TWI320110B - Method and apparatus for forming a thin film on a substrate and liquid crystal display device - Google Patents

Method and apparatus for forming a thin film on a substrate and liquid crystal display device Download PDF

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TWI320110B TW094121626A TW94121626A TWI320110B TW I320110 B TWI320110 B TW I320110B TW 094121626 A TW094121626 A TW 094121626A TW 94121626 A TW94121626 A TW 94121626A TW I320110 B TWI320110 B TW I320110B
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Description

1320110 九、發明說明: 【發明所屬之技術領域】 本=係論及-種可形成薄膜之設備和方法,更财地論係 一種可在基板上面形朗膜之設備,和使耻設備所製造之液晶 顯示裝置。 【先前技術】 曰夕ΐϊ資ϊΐ技巾之迅速發展所致,—顯示裝置勢必要顯示大 極射線管_裝置,業已普遍觀作顯示裝 Li和耗電量低之平板顯示裝置,已有積極地 和顯示影像品質,而廣泛被使 LCD裝置魏含有··上基板、下基板、和佈置在此等上 内層。此LCD裝置係使用上述液晶材ί層 之產絲像倾,細敎其液晶分子 膜電:f =作==薄主=體。此種内含薄 m 裝置係具有高影像解析度,以及係可顯示移
通常’ AMLCD裝置之製造,係透過清洗 『pattern)、形成配向層、使基板接合、在J :板。i述清洗基板之程序,可能 幵遍式的輊序之别和之後’方會被執行以及在此g 1320110 基板之程序躺’基板上面之微粒’將會被清洗劑移除。 杯卜上面形成樣式之程序,係被區分為在上基 板上面形成樣式之程序’和在下基板上面形成樣式之程序。在該 上基板上面形成樣式之程序_,係在此上基板上面,形成滤色 =、ίίΐΐ其Γ共㈣極。在該下基板上面形成樣式之程序 』間,係在此下基板上面,為界定出像素區_形成—些彼此交 叉之閘極線和資訊線、連接至此賴極線何訊線之每—交叉點 的薄膜電晶體、和連接至每-像素區域内之細電晶體的像素電 極。 此外,在該樣式形成在對應基板上面並被摩擦之後此等基 板,,敷配向層。其次’密封劑可使形成在該下基板上面,藉二 1 吏該等下基板和上基板相接合。紐,透過注人孔將液晶注又此 等相接合之基板間,而形成液晶層,並將此注入孔密封。 ^外’上述互相接合而在其間含有液晶層之基板,係使通過 和摩齡序,_形成液晶面板。—些積體電路係 使裝接至此液晶面板。 。用以,造液晶顯示裝置之設備,係包含有氣密室,其可使該 ,矛在尚真空度下執行。可在短時間内處理多數基板之組 室,係已被廣泛使用。此群組室係包含有:一些處理室、負荷鎖 定室、和轉移室。特言之,在該處理室中,有一些直接處理λ 之程序被執行。該轉移室可儲存基板,以及可進出該處理室ς使 此等基板轉移。該等處理室係包含有:一供電漿增強化學蒗 積(PECVD)設備使用之腔室,和供乾钱刻設備使用之腔室。、 第1圖係可例示依據相關技藝製造液晶顯示裝置之乾蝕 備的橫截面圖,以及第2 ®係可例示第丨圖巾所顯示之乾餘^ 備的上部電極之平面圖。誠如第丨圖中所示,乾姓刻設備係包= 有:形成在腔室10之上側部内的氣體入口 12,和形成在此腔二 10之1下側部内的氣體出口 1丨。氣體係自氣體儲存單元(未示〇 通過该氣體入口 12注入至該腔室1〇,以及通過該氣體出口 η自 6 ⑧ 1320110 此腔室10排出。
