TWI312522B - Solid electrolytic capacitor - Google Patents
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1312522 •九、發明說明: -【發明所屬之技術領域】 本發明為有關具備有經繞捲之電容器元件之固態電解 電容器。 【先前技術】 已知有一種將如鈕(Ta)、鈮(Nb)、鋁(A1)等具有閥作用 (valve action)之金屬作為電極利用之電解電容器。電解電 ' 容器,雖較他種電容器為小但電容量大,故一般廣為採用。 _而在電解電容器之中,特別是,作為其電解質而採用聚吡 咯系、聚噻吩系、聚呋喃系、聚苯胺系等的導電性高分子 或 TCNQ(7,7,8,8_tetracyanoquinodimethane : 7,7,8,8-四氰 基對醌二曱烷)錯鹽等之繞捲式固態電解電容器頗受矚目。 為了不致使固態電解電容器大型化之下而有再使其大 電容量化之需求,為達成此目的而所提案之方法係:於陰 極表面形成由氮化鈦(TiN)等金屬氮化物所成之被膜以提 高靜電容量。 ® 在此,就以往之繞捲式固態電解電容器中之繞捲之電 容器元件加以說明。第5圖,係表示以往繞捲式鋁固態電 解電容器中繞捲之電容器元件的構造之一例之透視圖解。 另外,第5圖中,為標明繞捲之電容器元件的内部層合構 造而呈示解開終端部的繞捲之狀態。 電容器元件1係具備:經實施蝕刻處理(電解研磨處理) 及化學被膜生成處理(chemical conversion coating)之作為 陽極2的銘箔、及施加钱刻處理之作為陰極3的銘箱、及 5 318576 1312522 作為硬枭被膜8的TiN蒸鍍膜、及防止紹箔2與铭箔3間 之的接觸用的分隔紙(separator)4a、4b、及形成於鋁箔2 與分隔紙4 b間和T i N蒸鍍膜與分隔紙4 b間之作為固態電 解質層之聚噻吩系(p〇lythi〇phen)導電性高分子層(未圖 不)電各益元件1,再具備有:保持繞捲狀態之捲定帶5、 及分別連接於陽極2及陰極3之陽極用引線伸片端子(16&(1 terminal)6a及陰極用引線伸片端子讣、及分別連接於 陽極用引線伸片端子6a及陰極用引線伸片端子补之陽極 ♦用引線7a及陰極用引線7b。 電容器元件1’係經由下述過程所製作。對鉑箔實施 蝕刻(etching)處理(電解研磨處理)及化學被膜生成處理以 製作陽極2。製作陽極2之後,在陽極2上設置陽極用引 線伸片6a。又,對鋁箔實施蝕刻處理以製作陰極3。製作 陰極3之後’在陰極3表面作為硬質被膜8而形成肅蒸 鍍膜。然後,在陰極3上設置陰極用引線伸片补。在依^ •將分隔紙4a、陽極2、及分隔紙扑以及形成硬質被膜8 之陰極3加以層合後,以圓筒狀繞捲其層合體並使用捲定 帶5加以固定。接著,對繞捲之層合體實施截面化學被膜 生成及28〇。(:的熱處理。接著,將繞捲之層合體浸潰於含 有40質量%至60質量%的對甲苯石黃酸鐵之醇溶液(氧化劑 溶液)中混有3,4-伸乙二氧基嗟吩之調製液中。接著,將^ 捲之層合體加熱,以使3,4-伸乙二氧基嗟吩熱聚合。由此二 可於鋁箔2與分隔紙仆之間和硬質被膜8與分隔紙 間形成聚噻吩系導電性高分子層(固態電解質層)。最後, 3]8576 6 1312522 對陽極用引線伸片端子6a連 用引線伸片端子补連接陰極用引線几/ %、而對陰極 在上述的電容器元件1中,右· 、、 電容器元件1時的層合體的繞捲中,^之問題。