TWI393877B - A method for judging a panel to be measured and its system - Google Patents

Description

判斷待測面板的方法及其系統

本發明係一種判斷待測面板的方法及其系統，其係特別關於一種利用判斷伺服器自動判斷待測面板等級的方法。

先前技術之判斷待測面板的方法，係利用操作員紀錄待測面板的缺陷資訊，加以比對後，再給予待測面板一個等級，如待測面板係具有5個壞點(亮點或暗點)以內，給予待測面板係一A等級；品質較差的待測面板如具有5個壞點～10個壞點，則給予待測面板B等級(次一等級)，將生產好的面板依據面板的等級加以分類後，以便於出售。舉例來說，A等級的面板多半賣給NB廠製作面板之用，價錢也較高；品質較差的面板，價錢較低，這些面板可以製作成一些對面板要求不那麼高的電子產品。

先前技術對於待測面板的等級分類，可見於組立(Cell)製程的CT2測試及模組組裝測試階段，兩個階段的測試都係以人力紀錄待測面板的缺陷資訊，根據這些缺陷資訊以一份對照表，以人力方式進行比對，比對出目前待測面板的等級，據此給予待測面板一個等級。

這種純粹以人力作業的比對方式，其準確率易因操作員的精神狀況不佳、精神集中度不夠、突發噪音影響，造成的操作員分心，使得面板的等級分類不夠確實。

為此，本發明提出一種判斷待測面板的方法及其系統，以改善上述缺失。

本發明之主要目的在提供一種判斷待測面板的方法及其系統，其係以一判斷伺服器判斷待測面板的等級，解決先前技術可能發生的誤判等級情況。

本發明之另一目的在提供一種判斷待測面板的方法及其系統，其 係可應用於CT2(檢查站點)測試或模組組裝測試，提升分類判斷時的效率及準確性。檢查站

本發明係提供一種判斷待測面板的方法及其系統，該系統係由判斷伺服器及工作平台組成，本發明可應用於CT2測試、面板模組組裝測試。判斷伺服器與工作平台連接，判斷伺服器內建複數面板等級，於工作平台輸入每一定待測面板的缺陷資訊後，工作平台將缺陷資訊傳遞給判斷伺服器後，由判斷伺服器判斷待測面板的等級，並將待測面板的等級回饋給工作平台。本發明係依照缺陷的項目數量與規格以判斷伺服器判斷待測面板的等級，可應用於ct2測試或模組組裝測試，解決先前技術可能發生的操作員根據待測面板的缺陷資訊，比對面板等級時發生誤判等級情況，且能提升面板分類時時的效率及準確性。

底下藉由具體實施例配合所附的圖式詳加說明，當更容易瞭解本發明之目的、技術內容、特點及其所達成之功效。

為能詳細說明本發明，請參照第一圖，首先說明本發明的判斷待測面板的系統。本發明的判斷待測面板的系統包括一判斷伺服器12、一工作平台14，與判斷伺服器12連接，工作平台14包括一輸入裝置18(鍵盤、滑鼠)及一顯示器16，可供操作員使用。判斷伺服器12，內建有複數面板等級，判斷伺服器12可內建的面板分類之等級不受限制，可根據需要進行調整，本實施例係採用3種面板等級。

判斷伺服器12所內建的資料請一併參照第二圖。圖示中所列舉的各種面板於生產時可能發生的缺陷，如線缺陷、點缺陷、點距離、玻璃刮傷、偏光板刮傷、MURA測試結果、點狀異物類聚集亮/暗點等等缺陷。

根據上面介紹的判斷待測面板系統，以下繼續說明本發明判斷面板等級的一個實施例，此判斷待測面板的方法，請參照第三圖；首先進行步驟S12，輸入一待測面板狀態的缺陷資訊。輸入待測面板狀態 的缺陷資訊係利用上面介紹的工作平台14進行者。請一併參照第四圖，第四圖係判斷伺服器12所提供於顯示器16上的FI表單。第四圖中的係包括線缺陷A、點缺陷B、偏光板C、Mura D、刮傷E等面板缺陷的主要問題，這些選項係一種下拉表單，每一個下拉表單內含許多詳細的缺陷項目。

舉例來說，線缺陷A的詳細缺陷項目係為標號A'的項目、點缺陷B的詳細缺陷項目係為標號B'的項目、偏光板C的詳細缺陷項目係為標號C'的項目、Mura D的詳細缺陷項目係為標號D'的項目、刮傷E的詳細缺陷項目係為標號E'的項目。

當待測面板的缺陷資訊包括有亮線1條(位於S1這個位置)、Mura ND8%不可見時，操作員以滑鼠點到想要選擇的缺陷項目位置後，再以鍵盤輸入該缺陷項目的數量；填寫完成後，進行步驟S14，由判斷伺服器12根據所獲得之缺陷資訊判斷待測面板的面板等級；延續上面所提及之待測面板的缺陷資訊包括有亮線1條、Mura ND8%不可見時，判斷伺服器12根據這些資料，因而給予待測面板一個R等級，並將待測面板的等級回饋至工作平台14。因此在第四圖中可以發現顯示器16上係顯示此待測面板係一R等級的面板，且附帶紀錄此面板的缺陷位置係於S1這個位置，及一個帶狀Mura。

以上介紹的實施例係以本發明單純應用在FI工作站時的情形。當本發明的同時應用於ct2測試及整個模組組裝測試時。可對待測面板進行交叉比對，以排除許多人為輸入錯誤的可能。請參照第五圖。進行步驟S22、步驟S24、及步驟S26，進入FI站，操作員於工作平台14利用輸入裝置18輸入工作帳號後，工作平台14將工作帳號上傳至判斷伺服器12。

