TWI393942B - 主動元件陣列基板 - Google Patents
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Description
本發明是有關於一種主動元件陣列基板,且特別是有關於一種液晶顯示面板中之主動元件陣列基板。
現今社會多媒體技術相當發達,多半受惠於半導體元件與顯示裝置的進步。就顯示器而言,具有高畫質、空間利用效率佳、低消耗功率、無輻射等優越特性之液晶顯示面板已逐漸成為市場之主流。一般液晶顯示面板主要是由主動元件陣列基板、彩色濾光基板以及夾於兩者之間的液晶層所組成。
圖1是習知之主動元件陣列基板之示意圖。請參考圖1,習知之主動元件陣列基板100具有一主動區A與一周邊線路區B。此主動元件陣列基板100主要由一基板110、多個畫素單元120、多條掃描線130、多條資料線140、多個開關元件150、一匯流線160、多條測試線172、174與多個驅動電路180所構成。其中,畫素單元120配置於主動區A內,且畫素單元120會分別與所對應之掃描線130與資料線140電性連接。
一般而言,為了測試的需要,主動元件陣列基板100上都會有測試線路。詳言之,位於周邊線路區B內之開關元件150具有一閘極150g、一源極150s與一汲極150d。開關元件150之閘極150g會與匯流線160電性連接,而匯流線160之另一端連接至一接墊P。此外,測試線172會
與奇數列開關元件150之源極150s電性連接,而測試線174會與偶數列開關元件150之源極150s電性連接。
值得注意的是,開關元件150之汲極150d會與掃描線130之一端電性連接。當閘極訊號藉由掃描線130傳送至畫素單元120中時,由於掃描線130之末端會與開關元件150相連接,因此很容易導致開關元件150有不正常開啟之現象。這會造成訊號嚴重失真,進而使液晶顯示面板之顯示品質大幅下降,實有改進之必要。
有鑑於此,本發明提供一種主動元件陣列基板,其可有效避訊號失真,以有效提升顯示品質。
本發明提出一種主動元件陣列基板,其具有一主動區與一周邊線路區。此主動元件陣列基板包括一基板、多個畫素單元、多條掃描線、多條資料線、多個開關元件、一匯流線、一測試線路組與至少一驅動電路。其中,畫素單元陣列排列於基板上之主動區內。掃描線與資料線配置於基板上,且各畫素單元分別與所對應之掃描線與資料線電性連接。此外,開關元件配置於基板上之周邊線路區內。其中,各開關元件具有一閘極、一源極與一汲極。另外,掃描線由主動區延伸至周邊線路區,以分別與開關元件之汲極電性連接。上述之匯流線配置於周邊線路區內,並與開關元件之閘極電性連接。測試線路組配置於周邊線路區內,並與開關元件之源極電性連接。本發明之驅動電路配置於周邊線路區內,並與匯流線電性連接。此驅動電路適
於藉由匯流線輸入一訊號,以關閉開關元件。
在本發明之一實施例中,上述之主動元件陣列基板更包括至少一擬配線(dummy line),且擬配線由主動區向兩側延伸至周邊線路區,而電性連接於驅動電路與匯流線之間。
在本發明之一實施例中,上述之測試線路組包括一第一測試線與一第二測試線。其中,第一測試線配置於基板上之周邊線路區內,並與偶數列之開關元件之源極電性連接。此外,第二測試線配置於基板上之周邊線路區內,並與奇數列之開關元件之源極電性連接。
在本發明之一實施例中,上述之主動元件陣列基板更包括多個接墊,其配置於周邊線路區內。且與匯流線電性連接。
在本發明之一實施例中,上述之主動元件陣列基板更包括多個接墊,其配置於周邊線路區內,且分別與第一測試線與第二測試線電性連接。
在本發明之一實施例中,上述之主動元件陣列基板,其中各畫素單元包括一主動元件與一畫素電極。其中,主動元件配置於基板上之主動區內,且分別與所對應之掃描線與資料線電性連接。此外,畫素電極會與主動元件電性連接。
本發明測試用之開關元件可以透過匯流線,而與驅動電路電性連接。此驅動電路可藉由匯流線而輸出一低電壓訊號,以關閉開關元件。因此,本發明主動區內之畫素單
元可與周邊線路區內之測試線路組隔絕,以有效免訊號失真,進而提升顯示品質。
為讓本發明之上述特徵和優點能更明顯易懂,下文特舉較佳實施例,並配合所附圖式,作詳細說明如下。
圖2A是本發明之一實施例之主動元件陣列基板示意圖。請參考圖2A,本發明之主動元件陣列基板200具有一主動區A與一周邊線路區B。此主動元件陣列基板200包括一基板210、多個畫素單元220、多條掃描線230、多條資料線240、多個開關元件250、一匯流線260、一測試線路組270與至少一驅動電路280。其中,畫素單元220陣列排列於基板210上之主動區A內,且畫素單元220分別與所對應之掃描線230與資料線240電性連接。
