TWI361479B - Integrated circuit package having inductance loop formed from a bridge interconnect - Google Patents
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Description
1361479 九、發明說明: 【發明所屬之技術領域】 本發明大體係關於積體電路, _ 有由封裝的至少-個輸入/輸出引腳;成=之_於一具 體電路封裝。本發明亦係關於_種由封感迴路的積 少部分控制之系統。 _«之電Μ迴路至 【先前技術】 電路設計者之—個多年目標係減小積體電路之大小。對 於不斷變小的消費電子設備、通訊裝置及較少提及之 系統的市場需求在很大程度上推動了此目帛。然而,存在 ❹破壞此目標之障礙,其中之—將在本文進行論述。 許多積體電路不是獨立的裝置。為了確保合適之運作, 因此必須經由不涉及IC封裝輸入/輸出引腳的使用之連接 來將此等電路連接至-或多個外部組件。舉例而言,如圖i 所示,可藉由使用接線3將積體電路晶片丨連接至一封裝外 組件2以達到此。建立封裝外連接之f要增加了製造過程的 成本及複雜性且因此被認為是非常不當的。此等連接亦曝 露積體電路從而增加了自外部影響遭受損壞之風險,此將 轉化為可靠性及效能的降級。 需要封裝外連接之習知積體電路通常用於諸如蜂巢式電 話之行動通訊裝置之頻率合成器中。因為此等裝置中相位 雜訊規格如此嚴格,所以用於產生頻率的鎖相迴路中之壓 控振盪器通常基於某諧振結構。陶瓷諧振器及LC儲能電路 (tank circuit)為普通實例。雖然LC儲能振盪器㈨吐 95480.doc 1361479 oscillator·)之建構細節不同,但是通用諧振結構包含一與固 定電容器(C)及可變電容器(Cx)並聯連接的電感器。在無任 何損耗的情況下,能量在電容器與電感器之間以頻率匕* = 傳遞’且可選擇電感值匕來控制裝置的運作 頻帶。 在包含前述頻率合成器之積體電路中,用於頻帶選擇目 的之電感器位於封裝外(意即,為電路板安裝)。使用封裝外 或電路板安裝之電感器增加了系統成本。此外,在封裝與 電路板之間可出現連接問題,其可對pLL電路的可靠性及效 能產生不利影響。 已嘗試克服此等習知裝置之缺點。第6,323,735號美國專 利揭示了種方法,其形成一完全位於含有鎖相迴路電路 之積體電路封裝中的電感器。使用導電導線將1C晶片上的 、’α a襯墊連接至封裝基板上的相同結合襯塾以達到此目
的。襯墊與導線之間的連接形成一電感迴路,其控制PLL 電路之運作頻帶。封裝基板上可包含多個結合襯墊以形成 變化長度的電感器迴路。然後有選擇地啓動該等迴路以實 現運作頻率之改變。 由於至J兩個原因而使得專利,735中採用的方法是不當 的第 為了完全在1C封裝内形成電感迴路,必須形成 封裝基板以包3與輸入/輸出封裳引腳分離之結合概塾。形 成此等特殊襯塾之需要會增加製造過程的成本及複雜性。 第二’為了容納結合襯$ ’必須增加積體電路基板之大小 且因此/肖耗了更多電路板空間。此等效應破壞了增加整合 95480.doc 1361479 及小型化的目標。
Craninckx在本文"Wireless CMOS Frequency Synthesizer
Design"中揭示了另一種方法,其揭示了含有電感器迴路之 一獨立積體電路封裝。藉由IC晶片上的結合襯墊與IC封裝 之各別輸入/輸出引腳之間的連接接線來形成此迴路。然後 由一第三接線連接輸入/輸出引腳。雖然此方法不需要在封 裝基板上形成特殊結合襯墊,但是其至少具有兩個不當缺 點。第一,如同在專利,735中一樣,一接線用於連接輸入/ 輸出引腳。如先前所述,在製造及/或使用期間此等導線容 易受到損壞。第二,由第三接線連接之輸入/輸出引腳位於 封裴之相對側上。因此,第三導線必須穿過IC晶片。此是 不备的,因為導線可使晶片電路的某些部分短路且引入使 得晶片效能大體降級之雜訊及其它干擾影響。 鑑於前述考慮,顯而易見,需要一種更經濟且需要比製 造習知1C封裝更少之處理步驟的積體電路封裝,且該積體 電路封裝亦不谷易受到損壞並具有較少可不僅降級晶片電 路之可菲性及效能而且降級晶片之主系統(h〇st system)之 可罪性及效能的雜訊。亦需要一種積體電路封裝,其至少 相對於連接至晶片的一電感器迴路之連接為獨立的,且其 能夠經由此連接達成至少一個前述之優點。 【發明内容】 本發明之一目標在於:提供一種更經濟且比製造習知ic 封裝需要更少處理步驟之積體電路封裝。 本發明之另—目標在於:提供一種不容易受到損壞並具 95480.doc 1361479 2較少可不僅降級晶片電路之可靠性及效能而且降低晶片 的主系統之可靠性及效能的雜訊之積體電路封裝。 本發明之另-目標在於:提供一種至少相對於電感器迴 至ic晶片之連接為獨立的且能夠經由此連接達成至少一 個前述優點的積體電路封裝。 :發明之至少一個實施例之另一目標在於:與習知獨立 =體電路中使用的導線數目相比,藉由減少用於形成電感 盗迴路接線的數目來實現—或多個前述目標。 =發明之另-目標在於:提供—種不需要在封裝基板上 成特殊結合襯墊從而形成—連接至晶片之電感㈣ 積體電路封裝。 本發明之另-目標在於:藉由自封裝之至少—個 出引腳形成電感器迴路來達成-或多個前述目標/ μ =發明之另—目標在於:提供-種根據前述任何-個類 型由積體電路封裝至少部分控制之系統。 本發明之此等及其它目標及優點可藉由提供—半導 裝而達成,該半導體封裝包括一積體電路晶片及 以獨立方式連接之一電感器迴路。