TWI364196B - Communication system for calibrate impairments in transmitting signal - Google Patents

Description

九、發明說明： 【發明所屬之技術領域】 • 本發明係關於一種通訊系統，特別係關於一種依據具有特定 頻率之單音訊號或是直流值與該單音訊號的組合來決定至少一目 標減損(impairment)校正參數以校正傳送訊號中訊號減損的通訊系 統及其相關方法。 【先前技術】 ® —般而言，對於產生傳送訊號的通訊系統(例如收發機 (transceiver))來說’當考慮到通訊系統的效能時需要考慮兩個重要 因素：載波洩漏(carrierleakage)以及同相與正交相位不平衡 (in-phase/quadrature-phase(I/Q) imbalance，以下簡稱為：iq 不平 衡）；其中，對於通訊系統來說，載波洩漏與IQ不平衡通常稱為 訊號減損。在理想的狀態下，訊號減損並不存在於通訊系統中， 然而，實際上，由於電子元件的非理想特性或是電子元件或電路 # 之間的不匹配，訊號減損的情況會經常發生於通訊系統中；舉例 來說，當天線端產生本地振盪再輻射(re-radiation)的情形時，並且 當執行升頻(up-convert)運作來產生傳送訊號時，由載波洩漏所造 成的直流偏移亦同樣會被升頻’所以一般不希望發生任何載波洩 漏所導致之直流偏移的情形。 此外，對於傳送模組的升頻運作而言，亦不希望發生IQ不平 •衡的現象。IQ不平衡包括增益不平衡與相位不平衡，其中增益不 平衡係指同相(in-phase)傳送路徑與正交相位(quadraturephase)傳 送路徑令訊號之增益的不匹配，相位不平衡係指同相傳送路徑與 •正交相位傳送路徑中載波訊號之相位的不匹配。具體來說，因為 並不祕證_傳送路減正交錄傳送路針喊之增益完全 相同’亦不能保證同相傳送路徑與正交相位傳送路徑中載波訊號 之相位完全正交’所明益不平衡與她不平衡_ 考慮到的。 ' 所以，當傳送模組於執行升頻運作時，減少上述訊號減損所 造成的影響便相《要1常來說，會使用不_校正參數來校 正傳送路独減少峨減損(脚載_漏與iq不平衡)所造成的 影響’以增進通訊系統的效能。因此，需要提出一種新賴且經改 良的機制來有效率地決定出這些校正參數。 【發明内容】 ^ 了解決社技_題，本發日供了用以校正傳送訊號中 载波賴或IQ斜_舰_及其相關方法。 本發月提供了種用以权正傳送訊號中之載波茂漏的通訊系 統包含載波訊號產生器、傳送模組、測試訊號產生器、 功率_早以及校正裝置。紐訊财Μ侧核 傳送路徑與第二載波訊號至第二傳送路徑。傳送模 I有第-傳送路徑與第二傳送路經，並用以依據輸入至第一傳 送路徑的單音職域、第—餘訊颇第二做峨產生傳送 訊號。測試峨產生於傳賴組，絲產生具有特定頻率 之單音測試訊號。功率偵測單元係用來偵測傳送訊號中與特定頻 率相關之訊號成分的功率以產生功率指示则^校正裝置係輕接 於傳送模組與轉_單元，來將至少—第—親載錢漏 校正參數利至該第-傳送路徑’以及依據對應於第-候選載波 及漏板正參數之第-功率指示職來決定第—傳送路徑之目標載 波洩漏校正參數。 本發明另提供了-種用以校正傳送峨巾之IQ不平衡的通訊 系統。通訊系統包含載波訊號產生器、傳送模板、測試訊號產生 器、功率_單元與校正裝置。載波峨產生器侧以產生第一 載波訊號至第-傳送職與帛二做峨至第二傳祕徑。傳送 模、、且係福接於載波訊號產生n，其具有第—傳送路徑與第二傳送 路徑，並用以依據輸入至第一傳送路徑之第一測試訊號、輸入至 第一傳送路彳f之第二測試訊號、第-載波訊號與第二載波訊號產 生傳送訊號。赋峨產生H係減於傳賴組，⑽依據直流 值與具有特定辭的單音訊號之組合產生第__職城與第二測 試訊號。功率偵測單元係耦接於傳送模組，並用以偵測傳送訊號 中與特定頻率相關之訊號成分的功率以產生功率指示訊號·。校正 裝置係耦接於傳送模組與功率偵測單元，並用來將至少一第一候 選不平衡校正參數運用至該傳送模組，以及依據對應於第一候選 不平衡板正參數之第一功率指示訊號來決定目標不平衡校正參數。 1364196 本發明提供了 哺正傳送喊巾之概朗的通訊方 法。通訊方法包含：產生第一載波訊號至第一傳送路徑以及第二 載波訊號至第二傳送路徑；提供具有第一傳送路徑與第二傳送路 徑之傳送模、组，以依據輸入至第一傳送路徑之單音測試訊號第 -載波訊號與第二載波訊號來產生傳送職；產生具有特定頻率 之單音職職：侧傳送訊號巾麟定鮮糊找號成分之 功率以產生功軸示訊號；以及將至少—第—候賴波茂漏校正 參數運用至第-傳送路徑’以及依㈣應於第—候賴波茂漏校 正> 數之第功率指示訊號來決定第一傳送路徑之目標載波泡漏 校正參數。 * 本發明另提供了-種肋校正傳送訊射之1(?不平衡的通訊 方法。通财法包含：產生第—載波纖至第—傳送路徑以及第 一載波訊號至第二傳送路徑；提供具有第一傳送路徑與第二傳送 路徑之傳送模组’以依據輸人至第—傳送職之第_測試訊號、 輸入至第—傳送路彳$之第二測試訊號、第—載波訊號與第二載波 訊號來產生傳魏號；依據直流值與具有特定鮮之單音訊號之 組合產生第一測試訊號與第二測試訊號；偵測傳送訊號中與特定 頻率相關之峨成分之功率以產生功率指示峨；以及將至少第 一候選不平衡校正參數運用至傳送模組並接著依據對應於第一候 選不平衡校正參數之第一功率指祕號來決定目標不平衡校正參 數0 9 却备ί發=提供之敎校正傳送喊漏或1(^平衡的通 域由U與單音戦職之組合來歧出至少-目標減 損校正錄(亦即目標紐賴校正她與目標斜衡校正參數） 以校正傳送訊射的峨減損(亦即載朗漏與iq科衡），以減 少訊號減損對軌祕造成的影響，增進了親祕的效能。 