在形成 8而形成有氮化鈦蒸鑛膜之陰極 ;對作為硬質被膜 力,因此,氮化鈦蒸鍍臈上產列:加拉張力或扭轉 器元件1的浅漏電流。又,η;果即增加電容 噻吩系導電性高分子層時的層^體在調=電解質層的聚 虱化鈦蒸錢膜即被調製液所侵钱,其妹^之中的浸潰時, 1的洩漏電流增加。 一、、、°果,使電容器元件 作為解決上述問題之方法,而 膜專的單金屬化合物所成之 有不用由加蒸鑛 由氮化I呂鈦(TiA1N)等的複合金屬化人而於陰極表面形成 膜,以抑制因硬質被膜的侵餘或 〜物所成之硬質被 物專電流的增加之方法(參考下述專利文:Γ容器元件 f【發:月專内利容文】㈣曰本專利特開_姻512號公報 [發明所欲解決之課題] 本發明人發現,如於陰極表 等的複合金屬化合物所 ^由亂化㈣(TiA1N) 物所成之硬質被膜之硬度較由更;:^ 膜者為高。因而,便難以發生硬質:;::成之硬質被 生硬質―。因此,可龜=又難以發 的增加。 電谷斋凡件的洩漏電流 318576 7 1312522 但,如硬質被膜的硬度增高,則與構成陰極之鋁箔之 間的硬度差會較以往之硬度差為大。因而,陰極與硬質被 膜之間的密接性降低,而因形成電容器元件時的繞捲時所 施加之應力,使硬質被膜易於從陰極剝離。其結果,電容 器元件的洩漏電流會增加。 不知㈣祕決上述〜謂’ μ的在 、於2形成於陰極上,作為與固態電解質層接觸之硬質被膜 而叹置有由複合金屬化合物所成之硬質的硬質被膜之固態 電解電容器,藉以抑制硬質被膜的剩離,並抑制因剝離戶^ 引起之洩漏電流的增加。 [用於解決課題之手段] 载之述目的’本發明之申請專利範圍第1項所記 一種固態電解電容器’係包含具傷有陽極、及 前述险^祕極相對向而由_構成之陰極、及形成於 陽面之硬質被膜、及設置於前述硬質被膜與前述 間的分隔片、繞捲而成之電容器元 ::隔片之間設有固態電解質層之固態電解電容器,其 芦,而ί財形成於前述陰極與前述硬質被膜間之中間 物及鈦與至少1種非金屬元素的 屬元素群=至;::元:層為含有選—成“ 「 1 _ 簡稱由1種物質所構成之1個膜(以下, ’、可為物質的構成係沿著製膜方向(對 318576 8 1312522 陰極表面為垂直方向)變化之膜(以下,簡稱「物質變化 膜」)’亦可為由互相不同的物質所構成之經層合之複數層 (以下,簡稱「層合膜(laminatedfilm)」。)。在此,「硬質被 膜」為陰極上所形成之最上層,而與固態電解質量相接觸。 又,中間層,為由與硬質被膜不相同的物質所構成。 在此,「與硬質被膜不相㈣物f」,係包料含構成硬質 被膜之複數種元封之特定的元素之物質、含有與構成硬 質被膜之複數種元素不相同之元素之物質、僅含有構成硬 質被膜之所有種類之元素,惟表示此#組成比(組成份之含 量比例)不相同之物質之意。如中間層為物質變化膜時,表 讀成朝製膜方向成垂直的任意平面内之中間層之物 係與構成硬質被膜之物質不相同之意。另外,如声 構成層合膜之各層,係由與硬質被膜二 同之物質所構成之意。 如係上述構造’則由於硬質被膜為由含有銘及鈦之化 合物(複合金屬化合物)所構成 1傅风因此成為較中間層之硬度 :二、㈣於硬質被膜與陰極之間’夾設含有至少1種構 :硬貝《之金屬元素之中間層,即可改善陰極與硬質= 、之F曰的讀性。其結果,可抑制對陰極之硬質被膜的制 離’而可抑制洩漏電流之 ^被膜的剝 被膜的剝離,表示陰極鱼中 所明對陰極之硬質 被膜之剝離。 〜中間層之剝離、及中間層與硬質 申請專利範圍第2項所印番—& n ^ 第1項所記載之發明中,二係在申請專利範圍 一特徵為.