CN101571628A - 判断待测面板的方法及其系统 - Google Patents
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Abstract
本发明主要涉及一种判断待测面板的方法及其系统，尤其是指一种利用判断伺服器自动判断待测面板等级的方法；该系统係由判断伺服器及工作平台组成，本发明可应用于CT2测试、面板模组组装测试。判断伺服器与工作平台连接，判断伺服器内建复数面板等级，于工作平台输入待测面板的缺陷资讯后，工作平台将缺陷资讯传递给判断伺服器后，由判断伺服器判断待测面板的等级，并将待测面板的等级回馈给工作平台。
Description
技术领域
本发明主要涉及一种判断待测面板的方法及其系统，尤其是指一种利用判断伺服器自动判断待测面板等级的方法。
背景技术
习知技术之判断待测面板的方法，系利用操作员纪录待测面板的缺陷资讯，加以比对后，再给予待测面板一个等级，如待测面板系具有5个坏点(亮点或暗点)以内，给予待测面板系一A等级；品质较差的待测面板如具有5个坏点~10个坏点，则给予待测面板B等级(次一等级)，将生产好的面板依据面板的等级加以分类后，以便于出售。举例来说，A等级的面板多半卖给NB厂制作面板之用，价钱也较高；品质较差的面板，价钱较低，这些面板可以制作成一些对面板要求不那么高的电子产品。
先前技术对于待测面板的等级分类，可见于组立(Cell)制程的CT2测试及模组组装测试阶段，两个阶段的测试都系以人力纪录待测面板的缺陷资讯，根据这些缺陷资讯以一份对照表，以人力方式进行比对，比对出目前待测面板的等级，据此给予待测面板一个等级。
这种纯粹以人力作业的比对方式，其准确率易因操作员的精神状况不佳、精神集中度不够、突发噪音影响，造成的操作员分心，使得面板的等级分类不够确实。
发明内容
本发明之主要目的在于，提供一种判断待测面板的方法及其系统，其系以一判断伺服器判断待测面板的等级，解决习知技术可能发生的误判等级情况。
本发明之另一目的在于，提供一种判断待测面板的方法及其系统，其系可应用于CT2(检查站点)测试或模组组装测试，提升分类判断时的效率及准确性。
为了达到上述目的，本发明所采取的技术方案为，提供一种判断待测面板的方法及其系统，该系统系由判断伺服器及工作平台组成，本发明可应用于CT2测试、面板模组组装测试；判断伺服器与工作平台连接，判断伺服器内建复数面板等级，于工作平台输入每一定待测面板的缺陷资讯后，工作平台将缺陷资讯传递给判断伺服器后，由判断伺服器判断待测面板的等级，并将待测面板的等级回馈给工作平台；本发明系依照缺陷的项目数量与规格以判断伺服器判断待测面板的等级，可应用于ct2测试或模组组装测试，解决习知技术可能发生的操作员根据待测面板的缺陷资讯，比对面板等级时发生误判等级情况，且能提升面板分类时时的效率及准确性。
本发明的有益效果在于，提供一种判断待测面板的方法及其系统；其中，该系统系由判断伺服器及工作平台组成，本发明可应用于CT2测试、面板模组组装测试；判断伺服器与工作平台连接，判断伺服器内建複数面板等级，于工作平台输入待测面板的缺陷资讯后，工作平台将缺陷资讯传递给判断伺服器后，由判断伺服器判断待测面板的等级，并将待测面板的等级回馈给工作平台；以达到其解决习知技术可能发生的误判等级情况及提升分类判断时的效率及准确性的效果。
附图说明
图1为本发明之判断待测面板系统的示意图
图2为本发明之判断伺服器提供的表单之示意图
图3为本发明之一实施例之实施流程示意图
图4为本发明之判断伺服器提供F/I站的表单示意图
图5为本发明之另一实施例之实施流程示意图
