TWI333335B - Analog to digital converting system - Google Patents

Analog to digital converting system Download PDF

Info

Publication number
TWI333335B
TWI333335B TW96122929A TW96122929A TWI333335B TW I333335 B TWI333335 B TW I333335B TW 96122929 A TW96122929 A TW 96122929A TW 96122929 A TW96122929 A TW 96122929A TW I333335 B TWI333335 B TW I333335B
Authority
TW
Taiwan
Prior art keywords
analog
digital
code
digit
output signal
Prior art date
Application number
TW96122929A
Other languages
English (en)
Other versions
TW200828817A (en
Inventor
bo wei Chen
Szu Kang Hsien
Original Assignee
Ind Tech Res Inst
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Ind Tech Res Inst filed Critical Ind Tech Res Inst
Publication of TW200828817A publication Critical patent/TW200828817A/zh
Application granted granted Critical
Publication of TWI333335B publication Critical patent/TWI333335B/zh

Links

Description

P62950049TW 22487twf.doc/n 九、發明說明: 【發明所屬之技術領域】 本發明是有關於一種類比對數位轉換系統,且特別是 有關於一種次範圍連續近似類比對數位轉換系統。 【先前技術】 類比對數位轉換器(ADC)的架構種類繁多,如快閃式 (Flash)ADC、管線式(Pipeiine)ADC、連續近似式(8職挪_ Approximation,SA)ADC 與雙階式(Two_Step)ADC。這些 ADC架構具備各自適合的應用範圍。 快閃式ADC雖然適用於高速取樣速率的應用中,但 其功率消耗大。連續近似式ADC的取樣頻率較低,但其 功率消耗低且其電路複雜度低。 管線式ADC的特性則是介於快閃式ADC與連續近似 式ADC之間,但管線式ADC需要使用乘法數位類比轉換 器(Multiplier Digital-to-Analog Converter,MDAC)。而 MDAC内部包括剩餘(Residue)運算放大器,其為負回授架 構。因此,剩餘運算放大器將成為管線式ADC在高速取 樣頻率應用上的瓶頸。 雙階式ADC又分類為位元循環式(Bit-Cycling)ADC與 次範圍式(Subranging)ADC。位元循環式ADC也需要剩餘 放大器’故也有類似的問題。根據目前文獻記載,次範圍 式ADC能夠突破管線式ADC與採用位元循環式的雙階式 ADC的瓶頸,達到高速取樣頻率。 底下將分別介紹數個習知的ADC系統。 P62950049TW 22487twf.doc/n 第一種習知ADC系統可參考美國專利US6124818。 其乃是運用管線式技術,故其運算能力大為增加。其運用 雙階ADC的架構,内部的粗(c〇arse)ADC與細(Fine)ADC 都疋利用SA-ADC架構。因此,降低數位對類比轉換器 (DAC)解析度的需求’使得DAC的電路面積變小且ADC 的資料轉換速度高。但由於粗ADC採用sa-ADC架構, 故其潛伏(Latency)時間長,且取樣頻率會比較慢。 第一種習知ADC系統可參考美國專利US5973632。 其乃疋運用雙階式ADC的技術,其内部的粗ADC與細 ADC都是採用快閃式架構來進行資料轉換。因此,提昇了 ADC的資料轉換速度。但由於細ADC採用快閃式架構, 其比較器的數目為(2MSBs+2LSBs-2),MSBs與LSBs分別代 表最咼有效位元組與最低有效位元組,故比較器的數量較 多。因此,電路複雜度高、功率消耗較高與面積有效使用 率也較低。 第三種習知ADC系統可參考美國專利US5675340。 其乃運用雙階式ADC的技術,其内部的粗ADC採用快閃 式ADC架構而細ADC則採用SA_ADC架構。故ADC的 比較器數目僅為2MSBs個,數量較少。因此,功率消耗較 低’且晶片面積也較小。但是,因其使用加法器(Adder) 將造成DAC的資料轉換時間長,故不適合高速轉換架構。 由於沒有採用次範圍的技術,故粗ADC轉出的MSBs必 須傳給SA-ADC内部的DAC’故DAC的面積較大(因包括 較多的單位電容)°DAC的輸入等效電容較高,故在相同 1333335 P62950049TW 22487twf.doc/n 解析度下,ADC取樣頻率較慢。 