備尖端，主尖端位於每一接觸部鄰近主體部的端部上，而預備尖端位於每一接觸部遠離主體部的端部上，且每一接觸部之主尖端的長度大於預備尖端的長度。
在本發明之一實施例中，上述之測試裝置更可以進一步包括一檢測訊號晶片組，檢測訊號晶片組包括一可撓式印刷電路板以及一檢測訊號晶片，可撓式印刷電路板具有多條訊號走線，且檢測訊號晶片之訊號經由對應之訊號走線以及測試元件傳遞至顯示面板的檢測接墊上。
在本發明之一實施例中，上述之每一接觸部的尖端包括一主尖端以及至少一預備尖端，測試元件以其中之一接觸部的主尖端而與可撓式印刷電路板上的其中之一訊號走線連接。
在本發明之一實施例中，上述之每一接觸部的尖端包括一主尖端以及至少一預備尖端，測試元件以其中之一接觸部的預備尖端而與可撓式印刷電路板上具有斷線的訊號走線連接。
在本發明之一實施例中，上述之測試裝置更包括一固定軸，主體部具有沿著第一方向排列的多個孔洞，固定軸穿設於孔洞中以維持測試元件的精度。
基於上述，本發明之測試元件利用在每一接觸部上設置多個具有不同高度的尖端，可以適用於多種型態之測試裝置中，並且這些接觸部可以以簡便的反轉方式而彼此調換，如此一來，測試元件的使用壽命可以大幅的提升。
為讓本發明之上述特徵和優點能更明顯易懂，下文特舉實施例，並配合所附圖式作詳細說明如下。
圖1繪示本發明一實施例之測試設備示意圖，其中測試元件適用於一顯示面板的一點燈測試裝置中。請參照圖1，測試元件200包括一主體部210以及位於主體部210兩端的二接觸部220。測試元件200藉由主體部210固定於點燈測試的測試裝置300上，其中測試元件200與測試裝置300之間的固定處例如圖中標示F處，而固定之方式將於下文中敘述。此外，接觸部220A以及接觸部220B例如分別是與檢測訊號晶片組230以及顯示面板240的檢測接墊242連接，而檢測訊號晶片組230包括一可撓式印刷電路板234以及一檢測訊號晶片232。如圖1所示，測試元件200之二接觸部220分別自主體部210的兩端沿著一第一方向D1延伸。特別的是，每一接觸部220的端部具有多個尖端222，且每一接觸部220的尖端222具有不同的高度。
詳細來說，由於每一接觸部220的端部具有多個尖端222，因此在一實施例中，當測試元件200與受測物之顯示面板240或是訊號源之檢測訊號晶片232之間是多點接觸時，由於接觸點位可以較多，如此一來，可以降低傳遞訊號途徑中的阻抗，並且減少訊號衰減的問題，藉此可以提高檢測的精確度。
此外，在本實施例之每一接觸部220中，尖端222的高度為往鄰近該主體部210的方向而逐漸增大，其中基於檢測精確度以及維護時效的考量，每一接觸部220之尖端222之間的高度差h例如實質上為5微米。舉例而言，每一接觸部220的尖端222包括一主尖端222M以及至少一預備尖端222Y，其中預備尖端222Y的數量可為1以上的正整數，本發明並不以此為限。
主尖端222M位於每一接觸部220鄰近主體部210的端部上，而預備尖端222Y位於每一接觸部220遠離主體部210的端部上，且每一接觸部220之主尖端222M的長度大於預備尖端222Y的長度。在實際的運作機制中，當測試元件200與受測物之顯示面板240或是訊號源之檢測訊號晶片232之間是單點接觸時，主尖端222M因長時間使用磨耗後，預備尖端222Y可以直接備位而作為訊號傳遞的途徑。如此一來，在本實施例中，測試元件200中每一接觸部220的使用壽命可以加倍。並且，在本實施例中，尖端222之間的間距d彼此相等，因此在組裝時不需特定限制測試元件200的擺放方向，操作簡易，可以縮短測試元件200的組裝時間，提高設備的稼動率。
此外，測試元件200上的二接觸部220例如彼此呈點對稱排列。更詳細而言，測試元件200上的二接觸部220自主體部210的兩端沿著該第一方向D1延伸後，並在每一接觸部220的端部例如以該主體部210為軸，每一接觸部220沿一第二方向D2彎折，而構成本實施例之主尖端222M以及預備尖端222Y，其中主尖端222M的彎折角度θM 大於預備尖端222Y的彎折角度θY 。在本實施例中，第二方向D2例如是順時針方向，在其他實施例中，第二方向D2也可以是逆時針方向。換言之，對於測試元件200而言，本實施例之二接觸部220的尖端222是以第一方向D1為基準，往同一個順時針方向作彎折，如此一來，當本實施例之測試元件200反轉之後，亦即順時針旋轉180度，測試元件200反轉的型態仍如反轉前的型態，因此實務上，測試元件200的二接觸部220彼此可以代換使用。