图6为本发明之判断伺服器提供FV站的表单示意图
图7为本发明之判断伺服器提供FMA站的表单示意图
具体实施方式
为能详细说明本发明，请参照图1，首先说明本发明的判断待测面板的系统；本发明的判断待测面板的系统包括一判断伺服器12、一工作平台14，与判断伺服器12连接，工作平台14包括一输入装置18(键盘、鼠标)及一显示器16，可供操作员使用；判断伺服器12，内建有复数面板等级，判断伺服器12可内建的面板分类之等级不受限制，可根据需要进行调整，本实施方式系采用3种面板等级；
判断伺服器12所内建的资料，请同时参照图2，图示中所列举的各种面板于生产时可能发生的缺陷，如线缺陷、点缺陷、点距离、玻璃刮伤、偏光板刮伤、MURA测试结果、点状异物类聚集亮/暗点等等缺陷。
根据上面介绍的判断待测面板系统，以下继续说明本发明判断面板等级的一个实施方式，此判断待测面板的方法，请参照图3；首先进行步骤S12，输入一待测面板状态的缺陷资讯；输入待测面板状态的缺陷资讯系利用上面介绍的工作平台14进行者；请同时参照图4，图4系判断伺服器12所提供于显示器16上的FI表单；图4中的系包括线缺陷A、点缺陷B、偏光板C、Mura D、刮伤E等面板缺陷的主要问题，这些选项系一种下拉表单，每一个下拉表单内含许多详细的缺陷项目；
举例来说，线缺陷A的详细缺陷项目系为标号A’的项目、点缺陷B的详细缺陷项目系为标号B’的项目、偏光板C的详细缺陷项目系为标号C’的项目、Mura D的详细缺陷项目系为标号D’的项目、刮伤E的详细缺陷项目系为标号E’的项目。
当待测面板的缺陷资讯包括有亮线1条(位于S1这个位置)、MuraND8％不可见时，操作员以鼠标点到想要选择的缺陷项目位置后，再以键盘输入该缺陷项目的数量；填写完成后，进行步骤S14，由判断伺服器12根据所获得之缺陷资讯判断待测面板的面板等级；延续上面所提及之待测面板的缺陷资讯包括有亮线1条、Mura ND8％不可见时，判断伺服器12根据这些资料，因而给予待测面板一个R等级，并将待测面板的等级回馈至工作平台14；因此在图4中可以发现显示器16上系显示此待测面板系一R等级的面板，且附带纪录此面板的缺陷位置系于S1这个位置，及一个带状Mura。
以上介绍的实施方式系为本发明单纯应用在FI工作站时的情形；当本发明的同时应用于ct2测试及整个模组组装测试时，可对待测面板进行交叉比对，以排除许多人为输入错误的可能；请参照图5，进行步骤S22、步骤S24、及步骤S26，进入FI站，操作员于工作平台14利用输入装置18输入工作帐号后，工作平台14将工作帐号上传至判断伺服器12；
接着进行步骤S28，判断伺服器12判断工作帐号是否正确，如不正确，则回到步骤S22，重新输入工作帐号，如正确则进行步骤S30，操作员开始进行F/I测试；其中操作员在工作前(测试前)，会先确认目前待测面板与工作清单是否相符，如果不相符可以先更新相对应的程式后，再进行测试；
接着进行步骤S32及步骤S34，操作员于工作平台14上以输入装置18输入待测面板的缺陷资讯，并将由判断伺服器12进行判等；然后进行步骤S36，判断伺服器12会将判等候的结果，ct2测试的等级结果进行比对，如果比对结果相同则进行步骤S44，判断伺服器12判断面板的等级，并将结果回馈至工作平台14，接续进行步骤S46，继续下一片待测面板的测试；
如步骤S36的比对结果不同，则进行步骤S38，操作员重新确认待测面板的缺陷的数量，如果不需要重新确认缺陷的数量，则进行步骤S44，判断伺服器12判断面板的等级，并将结果回馈至工作平台14，接续进行步骤S46，继续下一片待测面板的测试；
