1320003 九、發明說明： 本說明書聲明了申請於2005年12月15日標題為，，冷燒 結製程”的美國專利說明書第60/751,148號之申請案，以及申 • 請於2006年1月27日標題為”冷燒結製程，，的美國專利說明書 、 第60/763,068號之申請案之獲益’且該些說明書係參考性地整 合於此。 【發明所屬之技術領域】 # 本發明通常相關於電漿燒結的領域。 【先前技術】 需注意的是以下說明是指出許多的公開著作與參考。此處 . 之公開著作的論述將作為更完整的背景與科學定律而提出，且 ‘該論述並不被解釋為該些公開著作為用以達成可專利性判定 的先前技術。 一電漿為部份離子化氣體，其包括了伴隨著中性原子與分 •子種類的離子與電子。電漿可藉施加高頻震盪電壓於電容板間 或穿過磁感應以驅動氣體中的電流而形成。該射頻場加速電子 的向能量且此些粒子接著與出現在周圍氣體中的中性原子與 刀子相撞擊，該撞擊導致了許多副產物。分子分離為受激發原 刀子與離子化種類，且原子可被離子化或提升至較高受激 發〜、該些中性與離子化種類為高度反應性的且可化學性地相 互作用於表面與其他氣體種類。雖然該電衆氣體整體來說是接 周圍咖度，該電子氣體溫度典型為1〇4絕對溫度。接下來該 1320003 電，氣體可與表面以及其它分子麵起化學與物理反應，產生 南溫度效應，但傳至該表面賴溫度能量是相當地^在電聚 中的再結合或釋放之反隸賴常發㈣定柯見光，該電裝 電子密度通常為l〇ncm-3。 Μ电聚為基礎的材料製成以及表面處理已為大眾所知，特 別是在半導體从電子4。在電子學中，通妓用以清 除雜質或氧化表面，或物理性地#刻表面。在Κ封裝中，電 漿清除是用以在烊接、封裝與貼附晶粒前清除且活化表面 =常用於交互鏈接的高分子表面以對該村料提供額外的遮 1、化學阻擋，是特定_而料_氣_於錢處理。· 性、惰性以及氧化性氣體所組成，舉例來: 立它氣Γ電::、“、氫氣'氧氣、一氧化碳、氨氣以及 /、匕乳體。電漿處理通常於以aGM托耳的Μ室中 發展至能允許電漿處理進行於與昇高壓力和溫度 電漿巾_子化録與自由基核子與接㈣ =反應，誠面反射為物雖、解性或物理触化 應的結合。物理反紐生於當高 、干，反 機械能至表面原子，於-製料擊表面且傳導 韃h 表面原子_自表面注入gp =為燒結或燒#。表面污染層可包括具有弱碳氫鍵㈣八子 繞餘一般導致弱共價鍵的分解，還原性鍵分解持續到該重 1320003 的電 地或異向性地蝕 p子及/纽電財財錄子躲面分子⑽分子起 ，卩發生了化學反應，此種反應之—牵涉到轉換表面高 刀子至月匕被排出之局氣壓產品的還原性種類。舉例來說電裝灰 化是電漿中形成的氧原子撞擊在光阻上歸解絲阻為揮發 性產品的雜。卿發性產品被翻，但電漿並不實質地影響 其它無機表面材料，意即魏灰化是有選擇性的。已知在電漿 灰化中離子與巾性粒子可以高於單獨粒子的速度與表面反應 [在1989年的學術公報中由D M 乂刪與D丄fi_所著之 “電漿姓刻”]。化學反應的其他型態可牽涉到表面原子與分子 的氧化或還原’舉例來說’ 一氧氣電聚氣體可與金屬原子起反 應，如同銀會形成氧化銀一般。同樣地，該還原性氣體，例如 氫氣，可與金屬氧化物反應，例如氧化銅，且還原該氧化物為 金屬(Cu)。 雖然電漿製成常用以處理表面，但已發展出了的使用電漿 以進行大量粉末的燒結之較新技術。