【實施方式】 —在說明書及後續的申請專利細當中使用了某麵彙來指稱 特疋的it件。所屬領域巾具有通常知識者應可理解製造商可能 會用不同的名詞來稱呼同樣的耕。本說明書及後續的申請專利 範圍並不以名稱的差異來作為區分元件的方式岐以元件在功 月b上的差異來作為區分的基準。在通篇朗書及後續的請求項當 中所提及的「包含」係為-開放式義語，故應解釋成「包含但 不限疋於」。另外’「轉接」—詞在此係包含任何直接及間接的電 氣連接手段。ϋ此，若文中描述—第—裝置減於—第二裝置， 則代表第-裝置可直接電氣連接於第二裝置，或通過其他裝置或 連接手段間接地電氣連接至第二裝置。 --明參-閱第.1-圖·’第1 —圖是本發明一實施例之通訊系統綱的 示意圖。如第1圖所示’通訊系統1〇〇包含載波訊號產生器1〇2、 傳送模組104、接收模組1〇6、測試訊號產生器108、功率偵測單 π 110及校正裝置112。載波訊號產生器1〇2係用來產生第一載波 1364196 訊號scl與第二載波訊號s。2，其中第一載波訊號Sci與第二載波訊 號S。2理想上係互為正交的；傳送模組具有第一傳送路徑p 與第二傳送路控Pt2’其依據輸入至第一傳送路徑pu或第二傳送路 徑Pt2之單音(single tone)測試訊號、輸入至混波器114之第一載波 訊號Scl、以及輸入至混波器116之第二載波訊號心2來產生傳送 訊號st以校正載波洩漏，傳送訊號St會經由天線115傳送。接收 模組106則具有天線125 ’用以接收傳送模組104所輸出之傳送訊 號St ’並使用混波器124與126來降頻轉換接收到的傳送訊號、。 在本實施例中’當校正載波洩漏時，測試訊號產生器1〇8會 採用單音測試訊號來設定測試訊號S㈣、Stest，的其中之一。舉例來 說，當校正第一傳送路徑Ptl中之直流偏移時，具有特定頻率的單 音測試訊號(亦即測試訊號Stest)被輸入至第一傳送路徑匕，測試訊 號Stest’為零；反之，當校正第二傳送路徑Ρβ之直流偏移時，單音 測試訊號(亦即測試訊號Stest’)被輸入至第二傳送路徑Pt2，測試訊 號Stest為零。另外，傳送模組1〇4更用來依據輸入至第一傳送路 徑Pt〗之測試訊號Stest、輸入至第二傳送路徑Ρβ之測試訊號8触，、 第載波訊號sc丨以及第一載波訊號Sc來產生傳送訊號以校正 IQ不平衡(亦即增益不平衡與相位不平衡）；在本實施例中，當校 正IQ不平衡時，測試訊號產生器108會採用直流值與單音測試訊 號的組合來設定測試訊號Stest、Stest，〇 功率偵測單元110偵測傳送訊號St中與該特定頻率相關之訊 11 (S ) 1364196 魏分的功執產±至少—第—功率指示訊號、與至少一第二功 率指不訊號sp，。當校正載波沒漏或是校正1(?不平衡時，校正裝 置112會於第一傳送路徑p"或於第二傳送路徑&中運用至少一 候選校正參數，並參考對應於候選校正參數的至少一第一功率指 不訊號Sp或至少一第二功率指示訊號Sp，來決定目標校正參數，其 詳細的說明將會於鑛描述。在此請注意到，於本實施例中，第 -傳送路徑ptl係為同相傳送路徑，第二傳送路徑Ρβ係為正交相 位傳达路校正裝置112係為触電路。如熟悉此項技藝者所 知，接收輪、組106本身包含有類比到數位轉換器(未顯示於第】圖 中）。因此，藉由接收模組106中之類比到數位轉換器的運作，校 正裝置112可以處理第一功率指示峨&或第二功率指示訊號％，。 對於校正載波茂漏所造成的直流偏移而言，於本實施例中第 一傳送路徑Ptl中之直流偏移校正程序與第二傳送路徑匕中之直 流偏移校正程序係分別進行。當校正第一傳猶徑&中之直流偏 移時’測試峨產生^ 1〇8會產生具有特定辭的單音測試訊號 至第傳送路控Ptl ’並且不產生任何訊號至第二傳送路徑。校 正農置112運用-第一候選載波韻校正參數至第一傳送路徑l 以试著校正第-傳送路徑Pti中的直流偏移。傳送模組ι〇4依據第 •^載波訊號scl、單音測試職(亦即測試訊料es〇.以及由第一候選—.. 載波沒漏校正參紐正目叙直流祕制私_餘直流偏移 值來產生傳送訊號St。傳送訊號&可以表示如下： 12 (S > 1364196 s. = [{DC, + cos(ffiBBt)} · G · cos(Wtot + ^ ew) + {DC2} · sin(roLOt - i · 6»^)] 等式(1) 其中DC i_caiibrated係指第一傳送路控ptl中使用第一候選載波沒漏校 正參數來校正直流偏移後所產生的殘餘直流偏移值，DQ係指第 二傳送路徑Pt2中的直流偏移；頻率ωΒΒ係為單音測試訊號的特定 頻率，頻率(〇LO係為第一載波訊號Scl與第二載波訊號Sc2的頻率。 在此假設單音測試訊號以cos(coBBt)來表示，第一載波訊號Scl係以 ® cos((〇L〇t)來表示’第二載波訊號S。2係以sin(〇)L〇t)來表示。增益值 G係用來表示第一傳送路徑ptl與第二傳送路徑Ρβ之間增益不平 衡的數值，而相位值0RF係用來表示第一傳送路徑pti與第二傳送 路徑Pt2之間相位不平衡的數值。 在接收傳送訊號St後，功率偵測單元no對傳送訊號&進行 平方’並接著對傳送訊號st的平方執行直流阻隔(DCblocking)運 • 作與低通濾波運作，以偵測傳送訊號St中與特定頻率ωΒΒ相關的 訊號成分，從而產生第一功率指示訊號Sp。理想上，在直流阻隔 運作與低通濾波運作後，傳送訊號St中應偵測不到任何與特定頻 率ωΒΒ相關的訊號成分，亦即，第一功率指示訊號Sp理想上應為 零；然而’實際上，功率偵測單元110所偵測到的弟一功率指示 訊號Sp並非為零，其係可由下列等式來表示：

