CN101672863B

CN101672863B - 测试组件与应用其的测试装置

Info

Publication number: CN101672863B
Application number: CN2009103088174A
Authority: CN
Inventors: 温元昌; 梁信雄; 李道铭; 俞善佑
Original assignee: CPTF Optronics Co Ltd; Chunghwa Picture Tubes Ltd
Current assignee: CPTF Optronics Co Ltd
Priority date: 2009-10-26
Filing date: 2009-10-26
Publication date: 2012-07-04
Anticipated expiration: 2029-10-26
Also published as: CN101672863A

Abstract

本发明提供一种测试组件，适用于一显示面板的一点灯测试装置中，其中测试组件包括一主体部以及二接触部。测试组件藉由主体部固定于点灯测试装置上。二接触部分别自主体部的两端沿着一第一方向延伸，且每一接触部的端部具有多个尖端，每一接触部的尖端具有不同的高度。另外，本发明亦提出一种测试装置。因此，上述的测试组件以及测试装置能够大幅延长使用寿命、提高检测精度，以及节省成本。

Description

测试组件与应用其的测试装置

技术领域

本发明是有关于一种测试组件与应用其的测试装置，且特别是有关于一种在单一接触部具有多个尖端的测试组件与应用其的测试装置。

背景技术

多媒体社会的急速进步多半受惠于半导体组件或显示装置的飞跃性进步。就显示器而言，具有高画质、空间利用效率佳、低消耗功率、无辐射等优越特性的显示面板(liquidcrystal display，LCD)已逐渐成为市场的主流。

在显示面板制造的程序中最后会进行点灯检查与外观检查。点灯检查是用接触探针(Contact Probe)在基板端子端进行电气连接，施予驱动讯号使液晶产生动作，以检查面板的显示状态。一般而言，检查项目有点缺陷、线缺陷、云纹(mura)缺陷(例如色云纹、亮度云纹等)等。

以显示面板的制程来说，通常会将显示面板中与各画素单元对应连接的讯号线以分组的方式外拉至显示面板周边对应的检测接垫上。在检测过程中，使用特定的检查设备利用探针单元(probe unit)分别电性连接显示面板上的检测接垫以及一具有驱动芯片的可挠式印刷电路板，并藉由压触于检测接垫上的探针单元传递驱动芯片上的检测讯号至每一画素单元内，以对显示面板的画素、讯号线等进行断线检查及色相检查。

然而，在上述的检测方法中，可挠式印刷电路板上的线路容易被探针单元凿穿，造成该可挠式印刷电路板上的线路发生断路而报废。另一方面，在运转一段时间后，压触于显示面板的检测接垫上的探针单元容易受到磨损，因而无法使探针单元确实地压触在检测接垫上，如此一来，将会导致受测组件特性产生变化，造成检测结果的误判。此外，上述的习知探针单元的两端分别仅设置一单独的尖端，因此在探针单元的尖端损耗之后则需更换整组的探针单元，致使检测成本提高。

发明内容

本发明提供一种测试组件，其能大幅延长测试组件的使用寿命。

本发明提供一种测试装置，其具有优异的检测精准度以及能够降低成本。

本发明提出一种测试组件，适用于一显示面板的一点灯测试装置中，此测试组件包括一主体部以及二接触部。测试组件藉由主体部固定于点灯测试装置上。二接触部分别自主体部的两端沿着一第一方向延伸，且每一接触部的端部具有多个尖端，每一接触部的尖端具有不同的高度。

本发明提供一种测试装置，其适用于检测一显示面板的点灯测试，且测试装置具有如上述的测试组件。

在本发明的一实施例中，上述的接触部彼此呈点对称排列。

在本发明的一实施例中，上述的尖端之间的间距彼此相等。

在本发明的一实施例中，上述的每一接触部自主体部的两端沿着第一方向延伸，并在每一接触部的端部以主体部为轴沿一第二方向弯折，构成尖端，其中上述的第二方向例如是顺时针方向或是逆时针方向。更进一步而言，每一接触部的尖端包括一主尖端以及至少一预备尖端，且在每一接触部中，主尖端的弯折角度大于预备尖端的弯折角度。