此技術即為放電等離子燒 結(SparkPlasma Sintering ’ SPS)，但其也被稱為電磁輔助燒結 技術(Field Assisted Sintering Technique，FAST)或脈衝電流燒 結(Pulsed Electric Current Sintering，PECS)。SPS 的主要特徵 7 1320003 在於一脈衝DC電流直接地通過一圖案化晶粒，且進入已被該 晶粒充填的一粉末床，該電流脈衝產生的内部熱能藉由較佳地 加熱該粒子於高阻抗接觸點而傳至該粉末樣品。最需注意的 疋，可藉此方式達到極高加熱或冷卻速率（高達6〇k/min)。接 下來，粉墨樣品可經由結合内部加熱與該周圍粉末壓縮與外部 加熱的結合而被燒結。此技術相較於習知溫度燒結製程來說， 花費了數分鐘到數小時的時間，該脈衝直流或電磁場、粉末壓 縮，以及外部加熱似乎為SPS製程的必要部份[舉例來說，請 參考J.ML〇Urenco等人所著之，，非合金鐵的電漿燒結：表面多 孔性的研究，，一文，其刊登於2004年編號2,269-275號之材料 研究第七期上]。 在印刷電子學領域中，導電金屬特性通常以墨水的形式印 出’使用包括螢幕列印、模板印刷、喷墨式、刮板塗佈、旋轉 式塗佈f霧塗佈的大量方法而施加此些墨水。該墨水可包括 奈米微粒或微米微粒懸浮物、金屬有機先驅物或有機溶劑中的 導電粒子’為了維持墨水的穩定，該粒子通常外覆㈣含粒子 積聚的-有機覆蓋詹。其它細的有機資料巾，燒結辅助以及 黏合增進射添加至該墨水以於使㈣糊印、配置印刷或喷 墨列印中時增強特定特性。同樣地，美國專利說明書第 20040185388號巾揭露-種祕製造印刷電路板的墨水。該墨 水由金屬氧化物錢氧化物之良好微㈣散佈所組成，其中部 1320003 分的微粒藉能量擾動而被還原，使用嘴墨或液態散佈裝置來沉 殿該墨水，導電特徵可藉以雷射、電子或離子束而擾動該沉積。 許多電子製造商所感興趣的基質材料以及其它材料具有 近於loot的損壞臨界，且通常無法容忍產生導電性墨水所需 的溫度與時間，此些基質包括了 PET、聚碳酸醋樹脂 (Polycarbonate)、環氧樹脂Epoxy與1C晶片。一低溫燒結製 程對於此些基質來說在印刷電子學中具有許多優點。此外，在 規劃到生產階段時，需要降低燒結時間且因而促進墨水/基質 黏合。 【發明内容】 本發明是祕燒結導絲子的綠，财法包括下列步 驟：沉積粒子於基質上，該些粒子包括至少部分包覆著非導電 性材料之導紐料；曝露該錄子至魏；移除至少—大部分 的非導電性材料；以及燒結多個導電性粒子以形成—沉積^ ^質溫度較佳地衫超過贈C，且更佳地為不超過大約的周 圍二，該沉積較佳地包括-墨水，且粒子較佳地為金屬性的 ^可較佳嫩奈錄。辑冑物触地包括使用 一或多個製程氣體’至少—該些—可選為氧化性的，在 此例示中，該方法選擇性地進一步包 在 此增加該沉積電阻值及/或阻抗值。 積的步驟、因 該曝露步驟較佳地執行於介於約〇 的廢力中，祕露步闕抛地故：料與2_瓜托耳 破該基質與電漿中的帶 1320003 電粒子，該沉積較佳地形成選自由EMI遮罩、交互連接、導 電性修復一電極…錢||以及—導電賴雜成的群組之 -結構。該沉積步驟與曝露步驟為選擇性地同時執行，其中該 沉積可選擇性地包括三賴構。觀聽構選祕地使用主要 為使用遮蔽氣體之煙霧粒子流的氣動式，且該遮蔽氣體可選擇 性地包括該電漿。 該沉積之阻抗值較佳地為少於約導電性材料的巨觀阻抗 鲁值的四倍，且更佳地少於約導電性材料的巨觀阻抗值的三倍。 該方法選擇性地進-步包含加熱該沉積的步驟，其中沉積的阻 抗較佳地少於或等於約該導電材料之巨觀阻抗值的兩倍。 •本發明亦關於用以燒結導電粒子方法，該方法包括向基質 推動粒子的煙霧流的步驟’其中該粒子包括部分包覆著非導電 材料之-導電材料。氣動式地集中屏蔽氣體的流；沉積粒子於 該基質上；曝露該些粒子至電聚；移除至少大部分的非導電材 •料；且燒結多個導電粒子以形成沉積。該遮蔽氣體選擇性地包