刖述中間層為由1種 318576 9 1312522 •物貝所成之單層膜,而前述 被膜的硬度為低。 B s ^硬度,係較前述硬質 如係此種構成’則可將 硬質被膜之應力,,由中a、私中在、,堯捲時所施加於 而,可順利抑制對陰S極之二::::而加以緩和。因 又貝破膜的剝離。 甲明專利範圍第^ ^ 第1項所記载之發明中/係在申請專利範圍 相不同的物質所構成之複數膜,而二:述中間層含有由互 ►度,係較前述硬質被膜的硬度為低則述硬數膜的各膜的硬 力,重=声:ι:繞捲時所施加於硬質被膜之應 間層之被數膜的开$ # &煞& 緩和。因而,可在中間層不 龜之;加:階段式 制對陰極之硬質被膜的剝離。 龜裂之Τ’更順利抑 申請專利範圍第4靖# ~ # 第〜所記载之丄項申請專利範圍 物質的硬度,係遠心搂1:_!為.構成前述各複數膜之 滿構成前述硬質被膜之化合;二=之:硬度:而未 ,極侧朝向前述硬諸膜側…:= 膜::::.:::極_接性、 的密接性。因而τ ® 及中間層與硬質被膜間 f14目而,可更順利抑制對陰極之硬質被膜的制離 申請專利範圍第5項所記載 更皮膜的剝離。 第1項所記fi之Μ Φ ^ 明係在中請專利範圍 “中,其特徵為:構成前述硬質被膜之 318576 10 1312522 硼以及氧所成之群中之至 前述化合物,含有選自碳、氮 少1種非金屬元素。 如係此種構成,則硬f被膜將 ⑽啊大且硬度高的物f。因而,可提 同時,尚可衣% 升電各态容量之 π抑制製造過程f之硬質被膜的侵餘。 申請專利範圍第6項所記载㈣ 第1項所記载之發明中,i特徵為.專利範圍 ,. 八知徵為.刖述中間層係 由紹、銳與紹及鈦所成之群中之至少1層係以選自 自碳、氮、硼β及氧所孝重孟屬凡素,與選 化合物所構成。 之至彡1種非金屬元素的 如係此種構成,則由於能順 密接性及中間層與硬質被膜間的密接性,二與陰極間的 抑制對陰極之硬質被Μ的剝離。錢〖生因此,可更順利 :請專利範圍第7項所記载之發 弟1項所記載之發明t,其一 利乾園 |成前述硬質被膜之複數種元夸^' 134中間層’係由構 如#此種構# 5中之部分元相構成者。 數 成為近似值,因此,於成中間層物質的晶格常數 性會提升。因而,可順利^面之結合力增大,結果密接 上述構m可例干μ對陰極之硬f被膜的剝離。 乃。爲75N時,則構:門:構成硬質被臈之物質為 Τ·χτ ^間層之物質成A A 1 Τ. Λ 1ΛΤ ΤιΝ或Ti〇 5ΑΙ〇 5Ν的情形。口負成為Α卜Tl、Α1Ν、 膜,而構成硬質被膜之物質例可例.不.如中間層為層合 、 為 TiG.25AIG 75ν 時,則構 318576 1312522 成中間層的複數膜之各物質 為5N的任-種的情形貝成4A1、Tl、細、則以及 第1::::範:第8項所記載之發明係在申請專利範圍 前述化合物,係氮化㈣。為.構成料硬質被膜之 2此種構成,則可順利抑制硬質 專。而且’可順利抑制製造過程中之侵 3::產: 質被膜為氮化域,則由於 、為如更 的化合物之情形為高之故。 弈五屬兀素 所第9項之發明係在申請專利範圍第8項 ==發明中,其特徵為··前述中間層,係由氮化輯 =作成此種構成,則可更順利抑制對陰極 的剝離。此乃因構志巾R s 4 , 貝攸朕 膜之氮化!