此獨立連接可藉由自 個導體形成迴路而實現。第一導體將晶片上之第—士入: 塾連接至封裝之第-輸人/輸出引腳。第二導體將^二 第-結合襯墊連接至封裝之第二輸入/輸出引腳。 體=-將第-輸入/輪出引腳連接至第二輸入/輸㈣聊 之化層。該金屬化層可包含於基板表面上或此声 含於封裝基板之子表面層令。 .s D匕 乐汉弟一輸入/輸出引腳可 95480.doc •9- t裝内之相鄰引腳,或者此等弓丨腳可由至少一第三輸入/ 輸出引腳隔開。第一及第二導體較佳為接線。 根據另-實施例,半導體封裝包括—積體電路晶片及在 封裝内以獨立方式連接之-電感器迴路。此電感器迴路由 將晶片上之第一結合襯塾連接至封裝之第一輸入/輸出引 7的一第-導體及將晶片上之第二結合齡連接至封裝之 I二輸入/輸出引腳的-第二導體形成。為了完成迴路,第 ~及第二輸入/輸出引聊係相鄰的且在封裝内彼此接觸。同 樣’第一及第二導體可為接線。 根據另-實施例,半導體封裝包括—積體電路晶片及在 封裝内以獨立方式連接之電感器迴路。此電感器迴路包含 將晶片上之第一結合襯塾連接至封裝之第一輸入/輪出引 腳的一第—導體及將晶片上之第二結合襯塾連接至封裝之 第二輸入/輸出引腳的-第二導體。為了完成迴路,第_及 第二輸入/輸出引腳具有一整體構造。同樣,第一及第 體可為接線。 一哥 …本發明亦關於一振盪器電路’纟包括:一具有兩個輸出 郎點之主動振盈器;搞接至輸出節點之—電感器迴路;及 輪接至自輪出節點的至少—電容電路。該電容電路包人 一電谷益、一 Φ RB ^ η 一锋 冤Ρ器及第一開關,且當第一開關打開時 電阻益向電容器提供一偏壓。第一開關將電容器耦接至 動振盈器之輪出節點及自此等節點去柄。 主動振盛器及電感電路包含於—包含_積體電路 半導體封裝中。以此方式組態’電感器迴路包含:將晶片 95480.doc 1361479 上之第一結合襯墊連接至封裝之第一輸入/輸出弓丨腳、 第一導體;將晶片上之第二結合襯墊連接至封裴之、 ^ Sm· 入/輸出引腳的一第二導體;及包含一將第一輸入 ^ , 千别®引腳 連接至第二輸入/輸出引腳之金屬化層的一第三導體。第 及第二導體可為接線且金屬化層可在一表面 一 竦于表面層 中形成。此外,第-輸入/輸出引腳及第二輸入/輪出引 相鄰,或第一及第二輸入/輪出引腳可由至少—第三輪入/ 輸出引腳隔開。 m 。根據另一實施例,本發明提供一具有主動振盪器、電 器迴路及先前描述之電容電路之振盪器電路。然而,電感 器迴路包含將晶片上之第一結合襯塾連接至封裝之第一^ 入/輸出引腳的一第一導體及將晶片上之第二結合襯心 接至封裝之第二輸入/輸出弓丨腳的一第二導體,其中第一輸 入/輸出引腳及第二輸入/輸出引腳係相鄰的且彼此接觸。第 一及第二導體為接線。 根據另-實施例,本發明提供一具有主動振盤器、電感器 迴路及先前描述之電容電路之振盈器電路1而,電感器 :路包含將晶片上之第一結合襯墊連接至封裝之第一輸入 輪出引腳的一第一導體及將晶片上之第二結合襯墊連接 封裝之第二輸入/輸出引腳的一第二導體。第一及第二輸 入/輪出引腳可具有一整體禮4日# 線形成。 且第-及第二導體可由接 【實施方式】 積 在—態樣中,本發明係關於一半導體封裝,其具有 95480, d〇c 體電路晶片及在此封裝中以獨立方式連接的電感器迴路β 本發明㈣關於上述㈣體裝置之電感器迴路至少部 分控制的系統。該系統可為一通訊系統或另一類型之系 統在該通訊系統t電感器迴路用於設定傳輸器及/或載 皮頻率或。下文將逐-論述本發明之各種實施例。 圖2⑷展示-根據本發明之第一實施例之半導體封裝。此 封裝包含-安裝於封裝外殼上或封裝外殼内之積體電路晶 片1〇。該外殼包含用於支撐晶片之基板12及形成於基板上 的複數個輸入/輸出(1/0)引腳13,該等引腳13用於將晶片電 連接至-或多個外部電路(未圖示)^基板可為任何已知類型 且I/O引腳可藉由使用多種f知附著技術(包含但不限於接 線及焊料凸塊)t之任何—種而連接至晶片。此類型封裝之 實例包含.引線框封裝、包含彼等使用帶自動結合(TAB) 之球狀晶格陣列(BGA)封裝、引腳晶格陣列封裝(PGA)、薄 小輪廓封裝(TSOP)、小輪廓j型引線封裝(s〇J)、小輪廓封 裝(sop)及晶片尺寸封裝(csp),此處僅提及這些。 I/O引腳可呈現多種形態中之任何一種。舉例而言,引腳 圖不為沿著封裝基板周圍而設置的外部封裝引線。然而, 若須要,引腳可以其它方式形成,其包含(但不限於)穿過封 裝基板延伸至提供於封裝相對側上之焊料凸塊連接的導電 通路。 半導體封裝亦包含在封裝内獨立之一電感器迴路2〇。該 電感器迴路由兩個導體形成β第一導體22將晶片上之第一 結合襯墊24連接至封裝之第—輸入/輸出引腳%,且第二導 95480.doc -12· 1361479 體32將晶片上之第二結合襯墊34連接至封裝之第二輸入/ 輸出引腳36。第一及第二導體較佳為接線。 為了完成迴路,包含第三導體40以連接第一與第二輸入/ 輪出引腳。第二導體可為以多種方式形成之一金屬化層。 一種方法採用在封裝基板的上表面5〇上形成層4〇。如圖2所 不,較佳形成此層以使得末端分別與引腳26及36並置。金 屬化層可使用任何已知技術形成,此等技術包含(但不限於) 離子植入及電聚姓刻。另夕卜,較佳在將積體電路晶片安裝 於封裝内之前於基板上形成金屬化層。或者,可在晶片安 裝之前且甚至在1/0引腳形成於或附著於基板上之前形成 金屬化層。在後者狀況下,繼金屬化層形成之後,第一及 第二I/O!丨腳可連接至或形成於其頂料而完成電感器迴 路0 如圖2(b)所示,作為形成於封裝基板之表面上的導電層之 替代,第三導體可為位於印刷電路板39上或其中的導電線 38,而積體電路晶片附著至該印刷電路板上。