括該電漿。該推動與曝露步驟選擇性地同時執行，其中該沉S 較佳地包括三維結構，該曝露步驟選擇性地在該沉積步驟後執 行。 本發明之目的、優點與創新特徵，和可應用性的進一步觀 點將於接下來的實施方式以及所關示巾闡明，a對於熟習本 技藝者來說’將因此明瞭本發明之例示且可依據本發且辟 1320003 實施。本發明之目的與優點將藉由說明與圖示以及於所附之申 請專利範圍中指出的組合而更為明瞭。 【實施方式】 本發明揭露用於可印刷墨水之低溫燒結的方法，較佳地使 用一電襞’該墨水可使用多種沉積技術而沉積，且能被應用以 處理包括但不限於電子、生物及低溫基質的材料。 本發明提供一種用以化學性與物理性地使用電漿氣體修 鲁改不同基質上之墨水的特性方法，特別著重於熱敏基質上之金 屬奈米微粒的燒結。此特定製程較佳地使用電漿以於室溫中燒 結金屬奈米微粒，本製程使得金屬性墨水的阻抗值接近相關巨 觀金屬的阻抗值，但製程溫度接近室溫。該製程被稱為冷燒 、、Ό，其可執行於一般大氣條件或降低的壓力下，該電漿製程氣 體可視該墨水而定由許多來源所組成，但典型製程氣體已證明 為有效的’其包括周圍氣體或氮氣、氧氣、氫氣與氬氣的組合。 鲁該墨水樣品可維持於室溫或更低的溫度，以增進燒結速率，樣 品可保持在昇高的溫度中。 本發明較佳地包括一低溫製程，其中電漿較佳地施加至一 墨水沉積，使得該沉積為能導電、具有金屬延展性且能黏合至 一基質表面。特定地，該亞穩態原子與產生於電漿中的其它種 類為尚反應性的，此些種類較佳地與墨水中的有機塗料或有機 接合劑相互反應’且使之轉為可隨後蒸發之較小、更具揮發性 11 1320003 的分子，而僅留下金屬粒子，餘的金屬粒子為高度導電的， 且因此該電漿製程於周圍溫度產生高導電沉積。 本發明之電漿製程亦較佳地導致金屬粒子的接合與燒 結’該電衆較佳地自機屬粒子表面剝除高分子塗料，該些個 別、淨化的奈米粒子通常具有極高的表面能，因而有一高溫度 動力位能以驅動該分子至一較低表面能態❶一粒子可藉 子的擴飾賴些粒子_祕達聰絲面能，藉頭相接的 粒子具有比其它粒子更低的表面能，且此頸依可導電且延展的 橋接。當該些粒子持續形成頸區時，且總表面區域被降低且該 表面能被釋放，此即為用於奈米微粒之燒結的主溫度動力驅動 機制，並且因為奈米微粒的表面能通常很高，燒結甚至發生在 低溫中。藉觀察金屬墨水的阻抗值降低以及藉觀察粉末轉換為 延展金屬而實驗性地觀察奈米粒子燒結。良好延展性表示說該 些粒子為機械性地連接且因此被燒結，對於微米粒子間的特定 燒結已經亦藉著增加的導電性與延展性被觀察而證實。在燒結 似乎受限於少量鄰近粒子-粒子接觸點的燒結，該些點具有表 面能梯度且#著該賴將藉粒子間頸區的形成而進行，該驅 的形成快速地降低整體表面能。 當該些粒子頸區的形成而偶接’該整體的表面能為較低且 驅動该製程的溫度動力位能亦被降低，為持續驅動該燒結能完 整密實’通常需施加額外的能量，此額外的能量可藉由於溫控 12 1320003 室中加熱或以雷射加熱，或者能藉電漿本身施加，由於在較高 的氣壓中該電漿實質上易於變熱。