呂欽的硬匕欽的硬度較構成硬質被 丨近硬質皮膜的二=值且:r=格常數之值接 '捲時所施加於硬質被膜之:力因二:在中間層中緩和繞 的界面結合力增大而提升密接力之較間層與硬質被膜間 申請專利範圍第1 Q Μ # 項所§己载之發明係在申請專利範 ,項所記载之發明中,其特徵為:前述陽== 自叙、组以核所成之群中之1種元素所構成者。 一如為此種構成,則由於陽極具有闕作用,因此,可成 為兩性能之固態電解電容器。 申請專利範圍第1 ] Jg α # 員所S己載之發明係在申請專利範 318576 12 1312522 圍第1項所記載之發明中,其特徵為:前述固態電解質層, =以由聚嗟吩系導電性高分子、聚吱喃系導電、曰、 ::::::性高分子、聚笨胺系導電性高分— 如係此種構成’則由於固態電解質的導電性升高,因 t#rRiuivaIent/"^^^resistance, 而,可成為高性能的固態電解電容哭。 (其他構成方面) [關於陽極之說明] :成陽極之物f,祇要是具有閥作用之金屬即可。且 2用之金屬而言,可例舉H、以錢。陽極表 ’乂佳為藉由電解研磨處理、化學研磨處理等而加 ^卜㈣,由於增加實效性的表面積而增大電容器之= 里又,在陽極表面實施陽極氧化等的化 [關於陰極之說明] ⑽生成處理。 ΐ極表面’較佳為將此藉由電解研磨處理、化學研磨 處理等而加以粗链化。卜專, 又因粗韃化所產加貫效性的表面積, 盘中門^ ΐ e細),·升陰極 :广’層間的讀性。由此’可間接性抑制對陰極之硬質 被膜的剝離。 吏負 [關於硬質被膜之說明] 硬貝被膜’較佳為由以銘(A1)及鈦㈤作為必需成 二屬成分、與選自氮(N)、碳(c)、彌⑻以及氧 : 種以上的非金屬成分之化合物所成,且硬度較高者。更佳 318576 13 1312522 為構成硬質被膜之物質係鋁及鈦的氮化物、碳化物、碳氮 化物、硼化物、氮碟化物、碳氮氧化物之情形。更佳者係 構成硬質被膜之物質係氮化鋁鈦的情形。另外,構成硬質 被膜之化合物中,作為金屬成分可含有鋁及鈦以外的金屬 元素。並且,作為非金屬成分可含有氮(N)、碳、硼以及氧 以外的非金屬元素。
作為硬質被膜之形成方法,可採用真空蒸鍍法(vacuum evaporation)、PVD 法(physical vapor deposition,物理氣相 沉積)、CVD 法(chemical vapor deposition,化學氣相沉積) 等。PVD法而言,可例舉:離子鑛法(ion plating)及滅鍍法 (sputtering)。又,CVD 法而言,可例舉:熱 CVD 法(thermal CVD)、電漿 CVD 法(plasma CVD)、光 CVD 法(optical CVD)、雷射CVD法(laser CVD)。為提升耐摩損性及耐熱 性而形成鋁原子比為高的硬質被膜起見,較佳為依PVD法 形成。並且從生產性的觀點,如依PVD法形成硬質被膜, 則因可提升生產性而佳。更佳為作為PVD法而採用 AIP(arc ion plating,電弧離子電鑛)及反應性減:鑛法的情 形。 [關於中間層之說明] 如欲緩和製造過程中之繞捲時的應力,中間層的膜厚 較佳為以上,更佳為0.3/zm以上。另一方面,如 中間層的膜厚過厚時,則在電容器元件的繞捲時容易在中 間層發生龜裂而難以達成長壽命化。因而,中間層的膜厚 較佳為20 /z m以下、更佳為10 // m以下的情形。 14 318576 1312522 關於中間層之形成大 .形成方法。如中間二人联Γ用與硬質被膜時同樣的 的供給量'製膜溫;則::變膜材料'膜材料 膜之層合。