在一實施例中,畫素單元220可包括一主動元件222與一畫素電極224。其中,主動元件222配置於基板210上之主動區A內,且分別與所對應之掃描線230與資料線240電性連接。此外,畫素電極224會與主動元件222電性連接。實務上,開關訊號可以透過掃描線230之傳遞而將主動元件222開啟,在主動元件222開啟後顯示訊號可以透過資料線240而傳遞至畫素電極224中。
當然,所屬技術領域中具有通常知識者應知每一畫素單元220至少包括一主動元件222與一畫素電極224。這端視畫素單元220之效能設計而定。例如具有預充電(pre-charge)效能設計之畫素單元224可能就需要兩個以上的主動元件222。因此,圖2A所示之畫素單元220之佈
局(layout)僅用以說明,在此並不刻意侷限每一畫素單元220中主動元件222之數目。
另一方面,位於周邊線路區B內之開關元件250具有一閘極250g、一源極250s與一汲極250d。所有開關元件250之閘極250g會與周邊線路區B內之匯流線260電性連接。此外,開關元件250之汲極250d會與掃描線230電性連接,而開關元件250之源極250s會與測試線路組270電性連接。
在一實施例中,測試線路組270可以包括一第一測試線272與一第二測試線274。其中,位於周邊線路區B內之第一測試線272可與奇數列開關元件250之源極250s電性連接。此外,位於周邊線路區B內之第二測試線274可並與偶數列開關元件250之源極250s電性連接。實務上,第一測試線272與第二測試線274之末端更可連接至一接墊P。當然,所屬技術領域中具有通常知識者應知第一測試線272與第二測試線274連接至開關元件250之源極250s也可以有其它的方式,在此僅舉例說明並無意侷限。
特別的是,位於周邊線路區B內之驅動電路280會與匯流線260電性連接。實務上,匯流線260可藉由接墊P,而與驅動電路280電性連接。此驅動電路280適於藉由匯流線260輸入一訊號,以強制關閉開關元件250。此訊號例如是低閘極電壓(Vgl)。如此一來,當開關元件250被關閉時,主動區A內之畫素單元220可有效與周邊線路
區B內之第一測試線272與第二測試線274隔絕,以有效避免訊號失真,進而可有效提升顯示品質。
這裡要說明的是,匯流線260可藉由多種方式而與驅動電路280電性連接,如下所述。圖2B~2D是本發明其它佈局形式之主動元件陣列基板示意圖。如圖2B所示之主動元件陣列基板300更包括至少一擬配線231 (dummy line)。此擬配線231由主動區A向兩側延伸至周邊線路區B,而電性連接於驅動電路280與匯流線260之間。當然,擬配線231亦可配置於不同側,如圖2C所示。此外,如圖2D所示,主動元件陣列基板500可具有兩條擬配線231。上述各種佈局形式之主動元件陣列基板都同樣可達到避免訊號失真與提升顯示品質之目的。
綜上所述,本發明測試用之開關元件會與驅動電路電性連接。此驅動電路可藉由擬配線或直接藉由匯流線而輸入一低電壓之訊號,以關閉開關元件。因此,本發明主動元件陣列基板之畫素單元可有效與周邊線路區內之測試線路組隔絕,以有效避免訊號失真,進而提升顯示品質。
雖然本發明已以較佳實施例揭露如上,然其並非用以限定本發明,任何所屬技術領域中具有通常知識者,在不脫離本發明之精神和範圍內,當可作些許之更動與潤飾,因此本發明之保護範圍當視後附之申請專利範圍所界定者為準。
100、200、300、400、500‧‧‧主動元件陣列基板
110、210‧‧‧基板
120、220‧‧‧畫素單元
130、230‧‧‧掃描線
140、240‧‧‧資料線
150、250‧‧‧開關元件
150g、250g‧‧‧閘極
150s、250s‧‧‧源極
150d、250d‧‧‧汲極
160、260‧‧‧匯流線
172、174‧‧‧測試線
180、280‧‧‧驅動電路
222‧‧‧主動元件
224‧‧‧畫素電極
231‧‧‧擬配線
270‧‧‧測試線路組
272‧‧‧第一測試線
274‧‧‧第二測試線
A‧‧‧主動區
B‧‧‧周邊線路區
P‧‧‧接墊
圖1是習知之主動元件陣列基板之示意圖。
圖2A是本發明之一實施例之主動元件陣列基板示意
圖。
圖2B~2D是本發明其它佈局形式之主動元件陣列基板示意圖。
200‧‧‧主動元件陣列基板
210‧‧‧基板
220‧‧‧畫素單元
222‧‧‧主動元件
224‧‧‧畫素電極
230‧‧‧掃描線
240‧‧‧資料線
250‧‧‧開關元件
250g‧‧‧閘極
250s‧‧‧源極
250d‧‧‧汲極
260‧‧‧匯流線
270‧‧‧測試線路組
272‧‧‧第一測試線
274‧‧‧第二測試線
280‧‧‧驅動電路
A‧‧‧主動區
B‧‧‧周邊線路區
P‧‧‧接墊
Claims (6)