上第四種習知ADC系統可參考美國專利US52473〇1。 明參考圖1 ’其顯示美國專利US5247301的代表圖(圖1)。 $圖_1所示,此雙階式ADC主要包括:高位元比較器組卜 南位兀取樣/保持(Sample/Hold,S/Η)電路組2,高位元編 馬3低位元比較态組4,低位元取樣/保持電路組5, 低位元編碼器6,參考電壓產生器7,控制信號產生器8, 類比開關Sm,以及緩衝器9。 高位元比較器組1包括多個比較器高位元 ^匕較器組1比較參考電壓與輸入電壓vin。 尚位兀取樣/保持電路組2包括多組S/H電路2」〜2_m,各 S/Η電路包括開關S2、S21與電容c卜高位元取樣/保持電 路組2對輸入電壓Vin進行取樣/保持,並將結果送給高位 ^比較器組1。高位元編碼器3將高位元比較器組i的比 較結果編碼成高位元組d〇h。 相似地,低位元比較器組4包括多個比較器4_ i〜4_n。 低位7L比較器組4比較參考電壓VLJ〜VL_n與輸入電壓 Vm。低位元取樣/保持電路組5包括多組s/h電路 5-1〜5-n,各S/Η包括開關S5、S51與電容α。低位元取 樣/保持電路組5對輸入電壓Vin進行取樣/保持,並將結 ,送給低位元比較器組4。低位元編碼器6將低位元比較 窃組4的比較結果編碼成低位元組D〇L。 參考電壓產生器7會產生高位元參考電壓 VH-1〜VH-m給鬲位元比較器組】。此外,參考電墨產生养 1^33335 P62950049TW 22487twf.doc/n 7曰根據尚位元組DoH來產生低位元參考電壓vl_i〜vL-n 給低位元比較器組4。 控制信號產生器8分別產生控制信號φιη、與φ5$ 給類比開關Sm、高位元取樣/保持電路組2與低位元取樣/ 保持電路組5。 類比開關Sm控制輸入電壓Vin是否導通至高位元取 樣/保持電路組2與低位元取樣/保持電路組5。
第四種習知ADC架構合併運用雙階式ADC與次範圍 ADC。其資料轉換速度較快。但其味ϋ數目較多,因此, 電路複雜度高、功率消耗較高、生產良率低與面積有效使 用率也較低。 第五種1知ADC系統可參考美國專利US49948〇6。 ^用快閃式ADC的高速轉換特徵,以提升ADC的轉換 =。其使用SA-ADC ’以提升ADC的精確度。其結合快 2 ADC與SA-ADC的優點,在不需額外較正電路下,
2 ^ A〇C的,效能。但因為需要使用_餘放大器, Γτν—C㈣於南速轉換頻率下,此放大器將變成整個 ADC系統的設計瓶頸。 【發明内容】 2明提供—種類比對數位轉換m類比輸入 數位輸出信號。該類比對數位轉換系統包 :=與㈣電路’追縱並保持所追_的該輸入信 該追蹤與保持電路之該輸出信號成4-數 1333335 P62950049TW 22487twf.doc/n 數位碼有關於該數位輸出信號之最高有 與暫存單元,储存該第一數位碼與一第二=碼且 數位碼有關於該數位輸出信號之最低有效 — 與暫存單元將該第一數位碼編媽成一第三數=二= 電壓產生器’產生該第—參考電壓給該粗類比對數^考 :第該生器根據該編碼與暫存單元所編 μ第—數位碼來產生一第二參考電壓;以及一 法來轉換該追縦與保持電路之該如 此類比對數位轉換系統更包括:一時 於控制該追蹤與保持電路、該粗類比凡’用 碼與暫存單元、該參考電壓產生哭以及 ,裔、該編 對數位轉換器。w *生a及該連續近似式類比 當該類比對數位轉換系統之輸入俨 :二該連續近似式類比對數位轉換括二 補數產生ϋ,產生該第四數料之 一2的 取樣/保持魏的触對舰_ ^ —具備 路之該輸出信號、該第二參考電壓蹤與保持電 出-第-類比電壓;一第;數位碼’轉換 根據該追蹤與保持電路之該輸出信麥::頰:轉換器, 該第四數位碼之該2的補數,轉換二壓:
< S 9 1333335 P62950049TW 224871wf. doc/n 及一比較器 按·弟-與第二具備取樣/保持 對類比轉換器戶輪出之該第—類比電壓與第位 以產生-輸出#號至該連續近似式暫存器與該 =器,該比較n之該輸出信號用於更新該第二數位 f四數,與該第四數位碼之該2的補數。該比較器:; * ij置放大H ’接收該第—與第二具備取樣/保= =數位對類比轉換器所輸出之該第 電塵;以及一閃鎖單元,接收該前置放 該比較H找細錢。 ⑽出以產生 當該類比對數位轉換系統之該輸人信號為全差 連續近似式類比對數位轉換器包括:-連續 -;:谜:态,:於輸出該第二數位碼與一第四數位碼; 一I朽#4·.,產生器,產生該第四數位碼之2的補數;一第 碼,鐘搞f員比,換器,根據該第二參考電塵與該第四位 #攄㈣-Γ第—類比麵;—第二數位對類比轉換器, 苐一參考電壓與該第四數位碼之該2的補數,轉換 比電壓;以及一比較器,比較該第一類比電壓 保持電路之該輪出信號,以及比較該第二類比 號縱與保持電路之該輸出信號,以產生一輸出信 二二’近似式暫存11與該2的補數產生11,該比較器 信號用於更新該第二數位碼、該第四數位碼與該 大^位碼之該2的補數。