印刷電路板 可具有用於電連接之若干層且因此導電線可包含於此等層 中之一層中。封裝引腳26及36較佳受到曝露以用於焊接至 印刷電路板上》更具體言之,可藉由曝露封裝引腳並將其 連接至印刷電路板上相應的焊接襯墊來進行連接。然後將 焊接襯墊連接至連接線38以藉此建立連接。經由印刷電路 板導電線可容易地形成引腳之間的電連接。 作為另一替代,第三導體可能是連接第一與第二輸入/輸 出引腳的接線。 95480.doc ^ 13- 1361479 旦形成電感器迴路,其可用於控制積體電路晶片上之 —或多個電路。舉例而言,若積體電路包含鎖相迴路,則 此迴路之電感值可用於設定此迴路之輸出頻率或頻帶。或 者迴路長度可用於設定晶片的其它運作參數。舉例而言, 本發明之電感器迴路之具體應用可(例如)視設定參數及由 積體電路待執行之具體功能而定。 迴路之電感值視其全部長度而定。此長度可以各種方式 加以設定以達成所要的電感值。舉例而言,可將第—及第 二導體的長度設定成具有基於一待達成之迴路長度的具體 長度。較佳地,迴路中連接的輸入/輸出引腳在電路封裝上 是彼此相鄰的。然而,若須要,此等引聊可不相鄰。在此 狀况下,迴路中連接之引腳之間的距離有助於設定對應所 要的電感值之迴路長度。 圖3(a)-3(c)提供本發明之此稍後變化的實例。在圖 中,中間引腳65及70位於在電感器迴路中相連接的引腳46 與56之間。在圖3(幻中,表面金屬化層52在中間引腳下面穿 過。此等引腳較佳不與晶片連接.否則,金屬化層可使連 接至引腳的電路短路。 圖3(b)中’接線63可用於形成至中間引腳65及7〇、此等引 腳之間或自引腳之導電橋接器。如前一狀況此等引腳較佳 不連接至晶片以防止發生短路問題。根據另一替代,接線 及金屬化層之組合可用於形成至中間引腳、引腳之間或自 引腳之橋接器,且可藉由使用前述技術的組合來改變電感 器迴路的長度。 95480.doc 14 1361479 在圖3(c)中,中間引腳72及73位於引腳74及75之間。在圖 3 (b)中’表面金屬化層66沿著一路徑沈積,該路徑將與中間 引腳72及73之接觸轉移至連接引腳74及75。因此,中間引 腳可連接至晶片電路而不會產生任何短路效應。 圖4展示形成包含於封裝基板一子層中之金屬化層的另 一方法。在此圖中,層80係基板之表面層’層8丨係金屬化 底層,其可或不可與表面層直接相鄰,且導電通路82及83 將引腳85及86連接至金屬化層。作為導電通路之替代,圖5 展示:在迴路中相連接之輸入/輸出引腳中之至少一個且較 佳此兩者具有分別接觸金屬化底層的突出部分95及96。圖5 以橫截面展示本發明之此變化,其中出於說明之目的僅展 不猎由突出部分97接觸金屬化底層96之輸入/輸出引腳%。 圖6展示一根據本發明第二實施例之半導體封裝。此封裝 包含-安裝在封裝外殼11〇上或封裝外殼m内之積體電路 晶片該外殼包含一基板112,其用於支擇晶片及形成 於基板上用於將晶片電連接至-或多個外部電路(未圖示) 之複數個輸入/輸出(1/〇)引腳113。基板可由一種材料製成 且1㈣腳可以第—實施例中說明之任何方式形成及連接。 半導體封裝亦包含―太## ^ ^ 3在封裝内獨立之電感器迴路12〇。電 孰器迴路由兩個導體报占咕 扪等體形成。第一導體122將晶片上之第一妗 合襯塾124連接至封fig 安芏訂裝之第-輸入/輪出y腳126 體132將晶片上之第_社 且第一導 /輸出引腳136。第及;:3他 第—導體較佳係接線。盥第一實施 例不同,在電感器迴路中 〃、第實細 "目連接的5丨腳是相鄰的且彼此接 95480.doc -15· 1361479 ==間的接觸確保迴路完成且建立基於迴路長 度的所要電感值。一旦雷成哭、贫 積體電路晶片上之-❹個迴形成,其就可用於控制 圖7(a)展示根據本發明之第^ 裝包含安裝在封裝外殼21。上或封裝::二導裝積: 路晶片200。該外殼包含—基板212 ,,^ 丹用於支揮晶片及形 成於基板上用於將晶片電連接至— 戈夕個外部電路(未圖 示)之複數個輸入/輸出_引腳扣。基板可由-種材料製 成且1/〇引腳可以第一實施例中說明之任何方式形成及連 接。 半導體封裝亦包含-在封裝内獨立之電感器迴路22〇。該 電感器迴路由兩個導體形成。第一導體222將晶片上之第— 結合襯塾224連接至封裝之第一輸入/輸出引腳咖,且第二 導體232將晶片上之第二結合襯墊234連接至封裝之第二輸 入/輸出引腳236。第一及第二導體較佳係接線。與第一及 第一實施例不同,電感器迴路中相連接的引腳具有一整體 構造;意即:儘管引腳可分別具有用於連接至印刷電路板 或其它外部電路之分離引線24〇及241,但是該等引腳形成 為一連續件》第一及第二導體與此等引腳的連接保證迴路 完成且建立基於迴路長度的所要電感值。一旦電感器迴路 形成,其就可用於控制積體電路晶片上之一或多個迴路。 圖7(b)展示一根據本發明第四實施例之半導體封裝。除了 單封褒引腳300用於連接接線222及232以形成電感器迴路 之外’此實施例與圖7(a)中之實施例相似。此實施例之優點 95480.doc -16- 在於·不需要特殊設計之封裝即可形成本發明之電感器迴 。g| ρμ . ’本發明可容易地以相對低的成本建構β 根據任何前述實施例之一半導體封裝可用於多種應用之 任何_去〇 — 例示性應用為在通訊系統中’其中電感器迴 路用以3又定一或多個參數,諸如(但不限於)運作頻率。現在 將拖述可用於此種通訊系統中之壓控振盪器之一說明性實 施例。 