舉例而言，圖2A與圖2B分別繪示本發明一實施例中測試元件反轉前後的示意圖。如圖2A與2B所示，由於測試元件200之二接觸部220彼此呈點對稱排列，因此反轉前之測試元件200與反轉後之測試元件200’的型態相同。換言之，當長時間使用後，測試元件200上的接觸部220A與接觸部220B在反轉後也可以分別與顯示面板240的檢測接墊242以及檢測訊號晶片232連接。如此一來，由於測試元件200中的二接觸部220彼此可代換使用，因此測試元件200的使用壽命可以再度加倍。
圖3繪示本發明另一實施例之測試元件示意圖，其中相同構件以相同符號表示。如圖3所示，在本實施例之測試元件400中，每一接觸部220的端部具有三個尖端222，因此，對於本實施例之測試元件400中的每一接觸部220而言，使用壽命可以增為單根尖端222的三倍。在本實施例中，藉此每一接觸部220的尖端222的間距d彼此相等的設計，除了可以大幅縮短測試元件400的組裝時間，提高設備的稼動率之外，對於生產線而言，使用者較精確地預估機台維護的週期，兼顧檢測精確率以及產出量。
圖4繪示本發明另一實施例之測試裝置示意圖，其中相同構件以相同符號表示。請參照圖4，測試元件500之主體部510具有沿著該第一方向D1排列的多個孔洞520，如圖中繪示的二孔洞520。且如圖4所示，測試裝置600更包括一組固定軸610，而此組固定軸610藉由穿設於此二孔洞520中以調整並維持該測試元件500的精度。
實務上，在進行顯示面板的點燈測試中，可以利用一檢測訊號晶片組230作為檢測訊號源，如圖4所示。檢測訊號晶片組230具有檢測訊號晶片232以及可撓式印刷電路板234，其中可撓式印刷電路板234具有多條訊號走線236。在進行檢測製程時，檢測訊號晶片232之檢測訊號S經由對應之訊號走線236以及測試元件200傳遞至該顯示面板240的檢測接墊242上。換句話說，測試元件500之接觸部220A作為檢測訊號S輸入端，藉以接收來自檢測訊號S晶片組230的檢測訊號S，而測試元件500之接觸部220B作為檢測訊號S輸出端，藉以將檢測訊號S晶片組230的檢測訊號S輸出至顯示面板240的檢測接墊242中。
圖5A～圖5C繪示本發明一實施例之測試元件的使用流程示意圖。如圖5A所示，當使用新品之測試元件700A作為訊號傳遞介質時，每一測試元件700A是以主尖端222M而與可撓式印刷電路板234上對應之訊號走線236連接。接著，如圖5B所示，在經一段時間運轉後，即使可撓式印刷電路板234上的訊號走線236被測試元件700B鑿穿，造成可撓式印刷電路板234上的訊號走線236發生斷線O，但由於預備尖端222Y相較於主尖端222M位於較外端，因此檢測訊號晶片232之檢測訊號S仍可經由對應之訊號走線236以及測試元件700B傳遞至該顯示面板240上。換言之，在此種情形下，測試元件700B以一接觸部220的預備尖端222Y而與可撓式印刷電路板234上具有斷線O的訊號走線236連接。當然，當測試元件700C的單側接觸部220以磨耗而無法使用時，維修人員可以直接反轉測試元件700C後，繼續維持測試設備的正常使用，如圖5C所示。
綜上所述，本發明之測試元件以及測試裝置至少具有以下優點的全部或一部份：
1.利用在每一接觸部上設置多個具有不同高度的尖端，可以適用於多種型態之測試裝置中，並且這些接觸部可以利用簡便的反轉方式而彼此調換，測試元件的使用壽命可以大幅的提升。
2.在一實施例中，藉由等間距地設計尖端的設置位置，在組裝時不需特定限制測試元件的擺放方向，操作簡易，可以縮短測試元件的組裝時間，提高設備的稼動率。
3.在一實施例中，藉由等間距地設計每一接觸部的尖端，使用者較精確地預估機台維護的週期，兼顧檢測精確率以及產出量。
雖然本發明已以實施例揭露如上，然其並非用以限定本發明，任何所屬技術領域中具有通常知識者，在不脫離本發明之精神和範圍內，當可作些許之更動與潤飾，故本發明之保護範圍當視後附之申請專利範圍所界定者為準。
200、200’、400、500、700A、700B、700C‧‧‧測試元件
210、510‧‧‧主體部
220、220A、220B‧‧‧接觸部
222‧‧‧尖端
222M‧‧‧主尖端
222Y‧‧‧預備尖端
230‧‧‧檢測訊號晶片組
232‧‧‧檢測訊號晶片
234‧‧‧可撓式印刷電路板
236‧‧‧訊號走線
240‧‧‧顯示面板
242‧‧‧檢測接墊
300、600‧‧‧測試裝置
610‧‧‧固定軸
d‧‧‧尖端的間距
D1‧‧‧第一方向
D2‧‧‧第二方向
F‧‧‧固定處
h‧‧‧高度差
O‧‧‧斷線
S‧‧‧檢測訊號
θM 、θY ‧‧‧彎折角度
圖1繪示本發明一實施例之測試設備示意圖
圖2A與圖2B分別繪示本發明一實施例中測試元件反轉前後的示意圖。
圖3繪示本發明另一實施例之測試元件示意圖，其中相同構件以相同符號表示。
圖4繪示本發明另一實施例之測試裝置示意圖，其中相同構件以相同符號表示。
圖5A～圖5C繪示本發明一實施例之測試元件的使用流程示意圖。