在本发明的一实施例中，在每一接触部中，上述的尖端的高度为往邻近主体部的方向而逐渐增大。举例而言，每一接触部的尖端包括一主尖端以及至少一预备尖端，主尖端位于每一接触部邻近主体部的端部上，而预备尖端位于每一接触部远离主体部的端部上，且每一接触部的主尖端的长度大于预备尖端的长度。

在本发明的一实施例中，上述的测试装置更可以进一步包括一检测讯号芯片组，检测讯号芯片组包括一可挠式印刷电路板以及一检测讯号芯片，可挠式印刷电路板具有多条讯号走线，且检测讯号芯片的讯号经由对应的讯号走线以及测试组件传递至显示面板的检测接垫上。

在本发明的一实施例中，上述的每一接触部的尖端包括一主尖端以及至少一预备尖端，测试组件以其中的一接触部的主尖端而与可挠式印刷电路板上的其中的一讯号走线连接。

在本发明的一实施例中，上述的每一接触部的尖端包括一主尖端以及至少一预备尖端，测试组件以其中的一接触部的预备尖端而与可挠式印刷电路板上具有断线的讯号走线连接。

在本发明的一实施例中，上述的测试装置更包括一固定轴，主体部具有沿着第一方向排列的多个孔洞，固定轴穿设于孔洞中以维持测试组件的精度。

基于上述，本发明的测试组件利用在每一接触部上设置多个具有不同高度的尖端，可以适用于多种型态的测试装置中，并且这些接触部可以以简便的反转方式而彼此调换，如此一来，测试组件的使用寿命可以大幅的提升。

为让本发明的上述特征和优点能更明显易懂，下文特举实施例，并配合所附图式作详细说明如下。

附图说明

图1绘示本发明一实施例的测试设备示意图

图2A与图2B分别绘示本发明一实施例中测试组件反转前后的示意图。

图3绘示本发明另一实施例的测试组件示意图，其中相同构件以相同符号表示。

图4绘示本发明另一实施例的测试装置示意图，其中相同构件以相同符号表示。

图5A～图5C绘示本发明一实施例的测试组件的使用流程示意图。

【主要组件符号说明】

200、200’、400、500、700A、700B、700C：测试组件

210、510：主体部

220、220A、220B：接触部

222：尖端

222M：主尖端

222Y：预备尖端

230：检测讯号芯片组

232：检测讯号芯片

234：可挠式印刷电路板

236：讯号走线

240：显示面板

242：检测接垫

300、600：测试装置

610：固定轴

d：尖端的间距

D1：第一方向

D2：第二方向

F：固定处

h：高度差

O：断线

S：检测讯号

θ_M、θ_Y：弯折角度

具体实施方式

图1绘示本发明一实施例的测试设备示意图，其中测试组件适用于一显示面板的一点灯测试装置中。请参照图1，测试组件200包括一主体部210以及位于主体部210两端的二接触部220。测试组件200藉由主体部210固定于点灯测试的测试装置300上，其中测试组件200与测试装置300的间的固定处例如图中标示F处，而固定的方式将于下文中叙述。此外，接触部220A以及接触部220B例如分别是与检测讯号芯片组230以及显示面板240的检测接垫242连接，而检测讯号芯片组230包括一可挠式印刷电路板234以及一检测讯号芯片232。如图1所示，测试组件200的二接触部220分别自主体部210的两端沿着一第一方向D1延伸。特别的是，每一接触部220的端部具有多个尖端222，且每一接触部220的尖端222具有不同的高度。

详细来说，由于每一接触部220的端部具有多个尖端222，因此在一实施例中，当测试组件200与受测物的显示面板240或是讯号源的检测讯号芯片232之间是多点接触时，由于接触点位可以较多，如此一来，可以降低传递讯号途径中的阻抗，并且减少讯号衰减的问题，藉此可以提高检测的精确度。

此外，在本实施例的每一接触部220中，尖端222的高度为往邻近该主体部210的方向而逐渐增大，其中基于检测精确度以及维护时效的考虑，每一接触部220的尖端222之间的高度差h例如实质上为5微米。举例而言，每一接触部220的尖端222包括一主尖端222M以及至少一预备尖端222Y，其中预备尖端222Y的数量可为1以上的正整数，本发明并不以此为限。