該比較器包括:一第一前置放 接收該追蹤與保持電路之該輪出信號與該第一類比 电^爱,一Μ — ^ ^ 〇 一則置放大器’接收該追蹤與保持電路之該輸 P62950049TW 22487twf.d〇c/n 出信^與該第二類比電壓;—第—加法器,接收該第一與 第=則置放大$之輸出;—第二加法器’接收該第一與第 ,前置放大器之該輸出;以及i鎖單元,接收該第一與 第二加法器之輸出以產生該比較器之該輸出信號。/、 為讓本發明之上述特徵和優點能更明顯^,下文特 舉較佳實_ ’並配合騎圖式,作詳細說明如 【實施方式】 ^發明之數個貫施财’乃是以Tw〜step架構為基 ^用Subrange的技術,其中粗撕之架構為歸 AW:’而、細ADC則採用連續近似式ADc。故而,該 施例具有高速取樣頻率以及低功率消耗的優點。一 該些實施例_二進制連續近似轉換演算法。但該些 ^ ^應用的二進制連續近似轉換演算法不同於傳統二 進制連續近似轉換演算法。 ^其顯示傳統二進制連續近似轉換演算法 ^•^_所應用的二進制連續近似演算法之示意圖。 =此假設進行四位元的資料轉換,且採用同步時序控制方 如圖2所示 ,.⑽―㈣運料似演算法需要4健 采元成4位元(MSB、MSB•卜職_2與咖)的資 分佈=^於最_㈣轉換情況,其有M於電荷重新 演曾^之/,在本發明實施例所應用的二進制連續近似 、外法中’4位元的資料轉換分別由粗ADC執行最高有效 1333335 P62950049TW 22487twf.doc/n 位元組(MSBs)的資料轉換,而細ADC則執行最低有效位 元組(即MSB-2與LSB)的資料轉換。由於粗ADC採用快 閃式ADC架構,其具有很高速的資料轉換速度,故決定 出MSBs所需的時間ΛΤΟ可以小於2*ΛΤ1。由於細ADC 只負責LSBs的轉換且又採用次範圍技術,所以電荷重新 分佈時間將減少四倍’即。如此,整體資料 轉換速度可獲得顯著提昇。 '
[第一實施例] 請參考圖3,其顯示根據本發明第一實施例的ADC系 統的電路方塊圖。如圖3所示,此ADC系統30包括:追 蹤與保持電路(Track and Hold,T/H)31,粗類比對數位轉 換器(Coarse ADC)32,編碼與暫存單元(dec〇ding and buffering unit)33,參考電壓產生器 34,sa_adc35,以及 時序控制單元36。 在追蹤模式時,追蹤與保持電路31會追蹤輸入信號。 在保持模式時,魏與鱗電路31會簡騎_的輸入 信號並傳送給後端的電路(即粗類比對數位轉換器U、 SA-ADC35以及參考電壓產生器34)。 … 粗類比對數位賴H 接收咖與簡電路31的輸 出信號’進行高位元的資料轉換以產生數位碼,並 =,碼MSBs傳給編碼與暫存單元33。數位碼廳 於鱗絲m __轉錢)之最高有效 粗類比對數位轉換器32所轉出的數㈣ 比如為格雷碼(Gray c〇de)。粗類比對數位轉換器%可利 1333335 P62950049TW 22487twf.doc/n 錄閃j ADC來實施,且其具有錯誤校 貫施例中’粗類輯數⑽鋪32__不特別限定, 只要能達到上述功能即可。
編碼與暫存單元33儲存MSBs與腦(其由 SA-ADC25所產生)。編碼與暫存單元33可將臓8(其為 Ιί碼)轉換成2臟(其為n之1碼(1咖㈤叻,並將 2 s傳送給參考電壓赵ϋ34,以使得參考霞產生哭 34用以產生參考電壓vb(VBrt、VBrb與vBcm)。n咖 的位元組等於MSBs與LSBs的位元數總和。當sa_adc 35得到最終的數位碼LSBs時,編碼與暫存單元33可根 據數位碼MSBs與數位碼LSBs來產生最終結果 dout[nres-i : 〇]。在此,數位碼MSBs與LSBs的位元數 未必要相同。
參考電壓產生器34會產生穩定的參考電壓源 VA(VART與VARB)給粗類比對數位轉換器32。參考電壓產 生器34會根據編碼與暫存單元33所傳來的數位碼(2MSBs) ,產生參考電壓VB給SA_ADC35。當輸入信號為全差動 仏號時,參考電壓產生器34甚至會偵測此追蹤與保持電路 31的輸出信號的共模電壓(C〇mmon Mode Voltage),以確 保參考電壓的精確性。 SA-ADC 35接收追蹤與保持電路31的輸出信號,利 用連續近似(SA)演算法來進行低位元的資料轉換以產生 LSBs,並將LSBs傳給編碼與暫存單元33。 請再次參考圖2。粗ADC所轉出的MSBs有關於參考 1333335 P62950049TW 22487twf.doc/n 電愿VBRT與VBrb(供給SA-ADC)。這兩者間的關係比如 下表。 MSB (VBrt,vBrb) 11 (VArt,VI) 10 (VI > V2) 01 〒V2 , V3) 00 (V3,VArb) 此外,較好是,不論MSBs的值為何,仰灯與VBrb 間的差值為固定。
4序控制單元36產生控制信號,以讓單元能 夠進行正確的運作。時序控制單幻6可關步或非同步的 時序控制方式來控制單元31〜35<)時序控制單元%接收由 外部所傳來的取樣錢及/或時脈錢。制是,當以同步 制單元31〜35時’則需要外部時脈信號。當以非同
控制早①31〜35時,則不需要外部時脈信號。時序 控制早元36亦負責與外部介面的溝通。 底下將說明圖3之操作原王里。在此假設圖3之ADc 之=度為4位元,而錢SBs與咖皆為2位元 一起參考圖2與圖3。 卜ί 内,粗類比對數位轉換器32會轉換出MSBs, =又j (η。故而’參考電壓產生器34會依據廳出而 ^的參考電壓VB給SA_ADC 35。接著,在第一個 △T2内,SA_ADC 35會轉換出二弧的較高位元。在第二 14 1333335 P62950049TW 22487twf.doc/n