Sp - (DC, -cos(roBBt) · G2 + (DC2) •sin(^RF)cos(roBBt) · G =cos(0BBt) · G · (DCl calibrated. 〇 + DC2 · sin^)) 13 c S ) 等式(2) - 因為等式(2)中訊號⑺咖的0與增益不平衡之數值G不可能為 零，所以最小化第-功率指示訊號Sp的唯一方法是分別運用:同 的第-候選載波汽漏校正參數來產生第一傳送路徑Pu中不同的殘 餘直流偏紐(紳DCl ealibrated)n生^； _f -解指示訊號 v校正裝置112接著自所產生的第-功率指示訊號Sp中搜尋°出 具有最小功率㈣特定第-神指示峨，並且將軸於該特定 第-功率指示訊號之特定第一候選載波线漏校正參數作為第一傳 e送路徑ptl的目標載波洩漏校正參數DCi 。 在決定出第-傳送路徑Ptl的目標載波浪漏校正參數DCl et 後’接著校正第二傳送路徑Pt2中的直流偏移。測試訊號產生器ϋ 會產生單音職峨至第二舰賴Pt2科是產生單音測試訊號 至第-傳送路徑ptI ’校正裝置i 12運用第一傳送路徑4之目標載 波f漏校正參數DC1_吨et㈤時更運用不同的第二候選载波茂漏校 正數至第二傳送路徑Pt2中。第二傳送路徑Pt2的校正程序係類 似於第-傳送路徑Ptl的校正程序。傳送模組1()4係依據第二載波 =號Se2輸人至第二傳魏徑&的單音職峨(卿測試訊號 ㈣’）、第一傳送路徑PtI的目標載波洩漏校正參數％ _、以及 第二顯載波賴校正參數來分 別產生不同的傳送峨$。同樣地，神制單元11G對每一個 傳运减St断平方’麵每—傳送罐&辭方執行直流阻隔 14 C S ) 1364196 運作與低通滤波運作以偵測出每一個傳送訊號、中與特定頻率 •、相_訊號成分，從而產生複數個第二神指示訊號^，。校 ‘正裝置m接著自所接收之第二功率指示訊號％，的集合中搜尋出 ，具有最小辨㈣特定第二功率絲訊號，.並且將職於特定第 二裤指科躺特定第二輯銳麟校正參數作為第二傳送 路丝Pg的目標載波或漏校正參數。由於校正第二傳送路獲^中 直流偏移的運作類似於前述校正第一傳送路徑^中直流偏移^運 φ 作，因此，為了省略篇幅起見，在此便不另贅述。 請參閱第2圖與第3圖，第2圖為本發明一實施例之校正藉 *第1圖所示之通訊系統中載波誠所導致之直流偏曰 程圖，而第3圓為第2圖之延續流程圖。校正載波沒漏所導致之L 直流偏移的步驟係如下所示： 步驟200 :通訊系統100開機，校正步驟開始。 #步驟202:測試訊號產生器1〇8產生具有特定頻率、之單音測試 訊號C〇S(〇)BBt)至第一傳送路#Pt丨，以及校正裝置ιΐ2 運用第一候選載波洩漏校正參數至第一傳送路徑h來 校正第一傳送路徑匕中的直流偏移。 步驟雾傳送模組104依據第一載波訊號SC1、.單音測試訊號 cos((〇BBt)、以及由第一候選載波洩漏校正參數校正目前 之直流偏移後所產生的殘餘直流偏移值來產生傳送訊 號St 〇 1364196 步驟206:功率偵測單元110對不同的傳送訊號&進行平方並 對其平方後的計算結果執行直流阻隔運作與低通濾波 運作以偵測傳送訊號St中與特定頻率ωΒΒ相關的訊號 成分，從而產生第一功率指示訊號Sp。 步驟208:校正裝置112確認於所接收之不同的第一功率指示訊號 集合中的目前的第一功率指示訊號8{)是否具有最小功 率值?若疋’則進行步驟21〇 ;反之’則進行步驟2〇2 來將另一個第一候選载波洩漏校正參數運用於第一傳 送路徑Ptl中。 步驟210 :校正裝置112將對應於目前之第一功率指示訊號&的 目前第一候選載波洩漏校正參數決定為第一傳送路徑 Pti的目標載波洩漏校正參數DC] _et。 步驟2i2:測試訊號產生器1〇8產生單音測試訊號c〇s((〇BBt)至第二 傳送路徑pt2，以及校正裝£ 112運用所決定之第一傳 送路徑Ptl &目標載波茂漏校正參數DC1Jarget至第-傳 达路控Ptl與第二候選載波茂漏校正參數至第二傳送路 徑Pt2以校正第二傳送路徑Pt2中的直流偏移。 步驟2Ϊ4 :傳送模，組104依據第二載波訊號^、輸入至第二傳送 路徑Pt2的單音測試訊號c_BBt)、運用於第-傳送路 徑Ptl的目標載波茂漏校正參數DCl target以及輸入至第 傳送路& Ptz的第二候選載波浪漏校正參數來產生傳 送訊號st。 γ驟216功率偵測翠疋110對不同的傳送訊號&進行平方並 16 C S ) 1364196 且對其平方後的計算結果執行直流阻隔運作與低通濾 波運作以摘測出傳送訊號St中與特定頻率_相關^ 訊说成分’從而產生第二功率指示訊號s，。 步驟⑽校正裝置112確斯接收之第二功率指示^號集合中的 目前的第二功率指示訊號、，是否具有最小功率值?若 是，則進行步驟220 ;反之，則進行步驟212來將另一 個第二候選載波茂漏校正參數運用於第二傳送路徑匕 中。 步驟220 :校^裝置112將對應於目前之第二功率指示訊號％，的 目前第二候選載朗驗正參數蚊絲二傳送路徑 Pt2的目標載波洩漏校正參數。 步驟222 :運用目前所決定出之第二傳送路徑pt2的目標載波茂漏 校正參數，並接著重複執行步驟2〇2〜21〇以再次校正 第一傳送路徑Ptl十的直流偏移。 步驟224 :結束。 如上所述，於步驟222中，重複執行步驟2〇2〜21〇以再次校 正第-傳送路徑PtI中的直流偏移係為了使其更精確 。因為在本實 施例中係先執行校正第一傳送路徑&中直流偏移的程序且第一 傳送路徑Ptl的目標載波茂漏校正參數呢却係與等式⑺中第二 傳达路么Pt2之直流偏移dc2有關。相似地亦可藉由重複步驟 220來再乂&正第二傳送路徑&中的直流偏移。另外，重複 校正第-傳送路徑Ptl與第二傳送额&中直越移的次數可依 來加以設定。需要注意的是，重複校正第-傳 运路U或第二傳送路徑Pt2的直流偏移係為可選(叩―步 Γ=非本發明的限制。換言之，不需上述的重複校正程 ^使用步驟⑽與步雜中所物的目標峨漏校正參 數亦可達到校正第-傳送路徑Ptl、第二傳送路徑Pt2之直流偏移的 目的。再者，林實_中，亦可先執行校正第二傳送路彳瑪之 直流偏移的程序’而此一設計變化亦符合本發明的精神。請注意 到:任何極值搜尋機㈣可絲找出具有最小功率值的特定功率 “不訊號第2圖與第3圖中所示之極值搜尋機制僅係用來說明 本發明的-種可行實施方式。舉絲說，在魏實_中校正 裝置112可連續地輸出複數個載波茂漏校正參數，並從功率_ 單το 110得到複數個相對應的功率指示訊號。接著，校正裝置ιΐ2 可利用所收集之功率指示訊號的資訊開始搜尋所需的目標載波茂 漏校正參數。 至於校正第一傳送路徑Pti與第二傳送路徑pt2的增益不平 衡，測試訊號產生器108分別產生測試訊號\故至第一傳送路徑 ptl及測試訊號stest’至第二傳送路徑Pt2，其中測試訊號Stest、 係分別為一直流值與具有一特定頻率之一單音測試訊號的組合。 測試訊號stest、- Stest’可用下列等式表示之.： 等式(3)