壓控振盪器 本發明之一例示性應用涉及形成申請中之美國專利申請 案第 10/443,835號(Attorney Docket GCTS-0024)中所揭示之 積體壓控振盪器(VC〇)類型,此案之内容以引用的方式倂入 本文中。雖然VCO可包含於一鎖相迴路中從而出於多個熟 知目的提供頻率訊號,但是熟習此項技術者應瞭解:此vc〇 應用決不僅僅為本發明之應用。如先前所強調,本發明之 各種實施例實際上可用於任何需要電感元件之電路中。下 文將論述根據本發明之VC0應用的一個例示性實施例。 因為在行動電話應用中相位雜訊規格是如此嚴格,所以 允許使用之VC0類型有限且通常使用—LC振盪器。該1^振 盈器包含一諧振儲能電路及若干主動裝置以補償在儲能電 路中的能量損耗。因為儲能電路是一種類型之帶通渡波器 (band-pass filter),所以LC振盪器之相位雜訊效能往往好於 其它類型的振盪器。 LC振盪器之標的頻率可根據下面的等式表示: fvco =~ 7= 2n4Ic 95480.doc 17 1361479 其中fvc〇=VCO之標的頻率,L=電感,C=電容。自此等式 可看出至少有兩種方法可控制VCO之輸出頻率。一種方法 涉及改變振盪器電路之電容(c)且另一種方法涉及改變電 感值(L)。根據本發明形成之一壓控振盪器根據圖2_7所示之 任何一或多個電感迴路實施例單獨設定電感器值或藉由伴 隨調整電容值來設定電感值。 圖8係說明根據本發明之一實施例之振盪器電路6〇〇的 圖。此電路包含一振盪器61〇及可運作地耦接至振盪器61〇 之至少一個調整電路62〇。調整電路包含一偏壓電阻器 622、一電抗元件624(例如電容器)及一第一開關626。第一 開關626自振盪器迴路6〇〇選擇性地耦接及去耦電抗元件 624。偏壓電阻器622向電抗元件624提供一偏壓Va,以使得 當第一開關626打開時電抗元件624具有一偏壓。 如下文之詳細論述,可利用多種組態向電抗元件供應偏 壓乂六。舉例而言,一偏壓開關628可位於偏壓電阻器a〗與 偏壓Va.之間。當第一開關626去耦電抗元件624時,偏壓開 關628選擇性地將偏壓電阻器622耦接至偏壓。當第一開關 626將電杬元件624耦接至振盪器電路6〇〇時,偏壓開關as 選擇性地自偏壓VA去耦偏壓電阻器622。或者,可設定偏壓 電阻器622之大小(例如,一高電阻值),以使得偏壓Va可不 复地耦接至偏壓電阻器且使得當第一開關626閉合時偏壓 VA大體不會改變調整電路的操作特徵。 可將偏壓接至接地電壓、電源電壓或振盪器輸出之 共同模式電壓。另外,偏壓Va是可變的且可選自接地電壓 95480.doc 1361479 至電源電麼之範圍。另外,開關626及㈣可為半導體切換 裝置,諸如電晶體及其類似物。 、 如圖8所示,調整電路620係諳振電路630之部分。熟習此 項技術者將瞭解:諸振迴路63G可包含額外元件,諸如電感 器、電容器及電阻器。當第一開關626打開或閉合時,可分 別將電抗元件624自错振電路630移除或加入。因此,第一 開關626可更改諧振電路㈣之特徵且因此更改π。之頻 率另外,可將額外調整電路加入諧振電路63〇以增加控制 I巳圍。同因為增加的調節範圍及改良的相位雜訊效能 對單端型或微分型振盈器均有利,所以彼等熟習此項技術 者將瞭解圖8中之調整電路可用於單端型或微分型振盪器 中。 ° 圖9·11展示圖8中之振盪器之變化,每個變化包含耦接於 振盪器主動電路任-側上之第-及第二級聯調整電路級 (cascaded adjusting circuit stage)及一耦接至級聯調整級的 電感器迴路。圖9_U中’電感器,、謝及9()4根據先前描 述之本發明之任何一電感器組態而形成。舉例而言,在圖9 中,兩個輸出節點706及708充當電感器704的輸入端且可對 應於圖2⑷中之24及势。下文將對此等變化進行更詳細論 述。 圖9係展示本發明之壓控振盪器之第一變化的示意圖。此 變化較佳包含主動振盪器迴路^三,舉例而言,其可對應於 圖8中之電路610。圖9中之電路具有一帶有輸出節點〇υτ 706及OUTB 708之微分組態。電感器7〇4較佳耦接至輸出節 95480.doc •19- 1361479 點OUT 706及OUTB 708。具有一可與開關718串聯耦接之電 容器722的兩個或兩個以上電路可耦接至〇υτ 7〇6。電容器 722耦接至輸出節點706及開關718。開關718較佳為一耦接 至一參考電壓之電晶體開關,該參考電壓可為圖8所示之接 地電壓。此外,電路較佳包含串聯耦接的電阻及開關,諸 如與電晶體開關714串聯耦接之明確電阻器7丨〇。將固定電 阻器710之一端耦接至電容器722及電晶體開關71 8之一共 同節點,且將電晶體開關7丨4耦接於電阻器7丨〇之另一端與 偏壓VA之間。 ' 輸出節點OUTB 708較佳存在相似組件及連接。舉例而 言,較佳將電容器722與電晶體開關72〇串聯耦接,且將電 谷器722之另一端子耦接至輸出節點OUTB 708。另外,將 電晶體開關720之一端子耦接至接地。此外,較佳將明確電 阻器712與電晶體開關716串聯耦接,以使得電阻器7丨2耦接 至電谷器722及電晶體開關72〇之一共同節點,且將電晶體 開關716之一端子耦接至偏壓Va。熟習此項技術者將瞭解電 谷器722可具有相同或不同值。同樣,相關電阻器及開關可 具有由每個應用之具體設計需要判定的相同或不同值。 下文將描述圖9中之電路的運作。較佳判定或最優化電阻 斋710及712的值從而在斷開狀態下獲得最好的相位雜訊效 月b。因為電阻器值通常較高(例如超過若干ΚΩ),所以無需 電Ba體開關714及716之低接通電阻。