該電漿氣體可經由撞擊反應 傳導熱能至該基質。額外的熱可藉提供電流而施加，其可導致 於粒子鍵結的歐姆加熱以進一步促進該溫度燒結，該電流可以 數種方式施加，但最方便是經由用以產生電漿的裝置之前述電 磁場而施加。粒子的完整燒結或完整密實需要加熱到丨㈨它以 上，然而，電漿自身導致的該些粒子燒結可通常足夠產生高導 電與延展的材料，較大的粒子可需要較高的加熱量以完全燒結 該些粒子。 冷燒結製程係描繪在第la圖到第Id圖中，沉積該些金屬 奈米粒子墨水以形成緻密充填的粉末床。金屬奈米粒子較 佳地包括有機覆蓋層12’其通常用於產生穩定的墨水懸浮， 如果沒有該有機覆蓋機制的話，金屬奈米微粒懸浮將不穩定且 易於積聚在-起。接下來，該增加的有機化合物通f為墨水的 必要成分，然而，該有機覆㈣12通常為絕緣，且接著在沉 積後該墨水立即為非導電性的。帛lb _示電賴該沉積墨 =相反應，且分解該有機體為較小、更為揮發性的分子，該些 刀子可包括-氧化碳、二氧化碳以及水。電漿離子14與中性 種類較佳地與有機㈣弱碳氫鍵起反應，其它有機鍵較強且通 倾難分解’接下來，該些錢體的該長高分子鏈通常於該碳 乳鍵上裂解且產生小分子16。相較於财機體的移除，該電 13 漿與金屬反應相當地弱且產生小蝕刻，接著，該製程選擇性地 移除該有機體，而留下純金屬粉末床。 第lc圖顯不當有機小分子16被移除時，該金屬奈米粒子 10進入物理接觸，且該粉末床變成可導電。第ld圖顯示由於 表面能釋放之奈米粒子的燒結，該燒結甚至可發生於室溫中， 相較於未燒結的粉末床，該燒結粉末具有較佳的延展性以及導 電性。 除了燒結墨水以外，該電漿製程亦較佳地促進基質表面的 黏合，電漿清理製程與表面活化於電子產業中是眾所皆知的。 在其它事物間，該電漿可裂解弱表面群且置換以來自該製程氣 體的化學群，此外’該固有表面清潔以及氧化物和有機物的移 除可降低金屬墨水間接觸電阻值且覆蓋金屬表面。本發明之該 冷燒結製程較佳地驅動三個非常重要墨水優點之一或多個： 一、於低溫中燒結；二、改良的黏合與重量；三、降低對金屬 的接觸電阻值。 雖然，該冷燒結製程可發生於極低周圍電漿壓力下 (〜lmTorr)，各種製程氣體的加入可大幅增進且最佳化該燒結 速率°如同上述，較高氣體壓力的一效應是該電漿變熱，該加 熱電漿將傳輸能量到墨水，因此增加燒結速率，較高氣體壓力 益增加離子以及出現的中性反應物的數目，其加速了反應以及 1320003 燒結速率，該製程氣體的特定型態亦大幅地影響該燒結速率， 也已使用了惰性、還原性與氧化性氣體。 惰性與還原性氣體的使用通常導致約略相同的燒結速 •率，但氧化性氣體通常導致戲劇性地較高速率，如同第5圖所 不。相較於在惰性亂體氮氣中約需1〇分鐘，樣品可通常在氧 化性氣體例如氧氣中被燒結於3〇秒内，然而假如該樣品已在 氧孔中進仃了-段長時間的話，銀金屬將提色，且該墨水電阻 ♦值將開始增加，-般認為是由於氧化銀形成的關係。金屬氧化 疋迷背於低溫中達成緻密金屬沉積的整體性目標，但是該製程 對於其匕應用來說可能是有利的。需注意的是該氧化物形成為 藉由輕微加熱墨水樣品或藉施加例如氫氣的還原性製程氣體 而回復。整體上’評估之最有效率的製程氣體是氧氣以及氮氣 的混合，但其它組合亦可為有效率的，該電聚製程文獻提及許 鲁多乳體’包括氬氣、氮氣、氧氣、一氧化碳、氦氣、氫氣、氨 氣、六氟化硫以及四氟化碳。 