Stest = a + ^cos(0BBt), StKt-= « - ^〇5(ωΒΒι) 1364196 在等式(3)中，參數α係表示直流值，且pcos(coBBt)則係表示單 音測試訊號。校正裝置112運用第一候選增益不平衡校正參數至 傳送模組104中，傳送模組104則依據測試訊號Stes# Stest，、第 一載波訊號Scl、第二載波訊號Sc2與第一候選增益不平衡校正參 數校正後之增益值來產生傳送訊號St至功率偵測單元11〇。功率 偵測單元110對傳送訊號St進行平方，並對平方後的傳送訊號& 的結果執行直流阻隔運作與低通濾波運作以產生第一功率指示訊 號Sp。傳送訊號$與第一功率指示訊號~可分別表示如下： 十 (1+ ~Ca2brated) · ί* - ^〇5(ωΒΒ1) + DC2 }· sin(WLOt + 等式(句 sp =(1-今叫如+dc,)·如。s(&w)[⑴ + 如+DC2)[細κΛ+) + (卜 伽(〜)(2« + DC,+DC2).々cosKBt) in~^)2；((rDC，)'^〇SKBt)} + ^^)M(« + DC2).[^cosKBt)]}] ' (a + DC，^C〇S(C〇BBt)} + (1 + AG^d) {(« + DC2).[-y?c〇s(WBBt)]}] 1,'Γ B 1( AG^J (a+DC*^ -(2) · ^cos(MBBt) · {DC, - DC2 - AGcalibrated(2a + DC, + DC2)} 等式(5) 於等式(4)、（5)中，係表示第一傳送路徑h與第二 傳送路徑p。之間校正增益不平衡的數值，DCi與Dc2分別表示第 -傳送路徑Ptl與第二傳送路徑Pt2中直流偏移的數值。在等式⑷ 中，由於僅校正增益斜衡，為使等式(蚁為精確，仍需考慮到 1364196 直流偏移與相位不平衡所造成的影響。在等式(5)中由於 - 足夠小，所以與sin(eRF)有關的訊號成分則可被減少， (l-AGcalibrated/2)2亦可被近似為(MGca^ed)。因此，最後僅剩下與 (DCrDQ-AGcalibratedPa+DQ+DC2))相關的訊號成分存在於等式(5) 中。理想上，根據等式(5)的結果’第—功率指示訊號Sp應為零， 然而’實際上，第-傳送路徑Pt】與第二傳送路徑&中的直流偏 移DCl與DQ以及校正後之增益不平衡的數值並非為 _ 零。此將導致第一功率指示訊號Sp的值並不等於零。校正裝置η〗 將會運用不同的第一候選增益不平衡校正參數於傳送模組1〇4令 以產生不同的傳送訊號St。功率偵測單元11〇會依據不同的傳送 訊號st來產生不同的第一功率指示訊號Sp至接收模組1〇6。校正 裝置112經由接收模組106來接收不同的第一功率指示訊號 並由所接收之第一功率指示訊號的集合中找出具有最小功率值的 特定第一功率指示訊號，以依據特定第一功率指示訊號所對應之 特疋第一候選增益不平衡校正參數來決定出目標增益不平衡校正 籲參數’目標增益不平衡校正參數係記錄為增益值。 在決定出增益值Gta^et之後，測試訊號產生器1〇8更新輸入至 第一傳送路徑pti的測試訊號Stest及輸入至第二傳送路徑的測試 訊號Stest，更新後的測試訊號stest、§test’仍係為直流值α.與且有特 定頻率ωΒΒ之單音測試訊號的組合。此時測試訊號& t 與Stest可分別表示如下： 20 C S 5 1364196 等式(6) δ.«. = ~α + ^ο$(ωΒΒί), S^, '= -α - ^cos(WBBt) 校正裴置112會運用不同的第二候選增益不平衡校正參數於 傳送模組104中。傳送模組1〇4會依據第一載波訊號Sci、第二載 波訊號Sc2、更新後之測試訊號Stest與Stest，、以及不同的第二候選 增益不平衡校正參數來產生不同的傳送訊號st。功率偵測單元11〇 依據不同的傳送訊號st來產生不同的第二功率指示訊號v至接收 模組106。校正裝置112藉由接收模組1〇6接收不同的第二功率指 示訊號v，並自不同的第二功率指示訊號Sp，中找出具有最小^ 率值之特定第二功率指示訊號，以依據對應於特定第二功率指示 訊號之特定第二候選增益不平衡校正參數來決定目標增益不^衡 校正參數，此目標增益不平衡校正參數記錄為另一個增益值 ^’。因為獲得目標增益不平衡校正參數、，的程序類似於獲 得目心增益不平衡权正參數G_t的程序，為了避免說明書過於冗 長，所以詳細的說明將不另贅述。 在等式(5)t，由於α的數值係遠大於第一傳送路徑&二 =㈣中直流偏移的總和’故等式(5)的結果可近似表達為:

SP = (ΐ) · ^〇8(ωΒΒί) - {DC, - DC, - AG calibrated X 2a} 等式(7) 不平衡時的理想最小值；同 其中DC广DC:的數值係為當校正增益 21 1364196 樣地，第二功率指示訊號Sp，亦可以表示為：

Sp (2) ^cos(a)BBt) {DCI-DC2+AGcalibratedx2«} 等式⑻ 因為第一功率指示訊號、與第二功率指示訊號sp，的差異僅 在於數值的正負符號不同，所以校正裝置112可計 算出增益值G_與G吨et，的平均值來作為較佳的目標增益不平衡 •校^參數。因此’在獲得增益值G‘之後，校正褒置m會計算 特疋第-候選增益不平衡校正參數(亦即增益值與特定第二 候選增益斜舰正參數(亦即增益㈣㈣，)的平均值來作為最後 的目標增益不平衡校正參數。然而，僅使用增益值^或^， 作為最後的目標增益不平衡校正參數亦可達到校正增益不平衡的 效果。此亦符合本發明的精神。 對於校正第-傳送路徑&與第二傳送路徑^之間的相位不 •平衡來說，測試訊號產生器1〇8產生測試訊號Stest至第一傳送路 徑Ptl並產生另一測試訊號Sfcst，至第二傳送路徑PC，其中剛試訊號 Stest與Stest’係分別為直流值α與具有特定頻率_的單音剛試序 Pcos(〇)BBt)兩者中之一者。測試訊號s㈣與w可分別表示如下:’ S.es,=«, Stest'=^C〇s(WBBt) 等式(9) 杈正裝置1 12施加第一候選相位不平衡校正參數至傳送模組 22 1364196 104 ’且傳送模組104依據測試訊號Stest與，、第一載波訊號Sci、 第一載波訊號S。2及第一候選相位不平衡校正參數校正後之已校 正相位值來產生傳送訊號st至功率偵測單元110〇功率偵測單元 110會對傳送訊號St進行平方以偵測傳送訊號St的功率準位，並 對傳送訊號st平方後的結果執行直流阻隔運作與低通濾波運作以 產生第一功率指示訊號sp。傳送訊號8(與第一功率指示訊號、可 表示為：

St = ^ + DcJ.AG.cos(Wwt+i-V^)4^BBt) + DC }.sin(«wt4 ^ 2 等式(10)

Sp =^ DC2 coaoBBt+(a + DCI) (^cosWBBt) AG (i).sin(0RF ,.) = ^C2+(a + DC1).AG-(i)-sin(0RF_caJibratei)}.iff.c〇sc〇BBt — “ 等式(11) 於等式(10)、（11)中，0RF_calibrated係表示第一傳送路徑pti與第 —傳送路控Pt2之間的校正後相位不平衡的數值，數值DC〗與DC2 分別是第一傳送路徑PtI與第二傳送路徑Pt2中直流偏移的數值。 在等式(10)中，為使等式(10)能夠更精確，仍需考慮到直流偏移與 增益不平衡值的影響。理想上，根據等式(11)的結果，第-功率指 示訊號Sp應為零；然而，實際上，第一傳送路徑&與第二傳送路 匕Ρβ中之直流偏移DC,與DC2、增益不平衡值以及校正後的 相位不平衡值❷心哪獅皆不為零，此將造成第一功率指示訊號 Sp不等於零。校正裝置112會將不同的第一候選相位不平衡校正 23 1364196 =號V，並自不同之第二功率指示訊號以找出具有 率值之特定第二功率指示訊號，以依據對應於特定第二功抑_ .訊號之特定第二候_位不平衡校正參數來蚊目標相位不= 权正參數’此_目標她不平鍵正參紐記錄為相位值 W。因為獲得目標相位不平衡校正參數0吻，的程序類似於獲得 目標相位不平衡校正參數0娜的程序，為了避免說明書過於冗 長，所以詳細說明將不另贅述。 在等式(11)中，由於直流值α遠大於直流偏移DCi，所 (11)的結果可近似表示為： 等式(13) |DC2 +a AG · (j) sin^ )|. β. cosa)BBt 其中數值DC,係為校正相位不平衡時的理想最小值；相似地，第 一功率指示訊號Sp’亦可表示為： 等式(14) |〇C2 a ^ (D-sin^ c〇Sft)^t 因為第-解指τκ峨功耗示喊Sp，之間的差 異僅在於c^4Gx(l/2)Xs峨心娜_)數值的尾負符號不同所以校 正裝置112 了„十舁出相位值0ta^與㊀―，的平均值以作為較佳的 目標相位不平衡校正參數。因此，在歧出她值θ_，之後，校 正裝置112計算特定第一候選相位不平衡校正參數(亦即相位值

25 C S 1364196 D與特定第二候選相位不平衡校正參數(亦即相位值θ_，)的 平均值以作為最後的目標她不平衡校正參數。細，僅運用相 -位值、et或Θ吨et’來進行相位校正亦可達到校正相位不平衡的效 .果’此亦符合本發明的精神。 請參閱第4圖至第7圖，第4圖是本發明一實施例之校正通 訊系統100 + IQ不平衡(包含有增益不平衡與她不平衡)的流程 ⑩圖’第5圖為第4圖之後的延續流程圖，第6圖為第5圖之後的 延續流程圖’第7 _第6圖之後的延續流程圖。校正IQ不平衡 的步驟係說明如下： 步驟400 :通訊系統1〇〇開機，校正步驟開始。 步驟402 :測試訊號產生器108產生測試訊號8邮至第一傳送路徑 pti以及產生測試訊號stest’至第二傳送路徑Pt2;其中測 試訊號Stest係等於α+β(^(ωΒΒί)，且測試訊號m 春 於a—Pcos^BBt) ’校正裝置112更將第一候選增益不平 衡校正參數運用至傳送模組104中。 步驟404 :傳送模組104依據測試訊號stes^ Stest，、第一載波訊號 Scl、第二载波訊號Sc以及第一候選增益不平衡校正參 數校正後的校正後增益值來產生傳送訊號St。 步騍406 :功率偵測單元110對傳送訊號St進行平方，並對傳送 訊號St平方後的結果執行直流阻隔運作與低通濾波運 作以產生第一功率指示訊號Sp至接收模組1〇6 ;校正 26 (S ) 1364196 裝置112經由接收模組1〇6來接收第一功率指示訊號

V 步驟4〇8:校絲置m確認於第—鱗指示訊聽合中的目前的 第-功率指示訊號Sp是否具有最小功率值?若是，則進 行步驟410 ;反之，則進行步驟4〇2來將另一個第一候 選增益不平衡校正參數S帛於傳送模組1⑽中。 步驟柳校正裝置112將對應於特定第—功率指示訊號的特定第 -候選增料平徽正參數蚊為目標料不平衡校 正參數Gta^et。 步驟412:測試訊號產生器108更新輸入至第一傳送路徑p"的測 試訊號stest與輸入至第二傳送路徑Pt2的測試訊號 Stest’ ’其中更新後的測試訊號&故係等 於-a+pcos(a>BBt) ’更新後的測試訊號^，係等 於-a-pC〇S(〇)BBt);校正裝置112運用第二候選增益不平 衡校正參數至傳送模組1〇4十。 步驟414 :傳送模組1〇4依據測試訊號8咖與s㈣，、第—載波訊號