因此,電晶體開關7 J 4 及716之大小非常小。同樣,電晶體714及716之額外寄生電 容較小,且因為將電阻器710及712設計成在斷開狀態下涵 95480.doc -20- 1361479 蓋大多數電阻,所以電晶體開關714及716之變化特徵並不 顯著。偏壓位準vA判定斷開狀態下之共同位準且可具有自 接地電壓至電源電壓之任何值。因此,偏屢位準VA可自一 諸如電阻分壓器之簡單偏壓產生器產生。VA本身亦可為接 地電壓或電源電壓。 圖10係展示本發明之壓控振盪器之第二變化的示意圖。 此變化800較佳包含主動振盪器電路8〇2,舉例而言,其可 對應於圖8中之電路610。圖1〇中之電路具有—帶有輸出節 點〇1;丁 806及〇!;丁8 808之微分組態。電感器8〇4較佳耦接於 輸出節點OUT 806與OUTB 808之間。一包含電容器822、圖 不為明確電阻器810之電阻及開關814或其類似物(例如電 晶體)的串聯電路較佳在電容器822之一端子及電晶體開關 814之一端子處耦接至輸出節點〇υτ 8〇6,此等兩個端子係 串聯電路的相對端。 此外,較佳將開關818或其類似物(例如電晶體)麵接於作 為接地之參考電壓與電容器822及電阻器81〇之共同節點之 間。相似電路可耦接至輸出節點〇UTB 808。舉例而言,可 將包含電容器822、電阻器812及電晶體開關816之一串聯電 路經由電容器822之一端子及電晶體開關816之一端子耦接 至輸出節點0UTB 808,而串聯電路定位於兩個子端之間。 較佳將電晶體開關820耦接於接地與電容器822及電阻器 812之共同節點之間。熟習此項技術者將瞭解電容器822可 具有相同或不同值。同樣,相關的電阻器及開關可具有由 每個應用之具體設計需要判定的相同或不同值。 95480.doc -21- U01479 在圖10所示之實施例中, ㈣電路。相反,Lc_中的:動外的 向未連接至振^輪出之電容!!的另一 /式電愿 DC偏麼。同樣,在Vc〇 4子提供-合適的 小可非常小。® + 巾’電晶體開關814及816的大 T非常+目此’電晶體開關 並不顯著。 了王电合 如:U係展示本發明之麼控振盈器之第三變化的示意圖。 + 11所不,VCG較佳包含主動振盈器電路9G2,舉例而 a ’其可對應於圖8中之電路61()。此電路具有—帶有輸出 節點OUT 9〇6及⑽TB _之微分組態。冑感器州較佳賴接 於輸出節點OUT 906與OUTB 908之間。此外,電容器922 較佳與開關918(例如,電晶體)串聯麵接,其中電容器922 之一剩餘端子耦接至輸出節點〇υτ 9〇6且電晶體開關918之 剩餘鳊子耦接至接地。較佳將一明確電阻(較佳為電阻器 910)耦接於電容器922及電晶體開關918之共同節點與偏壓 Va之間。 較佳的相似電路耦接至OUTB 908。舉例而言,電容器922 車父佳與電晶體開關920串聯耦接,其中電容器922之剩餘端 子輕接至輸出節點OUTB 908,且電晶體開關920之剩餘端 子賴接至接地。較佳將明確電阻器912耦接於偏壓VA與電容 器922及電晶體開關920之共同節點之間。熟習此項技術者 將瞭解電容器922可具有相同或不同值。同樣,相關電阻器 及開關可具有由每個應用之具體設計需要判定的相同或不 同值。 95480.doc • 22- 在圖U所不之實施例中,斷開開關(例如,圖9中之開關 814及816)心肖除效能之減小或有限損耗。此係因為可選擇 確電阻器910及912之電阻以使得在開關918及92〇接通期 間此等電阻不會嚴重改變運作特徵。熟習此項技術者將瞭 解對於、-。疋振盈器設計(例如,電容 '頻率範圍及其類 似物)而言’電阻器91G及912之適#值由經驗加以判定。、當 開關918及920打開以減小電容時,未輕接至振盈器輸出的 另一端子較佳具有大體與振盪器902之共同模式電壓相同 之DC偏壓。 在圖8-11中,壓控振盪器可形成於一晶片上,較佳將該 印片女哀於根據圖2_7所示之本發明任一實施例而組態之 獨立半導體封裝中。因&,封裝之電感器迴路可用作一用 以設定VCO輸出頻率的偏壓。更具體言之,可形成此迴路 之長度以產生一電感值(對應於電感器7〇4、8〇4及9〇4中之 任何一個或多個),其導致vc〇輸出一所要頻率或在一所要 的頻帶内運作。 舉例而言,在一不限制但尤其有利之應用中,可形成迴 路之長度以產生1·3 0ηΗ的電感值。在vc〇為RF1型(例如, pcs)振盪器且電容為4 96 pF之情況下,此使得倂有vc〇之 PLL輸出1.98 GHz的頻率。在¥€:〇為具有相同電容值之RF2 型(例如,CDMA)振盪器的情況下,可形成電感器之迴路長 度以產生1.81 nH的值’其足以自us GHz之PLL產生一輸 出傳輸頻率。吾人已知使用電感值來控制pLL之輸出頻率的 方式,且舉例而言,其可以第6,323,735號美國專利所揭示 95480.doc -23- 1361479 之方式實現,該案之内容以引用的方式倂入本文中。電感 器迴路亦可以一方式與多相時脈訊號結合使用,下文將更 詳細地揭示此方式。 如先前所述,根據本發明之壓控振盪器可有利地用於一 PLL電路中以在-通訊接收器中產生頻率(例如,本機振盡 器訊號)訊號。然而,熟習此項技術者將瞭解:本發明之vc〇 可用於使用或可使用-PLL或vc〇之任何其它裝置中。舉例 而言’此等裝置包含—接收器、傳輸器、收發器、無線通 訊裝置、基地台或行動單元(例如,蜂巢式電話、pDA、尋 呼機及其類似物)。 進-步注意到根據本發明所形成的壓控振盪器具有多種 優點。舉例而t ’與此類型之習知裝置相比,可增加PL 之調節範圍。