搞<51此U腔至10係包含有彼此間隔之下部電極21和上部雷 極3卜含有要被樣式化之薄膜的基板 〜J 之下部電極21上面。特言之,該下部電極2lm= ㈣,力供應^下㈣極21之外部電力供應器13。將射頻 被稱ϊί應空間,經常係 ^ 茨上口p電極31係使接地,以及俜且右 ί而=;=。2圖中所示’此等孔32係橫跨該上部電極 42 m該f室10係進—步包含有—些氣體注入板41、 ^和3、,彼等係佈置在該上部電極31上面,可使透過上述氣 之數I 平均分配。鱗請注人板4卜42、和43 !接者’峨體係透過此上部電極31之多數孔32, 政佈進1專上部電極31與下部電極21間之反應區域内。 軸,峨《之密度二 乾=設:: 3二:f寺;言’正當鈍化層進-頻刻進該基板 刀内a寺,主動層會進一步姓刻進此基板之側緣部分内。 【發明内容】 和-S用種用以製造液晶顯示裝置之設備’ 使用此βχ備砂造成之液晶顯示裝置,其可大幅排除上述 ③ '1320110 相關目:點戶:,-項或多項問題。 製造液晶顯稀在f供—種可選擇處理基板之諸區域來 示裝置。 又備,和一種使用此設備而製造成之液晶顯 備,在提供—種可製造液晶顯示裝置之設 基板之表面而提崎造成之液晶顯示裝置,其可選擇橫跨 置而在變化之s;體殿==板之表面’依據彼等位 份將徵ϊ優點’將闡明在下文之說明中,以及部 發明之目的*甘内今而臻明確,或可由本發明之實務而習得。本 1主張,* 他優點,將可由此書面制巾特·明之結構和 :遠,諸圖,而得以實現及達成。 現及in %日日^目的和其他優點’以及依據本明如本說明書所體 含有?且目的,一種用以在基板上面形成薄膜之設備係包 極係具此腔室内之上部電極’此上部電 極,此下,在此腔室内而可在其上支撐基板之下部電 選摆極係與該上部電極相分隔;和在該上部電極上方之 使绣禍,此選擇性注入板,係包含有選擇性注入閥,其可 面。"以乳體入口供應之氣體,選擇集中至一部份之上部電極上 板;和在此Μ,i ί晶顯示裝置係包含有:第—基板;第二基 中的-個,ίΐι 4二基板間之液晶層,該等第—和第二基板 包含有.且糸"、有溥膜此薄膜係由一種設備形成,此種設備係 電極係具;在此腔室内之上部電極,此上部 電極,并有f數之喂嘴;在此腔室内而可在其上支撐基板之下部 之,弯摆祕下。卩電極係與遠上部電極相分隔,和在該上部電極上方 可入板,此選擇性注入板,係包含有選擇性注入閥,| 上面匕邊氣體入口供應之氣體,選擇集中至一部份之上部電& 在另一特徵中 ⑧ 、I32011〇 擇性注入閥’使此氣體選擇集中至上述腔ΐ内^^1=|選 使橫跨 下《極所支撐之基板而注入3等 3下,使 係彼此分隔。 /聽科上4電極和下部電極 -另特徵中"'種液晶顯示裝置係包含有:第-臭拓·楚 二,,和在此等第一與第二基板間之液晶層,該等二第一
溥膜之方法來形成,此種方法所包含步 面形成 室内;在哕㈣肉、登裡步驟有.將軋體供應進腔 擇動選擇性注人板之選擇性注入閥;透過 隼入氣體;使用該選擇性注入閥,航氣體選擇 集中至上述腔至内之—部份上部電極上面;以及橫跨此 化之i體注人率下,使橫跨下部電極所支樓之i板而注 入*亥氣體,該等上部電極和下部電極係彼此分隔。 理應瞭解的是,本發明先前之一般性說明和下文之詳細說 明,係屬例示性和解釋性,以及係意在提供所主張本發明之進一 步解釋。
【實施方式】 茲將詳細論及本發明之較佳實施例,彼等之範例係例示在所 附圖式中。 第3圖係可例示依據本發明製造液晶顯示裝置之設備的橫截 面圖。在第3圖中,設備50係包含有腔室52。形成在此腔室52 之上侧部内的氣體入口 54,以及形成在此腔室52之下側部内的 氣體出口 56。氣體係自氣體儲存單元(未示出)通過該氣體入口 54注入進該腔室52内,以及係通過該氣體出口 56自此腔室52 排出。此設備50可能係乾蝕刻設備或電漿蝕刻設備。此外,該設 1320110 化學錢騎(⑽则或電料触學蒸氣;殿積 62 t Λ,二_ u_#l做戰至此腔至52内之下部電極62上面,以;5輿 3 可能純含由侧料力轉式化之薄膜ί 二外Ϊ 52°之2 62係使連接至外部電力供應器63,其係可位 ^腔至52之外部,以及係可將射頻㈣電力供應給該下部電極 、㈣等下部電極62與上部電極58之間的空間,經常你