個ΛΤ2内,SA-ADC35會轉換出LSBs的較低位元。最後, 編碼與暫存單元33會將MSBs與LSBs結合成D0UT。至 此,完成ADC的轉換操作。 [第二實施例]
請參考圖4’其顯示根據本發明第二實施例的ADC系 統的電路方塊圖。如圖4所示,此ADC系統40包括:追 蹤與保持電路41,粗類比對數位轉換器42,編碼與暫存單 元43 ’參考電壓產生器44, SA-ADC 45,以及時序控制單 元46。時序控制單元46可以非同步方式控制該些單元 41〜45及其内部子電路,故時序控制單元恥可以不需要外 部時脈信號。圖4適用於當輸入信號為全差動輸入信號時。 SA-ADC 45包括:2的補數產生器451,具有取樣保 持功能的數位對類比轉換器(DAC)452與453,比較器 454 ’以及連續近似暫存器(SAR)457。比較器454包括: 刚置放大器455與閂鎖單元456。比較器454同時具有偏 差調校功能。
在數位碼 Code_I 與 C〇deJI(C〇de一II 為 Code—I 的 2 的補數)的控制下,DAC 452與453會根據T/Η電路41的 輸出㈣以及參考電壓VBrb、VBrt,而轉換出類比電壓 信號Vp與Vn。至於dAC 452與453如何進行轉換可泉 底下圖式與描述。 ^ _前置放大器45 5放大類比電壓信號Vp與v n。閂 元45=閃鎖㈡置放大器455的輸出信號成數位輸出信號。 閃鎖單元456的數位輸出信號會輸入至連續近似暫存°哭
15 1333335
P62950049TW 22487twf.doc/n 457 /、2的補數產生器451,以在進行位元循環eyeing) 時更新數位碼C〇de_I與Codejl。 連績近似暫存器457的架構在此不需特別限定之。比 如其可為移位暫存器與邏輯電路的組合。 明參考圖5’其顯示圖4之參考電壓產生器44的一部 份,其用於追尋T/H電路41的輸出信號的共模電壓 VCM—TH。參考電壓產生器44的—部份包括:電阻R51 與R52 ’放大器51,電流源52與53,以及電阻串54。電 阻串54包括複數個串聯的電阻R。 如圖5所不,電阻R51與R52可用於從τ/Η電路41 的輸出L號取出其共模電壓VCMJTH。共模電壓VCM TH 輸^至放大器51 ’放大器51的另一端則連接至另一共模 電壓VACM。放大器51的輸出信號可用於控制電流源52。 透過元件51〜54所建立的負回授機制,將使得共模電壓 VACM追尋共模電壓VCM_TH。 請參考圖6,其顯示數位對類比轉換器452(具取樣/ 保持功能)的示意圖。數位對類比轉換器453的架構相同於 數位對類比轉換器452’差別僅在於b〇〜b2的控制碼不同。 如圖6所示,數位對類比轉換器452包括:開關 61〜65,以及電容66〜69。本實施例中,電容66〜69的電容 比值為1 : 1 : 2 : 4。 當處於重設模式時,開關61會導通,而且開關62〜65 會連接至共模電壓VBCM。 當處於取樣階段時,開關61會導通,開關62〜65會 16 P62950049TW 22487twf.doc/n 切換至VO—TH,VO_TH為T/H電路41的輸出電壓。 當處於保持階段時,開關61會不通,開關62切換至 VBrb。開關63〜65會分別根據位元b〇、bl與b2而決定要 切換至VBrb或VBRT。比如,當位元bO為〇時,開關63 會切換至VBrb;反之則切換至VBrt。位元b〇〜b2為LSBs。 電壓Vp可表示如下:
Vp=VBcM-V〇_TH+AV_MSBs*(l/2*b2+l/4*bHl/8*bO)+VBRB (1) 在上式(1)中’ △ V_MSBs代表VBrt與VBrb的差值。 請參考圖7,其顯示圖4的架構在決定LSBs時的一 個例子。根據連續近似演算法,c〇de_I與Code_II的預設 值皆為100。 在T1期間,會決定出位元b2。在此假設所決定出的 位70 b2為0。所決定出的位元b2會分別存至SAR 457以 及2的補數產生器4W,以更新CodeJ[與Code_II,使其 分別變成010與11〇。 在T2期間,會決定出位元bl。在T3期間,會決定 出位元b0。同樣地,所決定出的位元bl與bO會更新Code_I 與Code一II ’如圖7所示。在T3之後,即可決定出LSBs 的最終值。 圖4之架構比如可適用於超寬頻(ultra_wide Band; UWB)無線通訊。 [第三實施例] 請參考圖8,其顯示根據本發明第三實施例的ADC系 1333335 P62950049TW 22487twf.doc/n 統的電路方塊圖。如圖8所示,此ADC系統80包括:追 蹤與保持電路81,粗ADC 82,編碼與暫存單元83,參考 電壓產生器84 ’ SA-ADC 85,以及時序控制單元86。時序 控制單元86可以同步方式控制該些單元81〜85及其内部 子電路,故時序控制單元86需要外部時脈信號盥^ 號。單元81,82,83,84與86相同或相類似於;^= 例的元件,故於此不再重述。