如果步骤S38需要重新确认缺陷的数量，则进行步骤S40，确认缺陷的数量是否正确，如正确，则进行步骤S44，判断伺服器12判断面板的等级，并将结果回馈至工作平台14，接续进行步骤S46，继续下一片待测面板的测试；
如步骤S40，确认缺陷的数量不正确，则进行步骤S42，由操作员重新输输入缺点的数量，接续进行步骤S34，交由判断伺服器12判断面板的等级。
本发明之判断待测面板的系统上可应用在模组组装测试中的FV站、FMA站；判断待测面板可根据不同的测试站提供不同的表单供操作员使用，判断伺服器12提供之FV站、FMA站的表单可分别参照图6及图7所示。
本发明系以判断伺服器12判断待测面板的等级，可应用于ct2测试或模组组装测试，解决先前技术可能发生的操作员根据待测面板的缺陷资讯，比对面板等级时发生误判等级情况，且能提升面板分类时时的效率及准确性。
唯以上所述者，仅为本发明之较佳实施方式而已，并非用来限定本发明实施之范围。故即凡依本发明权利要求所述之形状、构造、特征及精神所为之均等变化或修饰，均应包括于本发明之权利要求中。
Claims (11)
1.一种判断待测面板的系统，其包括：一判断伺服器及一工作平台，其特征在于，该判断伺服器，内建复数面板等级；又，该工作平台，与该判断伺服器连接，于该工作平台输入每一定待测面板的缺陷资讯后，该工作平台将缺陷资讯传递给该判断伺服器后，由该判断伺服器判断该待测面板的等级，并将该待测面板的等级回馈给该工作平台。
2.根据权利要求1所述之判断待测面板的系统，其中，该待测面板的缺陷资讯包括线缺陷、点缺陷、点距离、玻璃刮伤、偏光板刮伤、MURA测试结果、点状异物类聚集亮/暗点。
3.根据权利要求1所述之判断待测面板的系统，其中，该判断伺服器可设定至少3种面板等级。
4.根据权利要求1所述之判断待测面板的方法，其中，该工作平台包括一显示器及一输入装置。
5.一种判断待测面板的方法，其特征在于，其包括下列步骤：
输入一待测面板状态的一缺陷资讯；以及根据该缺陷资讯判断该待测面板的面板等级。
6.根据权利要求5所述之判断待测面板的方法，其中，判断该待测面板的面板等级系利用一判断伺服器进行。
7.根据权利要求6所述之判断待测面板的方法，其中，该判断伺服器可设定至少3种面板等级。
8.根据权利要求5所述之判断待测面板的方法，其中，该缺陷资讯包括线缺陷、点缺陷、点距离、玻璃刮伤、偏光板刮伤、MURA测试结果、点状异物类聚集亮/暗点。
9.根据权利要求6所述之判断待测面板的方法，其中，当该判断伺服器判断该待测面板的面板等级后，该判断伺服器可将判断后的结果与组立制程中的测试结果进行比对，如比对二者结果皆相同，则进续对下一待测面板进行该比对，如比对二者结果不相同，则重新输入该待测面板状态的该缺陷资讯，根据该缺陷资讯判断该待测面板的面板等级。
10.根据权利要求9所述之判断待测面板的方法，其中，该比对包括面板等级是否相同，如面板等级不相同，重新确认该待测面板的缺点数量，如缺点数量相同则将由该判断伺服器判断该待测面板的等级，如缺点数量不相同，则重新输入该待测面板状态的该缺陷资讯，并根据该缺陷资讯判断该待测面板的面板等级。
11.如申请专利范围第5项所述之判断待测面板的方法，其中输入该待测面板状态的该缺陷资讯系利用一工作平台。
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Publications (1)
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2008
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