200‧‧‧測試元件
210‧‧‧主體部
220、220A、220B‧‧‧接觸部
222‧‧‧尖端
222M‧‧‧主尖端
222Y‧‧‧預備尖端
230‧‧‧檢測訊號晶片組
232‧‧‧檢測訊號晶片
234‧‧‧可撓式印刷電路板
240‧‧‧顯示面板
242‧‧‧檢測接墊
300‧‧‧測試裝置
d‧‧‧尖端的間距
D1．．．第一方向
D2．．．第二方向
F．．．固定處
θM 、θY ．．．彎折角度

Claims (11)

  1. 一種測試裝置，包括：一測試元件，其中該測試元件包括：一主體部，其中該測試元件藉由該主體部固定於一測試裝置上；二接觸部，分別自該主體部的兩端沿著一第一方向延伸，且每一接觸部的端部具有多個尖端，每一接觸部的該些尖端具有不同的高度；以及一檢測訊號晶片組，該檢測訊號晶片組包括一可撓式印刷電路板以及一檢測訊號晶片，該可撓式印刷電路板具有多條訊號走線，且該檢測訊號晶片之訊號經由對應之該些訊號走線以及該測試元件傳遞至一顯示面板的檢測接墊上。
  2. 如申請專利範圍第1項所述之測試裝置，其中每一接觸部的該些尖端包括一主尖端以及至少一預備尖端，該測試元件以其中之一該些接觸部的主尖端而與該可撓式印刷電路板上的其中之一該些訊號走線連接。
  3. 如申請專利範圍第1項所述之測試裝置，其中每一接觸部的該些尖端包括一主尖端以及至少一預備尖端，該測試元件以其中之一該些接觸部的預備尖端而與該可撓式印刷電路板上具有斷線的該些訊號走線連接。
  4. 如申請專利範圍第1項所述之測試裝置，更包括一固定軸，該主體部具有沿著該第一方向排列的多個孔洞，該固定軸穿設於該些孔洞中以維持該測試元件的精度。
  5. 如申請專利範圍第1項所述之測試裝置，其中該些接觸部彼此呈點對稱排列。
  6. 如申請專利範圍第1項所述之測試裝置，其中該些尖端之間的間距彼此相等。
  7. 如申請專利範圍第1項所述之測試裝置，其中每一接觸部的端部以該主體部為軸沿一第二方向彎折，構成該些尖端。
  8. 如申請專利範圍第7項所述之測試裝置，其中該第二方向為順時針方向或逆時針方向。
  9. 如申請專利範圍第8項所述之測試裝置，其中每一接觸部的該些尖端包括一主尖端以及至少一預備尖端，且在每一接觸部中，該主尖端的彎折角度大於該預備尖端的彎折角度。
  10. 如申請專利範圍第1項所述之測試裝置，其中在每一接觸部中，該些尖端的高度為往鄰近該主體部的方向而逐漸增大。
  11. 如申請專利範圍第10項所述之測試裝置，其中每一接觸部的該些尖端包括一主尖端以及至少一預備尖端，該主尖端位於每一接觸部鄰近該主體部的端部上，而該預備尖端位於每一接觸部遠離該主體部的端部上，且每一接觸部之該主尖端的長度大於該預備尖端的長度。
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Families Citing this family (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR101328581B1 (ko) * 2012-06-13 2013-11-13 리노공업주식회사 검사용 프로브 및 그 제조방법
JP6221358B2 (ja) * 2013-06-04 2017-11-01 日本電産リード株式会社 基板検査方法、及び基板検査装置

Citations (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US3891924A (en) * 1973-09-10 1975-06-24 Probe Rite Inc Adjustable multi-point probe head assembly
US5764072A (en) * 1996-12-20 1998-06-09 Probe Technology Dual contact probe assembly for testing integrated circuits
US5828226A (en) * 1996-11-06 1998-10-27 Cerprobe Corporation Probe card assembly for high density integrated circuits
US20070200582A1 (en) * 2006-02-15 2007-08-30 Fujitsu Limited Probe and method of manufacturing a probe