SA-ADC85包括:2的補數產生器851,DAC(不具取 樣/保持功能)852與853 ’比較器854,與連續近似暫^器 857。比較器854包括:前置放大器855&與855b,加法器 856a與856b,以及問鎖單元⑽。比較器㈣同時具有偏 差調校功能。SA-ADC 85的内部元件的連接關係可參考圖 8而得’於此不再重述。 請參考圖9,其顯示數位對類比轉換器852 #示 =對類比轉換器853的架構類似或相同於數位對^匕轉 換益852。
如圖9所tf,數位對類比轉換n 852包括:開關 以及電谷95〜97。本實施例中,電容95〜97的電容 比值為1 : 2 : 4。 當處於重設模式時,開關91會導通,而且開關%〜94 會連接至共模電壓VBCM。 當進行資料轉換時,開關91會斷路 94會根各據位元bG:bl與b2而歧要切換至I或νΒ; 田位70 b0為〇時,開關83會切換至VBrb ;反之則 18 1333335 P62950049TW 22487twf.doc/n 切換至VBRT。位元bo〜b2為LSBs 〇 由圖9的架構可看出’電壓Vp可表示如下:
Vp=AV_MSBs*(l/2*b2+l/4*bl+l/8*bO)+VBRB (2) 在上述實施例中,可獲得降低ADC電路消耗功率以
及提昇資料轉換速度等兩項特點。其原因在於,以傳統雙 階式ADC架構為例,粗ADC比較器的需求量為pMSBq); 而細ADC比較器的需求量為(2Lsbm)。但在本實施例中, ADC内部比較器需求量僅為2MSBs,故而達到降低電路複 雜度與功率消耗的目的。此外,由於比較器的需求量減少, 故追蹤與働電_負載電容量可被減少。且Subi>anging 的技術使得SA_ADC内部的DAC的解析度降低,故縮短 電荷重新分佈時間,進而提昇ADC資料轉換速度。 承如上述,由於輸入等效電容值的降低,故^可採用 容易達成佈輕配且料度健㈣荷尺度式⑽ Scaling)DAC架構(如圖6與圖9)。
=所述’可知本實關可達到中高速取樣頻率、低 ,率祕以及降低電路複雜度,以相 與面積有效使用率。 乃衣忭民手 限定;佳實施例揭露如上,^其並非用以 限疋本發月’任何所屬技術領域 脫離本發明之精神a 4心知識者在不 因此太發圍内’當可作些許之更動與潤飾, 為準。χ …㈣當減社冑請專利棚所界定者 【圖式簡單說明】
< S 19 1333335 P62950049TW 22487twf.doc/n 圖1顯示美國專利US5247301的代表圖。 圖2顯示傳統二進制連續近似轉換演算法與新型二進 制連續近似演算法之示意圖。 圖3顯示根據本發明第一實施例的ADC系統的電路 方塊圖。 圖4顯示根據本發明第二實施例的ADC系統的電路 方塊圖。
圖5顯示圖4之參考電壓產生器如何追尋追尋T/H電 路的輪出信號的共模電壓。 圖6顯示圖4之數位對類比轉換器(具取樣/保持功能) 的示意圖。 圖7顯示圖4的架構在決定LSBs時的一個例子。 圖8顯示根據本發明第三實施例的系統的電路 方塊圖。 ’ 圖9顯示圖8之數位對類比轉換器(不具取樣/保持 能)的示意圖。
【主要元件符號說明】 1 :高位元比較器組 2 :高位元取樣/保持電路組 3·向位元編碼器 4:低位元比較器組 5 :低位元取樣/保持電路組 6:低位元編碼器 7:參考電壓產生器 20 1333335 P62950049TW 22487twf.doc/n 8:控制信號產生器 9 :缓衝器 Sm :類比開關 1- 1〜Ι-m :比較器 2- 1〜2-m :取樣/保持電路 S2、S21 :開關
Ci :電容 4- 1〜4-n :比較器 5- l~5-n :取樣/保持電路 S5、S51 :開關 30 : ADC系統 31 :追蹤與保持電路 32 :粗類比對數位轉換器 33 :編碼與暫存單元 34 :參考電壓產生器 35 :連續近似類比對數位轉換器(SA-ADC) 36 :時序控制單元 40 : ADC系統 41 :追蹤與保持電路 42 :粗類比對數位轉換器 43 :編碼與暫存單元 44 :參考電壓產生器 45 :連續近似類比對數位轉換器(SA-ADC) 46 :時序控制單元 21 1333335 P62950049TW 22487twf.doc/n 451 : 2的補數產生器 452、453 :具取樣與保持功能的數位對類比轉換器 454 :比較器 455 :前置放大器 456 :閂鎖單元 457 :連續近似暫存器(SAR) R51-R52 :電阻 51 :放大器 52與53 :電流源 54 :電阻串 61〜65 :開關 66〜69 :電容 80 : ADC系統 81 :追蹤與保持電路
82 :粗 ADC 8 3 .編碼與暫存早兀 84 :參考電壓產生器 85 :連續近似類比對數位轉換器(SA-ADC) 86 :時序控制單元 851 : 2的補數產生器 852與853 :數位對類比轉換器(DAC) 854 :比較器 855a與855b :前置放大器 856a與856b :加法器 22 1333335 P62950049TW 22487twf.doc/n 857 :連續近似暫存器(SAR) 858 :閂鎖單元 91〜94 :開關 95〜97 :電容