另外,大體上可減小或甚至消除與vc〇調整 電路之接通及斷開情況相關聯的問題。此外,可減小電晶 體開關之大小’進而促進小型化。 熟習此項技術者亦將認識到在關於調節具有一振盪器電 路之裝置之前述描述中揭示的方&。舉例而纟,此等方法 包括:藉由-偏壓電阻器向—電抗元件提供—偏壓以使得 當第-開關打開時電抗元件具有一偏壓;使用第一開關將 電抗兀件自振盪器迴路耦接或去耦;且藉由第二開關將偏 壓電阻器耦接至偏壓。另外,該方法可包含:#第一開關 閉合則將第二開關打開及若第一開關打開則將第二開關閉 合。該方法可應用於多種裝置,諸如pLL、純器、傳輸器、 收發器、無線通訊裝置、基地台及/或行動單元。 95480.doc -24- 1361479 A習此項技術者由前述揭示内容將易瞭解本發明之其它 修改及變更。因此,雖然本文僅具體描述了本發明之某些 實施例,但顯而易見在不偏離本發明之精神及範_的情況 下可進行許多修改。 【圖式簡單說明】 圖1係展示一不獨立之習知積體電路封裝的圖。 圖2(a)係展示根據本發明之第一實施例之半導體封裝的 圖,且圖2(b)展示此封裝之替代形態,其中封裝的兩個引腳 由形成於印刷電路板中或印刷電路板上之導電線電連接。 圖3(a)及圖3(b)係展示在本發明第一實施例之半導體封 裝中如何分別使用金屬化層及接線以形成至封裝之一或多 個中間輸入/輸出引腳、在該等引腳之間及/或自該等引腳之 導電橋接器之實例的圖,且圖3 (c)展示在本發明第一實施例 之半導體封裝中如何使用金屬化層以連接封裝之一或多個 中間輸入/輸出引腳(例如概塾)的另一實例。 圖4係展不另一方法的圖,其中可在本發明第一實施例之 半導體封裝中形成一金屬化子層。 圖5係展示一方法的圖,其中輸入/輸出引腳可接觸圖4所 示之金屬化子層。 圖6係展示根據本發明第二實施例之半導體封裝的圖。 圖7(a)係展示根據本發明第三實施例之半導體封裝的 圖,且圖7(b)係展不根據本發明第四實施例之半導體封裝的 圖。 圖8係展不根據本發明一實施例之壓控振盪器的圖。 95480.doc 25· 1361479 圖9係展示圖8中的壓控振盪器之第一變化的圖。 圖10係展示圖8中之壓控振盪器之第二變化的圖。 圖11係展示圖8中之壓控振盪器之第三變化的圖。 【主要元件符號說明】 1 、 10 、 100 ' 200 積體電路晶片 2 封裝外組件 3 ' 63 接線 12 、 112 、 212 基板 13 、 213 輸入/輸出(I/O)引腳 20 ' 120 > 220 電感器迴路 22 ' 122 ' 222 第一導體 24 ' 124 > 224 第一結合襯墊 26 、 126 、 226 第一輸入/輸出弓丨腳 32 ' 132 、 232 第二導體 34 、 134 、 234 第二結合襯墊 36 > 136 ' 236 第二輸入/輪出弓丨腳 38 導電線/連接線 39 印刷電路板 40 第三導體、層 46 ' 56 、 65 ' 70 ' 引腳 72 、 73 、 74 、 75 、 85 、 86 、 113 、 300 50 上表面 52 表面金屬化層
95480.doc -26 - 1361479 66 表面金屬化層 80、81 .層 82、83 導電通路 95 突出部分、輸入/輸出引腳 96 突出部分、金屬化底層 97 突出部分 110 、 210 外殼 240 、 241 引線 600 振盪器電路 610 振盪器 620 調整電路 622 偏壓電阻器 624 電抗元件 626 第一開關 628 偏壓開關 630 諧振電路 702 ' 802、902 主動振盪器迴路 704、804、904 電感器 706、806、906 輸出節點OUT 708、808、908 輸出節點OUTB 710 ' 712、810、 電阻器 812、910、912 714、716、720、 電晶體開關 814、816、820、
95480.doc •27- 9141361479 718 722 800 916、920 818、918 822、922
開關 電容器 變化/VCO 95480.doc -28-
Claims (1)
1361479 第093125625號專利申請案 中文申請專利範圍替換本(96年8月) 十、申請專利範圍: 1. 一種振盪器迴路,其包括· -具有兩個輸出節點之主動振盪器; -耦接至該等輸出節點之電感器迴路;及 二少一㈣至該等輸出節點中之—個的電容電路該 電谷電路包含一雷交哭 电合裔、一電阻器及一第一開關,其中 當該第一開關打開時’該電阻器向該電容器提供一偏 [且其中該第-開關將該電容^接及去耦至該主動 ^盘"之該等輪出節點,且其中該主動振“及該電容 路包含於一包含一積體電路晶片之半導體封裝中,該 電感器迴路包含: _()帛4體’其連接該晶片上之-第-結合襯墊至 該封裝之一第一輸入/輸出弓I腳; 兮封肚帛¥體其連接該晶片上之一第二結合襯墊至 “、、之—第二輸人/輸出引腳;及 垃1)兮第二導體’其包含一連接該第一輸入/輸出引腳連 杜二第二輸入/輸出弓丨腳之金屬化層。 孫蛀:項1之振盪器迴路,其中該第-導體及該第二導體 係接線。 3.如請求項1夕士口、 振盪益迴路,其中該金屬化層位於該基板之 一表面上》 4· 項1之振盡器迴路,其中該金屬化層包含於該基板 子表面層中。 5.如晴求項丨之振盪器迴 _ 崎具中該第一輸入/輸出引腳及該 95480-960823.doc 第二輸入/輸出5丨腳係相鄰弓丨腳。 6.如請求項】之振盪器 第二輸入/輪出引腳由至少L中該第一輸入/輸出弓I腳及該 7· -種振盪器迴路,其包第二輸入/輸出引聊所隔開。 