ΪΪίΐί、Ϊ域。特言之,該上部電極58係使接地,以及係包^ 夕數可土射上猶過氣體人σ %所提供之驗敝人 此注^喷嘴60可橫跨該上部電極58,而成矩陣之方式排列。。 氣體置在該i㈣極58上方之 •^7」^ 和67特5之,母一氣體注入板65、66、 二嘴ίί、多數T使透過氣體入口54注入之氣體平均分佈 ^喷嘴(未不出)。該等氣體注入板65、66、和67之數目,係可 基於需求而加以改變,而使此設備5〇可能至少具有一片氣體注 板。 /八 此外,該腔室52係包含有一佈置在該上部電極58與該等 體注入板65、66、和67之間的選擇性注入板70。特言之,此選 ,性注人板7〇 ’可㈣使肖-選雜注人闊76,來控制橫跨該上 部電極58之氣體分佈。因此,藉著該選擇性注入閥邗使上述透 過氣體入口 54注入之氣體,通過該等氣體注入板65、66、和67 之噴嘴,而選擇地分佈橫跨該基板64,以及接著使通過該上部 極58之注入噴嘴6〇。 第4Α和4Β圖係一些可例示依據本發明之實施例的設備之注 的橫截面圖。在第4Α和4Β圖中,選擇性注入板7〇包含有至 J第一〉主入孔72和至少第二注入孔74。該第一注入孔72可能對 應於上部電極58 (顯示在第3圖中)之中央部分’藉以使該氣體 、切〇11〇 侧緣部分,藉以使該部電極58 (顯示在第謂t)之 铡緣部分上面。 集令至此基板64 (顯示在第3圖中)之 +心内的選擇性注選擇性注入板7〇之 注入孔74選擇地、、主入^ 透過该等第一注入孔72或第二 該腔室52之^部的控^注人閥76 ’可能係受到在 選擇性注人卩㈣綱立耻下飾,言之,該 和第二孔76b係可彼 ^^孔^此等第一孔76a 閥76之上表面虚且古pq °亥第孔76a亦可在該選擇性注入 73 Γ 二孔76b係可彼此連接,且可形成^一孔76a和第 時,76軸至下部位置 一注入孔7?、、:>:入>*触連接至上述之第注入孔72,藉以透過此第 76b,對庫於上述選擇性注入閥%之第二孔 和βπΐ ΐΐ第 孔72時,上述透過氣體注入板65、66、 第二:f 3圖中)供應之氣體,將會通過上述之第一孔服、 在i 3圖中')注入孔72 ’而至該上部電極58 (顯示 時,S二76移動至上部位置 孔74注入軋體。因此,當上述選擇性注入閥76之第二 Ϊ ί應ΐΐ第二注入孔74時,上述透過氣體注入板阳、6Γ 第二ill在第3圖中)供應之氣體,將會通過上述之第—孔76a、 樣圖刷增極58(顯示 此外’雖未顯示出’有螺線管可配備來選擇使該選擇性注入 闊76上下移動。所以,該選擇性注入目76,係可依據一些自外 '1.320110 部系統(未示出)供應至該螺線管之控制信號而移動。 此外’雖未顯示出,該選擇性注入閥76係可包含 之第-和第二=入孔,以及可使移動至—不同於該等上部和下苦; 位置之位置,藉以更細微地控制氣體之分佈。舉例而十, 性注,閥76,係可包含有第-、第二、和第三注入孔:彼^可八 別使氣體集巾至該上部電極58 (顯示在第3 ®中)之巾心邱八刀 中,部分、和侧緣部分上面。結果,藉由移動該選擇性注入^ : 使氣體選擇注人通過該等第-注人孔72或第二注人孔7 該氣體注入率係可使改變。 此, 因此,上述透過氣體入口 54(顯示在第3圖中)注入 係通過該等氣體注入才反65、66、和67 (顯示在第3圖中)之嗜’ 通^述選擇性注入閥76之第一和第二孔恤和施、該 喷嘴60 ,麵分配橫跨該基板64 (顯示在第3圖Pg58之注入 所以,此依據本發明之實施例的設備,係包含有選 S其集中至上部電極之至少μ部=== t二及可橫跨該基板之表面,選擇控制氣體注入率,藉 =之速率下,橫跨該基板之表面,澱積/侧薄膜。 何以㈣’此依據本發明之實施例的設備,可被用來在任 !)薄2基或半導體基板為例之類型的基板上面,澱積/蝕 技藝之專業人貞將可明瞭,在*雜本發明之精神虚界定 ϊϊΐ:2於製造液晶顯示裝置之設備及使用此設備所ϊ造之 係=使完成各種修飾體和變更形式。因此,本發明 所^供^is月在所附申請專利範圍和彼等之等價體的範圍内 所徒供之修飾體和變更形式。 1.320110 【圖式簡單說明】 第1圖係可例示依據相關技藝製造液晶顯示裝置之乾韻剡設 備的橫截面圖; ° 平面^圖係可例示第1圖中所顯示之韻刻設備的上部電極之 面圖第^圖係可例示依據本發明製造液晶顯示裝置之設備的橫截 第4A和4B圖則係一些可例示依據本發明之設備的注入板之 I 橫截面圖。 【主要元件符號說明】 10腔室 11氣體出口 12氣體入口 13外部電力供應器 21下部電極 22基板 • 23下部屏蔽 33上部屏蔽 31上部電極 32孔 41,42,43氣體注入板 50設備 52腔室 54氣體入口 56氣體出口 58上部電極 1.320110 60注入喷嘴 62下部電極 63外部電力供應器 64基板 65, 66, 67氣體注入板 . 70選擇性注入板 72第一注入孔 ' 74第二注入孔 76選擇性注入閥 76a第一孔 • 76b第二孔