主尖端222M位于每一接触部220邻近主体部210的端部上，而预备尖端222Y位于每一接触部220远离主体部210的端部上，且每一接触部220的主尖端222M的长度大于预备尖端222Y的长度。在实际的运作机制中，当测试组件200与受测物的显示面板240或是讯号源的检测讯号芯片232之间是单点接触时，主尖端222M因长时间使用磨耗后，预备尖端222Y可以直接备位而作为讯号传递的途径。如此一来，在本实施例中，测试组件200中每一接触部220的使用寿命可以加倍。并且，在本实施例中，尖端222之间的间距d彼此相等，因此在组装时不需特定限制测试组件200的摆放方向，操作简易，可以缩短测试组件200的组装时间，提高设备的稼动率。

此外，测试组件200上的二接触部220例如彼此呈点对称排列。更详细而言，测试组件200上的二接触部220自主体部210的两端沿着该第一方向D1延伸后，并在每一接触部220的端部例如以该主体部210为轴，每一接触部220沿一第二方向D2弯折，而构成本实施例的主尖端222M以及预备尖端222Y，其中主尖端222M的弯折角度θ_M大于预备尖端222Y的弯折角度θ_Y。在本实施例中，第二方向D2例如是顺时针方向，在其它实施例中，第二方向D2也可以是逆时针方向。换言之，对于测试组件200而言，本实施例的二接触部220的尖端222是以第一方向D1为基准，往同一个顺时针方向作弯折，如此一来，当本实施例的测试组件200反转之后，亦即顺时针旋转180度，测试组件200反转的型态仍如反转前的型态，因此实务上，测试组件200的二接触部220彼此可以代换使用。

举例而言，图2A与图2B分别绘示本发明一实施例中测试组件反转前后的示意图。如图2A与2B所示，由于测试组件200的二接触部220彼此呈点对称排列，因此反转前的测试组件200与反转后的测试组件200’的型态相同。换言之，当长时间使用后，测试组件200上的接触部220A与接触部220B在反转后也可以分别与显示面板240的检测接垫242以及检测讯号芯片232连接。如此一来，由于测试组件200中的二接触部220彼此可代换使用，因此测试组件200的使用寿命可以再度加倍。

图3绘示本发明另一实施例的测试组件示意图，其中相同构件以相同符号表示。如图3所示，在本实施例的测试组件400中，每一接触部220的端部具有三个尖端222，因此，对于本实施例的测试组件400中的每一接触部220而言，使用寿命可以增为单根尖端222的三倍。在本实施例中，藉此每一接触部220的尖端222的间距d彼此相等的设计，除了可以大幅缩短测试组件400的组装时间，提高设备的稼动率之外，对于生产线而言，使用者较精确地预估机台维护的周期，兼顾检测精确率以及产出量。

图4绘示本发明另一实施例的测试装置示意图，其中相同构件以相同符号表示。请参照图4，测试组件500的主体部510具有沿着该第一方向D1排列的多个孔洞520，如图中绘示的二孔洞520。且如图4所示，测试装置600更包括一组固定轴610，而此组固定轴610藉由穿设于此二孔洞520中以调整并维持该测试组件500的精度。

实务上，在进行显示面板的点灯测试中，可以利用一检测讯号芯片组230作为检测讯号源，如图4所示。检测讯号芯片组230具有检测讯号芯片232以及可挠式印刷电路板234，其中可挠式印刷电路板234具有多条讯号走线236。在进行检测制程时，检测讯号芯片232的检测讯号S经由对应的讯号走线236以及测试组件200传递至该显示面板240的检测接垫242上。换句话说，测试组件500的接触部220A作为检测讯号S输入端，藉以接收来自检测讯号S芯片组230的检测讯号S，而测试组件500的接触部220B作为检测讯号S输出端，藉以将检测讯号S芯片组230的检测讯号S输出至显示面板240的检测接垫242中。