Claims (1)

1333335 22487twf.doc/n P62950049TW 十、申請專利範圍·· ώ' t — ΐ類比對數位轉換系統’將一類比輸入信號轉換 成一數位輪出信號,_比對數位轉㈣統包括: :追_職電路,在追m賦時,科蹤與 該輸人錢,在簡模柄,料顧㈣電路保 持所追縱到的該輸入信號; 今追縱轉換11 ’雜—第—參考輕而轉換 ,追紙與保持電路之該輪出信號成—第—數位碼,該第一 數位碼有關於該數位輸出信號之最高有效位元組; 碼 -編碼與暫存單元,儲存該第—數位顺—第 =第二數位碼有關於該數位輸出信號之最低有效位元 碼 該編碼與暫存單元將該第一數位碼編碼成一第三數位 對數位屋ίί:’產生該第-參考電壓給該粗類比 凡所編”該第三數位碼來產生-第二參考電壓= 電路的該輪辑,根據該第電;收 ==:器利用連續近似演算法來轉換== 持電路之_幻讀成該第二數位碼。秘-保 統,=請專利範圍第1項所述之類比對數位轉換系 時序控制單元,用於控制該追 類比對數位轉換器、該編碼與暫存單元、該 < S) 24 P62950049TW 22487twf.d〇c/n 器乂及該連續近似式類比對數位轉換器。 场申請專利範圍第1項所述之類比對數位轉換系 中碼綱碼,嶋_比對= 換益為一快閃式類比對數位轉換器。 m位轉 統,==第1項,類比對數位轉換系 口;與號產生 統,其中該之類比對數位轉換系 統二第1項所述之類比對數位轉換系 比對數位;;二=為全差動信號時,該連續近似式類 四數ϋ續近似式暫存器,用於輸出該第二數位喝與一第 一^的補數產生ϋ,產生該第四數位碼之2的補數; 該追:叫力能的數位對類比轉換器’根據 輪:::壓該第二參考電壓與該第 該追縱寺:力能的數位對類比轉換器’根據 四螯’、、 〜輸出信號、該第二參考電壓盘該第 數位石馬之該2的補數,轉換出-第二類比電 比較器,接收該第一蛊坌- 位對頬Α轉換器所輪出之兮第第::=’保持功能的數 -產生-輸_至該_=== c S) 25 1333335 P62950049TW 22487twf.doc/n 產生窃,該比較态之該輸出_ 該第四數位碼與該第四數位;:該2的補2第二數位碼、 圍第6項所述之類7對 統,其中該比較器包括: 、fc對數位轉換系 一削置放大态,接收該第一與第二夏 的數位對類比轉換器所輪出第一m取樣/保持功能 比電壓;以及 第觀電屬與該第二類 -閃鎖單元’接收該前置放All之 較器之該輸出信號。 w出以產生該比 8.如申請專利範圍第〗項所述之類 統’其中當該輸入信號為全差動信號時轉換系 比對數位轉換器包括: ^建、、只近似式類 四數=續近似式暫存器’用於輪出該第二數位碼與-第 二=補數產生器,產生該第四數㈣之2的 第一數位對類比轉換器,根據該第二表 , 第四數位碼,轉換出一第一類比電壓;> 1與該 第二數位對類比轉換器,根據該第二參考電駐誃 一碼之該2的補數,轉換出—第二類比電壓;以^ 一比較器,比較該第-類比電壓與該 =輸出信號,以及比較該第二類比電壓與該追 t第,補數產生器,該比較器之該輸出信號用於更 弟一數位碼、該第四數位碼與該第四數位碼之該2的 26 P62950049TW 22487twf.doc/n 補數。 9. 如申吻專利範圍第8項所述之類比對數位轉換系 統,其中該比較器包括: 、” 一第一前置放大器,接收該追蹤與保持電路之該輸出 信號與該第一類比電壓; 一第二前置放大器,接收該追蹤與保持電路之該輸出 信號與該第二類比電壓; 一第一加法器,接收該第一與第二前置放大器之輸 出; 一第二加法器,接收該第一與第二前置放大器之該輸 出;以及 一閃鎖單元,接收該第一與第二加法器之輸出以產生 該比較器之該輸出信號。 10. 種類比對數位轉換系統,將一差動類比輸入信號 轉換數倾丨錢,細比對數⑽換系統包括: 追縱與保持電路’追蹤並保持所追蹤到的該輸入信 號; 二、了粗類比對數位轉換器,根據一第一參考電壓而轉換 -亥追縱與保持電路之該輪出信號成一第—數位碼,該第一 數位=有關於該數位輸出信號之最高有效位元組; 石馬與暫存單元,儲存該第一數位碼與一第二數位 碼二一數位碼有關於該數位輸出信號之最低有效位元 ’、且…㈣與暫存單元將該第-數位碼編碼成-第三數位 碼; 27 P62950049TW 22487twf.doc/n 對數位轉雷=該第"'參考電壓給該粗類比 產生一第二:考:考=產生器更根據該第三數位碼來 壓八比對數位轉換器,根據該第二參考電 算法= = = = =:用連續~ 喝,言晚續近似式類比對數位轉換成料—數位 四触^續近似式暫存器,用於輸出該第二數位碼與一第 生器,產生該第四數位碼之2的補數; :縱與保持電路= 四触碼,轉換出-第―類比電壓;肩[與該第 該追跡根據 第 換器之保輪對類比轉 2的補數h 3 4 該賴近似式暫存器與該 數位碼、該第:數更新該第二 11.