Claims (1)

  1. 1320110 十、申請專利範圍: ^ 一種用以在基板上面形成薄膜之設備,其係包含有·· 一腔室’係具有一氣體入口; 一上部電極,係在該腔室内且具有多數之喷嘴; 郊番Lit電極,係、在該腔室内,且用以在其上支縣板,此下 邛電極係與該上部電極相分隔;和 Λ ί擇性注入板,具有第—及第二注入孔,且該第一及第二 u、位於该上部電極上一不同位置之上,且該不同位置相較 不同距•’且一選擇性注入閥選擇性與該第一及第 二終宏亚用以控制使—透過該氣體人口供應之一氣體在 〜疋時間日讀提供至該上部電極的—所欲部份上。 備,圍第1項之用以在基板上面形成薄膜之設 孔,、ΐ第^擇性注入閥至少包含彼此連接之一第一孔和一第 :該第:f二;闊之上表面處的開口,以 、”有在„亥、擇性/主入閥之側表面處的開口。 備,圍”項之用以在基板上面形成薄膜之設 備:申 備,圍第1項之用以在基板上面形成薄膜之設 備”中遠選擇性注入閥係在該選擇性注入板之中央 備,ΙΓΐϊϊ㈣1項之^在基板上面形成薄膜《 /、中知知性注入板係至少包含有對應於該上部以; 15 1320110 該上部電極之側緣部分的該第二 央。卩分的該第一注入孔和對應於 注入孔。 μ、 備,圍第6項之用以在基板上面形成薄膜之設 :注至少包含有在該第-注入賴 部電極$ 孔孔,此第三注人孔侧應於上述上 °p電極之中央部分與側緣部分之間的部分。 借irTtr清專利乾圍* 1項之用以在基板上面形成薄膜之設 、、中,錢備係-侧設備與—化學蒸歧積設備中的一個。 借9使ΐΓίί利範圍第1項之用以在基板上面形成薄膜之設 ί二其中在錢體注人口與選擇性注人板之間,係進一步包含 有至少一氣體注入板。 也L〇.如申請專利範圍第1項之用以在基板上面形成薄膜之設 & i八中進一步係包含有一連接至該等上部和下部電極之電力供 應器。 # 11 一種液晶顯示裝置,其係包含有: 一第一基板; ▲ 一第二基板,此等第一和第二基板中的一個,係具有一薄 膜,此薄膜係由一如申請專利範圍第丨項之用以在基板上面形成 , 薄獏之設備來形成;和 在該第一基板與該第二基板之間的一液晶層。 12. —種可在基板上面形成薄膜之方法’其包含之步驟有: 供應一氣體至一具有一腔室之一開口結構的選擇性注入閥 中,其中該開口與該氣體相通,並選擇性與一第一及一第二注入 1^5 1320110 孔相通 署卜:i該第—及第二注入孔皆位於該上部電極上之一不同位 置上,且该不同位置彼此間具有不同距離;及 2性導m緣體至該第—及第二注人孔中,藉選擇性使咳 、擇性注人閥與該第—及第二注人孔相通的方式為之。 ° =·如申請專利棚第12項之可在基板上面形成薄膜 ^括移動^擇性注人閥至―上部位和—下部位中之—者的步 ϋ如申請專利範圍帛12項之可在基板上面形成 ί括ί二;ΐ擇性導引該氣體至該第一及第二注入孔中的步: 包括使透過該第-注人孔和該第二注入孔中的—個,、= 孔係對應於該上部電極之巾央部分,以及 = 該上部_⑽緣部分。 a⑽對應於 如申請專利範圍第12項之可在基板上面形成薄膜 、、中’該選擇性導引該氣體至該第一及第二注入孔中 法 之方 包,使透,該第-注人孔、該第二注人孔、和—第三注入孔^的 一個^該第一注入孔係對應於該上部電極之中央部分,該* 入孔係對應於該上部電極之繼部分,以及該帛三私庵 於該上部電極之中央部分與側緣部分中間的部分。’、心 16.如申請專利範圍第12項之可在基板上面形成薄膜 法’其中’該選擇性導引該氣體至該第一及第二注入孔井 Ζί過ί選Γ生注入閥之第—孔,以及接著透過該選擇性ί入 閥之弟-孔,導人-氣體人σ所供應之氣體,該第—孔係 一 在該選擇性注人閥之上表面處的開口,以及該第二孔係具有一在 1320110 #玄選擇性注入閥之側表面處的開口。 17.如申請專利範圍第12項之可在絲上面形成薄膜 ^,其中,該選擇性導引該氣體至該第一及第二注入孔中的 匕括透過該選擇性注人閥之第—孔,以及接著透過該選,ζ =之第二孔’導人—氣體人口所供應之氣體,該選擇性關 第一和第二孔彼此相連接且形成為一反"Τ"形。 法Λ8中如申項之可在基板上面形成薄膜之方 其中遠選擇性導引該氣體至該第一及第二注入孔中的牛驟 係一蝕刻程序或一化學蒸氣殿積程序之一部分。 a 19·如申請專利範圍第12項之可在基板上面形成薄膜之方 牛,其ί進一步包含之步驟有:在供應該氣體至該選擇性注入閥 V驟之刖透過至少一氣體注入板分配一氣體入口所供應之氣體。 20. —種液晶顯示裝置,其係包含有: 一第一基板; ▲ 一―第二基板,此等第一和第二基板中的一個,係具有一薄 犋’此薄膜係由如申請專利範圍第12項之可在基板上面形成薄膜 之方法來形成;和 在該第一基板與該第二基板間之一液晶層。 18