接著進行步驟S28，判斷伺服器12判斷工作帳號是否正確，如不正確，則回到步驟S22，重新輸入工作帳號，如正確則進行步驟S30，操作員開始進行F/I測試。其中操作員在工作前(測試前)，會先確認目 前待測面板與工作清單是否相符，如果不相符可以先更新相對應的程式後，再進行測試。

接著進行步驟S32及步驟S34，操作員於工作平台14上以輸入裝置18輸入待測面板的缺陷資訊，並將由判斷伺服器12進行判等。然後進行步驟S36，判斷伺服器12會將判等候的結果，ct2測試的等級結果進行比對，如果比對結果相同則進行步驟S44，判斷伺服器12判斷面板的等級，並將結果回饋至工作平台14，接續進行步驟S46，繼續下一片待測面板的測試。

如步驟S36的比對結果不同，則進行步驟S38，操作員重新確認待測面板的缺陷的數量，如果不需要重新確認缺陷的數量，則進行步驟S44，判斷伺服器12判斷面板的等級，並將結果回饋至工作平台14，接續進行步驟S46，繼續下一片待測面板的測試。

如果步驟S38需要重新確認缺陷的數量，則進行步驟S40，確認缺陷的數量是否正確，如正確，則進行步驟S44，判斷伺服器12判斷面板的等級，並將結果回饋至工作平台14，接續進行步驟S46，繼續下一片待測面板的測試。

如步驟S40，確認缺陷的數量不正確，則進行步驟S42，由操作員重新輸輸入缺點的數量，接續進行步驟S34，交由判斷伺服器12判斷面板的等級。

本發明之判斷待測面板的系統上可應用在模組組裝測試中的FV站、FMA站。判斷待測面板可根據不同的測試站提供不同的表單供操作員使用，判斷伺服器12提供之FV站、FMA站的表單可分別參照第六圖及第七圖所示。

本發明係以判斷伺服器12判斷待測面板的等級，可應用於ct2測試或模組組裝測試，解決先前技術可能發生的操作員根據待測面板的缺陷資訊，比對面板等級時發生誤判等級情況，且能提升面板分類時時的效率及準確性。

唯以上所述者，僅為本發明之較佳實施例而已，並非用來限定本發明實施之範圍。故即凡依本發明申請範圍所述之形狀、構造、特徵及精神所為之均等變化或修飾，均應包括於本發明之申請專利範圍內。

12‧‧‧判斷伺服器

14‧‧‧工作平台

16‧‧‧顯示器

18‧‧‧輸入裝置

第一圖係本發明之判斷待測面板系統的示意圖。

第二圖係本發明之判斷伺服器提供的表單之示意圖。

第三圖係本發明之一實施例之實施流程示意圖。

第四圖係本發明之判斷伺服器提供F/I站的表單示意圖。

第五圖係本發明之另一實施例之實施流程示意圖。

第六圖係本發明之判斷伺服器提供FV站的表單示意圖。

第七圖係本發明之判斷伺服器提供FMA站的表單示意圖。

Claims (11)

1. 一種判斷待測面板的系統，包括：一判斷伺服器，內建複數面板等級；以及一工作平台，與該判斷伺服器連接，於該工作平台輸入每一定待測面板的缺陷資訊後，該工作平台將缺陷資訊傳遞給該判斷伺服器後，由該判斷伺服器判斷該待測面板的等級，並將該待測面板的等級回饋給該工作平台。
2. 如申請專利範圍第1項所述之判斷待測面板的系統，其中該待測面板的缺陷資訊包括線缺陷、點缺陷、點距離、玻璃刮傷、偏光板刮傷、MURA測試結果、點狀異物類聚集亮/暗點。
3. 如申請專利範圍第1項所述之判斷待測面板的系統，其中該判斷伺服器可設定至少3種面板等級。
4. 如申請專利範圍第1項所述之判斷待測面板的系統，其中該工作平台包括一顯示器及一輸入裝置。
5. 一種判斷待測面板的方法，包括下列步驟：輸入一待測面板狀態的一缺陷資訊；以及根據該缺陷資訊判斷該待測面板的面板等級。
6. 如申請專利範圍第5項所述之判斷待測面板的方法，其中判斷該待測面板的面板等級係利用一判斷伺服器進行。
7. 如申請專利範圍第6項所述之判斷待測面板的方法，其中該判斷伺服器可設定至少3種面板等級。
8. 如申請專利範圍第5項所述之判斷待測面板的方法，其中該缺陷資訊包括線缺陷、點缺陷、點距離、玻璃刮傷、偏光板刮傷、MURA測試結果、點狀異物類聚集亮/暗點。
9. 如申請專利範圍第6項所述之判斷待測面板的方法，其中判斷待測面板的方法應用於模組安裝製程中的模組測試時，當該判斷伺服器判斷該待測面板的面板等級後，該判斷伺服器可將判斷後的結果與 組立製程中的測試結果進行至少一比對，如比對二者結果皆相同，則進續對下一待測面板進行該比對，如比對二者結果不相同，則重新輸入該待測面板狀態的該缺陷資訊，根據該缺陷資訊判斷該待測面板的面板等級。
10. 如申請專利範圍第9項所述之判斷待測面板的方法，其中該比對包括面板等級是否相同，如面板等級不相同，重新確認該待測面板的缺點數量，如缺點數量相同則將由該判斷伺服器判斷該待測面板的等級，如缺點數量不相同，則重新輸入該待測面板狀態的該缺陷資訊，並根據該缺陷資訊判斷該待測面板的面板等級。
11. 如申請專利範圍第5項所述之判斷待測面板的方法，其中輸入該待測面板狀態的該缺陷資訊係利用一工作平台。