本發明之冷燒結裝置的實施例顯示於第2圖中，該裝置較 佳地包括金屬或玻璃室丨8，其抽空至介於〇.lm托耳到2000m 托耳間之一壓力，該電漿較佳係藉RF感應線圈20而產生。 可使用其匕方法以產生電漿，包括但不限定於帶電電容板點 源、雷射或向壓靜電產生器，感應線圈20可沉積於該室的内 侧或外側’該線圈較佳地以13MHz的訊號頻率操作，且輸入 15 1320003 功率為Π)瓦’雖财錢任何鱗與料 =燒結速率，然而’通常需要較高功率以於昇高壓力中： 將被燒結的樣品24可放置於室18之任意位置，但較佳 地放置在樣品架座22中，其較佳地設置在接近室18的中心， 樣品架座22可麟於室溫巾，麵擇性地加熱以增加燒結速 率’至18較佳地包括連接至真空幫浦的輸出口以及允許製程 氣體充入該室的輸入孔。
由於電漿中的反應種類一般包括中性種類，該樣品可亦放 置於阻隔帶電粒子的區域中，對於電荷建立敏感的例如Κ晶 片之基質上的燒結墨水來說是有利的。紐基f的簡單方式是 將基質用法拉第盒@繞起來，例如—個導_盒，該法拉第盒 將阻隔大部分或實質上所有的帶電粒子，但允許中性粒子的通 過。替代性地’該基質可置放於與電衆源隔開的區域中，藉由 輸入氣體流，可傳送電漿至製程^相較於巾性_來說，電 漿中的該些帶電種類通常可快速地再結合，可配置此系統使得 基質疋電漿的下游，因此在與該基質反應前，實作上必須中和 所有帶電種類。 應用 一般來說，本發明為用以燒結金屬墨水之方法與裝置，較 佳於熱敏基質上，包括但不限定於塑膠、對溫度敏感的IC晶 片以及生物醫療裝置。 1320003 EMI屝齡珥透明導唧y一 例如電漿電視與電腦顯示器之現今電漿顯示裝置具有將 藉裝置發出電磁輻射與使用者隔開的需求。同樣地，許多微波 裝置’例如微波爐，需要遮罩以容納該微波場於該裝置内，此 外，彈性EMI遮罩通常用以保護敏感性電子封裝與周圍電磁 場隔開。該些遮罩通常由玻璃或具有透明導電罩的塑膠膜所組 成，該些遮罩可亦由在一支撐基質上的細微柵狀或網狀導線所 修組成，此些遮罩的目地是吸收由該些裝置所發出的該些電磁場 或反射該些電磁場以保護該裝置。對於透明EMI遮罩來說， 該導線的半徑通常非常小(〜10微米)使得該導線具有光學交互 區塊且主要為透明。 EMI遮罩的製造成本昂貴’特別是假如使用了微機電以及 真空濺鍍的技術，然而，製造者正嘗試將不昂貴的印刷導電墨 水加在不昂貴的塑膠基質上。印刷墨水的數個印刷技術例如噴 _墨、螢幕列印、旋轉塗佈、喷霧沉積等等。同樣地，以發展出 允許墨水膜為自組性地進入細微導線與栅狀圖案的墨水與表 面化學物質，然而電流產生方法的主要限制在於燒結墨水已達 成高品質電效能於塑膠上。該冷燒結發明提供一種產生高品質 導電膜以良好的黏合黏於塑膠上的方法，由於冷燒結製程發生 在印刷了墨水之後’其並不依據用以印刷該墨水的特定方法。 連接 17 1320003 實際上，所有電子裝置與封裝需要電子連接的某些形式以 電性地連接各種電子元件，較特定地說，電性地連接ic晶片 至電路板的-種歧的方法是使用打祕合。然而，導線焊接 的一缺點在於晶片與板間的連接是由導線的迴路所構成，一般 超音速地焊接該晶片][/0與該板焊接墊。此迴路是機械性易碎 的，且於尚操作頻率時其為輻射性損失的來源。 達成較佳連接的另一方式是印出一零設定，印刷墨水連接 ;a曰片I/O與該板烊接塾間，數種印刷技術可用於此方式中的 I7刷連接’包括喷墨、M3D煙霧喷射以及螢幕列印，此些方式 的限制同樣在於燒結墨水。