图5A～图5C绘示本发明一实施例的测试组件的使用流程示意图。如图5A所示，当使用新品的测试组件700A作为讯号传递介质时，每一测试组件700A是以主尖端222M而与可挠式印刷电路板234上对应的讯号走线236连接。接着，如图5B所示，在经一段时间运转后，即使可挠式印刷电路板234上的讯号走线236被测试组件700B凿穿，造成可挠式印刷电路板234上的讯号走线236发生断线O，但由于预备尖端222Y相较于主尖端222M位于较外端，因此检测讯号芯片232的检测讯号S仍可经由对应的讯号走线236以及测试组件700B传递至该显示面板240上。换言之，在此种情形下，测试组件700B以一接触部220的预备尖端222Y而与可挠式印刷电路板234上具有断线O的讯号走线236连接。当然，当测试组件700C的单侧接触部220以磨耗而无法使用时，维修人员可以直接反转测试组件700C后，继续维持测试设备的正常使用，如图5C所示。

综上所述，本发明的测试组件以及测试装置至少具有以下优点的全部或一部份：

1.利用在每一接触部上设置多个具有不同高度的尖端，可以适用于多种型态的测试装置中，并且这些接触部可以利用简便的反转方式而彼此调换，测试组件的使用寿命可以大幅的提升。

2.在一实施例中，藉由等间距地设计尖端的设置位置，在组装时不需特定限制测试组件的摆放方向，操作简易，可以缩短测试组件的组装时间，提高设备的稼动率。

3.在一实施例中，藉由等间距地设计每一接触部的尖端，使用者较精确地预估机台维护的周期，兼顾检测精确率以及产出量。

虽然本发明已以实施例揭露如上，然其并非用以限定本发明，任何所属技术领域中具有通常知识者，在不脱离本发明的精神和范围内，当可作些许的更动与润饰，故本发明的保护范围当视后附的申请专利范围所界定者为准。

Claims

1.一种测试组件，应用于一测试装置中，其特征在于包括：

一主体部，其中该测试组件藉由该主体部固定于该测试装置上；以及

二接触部，分别自该主体部的两端沿着一第一方向延伸，且每一接触部的端部具有多个尖端，每一接触部的该些尖端具有不同的高度；

其中该些接触部彼此呈点对称排列；所述尖端之间的间距彼此相等；

其中每一接触部自主体部的两端沿着该第一方向延伸，并在每一接触部的端部以该主体部为轴沿一第二方向弯折，构成该些尖端；所述的第二方向为顺时针方向或逆时针方向。

2.根据权利要求1所述的测试组件，其特征在于：其中每一接触部的该些尖端包括一主尖端以及至少一预备尖端，且在每一接触部中，该主尖端的弯折角度大于该预备尖端的弯折角度。

3.根据权利要求1所述的测试组件，其特征在于：其中在每一接触部中，该些尖端的高度为往邻近该主体部的方向而逐渐增大。

4.根据权利要求3所述的测试组件，其特征在于：其中每一接触部的该些尖端包括一主尖端以及至少一预备尖端，该主尖端位于每一接触部邻近该主体部的端部上，而该预备尖端位于每一接触部远离该主体部的端部上，且每一接触部的该主尖端的长度大于该预备尖端的长度。

5.一种测试装置，其特征在于包括：

一测试组件，其中该测试组件包括：

一主体部，其中该测试组件藉由该主体部固定于一测试装置上；

二接触部，分别自该主体部的两端沿着一第一方向延伸，且每一接触部的端部具有多个尖端，每一接触部的该些尖端具有不同的高度；以及

一检测讯号芯片组，该检测讯号芯片组包括一可挠式印刷电路板以及一检测讯号芯片，该可挠式印刷电路板具有多条讯号走线，且该检测讯号芯片的讯号经由对应的该些讯号走线以及该测试组件传递至显示面板的检测接垫上；

6.根据权利要求5所述的测试装置，其特征在于：其中每一接触部的该些尖端包括一主尖端以及至少一预备尖端，该测试组件以其中的一该些接触部的主尖端而与该可挠式印刷电路板上的其中的一该些讯号走线连接。

7.根据权利要求6所述的测试装置，其特征在于：其中每一接触部的该些尖端包括一主尖端以及至少一预备尖端，该测试组件以其中的一该些接触部的预备尖端而与该可挠式印刷电路板上具有断线的该些讯号走线连接。

8.根据权利要求6所述的测试装置，其特征在于：更包括一固定轴，该主体部具有沿着该第一方向排列的多个孔洞，该固定轴穿设于该些孔洞中以维持该测试组件的精度。