Scl、第二載波訊號S。2與第二候選增益不平衡校正參數 校正後的校正後增益值來產生傳送訊號st。 步驟416 :功率偵測單元110對傳送訊號&進行平方，並對傳送 訊號St平方後的結果執行直流阻隔運作與低通濾波運 作來產生第二功率指示訊號sp，至接收模組106，校正 裝置112經由接收模組ι06接收第二功率指示訊號Sp，。 步驟418:校正裝置112確認第二功率指示訊號集合中的目前的特 27 ^ S ) 1364196 定第二功率細訊號Sp，是否具有㈤神值?若是， 一進行乂驟420，反之，則進行步驟412來將另一個第 候k增现不平齡參數運用於傳送模組1⑽中。 步驟420··校正裝置112將對應於特定第：功輪訊號的特定第 -候選增益不平織正參触定為另—目標增益不平 衡校正參數（}_/。 步驟422··校正裝置⑴計算特定第一候選增益不平衡校正參數(亦 即目標增益不平衡校正參數G_t)與特定第二候選增 益不平衡校正參數(亦即目標增益不平衡校正參數 G^’)的平均值來作為最後的目標增益不平衡校正參 數。 步驟424 ·•測試訊號產生器⑽產生測試訊號sd第一傳送路徑 ptl以及產生測試訊號stest，至第二傳送路徑pt2，其中測 試訊號Stest係為直流值α，而測試訊號民⑶，係為單音測 試訊號pC〇S(〇)BBt);校正裝置112運用第一候選相位不 平衡校正參數於傳送模組1〇4中。 步驟426 :傳送模組1〇4依據第一測試訊號Stest、第二測試訊號 Stest’、第一載波訊號Scl、第二載波訊號sc2以及第一候 選相位不平衡校正參數校正後之校正後相位值來產生 傳送訊號St。 步驟428 :功率偵測單元110對傳送訊號St進行平方，並對傳送 訊號St平方後的結果軌行直流阻隔運作與低通濾波運 作以產生第一功率指示訊號Sp至接收模組1〇6 ;校正 28 1364196 裝置H2經由接收模組106接收第一功率指示訊號心 步驟430:校正裝置112確認第—功率指示訊號集合㈣目前的特 定第-功率指示訊號Sp是否具有最小功率值?若是則 進行步驟432 ;反之，則進行步驟424來將另一個第一 候選相位不平衡校正參數運用於傳送模組1〇4中。 步驟432.校正裝置112將對應於特定第—辨指示訊號的特定第 候選相位不平衡校正參數決定為目標相位不平衡校 正參數。 步驟434 :測試訊號產生器108更新輸入至第一傳送路徑匕的測 試訊號Stest與輸入至第二傳送路徑pt2的測試訊號 Stest ’其中更新後之測試訊號Stest係為直流值^，更新 後之測试訊號Stest係為單音測試訊號;校正 裝置112運用第一候選相位不平衡校正參數於傳送模 組 104。 步驟436 :傳送模組1〇4依據測試訊號\故與、第一载波訊號 Sci、第一載波訊號S。2以及第二候選相位不平衡校正參 數校正後的校正後相位值來產生傳送訊號St。 步驟438 :功率偵測單元110對傳送訊號&進行平方，並對傳送 訊號St平方後的結果執行直流阻隔運作與低通遽波運 作以產生第二功率指示訊號Sp’至接收模組1〇6 ;校正 裝置112經由接收模組106來接收第二功率指示訊號 V。 步驟440:校正裝置112確認第二功率指示訊號集合中的目前的特 29 定第二功率指示訊號V是否具有最小功率值?若是， 則進行步驟442 ;反之，則進行步驟434來將另—個 .二候選相位不平衡校正參數運用於傳送模組1〇4_。 '帮442.板正裝置112將對應於特定第二功率指示訊號的特定第 二候選她不平衡校正參數蚊私—個目標相 平衡校正參數etaiget，。 步驟444.校正裝置112計算特定第一候選相位不平衡校正參數(亦 即目標她科峨正參數θ_)與狀第二候選相、 位不平衡校正參數(亦即目標相位不平衡校正參數 θ‘)的平均值以作為最後的目標她不平衡校 數。 步驟446 :結束。 行^^、Ϊ、%频在巾係於校正IQ科衡_序之前執 ’然而’校正IQ不平衡的程序亦可在校正 、/二:’ ^序之前先行執行。相_，在本實施射，校正增 衡的程序係於校正相位不平衡的程序之前先執行，然亦可 ?、、於執㈣UE增益;j；平衡触序讀絲行校正相位不平衡 的程序。在另-實施例中，亦可分開運陳正載料漏與校正扣 不^的程序其中之―，亦即，本發日_微於_統開機 之^^雜订上述所揭露之校正載波麟與校正》不平衡的所 $私序另外，上述所提到之單音測試訊號與測試訊號的定義係 僅用於說明本發明之’㈣时作為本發_限制條件。 再者，任何極·尋機财可用來搜尋出上 ^定功率指示訊號，㈣至_中所示之極值搜尋機制 糸用來_本發明的運作。舉例來說，校正裝置n2可連續 地輸出複數個IQ不平衡校正參數並由功率偵測單元⑽獲得複數 個相對應的功率指千^ ⑼力和曰不訊號。接著，校正裝置112藉由所接收之不 =功率指示峨师訊來開始搜尋的IQ不平衡校正參數。 =立任何物辑-功率指錢號Sp或第二功率指雜號ν 之功率準⑽方法料翻於本發明。 圍所^上所祕為本㈣之較佳實_，凡縣發0种請專利範 之均等變化與修飾’皆應屬本發明之涵蓋範圍。 【圖式簡單說明】 第1圖為本發明-實關之軌系統的示意圖。 第2圖為本發明—實施例之校正—通訊系統中由載波触所導致 之直流偏移的流程圖。 圖為第2 ®巾校正通訊㈣巾直流偏移的 。 第4圖為本㈣—加H糾州Q不平衡(包括有 增益不平衡與相位不平衡)的流程圖。 圖為第4財松正通訊系統中⑽不平躺延續流程圖。 =為第5圖中校正通訊系統中IQ科衡峡續流程圖。 •為第6圖中校正通訊系統中⑹不平衡的延續流程圖。 31 1364196 【主要元件符號說明】 100 通訊系統 102 載波訊號產生器 104 傳送模組 106 接收模組 108 測試訊號產生器 110 功率偵測單元 112 校正裝置 114 、 116 、 混波器 124 、 126 115 ' 125 天線

Claims (1)

1364196 十、申請專利範圍： -種用以校正-傳送訊號中之—载波㈣之通訊系統該通訊 系統包含： -載波訊號產生器，用來產生—第—載波訊號至—第一傳送路 徑以及一第二載波訊號至一第二傳送路徑；