如Μ專弟數位碼之該2的補數。 統,其中該比健=第1G項所狀舰龍位轉換系 比轉收該第一與第二取樣/保持數位對類 所輪出之該第一類比電塵與該第二類比電愿;以 28 1333335 P62950049TW 22487twf.d〇c/n 及 之一輪出以產生該比 一閃鎖單元’接收該前置放大器 較器之該輸出信號。 10項所述之類比對數位轉換系 12.如申請專利範圍第 統,更包括: 一時序控制單元,用於控制該追蹤與保持電路、
,比對數_鋪、該闕與暫存單S、鱗考電壓產生 器以及該連續近似式類比對數位轉換器。 矣I3·如申請專利範圍第1〇項所述之類比對數位轉換系 〔、中/第數位瑪為格雷碼,以及該粗類比對數位^ 換器為一快閃式類比對數位轉換器。 έ Μ·如申請專利範圍第10項所述之類比對數位轉換系 ί; ’其中該參考電壓產生ii更追尋該追蹤與保持電路的該 輸出信號的共模電壓。 15.如申請專利範圍第13項所述之類比對數位轉換系 、、先,其中該第三數位碼為η之1碼。
16 · 一種類比對數位轉換系統,將一差動類比輸入信號 換成數位輸出信號,該類比對數位轉換系統包括: 一追縱與保持電路,追蹤並保持所追蹤到的該輸入 號; ° =、了粗類比對數位轉換器,根據一第一參考電壓而轉換 =追蹤與保持電路之該輸出信號成一第一數位碼,該第一 位碼有關於該數位輸出信號之最高有效位元組; 一編碼與暫存單元,儲存該第一數位碼與一第二數位 29 1333335 P62950049TW 22487twf.d〇c/n 碼,該第二數位碼有關於該數位輪出信號之 組’該編瑪與暫存單元將該第一數位碼,低有效位元 碼; 馬成一第三數位 一參考麵產生器,產生該第—參考 對數位轉換器,該參考電厪產生器更根據紗該粗類比 產生一第二參考電壓;以及 X弟二數位碼來 一賴独轴輯齡轉鮮 ^該連續近似式類比對數位轉換器利用i^二參考電 =該追蹤與保持電路之該輸出信號成“4广异法 該連續近似_比對數位轉糾包括:第-數饭碼’ 四數=續近似式暫存器’用於輸出該第二數位石馬與-第 二^的補數產生器,產生該第四數位碼之 篦赵—數位軸轉換11,根獅第二參考電芦盥今 第讀位碼,轉換出—第—類比電壓; >考電昼與邊 第四換;’根據該第二參考姆 一比較iTL 出—第二類比電壓;以及 之該輸出伸,’ 一類比電壓與該追縱與保持電路 電路之該輪^Γ 二齡輕_物與保持 存器與該=產:f生一輸出信號至該連續近似式暫 =數位碼、該第四數位碼與該第四數位碼之= 17'如申請專利範圍第16項所述之類比對數位轉換系 < S 30 P62950049TW 22487twf.doc/n 統,其中該比較器包括: 一第一前置放大器,接收該追蹤與保持電路之該榦 信號與該第一類比電壓; ^ 一第二前置放大器,接收該追蹤與保持電路之該 信號與該第二類比電壓; Μ 出 一第一加法器,接收該第一與第二前置放大器之輸 -第二加法器’接收該第-與第二前置放大器 出;以及 询 鎖單元,接收該第-與第二加法器之輸出以 該比杈器之S亥輸出信號。一比較器,接收該第一 位對類比轉換器之輸出以產生該第二數位碼。 統,括申請專利範圍第Μ項所述之類比對數位轉換系 路、產生一控制信號至該追縱與保持電 *產生态、該粗類比對數位轉換器、該連續 近似式類崎數位轉鋪以及該編瑪與暫存單元。" 專利範圍第16項所述之類比對數位轉換系 1 一數位碼為格雷碼’ ·該粗類比對數位轉換哭 為數位轉換器;該第三數位碼為 輸出信號料模電^ 85更“該魏與保持電路的該 S 31
TW96122929A 2006-12-18 2007-06-25 Analog to digital converting system TWI333335B (en)