再且,‘由、、又專的製膜條件依序進行各 件經時變化以連續地 、:化膜知,則使製膜條 [關於固痛電解質層之說明] 積 =電解質而言’較佳為聚嗟吩系導電料 南系V電性高分子、聚吼 來 >導電性高分子、Tc ,、¥“生同刀子、聚苯胺系 些材料。 Q錯鹽’惟本發明並不特別限定於這 [發明之效果] ::用本發明’則由於對構成陰極之 的讀性提升,故可抑制 白疋吏貝被膜 制雷交哭_„ |利更貝被膜的剝離,其結果,可抑 制電W兀件的茂漏電流的增加且 態電解電容器較 ☆ 卫幻徒升比以在之固 _ent) η: 、更低咖漏電流,le〜 current)、及耐熱性。 sc 【實施方式】 [發明之最佳實施形態] 以下,將詳細說明本發明之内容,惟本發明並不受限 於下述之最佳實施形態,且 適當變更後加以實施者。不改、交其要曰之範圍内經 _第1圖,係表不本發明之固態電解電容器中之電容器 元件的i之透視圖,第2圖,係表示本發明之固態電ς 電m例之剖面圖。第3圖係表示陰極側構造體的— 318576 15 1312522 -例之剖面圖。在此,第i圖中,為表示經繞捲之電容器元 件的内部層合構造’表示解開終端部的繞捲之狀態。以下, 參考苐4圖及第5圖就本發明之固能雷如 a之固愍電解電容器加以說明。 本形態之固態電解電容器,如第2 曰m上 π乐2圖所不,具備有: 鋁盒9、及經配置於鋁盒9内部之雷交架_ μ, 1丨及冤合态兀件1、及將電容 器元件1密封於鋁盒9内邱夕舍上l m ^ 円邰之狁封用橡膠墊料(rubber packing) 10、及經固定於鋁盒而覆芸 i向復盘雄、封用橡膠墊料1 〇上 方之座板1卜以及經分別連接於電容器元件工的陽極用引 I線伸片端子dead tab terminal)6a及陰極用引線τΑβ端子 6b,並貫穿座板後露出表面之陽 心陏極知子12a及陰極端子 12b ° 電容器元件1,如第】网的一 圖所不,具備有··分隔片 (separater)4a、及陽極 2、及分 F η π 及刀隔片4b、以及陰極側層合體 13。於分隔片4b與陽極2之門芬八u 之間及分隔片4b與陰極側層合 體13之間形成有固態電解質屌(去 肝貝層(未圖不)。電容器元件1倍 k經繞捲後使用捲定帶5加以固贪本队Λ '' > , 卜 乂固疋者。陰極側層合體13係如 第1圖及第3圖所示,具備有·险 本而,、備有.陰極3、及經形成於陰極3 表面之中間層18、及經形成於中 丁门禮18表面之硬質被膜 28。%極2上,連接有陽極用 、、 7丨冰呷月糕子6a,而陽極用 引線伸片端子6a上,連接有陽炻& 呀位用 受啕刼極用引線7a。另一方面, 陰極3連接有陰極用引線伸片 1米呷月鳊子0b,而陰極用引線丁 端子❿連接有陰極用引㈣。另外,陽極用引線7 = 端部及陰極用⑽%的前端部,分別 = 子12a及陰極端子!2b。 固T疋%極女而 318576 16 1312522 . 本形態之固態電解電容器,係經由下述之過程所製 作。於銘箱上實施钱刻處理(電解研磨處理)及&學被膜生 成處理以㈣雜2。製作陽極2後,對雜2連接陽極用 引線伸片6a。又,於未實施蝕刻處理(電解研磨處理)之平滑 ㈣(陰極)3之表面,採用AIp法,如第3圖所示,形成膜 厚O.Wm的TiN膜(中間層)18。再採用Αίρ法,於现膜 18表面,如第3圖所示,形成膜厚的丁认做膜(硬質 被膜)28 °然後’對平滑的料3連接陰極用引線伸片端子 # ^。經依序層合分隔紙4a、及陽極2、及分隔紙4b、及形 成有Ή細膜28和則膜18之陰極3之後,將i層人體 繞捲,圓筒狀並使用帶子(tape)5加以固定。