傳送模、、且輕接於該載波訊號產生器，該傳送模組具有該第 一傳送路徑與該第二傳送路後，用以依據輸入至該第一傳 送路控之-單音測試訊號、該第_載波訊號、與 波訊號產生該傳送訊號； 、 一測試訊號產生11，耦接於該傳送模組，用來產生具有一特定 頻率之該單音測試訊號； -功率偵測單元’耦接於該傳送模組，用來偵測該傳送訊號中 與該特定頻率相關之訊號成分之功率以產生-功率指示 訊號；以及 漏校正參數 一校正裝置’耦接於該傳賴_該轉侧單元用來將至 少—第-候選載波Λ漏校正參數運用至該第一傳送路 以及依據對應於該第-候選載錢漏校正參數之一第 一功率指示訊號來決定該第_傳送路徑之一目標載波泡 載波 如申請專概_丨項所述之用以校正—傳送峨中之一 其中雜細賴數瓣—候選載波 該神仙單7〇係產生分賴應於該等第一候 33 2. 1364196 選載波茂漏校正參數之複數個第一功率指示訊號，以及該校正 裝置更決定料第-鱗指示訊號中具有—神極值之一特 定第-功率指示訊號，並決定對應於該特定第一功率指示訊號 之-特定第-候選紐茂漏校正參數，以作為該第—傳送路徑 之該目標載波洩漏校正參數。 3·如申4專利細第β所述之狀校正—傳送訊號巾之一載波 Α篇之通訊系，統其中在決定出該第—傳送路徑之該目標載波 A漏校正參數後’該峨訊號產U產生該單音測試訊號至該 第二傳送路徑，該傳送模組依據輸入至該第二傳送路徑之該單 音測試峨、該第-魏峨_第二做訊絲產生該傳送 訊號，以及雜轉置運賴第—傳送職之該目標載波茂漏 权正參數、運用至少—第二候選載波茂漏校正參數至該第二傳 送路徑並接著參考對應於該第二候選載波誠校正參數之一 第二功率指觀絲財該第二傳魏歡—目標載 妨it東勃。 4.如申請專繼圍第3項所述之肋校正—傳送峨中之一載波 為漏之通訊系，.先’其中在決定出該第二傳送路徑之該目標载波 ==正參數後’該測試訊號產生器產生該單音測試 第一傳送雜，_雜__人㈣第-傳祕徑之令單 音測试滅、該第-魏訊號_第二紐訊 訊號，以及雜正錢_料二傳送雜之該目標載波= c S 34 丄364196 校正參數來代替該第-傳送路徑之該目標載波汽漏校正參 數、運用至少-第三候選載波茂漏校正參數至該第一傳送路徑 並接著參考對應於該第三候選載波洩漏校正參數之一第三功 率指示訊號來決定該第-傳送路徑之一已校正目標載錢漏 校正參數。 5. -種用以校正-傳送訊射之—_與正交她斜衡之通訊 系統’該通訊系統包含： 一載波訊號產生器，用以產生—第—載波訊號至—第一傳送路 徑以及一第二載波訊號至一第二傳送路徑； -傳送模組，_於職波訊财生器，該傳賴組具有該第 傳送路控與該第二傳送路徑，用以依據輸入至該第一傳 送路徑之一第一測試訊號、輸入至該第二傳送路徑之一第 二測試訊號、該第-載波訊號與該第二載波訊號產生該傳 送訊號； 一測試訊_生器’搞接於該傳送模組，用以依據—直流值與 具有一特定鮮之-單音訊號之組合產生該第一測試訊 號與該第二測試訊號； -功率偵解元’耦接於轉賴組，肋侧鱗送訊號中 與該特疋頻率相關之訊號成分之破率以產.生。功率指示 訊號；以及 心正褒置，減於轉送敝與該功率_單元，用以運用 至少一第-候選不平衡校正參數至該傳送模組以及依據 35 1364196 候選拜衡校正參數之—第—功率指示訊 遽來決疋該目標不平衡校正參數。 與11=:==:正-之，相 -候選不平錢’射該校正裝置運賴數個第 等第㈣二功率债測單元係產生分別對應於該 敏正參數之複數個第—功率指示訊號，以及 5二、決疋該等第一功率指示訊號中具有-功率極值 之-特定第-功耗示訊號，並依據對應於 =7—喻條爾吻該目= =申請專利贿6項所述之用以校正—傳送訊號中之一同相 ，、正父相解平衡之軌系統，其巾剌試 該直流值無科峨之組合生—第三觀訊據 四測试訊虓，並輸出該第三測試訊號與該第四測試 Ζ組；以及在該測試訊號產生器輸出該第三測試訊號而= 以第測4訊獻該第一傳送路徑並輸出該第四測試訊號而 不是該第二戦訊鼓糾二魏輕之後，該料模 依據該第三繼訊號、該如測試訊號、該第 第二載波訊號來產生該傳送訊號，且該校正裝置運用複數^固^ -候選不平衡校正她，該功率侧單元產生分卿應於 第二候選不平衡校正參數之複數個第二轉絲訊號且該户 C S ) 36 正裝置更決定該等第二功率指示訊號中具有-功率極值之一 特疋第二功率指示訊號並依據該特定第一候選不平衡校正參 .數與對應於該特定第二功率指示訊號之-特定第二候選不平 衡校正參數來決定該目標不平衡校正參數。 8.如申請專利細第7項所述之用讀正—傳送訊號中之一同相 與正交相位不平衡m统，其巾該校正裝置計算該特定第 • —候選不平衡校正參數與該特定第二候選不平衡校正參數之 一平均值來作為該目標不平衡校正參數。 9.如巾請專利範圍第5項所述之用以校正—傳送訊號中之一同相 與正交她*平衡m統，其巾酬試訊财生器更依據 該直流值無單音峨之組合來赵—第三峨訊號愈一第 四測試訊號’並輸出該第三職訊號與該細測試訊號至該傳 賴組；峨在賴產生_如該帛三概減而不是 ♦ 該第-賴峨至該第—魏路徑並輸出該第_試訊號而 不是該第二測試訊號至該第二傳魏徑之後，該傳賴組接著 依據該第三職峨、該第_試峨、該第 第二載波訊號來產生該傳送訊號；該校正裝置運用至少一^ 候選不平衡校正參數至該傳送模組並接著參考該第一功率指 示訊號與對應於該第二㈣不平衡校正參數之—第二功率^ 示訊號來決定該目標不平衡校正參數。 θ 37 U64196 1〇.HW概㈣9項所述之用峨正—傳送訊號中之一同 札、正交她不平衡之軌,魏，料 _砰_轉數與該紅候選不平衡校 值來作為該目標不平衡校正參數。 11. 