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
US87060606P 2006-12-18 2006-12-18

Publications (2)

Publication Number Publication Date
TW200828817A TW200828817A (en) 2008-07-01
TWI333335B true TWI333335B (en) 2010-11-11

Family

ID=39567322

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
TW96122929A TWI333335B (en) 2006-12-18 2007-06-25 Analog to digital converting system

Country Status (2)

Country Link
CN (1) CN101207384B (zh)
TW (1) TWI333335B (zh)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
TWI685209B (zh) * 2018-04-03 2020-02-11 聯發科技股份有限公司 流水線類比數位轉換器

Families Citing this family (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
TWI382669B (zh) * 2009-07-16 2013-01-11 Ralink Technology Corp 用於管線式類比數位轉換器之比較器及相關訊號取樣方法
EP2391014B1 (en) * 2009-12-09 2017-12-27 Trigence Semiconductor, Inc. Selection device
US8248290B2 (en) * 2010-09-13 2012-08-21 Texas Instruments Incorporated Multiplexed amplifier with reduced glitching
TWI489237B (zh) * 2012-11-16 2015-06-21 Ind Tech Res Inst 即時取樣裝置及其方法
JP2016111677A (ja) * 2014-09-26 2016-06-20 株式会社半導体エネルギー研究所 半導体装置、無線センサ、及び電子機器
CN108665930A (zh) * 2017-04-01 2018-10-16 北京兆易创新科技股份有限公司 一种nand闪存芯片
TWI677777B (zh) * 2017-10-05 2019-11-21 新唐科技股份有限公司 處理電路

Family Cites Families (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US6340943B1 (en) * 2000-01-14 2002-01-22 Ati International Srl Analog to digital converter method and apparatus
US6608580B2 (en) * 2001-02-15 2003-08-19 Sarnoff Corporation Differential analog-to-digital converter
US6828927B1 (en) * 2002-11-22 2004-12-07 Analog Devices, Inc. Successive approximation analog-to-digital converter with pre-loaded SAR registers
CN100576748C (zh) * 2003-01-17 2009-12-30 Nxp股份有限公司 模数转换设备、模数转换方法以及应用该转换设备的信号处理系统
FR2863120B1 (fr) * 2003-12-02 2006-02-17 Atmel Grenoble Sa Convertisseur analogique-numerique rapide

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
TWI685209B (zh) * 2018-04-03 2020-02-11 聯發科技股份有限公司 流水線類比數位轉換器

Also Published As

Publication number Publication date
TW200828817A (en) 2008-07-01
CN101207384A (zh) 2008-06-25
CN101207384B (zh) 2011-06-15

Similar Documents

Publication Publication Date Title
TWI333335B (en) Analog to digital converting system
USRE42878E1 (en) Analog-to-digital converting system
TWI688220B (zh) 類比/數位轉換器及其方法
EP3447921B1 (en) Hybrid successive approximation register analog to digital converter
TWI434517B (zh) 數位類比轉換器的元素的權重的估算方法、裝置及應用其之逐次逼近暫存器類比數位轉換器
TWI446723B (zh) 類比至數位轉換器電路
US8570206B1 (en) Multi-bit per cycle successive approximation register ADC
US11418209B2 (en) Signal conversion circuit utilizing switched capacitors
TW201306493A (zh) 模數轉換器及模數轉換方法
WO2015041937A1 (en) Pipelined successive approximation analog-to-digital converter
KR101861059B1 (ko) 가변 분해능을 갖는 단일 스테이지 순환 아날로그-디지털 컨버터에서의 전류 감소
TWI685209B (zh) 流水線類比數位轉換器
TW201027931A (en) Analog to digital converter
Roh et al. A 40-nm CMOS 12b 120-MS/s nonbinary SAR-assisted SAR ADC with double clock-rate coarse decision
TW201444298A (zh) 連續逼近式類比數位轉換器(sar adc)及其方法
CN111464186A (zh) 一种高速Pipeline-SAR型的模数转换电路
CN105245231B (zh) 一种流水线型逐次逼近模数转换器的前后级交换方法
US6288663B1 (en) Pipelined analog-to-digital converter with relaxed inter-stage amplifier requirements
TWI489788B (zh) 多位元週期的逐漸逼近式類比至數位轉換器
KR101364987B1 (ko) 아날로그 입력신호 범위 확장을 통한 데이터 변환이 가능한 파이프라인 아날로그-디지털 변환기
Ghoshal et al. Realization of a 1.5 bits/stage pipeline ADC using switched capacitor technique
CN102195651B (zh) 一种高速模数转换器
CN115473533B (zh) Flash-sar adc转换方法及电路
Atchaya et al. Design of High Speed Time–Interleaved SAR Analog to Digital Converter
Kim et al. A 11b 5.1 µW multi-slope ADC with a TDC using multi-phase clock signals

Legal Events

Date Code Title Description
MM4A Annulment or lapse of patent due to non-payment of fees