對經繞捲之層 :體貫施截:化學被膜生成及戰的熱處理。熱處理後, 1 ^ f里%的對?苯續酸鐵乙醇溶液(氧化劑溶液)中混 二心:Γ ” 嗟吩(3,4 吻1end—一 "夜中,浸潰經繞捲之層合體。 使3,4_伸乙二氧基_亍熱聚合。由:: 之門1與分隔紙仆之間及以出膜19與分隔紙4b ^圖,…Λ為固‘態電解f層的㈣吩系導電性高分子層 引線7a、於妾恰著於陽極用引線伸片端子仏上連接陽極用 ' ;”用引線伸片端子的連接陰極用引線7a。 接者’如第5圖所 橡谬墊料H),收·…t “件1中插入密封用 邻-施r “ 中而固定後’將鋁盒9的開口 4只加棱向拉擠及捲 ㈣邮處理。然後於雷Γ?"封,並實施熟成 :電谷态元件1的捲曲面插入塑膠製 318576 17 1312522 :=板二’:二電容器元件1的陽極用5|“及陰極用 及,如:二工· ¥曲加工,以形成陽極端子12a 子m。經過以上之過程,即可完成固態電解電 [實施例] (實施例1) ”,以實施上述發明之最佳實施形態中所說明之固 解電容器同樣方式,製作2G個I態電解電容器。在此了將 如此所製作之固態電解電容器,以下簡稱
Al」。本她電容器則系額定電屋㈣一!:): 6.3V、額疋電容量為22〇"F、外部形狀為直徑&加 度6.〇咖的圓筒形狀。另外,下述之實施例2至4及比較 例1至2中所說明之各固態電解電容器之衫電壓、額t 電容量以及外部形狀,亦作成與本發明電容器^相同者。 又’另外製作與本發明電容器A1所用之陰 樣構成的層合體2。個。在此,陰極側層合體,係二= 被膜及中間層以及陰極所成之3層構 (實施例2) 口體之思。 除了將經電解研磨處理之鋁箱作為陰極使用以 1 餘則與上述實施例i同樣方式製作固態電解電容哭加個、。 在此,將如此所製作之固態電解電容器,以下 發明電容器A2」。X,另外製作與本發明電容器μ 之陰極側層合體同樣構成的層合體2 〇個。 (實施例3) 318576 18 1312522 除了將經電解研磨處理# 膜厚0.6P的TiAiN膜作作為陰極使用、並形成 m的氮化鈦⑽)料巾、f ^ ^ #臈、及形朗厚_ 丨同樣方式製作固態電解;層 作之固態電解電容器,以^^如此所製 另外製作與本發明電容器Α3=本發明電容器Α3」。 成的層合體20個。 ^❹極侧層合體同樣構 (實施例4) τ 了將=解研磨處理之㈣作為陰極使用 腰厂予Τ讀膜作為硬f被膜、及 瓜隐欽⑽)作為中間層以外,其餘則;施: 同樣方式製作固態電解電容器叫固。在此,將如此所製作 之固fe電解電容器’以下簡稱為「本發明電容器Μ」。又, ^卜製作與本發明電容器A4所用之陰極側層合體同樣構 成的層合體20個。 泰(比較例1) 為與上述實施例1至4相比較,除了不形成中間層以 外,其餘則與上述實施例j同樣方式製作固態電解電容器 20個。在此,將如此所製作之固態電解電容器,以下簡稱 為「比較電容器Xi」。另外製作與比較電容器χι所用之 陰極側層合體同一構成之層合體2〇個。在此,比較電容器 XI中之陰極側層合體,與本發明電容器A1至A4者不相 同’係不含有中間層者,為由硬質被膜及陰極所成之2層 構造的層合體。 318576 19 1312522 (比較例2) 為與上述實施例1至4相比較,除了將經電解研磨處 理之銘羯作為陰極使用、不形成中間層及硬質被膜以外, 其餘則與上述實施例1同樣方式製作固態電解電容器2〇 個。在此,將如此所製作之固態電解電容器,以下簡稱為 「比較電容器X2」。 (實驗) 對上述本發明電容器A1至A4和比較電容器X1及 X2,依下述條件,作為電氣特性的測定而實施有效電容量 (Cap)、洩漏電流(LC)以及電容量變化率的測定。 有效电谷里(Cap)的測定中,測定施加頻率12〇Hz(赫)的交 流電時的電容器容量。於洩漏電流(LC)的測定中,經施加 ,定電流後放置60小時’以载放置後的茂漏電流。電容 置變化係將初期電容量設為Ci、將施加額定電壓後經 ^ τ後之電谷量設為cf,而依所求得 =百刀比(%)。在此,電容量變化率的測定,係將電容器溫 度保持在105〇C之狀態下而進行者。 再且,對與本發明電容器A1至A4及比較電容器X1 =陰極,層合體同#構造的陰極側層合體,作為耐剝離 —「的挪定而實施到痕試驗(scratch丈⑽)臨界荷重的測 ^石刀^驗臨界負荷」係如第4圖所示’指將横形的金 =V4抵住陰極側層合體13,並以規定速度㈣ 在嶋重之下進行時,被膜 何重之意。 318576 20 1312522 將所測定之結果,綜合表示於表1。在此,表1中, ' 各電氣特性值係就上述本發明電容器A1至A4和比較電容 器XI及X2,表示各20個電容器的平均值。同樣,就耐 剝離特性而言,亦表示對各2 0個陰極側層合體之平均值。 [表1] 陰極的電解研 磨處理 中間層/膜厚 硬質被膜/膜厚 Cap ("F) LC ("A) AC/C (%) 刮痕試驗臨 界負荷(N) 本發明電容器 A1 無 TiN/0.5 μπι TiA]N/l"m 230 1.1 -9.4 75.3 本發明電容器 A2 有 TiN/0.5 μτη TiAJN/1/zm 255 0.8 -7.8 89.2 本發明電容器 A3 有 TiN/0.5//m TiAlN/0.6 βηι 246 1.2 -15.2 77.7 本發明電容器 A4 有 TiN/0.02/zm TiAIN/Ι μτη 237 15 —8.2 86.1 比較電容器XI 無 無 TiAlN/1/πη 221 27 -10.1 60.3 比較電容器X2 有 無 無 104 55 -11.2 —
從依刮痕試驗之臨界負荷的結果可知,本發明電容器 A1至A4係較不具有中間層之比較電容器XI為能提升對 陰極之硬質被膜的密接性。再且,從LC測定的結果可知, I能大幅度降低洩漏電流。 再且如比較本發明電容器A2與本發明電容器A4時, 則可知按照中間層的膜厚使洩漏電流變化之事實,而如中 間層的膜厚為0.02 /z m,則可知不能藉由中間層加以充分 緩和製造過程中繞捲時的應力之事實。因而,中間層的膜 厚,較佳為0.1 // m以上。 上述實施例中,係就構成硬質被膜之物質為TiAIN, 而構成中間層之物質為TiN之情形加以說明,惟如採用其 他物質,仍然可獲得同樣效果。 21 318576 1312522 耆 ▲上述實施例中,係就固態電解質層為聚嗟吩系導電性 ΓΠ之 以說明,惟如採用聚吱。南系、聚吼略系、 承本胺糸專的其他導電性g八 ’、 — 净电Γ生呵/刀子時,仍然可獲得同樣效果。 上述貫施例中,係就陽極為銘箱之情形加以說明 =用组、銳等具有闕作用之編時,仍然可獲得同樣 上《施例的說明,係為用以說明本發明之内容者, 而並不疋用以限定申諳哀采丨e 釋Am“ 圍所記載的發明,或據以解 釋為減細申凊專利範圍。又士 ^ 於上^又树明之各部構成並不限定 於上述只把例,而當然可於申 範圍内作種種改變。 圍所記載之技術性 [產業上之可利用性] 本發明係可作為例如行動電話 人數位助理器)等電子機器的印刷電路被=^、PDA(個 電子零件等使用者。 