一種肋校正-傳送訊號中之—紐_之通訊方法該通訊 方法包含： • •產生一第一載波訊號至一第一傳送路徑以及-第二載波訊號 至一第二傳送路徑； 提供具有鄕-傳送麵無第二傳送路徑之—傳送模組並 伽轉賴組綠據輸人^該帛—舰雜之一單音 職峨、該第_載波峨、無第二做峨產生該傳 送訊號； 產生具有一特定頻率之該單音測試訊號； 偵測該傳送訊號中與該特定頻率相關之訊號成分之功率以產 ® 生-功率指示訊號；以及 將至少一第一候選載波洩漏校正參數運用至該第一傳送路 徑，以及依據對應於該第一候選載波洩漏校正參數之一第 一功率指示訊號來決定該第一傳送路徑之一目標載波洩 一......漏校正參數。 . — 12.如申請專利範圍第11項所述之用以校正一傳送訊號中之一載 波洩漏之通訊方法，更包含： 38 1^04196 運用複數個第-㈣載波_校正錄，產生分麟應於該等 第候選載波沒漏校正參數之複數個第一功率指示訊號. 決疋該等第-功率指示訊號中具有—功率極值之_特定第一 功率指示訊號；以及 決定對應於雜定第—功耗示訊狀—做第_候選载波 洩漏校正參數，以作為該第一傳送路徑之該目標載波洩漏 校正參數。 13.如申請專利範圍第u項所述之用以校正—傳送訊號中之 波洩漏之通訊方法，更包含： 在決定出該第—傳送雜之該目標舰触校正參數之後產 生該單音測試訊號至該第二傳送路徑； 使用該傳雖組贿聽人至該第二傳送路狀該單音測試 訊號、該第-載波訊號與該第二载波訊號產生該傳送訊 號；以及 運用該第-傳送路徑之該目標載波沒漏校正參數與至少一第 ^候選載軸驗正參數至該第二傳送路徑，並依據對應 ^該第二候選載朗漏校正參數之一第二功率指示訊號 '、、、疋該第—傳送雜之—目標載錢漏校正參數。 恤—舰贈之一載 波/¾漏之通讯方法，更包含： 、ΆΛ f —傳祕技之該目標载㈣職正參數之後 39 該單音測試訊號至該第一傳送路徑； 使用該，送；^組以依據輸人至該第—傳送路徑之該單音測試 訊號、該第-載波訊號與郷二載波訊號產生該傳送訊 號； β 運用該第二傳送路徑之該目標毅_校正參數，而不是運用 該第傳送路徑之該目標載波浪漏校正參數；以及 運用至少-第三候選載波茂漏校正參數至該第一傳送路徑並 接著依據對應於該第三候選載波洩漏校正參數之一第三 功率心示訊號來決定該第一傳送路徑之一已校正目標載 波洩漏校正參數。 15. 一種肋校正一傳送訊號中之一同相與正交相位不平衡之通 訊方法，該通訊方法包含： 產生一第一載波訊號至一第一傳送路徑以及一第二載波訊號 至一第二傳送路徑； 提供具有該第一傳送路徑與該第二傳送路徑之一傳送模組以 依據輸入至該第一傳送路徑之一第一測試訊號、輸入至該 第二傳送路徑之一第二測試訊號、該第一載波訊號、與該 第二載波訊號產生該傳送訊號； 依據一直流值與具有一特定頻率之一單音訊號之組合產生該 第一測試訊號與該第二測試訊號； 偵測該傳送訊號中與該特定頻率相關之訊號成分之功率以產 生一功率指示訊號；以及 :第候選不平衡校正參數運用至該傳送模組，並接著 -對應於該第-候選不平衡校正參數之—第一功率指 不訊號來決定該目標不平衡校正參數。 之一同 =·如申請專利範圍第15項所述之_正—傳送訊號中 相與正父她不平衡之通訊方法，更包含： 運用複數轉-觸不平衡校正參數； 產生分卿應於第—候選不平衡校正參數之複數個第一 功率指示訊號； 決定該等第—解指示職中具有-辨嫌之-特定第-功率指示訊號；以及 依據對應機狀第-轉細職之—蚊第—候選不平 衡校正參數來歧該目财平衡校正參數。 17.如申請專利範圍第16項所述之用以校正-傳送訊號中之-同 相與正交相位不平衡之通訊方法，更包含·· 依據該直流值與該單音峨之組合來產生—第三職訊號與 α 一第四測試訊號’並輸出該第三測試訊號與該第四測試訊 號至該傳送模組； 在輪出料三測試訊號科是該第—測試訊號至該第一傳送. 路徑以及輸出該第_試峨科是該第二戦訊號至 U第傳送路裎之後，使用該傳送模組以依據該第三測試 訊號、該第四測試訊號、該第一載波訊號與該第二載波訊 號產生該傳送訊號； 運用f數個第一候選不平衡校正參數並產生分別對應於該等 $二健斜織正參數之複數轉二功耗示訊號； ’決定該等第二功率指示訊號中具有-功率極值之一特定第二 功率指示訊號；以及 依據該特定第-候選不平衡校正參數與對應於該特定第二功 率♦曰不訊號之-特定第二候選不平衡校正參數來決定該 •目標不平衡校正參數。 18.如申請專利範圍第17項所述之用以校正一傳送訊號中之一同 她正交她科衡之通訊方法，其巾权該目標不平衡校正 參數之步驟包含： 計算該特定第—候選不平衡校正參數與該特定第二候選不平 衡校正參數之-平均值以作為該目標不平衡校正參數。 •仪如申山請專利範圍第15項所述之用以校正一傳送訊號中之一同 相與正父相位不平衡之通訊方法，更包含： 依據該直流健料音峨德合來產生—帛,試訊號與 第四測試訊號，並輸出該第三測試訊號與該第四測試訊 •號至該傳送模組。 *. - - - · 一 在輸出該第三測試訊號而不是該第一測試訊號至該第一傳送 路徑以及触該第四測試峨科是該第二測試訊號至 s第傳送路;^之後，使用該傳送模組以依據該第三測試 42 1364196 訊號、該第四測試訊號、該第一載波訊號與該第二载波訊 號產生該傳送訊號；以及 運用至少一第二候選不平衡校正參數至該傳送模組，並依據該 第一功率指不訊號與對應於該第二候選不平衡校正參數 之-第二神赫峨纽槐目標斜衡校正參數。 2〇.如申凊專利範圍第19項所述之用以校正

相與正交她不顿之通^1針之-同 號與該第二功率指示訊號來 2依據該第一功率指示訊 驟包含： 、疋目私不平衡校正參數之步 計算該第一候選不平衡校正 數之-平均值以作 〜~第二候選不平衡校正參 為誘目標不平衡校正參數。

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