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Families Citing this family (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN103184432B (zh) * 2011-12-30 2016-01-06 中芯国际集成电路制造(北京)有限公司 注入装置及处理设备
WO2024054056A1 (ko) * 2022-09-08 2024-03-14 주성엔지니어링(주) 가스 분사 장치, 기판 처리 장치 및 박막 증착 방법

Family Cites Families (13)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH02205022A (ja) * 1989-02-03 1990-08-14 Hitachi Ltd ドライエッチング装置
JPH0555172A (ja) 1991-08-27 1993-03-05 Nec Yamaguchi Ltd ドライエツチング装置
US5453124A (en) * 1992-12-30 1995-09-26 Texas Instruments Incorporated Programmable multizone gas injector for single-wafer semiconductor processing equipment
JPH1161452A (ja) * 1997-08-08 1999-03-05 Seiko Epson Corp ドライエッチング方法及びドライエッチング装置
JPH11297681A (ja) * 1998-04-07 1999-10-29 Mitsubishi Electric Corp 高誘電率薄膜形成用cvd装置および高誘電率薄膜の形成方法
JP2001023959A (ja) * 1999-07-05 2001-01-26 Mitsubishi Electric Corp プラズマ処理装置
JP3514186B2 (ja) * 1999-09-16 2004-03-31 日新電機株式会社 薄膜形成方法及び装置
TW200819555A (en) * 2000-09-08 2008-05-01 Tokyo Electron Ltd Shower head structure, device and method for film formation, and method for cleaning
JP4666912B2 (ja) * 2001-08-06 2011-04-06 エー・エス・エムジニテックコリア株式会社 プラズマで補強した原子層蒸着装置及びこれを利用した薄膜形成方法
US20040060514A1 (en) * 2002-01-25 2004-04-01 Applied Materials, Inc. A Delaware Corporation Gas distribution showerhead
JP2004103776A (ja) * 2002-09-09 2004-04-02 Matsushita Electric Ind Co Ltd 半導体装置の製造装置及び半導体装置の製造方法
US20040082251A1 (en) * 2002-10-29 2004-04-29 Applied Materials, Inc. Apparatus for adjustable gas distribution for semiconductor substrate processing
JP4312063B2 (ja) * 2004-01-21 2009-08-12 日本エー・エス・エム株式会社 薄膜製造装置及びその方法

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