- 一種主動元件陣列基板,具有一主動區與一周邊線路區,該主動元件陣列基板包括:一基板;多個畫素單元,陣列排列於該基板上之主動區內;多條掃描線,配置於該基板上;多條資料線,配置於該基板上,且各該畫素單元分別與所對應之該掃描線與該資料線電性連接;多個開關元件,配置於該基板上之周邊線路區內,其中各該開關元件具有一閘極、一源極與一汲極,該些掃描線由該主動區延伸至該周邊線路區,以分別與該些開關元件之該汲極電性連接;一匯流線,配置於該周邊線路區內,並與該些開關元件之閘極電性連接;一測試線路組,配置於周邊線路區內,並與該些開關元件之源極電性連接;以及至少一驅動電路,配置於周邊線路區內,電性連接至該匯流線,並透過該匯流線與該些開關元件的該閘極電性連接,該驅動電路適於藉由該匯流線輸出一訊號,以關閉該些開關元件。
- 如申請專利範圍第1項所述之主動元件陣列基板,更包括至少一擬配線(dummy line),且該擬配線由該主動區向兩側延伸至該周邊線路區,而電性連接於該驅動電路與該匯流線之間。
- 如申請專利範圍第1項所述之主動元件陣列基板,其中該測試線路組包括:一第一測試線,配置於該基板上之周邊線路區內,並與偶數列之開關元件之源極電性連接;以及一第二測試線,配置於該基板上之周邊線路區內,並與奇數列之開關元件之源極電性連接。
- 如申請專利範圍第1項所述之主動元件陣列基板,更包括多個接墊,配置於該周邊線路區內,且與該匯流線電性連接。
- 如申請專利範圍第3項所述之主動元件陣列基板,更包括多個接墊,配置於該周邊線路區內,且分別與該第一測試線與該第二測試線電性連接。
- 如申請專利範圍第1項所述之主動元件陣列基板,其中各該畫素單元包括:一主動元件,配置於該基板上之主動區內,且分別與所對應之該掃描線與該資料線電性連接;以及一畫素電極,與該主動元件電性連接。
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TW97137766A TWI393942B (zh) | 2008-10-01 | 2008-10-01 | 主動元件陣列基板 |
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Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
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TW97137766A TWI393942B (zh) | 2008-10-01 | 2008-10-01 | 主動元件陣列基板 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
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TW201015143A TW201015143A (en) | 2010-04-16 |
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Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
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TW97137766A TWI393942B (zh) | 2008-10-01 | 2008-10-01 | 主動元件陣列基板 |
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TWI234673B (en) * | 1998-03-31 | 2005-06-21 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | TFT array substrate for liquid crystal display device and manufacturing method thereof and liquid crystal display device utilizing the same and manufacturing method thereof |
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2008
- 2008-10-01 TW TW97137766A patent/TWI393942B/zh not_active IP Right Cessation
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Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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Legal Events
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