當加熱樣品以燒結墨水時，該板與 阳片之差異膨脹導致連接破裂，此外，該晶片、板以及焊接材 料-般無法耐受在延伸顧高達·t的燒結溫度。 由於該冷 …主要發生在室溫’可免除因熱產生的破裂以及材料劣化。 修複 平面顯示器現今是在大玻璃瓶板上以微影製程製造，平面 顯不器非常昂貴，任何缺陷 ，例如破裂軌跡，可導致整個面板 、I貨進步來說’有需要發展一修復製程以沉積立燒結金 屬與介電質墨水而修復缺陷。 由於面板體積龐大，加熱整個面板至燒結以該印刷墨水是 不實際的，區域加熱製程仍在實驗階段，例如雷射與光學燒 ^然而，仍無法達到所需的黏合與導電規格。該冷燒結方式 18 1320003 可使用於區域輯結墨水沉積於接近周@情況，相反於使用燒 結至’此夠操作於周隱力的_小電㈣可設置在整個修復區 域中，修復可於後被沉積且於數秒中燒結。 生物醫瘓奘罟 舉例來說，生物醫療裝置包括廣泛的佈植裝置、感應器、 外科與分析工具等’此絲置可由多種塑膠、可塑性樹醋、結 構化金屬以及-般電子所構成。該冷燒結製程提供植人電子特 徵於其上或進人此些部件的方法，由於該製程發生於接近室溫 且約略地獨立於基質材料，冷燒結可驗燒結金屬墨水與多種 裝置上’此舉打開了印财贼鮮、電及熟有複雜雜與 複雜材料成份的裝置之連接的大門。 塑膠雷子 塑膠電子的新興領域是尋求印刷相似於1C的電子特徵於 大型彈性基質上’製造成本為關鍵驅動要素，且現今成本是由 例如濺鍍或微影之習知薄膜生產方法來主導。冷燒結之一特定 區域可用於製造高導電軌跡以及塑膠膜上的電極，由於例如 PET或聚碳酸黯之歸㈣溫度損％限制之故，很難能夠燒結 金屬墨水以料良好導電性而無損壞該下覆膜。目此，塑躁電 子製造商通常施加濺鍍製程已沉積金屬結構，或可沉積一導電 尚分子，例如 PED〇T{Poly(3,4-ethylenecliOXythi〇phene) 19 1320003 P〇ly(styrenesulfbnate)}，該導電高分子相較於導電金屬來說為 數個電阻級’且接下來，此高分子可能更適纽積金屬。 本發明允許於塑膠膜上燒結純金屬鏈接已達成極高的導 電性’該墨水可以喷墨、螢幕印刷、旋轉塗佈、刮板塗佈、喷 霧塗佈或該M3D製程的刷，該冷燒結製程可制在印刷墨 水當作分批製程’或是區域性地被施加，以同時燒結僅小數目 的特性。該製㈣於產生高料執跡以連接個別的電晶體元件 至I/O來說是很㈣的。其亦可用來燒結印刷閘線·來燒結 汲極與源極線’該製程可亦用以燒結金屬墨水的極薄覆蓋以製 造透明導電膜。 内嵌電阻 一内建的被動應用為列印精確電阻於電路板上，在10歐 姆到1GM轉之範U岐具有5%容許度的纽值通常是較 重要的’電阻可以多種材料被印刷，包括—充滿碳的環氧樹 脂、金屬以及導電性氧化物^該冷燒結製程提供另—方式以印 刷電阻性70件’該冷麟製程已顯示燒結金餘子達成高導電 沉積以及氧化該金>|使之為料雜的能力，化物與金屬的 相對數量可藉由控制前述氧氣的濃度並且控職製程時間(舉 例來說，請參考第5圖）而調整，氧化物與金屬的相對數量一 般決定該材料的電阻值’接下來，依齡燒結方法可列印銀墨 水線’並且轉換該線為具有精確阻值之金屬與氧化物的結合。 20 J32〇〇〇3 即時燒結 當添加氧氣到系統時’銀的該燒結時間已顯示為少於一分 鐘’合理地期待可能有其它的改進，例如施加將降低該燒結時 . 間至數秒的外部熱能、雷射輻射、較高RP功率，或不同製程 氣體。