US7404719B2 (en) * 2004-07-05 2008-07-29 Kabushiki Kaisha Nihon Micronics Contact block and electrical connecting apparatus
TW200848744A (en) * 2007-04-13 2008-12-16 Hewlett Packard Development Co Dual arcuate blade probe tip

Family Cites Families (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5057775A (en) * 1990-05-04 1991-10-15 Genrad, Inc. Method of testing control matrices for flat-panel displays
US5230632A (en) * 1991-12-19 1993-07-27 International Business Machines Corporation Dual element electrical contact and connector assembly utilizing same
US5759047A (en) * 1996-05-24 1998-06-02 International Business Machines Corporation Flexible circuitized interposer with apertured member and method for making same
US6023171A (en) * 1997-08-13 2000-02-08 International Business Machines Corporation Dual-contact probe tip for flying probe tester
US6888362B2 (en) * 2000-11-09 2005-05-03 Formfactor, Inc. Test head assembly for electronic components with plurality of contoured microelectronic spring contacts
WO2004109375A1 (ja) * 2003-06-06 2004-12-16 Toshiba Matsushita Display Technology Co., Ltd. 基板の検査方法
JP2006242774A (ja) * 2005-03-03 2006-09-14 Tokyo Electron Ltd プローブ及びプローブカード
KR20060124562A (ko) * 2005-05-31 2006-12-05 가부시키가이샤 니혼 마이크로닉스 통전시험용 프로브

Patent Citations (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US3891924A (en) * 1973-09-10 1975-06-24 Probe Rite Inc Adjustable multi-point probe head assembly
US5828226A (en) * 1996-11-06 1998-10-27 Cerprobe Corporation Probe card assembly for high density integrated circuits
US5764072A (en) * 1996-12-20 1998-06-09 Probe Technology Dual contact probe assembly for testing integrated circuits
US7404719B2 (en) * 2004-07-05 2008-07-29 Kabushiki Kaisha Nihon Micronics Contact block and electrical connecting apparatus
US20070200582A1 (en) * 2006-02-15 2007-08-30 Fujitsu Limited Probe and method of manufacturing a probe
TW200848744A (en) * 2007-04-13 2008-12-16 Hewlett Packard Development Co Dual arcuate blade probe tip

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