j. , V -風 §§ 9 一耦接至該等輸出節點 s . ‘之电感器迴路;及 至 >、一耦接至該等輪 電容電路包含-電容器、之一個的電容電路’ f 當該第—門M 4 〇 電阻器及一第一開關,其t) 田弟開關打開時,該電阻 塵,且其⑷-開關將二二 谷器提供1 掩湯„ 電谷器耦接及去耦至該主J 振h之該等輸出節/主鸯 電路包含於一包含一…其中该主動振盈器及該㈣ 積體電路晶片之半導體封裝中,兮 電感益迴路包含: 1 8. ⑷―第―導體,其連接該晶片 該封裝之-第-輸入/輸出引腳; (b)第二導體,其連接該晶片 該封裝之一第二輸入/輪出引腳, 腳及該第二輸入/輸出引腳是相鄰 上之一第一結合襯塾至 及 上之一第二結合襯墊至 其中該第一輸入/輸出弓丨 的且彼此接觸。 如請求項7之振盪器迴路 係接線。 其中該第一導體及該第二導體 95480-960823.doc
1361479 第093125625號專利申請案 中文圖式替換本(100年6月) 十一、圖式: 95480-fig-1000613.doc 1361479
圖 2(a) 95480-fig-1000613.doc 1361479
95480-fig-1000613.doc 1361479
圖 3(a) 95480-fig-1000613.doc 1361479
圖 3(b) 95480-fig-1000613.doc 1361479
圖 3(c) 95480-fig-1000613.doc 1361479
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95480-fig-1000613.doc
1361479
圖6 95480-fig-1000613.doc 1361479
95480-fig-1000613.doc -10· 1361479
95480-fig-1000613.doc -11 - 1361479
610 諧振電路 600
95480-fig-1000613.doc 12 1361479
6函 • · 95480-fig-1000613.doc 1361479 • ·
ΟΙ® 95480-fig-1000613.doc 14- 1361479
II® • · 95480-fig-1000613.doc -15-
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Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
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Families Citing this family (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
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US8164158B2 (en) * | 2009-09-11 | 2012-04-24 | Stats Chippac, Ltd. | Semiconductor device and method of forming integrated passive device |
DE102010039156A1 (de) * | 2010-08-10 | 2012-02-16 | Robert Bosch Gmbh | Verfahren zum Herstellen einer elektrischen Schaltung und elektrische Schaltung |
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Family Cites Families (22)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US5175884A (en) | 1990-06-01 | 1992-12-29 | Motorola, Inc. | Voltage controlled oscillator with current control |
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US5739730A (en) | 1995-12-22 | 1998-04-14 | Microtune, Inc. | Voltage controlled oscillator band switching technique |
WO1997037432A1 (en) | 1996-04-02 | 1997-10-09 | Philips Electronics N.V. | Portable radio comprising a connectable circuit |
GB2317279B (en) | 1996-09-11 | 2001-01-24 | Nec Technologies | Frequency synthesisers |
US5839184A (en) | 1997-07-10 | 1998-11-24 | Vlsi Technology, Inc. | Method for creating on-package inductors for use with integrated circuits |