接著，在沉積期間即時地施加一電漿至該材料，而非按 照先前所提及的順序方式，假使當材料為物理性地沉積時施加 鲁電漿，該效應將為在沉積時一起結合該些粒子、自該墨水移除 有機化合物，且燒結該材料以形成延展性沉積。接下來，例如 導電線圈之功能性材料可沉積於單一製程步驟中。 同時應用該電漿燒結製程以及粒子沉積製程理想上適合 ㈣M3D印刷技術，該M;D製程藉由煙霧粒子流的氣動式集 中而沉積粒子。接下來，停留一陣以包括電漿氣體的氣體流而 置換遮蔽氣黯，之後該電賴體為與龍絲子共轴地流 鲁動’且當該些粒子沉跡於該基質上時，該電聚氣體將促進粒子 的黏合與燒結β電隸體亦可_立於必_起始的分 離氣體噴射被引導至沉積區域，在此架構中，可配置該的 ，始’舉例來說，係垂直於於沉積該些粒子的基f，且該賴 氣體將被引導至沉積的角度。 同時發生的沉積與燒結開啟了沉積三維結構的可能性，假 觀義合適於飾子_話，將結合該錄子且該有 機化口物藉電漿燒結反應而氣化。特定地，用於製造例如微米 21 1320003 尺寸端子、光束、彈簧與凸料社金屬結構，亦可能產生例 如植牙的複雜二維形狀。許多其它應用亦可發現於製造微機電 結構以及3D微元件。 例示 例示一 貝料顯不界冷燒結方法的銀墨水之電阻值降低係顯示於 第3圖中，使用的襄置包括可商業性地自維克電漿(Harrick Plasm#維克電_型PDC 32G)取得一電聚室。樣品一開始藉 由印刷銀墨水在UHTC的加熱玻璃滑片而預備，在印刷於該玻 璃上時該墨水沉積立料輕微可導電且齡約侧歐姆的初 始電阻值。當該樣品於無外部氣體之1〇〇m托耳的室壓下曝露 於該電漿，該電阻值在約10分鐘内快速下降到約28〇歐姆。 用於較長時間週期的額外冷燒結處理持續地降低該電阻值，但 以減少的速率來降低，在以冷燒結製程處理該樣品3〇分鐘 後，該電阻值輕微地降低或多於約244歐姆。該樣品其後被加 熱於250C溫控箱10分鐘，該熱處理進一步降低該電阻值約 30%來到164歐姆，或近似銀的平衡巨觀電阻值的兩倍。高於 250C的額外烘烤僅導致輕微的電阻值降低，對於此研究來 说，結論為該電漿燒結方法可降低該墨水的電阻值約其值的 30/6内，其可精於300 C的熱處理而獲致，然而，該地將處理 發生在低溫中。 22 1320003 例示二 第4圖顯示初始地烘烤該樣品於250¾藉曝露樣品於電漿 中之改良的電阻值，在此研究中，銀墨水可再次列印於加熱至 100 C的玻璃滑片上。該三種墨水樣品在列印後立即為可導電 的，其具有範圍從數千歐姆到數百萬歐姆的電阻值，在25〇〇c 中烘烤30分鐘後，所有樣品的電阻值下降到約445歐姆。在 該溫控箱處理後，該樣品其後以冷燒結製程處理1〇分鐘，且 樣品的該電阻值下降了 25%。最後該樣品被放回3〇〇£>c的溫控 箱中10分鐘，且該電阻值降低了額外5〇%，結論為該冷燒結 製程將進一步降低已曝露於相對高溫之溫控箱燒結之該墨水 的電阻值。然而，該電阻值在該值達到最高溫度(3〇〇。〇時是 良好的β 上述的結果是在沒有額外製程氣體的情況下獲致的該電 聚係形成自該室中的剩餘氣體。 第5圖顯示添加製程氣體雜向膜基f上之銀墨水沉積 的繞結的效應。該，’無氣體”曲線對應於無引入外部氣體的情況 (室壓約100m托耳）。如同所觀察到的，該墨水沉積的電阻值 達到大約於15分鐘達到漸近值，氮氣氣體(N2曲線)以5 〇sccm 到18.5s_的速率添加人該室，且可觀察地增加高達兩倍的 境、、、。速率。