中之表面女裝用 .【圖式簡單說明】 第1圖係呈示本發明之固態電 件的一例之透視圖。 電奋盗中之電容器元 第2圖係表示本發明之 圖。 鲆電谷益的—例之剖面 第3圖係表示本發明之固態電解電 造體的一例之剖面圖。 裔中之陰極側構 f4圖為說明刮痕試驗之用的說明圖。 弟5圖係表示以往的固態電解 分之電容器元件 318576 22 1312522 之透視圖。 Γ 主要元件符號說明 I 1 本發明之電容! i元件 2 4a 結箔(陽極) ' 4b分隔片 3 紹箔(陰極) 6a 6b 陽極用引線伸片端子 陰極用引線伸片端子 捲繞固定帶 7a 陽極用引線 7b 陰極用引線 8 10 硬質被膜 9 鋁盒 密封用橡膠墊料 11 座板 12a 陽極端子 12b 陰極端子 13 陰極構造體 14 金剛石刀片 18 TiN膜(中間層) 28 TiAIN膜(硬質被膜) 23 318576
Claims (1)
- 9 1312522 十、申請專利範圍: .h :種固態電解電容器,係包含具備有陽極、及配置成與 前述陽極相對向而由鋁所構成之陰極、及形成於前述陰 極表面之硬質被膜、及設置於前述硬質被膜與前述陽極 2間的分隔片、及形成於前述分隔片與前述陽極之間和 珂述分隔片與前述硬質被膜之間的固態電解質層之繞 _ 捲之電容器元件之固態電解電容器,其特徵為: 再具備有形成於前述陰極與前述硬質被膜之間之 •中間層,而前述硬質被膜為由銘及欽與至少i種非金屬 元素的化合物所構成,且前述中間層為含有選自紹及欽 所成之群中之至少1種元素。 2. 如申請專利範圍第i項之固態電解電容器,其中該中間 層為由1種物質所成之單層膜,而該中間層的硬度,係 較該硬質被臈的硬度為低。 3. 如申請專利範圍第i項之固態電解電容器,其中該中間 書層,係經由互相不同的物質所構成之複數朗成之層合 ^而該複數膜的各膜的硬度,係㈣硬f被膜的硬度 4. 如申請專利範圍第3項之固態電解電容器,其_該複數 膜的各膜硬度遠超過陰極的硬度 %及而未滿該硬質被膜的 更又’且该複數膜係從該陰極側 麻痒1山 胡向違硬質被膜侧並依 硬度的升尚而傾斜層合。 5. 如申請專利範圍第丨項之固 ^ @ % ^窀谷益,其中構成該 更貝被Μ之該化合物,含有選自 、曰厌、虱、硼以及氧所成 318576 24 1312522 6之群中之至少1種非金屬元素。 6·如申請專利範圍第!項之固態電解電容哭, 層,係由銘、欽或者選自紹及鈦所成之群、:中該中間 金屬元素與選自由碳、氮、领以及氧所成^幻種 1種非金屬元素的化合物所構成。 之至少 7.如申請專利範圍第〗項之固態電解電容器,龙^ 層,係在構成該硬質被膜之複2中為中間 類的元素所構成者。 一部分種 8·如申請專利範圍第5項之固態電解電容哭,波 硬質被膜之該化合物,係氮化銘鈦。°。、、令構成該 9.如申請專利範圍第8項之固態電解電容器,发 中間層之該物質,係氮化鈦。 "中構成該 1〇.如申請專利範圍第1項之固態電解電容器,复^ 係以由選自鋁、鈕以及鈮所成之群中’、中°亥陽極 者。 種7°素所構成 11.如申請專利範圍第1項之固態電解 令' TO,JaL rb m Ab 電解質層係以由聚噻吩系導電性高分子、取iy 5亥固怨 性高分子、聚㈣系導電性高分子、聚笨;; 分子或TCNQ錯鹽所構成者。 〒电r生问 318576 25
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