US5909050A (en) | 1997-09-15 | 1999-06-01 | Microchip Technology Incorporated | Combination inductive coil and integrated circuit semiconductor chip in a single lead frame package and method therefor |
US5886393A (en) | 1997-11-07 | 1999-03-23 | National Semiconductor Corporation | Bonding wire inductor for use in an integrated circuit package and method |
US6034423A (en) | 1998-04-02 | 2000-03-07 | National Semiconductor Corporation | Lead frame design for increased chip pinout |
US6137372A (en) | 1998-05-29 | 2000-10-24 | Silicon Laboratories Inc. | Method and apparatus for providing coarse and fine tuning control for synthesizing high-frequency signals for wireless communications |
US6194947B1 (en) | 1998-07-24 | 2001-02-27 | Global Communication Technology Inc. | VCO-mixer structure |
US6335952B1 (en) | 1998-07-24 | 2002-01-01 | Gct Semiconductor, Inc. | Single chip CMOS transmitter/receiver |
US6194774B1 (en) | 1999-03-10 | 2001-02-27 | Samsung Electronics Co., Ltd. | Inductor including bonding wires |
AU6511400A (en) | 1999-08-02 | 2001-02-19 | Qualcomm Incorporated | Method and apparatus for multiple band voltage controlled oscillator with noise immunity |
US6586309B1 (en) * | 2000-04-24 | 2003-07-01 | Chartered Semiconductor Manufacturing Ltd. | High performance RF inductors and transformers using bonding technique |
US6323735B1 (en) * | 2000-05-25 | 2001-11-27 | Silicon Laboratories, Inc. | Method and apparatus for synthesizing high-frequency signals utilizing on-package oscillator circuit inductors |
JP2002076250A (ja) | 2000-08-29 | 2002-03-15 | Nec Corp | 半導体装置 |
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US6803665B1 (en) | 2001-11-02 | 2004-10-12 | Skyworks Solutions, Inc. | Off-chip inductor |
US6621140B1 (en) | 2002-02-25 | 2003-09-16 | Rf Micro Devices, Inc. | Leadframe inductors |
US6876266B2 (en) | 2002-06-10 | 2005-04-05 | Gct Semiconductor, Inc. | LC oscillator with wide tuning range and low phase noise |
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Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
TWI730100B (zh) * | 2016-07-01 | 2021-06-11 | 美商英特爾公司 | 用於增強型嵌入式多晶粒互連橋接(emib)應用之模製嵌入式橋接件 |
Also Published As
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TW200527633A (en) | 2005-08-16 |
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WO2005022599A3 (en) | 2006-11-02 |
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