02曲線顯示引人至少每分鐘之該氧氣製 鞋氣體進人該系統的效應’可立即地證實氧氣大幅地促進燒結 23 1320003 速率。在氧氣氣體的較長曝露下該墨水電阻值開始增加且一黑 膜形成於該銀墨水沉積之表面，一般認為是由在有機掺雜被清 除時，氧化銀形成在銀上所導致。由於氧化銀不導電，當轉變 為氧化銀時，該墨水電阻值增加，需注意的是，藉由烘拷該些 樣品於約200°C，該氧化銀可被轉換回銀。 由於氧氣能賦予最強的效應，但也導致氧化銀的形成，故 導入兩種氣體的混合’ ”空氣’，曲線顯示周圍空氣的以5 〇sccm 引入(約70%的氮氣以及30%的氧氣)至該系統。空氣之該燒 結速率約等於用於純氮氣之185sccm的氣流速率而達成的燒 結速率，其顯示空氣中包括3〇%氧氣大幅地增加該燒結速 率，同樣地5.0sccm的空氣之燒結速率係低於使用2 5sccm的 純氧的燒結速率。此情形與在5sccm的周圍空之氣氧氣濃度是 低於2.5sccm知純氧氣體的氧氣濃度的情形一致。對於延長燒 結週期，該電阻值對於所有富含氧氣之製程氣氣來說是增加 的，氧氣傾向與銀起反應且氧化銀又阻礙該燒結製程。然而， 可叙β又例如一氧化碳或氫氣的還原性氣體可引入以阻止氧化 銀的形成，或者該樣品可於燒結期間輕微地加熱，使得該氧化 變知不穩定。需注意的是例如金之特定貴重金屬並不形成穩定 氧化物’因此可於富含氧的環境中被燒結。 雖然本發明已藉由參考特定較佳與選擇性 實施例詳細地 描述’對於熟習此技藝者來說，將可在無脫離下述申請專利範 24 1320003 圍的精神與㈣的前提下，進行各種修飾與改進，且其它實施 例也可達成同獅效果。各種已揭露於上的結構是峨佳與選 擇性的實施例引導使用者’而並非用來限制本發明或申請專利 範圍，本發明的各種形變與修飾對於熟習此技藝者而言2明顯 .的，且其意欲涵蓋所有此種修飾與等同體。上述所有專利與引 用的公開文獻之申請專利範圍的揭露係參考性地整合於此'。 【圖式簡單說明】 馨 整合且形成為說明書的一部分的此些附圖，繪示本發明的 數個實施例且與㈣書敎字描述—起絲轉本發明的精 神，此些圖示僅用於繪示本發明的較佳實施例，並非用以限定 本發明。其中 第la圖顯示包括隔離粒子的有機覆蓋層而使整體沉積為 非導電性的沉積金屬奈米粒子的橫截面圖。 第lb圖繪示電漿撞擊在有機覆蓋層尚且分解為微小揮發 •性次群，其中該揮發性有機體揮發且藉真空幫浦移除，導致該 次群如同氣體分子般地蒸發的橫截面圖。 第lc圖為形成導電結構的金屬奈米粒子在移除有機體後 穿過粒子-粒子接觸之橫截面圖。 第Id圖為高反應性奈米粒子於低溫燒結而形成連續地、 機械性連接的金屬膜的橫截面圖。 第2圖為冷燒結裝置之實施例的示意圖。 25 1320003 第3圖顯示"L積在·〇c、pET基質上的銀奈米微粒墨水 之電阻值的關係®。其t在曝露於該钱後該電阻值下降多於 個強度等級’此關係圖亦顯示當低溫燒及製程後將該些樣品 曝露於熱巾時’阻&值減少了 ’然而，此改善的幅度小於使用 冷燒結製程為第-步驟之大幅改善，故對於某些顧來說，額 外的加熱是必要的。 第4圖為一關係圖，其顯示減少的電阻值可依據室溫製程 (冷燒結)藉25(TC、30分鐘的溫控室處理而達成，其中該電阻 值改善(下降）了約25% ;以及 第5圖為顯示不同製程氣體對於銀墨水的燒結速率的效 應之比較圖。 【主要元件符號說明】 1〇金屬奈米粒子 12有機覆蓋層 14電漿離子 1(5小分子 18室 20感應線圈 22樣品架座 24樣品 26